JP2000290769A - 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成方法及び薄膜形成装置Info
- Publication number
- JP2000290769A JP2000290769A JP11097425A JP9742599A JP2000290769A JP 2000290769 A JP2000290769 A JP 2000290769A JP 11097425 A JP11097425 A JP 11097425A JP 9742599 A JP9742599 A JP 9742599A JP 2000290769 A JP2000290769 A JP 2000290769A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- fine particles
- raw material
- material solution
- spray nozzle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
性良く製造することができる工業的方法を提供する。 【解決手段】 原料溶液を超音波振動槽14で微粒子化し
た後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き
付けノズル17を介して加熱基板24上に吹き付けて薄膜を
形成する方法において、分級装置15及び圧力緩衝器17に
より粒度分布と流れを整えた微粒子を、流量・流速・温
度が分割された複数のゾーン毎に調整可能な微粒子吹き
付けノズル17に供給する。これにより、再現性よく、均
一な薄膜形成が可能になる。
Description
れる原料溶液を微粒子化し、基板上に吹き付けて製膜す
る方法及び装置に関するものである。
ソースを蒸発させてガラス基板に膜を形成するスパッタ
リング法及び物理的蒸着法や、塗布焼結法及び化学的蒸
着法(CVD法)等が知られている。
ための真空装置を必要とするために装置費用が非常に高
くなる。特に大面積の膜を作製するには大型の装置が必
要になり装置費用が極めて高額になる。さらに均一な膜
質のものを得ようとすると製膜速度が遅くなり大量生産
上問題があった。
にスクリーン印刷した後、連続ベルト炉で焼結するもの
であり、装置費用は比較的安価であるが、原料ペースト
中の粒径が比較的大きいことに依存して焼結時の空隙が
多数残り、高品位で均一な膜を得ることは難しい。
いるために、直接原料ガスの流量を制御することが難し
く、これまではキャリアガスの流量調節と原料容器の加
熱設定により、原料ガスの導入量を制御していた。この
ため反応容器の形状、容量及び原料残量により流量が変
化してしまい、均一な膜質が得ることが困難である。ま
たソース材料とドーブ材料の蒸気圧が異なるために膜中
のドーブ量を制御することも難しい。
る目的で、液体原料の供給量を液体流量制御器で制御す
ると共に、前記流量制御器の直後に前記原料分子が吸収
し得る振動数の振動を与え、液体流量制御器出口から流
出する前記原料を微粒子化することで均一な膜質の薄膜
を得る方法が開発されている。しかしながら前記方法を
用いても大面積の基板に均一に膜を形成するのは困難で
あり、量産性にも問題がある。
を形成する方法として、原料溶液を超音波振動により微
粒子化した後、加熱して溶媒を気化分離し、さらに原料
を液化した後に基板上に吹き付けて膜を形成する方法が
考案されている。しかしこの方法では、微粒子化してか
ら吹き付けまでの間に微粒子が再疑集して巨大粒子とな
り膜質を低下させたり、また基板上各部への微粒子の吹
き付け流量が不安定になると同時に基板温度のバラツキ
も大きくなり膜質が低下する。さらに大型の基板の場
合、加熱による変形が大きいため、基板上各部で微粒子
の膜形成量が異なってくる結果、膜厚のバラツキが生じ
る。
明は、大面積でかつ均一な膜質の薄膜を安価に再現性良
く製造できる工業的方法を提供することを目的とする。
また、本発明はそのような薄膜を工業的に製造しうる装
置を提供することを目的とする。
め、本発明の薄膜の形成方法は、原料溶液を超音波振動
槽で微粒子化した後、得られた微粒子をキャリアガスと
共に微粒子吹き付けノズルを介して加熱基板上に吹き付
けて薄膜を形成する方法において、 (a) 前記微粒子吹き付けノズルとして、吹き出し経
路及び排気経路がそれぞれ複数に分割されたノズルを用
い、前記分割されたゾーン毎に前記微粒子の流量及び流
速を制御することを特徴とする。
て、吹き出し経路及び排気経路がそれぞれ複数に分割さ
れたノズルを用い、前記分割されたゾーン毎に前記微粒
子の温度を制御することを特徴とする。
出し口から排気口までの周囲に囲いを設けた状態で薄膜
を形成することを特徴とする。
前記微粒子吹き付けノズルに供給するに先立って、微粒
子の分級を行ない粗大粒子を除去することを特徴とす
る。
圧力緩衝器に通過させた後に、前記微粒子吹き付けノズ
ルに供給することを特徴とする。
を供給するとともに、前記超音波振動槽内の所定高さ設
置した排出口に前記原料溶液をオーバーフローさせて、
前記原料溶液の液面を一定に維持することにより前記微
粒子化量を制御することを特徴とする。
液を微粒子化する超音波振動槽と、得られた微粒子をキ
ャリアガスと共に加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る微粒子吹き付けノズルとを有する薄膜形成装置におい
て、 (a’) 前記微粒子吹き付けノズルの前記微粒子の吹
き出し経路及び排気経路がそれぞれ複数に分割されてお
り、前記分割されたゾーン毎に前記微粒子の流量及び流
速を制御する流量調節弁が設置されていることを特徴と
する。
記微粒子の吹き出し経路及び排気経路がそれぞれ複数に
分割されており、前記分割されたゾーン毎に前記微粒子
の温度を制御するための温度調節器が設置されているこ
とを特徴とする。
き出し口から排気口までの周囲に囲いが設置されている
ことを特徴とする。
付けノズルとの間に微粒子の分級装置を備えたことを特
徴とする。
前に圧力緩衝器を備えたことを特徴とする。
に所定高さ設置した排出口を有し、供給される前記原料
溶液を前記排出口からオーバーフローさせて、前記原料
溶液の液面を一定に維持することにより前記微粒子化量
が制御できるようにしてあることをを特徴とする。
(又は(f’))の微粒子化量の制御方法(機構)を備
えた原料溶液の微粒子化方法(装置)、(a)〜(c)
(又は(a’)〜(c’))の微粒子吹き付け用ノズ
ル、(d)(又は(d’))の微粒子の分級方法(装
置)、及び(e)(又は(e’))の圧力緩衝器を採用
することにより、大型基板上に再現性良く均一に且つ安
価に薄膜を形成することができる。
された基板上に吹き付け、微粒子が気化乾燥し基板上で
熱分解し薄膜が形成される工程において、(f)(又は
(f’))の微粒子化量の制御方法(機構)を備えた原
料溶液の微粒子化方法(装置)を用いることで、微粒子
化量の変動が少なくなるので、経時的に超音波振動の出
力調整をする必要がなく、連続稼働が可能になる。さら
に、前記微粒子化装置の後に(d)(又は(d’))の
微粒子の分級方法(装置)、(e)(又は(e’))の
圧力緩衝器、(a)〜(c)(又は(a’)〜
(c’))の微粒子吹き付け用ノズルを設置すること
で、大型の基板に対しても均等に微粒子を吹き付けるこ
とができ、且つ熱分解のバラツキが低減されるので、薄
膜の均一な堆積が可能になる。
の形状、容量に制約されることなく付加的に設置できる
ので、太陽電池の化合物半導体膜や、プラズマ・ディス
プレイ・パネル(PDP)の透明導電性膜及び/又は誘
導体保護膜等の形成に使用する薄膜形成用反応装置のみ
ならず、スピンコートをはじめとする各種のコーティン
グ装置へも適用することができる。
施の形態を示す。
を示す。
微粒子化槽であり、その内部の底面には原料溶液12に
超音波振動を伝えるための超音波振動子2が固定されて
いる。超音波振動子2により微粒子化された原料は、流
量計10を介して供給されるキャリアガスと共に微粒子
流出口11より流出され、後述する微粒子吹き付けノズ
ル(図2参照)へ送られる。
めの供給槽である。供給槽3内の原料溶液12はポンプ
4により微粒子化槽1に供給される。過剰に供給された
原料溶液は、微粒子化槽1内に設置したオーバーフロー
管5から供給槽3に戻され、微粒子化槽1内の原料溶液
の液面が常に一定に保たれるようになっている。これに
より、微粒子化量の経時的な変動が少なくなる。
蔵する主タンク8が設置され、主タンク8内の原料溶液
12がポンプ9を介して供給槽3に随時供給される。供
給槽3内には液面レベルセンサー6,7が設置されてお
り、これからの信号をもとに制御回路13がポンプ9を
駆動して、供給槽3内の原料溶液12の液面レベルが所
定高さとなるように管理される。
分級装置及び圧力緩衝器の構成例を示す。
(図1の微粒子化槽1に相当する)から流出してきた微
粒子の内、粗大粒子が遠心力により壁面に付着し系外に
除外され、残りの微粒子のみが圧力緩衝器16に流入す
る。粗大粒子が除去される結果、微粒子の粒径が均一化
され、膜厚が均一で、経時的な膜厚変動が少ない薄膜が
得られる。
圧力緩衝器16の内部にほぼ均一に拡散されるととも
に、キャリアガスの圧力変動が緩和される。この結果、
経時的に安定した微粒子の供給が可能となり、均一な膜
厚を有する薄膜を形成することができる。
込まれた微粒子吹き付けノズル17に導入される。微粒
子吹き付けノズル17内の、微粒子供給経路20と微粒
子排出経路21は共に複数に分割されており、それぞれ
のゾーンには流量調節弁19が設けられ、各経路の流量
及び流速を独立して制御できるようになっている。これ
により大面積を有する基板に対しても均一な薄膜を形成
することができる。
3が配置され、微粒子温度を制御できる構造になってい
る。本実施の形態の温度調節器23は、ゾーンの温度を
検知する温度センサー23aと、ゾーン内の微粒子の加
熱を行なう微粒子加熱用ヒーター26と、温度センサー
23aからの信号をもとにヒーター26に給電を行ない
所定温度に制御する制御装置23bとから構成される。
これにより、大面積を有する基板に対しても、熱分解の
ばらつきを抑えることができるので、膜質の均一な薄膜
が形成できる。
粒子の吹き出し口から排気口までの周囲に囲い22が設
けてあり、微粒子吹き付けノズル17の外部からの影響
が及びにくい構造になっている。これにより、上記によ
り設定された各ゾーンの微粒子の流量と流速、及び温度
条件を一定に維持することが容易になり、安定した薄膜
形成が可能になる。
17に流入して、微粒子加熱用ヒーター26により加熱
され、流出口から出て、基板加熱用ヒーター25で加熱
された基板24上に吹き付けられた後、排出口から吸入
され、系外に排出される。
本発明をより具体的に説明する。
ンスズクロライド20重量%とフッ酸0.5重量%を含
有する水溶液を図1の微粒子化装置に入れた。超音波振
動子の出力を100V、6A、100kHzとし、キャ
リアガスとして空気を260リットル/分流した。図1
に示す本発明の装置により、原料溶液の微粒子化量は約
3g/分に制御できた。微粒子化装置の後には、図2の
分級装置、圧力緩衝器及び微粒子吹き付けノズルを備え
付けた装置をセットした。ノズルは5分割し、中央のゾ
ーンの流量調節弁の開口度を50%、その両側のゾーン
の開口度を75%とし両端の開口度を100%として、
約600℃に加熱したガラス基板上に向けて微粒子を吹
き付けた。この時、各ゾーンの温度は300℃になるよ
うに制御した。また同様にして、連続的に60分間原料
溶液を流し、膜厚の時間的変化も追跡した。
5cm×35cmの正方形のものを用いた。前記本実施
例に従って酸化スズ膜を形成した時のガラス基板を図3
のように9つの領域に分割して、各部の膜厚分布を測定
した結果を図4に示す。また、前記の膜厚の時間変化を
図5に示す。図5において横軸は時間、縦軸は膜厚を示
す。
2の装置に代えて、図6及び図7に示したような装置を
用いた以外は、実施例1と同じ条件で酸化スズ膜を形成
した。
子化するためのの微粒子化槽であり、その内部の底面に
は原料溶液37に超音波振動を伝えるための超音波振動
子33が固定されている。超音波振動子37により微粒
子化された原料は、流量計36を介して供給されるキャ
リアガスと共に流出口38より流出され、後述する図7
の反応装置29へ送られる。35は微粒子化槽32に原
料溶液を供給するための供給槽である。供給槽35内の
原料溶液37はポンプ34により微粒子化槽32に供給
される。
微粒子化槽32に相当する)から流出してきた微粒子は
キャリアガスとともに反応装置29内に供給され、基板
加熱用ヒーター31で加熱された基板30上に吹き付け
られ、反応装置29の下端と基板30との間の隙間から
系外に排出される。28は供給された微粒子を加熱する
微粒子加熱用ヒーターである。
形成された酸化スズ膜の各部の膜厚分布を図4に示す。
また、膜厚の時間的変化を図5に示す。
によると、基板内での膜厚のバラツキが少なく、また時
間的な膜厚の変化も少ない、均一な薄膜が形成できるこ
とが分かる。
でかつ均一な膜質の薄膜を安価に再現性良く製造するこ
とが可能である。
た概略図。
分割を示した平面図。
スズ膜を形成した実施例1と、従来法により酸化スズ膜
を形成した比較例1の、基板各部の膜厚のバラツキを比
較して示した図。
スズ膜を形成した実施例1と、従来法により酸化スズ膜
を形成した比較例1の、膜厚の時間的変化を比較して示
した図。
の概略図。
Claims (18)
- 【請求項1】 原料溶液を超音波振動槽で微粒子化した
後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き付
けノズルを介して加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る方法において、 前記微粒子吹き付けノズルとして、吹き出し経路及び排
気経路がそれぞれ複数に分割されたノズルを用い、 前記分割されたゾーン毎に前記微粒子の流量及び流速を
制御することを特徴とする薄膜形成方法。 - 【請求項2】 原料溶液を超音波振動槽で微粒子化した
後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き付
けノズルを介して加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る方法において、 前記微粒子吹き付けノズルとして、吹き出し経路及び排
気経路がそれぞれ複数に分割されたノズルを用い、 前記分割されたゾーン毎に前記微粒子の温度を制御する
ことを特徴とする薄膜形成方法。 - 【請求項3】 原料溶液を超音波振動槽で微粒子化した
後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き付
けノズルを介して加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る方法において、 前記微粒子吹き付けノズルの吹き出し口から排気口まで
の周囲に囲いを設けた状態で薄膜を形成することを特徴
とする薄膜形成方法。 - 【請求項4】 原料溶液を超音波振動槽で微粒子化した
後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き付
けノズルを介して加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る方法において、 前記微粒子を含むキャリアガスを前記微粒子吹き付けノ
ズルに供給するに先立って、微粒子の分級を行ない粗大
粒子を除去することを特徴とする薄膜形成方法。 - 【請求項5】 原料溶液を超音波振動槽で微粒子化した
後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き付
けノズルを介して加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る方法において、 前記微粒子を含むキャリアガスを圧力緩衝器に通過させ
た後に、前記微粒子吹き付けノズルに供給することを特
徴とする薄膜形成方法。 - 【請求項6】 原料溶液を超音波振動槽で微粒子化した
後、得られた微粒子をキャリアガスと共に微粒子吹き付
けノズルを介して加熱基板上に吹き付けて薄膜を形成す
る方法において、 前記超音波振動槽に前記原料溶液を供給するとともに、
前記超音波振動槽内の所定高さ設置した排出口に前記原
料溶液をオーバーフローさせて、前記原料溶液の液面を
一定に維持することにより前記微粒子化量を制御するこ
とを特徴とする薄膜形成方法。 - 【請求項7】 前記薄膜が太陽電池の化合物半導体膜に
供される請求項1〜6のいずれかに記載の薄膜形成方
法。 - 【請求項8】 前記薄膜がプラズマ・ディスプレイ・パ
ネルの透明導電性膜及び/又は誘導体保護膜に供される
請求項1〜6のいずれかに記載の薄膜形成方法。 - 【請求項9】 前記薄膜がスピンコーティング用膜に供
される請求項1〜6のいずれかに記載の薄膜形成方法。 - 【請求項10】 原料溶液を微粒子化する超音波振動槽
と、得られた微粒子をキャリアガスと共に加熱基板上に
吹き付けて薄膜を形成する微粒子吹き付けノズルとを有
する薄膜形成装置において、 前記微粒子吹き付けノズルの前記微粒子の吹き出し経路
及び排気経路がそれぞれ複数に分割されており、 前記分割されたゾーン毎に前記微粒子の流量及び流速を
制御する流量調節弁が設置されていることを特徴とする
薄膜形成装置。 - 【請求項11】 原料溶液を微粒子化する超音波振動槽
と、得られた微粒子をキャリアガスと共に加熱基板上に
吹き付けて薄膜を形成する微粒子吹き付けノズルとを有
する薄膜形成装置において、 前記微粒子吹き付けノズルの前記微粒子の吹き出し経路
及び排気経路がそれぞれ複数に分割されており、 前記分割されたゾーン毎に前記微粒子の温度を制御する
ための温度調節器が設置されていることを特徴とする薄
膜形成装置。 - 【請求項12】 原料溶液を微粒子化する超音波振動槽
と、得られた微粒子をキャリアガスと共に加熱基板上に
吹き付けて薄膜を形成する微粒子吹き付けノズルとを有
する薄膜形成装置において、 前記微粒子吹き付けノズルの吹き出し口から排気口まで
の周囲に囲いが設置されていることを特徴とする薄膜形
成装置。 - 【請求項13】 原料溶液を微粒子化する超音波振動槽
と、得られた微粒子をキャリアガスと共に加熱基板上に
吹き付けて薄膜を形成する微粒子吹き付けノズルとを有
する薄膜形成装置において、 前記超音波振動槽と微粒子吹き付けノズルとの間に微粒
子の分級装置を備えたことを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項14】 原料溶液を微粒子化する超音波振動槽
と、得られた微粒子をキャリアガスと共に加熱基板上に
吹き付けて薄膜を形成する微粒子吹き付けノズルとを有
する薄膜形成装置において、 前記微粒子吹き付けノズルの直前に圧力緩衝器を備えた
ことを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項15】 原料溶液を微粒子化する超音波振動槽
と、得られた微粒子をキャリアガスと共に加熱基板上に
吹き付けて薄膜を形成する微粒子吹き付けノズルとを有
する薄膜形成装置において、 前記超音波振動槽は、その内部に所定高さ設置した排出
口を有し、供給される前記原料溶液を前記排出口からオ
ーバーフローさせて、前記原料溶液の液面を一定に維持
することにより前記微粒子化量が制御できるようにして
あることをを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項16】 前記薄膜が太陽電池の化合物半導体膜
に供される請求項10〜15のいずれかに記載の薄膜形
成装置。 - 【請求項17】 前記薄膜がプラズマ・ディスプレイ・
パネルの透明導電性膜及び/又は誘導体保護膜に供され
る請求項10〜15のいずれかに記載の薄膜形成装置。 - 【請求項18】 前記薄膜がスピンコーティング用膜に
供される請求項10〜15のいずれかに記載の薄膜形成
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09742599A JP4219476B2 (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09742599A JP4219476B2 (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000290769A true JP2000290769A (ja) | 2000-10-17 |
| JP4219476B2 JP4219476B2 (ja) | 2009-02-04 |
Family
ID=14192081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09742599A Expired - Fee Related JP4219476B2 (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4219476B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007046281A1 (ja) * | 2005-10-19 | 2007-04-26 | Ulvac, Inc. | 成膜材料供給装置 |
| JP2011506764A (ja) * | 2007-12-10 | 2011-03-03 | ベネク・オサケユキテュア | 極度に疎水性の表面を製造する方法 |
| KR20190077741A (ko) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 주식회사 포스코 | 증착 장치 및 증착 방법 |
| JP2021531971A (ja) * | 2018-07-12 | 2021-11-25 | ナイテック ソリューションズ リミテッドNitech Solutions Limited | 液体プロセスアセンブリ |
-
1999
- 1999-04-05 JP JP09742599A patent/JP4219476B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007046281A1 (ja) * | 2005-10-19 | 2007-04-26 | Ulvac, Inc. | 成膜材料供給装置 |
| CN101292058A (zh) * | 2005-10-19 | 2008-10-22 | 株式会社爱发科 | 成膜材料供给装置 |
| CN101292058B (zh) * | 2005-10-19 | 2012-10-31 | 株式会社爱发科 | 成膜材料供给装置 |
| JP2011506764A (ja) * | 2007-12-10 | 2011-03-03 | ベネク・オサケユキテュア | 極度に疎水性の表面を製造する方法 |
| KR20190077741A (ko) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 주식회사 포스코 | 증착 장치 및 증착 방법 |
| WO2019132206A1 (ko) * | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 주식회사 포스코 | 증착 장치 및 증착 방법 |
| KR102098455B1 (ko) | 2017-12-26 | 2020-04-07 | 주식회사 포스코 | 연속 증착 장치 및 연속 증착 방법 |
| JP2021531971A (ja) * | 2018-07-12 | 2021-11-25 | ナイテック ソリューションズ リミテッドNitech Solutions Limited | 液体プロセスアセンブリ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4219476B2 (ja) | 2009-02-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101301967B1 (ko) | 플라즈마 나노 분말 합성 및 코팅 장치 와 그 방법 | |
| US20160107923A1 (en) | Evaporator and method for producing synthetic fused quartz | |
| CN116024550B (zh) | 一种利用雾化学气相沉积生长氧化物薄膜的装置系统及方法 | |
| JP2012046772A (ja) | ミストcvd装置及びミスト発生方法 | |
| JP3893177B2 (ja) | 気化装置、cvd装置及び薄膜製造方法 | |
| JP2015500785A (ja) | 気相からの堆積によって、かつ液状のシロキサン供給材料を霧化することによる合成石英ガラスの製造法 | |
| CN217963068U (zh) | 一种制备钙钛矿薄膜的装置 | |
| JPH10140356A5 (ja) | ||
| JP2000290769A (ja) | 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 | |
| CN108385089B (zh) | 一种超声雾化热解沉积装置及利用该装置制备薄膜的方法 | |
| WO1998055668A1 (en) | Method and apparatus for vapor generation and film deposition | |
| JPH108255A (ja) | 液体原料気化装置 | |
| JP2001220688A (ja) | 薄膜形成装置及び薄膜形成方法 | |
| JP2002523233A (ja) | 微粒子製品を製造するためのエーロゾル方法および装置 | |
| JP2001011653A (ja) | 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 | |
| JP4708130B2 (ja) | 成膜装置および透明導電膜の製法 | |
| JP2000015147A (ja) | 静電塗布方法及び静電塗布装置 | |
| KR20240132017A (ko) | 성막장치 및 성막방법 | |
| JP3532066B2 (ja) | 液体原料の蒸着方法および装置 | |
| CN1670252A (zh) | 超声快速沉积法制备纳米氧化物透明导电膜的设备及方法 | |
| KR100237921B1 (ko) | 화학증기 증착장치 및 그 증착속도 제어방어방법 | |
| JP2005177662A (ja) | フラッシュ蒸発を用いたナノ粒子生成方法およびその製造装置 | |
| US6558877B1 (en) | Jet coating method for semiconductor processing | |
| JPS613885A (ja) | 霧化薄膜作製方法 | |
| KR200286039Y1 (ko) | 상압용 초음파 코팅장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051226 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080704 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080708 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080901 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081016 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081112 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111121 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121121 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121121 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131121 Year of fee payment: 5 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |