JP2000292347A - 旋光度測定装置 - Google Patents
旋光度測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 溶液中の旋光性物質の濃度や旋光度を測定す
る旋光度測定装置において、微少な旋光性物質の濃度を
正確に測定することのできる旋光度測定装置を提供する
ことを目的とする。 【解決手段】 偏光ビームスプリッタ５を保持体１０に
固定し回転調整を容易とし、偏光ビームスプリッタ５を
固定している保持体１０を光軸に対して垂直なＺ軸回り
に回転調整可能にする。
る旋光度測定装置において、微少な旋光性物質の濃度を
正確に測定することのできる旋光度測定装置を提供する
ことを目的とする。 【解決手段】 偏光ビームスプリッタ５を保持体１０に
固定し回転調整を容易とし、偏光ビームスプリッタ５を
固定している保持体１０を光軸に対して垂直なＺ軸回り
に回転調整可能にする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、尿中の糖分濃度な
どの溶液中の旋光性物質の濃度を測定する場合などに使
用される旋光度測定装置に関する。
どの溶液中の旋光性物質の濃度を測定する場合などに使
用される旋光度測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から使用されている旋光度測定装置
の構成を図６に示す。半導体レーザ１から出射された光
がコリメートレンズ２で平行光にされ、第１の偏光素子
３ａにより紙面に平行な偏光成分の光のみ透過するよう
に構成されている。４は被検試料を保持する直方体の透
明なサンプルセルであり、このセル４を直線偏光が通過
した後、第２の偏光素子である偏光ビームスプリッタ５
で互いに９０度異なる偏光成分に分離される。受光素子
６ａは偏光ビームスプリッタ５を透過した透過成分を検
知し、受光素子６ｂは偏光ビームスプリッタ５による反
射成分を検知する。これらの光学部品は光学台８に固定
されており、偏光素子３ａ及び偏光ビームスプリッタ５
は接着剤１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄにより、光学
台８に固定されている。旋光角計測時には光学台８を取
付台９にねじ１７ａ、１７ｂによって固定する。２つの
受光素子６ａ、６ｂは受光した強度に応じた出力をコン
ピュータ７に印加する。コンピュータ７は受光素子６
ａ、６ｂによる差信号により被検試料の旋光度を測定す
る。
の構成を図６に示す。半導体レーザ１から出射された光
がコリメートレンズ２で平行光にされ、第１の偏光素子
３ａにより紙面に平行な偏光成分の光のみ透過するよう
に構成されている。４は被検試料を保持する直方体の透
明なサンプルセルであり、このセル４を直線偏光が通過
した後、第２の偏光素子である偏光ビームスプリッタ５
で互いに９０度異なる偏光成分に分離される。受光素子
６ａは偏光ビームスプリッタ５を透過した透過成分を検
知し、受光素子６ｂは偏光ビームスプリッタ５による反
射成分を検知する。これらの光学部品は光学台８に固定
されており、偏光素子３ａ及び偏光ビームスプリッタ５
は接着剤１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄにより、光学
台８に固定されている。旋光角計測時には光学台８を取
付台９にねじ１７ａ、１７ｂによって固定する。２つの
受光素子６ａ、６ｂは受光した強度に応じた出力をコン
ピュータ７に印加する。コンピュータ７は受光素子６
ａ、６ｂによる差信号により被検試料の旋光度を測定す
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の構成では、被検試料の旋光角が微少（例えば、０．
００１度：光路長５０ｍｍ、波長７８０ｎｍ、旋光性物
質濃度１０ｍｇ／ｄｌ）である場合には、光学素子の取
付精度による光軸の傾きにより、偏光ビームスプリッタ
５の有する入射角依存性による影響が顕著に現れること
となり、正確な旋光度が測定できない。ここで、偏光ビ
ームスプリッタの入射角依存性とは、偏光ビームスプリ
ッタへの光の入射角によって、透過成分、反射成分の比
が変化することをいう。
来の構成では、被検試料の旋光角が微少（例えば、０．
００１度：光路長５０ｍｍ、波長７８０ｎｍ、旋光性物
質濃度１０ｍｇ／ｄｌ）である場合には、光学素子の取
付精度による光軸の傾きにより、偏光ビームスプリッタ
５の有する入射角依存性による影響が顕著に現れること
となり、正確な旋光度が測定できない。ここで、偏光ビ
ームスプリッタの入射角依存性とは、偏光ビームスプリ
ッタへの光の入射角によって、透過成分、反射成分の比
が変化することをいう。
【０００４】また、偏光素子３ａ及び偏光ビームスプリ
ッタ５を光学台８に固定するために用いた接着剤１６
ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄの伸縮により、偏光素子３
ａ及び偏光ビームスプリッタ５が光軸回りに傾く。ま
た、図７に示すように光学台８を取付台９に固定するね
じ１７ａ、１７ｂの締め付け力によって光学台にねじれ
が生じ、このねじれにより偏光素子３ａ及び偏光ビーム
スプリッタ５が光軸回りに傾く。これら光軸回りの傾き
は旋光角として測定されるため、被検試料の旋光角が微
少である場合には正確な旋光角の測定が行れない。
ッタ５を光学台８に固定するために用いた接着剤１６
ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄの伸縮により、偏光素子３
ａ及び偏光ビームスプリッタ５が光軸回りに傾く。ま
た、図７に示すように光学台８を取付台９に固定するね
じ１７ａ、１７ｂの締め付け力によって光学台にねじれ
が生じ、このねじれにより偏光素子３ａ及び偏光ビーム
スプリッタ５が光軸回りに傾く。これら光軸回りの傾き
は旋光角として測定されるため、被検試料の旋光角が微
少である場合には正確な旋光角の測定が行れない。
【０００５】本発明は前記従来の問題点に着目してなさ
れたもので、微少な旋光性物質の濃度を正確に測定する
ことのできる旋光度測定装置を提供することを目的とす
る。
れたもので、微少な旋光性物質の濃度を正確に測定する
ことのできる旋光度測定装置を提供することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の第１の旋光度測定装置は、レーザからのレ
ーザ光を直線偏光に偏光するための第１の偏光素子と、
被検試料の旋光性物質を保持するためのセルと、セルを
通過させた直線偏光を互いに９０度異なる偏光成分に分
離するための第２の偏光素子と、分離した偏光成分であ
る透過成分、反射成分をそれぞれ受光するための２つの
受光素子と、これらの素子を固定するための光学台とを
備え、その両受光素子の出力レベルの差を用いて旋光度
を測定する装置であって、前記第２の偏光素子を光軸に
対して垂直な軸回りに回転調整可能にすることを特徴と
する。
に、本発明の第１の旋光度測定装置は、レーザからのレ
ーザ光を直線偏光に偏光するための第１の偏光素子と、
被検試料の旋光性物質を保持するためのセルと、セルを
通過させた直線偏光を互いに９０度異なる偏光成分に分
離するための第２の偏光素子と、分離した偏光成分であ
る透過成分、反射成分をそれぞれ受光するための２つの
受光素子と、これらの素子を固定するための光学台とを
備え、その両受光素子の出力レベルの差を用いて旋光度
を測定する装置であって、前記第２の偏光素子を光軸に
対して垂直な軸回りに回転調整可能にすることを特徴と
する。
【０００７】この構成によれば、第２の偏光素子の有す
る入射角依存性による影響をなくし、正確な旋光度の測
定ができる。
る入射角依存性による影響をなくし、正確な旋光度の測
定ができる。
【０００８】本発明の第２の旋光度測定装置は、レーザ
からのレーザ光を直線偏光に偏光するための第１の偏光
素子と、被検試料の旋光性物質を保持するためのセル
と、セルを通過させた直線偏光を互いに９０度異なる偏
光成分に分離するための第２の偏光素子と、分離した偏
光成分である透過成分、反射成分をそれぞれ受光するた
めの２つの受光素子と、これらの素子を固定するための
光学台とを備え、測定時に前記光学台を取付台に固定
し、前記２つの受光素子の出力レベルの差を用いて旋光
度を測定する装置であって、前記偏光素子を前記光学台
に固定するための固定位置を前記偏光素子を通過する光
軸上に設けることを特徴とする。
からのレーザ光を直線偏光に偏光するための第１の偏光
素子と、被検試料の旋光性物質を保持するためのセル
と、セルを通過させた直線偏光を互いに９０度異なる偏
光成分に分離するための第２の偏光素子と、分離した偏
光成分である透過成分、反射成分をそれぞれ受光するた
めの２つの受光素子と、これらの素子を固定するための
光学台とを備え、測定時に前記光学台を取付台に固定
し、前記２つの受光素子の出力レベルの差を用いて旋光
度を測定する装置であって、前記偏光素子を前記光学台
に固定するための固定位置を前記偏光素子を通過する光
軸上に設けることを特徴とする。
【０００９】この構成によれば、固定する力によって生
じた光学台のねじれによる偏光素子の傾きをなくし、正
確な旋光度の測定ができる。
じた光学台のねじれによる偏光素子の傾きをなくし、正
確な旋光度の測定ができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の第１の旋光度測定装置
は、レーザからのレーザ光を直線偏光に偏光するための
第１の偏光素子と、被検試料の旋光性物質を保持するた
めのセルと、セルを通過させた直線偏光を互いに９０度
異なる偏光成分に分離するための第２の偏光素子と、分
離した偏光成分である透過成分、反射成分をそれぞれ受
光するための２つの受光素子と、これらの素子を固定す
るための光学台とを備え、その両受光素子の出力レベル
の差を用いて旋光度を測定する装置であって、前記第２
の偏光素子を光軸に対して垂直な軸回りに回転調整可能
にすることを特徴とし、この構成により第２の偏光素子
への光軸の入射角を一定とすることができるため、第２
の偏光素子が有する入射角依存性をなくし、微少な試料
の旋光角を測定することが可能となる。
は、レーザからのレーザ光を直線偏光に偏光するための
第１の偏光素子と、被検試料の旋光性物質を保持するた
めのセルと、セルを通過させた直線偏光を互いに９０度
異なる偏光成分に分離するための第２の偏光素子と、分
離した偏光成分である透過成分、反射成分をそれぞれ受
光するための２つの受光素子と、これらの素子を固定す
るための光学台とを備え、その両受光素子の出力レベル
の差を用いて旋光度を測定する装置であって、前記第２
の偏光素子を光軸に対して垂直な軸回りに回転調整可能
にすることを特徴とし、この構成により第２の偏光素子
への光軸の入射角を一定とすることができるため、第２
の偏光素子が有する入射角依存性をなくし、微少な試料
の旋光角を測定することが可能となる。
【００１１】本発明の第１の旋光度測定装置において
は、第２の偏光素子を保持体に固定しその保持体を回転
させることにより、第２の偏光素子を回転調整すること
が好ましく、これにより回転調整を容易に行うことがで
きる。
は、第２の偏光素子を保持体に固定しその保持体を回転
させることにより、第２の偏光素子を回転調整すること
が好ましく、これにより回転調整を容易に行うことがで
きる。
【００１２】そのような回転調整機構としては、具体的
には、まず、第２の偏光素子を固定した保持体に突起物
を設けその突起物を光学台に設けた穴に挿入して前記保
持体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転調
整可能にすることが好ましく挙げられる。
には、まず、第２の偏光素子を固定した保持体に突起物
を設けその突起物を光学台に設けた穴に挿入して前記保
持体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転調
整可能にすることが好ましく挙げられる。
【００１３】また、第２の偏光素子を固定した保持体に
穴を設けその穴に光学台に設けた突起物を挿入して前記
保持体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転
調整可能にすることも好ましく挙げられる。
穴を設けその穴に光学台に設けた突起物を挿入して前記
保持体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転
調整可能にすることも好ましく挙げられる。
【００１４】その他、第２の偏光素子を固定した保持体
を光学台に設けた溝に挿入して前記保持体を回転させる
ことにより、第２の偏光素子を回転調整可能にすること
も好ましく挙げられる。
を光学台に設けた溝に挿入して前記保持体を回転させる
ことにより、第２の偏光素子を回転調整可能にすること
も好ましく挙げられる。
【００１５】本発明の第１の旋光度測定装置における第
２の偏光素子としては偏光ビームスプリッタが好まし
い。
２の偏光素子としては偏光ビームスプリッタが好まし
い。
【００１６】本発明の第２の旋光度測定装置は、レーザ
からのレーザ光を直線偏光に偏光するための第１の偏光
素子と、被検試料の旋光性物質を保持するためのセル
と、セルを通過させた直線偏光を互いに９０度異なる偏
光成分に分離するための第２の偏光素子と、分離した偏
光成分である透過成分、反射成分をそれぞれ受光するた
めの２つの受光素子と、これらの素子を固定するための
光学台とを備え、前記光学台を取付台に固定し、前記２
つの受光素子の出力レベルの差を用いて旋光度を測定す
る装置であって、前記偏光素子を前記光学台に固定する
ための固定位置を前記偏光素子を通過する光軸上に設け
ることを特徴とし、この構成により前記偏光素子が光軸
回りに傾く影響を抑えられ、試料の旋光角を精度良く測
定することが可能となる。
からのレーザ光を直線偏光に偏光するための第１の偏光
素子と、被検試料の旋光性物質を保持するためのセル
と、セルを通過させた直線偏光を互いに９０度異なる偏
光成分に分離するための第２の偏光素子と、分離した偏
光成分である透過成分、反射成分をそれぞれ受光するた
めの２つの受光素子と、これらの素子を固定するための
光学台とを備え、前記光学台を取付台に固定し、前記２
つの受光素子の出力レベルの差を用いて旋光度を測定す
る装置であって、前記偏光素子を前記光学台に固定する
ための固定位置を前記偏光素子を通過する光軸上に設け
ることを特徴とし、この構成により前記偏光素子が光軸
回りに傾く影響を抑えられ、試料の旋光角を精度良く測
定することが可能となる。
【００１７】本発明の第２の旋光度測定装置は、さら
に、光学台を取付台に固定するための固定位置を偏光素
子を通過する光軸上に設けることが好ましく、これによ
り偏光素子が光軸回りに傾く影響を抑えられ、試料の旋
光角をより精度良く測定することが可能となる。
に、光学台を取付台に固定するための固定位置を偏光素
子を通過する光軸上に設けることが好ましく、これによ
り偏光素子が光軸回りに傾く影響を抑えられ、試料の旋
光角をより精度良く測定することが可能となる。
【００１８】以下に本発明の旋光度測定装置の実施の形
態について、図面を用いて具体的に説明する。
態について、図面を用いて具体的に説明する。
【００１９】実施の形態１ 本発明の第１の旋光度測定装置における実施の形態につ
いて、図１を用いて説明する。半導体レーザ１から出射
された光は、コリメートレンズ２で平行光にされ、第１
の偏光素子３ａを通過することにより直線偏光にされ、
被検試料を保持した直方体の透明なサンプルセル４を透
過される。サンプルセル４を透過した光は、保持体１０
に固定されている第２の偏光素子である偏光ビームスプ
リッタ５により互いに９０度異なる偏光成分に分離さ
れ、２つの受光素子６ａ、６ｂで受光される。これらの
光学部品は光学台８上に置かれ、測定時に光学台８は取
付台９に固定される。２つの受光素子６ａ、６ｂの出力
レベルの差を出力信号としてコンピュータ７に取り込
み、記録、解析を行うことにより被検試料の旋光度、濃
度が解る。保持体１０は光軸に対して垂直なＺ軸回りに
回転自由な機構を備えている。
いて、図１を用いて説明する。半導体レーザ１から出射
された光は、コリメートレンズ２で平行光にされ、第１
の偏光素子３ａを通過することにより直線偏光にされ、
被検試料を保持した直方体の透明なサンプルセル４を透
過される。サンプルセル４を透過した光は、保持体１０
に固定されている第２の偏光素子である偏光ビームスプ
リッタ５により互いに９０度異なる偏光成分に分離さ
れ、２つの受光素子６ａ、６ｂで受光される。これらの
光学部品は光学台８上に置かれ、測定時に光学台８は取
付台９に固定される。２つの受光素子６ａ、６ｂの出力
レベルの差を出力信号としてコンピュータ７に取り込
み、記録、解析を行うことにより被検試料の旋光度、濃
度が解る。保持体１０は光軸に対して垂直なＺ軸回りに
回転自由な機構を備えている。
【００２０】この時、偏光ビームスプリッタ５には入射
角依存性があり、また測定する試料の旋光角は微少であ
るため、光軸に対するずれがあると旋光度の測定に誤差
が生じる。各光学素子は光学台８の精度の良い同一平面
上に取り付けられるため、光軸のＸ軸回りの回転なしに
精度良く取り付けることが可能であることから、偏光ビ
ームスプリッタ５を反射した成分を受光する受光素子６
ｂからの出力が最大となるように、偏光ビームスプリッ
タ５を光軸に対して垂直なＺ軸回りに回転調整すること
によって、偏光ビームスプリッタ５の入射角依存性によ
る影響をなくし、正確な旋光度の測定ができるようにす
る。
角依存性があり、また測定する試料の旋光角は微少であ
るため、光軸に対するずれがあると旋光度の測定に誤差
が生じる。各光学素子は光学台８の精度の良い同一平面
上に取り付けられるため、光軸のＸ軸回りの回転なしに
精度良く取り付けることが可能であることから、偏光ビ
ームスプリッタ５を反射した成分を受光する受光素子６
ｂからの出力が最大となるように、偏光ビームスプリッ
タ５を光軸に対して垂直なＺ軸回りに回転調整すること
によって、偏光ビームスプリッタ５の入射角依存性によ
る影響をなくし、正確な旋光度の測定ができるようにす
る。
【００２１】次に、保持体１０の回転調整機構につい
て、さらに詳細に図２を用いて説明する。偏光ビームス
プリッタ５は保持体１０に固定されている。保持体１０
からは突起物１１が出ており、これを光学台８に設けた
穴１２に挿入している。
て、さらに詳細に図２を用いて説明する。偏光ビームス
プリッタ５は保持体１０に固定されている。保持体１０
からは突起物１１が出ており、これを光学台８に設けた
穴１２に挿入している。
【００２２】この時、突起物１１の径に対し光学台８に
設けた穴１２の径をわずかに大きくし、保持体１０と光
学台８の接地する面を平滑にすることにより、保持体１
０が円滑にＺ軸回りに回転運動するようにする。これに
より偏光ビームスプリッタ５の回転調整が容易となる。
設けた穴１２の径をわずかに大きくし、保持体１０と光
学台８の接地する面を平滑にすることにより、保持体１
０が円滑にＺ軸回りに回転運動するようにする。これに
より偏光ビームスプリッタ５の回転調整が容易となる。
【００２３】保持体１０の別の回転調整機構について、
図３を用いて説明する。偏光ビームスプリッタ５は保持
体１０に固定されている。保持体１０には穴１３が設け
られ、これに対し光学台８に設けた突起物１４を挿入し
ている。
図３を用いて説明する。偏光ビームスプリッタ５は保持
体１０に固定されている。保持体１０には穴１３が設け
られ、これに対し光学台８に設けた突起物１４を挿入し
ている。
【００２４】この時、突起物１４の径に対し保持体１０
に設けた穴１３の径をわずかに大きくし、保持体１０と
光学台８の接地する面を平滑にすることにより、保持体
１０が円滑にＺ軸回りに回転運動するようにする。これ
により偏光ビームスプリッタ５の回転調整が容易とな
る。
に設けた穴１３の径をわずかに大きくし、保持体１０と
光学台８の接地する面を平滑にすることにより、保持体
１０が円滑にＺ軸回りに回転運動するようにする。これ
により偏光ビームスプリッタ５の回転調整が容易とな
る。
【００２５】保持体１０の別の回転調整機構について、
図４を用いて説明する。偏光ビームスプリッタ５は円形
の保持体１０に固定されている。保持体１０は光学台８
に設けた溝１５に挿入されている。
図４を用いて説明する。偏光ビームスプリッタ５は円形
の保持体１０に固定されている。保持体１０は光学台８
に設けた溝１５に挿入されている。
【００２６】この時、保持体１０の径に対し光学台８に
設けた溝１５の径をわずかに大きくし、保持体１０と光
学台８の接地する面を平滑にすることにより、保持体１
０が円滑にＺ軸回りに回転運動するようにする。これに
より偏光ビームスプリッタ５の回転調整が容易となる。
設けた溝１５の径をわずかに大きくし、保持体１０と光
学台８の接地する面を平滑にすることにより、保持体１
０が円滑にＺ軸回りに回転運動するようにする。これに
より偏光ビームスプリッタ５の回転調整が容易となる。
【００２７】実施の形態２ 本発明の第２の旋光度測定装置における実施の形態につ
いて、図５を用いて説明する。半導体レーザ１から出射
された光は、コリメートレンズ２で平行光にされ、第１
の偏光素子３ａを通過することにより、直線偏光にさ
れ、被検試料を保持した直方体の透明なサンプルセル４
を透過される。サンプルセル４を透過した光は、第２の
偏光素子３ｂにより互いに９０度異なる偏光成分に分離
され、２つの受光素子６ａ、６ｂで受光される。これら
の光学部品は光学台８上に置かれ、測定時に光学台８は
取付台９に固定される。２つの受光素子６ａ、６ｂの出
力レベルの差を出力信号としてコンピュータ７に取り込
み、記録、解析を行うことにより被検試料の旋光度、濃
度が解る。偏光素子３ａ、３ｂは光学台８に接着剤１６
ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄにより固定されている。ま
た、光学台８は取付台９にねじ１７ａ、１７ｂにより固
定されて旋光度の測定を行う。
いて、図５を用いて説明する。半導体レーザ１から出射
された光は、コリメートレンズ２で平行光にされ、第１
の偏光素子３ａを通過することにより、直線偏光にさ
れ、被検試料を保持した直方体の透明なサンプルセル４
を透過される。サンプルセル４を透過した光は、第２の
偏光素子３ｂにより互いに９０度異なる偏光成分に分離
され、２つの受光素子６ａ、６ｂで受光される。これら
の光学部品は光学台８上に置かれ、測定時に光学台８は
取付台９に固定される。２つの受光素子６ａ、６ｂの出
力レベルの差を出力信号としてコンピュータ７に取り込
み、記録、解析を行うことにより被検試料の旋光度、濃
度が解る。偏光素子３ａ、３ｂは光学台８に接着剤１６
ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄにより固定されている。ま
た、光学台８は取付台９にねじ１７ａ、１７ｂにより固
定されて旋光度の測定を行う。
【００２８】この時、偏光素子３ａ、３ｂを光学台８に
固定する際の接着剤１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ、
また光学台８を取付台９に固定する際のねじ１７ａ、１
７ｂを偏光素子３ａ、３ｂを通過する光軸上に設けるこ
とにより、偏光素子３ａ、３ｂが光軸回りに傾くねじれ
の影響が抑えられ、旋光角を精度良く測定することが可
能となる。
固定する際の接着剤１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ、
また光学台８を取付台９に固定する際のねじ１７ａ、１
７ｂを偏光素子３ａ、３ｂを通過する光軸上に設けるこ
とにより、偏光素子３ａ、３ｂが光軸回りに傾くねじれ
の影響が抑えられ、旋光角を精度良く測定することが可
能となる。
【００２９】
【発明の効果】本発明によれば、微少な旋光性物質の濃
度を測定する場合、偏光素子の入射角依存性による影響
をなくし、偏光素子を固定する際に発生する光軸回りの
傾きをなくし、正確に旋光角を測定することが可能な旋
光度測定装置を提供できる。
度を測定する場合、偏光素子の入射角依存性による影響
をなくし、偏光素子を固定する際に発生する光軸回りの
傾きをなくし、正確に旋光角を測定することが可能な旋
光度測定装置を提供できる。
【図１】本発明の実施形態１における旋光度測定装置の
構成図である。
構成図である。
【図２】本発明の実施形態１における旋光度測定装置に
おける回転調整機構の一例の断面図である。
おける回転調整機構の一例の断面図である。
【図３】本発明の実施形態１における旋光度測定装置に
おける回転調整機構の一例の断面図である。
おける回転調整機構の一例の断面図である。
【図４】本発明の実施形態１における旋光度測定装置に
おける回転調整機構の一例の斜視図である。
おける回転調整機構の一例の斜視図である。
【図５】本発明の実施形態２における旋光度測定装置の
構成図である。
構成図である。
【図６】従来の旋光度測定装置の構成図である。
【図７】従来の旋光度測定装置の偏光素子周辺部の断面
図である。
図である。
１ 半導体レーザ ２ コリメートレンズ ３ａ 第１の偏光素子 ４ サンプルセル ５ 偏光ビームスプリッタ ６ａ 受光素子 ６ｂ 受光素子 ７ コンピュータ ８ 光学台 ９ 取付台 １０ 保持体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） // Ｇ０１Ｎ 33/493 Ｇ０１Ｎ 33/493 Ｂ Ｆターム(参考） 2G045 AA16 CB03 DA30 FA12 FA15 GC30 JA07 2G059 AA02 BB13 CC12 EE05 GG01 GG04 HH01 JJ19 JJ22 KK03 LL01 2H049 BA02 BA05 BB03 BB05 BC23
Claims (8)
- 【請求項１】 レーザからのレーザ光を直線偏光に偏光
するための第１の偏光素子と、被検試料の旋光性物質を
保持するためのセルと、セルを通過させた直線偏光を互
いに９０度異なる偏光成分に分離するための第２の偏光
素子と、分離した偏光成分である透過成分、反射成分を
それぞれ受光するための２つの受光素子と、これらの素
子を固定するための光学台とを備え、その両受光素子の
出力レベルの差を用いて旋光度を測定する装置であっ
て、前記第２の偏光素子を光軸に対して垂直な軸回りに
回転調整可能にすることを特徴とする旋光度測定装置。 - 【請求項２】 第２の偏光素子を保持体に固定しその保
持体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転調
整可能にすることを特徴とする請求項１に記載の旋光度
測定装置。 - 【請求項３】 第２の偏光素子を固定した保持体に突起
物を設けその突起物を光学台に設けた穴に挿入して前記
保持体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転
調整可能にすることを特徴とする請求項１に記載の旋光
度測定装置。 - 【請求項４】 第２の偏光素子を固定した保持体に穴を
設けその穴に光学台に設けた突起物を挿入して前記保持
体を回転させることにより、第２の偏光素子を回転調整
可能にすることを特徴とする請求項１に記載の旋光度測
定装置。 - 【請求項５】 第２の偏光素子を固定した保持体を光学
台に設けた溝に挿入して前記保持体を回転させることに
より、第２の偏光素子を回転調整可能にすることを特徴
とする請求項１に記載の旋光度測定装置。 - 【請求項６】 第２の偏光素子が偏光ビームスプリッタ
である請求項１に記載の旋光度測定装置。 - 【請求項７】 レーザからのレーザ光を直線偏光に偏光
するための第１の偏光素子と、被検試料の旋光性物質を
保持するためのセルと、セルを通過させた直線偏光を互
いに９０度異なる偏光成分に分離するための第２の偏光
素子と、分離した偏光成分である透過成分、反射成分を
それぞれ受光するための２つの受光素子と、これらの素
子を固定するための光学台とを備え、前記光学台を取付
台に固定し、前記２つの受光素子の出力レベルの差を用
いて旋光度を測定する装置であって、前記偏光素子を前
記光学台に固定するための固定位置を前記偏光素子を通
過する光軸上に設けることを特徴とする旋光度測定装
置。 - 【請求項８】 光学台を取付台に固定するための固定位
置を偏光素子を通過する光軸上に設けることを特徴とす
る請求項７に記載の旋光度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11097614A JP2000292347A (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 旋光度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11097614A JP2000292347A (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 旋光度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000292347A true JP2000292347A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14197096
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11097614A Pending JP2000292347A (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 旋光度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000292347A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007002182A1 (en) * | 2005-06-21 | 2007-01-04 | Stheno Corporation | Improved systems and methods for chiral detection and analysis |
| CN104316177A (zh) * | 2014-10-17 | 2015-01-28 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种光度计变角度测试夹具 |
| CN104567734A (zh) * | 2013-10-16 | 2015-04-29 | 北京航天计量测试技术研究所 | 激光小角度测量装置正弦臂臂长标定方法 |
| CN105067530A (zh) * | 2015-08-06 | 2015-11-18 | 丁海铭 | 低透过率机械斩波模拟器 |
-
1999
- 1999-04-05 JP JP11097614A patent/JP2000292347A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007002182A1 (en) * | 2005-06-21 | 2007-01-04 | Stheno Corporation | Improved systems and methods for chiral detection and analysis |
| US7468788B2 (en) | 2005-06-21 | 2008-12-23 | Stheno Corporation | Systems and methods for chiral detection and analysis |
| CN104567734A (zh) * | 2013-10-16 | 2015-04-29 | 北京航天计量测试技术研究所 | 激光小角度测量装置正弦臂臂长标定方法 |
| CN104316177A (zh) * | 2014-10-17 | 2015-01-28 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种光度计变角度测试夹具 |
| CN105067530A (zh) * | 2015-08-06 | 2015-11-18 | 丁海铭 | 低透过率机械斩波模拟器 |
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