JP2000285848A - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents
飛行時間型質量分析装置Info
- Publication number
- JP2000285848A JP2000285848A JP11087653A JP8765399A JP2000285848A JP 2000285848 A JP2000285848 A JP 2000285848A JP 11087653 A JP11087653 A JP 11087653A JP 8765399 A JP8765399 A JP 8765399A JP 2000285848 A JP2000285848 A JP 2000285848A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- lens
- flight
- ion
- acceleration
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】装置を大型化することなく、高分解能のマスス
ペクトルを得ることのできる飛行時間型質量分析装置を
提供する。 【解決手段】イオンが飛行する軌道上に減速電場、次い
で加速電場を設け、イオンの飛行方向を変えることな
く、イオンに減速、次いで加速を行なわせるようにし
た。
ペクトルを得ることのできる飛行時間型質量分析装置を
提供する。 【解決手段】イオンが飛行する軌道上に減速電場、次い
で加速電場を設け、イオンの飛行方向を変えることな
く、イオンに減速、次いで加速を行なわせるようにし
た。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、飛行時間型質量分
析装置に関し、特に、マススペクトルの分解能を向上さ
せることのできる飛行時間型質量分析装置に関する。
析装置に関し、特に、マススペクトルの分解能を向上さ
せることのできる飛行時間型質量分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】質量分析装置は、試料から生成するイオ
ンを真空中で飛行させ、飛行の過程で質量の異なるイオ
ンを分離して、スペクトルとして記録する装置である。
質量分析装置には、扇形磁場を用いてイオンの質量分散
を行なわせる磁場型質量分析装置、四重極電極を用いて
質量によるイオンの選別（フィルタリング）を行なわせ
る四重極質量分析装置（ＱＭＳ）、質量によるイオンの
飛行時間の違いを利用してイオンを分離する飛行時間型
質量分析装置（ＴＯＦＭＳ；time of flight ＭＳ）な
どが知られている。
ンを真空中で飛行させ、飛行の過程で質量の異なるイオ
ンを分離して、スペクトルとして記録する装置である。
質量分析装置には、扇形磁場を用いてイオンの質量分散
を行なわせる磁場型質量分析装置、四重極電極を用いて
質量によるイオンの選別（フィルタリング）を行なわせ
る四重極質量分析装置（ＱＭＳ）、質量によるイオンの
飛行時間の違いを利用してイオンを分離する飛行時間型
質量分析装置（ＴＯＦＭＳ；time of flight ＭＳ）な
どが知られている。
【０００３】これらの質量分析装置の内、磁場型質量分
析装置とＱＭＳは、連続的にイオンを生成するタイプの
イオン源に適合しているのに対し、ＴＯＦＭＳは、パル
ス状にイオンを生成するタイプのイオン源に適合してい
る。従って、連続型のイオン源をＴＯＦＭＳに利用しよ
うとすれば、イオン源の利用のしかたに工夫が必要であ
る。垂直加速型飛行時間型質量分析装置（ＯＡ−ＴＯＦ
ＭＳ；orthogonal acceleration ＴＯＦＭＳ）は、連続
型のイオン源からパルス状のイオンを射出することがで
きるように工夫されたＴＯＦＭＳの一例である。
析装置とＱＭＳは、連続的にイオンを生成するタイプの
イオン源に適合しているのに対し、ＴＯＦＭＳは、パル
ス状にイオンを生成するタイプのイオン源に適合してい
る。従って、連続型のイオン源をＴＯＦＭＳに利用しよ
うとすれば、イオン源の利用のしかたに工夫が必要であ
る。垂直加速型飛行時間型質量分析装置（ＯＡ−ＴＯＦ
ＭＳ；orthogonal acceleration ＴＯＦＭＳ）は、連続
型のイオン源からパルス状のイオンを射出することがで
きるように工夫されたＴＯＦＭＳの一例である。
【０００４】図１に、典型的なＯＡ−ＴＯＦＭＳの構成
を示す。ＯＡ−ＴＯＦＭＳは、電子衝撃（ＥＩ）イオン
源、化学イオン化（ＣＩ）イオン源、電界脱離（ＦＤ）
イオン源、エレクトロスプレイ（ＥＳＩ）イオン源、高
速原子衝撃（ＦＡＢ）イオン源などの連続型のイオン源
１と、イオンガイド２が置かれた中間室３と、集光レン
ズ４、押し出し電極５、加速レンズ６、リフレクトロン
７、イオン検出器８などのイオン光学系を構成する構成
物が置かれた測定室９とから成っている。
を示す。ＯＡ−ＴＯＦＭＳは、電子衝撃（ＥＩ）イオン
源、化学イオン化（ＣＩ）イオン源、電界脱離（ＦＤ）
イオン源、エレクトロスプレイ（ＥＳＩ）イオン源、高
速原子衝撃（ＦＡＢ）イオン源などの連続型のイオン源
１と、イオンガイド２が置かれた中間室３と、集光レン
ズ４、押し出し電極５、加速レンズ６、リフレクトロン
７、イオン検出器８などのイオン光学系を構成する構成
物が置かれた測定室９とから成っている。
【０００５】このような構成において、イオン源１にお
いて試料から生成したイオンは、中間室３に置かれたイ
オンガイド２によって高真空な測定室９へと誘導され
る。中間室３と測定室９を仕切る隔壁には、オリフィス
１０が設けられていて、イオンガイド２から誘導されて
きたイオンは、オリフィス１０によって一定の径を持っ
たイオンビームに整形されて、測定室９に導入される。
いて試料から生成したイオンは、中間室３に置かれたイ
オンガイド２によって高真空な測定室９へと誘導され
る。中間室３と測定室９を仕切る隔壁には、オリフィス
１０が設けられていて、イオンガイド２から誘導されて
きたイオンは、オリフィス１０によって一定の径を持っ
たイオンビームに整形されて、測定室９に導入される。
【０００６】測定室９の入口には、集光レンズ４が設置
されている。測定室９に入ってきたイオンビームは、集
光レンズ４により収束されて、押し出し電極５と加速レ
ンズ６との間隙に沿った細長い空間に、押し出し電極５
及び加速レンズ６に対して平行に進入する。押し出し電
極５及び加速レンズ６の近傍を移動する一定の長さを持
ったイオンビームは、押し出し電極５及び加速レンズ６
にパルス状の加速電圧を印加することにより、イオンビ
ームの進入軸方向とは垂直な方向にパルス状に加速さ
れ、イオンパルスとなって、押し出し電極５及び加速レ
ンズ６と対向する位置に設けられたリフレクトロン７に
向けて飛行を開始する。
されている。測定室９に入ってきたイオンビームは、集
光レンズ４により収束されて、押し出し電極５と加速レ
ンズ６との間隙に沿った細長い空間に、押し出し電極５
及び加速レンズ６に対して平行に進入する。押し出し電
極５及び加速レンズ６の近傍を移動する一定の長さを持
ったイオンビームは、押し出し電極５及び加速レンズ６
にパルス状の加速電圧を印加することにより、イオンビ
ームの進入軸方向とは垂直な方向にパルス状に加速さ
れ、イオンパルスとなって、押し出し電極５及び加速レ
ンズ６と対向する位置に設けられたリフレクトロン７に
向けて飛行を開始する。
【０００７】垂直方向に加速されたイオンは、測定室９
に導入されたときの速度と、それとは垂直な方向に押し
出し電極５及び加速レンズ６によって与えられた速度と
が加わるため、完全に垂直な方向ではなく、わずかに斜
めを向いた垂直方向に飛行し、リフレクトロン７で反射
されて、イオン検出器８に到達する。
に導入されたときの速度と、それとは垂直な方向に押し
出し電極５及び加速レンズ６によって与えられた速度と
が加わるため、完全に垂直な方向ではなく、わずかに斜
めを向いた垂直方向に飛行し、リフレクトロン７で反射
されて、イオン検出器８に到達する。
【０００８】イオンの加速の過程では、軽いイオンほど
速度が速くなり、重いイオンほど速度が遅くなるため、
イオンの質量の違いがイオン検出器８に到達するまでの
到達時間の違いとなって現れ、イオンの質量の違いをイ
オンの飛行時間の違いとして分離することができる。
速度が速くなり、重いイオンほど速度が遅くなるため、
イオンの質量の違いがイオン検出器８に到達するまでの
到達時間の違いとなって現れ、イオンの質量の違いをイ
オンの飛行時間の違いとして分離することができる。
【０００９】このように、連続型のイオン源１から生成
したイオンビームを、押し出し電極５及び加速レンズ６
によってパルス状に加速することにより、パルス状に生
成するイオン源に対して適合性を持つＴＯＦＭＳに、連
続型のイオン源を適用することができる。
したイオンビームを、押し出し電極５及び加速レンズ６
によってパルス状に加速することにより、パルス状に生
成するイオン源に対して適合性を持つＴＯＦＭＳに、連
続型のイオン源を適用することができる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】このような構成におい
て、ＴＯＦＭＳでは、イオンの質量差が、所定の空間を
飛行する際のイオンの飛行時間の差となって現れるた
め、マススペクトルの高分解能を得ようとすれば、最も
簡単には、イオンの自由飛行空間を長く取らなければな
らなかった。
て、ＴＯＦＭＳでは、イオンの質量差が、所定の空間を
飛行する際のイオンの飛行時間の差となって現れるた
め、マススペクトルの高分解能を得ようとすれば、最も
簡単には、イオンの自由飛行空間を長く取らなければな
らなかった。
【００１１】そして、イオンの自由飛行空間を長く取る
ためには、装置を大型化しなければならないという問題
があった。
ためには、装置を大型化しなければならないという問題
があった。
【００１２】本発明の目的は、上述した点に鑑み、装置
を大型化することなく、高分解能のマススペクトルを得
ることのできるＴＯＦＭＳを提供することにある。
を大型化することなく、高分解能のマススペクトルを得
ることのできるＴＯＦＭＳを提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明にかかるＴＯＦＭＳは、イオンが飛行する軌
道上に減速電場、次いで加速電場を設け、イオンの飛行
方向を変えることなく、イオンに減速、次いで加速を行
なわせるようにしたことを特徴としている。
め、本発明にかかるＴＯＦＭＳは、イオンが飛行する軌
道上に減速電場、次いで加速電場を設け、イオンの飛行
方向を変えることなく、イオンに減速、次いで加速を行
なわせるようにしたことを特徴としている。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態を説明する。図２は、本発明にかかるＯＡ−
ＴＯＦＭＳの一実施例を表わしたものである。本実施例
は、電子衝撃（ＥＩ）イオン源、化学イオン化（ＣＩ）
イオン源、電界脱離（ＦＤ）イオン源、エレクトロスプ
レイ（ＥＳＩ）イオン源、高速原子衝撃（ＦＡＢ）イオ
ン源などの連続型のイオン源１と、イオンガイド２が置
かれた中間室３と、集光レンズ４、押し出し電極５、加
速レンズ６、リフレクトロン７、イオン検出器８などの
イオン光学系を構成する構成物が置かれた測定室９とか
ら成っている。
実施の形態を説明する。図２は、本発明にかかるＯＡ−
ＴＯＦＭＳの一実施例を表わしたものである。本実施例
は、電子衝撃（ＥＩ）イオン源、化学イオン化（ＣＩ）
イオン源、電界脱離（ＦＤ）イオン源、エレクトロスプ
レイ（ＥＳＩ）イオン源、高速原子衝撃（ＦＡＢ）イオ
ン源などの連続型のイオン源１と、イオンガイド２が置
かれた中間室３と、集光レンズ４、押し出し電極５、加
速レンズ６、リフレクトロン７、イオン検出器８などの
イオン光学系を構成する構成物が置かれた測定室９とか
ら成っている。
【００１５】このような構成において、イオン源１にお
いて試料から生成したイオンは、中間室３に置かれたイ
オンガイド２によって高真空な測定室９へと誘導され
る。中間室３と測定室９を仕切る隔壁には、オリフィス
１０が設けられていて、イオンガイド２から誘導されて
きたイオンは、オリフィス１０によって一定の径を持っ
たイオンビームに整形されて、測定室９に導入される。
いて試料から生成したイオンは、中間室３に置かれたイ
オンガイド２によって高真空な測定室９へと誘導され
る。中間室３と測定室９を仕切る隔壁には、オリフィス
１０が設けられていて、イオンガイド２から誘導されて
きたイオンは、オリフィス１０によって一定の径を持っ
たイオンビームに整形されて、測定室９に導入される。
【００１６】測定室９の入口には、集光レンズ４が設置
されている。測定室９に入ってきたイオンビームは、集
光レンズ４により収束されて、押し出し電極５と加速レ
ンズ６との間隙に沿った細長い空間に、押し出し電極５
及び加速レンズ６に対して平行に進入する。押し出し電
極５及び加速レンズ６の近傍を移動する一定の長さを持
ったイオンビームは、押し出し電極５及び加速レンズ６
にパルス状の加速電圧を印加することにより、イオンビ
ームの進入軸方向とは垂直な方向にパルス状に加速さ
れ、イオンパルスとなって、押し出し電極５及び加速レ
ンズ６と対向する位置に設けられたリフレクトロン７に
向けて飛行を開始する。
されている。測定室９に入ってきたイオンビームは、集
光レンズ４により収束されて、押し出し電極５と加速レ
ンズ６との間隙に沿った細長い空間に、押し出し電極５
及び加速レンズ６に対して平行に進入する。押し出し電
極５及び加速レンズ６の近傍を移動する一定の長さを持
ったイオンビームは、押し出し電極５及び加速レンズ６
にパルス状の加速電圧を印加することにより、イオンビ
ームの進入軸方向とは垂直な方向にパルス状に加速さ
れ、イオンパルスとなって、押し出し電極５及び加速レ
ンズ６と対向する位置に設けられたリフレクトロン７に
向けて飛行を開始する。
【００１７】垂直方向に加速されたイオンは、測定室９
に導入されたときの速度と、それとは垂直な方向に押し
出し電極５及び加速レンズ６によって与えられた速度と
が加わるため、完全に垂直な方向ではなく、わずかに斜
めを向いた垂直方向に飛行し、リフレクトロン７で反射
されて、イオン検出器８に到達する。
に導入されたときの速度と、それとは垂直な方向に押し
出し電極５及び加速レンズ６によって与えられた速度と
が加わるため、完全に垂直な方向ではなく、わずかに斜
めを向いた垂直方向に飛行し、リフレクトロン７で反射
されて、イオン検出器８に到達する。
【００１８】本実施例では、このリフレクトロン７の後
段、すなわちリフレクトロン７とイオン検出器８との間
のイオン飛行空間に、減速レンズ１１と加速レンズ１２
を設けている。このように構成することにより、直線状
の飛行空間を飛行中のイオンは、飛行方向を何ら変える
ことなく、減速レンズ１１によって作られる減速電場で
いったん減速された後、加速レンズ１２によって作られ
る加速電場で再び元の速度まで加速される。その結果、
イオンは何も場を受けなかった状態になり、その上、飛
行時間を増やすことができるので、実効飛行時間が長く
なる。
段、すなわちリフレクトロン７とイオン検出器８との間
のイオン飛行空間に、減速レンズ１１と加速レンズ１２
を設けている。このように構成することにより、直線状
の飛行空間を飛行中のイオンは、飛行方向を何ら変える
ことなく、減速レンズ１１によって作られる減速電場で
いったん減速された後、加速レンズ１２によって作られ
る加速電場で再び元の速度まで加速される。その結果、
イオンは何も場を受けなかった状態になり、その上、飛
行時間を増やすことができるので、実効飛行時間が長く
なる。
【００１９】図３は、イオンの飛行軌道上における電位
の配置図である。図の縦軸はイオンに印加される電位を
表わし、図の横軸はイオンの飛行距離を表わしている。
の配置図である。図の縦軸はイオンに印加される電位を
表わし、図の横軸はイオンの飛行距離を表わしている。
【００２０】試料イオンが正イオンの場合を例にとって
説明すると、押し出し電極５には、＋数百ボルトの加速
電位が印加される。また、押し出し電極５から加速レン
ズ６の終端部にかけては、下りの電位差が設けられる。
従って、押し出し電極５から加速レンズの終端部にかけ
ては下り方向に電場勾配が形成され、イオンは加速され
る。加速レンズ６の終端部では、−数キロボルトの電位
になっている。イオンが加速レンズ６を離れると、電位
は−数キロボルトで平坦になるため、イオンは一定の速
度で飛行を続ける。
説明すると、押し出し電極５には、＋数百ボルトの加速
電位が印加される。また、押し出し電極５から加速レン
ズ６の終端部にかけては、下りの電位差が設けられる。
従って、押し出し電極５から加速レンズの終端部にかけ
ては下り方向に電場勾配が形成され、イオンは加速され
る。加速レンズ６の終端部では、−数キロボルトの電位
になっている。イオンが加速レンズ６を離れると、電位
は−数キロボルトで平坦になるため、イオンは一定の速
度で飛行を続ける。
【００２１】このイオンがリフレクトロン７に突入する
と、リフレクトロン７の登り勾配の電場が作用して、イ
オンは飛行速度を落とし、＋数百ボルト以上になったと
ころで飛行の方向を反転させ、リフレクトロン７の外部
へと押し戻される。リフレクトロン７を出たイオンは、
リフレクトロン７に入る前の飛行速度と同じ飛行速度で
飛行を続けるが、飛行方向はほぼ反対方向になってい
る。
と、リフレクトロン７の登り勾配の電場が作用して、イ
オンは飛行速度を落とし、＋数百ボルト以上になったと
ころで飛行の方向を反転させ、リフレクトロン７の外部
へと押し戻される。リフレクトロン７を出たイオンは、
リフレクトロン７に入る前の飛行速度と同じ飛行速度で
飛行を続けるが、飛行方向はほぼ反対方向になってい
る。
【００２２】リフレクトロン７とイオン検出器８の間に
は減速レンズ１１と加速レンズ１２が設置されているた
め、イオンに印加される電位は、減速レンズ１１を通過
する際にいったん上昇した後、加速レンズ１２を通過す
る際に再び元の電位に低下する。このときの最高電位
は、減速レンズ１１から加速レンズ１２へ向けてイオン
を通過させる必要上、接地電位を超えてはならない。そ
して、イオンが両レンズを通過するのに伴って、イオン
の飛行速度もいったん減速した後、再び加速されて元の
速度に戻る。
は減速レンズ１１と加速レンズ１２が設置されているた
め、イオンに印加される電位は、減速レンズ１１を通過
する際にいったん上昇した後、加速レンズ１２を通過す
る際に再び元の電位に低下する。このときの最高電位
は、減速レンズ１１から加速レンズ１２へ向けてイオン
を通過させる必要上、接地電位を超えてはならない。そ
して、イオンが両レンズを通過するのに伴って、イオン
の飛行速度もいったん減速した後、再び加速されて元の
速度に戻る。
【００２３】このような減速レンズ１１と加速レンズ１
２の作用により、イオンの実効飛行距離は事実上延長さ
れ、ＴＯＦＭＳの装置を大型化することなく、マススペ
クトルの分解能を向上させることができる。
２の作用により、イオンの実効飛行距離は事実上延長さ
れ、ＴＯＦＭＳの装置を大型化することなく、マススペ
クトルの分解能を向上させることができる。
【００２４】一方、試料イオンが負イオンの場合は、こ
れまで述べてきたイオンの飛行経路に印加される電位の
極性は、すべて反転して用いられる。
れまで述べてきたイオンの飛行経路に印加される電位の
極性は、すべて反転して用いられる。
【００２５】なお、本実施例では、リフレクトロン７の
後段、すなわちリフレクトロン７とイオン検出器８の間
に、減速レンズ１１及び加速レンズ１２を設置したが、
これらの設置場所は、必ずしもリフレクトロン７の後段
に限定されるものではない。例えば、リフレクトロン７
の前段、すなわち加速レンズ６とリフレクトロン７の間
に設置されていても良く、あるいは、リフレクトロン７
の前段と後段の両方に設置されていても良い。
後段、すなわちリフレクトロン７とイオン検出器８の間
に、減速レンズ１１及び加速レンズ１２を設置したが、
これらの設置場所は、必ずしもリフレクトロン７の後段
に限定されるものではない。例えば、リフレクトロン７
の前段、すなわち加速レンズ６とリフレクトロン７の間
に設置されていても良く、あるいは、リフレクトロン７
の前段と後段の両方に設置されていても良い。
【００２６】また、本実施例では、減速レンズと加速レ
ンズを並べて設置しているが、両レンズを引き離して設
置することも可能である。ただ、その場合には、イオン
の収束性が悪くなる可能性があるので、マススペクトル
の分解能が低下する懸念があって、必ずしも好ましいこ
とではない。
ンズを並べて設置しているが、両レンズを引き離して設
置することも可能である。ただ、その場合には、イオン
の収束性が悪くなる可能性があるので、マススペクトル
の分解能が低下する懸念があって、必ずしも好ましいこ
とではない。
【００２７】また、本実施例では、リフレクトロン型の
ＯＡ−ＴＯＦＭＳを取り扱ったが、本発明の適用範囲
は、リフレクトロン型のＯＡ−ＴＯＦＭＳに限定される
ものではなく、リニア型のＯＡ−ＴＯＦＭＳやＯＡ−Ｔ
ＯＦＭＳ以外のＴＯＦＭＳにも適用できることは言うま
でもない。
ＯＡ−ＴＯＦＭＳを取り扱ったが、本発明の適用範囲
は、リフレクトロン型のＯＡ−ＴＯＦＭＳに限定される
ものではなく、リニア型のＯＡ−ＴＯＦＭＳやＯＡ−Ｔ
ＯＦＭＳ以外のＴＯＦＭＳにも適用できることは言うま
でもない。
【００２８】
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明のＴＯＦＭＳ
によれば、イオンの飛行速度が減速レンズでいったん減
速された後に、加速レンズで元の速度まで加速されるた
め、イオンの実効飛行距離が増え、ＴＯＦＭＳの装置を
大型化することなく、マススペクトルの分解能を向上さ
せることができる。
によれば、イオンの飛行速度が減速レンズでいったん減
速された後に、加速レンズで元の速度まで加速されるた
め、イオンの実効飛行距離が増え、ＴＯＦＭＳの装置を
大型化することなく、マススペクトルの分解能を向上さ
せることができる。
【図１】従来の垂直加速型飛行時間型質量分析装置を示
す図である。
す図である。
【図２】本発明にかかる垂直加速型飛行時間型質量分析
装置の一実施例を示す図である。
装置の一実施例を示す図である。
【図３】本発明にかかる垂直加速型飛行時間型質量分析
装置のイオン飛行軌道上における電位配置の一実施例を
示す図である。
装置のイオン飛行軌道上における電位配置の一実施例を
示す図である。
１・・・イオン源、２・・・イオンガイド、３・・・中間室、４・
・・集光レンズ、５・・・押し出し電極、６・・・加速レンズ、
７・・・リフレクトロン、８・・・イオン検出器、９・・・測定
室、１０・・・オリフィス、１１・・・減速レンズ、１２・・・
加速レンズ。
・・集光レンズ、５・・・押し出し電極、６・・・加速レンズ、
７・・・リフレクトロン、８・・・イオン検出器、９・・・測定
室、１０・・・オリフィス、１１・・・減速レンズ、１２・・・
加速レンズ。
Claims (1)
- 【請求項１】イオンが飛行する軌道上に減速電場、次い
で加速電場を設け、イオンの飛行方向を変えることな
く、イオンに減速、次いで加速を行なわせるようにした
ことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11087653A JP2000285848A (ja) | 1999-03-30 | 1999-03-30 | 飛行時間型質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11087653A JP2000285848A (ja) | 1999-03-30 | 1999-03-30 | 飛行時間型質量分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000285848A true JP2000285848A (ja) | 2000-10-13 |
Family
ID=13920930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11087653A Withdrawn JP2000285848A (ja) | 1999-03-30 | 1999-03-30 | 飛行時間型質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000285848A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2231860C2 (ru) * | 2002-07-30 | 2004-06-27 | Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П.Королева | Газопылеударный масс-спектрометр |
| GB2408144A (en) * | 2003-11-17 | 2005-05-18 | Micromass Ltd | A mass filter for a mass spectrometer |
| US7297960B2 (en) | 2003-11-17 | 2007-11-20 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
| JP2015179629A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
| CN112885701A (zh) * | 2021-02-26 | 2021-06-01 | 中国科学院化学研究所 | 一种离子过滤装置及方法 |
-
1999
- 1999-03-30 JP JP11087653A patent/JP2000285848A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2231860C2 (ru) * | 2002-07-30 | 2004-06-27 | Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П.Королева | Газопылеударный масс-спектрометр |
| GB2408144A (en) * | 2003-11-17 | 2005-05-18 | Micromass Ltd | A mass filter for a mass spectrometer |
| JP2005190994A (ja) * | 2003-11-17 | 2005-07-14 | Micromass Uk Ltd | 質量分析計 |
| GB2408144B (en) * | 2003-11-17 | 2006-04-26 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| US7297960B2 (en) | 2003-11-17 | 2007-11-20 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
| JP2015179629A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 株式会社島津製作所 | 飛行時間型質量分析装置 |
| CN112885701A (zh) * | 2021-02-26 | 2021-06-01 | 中国科学院化学研究所 | 一种离子过滤装置及方法 |
| CN112885701B (zh) * | 2021-02-26 | 2022-02-11 | 中国科学院化学研究所 | 一种离子过滤装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10923339B2 (en) | Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry | |
| EP0917728B1 (en) | Ion storage time-of-flight mass spectrometer | |
| US7019285B2 (en) | Ion storage time-of-flight mass spectrometer | |
| US6011259A (en) | Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis | |
| JP6237908B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| US10229823B2 (en) | Mass spectrometer | |
| US10699892B2 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
| US6700117B2 (en) | Conditioning of an ion beam for injection into a time-of-flight mass spectrometer | |
| EP1264331A2 (en) | Time of flight mass spectrometry apparatus | |
| JP2000285848A (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| JP3741567B2 (ja) | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 | |
| US5744797A (en) | Split-field interface | |
| JP3830344B2 (ja) | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 | |
| JP5979075B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| JP2000251831A (ja) | 質量分析装置 | |
| US11133171B2 (en) | Method and apparatus for tandem mass spectrometry with MALDI-TOF ion source | |
| JP2001176444A (ja) | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 | |
| JP3967694B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| JP2000294188A (ja) | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置のイオン加速部 | |
| JP6084815B2 (ja) | タンデム飛行時間型質量分析計 | |
| JP4037797B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
| US11527398B2 (en) | Pulsed accelerator for time of flight mass spectrometers | |
| CA2262646C (en) | Ion storage time-of-flight mass spectrometer | |
| JP2005005021A (ja) | 飛行時間型質量分析装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060606 |