JP2000292105A - 一次元測定機 - Google Patents

一次元測定機

Info

Publication number
JP2000292105A
JP2000292105A JP11105084A JP10508499A JP2000292105A JP 2000292105 A JP2000292105 A JP 2000292105A JP 11105084 A JP11105084 A JP 11105084A JP 10508499 A JP10508499 A JP 10508499A JP 2000292105 A JP2000292105 A JP 2000292105A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slider
measurement
tracing stylus
dimensional measuring
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11105084A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3696432B2 (ja
Inventor
Giyokubu Chiyou
玉武 張
Masayoshi Yamagata
正意 山縣
Hiroyuki Tokito
博幸 時任
Yoichi Nomura
陽一 野村
Bunji Aoyama
文次 青山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp, Mitsutoyo Kiko Co Ltd filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP10508499A priority Critical patent/JP3696432B2/ja
Priority to US09/547,102 priority patent/US6446351B1/en
Priority to GB0008942A priority patent/GB2348957B/en
Priority to DE10018056.6A priority patent/DE10018056B4/de
Publication of JP2000292105A publication Critical patent/JP2000292105A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3696432B2 publication Critical patent/JP3696432B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/102Height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B5/06Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B5/061Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/08Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using capacitive means
    • G01B7/082Height gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定後に直ちに測定機または被測定物を移動
させても(測定効率を向上させても)、被測定物に傷が
付いたり、測定子が破損するなどの虞れがない一次元測
定機を提供する。 【解決手段】 ベースに立設された支柱に沿ってスライ
ダが昇降可能に設けられ、このスライダを昇降させるモ
ータを含む昇降駆動手段を備えた一次元測定機におい
て、昇降駆動手段を駆動させてスライダを昇降させた
際、測定子13が被測定物の測定面に当接したときの変
位検出器の検出値を取り込んだのち、測定子13が被測
定物の測定面から離れる方向へ昇降駆動手段を駆動させ
て停止させるタッチバック手段を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、上下方向へ昇降可
能に設けられた測定子を備え、この測定子を被測定物の
測定部位に当接させて、被測定物の寸法、たとえば、高
さ、段差、穴、軸などの寸法を測定する一次元測定機に
関する。
【0002】
【背景技術】定盤上において、被測定物の寸法、たとえ
ば、高さ、段差、穴、軸などの寸法を測定する場合、上
下方向へ昇降可能な測定子を備えた一次元測定機、いわ
ゆる、ハイトゲージが用いられている。ハイトゲージの
中でもモータ駆動型のハイトゲージは、定盤上に移動可
能に載置されるベースと、このベースに立設された支柱
と、この支柱に沿って昇降可能に設けられ測定子を有す
るスライダと、このスライダを昇降させるモータを含む
昇降駆動手段と、前記スライダの高さ方向の変位量を検
出する変位検出器と、表示手段と、測定指令に基づいて
前記昇降駆動手段を駆動させて前記スライダを昇降さ
せ、前記測定子が被測定物の測定面に当接したときの変
位検出器の検出値を取り込み、この検出値を前記表示手
段に表示させる制御手段とを備える構成である。
【0003】このようなモータ駆動型のハイトゲージで
は、測定にあたって、ある測定項目が指令されると、制
御手段は、昇降駆動手段を駆動させてスライダを上昇ま
たは下降させる。スライダの上昇または下降によって、
測定子が被測定物の測定面に当接し、上下方向位置の変
動値が一定以下になったとき、そのときの変位検出器の
検出値を取り込み、この検出値を表示手段に表示させ
る。従って、測定者は、表示手段に表示された検出値
(測定値)から測定子が当接した被測定物の測定面の高
さ位置を求めることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のモー
タ駆動型のハイトゲージでは、測定子が被測定物に当接
したのちは、その状態(測定子が被測定物に接した状
態)に保たれているから、次の測定に際して、測定者が
測定子を被測定物から離れる方向(上方または下方)へ
適当量、移動させたのち、測定子を被測定物から引き抜
き、次の測定に移っていた。もし、このような操作をせ
ずに、測定後、直ちに測定機または被測定物を移動させ
ると、被測定物と測定子とが干渉したまま移動するか
ら、つまり、被測定物と測定子とが接した状態のまま移
動するから、被測定物に傷が付いたり、測定子が破損す
るなどの虞がある。
【0005】本発明の目的は、測定後に直ちに測定機ま
たは被測定物を移動させても、被測定物に傷が付いた
り、測定子が破損するなどの虞れがない、つまり、これ
らを破損させることなく、測定効率を向上させることが
可能な一次元測定機を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の一次元測定機
は、上記目的を達成するため、次の構成を採用する。請
求項1に記載の発明は、定盤上に移動可能に載置される
ベースと、このベースに立設された支柱と、この支柱に
沿って昇降可能に設けられ測定子を有するスライダと、
このスライダを昇降させるモータを含む昇降駆動手段
と、前記スライダの高さ方向の変位量を検出する変位検
出器と、表示手段と、測定指令に基づいて前記昇降駆動
手段を駆動させて前記スライダを昇降させ、前記測定子
が被測定物の測定面に当接したときの変位検出器の検出
値を取り込み、この検出値を前記表示手段に表示させる
制御手段とを備えた一次元測定機において、前記制御手
段は、前記昇降駆動手段を駆動させてスライダを昇降さ
せた際、前記測定子が被測定物の測定面に当接したとき
の変位検出器の検出値を取り込んだのち、測定子が被測
定物の測定面から離れる方向へ前記昇降駆動手段を駆動
させて停止させるタッチバック手段を有することを特徴
とする。
【0007】この発明によれば、測定指令が与えられる
と、制御手段は、昇降駆動手段を駆動させてスライダを
上昇または下降させる。やがて、スライダの上昇または
下降によって測定子が被測定物の測定面に当接したこと
を検知すると、そのときの変位検出器の検出値を取り込
んだのち、測定子が被測定物の測定面から離れる方向へ
昇降駆動手段を駆動させて停止させる。従って、この状
態では、被測定物と測定子とが離れているから、測定
後、直ちに測定機または被測定物を移動させても、被測
定物に傷が付いたり、測定子が破損するなどの虞がな
い。よって、これらを破損させることなく、測定効率を
向上させることができる。
【0008】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の一次元測定機において、前記タッチバック手段は、前
記被測定物の測定面から予め設定された後退量離れた後
退目標位置に対して予め設定された許容停止範囲内まで
前記測定子が後退したとき、昇降駆動手段の駆動を停止
させることを特徴とする。この発明によれば、測定子
が、後退目標位置に対して予め設定された許容停止範囲
内まで後退したとき、昇降駆動手段の駆動が停止される
から、その後、測定子は慣性によって略後退目標位置近
傍に静止される。つまり、測定子を後退目標位置近傍に
静止させることができる。
【0009】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の一次元測定機において、前記タッチバック手段は、前
記測定子が前記後退目標位置を越えて後退し続け、か
つ、前記測定子が被測定物の測定面から離れた時点から
予め設定された設定時間経過したとき、前記スライダを
強制的に静止させることを特徴とする。この発明によれ
ば、測定子が後退目標位置を越えて後退し続けても、予
め設定された設定時間経過すると、スライダが強制的に
静止されるから、測定子と被測定物との干渉の虞を少な
くできる。
【0010】請求項4に記載の発明は、請求項1ないし
請求項3のいずれかに記載の一次元測定機において、前
記後退目標位置は任意に設定可能であることを特徴とす
る。この発明によれば、被測定物の測定部位に応じて、
後退目標位置を任意に設定できるから、測定子と被測定
物との干渉を防止できる。
【0011】請求項5に記載の発明は、請求項1ないし
請求項4のいずれかに記載の一次元測定機において、前
記タッチバック手段は、前記測定子が測定開始位置から
被測定物の測定面に当接するまでの距離より前記後退量
が大きいとき、前記測定子が測定開始位置まで後退移動
した時点で、前記昇降駆動手段の駆動を停止させること
を特徴とする。この発明によれば、測定子が測定開始位
置から被測定物の測定面に当接するまでの距離より後退
量が大きいときには、測定子が測定開始位置まで後退移
動した時点で、昇降駆動手段を停止されるから、測定子
と被測定物との干渉を未然に防ぐことができる。
【0012】請求項6に記載の発明は、請求項1に記載
の一次元測定機において、前記タッチバック手段は、前
記スライダが後退移動してから後退目標位置手前でブレ
ーキ機構を働かせることを特徴とする。この発明によれ
ば、スライダが後退移動してから後退目標位置手前でブ
レーキが働くので、早期に停止させることができ、測定
子と被測定物との干渉を未然に防ぐことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。図1は一次元測定機としてのハイ
トゲージを示す斜視図である。同図に示すように、本実
施形態のハイトゲージは、定盤10上に移動可能に載置
されるベース11と、このベース11に立設された支柱
12と、この支柱12に沿って上下方向へ昇降可能に設
けられ測定子13を有するスライダ14とを備える。
【0014】前記ベース11には、前記支柱12の裏面
側にグリップ部15が設けら、このグリップ部15の上
面には、表面に表示手段を構成するLCDなどの表示装
置16およびキー入力部17を有する表示操作部18が
旋回可能に設けられている。また、ベース11の下面に
は、定盤10上にエアーを噴出してベース11を定盤1
0に対して浮上させるエアー浮上手段19が設けられて
いる。エアー浮上手段19は、ベース11の下面に設け
られ無数のエアー噴出孔を有する複数のエアーパッド1
9Aと、このエアーパッド19Aにエアーを供給するコ
ンプレッサ(図示していないが、グリップ部15の下部
に設置)などを備える。
【0015】前記支柱12の右側面(測定子13を有す
る面に対して隣接する側面)でかつベース11近傍(つ
まり、下部位置)には、ハンドル21が支柱12に対し
て直角に突設されている。ハンドル21には、エアー浮
上制御スイッチ31、リピートスイッチ32およびキャ
ンセルスイッチ33が順次が設けられている。エアー浮
上制御スイッチ31は、前記エアー浮上手段19へのエ
アーの供給、遮断を制御するものである。リピートスイ
ッチ32は、前回の測定項目の測定手順を繰り返し指令
するものである。キャンセルスイッチ33は、現在実行
中の測定手順のキャンセルを指令するものである。
【0016】図2は本実施形態の全体構成を示すブロッ
ク図である。同図において、制御装置41は、制御手段
としてのCPU42と、メモリ43とを備える。前記メ
モリ43には、各種の測定手順プログラムを記憶したプ
ログラム記憶部43Aと、測定データを記憶する測定デ
ータ記憶部43Bとがそれぞれ設けられている。
【0017】前記CPU42には、前記キー入力部1
7、前記ハンドル21に設けられた3つのスイッチ3
1,32,33、前記表示装置16、前記エアー浮上手
段19のほかに、前記スライダ14を上下方向へ昇降さ
せる昇降駆動手段44と、この昇降駆動手段44によっ
て昇降されるスライダ14の高さ方向の変位量を検出す
る変位検出器45とがそれぞれ接続されている。また、
CPU42は、前記プログラム記憶部43Aに記憶され
た測定手順プログラムに従って各ステップを実行すると
ともに、前記昇降駆動手段44を駆動させてスライダ1
4を昇降させ、測定子13が被測定物の測定面に当接し
たときの変位検出器45の検出値を取り込んだのち、測
定子13が被測定物の測定面から離れる方向へ昇降駆動
手段44を駆動させて停止させるタッチバック手段を備
える。
【0018】タッチバック手段は、このほかに、被測定
物の測定面から予め設定された後退量離れた後退目標位
置に対して、予め設定された許容停止範囲内まで測定子
13が後退したとき、昇降駆動手段44の駆動を停止さ
せる機能、測定子13が前記後退目標位置を越えて後退
し続け、かつ、測定子13が被測定物の測定面から離れ
た時点から予め設定された設定時間経過したとき、スラ
イダ14を強制的に静止させる機能を備える。
【0019】前記昇降駆動手段44は、上下動モータ4
4Aと、この上下動モータ44Aの出力軸に設けられた
定圧機構44Bと、上下動モータ44Aを強制的に停止
させるブレーキ機構44Cとを含んで構成されている。
定圧機構44Bは、上下動モータ44Aの回転をベルト
などの伝達手段を介してスライダ14に伝達してスライ
ダ14を昇降させるとともに、スライダ14に一定以上
の負荷がかかったときに空転する機能を備える。変位検
出器45は、前記支柱12に沿って設けられた上下方向
に光学格子を一定ピッチで有するスケールと、このスケ
ールに対向して前記スライダ14に配置された検出器と
を含み、この両者の協働によって支柱12上におけるス
ライダ14の高さ方向の変位量を電気的信号として検出
する。
【0020】次に、本実施形態の作用を説明する。測定
にあたっては、まず、片手でハンドル21を握り、その
親指でエアー浮上制御スイッチ31を押す。すると、エ
アー浮上手段19によってベース11が定盤10に対し
て浮上した状態になるから、この状態でハンドル21を
握りながらベース11を移動させ、測定子13を被測定
物の測定部位近傍に位置させたのち、エアー浮上制御ス
イッチ31から手を離す。すると、エアーが遮断される
から、ベース11は定盤10上に接した状態で静止され
る。
【0021】ここで、測定指令が与えられると、CPU
42は、昇降駆動手段44を駆動してスライダ14を上
昇または下降させ、測定子13を被測定物の測定部位に
当接させる。たとえば、図3に示すように、溝の上壁の
高さ位置を測定する場合、まず、測定子13を上昇さ
せ、測定子13が溝の上壁に当接したことを検知したと
き、変位検出器45の検出値を取り込み、その検出値を
表示装置16に表示し、一定時間停止してから、所定の
後退量だけ測定子13を後退(下降)させる。
【0022】つまり、図4に示すように、測定開始位置
STから昇降駆動手段44を駆動してスライダ14を上
昇させる。やがて、時刻(t0)において、測定子13
が上壁に当接すると、定圧機構44Bによってモータ4
4Aが空転する。ここで、高さ位置Zの変動値が一定範
囲以内になったとき(t1)、変位検出器45の値を取
り込み、表示装置16に表示するとともに、モータ44
Aの駆動を停止させる。
【0023】モータ44Aを一定時間(Δt1)停止さ
せたのち、時刻(t2)において、モータ44Aを逆回
転させて、スライダ14を後退移動させる。つまり、ス
ライダ14を下降させる。やがて、被測定物の測定面か
ら予め設定された後退量L離れた後退目標位置Z0(こ
れは、キー入力部17から任意に設定可能)に対して、
予め設定された許容停止範囲(Z0+d)内までスライ
ダ14が後退したとき(t3)、モータ44Aの駆動を
停止させる。これにより、スライダ14は慣性により僅
か後退したのち、停止する(t4)。従って、この状態
では、測定子13と被測定物とが離れているから、測定
後、直ちに測定機または被測定物を移動させても、被測
定物に傷が付いたり、測定子13が破損するなどの虞が
ない。よって、これらを破損させることなく、測定効率
を向上させることができる。
【0024】もし、モータ44Aの駆動を停止しても、
スライダ14が慣性により後退目標位置Z0を越えて後
退し続けた場合には、予め設定された設定時間(Δt
2)経過後(t5)に、ブレーキ機構44Cを働かせス
ライダ14を強制的に停止させる。従って、測定子13
が後退目標位置Z0を越えて後退し続けても、予め設定
された設定時間(Δt2)経過したとき、スライダ14
が強制的に静止されるから、測定子13と被測定物との
干渉の虞を少なくできる。
【0025】従って、本実施形態によれば、測定指令が
与えられた際、昇降駆動手段44を駆動させてスライダ
14を昇降させ、測定子13が被測定物に当接したとき
の変位検出器45の検出値を取り込んだのち、測定子1
3が被測定物の測定面から離れる方向へ昇降駆動手段4
4を駆動させて停止させるタッチバック手段を備えたの
で、測定後、直ちに測定機または被測定物を移動させて
も、被測定物に傷が付いたり、測定子13が破損するな
どの虞がない。よって、これらを破損させることなく、
測定効率を向上させることができる。
【0026】また、タッチバック手段は、被測定物の測
定面から予め設定された後退量L離れた後退目標位置Z
0に対して、予め設定された許容停止範囲(Z0+d)
内まで測定子13が後退したとき、昇降駆動手段44の
駆動を停止させるようにしたから、その後、測定子13
は慣性によって略後退目標位置Z0近傍に静止される。
つまり、測定子13を後退目標位置Z0近傍に静止させ
ることができる。
【0027】また、タッチバック手段は、測定子13が
後退目標位置Z0を越えて後退し続け、かつ、測定子1
3が被測定物の測定面から離れた時点(t2)から予め
設定された設定時間(Δt2)経過したとき(t5)、
スライダ14を強制的に静止させるようにしたから、測
定子13が後退目標位置Z0を越えて後退し続けても、
測定子13と被測定物との干渉の虞を少なくできる。
【0028】また、後退目標位置Z0を任意に設定でき
るから、被測定物の測定部位に応じて、後退目標位置Z
0を任意に設定することにより、測定部位に応じて最適
な後退量を設定できるとともに、測定子13と被測定物
との干渉を防止できる。
【0029】なお、前記実施形態において、タッチバッ
ク手段は、測定子13が測定開始位置STから被測定物
の測定面に当接するまでの距離より後退量Lが大きいと
き、測定子13が測定開始位置STまで後退移動したと
き、昇降駆動手段44を停止させるようにしてもよい。
具体的には、図5に示すように、測定子13が測定開始
位置STから被測定物の測定面に当接するまでの距離L
1より後退量Lが大きいときには、測定子13が測定開
始位置STまで後退移動した時点で、ブレーキ機構44
Cを働かせて、昇降駆動手段44を停止させるようにし
てもよい。このようにすれば、測定子13が測定開始位
置STから被測定物の測定面に当接するまでの距離L1
より後退量Lが大きいときには、測定子13が測定開始
位置STまで後退移動した時点で、昇降駆動手段44が
停止されるから、測定子13と被測定物との干渉を未然
に防ぐことができる。
【0030】また、タッチバック手段は、スライダ14
が後退移動してから後退目標位置Z0手前でブレーキ機
構44Cを働かせてもよい。このようにすれば、スライ
ダ14が後退移動してから後退目標位置Z0手前でブレ
ーキ機構44Cが働くので、早期に停止させることがで
きる。よって、測定子13と被測定物との干渉を未然に
防ぐことができる。
【0031】また、前記実施形態では、光電式の変位検
出器を用いたが、これに限らず、静電容量式や磁気式な
どでもよい。
【0032】
【発明の効果】本発明の一次元測定機によれば、測定後
に直ちに測定機または被測定物を移動させても、被測定
物に傷が付いたり、測定子が破損するなどの虞れがな
い、つまり、これらを破損させることなく、測定効率を
向上させることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す斜視図である。
【図2】同上実施形態のブロック図である。
【図3】同上実施形態において、溝の上壁を測定する際
の測定子の移動軌跡を示す図である。
【図4】図3の測定子の移動軌跡に対応するスライダの
昇降状態を時間の経過とともに示す図である。
【図5】同上実施形態において、測定子が測定開始位置
から被測定物の測定面に当接するまでの距離より後退量
が大きいときのスライダの昇降状態を時間の経過ととも
に示す図である。
【符号の説明】
10 定盤 11 ベース 12 支柱 13 測定子 14 スライダ 16 表示装置(表示手段) 42 CPU(制御手段) 44 昇降駆動手段 44A 上下動モータ 44C ブレーキ機構 45 変位検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 時任 博幸 神奈川県川崎市高津区坂戸1−20−1 株 式会社ミツトヨ内 (72)発明者 野村 陽一 神奈川県川崎市高津区坂戸1−20−1 株 式会社ミツトヨ内 (72)発明者 青山 文次 広島県呉市広古新開6−8−20 株式会社 ミツトヨ内 Fターム(参考) 2F062 AA02 AA41 CC08 CC30 EE01 EE31 EE62 FF03 GG13 HH01 HH13 HH22 LL09 2F069 AA02 AA06 AA42 DD01 DD30 GG31 GG62 HH30 JJ06 LL02 MM13 MM15 MM32 MM40 NN00 QQ08 RR01

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 定盤上に移動可能に載置されるベース
    と、このベースに立設された支柱と、この支柱に沿って
    昇降可能に設けられ測定子を有するスライダと、このス
    ライダを昇降させるモータを含む昇降駆動手段と、前記
    スライダの高さ方向の変位量を検出する変位検出器と、
    表示手段と、測定指令に基づいて前記昇降駆動手段を駆
    動させて前記スライダを昇降させ、前記測定子が被測定
    物の測定面に当接したときの変位検出器の検出値を取り
    込み、この検出値を前記表示手段に表示させる制御手段
    とを備えた一次元測定機において、 前記制御手段は、前記昇降駆動手段を駆動させてスライ
    ダを昇降させた際、前記測定子が被測定物の測定面に当
    接したときの変位検出器の検出値を取り込んだのち、測
    定子が被測定物の測定面から離れる方向へ前記昇降駆動
    手段を駆動させて停止させるタッチバック手段を有する
    ことを特徴とする一次元測定機。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の一次元測定機におい
    て、 前記タッチバック手段は、前記被測定物の測定面から予
    め設定された後退量離れた後退目標位置に対して予め設
    定された許容停止範囲内まで前記測定子が後退したと
    き、昇降駆動手段の駆動を停止させることを特徴とする
    一次元測定機。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の一次元測定機におい
    て、 前記タッチバック手段は、前記測定子が前記後退目標位
    置を越えて後退し続け、かつ、前記測定子が被測定物の
    測定面から離れた時点から予め設定された設定時間経過
    したとき、前記スライダを強制的に静止させることを特
    徴とする一次元測定機。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかに記
    載の一次元測定機において、 前記後退目標位置は任意に設定可能であることを特徴と
    する一次元測定機。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかに記
    載の一次元測定機において、 前記タッチバック手段は、前記測定子が測定開始位置か
    ら被測定物の測定面に当接するまでの距離より前記後退
    量が大きいとき、前記測定子が測定開始位置まで後退移
    動した時点で、前記昇降駆動手段の駆動を停止させるこ
    とを特徴とする一次元測定機。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載の一次元測定機におい
    て、 前記タッチバック手段は、前記スライダが後退移動して
    から後退目標位置手前でブレーキ機構を働かせることを
    特徴とする一次元測定機。
JP10508499A 1999-04-13 1999-04-13 一次元測定機 Expired - Fee Related JP3696432B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10508499A JP3696432B2 (ja) 1999-04-13 1999-04-13 一次元測定機
US09/547,102 US6446351B1 (en) 1999-04-13 2000-04-11 Linear measuring machine
GB0008942A GB2348957B (en) 1999-04-13 2000-04-11 Linear measuring machine
DE10018056.6A DE10018056B4 (de) 1999-04-13 2000-04-12 Linearmessmaschine

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10508499A JP3696432B2 (ja) 1999-04-13 1999-04-13 一次元測定機

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000292105A true JP2000292105A (ja) 2000-10-20
JP3696432B2 JP3696432B2 (ja) 2005-09-21

Family

ID=14398069

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10508499A Expired - Fee Related JP3696432B2 (ja) 1999-04-13 1999-04-13 一次元測定機

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6446351B1 (ja)
JP (1) JP3696432B2 (ja)
DE (1) DE10018056B4 (ja)
GB (1) GB2348957B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102192721A (zh) * 2010-03-16 2011-09-21 机械科学研究总院先进制造技术研究中心 一种汽车发动机缸体在线检测设备
CN113883985A (zh) * 2021-09-10 2022-01-04 浙江工业大学之江学院 一种触摸屏厚度检测装置及使用方法

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4305324A1 (de) * 1993-02-20 1994-08-25 Anschuetz & Co Gmbh Vorrichtung zum Erheben einer Straßenbenutzungsgebühr
EP1241436B1 (fr) * 2001-03-14 2014-11-19 Tesa Sa Colonne de mesure de dimensions, et procédé permettant d'introduire une commande de changement de mode de mesure dans une telle colonne.
DE60131182T2 (de) * 2001-12-12 2008-08-14 Tesa Sa Höhenmessgerät
EP1319923B1 (fr) * 2001-12-12 2006-09-27 Tesa Sa Colonne de mesure de dimensions, et procédé permettant d'introduire une commande de changement de mode de mesure dans une telle colonne
JP3850364B2 (ja) * 2002-10-25 2006-11-29 株式会社ミツトヨ 変位測定器の測定子駆動機構
CN2765139Y (zh) * 2004-12-27 2006-03-15 杨忠义 双柱式数显高度规
US9820679B2 (en) * 2006-04-21 2017-11-21 Eric Paul Tindall Canine leg measurement device and method of use
US8538575B2 (en) * 2006-09-05 2013-09-17 Sunnen Products Company Automatic bore size control by completely integrating an air gage system into the machine control
US8322043B2 (en) * 2010-01-12 2012-12-04 Biospace Co., Ltd. Automatic anthropometer
CN102445173B (zh) * 2011-09-14 2014-08-06 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种线位移传感器的装夹装置
CN103455045A (zh) * 2012-05-30 2013-12-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 接触式运动控制系统及方法
CN202836549U (zh) * 2012-08-03 2013-03-27 富鼎电子科技(嘉善)有限公司 平整度测试装置
CN104154891A (zh) * 2013-05-13 2014-11-19 重庆长安汽车股份有限公司 张紧器位移测量装置及方法
USD727760S1 (en) * 2014-03-28 2015-04-28 Mitutoyo Corporation Height gauge
CN105004243A (zh) * 2015-08-13 2015-10-28 首航节能光热技术股份有限公司 反光玻璃检测工装直线位移传感器调整校验装置及方法
JP6630535B2 (ja) 2015-10-22 2020-01-15 株式会社ミツトヨ 形状測定装置の制御方法
USD826074S1 (en) * 2016-01-13 2018-08-21 Tesa Sa Height gauge
CN105486265B (zh) * 2016-01-19 2018-06-08 菏泽学院 起重机制动下滑量检测仪及其测量方法
CN105865391B (zh) * 2016-05-24 2019-08-20 博众精工科技股份有限公司 检测装置
CN106197535A (zh) * 2016-06-28 2016-12-07 上海诺信汽车零部件有限公司 汽车缸体检测装置
US11122995B2 (en) * 2017-07-07 2021-09-21 Trustees Of Tufts College Patient measurement device and related methods
JP7016720B2 (ja) * 2018-02-19 2022-02-07 株式会社ミツトヨ 送り機構およびそれを備えた測定器
USD888591S1 (en) * 2018-09-27 2020-06-30 Tesa Sarl Height gauge
DE102019122650A1 (de) * 2019-08-22 2021-02-25 M & H Inprocess Messtechnik Gmbh Messsystem
CN112325822A (zh) * 2020-09-29 2021-02-05 芜湖莫森泰克汽车科技股份有限公司 一种后端块排水口检测机构
JP1717008S (ja) * 2021-10-14 2022-06-09 ハイトゲージ
JP1717007S (ja) * 2021-10-14 2022-06-09 ハイトゲージ
CN114562970B (zh) * 2022-02-21 2025-12-19 上海野齿仪器科技有限公司 一种大型气浮式测长机
JP2024037476A (ja) * 2022-09-07 2024-03-19 株式会社ミツトヨ 一次元測定機および一次元測定機の制御プログラム

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1108792A (en) * 1965-07-22 1968-04-03 Zeiss Jena Veb Carl Improvements in or relating to height gauges
US4213244A (en) * 1978-05-08 1980-07-22 The Bendix Corporation Coordinate measuring machine having a failsafe protection system
US4679326A (en) * 1984-11-21 1987-07-14 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Height gauge
DE3623602A1 (de) * 1986-07-12 1988-01-14 Zeiss Carl Fa Steuerung fuer koordinatenmessgeraete
DE3824548A1 (de) * 1988-07-20 1990-01-25 Zeiss Carl Fa Verfahren und einrichtung fuer den betrieb eines tastkopfes vom schaltenden typ
US5222034A (en) * 1990-10-10 1993-06-22 Shelton Russell S Measuring method and apparatus
US5193286A (en) * 1992-04-21 1993-03-16 Collier Kevin E Modular gage
JP3126114B2 (ja) * 1997-11-12 2001-01-22 株式会社ミツトヨ 非接触表面粗さ測定装置
KR100330433B1 (ko) * 1998-03-16 2002-03-27 니시무로 타이죠 엑스선관

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102192721A (zh) * 2010-03-16 2011-09-21 机械科学研究总院先进制造技术研究中心 一种汽车发动机缸体在线检测设备
CN113883985A (zh) * 2021-09-10 2022-01-04 浙江工业大学之江学院 一种触摸屏厚度检测装置及使用方法
CN113883985B (zh) * 2021-09-10 2023-08-15 浙江工业大学之江学院 一种触摸屏厚度检测装置及使用方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE10018056A1 (de) 2000-11-30
GB0008942D0 (en) 2000-05-31
GB2348957B (en) 2002-07-03
GB2348957A (en) 2000-10-18
JP3696432B2 (ja) 2005-09-21
DE10018056B4 (de) 2014-07-17
US6446351B1 (en) 2002-09-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000292105A (ja) 一次元測定機
US6357134B1 (en) Height gauge
CN101449222B (zh) 快速测量的测量仪
JP3629461B2 (ja) 寸法測定柱及びその測定モードを切り換える指令を入れる方法
EP2613135B1 (en) Hardness tester and program
JP2018179849A (ja) 駆動ステージ装置の駆動制御方法
CN110379735B (zh) 一种晶圆斜插检测装置
JPWO2010004636A1 (ja) ロボット及びその教示方法
KR20160060087A (ko) 로봇 및 로봇의 제어 방법
JP2012190918A (ja) 表面粗さ測定装置
US9333505B2 (en) Setting method for microplate washing devices
JP4566107B2 (ja) 粘着力兼厚み測定装置及びその測定方法
CN106249449A (zh) 防夹碎基板对位装置
TW200921830A (en) A wafer elevator and wafer test machine thereof
CN204697996U (zh) 一种摩擦阻力动态角度测试仪
CN212723199U (zh) 一种电器检测设备
JP4324726B2 (ja) 材料試験機
KR20010111524A (ko) 볼스크류를 이용한 높이측정장치 및 그 방법
KR101269487B1 (ko) 플로팅 센서 유닛의 간극 제어장치 및 그 제어방법
JPH0738812Y2 (ja) 厚さ測定装置
JP2000213928A (ja) 円測定装置および極限値検出装置
JPH0238812A (ja) 基板の高さ検出装置
CN219434124U (zh) 终端设备检测装置
JPH06273302A (ja) 試験片の特性を測定する方法、及び装置
CN219495188U (zh) 平面度检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050107

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050404

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050621

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050629

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080708

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140708

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees