JP2000293816A - 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 - Google Patents

薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法

Info

Publication number
JP2000293816A
JP2000293816A JP11101078A JP10107899A JP2000293816A JP 2000293816 A JP2000293816 A JP 2000293816A JP 11101078 A JP11101078 A JP 11101078A JP 10107899 A JP10107899 A JP 10107899A JP 2000293816 A JP2000293816 A JP 2000293816A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
layer
thin
film
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11101078A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3805922B2 (ja
Inventor
Yoshitaka Sasaki
芳高 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP10107899A priority Critical patent/JP3805922B2/ja
Priority to US09/532,518 priority patent/US6490126B1/en
Publication of JP2000293816A publication Critical patent/JP2000293816A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3805922B2 publication Critical patent/JP3805922B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3109Details
    • G11B5/313Disposition of layers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3109Details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 磁束の通過を妨げることなく、誘導型磁気変
換素子の磁路を形成する磁性層における渦電流損失を減
少させて、高周波特性を改善する。 【解決手段】 薄膜磁気ヘッドは、再生ヘッドと記録ヘ
ッドとを備えている。記録ヘッドは、記録ギャップ層1
2を介して互いに対向する磁極部分を含む下部磁極層お
よび上部磁極層13と、これらの間に絶縁された状態で
配設された薄膜コイル10とを有している。上部磁極層
13は、積層された複数の磁性材料層13a〜13c
と、隣接する2つの磁性材料層の間に配置された抵抗層
21,22とによって構成されている。抵抗層21,2
2は、上部磁極層13のヨーク部分13Bのうち、磁極
部分13Aとの連結部の近傍の部分および下部磁極層と
の連結部の近傍の部分を除いた一部の領域に配置されて
いる。また、抵抗層21,22は、それぞれ、分割され
た複数の領域に配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、少なくとも誘導型
磁気変換素子を有する薄膜磁気ヘッドおよびその製造方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ハードディスク装置の面記録密度
の向上に伴って、薄膜磁気ヘッドの性能向上が求められ
ている。薄膜磁気ヘッドとしては、書き込み用の誘導型
磁気変換素子を有する記録ヘッドと読み出し用の磁気抵
抗(以下、MR(Magneto-resistive)とも記す。)素
子を有する再生ヘッドとを積層した構造の複合型薄膜磁
気ヘッドが広く用いられている。MR素子としては、異
方性磁気抵抗(以下、AMR(Anisotropic Magneto-r
esistive)と記す。)効果を用いたAMR素子と、巨大
磁気抵抗(以下、GMR(Giant Magneto-resistive)
と記す。)効果を用いたGMR素子とがある。AMR素
子を用いた再生ヘッドはAMRヘッドあるいは単にMR
ヘッドと呼ばれ、GMR素子を用いた再生ヘッドはGM
Rヘッドと呼ばれる。AMRヘッドは、面記録密度が1
ギガビット/(インチ)2を超える再生ヘッドとして利
用され、GMRヘッドは、面記録密度が3ギガビット/
(インチ)2を超える再生ヘッドとして利用されてい
る。
【0003】再生ヘッドの性能を向上させる方法として
は、MR膜をAMR膜からGMR膜等の磁気抵抗感度の
優れた材料に変える方法や、MR膜のパターン幅、特
に、MRハイトを適切化する方法等がある。このMRハ
イトとは、MR素子のエアベアリング面側の端部から反
対側の端部までの長さ(高さ)をいい、エアベアリング
面の加工の際の研磨量によって制御されるものである。
なお、ここにいうエアベアリング面は、薄膜磁気ヘッド
の、磁気記録媒体と対向する面であり、トラック面とも
呼ばれる。
【0004】一方、再生ヘッドの性能向上に伴って、記
録ヘッドの性能向上も求められている。記録ヘッドの性
能を決定する要因としては、パターン幅、特に、スロー
トハイト(Throat Height:TH)がある。スロートハイ
トは、2つの磁極層が記録ギャップ層を介して対向する
部分の、エアベアリング面側の端部から反対側の端部ま
での長さ(高さ)をいう。記録ヘッドの性能向上のため
には、スロートハイトの縮小化が望まれている。このス
ロートハイトも、エアベアリング面の加工の際の研磨量
によって制御される。
【0005】記録ヘッドの性能のうち、記録密度を高め
るには、磁気記録媒体におけるトラック密度を上げる必
要がある。このためには、記録ギャップ層を挟んでその
上下に形成された下部磁極および上部磁極のエアベアリ
ング面での幅を数ミクロンからサブミクロン寸法まで狭
くした狭トラック構造の記録ヘッドを実現する必要があ
り、これを達成するために半導体加工技術が利用されて
いる。
【0006】このように、薄膜磁気ヘッドの性能の向上
のためには、記録ヘッドと再生ヘッドをバランスよく形
成することが重要である。
【0007】ここで、図16ないし図22を参照して、
従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法の一例として、複合型
薄膜磁気ヘッドの製造方法の一例について説明する。な
お、図16ないし図21において、(a)はエアベアリ
ング面に垂直な断面を示し、(b)は磁極部分のエアベ
アリング面に平行な断面を示している。
【0008】この製造方法では、まず、図16に示した
ように、例えばアルティック(Al 23・TiC)より
なる基板101の上に、例えばアルミナ(Al23)よ
りなる絶縁層102を、約5〜10μm程度の厚みで堆
積する。次に、絶縁層102の上に、磁性材料よりなる
再生ヘッド用の下部シールド層103を形成する。
【0009】次に、図17に示したように、下部シール
ド層103の上に、例えばアルミナを100〜200n
mの厚みにスパッタ堆積し、絶縁層としての下部シール
ドギャップ膜104を形成する。次に、下部シールドギ
ャップ膜104の上に、再生用のMR素子105を形成
するためのMR膜を、数十nmの厚みに形成する。次
に、このMR膜の上に、MR素子105を形成すべき位
置に選択的にフォトレジストパターンを形成する。この
とき、リフトオフを容易に行うことができるような形
状、例えば断面形状がT型のフォトレジストパターンを
形成する。次に、フォトレジストパターンをマスクとし
て、例えばイオンミリングによってMR膜をエッチング
して、MR素子105を形成する。なお、MR素子10
5は、GMR素子でもよいし、AMR素子でもよい。次
に、下部シールドギャップ膜104の上に、同じフォト
レジストパターンをマスクとして、MR素子105に電
気的に接続される一対の電極層106を形成する。
【0010】次に、下部シールドギャップ膜104およ
びMR素子105の上に、絶縁層としての上部シールド
ギャップ膜107を形成し、MR素子105をシールド
ギャップ膜104,107内に埋設する。
【0011】次に、上部シールドギャップ膜107の上
に、磁性材料からなり、再生ヘッドと記録ヘッドの双方
に用いられる上部シールド層兼下部磁極層(以下、下部
磁極層と記す。)108を、約3μmの厚みに形成す
る。次に、下部磁極層108の上に、絶縁膜、例えばア
ルミナ膜よりなる記録ギャップ層109を0.2μmの
厚みに形成する。
【0012】次に、図18に示したように、磁路形成の
ために、記録ギャップ層109を部分的にエッチングし
て、コンタクトホール109aを形成する。次に、磁極
部分における記録ギャップ層109の上に、記録ヘッド
用の磁性材料、例えば高飽和磁束密度材料のパーマロイ
(NiFe)またはFeNよりなる上部磁極チップ11
0を、0.5〜1.0μmの厚みに形成する。このと
き、同時に、磁路形成のためのコンタクトホール109
aの上に、磁路形成のための磁性材料からなる磁性層1
19を形成する。
【0013】次に、図19に示したように、上部磁極チ
ップ110をマスクとして、イオンミリングによって、
記録ギャップ層109と下部磁極層108をエッチング
する。図19(b)に示したように、上部磁極部分(上
部磁極チップ110)、記録ギャップ層109および下
部磁極層108の一部の各側壁が垂直に自己整合的に形
成された構造は、トリム(Trim)構造と呼ばれる。この
トリム構造によれば、狭トラックの書き込み時に発生す
る磁束の広がりによる実効トラック幅の増加を防止する
ことができる。
【0014】次に、全面に、例えばアルミナ膜よりなる
絶縁層111を、約3μmの厚みに形成する。次に、こ
の絶縁層111を、上部磁極チップ110および磁性層
119の表面に至るまで研磨して平坦化する。この際の
研磨方法としては、機械的な研磨またはCMP(化学機
械研磨)が用いられる。この平坦化により、上部磁極チ
ップ110および磁性層119の表面が露出する。
【0015】次に、図20に示したように、平坦化され
た絶縁層111の上に、例えば銅(Cu)よりなる誘導
型の記録ヘッド用の第1層目の薄膜コイル112を形成
する。次に、絶縁層111およびコイル112の上に、
フォトレジスト層113を、所定のパターンに形成す
る。次に、フォトレジスト層113の表面を平坦にする
ために所定の温度で熱処理する。次に、フォトレジスト
層113の上に、第2層目の薄膜コイル114を形成す
る。次に、フォトレジスト層113およびコイル114
上に、フォトレジスト層115を、所定のパターンに形
成する。次に、フォトレジスト層115の表面を平坦に
するために所定の温度で熱処理する。
【0016】次に、図21に示したように、上部磁極チ
ップ110、フォトレジスト層113,115および磁
性層119の上に、記録ヘッド用の磁性材料、例えばパ
ーマロイよりなる上部磁極層116を形成する。次に、
上部磁極層116の上に、例えばアルミナよりなるオー
バーコート層117を形成する。最後に、スライダの機
械加工を行って、記録ヘッドおよび再生ヘッドのエアベ
アリング面118を形成して、薄膜磁気ヘッドが完成す
る。図22は、この薄膜磁気ヘッドの平面図である。な
お、この図では、オーバーコート層117を省略してい
る。
【0017】図21において、THは、スロートハイト
を表し、MR−Hは、MRハイトを表している。また、
P2Wは、磁極幅、すなわち記録トラック幅を表してい
る。薄膜磁気ヘッドの性能を決定する要因として、スロ
ートハイトやMRハイト等の他に、図21においてθで
示したようなエイペックスアングル(Apex Angle)が
ある。このエイペックスアングルは、フォトレジスト層
113,115で覆われて山状に盛り上がったコイル部
分(以下、エイペックス部と言う。)における磁極側の
側面の角部を結ぶ直線と絶縁層111の上面とのなす角
度をいう。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】近年、コンピュータ等
に使用されるハードディスク装置の面記録密度の向上に
伴って、薄膜磁気ヘッドにおける記録再生情報の周波数
が高くなってきている。記録情報の周波数が高くなる
と、誘導型磁気変換素子の磁路を形成する磁性層におけ
る渦電流損失が大きくなる。それに伴い、記録ギャップ
層を介して対向する磁極部分より発生される記録磁界の
強度の低下や、コイルに供給される記録電流に対する記
録磁界の遅延の増加や、記録磁界の立ち上がりの時間勾
配の低下等の問題が発生する。これらの問題は、具体的
には、例えば、非線形トランジションシフト(Non-line
ar Transition Shift;NLTS)の増加として現れ
る。
【0019】従来、磁性層における渦電流損失を減少さ
せ、薄膜磁気ヘッドの高周波特性を向上させる技術とし
て、例えば、特開平6−139521号公報や特開昭6
0−35315号公報には、誘導型磁気変換素子の磁路
を形成する磁性層を、軟磁性層と絶縁層とを交互に積層
した構造とした技術が示されている。
【0020】しかしながら、この技術では、磁性層全体
を上述の積層構造にしているため、磁束の通過領域が狭
くなり、磁束の通過が妨げられて、磁性層を通過する磁
束の量が低下するという問題点がある。
【0021】また、特開平6−139521号公報に
は、誘導型磁気変換素子の磁路を形成する磁性層を、記
録ギャップ層に垂直な方向に沿うように軟磁性層と絶縁
層とを交互に配置した構造とした技術も示されている。
【0022】しかしながら、磁性層をこのような構造と
すると、磁性層の磁化(磁歪)の方向を一定にしにくく
なり、効率よく磁束を通過させることが難しくなるとい
う問題点がある。
【0023】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、磁束の通過を妨げることなく、誘導
型磁気変換素子の磁路を形成する磁性層における渦電流
損失を減少させて、高周波特性を改善できるようにした
薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法を提供することにあ
る。
【0024】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の薄膜磁気
ヘッドは、磁気的に連結され、且つ記録媒体に対向する
側の一部が記録ギャップ層を介して互いに対向する磁極
部分を含み、それぞれ少なくとも1つの層からなる第1
および第2の磁性層と、この第1および第2の磁性層の
間に、この第1および第2の磁性層に対して絶縁された
状態で配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁気変換
素子を備えた薄膜磁気ヘッドであって、第1および第2
の磁性層は、それぞれ、薄膜コイルに対向する領域を含
む領域に配置されると共に磁極部分に連結されたヨーク
部分を有し、少なくとも一方の磁性層におけるヨーク部
分は、複数の磁性材料層と、隣接する2つの磁性材料層
の間に配置され、磁性材料層よりも電気抵抗の大きい抵
抗層とを有し、抵抗層は、ヨーク部分のうち、磁極部分
との連結部の近傍および他の磁性層との連結部の近傍を
除いた一部の領域に配置されているものである。
【0025】本発明の第1の薄膜磁気ヘッドの製造方法
は、磁気的に連結され、且つ記録媒体に対向する側の一
部が記録ギャップ層を介して互いに対向する磁極部分を
含み、それぞれ少なくとも1つの層からなる第1および
第2の磁性層と、この第1および第2の磁性層の間に、
この第1および第2の磁性層に対して絶縁された状態で
配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁気変換素子を
備え、第1および第2の磁性層は、それぞれ、薄膜コイ
ルに対向する領域を含む領域に配置されると共に磁極部
分に連結されたヨーク部分を有する薄膜磁気ヘッドの製
造方法であって、第1の磁性層を形成する工程と、第1
の磁性層の上にギャップ層を形成する工程と、ギャップ
層の上に第2の磁性層を形成する工程と、第1の磁性層
と第2の磁性層の間に配置されるように薄膜コイルを形
成する工程とを含み、第1の磁性層を形成する工程と第
2の磁性層を形成する工程の少なくとも一方は、複数の
磁性材料層と、隣接する2つの磁性材料層の間に配置さ
れ、磁性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層とを有す
るヨーク部分を形成すると共に、抵抗層を、ヨーク部分
のうち、磁極部分との連結部の近傍および他の磁性層と
の連結部の近傍を除いた一部の領域に配置するものであ
る。
【0026】本発明の第1の薄膜磁気ヘッドまたはその
製造方法では、少なくとも一方の磁性層におけるヨーク
部分が、複数の磁性材料層と抵抗層とを有するように形
成されると共に、抵抗層が、ヨーク部分のうち、磁極部
分との連結部の近傍および他の磁性層との連結部の近傍
を除いた一部の領域に配置される。これにより、磁束の
通過が妨げられることなく、磁性層における渦電流損失
が減少する。
【0027】また、本発明の第1の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、抵抗層は、例えば、分割された複
数の領域に配置される。
【0028】また、本発明の第1の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、抵抗層は、例えば絶縁材料によっ
て形成される。この場合、絶縁材料は、例えば無機材料
よりなる。また、本発明の第1の薄膜磁気ヘッドの製造
方法では、例えば、抵抗層は、無機材料よりなる層を反
応性イオンエッチングによって選択的にエッチングする
ことによって所定のパターンに形成される。
【0029】また、本発明の第1の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、例えば、第1の磁性層は、薄膜コ
イルに対向する領域を含む領域に配置された第1の部分
と、この第1の部分における薄膜コイル側の面に接続さ
れ、磁極部分を形成する第2の部分とを有し、薄膜コイ
ルの少なくとも一部は、第1の磁性層の第2の部分の側
方に配置され、第2の磁性層のヨーク部分は、複数の磁
性材料層と抵抗層とを有する。
【0030】また、本発明の第1の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、更に、磁気抵抗素子と、記録媒体
に対向する側の一部が磁気抵抗素子を挟んで対向するよ
うに配置され、磁気抵抗素子をシールドするための第1
および第2のシールド層とを備えていてもよい。この場
合、第2のシールド層は、第1の磁性層を兼ねていても
よい。
【0031】本発明の第2の薄膜磁気ヘッドは、磁気的
に連結され、且つ記録媒体に対向する側の一部が記録ギ
ャップ層を介して互いに対向する磁極部分を含み、それ
ぞれ少なくとも1つの層からなる第1および第2の磁性
層と、この第1および第2の磁性層の間に、この第1お
よび第2の磁性層に対して絶縁された状態で配設された
薄膜コイルとを有する誘導型磁気変換素子を備えた薄膜
磁気ヘッドであって、第1および第2の磁性層は、それ
ぞれ、薄膜コイルに対向する領域を含む領域に配置され
ると共に磁極部分に連結されたヨーク部分を有し、少な
くとも一方の磁性層におけるヨーク部分は、複数の磁性
材料層と、隣接する2つの磁性材料層の間に配置され、
磁性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層とを有し、抵
抗層は、分割された複数の領域に配置されているもので
ある。
【0032】本発明の第2の薄膜磁気ヘッドの製造方法
は、磁気的に連結され、且つ記録媒体に対向する側の一
部が記録ギャップ層を介して互いに対向する磁極部分を
含み、それぞれ少なくとも1つの層からなる第1および
第2の磁性層と、この第1および第2の磁性層の間に、
この第1および第2の磁性層に対して絶縁された状態で
配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁気変換素子を
備え、第1および第2の磁性層は、それぞれ、薄膜コイ
ルに対向する領域を含む領域に配置されると共に磁極部
分に連結されたヨーク部分を有する薄膜磁気ヘッドの製
造方法であって、第1の磁性層を形成する工程と、第1
の磁性層の上にギャップ層を形成する工程と、ギャップ
層の上に第2の磁性層を形成する工程と、第1の磁性層
と第2の磁性層の間に配置されるように薄膜コイルを形
成する工程とを含み、第1の磁性層を形成する工程と第
2の磁性層を形成する工程の少なくとも一方は、複数の
磁性材料層と、隣接する2つの磁性材料層の間に配置さ
れ、磁性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層とを有す
るヨーク部分を形成すると共に、抵抗層を、分割された
複数の領域に配置するものである。
【0033】本発明の第2の薄膜磁気ヘッドまたはその
製造方法では、少なくとも一方の磁性層におけるヨーク
部分が、複数の磁性材料層と抵抗層とを有するように形
成されると共に、抵抗層が、分割された複数の領域に配
置される。これにより、磁束の通過が妨げられることな
く、磁性層における渦電流損失が減少する。
【0034】また、本発明の第2の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、抵抗層は、例えば絶縁材料によっ
て形成される。この場合、絶縁材料は、例えば無機材料
よりなる。また、本発明の第2の薄膜磁気ヘッドの製造
方法では、例えば、抵抗層は、無機材料よりなる層を反
応性イオンエッチングによって選択的にエッチングする
ことによって所定のパターンに形成される。
【0035】また、本発明の第2の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、例えば、第1の磁性層は、薄膜コ
イルに対向する領域を含む領域に配置された第1の部分
と、この第1の部分における薄膜コイル側の面に接続さ
れ、磁極部分を形成する第2の部分とを有し、薄膜コイ
ルの少なくとも一部は、第1の磁性層の第2の部分の側
方に配置され、第2の磁性層のヨーク部分は、複数の磁
性材料層と抵抗層とを有する。
【0036】また、本発明の第2の薄膜磁気ヘッドまた
はその製造方法では、更に、磁気抵抗素子と、記録媒体
に対向する側の一部が磁気抵抗素子を挟んで対向するよ
うに配置され、磁気抵抗素子をシールドするための第1
および第2のシールド層とを備えていてもよい。この場
合、第2のシールド層は、第1の磁性層を兼ねていても
よい。
【0037】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。 [第1の実施の形態]まず、図1ないし図12を参照し
て、本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドお
よびその製造方法について説明する。なお、図1ないし
図7において、(a)はエアベアリング面に垂直な断面
を示し、(b)は磁極部分のエアベアリング面に平行な
断面を示している。
【0038】本実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドの製造
方法では、まず、図1に示したように、例えばアルティ
ック(Al23・TiC)よりなる基板1の上に、例え
ばアルミナ(Al23)よりなる絶縁層2を、約5μm
の厚みで堆積する。次に、絶縁層2の上に、磁性材料、
例えばパーマロイよりなる再生ヘッド用の下部シールド
層3を、約3μmの厚みに形成する。下部シールド層3
は、例えば、フォトレジスト膜をマスクにして、めっき
法によって、絶縁層2の上に選択的に形成する。次に、
全体に、例えばアルミナよりなる絶縁層20を、例えば
4〜6μmの厚みに形成し、例えばCMP(化学機械研
磨)によって、下部シールド層3が露出するまで研磨し
て、表面を平坦化処理する。
【0039】次に、図2に示したように、下部シールド
層3の上に、例えばアルミナまたはチッ化アルミニウム
をスパッタ堆積し、絶縁層としての下部シールドギャッ
プ膜4を形成する。次に、下部シールドギャップ膜4の
上に、再生用のMR素子5を、数十nmの厚みに形成す
る。MR素子5は、例えば、スパッタによって形成した
MR膜を選択的にエッチングすることによって形成す
る。なお、MR素子5には、AMR素子、GMR素子、
あるいはTMR(トンネル磁気抵抗効果)素子等の磁気
抵抗効果を示す感磁膜を用いた素子を用いることができ
る。次に、下部シールドギャップ膜4の上に、MR素子
5に電気的に接続される一対の電極層6を、数十nmの
厚みに形成する。次に、下部シールドギャップ膜4およ
びMR素子5の上に、絶縁層としての上部シールドギャ
ップ膜7を形成し、MR素子5をシールドギャップ膜
4,7内に埋設する。
【0040】次に、上部シールドギャップ膜7の上に、
磁性材料からなり、再生ヘッドと記録ヘッドの双方に用
いられる上部シールド層兼下部磁極層(以下、下部磁極
層と記す。)の第1の部分8aを、約1.0〜2.0μ
mの厚みで、選択的に形成する。下部磁極層の第1の部
分8aは、下部磁極層のうち、後述する薄膜コイルに対
向する領域を含む領域に配置される部分である。
【0041】次に、図3に示したように、下部磁極層の
第1の部分8aの上に、下部磁極層の第2の部分8bお
よび第3の部分8cを、約1.5〜2.5μmの厚みに
形成する。第2の部分8bは、下部磁極層の磁極部分を
形成し、第1の部分8aの薄膜コイル側の面に接続され
る。第3の部分8cは、第1の部分8aと後述する上部
磁極層とを接続するための部分である。本実施の形態に
おいて、第2の部分8bのエアベアリング面とは反対側
(図において右側)の端部の位置は、磁極部分のエアベ
アリング面とは反対側の端部の位置であるスロートハイ
トゼロ位置となる。
【0042】下部磁極層の第2の部分8bおよび第3の
部分8cは、NiFe(Ni:80重量%,Fe:20
重量%)や、高飽和磁束密度材料であるNiFe(N
i:45重量%,Fe:55重量%)の材料を用い、め
っき法によって形成してもよいし、高飽和磁束密度材料
であるFeN,FeZrN等の材料を用い、スパッタに
よって形成してもよい。この他にも、高飽和磁束密度材
料であるCoFe,Co系アモルファス材等を用いても
よい。
【0043】次に、図4に示したように、全体に、例え
ばアルミナよりなる絶縁膜9を、約0.3〜0.6μm
の厚みに形成する。
【0044】次に、フレームめっき法によって、例えば
銅(Cu)よりなる薄膜コイル10を、例えば約1.0
〜2.0μmの厚みに形成する。なお、図中、符号10
aは、薄膜コイル10と後述する電極用パッドとを接続
するための導電層が接続される接続部を示している。
【0045】次に、図5に示したように、全体に、例え
ばアルミナよりなる絶縁層11を、約3〜4μmの厚み
で形成する。次に、例えばCMPによって、下部磁極層
の第2の部分8bおよび第3の部分8cが露出するま
で、絶縁層11を研磨して、表面を平坦化処理する。こ
こで、図5では、薄膜コイル10は露出していないが、
薄膜コイル10が露出するようにしてもよい。薄膜コイ
ル10が露出するようにした場合には、薄膜コイル10
および絶縁層11の上に他の絶縁層を形成する。
【0046】次に、図6に示したように、露出した下部
磁極層の第2の部分8bおよび第3の部分8cと絶縁層
11の上に、絶縁材料よりなる記録ギャップ層12を、
例えば0.2〜0.3μmの厚みに形成する。記録ギャ
ップ層12に使用する絶縁材料としては、一般的に、ア
ルミナ、窒化アルミニウム、シリコン酸化物系材料、シ
リコン窒化物系材料、ダイヤモンドライクカーボン(D
LC)等がある。
【0047】次に、磁路形成のために、下部磁極層の第
3の部分8cの上の部分において、記録ギャップ層12
を部分的にエッチングしてコンタクトホールを形成す
る。
【0048】次に、記録ギャップ層12の上に、以下の
手順で上部磁極層13を形成する。すなわち、まず、記
録ギャップ層12の上に、磁性材料よりなる第1の磁性
材料層13aを、例えば約0.5〜1.5μmの厚み
で、所定のパターンに形成する。次に、第1の磁性材料
層13aの上に、第1の磁性材料層13aよりも電気抵
抗の大きい第1の抵抗層21を、例えば数十〜数百nm
の厚みで、所定のパターンに形成する。図8は、上部磁
極層13の第1の磁性材料層13aと第1の抵抗層21
とを示す平面図である。次に、第1の抵抗層21の上
に、第1の磁性材料層13aと同じ磁性材料よりなる第
2の磁性材料層13bを、例えば約0.5〜1.5μm
の厚みで、所定のパターンに形成する。次に、第2の磁
性材料層13bの上に、第2の磁性材料層13bよりも
電気抵抗の大きい第2の抵抗層22を、例えば数十〜数
百nmの厚みで、第1の磁性材料層13aと同じパター
ンに形成する。図9は、上部磁極層13の第2の磁性材
料層13bと第2の抵抗層22とを示す平面図である。
次に、第2の抵抗層22の上に、第1の磁性材料層13
aと同じ磁性材料よりなる第3の磁性材料層13cを、
例えば約0.5〜1.5μmの厚みで、第1の磁性材料
層13aと同じパターンに形成する。
【0049】磁性材料層13a〜13cは、NiFe
(Ni:80重量%,Fe:20重量%)や、高飽和磁
束密度材料であるNiFe(Ni:45重量%,Fe:
55重量%)の材料を用い、めっき法によって形成して
もよいし、高飽和磁束密度材料であるFeN,FeZr
N等の材料を用い、スパッタによって形成してもよい。
この他にも、高飽和磁束密度材料であるCoFe,Co
系アモルファス材等を用いてもよい。
【0050】抵抗層21,22は、例えば、アルミナ、
窒化アルミニウム、シリコン酸化物系材料、シリコン窒
化物系材料、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)等
の無機絶縁材料によって形成される。また、抵抗層2
1,22は、例えば、スパッタによって上記無機絶縁材
料よりなる膜を形成した後、この膜を例えば反応性イオ
ンエッチング(RIE)によって選択的にエッチングす
ることによって、所定のパターンに形成される。
【0051】このように、本実施の形態における上部磁
極層13は、積層された複数の磁性材料層13a〜13
cと、隣接する2つの磁性材料層の間に配置された抵抗
層21,22とによって構成される。この上部磁極層1
3の特徴については、後で詳しく説明する。
【0052】次に、上部磁極層13をマスクとして、ド
ライエッチングにより、記録ギャップ層12を選択的に
エッチングし、更に、例えばアルゴンイオンミリングに
よって、下部磁極層の第2の部分8bを選択的に約0.
3〜0.6μm程度エッチングして、図6(b)に示し
たようなトリム構造とする。このトリム構造によれば、
狭トラックの書き込み時に発生する磁束の広がりによる
実効トラック幅の増加を防止することができる。
【0053】次に、図7に示したように、全体に、例え
ばアルミナよりなるオーバーコート層17を、20〜4
0μmの厚みに形成し、その表面を平坦化して、その上
に、図示しない電極用パッドを形成する。最後に、スラ
イダの研磨加工を行って、記録ヘッドおよび再生ヘッド
のエアベアリング面を形成して、本実施の形態に係る薄
膜磁気ヘッドが完成する。図10は、本実施の形態に係
る薄膜磁気ヘッドの平面図である。この図では、オーバ
ーコート層17を省略している。なお、図10におい
て、符号8Bは、トリム構造とするため下部磁極層の第
2の部分8bがエッチングされている部分を表してい
る。
【0054】本実施の形態では、第1の部分8a、第2
の部分8bおよび第3の部分8cよりなる下部磁極層
が、本発明における第1の磁性層に対応し、磁性材料層
13a〜13cおよび抵抗層21,22よりなる上部磁
極層13が、本発明における第2の磁性層に対応する。
また、下部シールド層3は、本発明における第1のシー
ルド層に対応する。また、下部磁極層は、上部シールド
層を兼ねているので、本発明における第2のシールド層
にも対応する。
【0055】以上説明したように、本実施の形態に係る
薄膜磁気ヘッドは、再生ヘッドと記録ヘッドとを備えて
いる。再生ヘッドは、MR素子5と、記録媒体に対向す
る側の一部がMR素子5を挟んで対向するように配置さ
れ、MR素子5をシールドするための下部シールド層3
および上部シールド層(下部磁極層)とを有している。
【0056】記録ヘッドは、磁気的に連結され、且つ記
録媒体に対向する側の一部が記録ギャップ層12を介し
て互いに対向する磁極部分を含み、それぞれ少なくとも
1つの層からなる下部磁極層および上部磁極層13と、
この下部磁極層および上部磁極層13の間に、これらに
対して絶縁された状態で配設された薄膜コイル10とを
有している。下部磁極層と上部磁極層13は、それぞ
れ、薄膜コイル10に対向する領域を含む領域に配置さ
れると共に磁極部分に連結されたヨーク部分を有してい
る。
【0057】本実施の形態では、下部磁極層は、薄膜コ
イル10に対向する領域を含む領域に配置された第1の
部分8aと、この第1の部分8aにおける薄膜コイル1
0側の面に接続され、磁極部分を形成する第2の部分8
bとを有し、薄膜コイル10は、下部磁極層の第2の部
分8bの側方に配置されている。
【0058】ここで、本実施の形態における上部磁極層
13の特徴について説明する。図7ないし図9に示した
ように、上部磁極層13は、磁極部分13Aと、薄膜コ
イル10に対向する領域を含む領域に配置されると共に
磁極部分13Aに連結されたヨーク部分13Bとを有し
ている。図7に示したように、磁極部分13Aとヨーク
部分13Bと連結部の位置は、スロートハイトゼロ位置
またはその近傍の位置になっている。図8および図9に
示したように、磁極部分13Aは、狭い一定の幅を有し
ている。この磁極部分13Aの幅が記録ヘッドのトラッ
ク幅を規定する。ヨーク部分13Bは、磁極部分13A
との連結部の近傍の部分23では、磁極部分13Aより
も大きい一定の幅を有し、その部分23よりもエアベア
リング面とは反対側(図における右側)の部分では、エ
アベアリング面から遠ざかるにつれて幅が大きくなり、
やがて一定の幅を有するような形状になっている。
【0059】上部磁極層13は、積層された複数の磁性
材料層13a〜13cと、隣接する2つの磁性材料層の
間に配置された抵抗層21,22とによって構成されて
いる。図8および図9に示したように、抵抗層21,2
2は、上部磁極層13のヨーク部分13Bのうち、磁極
部分13Aとの連結部の近傍の部分23および他の磁性
層すなわち下部磁極層との連結部の近傍の部分24を除
いた一部の領域に配置されている。
【0060】また、抵抗層21,22は、それぞれ、分
割された複数の領域に配置されている。本実施の形態で
は、特に、抵抗層21,22は、それぞれ、ストライプ
状に形成されている。また、本実施の形態では、図8と
図9を比較すると分かるように、抵抗層21の各部分と
抵抗層22の各部分は、ほぼ互い違いになるように配置
されている。なお、抵抗層21の各部分と抵抗層22の
各部分が、上から見て同じ位置に配置されていてもよ
い。
【0061】なお、図6(a)および図7(a)は、図
8および図9におけるA−A´線で切断した断面を表し
ている。
【0062】本実施の形態によれば、上部磁極層13
を、積層された複数の磁性材料層13a〜13cと、隣
接する2つの磁性材料層の間に配置された抵抗層21,
22とで構成したので、上部磁極層13における渦電流
損失を減少させることができる。
【0063】ところで、上部磁極層13のヨーク部分1
3Bのうち、磁極部分13Aとの連結部の近傍の部分2
3および他の磁性層すなわち下部磁極層との連結部の近
傍の部分24は、ヨーク部分13Bの他の部分に比べ
て、元々、磁束の通過領域が狭い。そのため、これらの
部分23,24に抵抗層が存在すると、抵抗層によって
磁束の通過が妨げられる。これに対し、本実施の形態で
は、抵抗層21,22は、上部磁極層13のヨーク部分
13Bのうち、上記の部分23,24を除いた一部の領
域に配置されているので、磁束の通過を妨げることな
く、上部磁極層13における渦電流損失を減少させるこ
とができる。
【0064】また、抵抗層が上部磁極層の全体にわたっ
て形成されていると、磁束の通過領域が狭くなり、磁束
の通過が妨げられる。これに対し、本実施の形態では、
抵抗層21,22は、分割された複数の領域に配置され
ているので、抵抗層が上部磁極層の全体にわたって形成
されている場合に比べて、磁束の通過領域が広くなり、
磁束の通過を妨げることなく、上部磁極層13における
渦電流損失を減少させることができる。
【0065】このように、本実施の形態によれば、上部
磁極層13における渦電流損失を減少させることができ
ることから、薄膜磁気ヘッドにおける高周波特性を改善
でき、例えば非線形トランジションシフトを小さくする
ことが可能となる。
【0066】また、本実施の形態によれば、薄膜コイル
10を、下部磁極層の第1の部分8aの上であって、第
2の部分8bの側方に配置し、薄膜コイル10を覆う絶
縁層11の上面を平坦化したので、上部磁極層13を平
坦な面の上に形成することができる。従って、本実施の
形態によれば、積層構造を有する上部磁極層13の形成
が容易になる。また、本実施の形態によれば、上部磁極
層13の磁極部分13Aを、例えばハーフミクロン寸法
やクォータミクロン寸法にも微細に形成可能となり、記
録ヘッドのトラック幅の縮小が可能となる。
【0067】また、本実施の形態では、記録ヘッドのト
ラック幅を規定する上部磁極層13の磁極部分13Aが
スロートハイトを規定するのではなく、下部磁極層の第
2の部分8bがスロートハイトを規定する。従って、本
実施の形態によれば、トラック幅が小さくなっても、ス
ロートハイトを精度よく、均一に規定することが可能と
なる。
【0068】更に、本実施の形態によれば、薄膜コイル
10を、平坦な面の上に形成することができるので、薄
膜コイル10を微細に形成することが可能になる。これ
により、記録ヘッドの磁路長の縮小が可能になる。
【0069】また、本実施の形態では、図10に示した
ように、上部磁極層13は、スロートハイトゼロ位置T
H0またはその近傍の位置よりもエアベアリング面30
とは反対側(図における右側)の部分では、例えば3μ
m以上の一定の幅を有し、スロートハイトゼロ位置TH
0またはその近傍の位置よりもエアベアリング面30側
の部分では、ハーフミクロン寸法やクォータミクロン寸
法の一定の幅を有している。そのため、上部磁極層13
を通過する磁束は、スロートハイトゼロ位置TH0また
はその近傍の位置よりもエアベアリング面30とは反対
側の部分では飽和せず、スロートハイトゼロ位置TH0
またはその近傍の位置よりもエアベアリング面30側の
部分で飽和する。これにより、非線形トランジションシ
フトやオーバーライト特性を向上させることができる。
【0070】図11は、上部磁極層の抵抗層のパターン
の他の例を示す平面図である。この例では、抵抗層21
(図8)の代りに抵抗層31が設けられている。この抵
抗層31は、ストライプ状ではなく、島状に分割された
複数の領域に配置されている。また、この例では、抵抗
層22(図9)の代りに、抵抗層31と同様のパターン
の抵抗層を設けてもよいし、抵抗層31の各部分に対し
てほぼ互い違いになるように配置される複数の部分を有
するパターンの抵抗層を設けてもよい。
【0071】図12は、上部磁極層の抵抗層のパターン
の更に他の例を示す平面図である。この例では、抵抗層
21(図8)の代りに抵抗層32が設けられている。こ
の抵抗層32は、分割された複数の領域に配置されてお
らず、ヨーク部分13Bのうち、磁極部分13Aとの連
結部の近傍の部分23および他の磁性層すなわち下部磁
極層との連結部の近傍の部分24を除くほぼ全域に配置
されている。また、この例では、抵抗層22(図9)の
代りに、抵抗層32と同様のパターンの抵抗層を設けて
もよいし、抵抗層32とは異なるパターンの抵抗層を設
けてもよい。
【0072】図12に示した例では、抵抗層が分割され
た複数の領域に配置される場合の効果は得られないが、
抵抗層が、ヨーク部分13Bのうち、磁極部分13Aと
の連結部の近傍の部分23および他の磁性層すなわち下
部磁極層との連結部の近傍の部分24を除いた一部の領
域に配置されることによる効果が得られる。
【0073】[第2の実施の形態]次に、図13および
図14を参照して、本発明の第2の実施の形態に係る薄
膜磁気ヘッドおよびその製造方法について説明する。な
お、図13において、(a)はエアベアリング面に垂直
な断面を示し、(b)は磁極部分のエアベアリング面に
平行な断面を示している。図14は、本実施の形態に係
る薄膜磁気ヘッドの平面図である。この図では、オーバ
ーコート層は省略している。
【0074】本実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドは、2
層の薄膜コイルを設けた例である。なお、本実施の形態
では、符号10は、薄膜コイルの第1層部分を表す。本
実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドの製造方法では、記録
ギャップ層12を形成する工程までは、第1の実施の形
態と同様である。本実施の形態では、次に、記録ギャッ
プ層12の上に、上部磁極層の磁極部分を形成する磁極
部分層41を1.0〜3.0μmの厚みに形成すると共
に、下部磁極層の第3の部分8cの上に形成されたコン
タクトホールの位置に、磁性層42を1.0〜3.0μ
mの厚みに形成する。磁性層42は、後述する上部磁極
層のヨーク部分層と下部磁極層とを接続するための部分
である。なお、磁性層42は、下部磁極層の第3の部分
8cよりも大きくなっている。本実施の形態では、上部
磁極層の磁極部分層41の長さは、下部磁極層の第2の
部分8bの長さ以上に形成される。
【0075】上部磁極層の磁極部分層41および磁性層
42は、NiFe(Ni:80重量%,Fe:20重量
%)や、高飽和磁束密度材料であるNiFe(Ni:4
5重量%,Fe:55重量%)の材料を用い、めっき法
によって形成してもよいし、高飽和磁束密度材料である
FeN,FeZrN等の材料を用い、スパッタによって
形成してもよい。この他にも、高飽和磁束密度材料であ
るCoFe,Co系アモルファス材等を用いてもよい。
【0076】次に、上部磁極層の磁極部分層41をマス
クとして、ドライエッチングにより、記録ギャップ層1
2を選択的にエッチングする。このときのドライエッチ
ングには、例えば、BCl2,Cl2等の塩素系ガスや、
CF4,SF6等のフッ素系ガス等のガスを用いた反応性
イオンエッチング(RIE)が用いられる。次に、例え
ばアルゴンイオンミリングによって、下部磁極層の第2
の部分8bを選択的に約0.3〜0.6μm程度エッチ
ングして、図13(b)に示したようなトリム構造とす
る。
【0077】次に、記録ギャップ層12の上のコイル形
成領域に、例えばアルミナよりなる絶縁膜14を、約
0.3〜0.6μmの厚みに形成する。
【0078】次に、フレームめっき法によって、例えば
銅(Cu)よりなる薄膜コイルの第2層部分15を、例
えば約1.0〜2.0μmの厚みに形成する。なお、図
中、符号15aは、薄膜コイルの第1層部分10の接続
部10aと接続される接続部を示している。
【0079】次に、全体に、例えばアルミナよりなる絶
縁層16を、約3〜4μmの厚みで形成する。次に、例
えばCMPによって、上部磁極層の磁極部分層41およ
び磁性層42が露出するまで、絶縁層16を研磨して、
表面を平坦化処理する。
【0080】次に、平坦化された上部磁極層の磁極部分
層41および磁性層42と絶縁層16の上に、上部磁極
層のヨーク部分を形成するヨーク部分層43を形成す
る。このヨーク部分層43は、積層された複数の磁性材
料層43a〜43cと、隣接する2つの磁性材料層の間
に配置された抵抗層21,22とによって構成されてい
る。ヨーク部分層43の形成方法は、第1の実施の形態
における上部磁極層13の形成方法と同様である。ま
た、抵抗層21,22のパターンも第1の実施の形態と
同様である。
【0081】本実施の形態では、上部磁極層のヨーク部
分層43の記録媒体に対向する側(エアベアリング面
側)の端面は、薄膜磁気ヘッドの記録媒体に対向する面
から離れた位置(図において右側)に配置されている。
【0082】次に、全体に、例えばアルミナよりなるオ
ーバーコート層17を、20〜40μmの厚みに形成
し、その表面を平坦化して、その上に、図示しない電極
用パッドを形成する。最後に、スライダの研磨加工を行
って、記録ヘッドおよび再生ヘッドのエアベアリング面
を形成して、本実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドが完成
する。
【0083】本実施の形態では、磁極部分層41、磁性
層42およびヨーク部分層43よりなる上部磁極層が、
本発明における第2の磁性層に対応する。
【0084】本実施の形態によれば、上部磁極層の磁極
部分層41を平坦な面の上に形成することができるの
で、磁極部分層41を、例えばハーフミクロン寸法やク
ォータミクロン寸法にも微細に形成可能となり、記録ヘ
ッドのトラック幅の縮小が可能となる。
【0085】また、本実施の形態によれば、薄膜コイル
の第2層部分15を、上部磁極層の磁極部分層41の側
方に配置したので、上部磁極層のヨーク部分層43を、
平坦な面の上に形成することができる。そのため、本実
施の形態によれば、積層構造を有するヨーク部分層43
の形成が容易になる。また、本実施の形態によれば、ヨ
ーク部分層43を微細に形成可能となり、いわゆるサイ
ドライトの発生を防止することが可能となる。
【0086】また、本実施の形態では、上部磁極層のヨ
ーク部分層43のエアベアリング面側の端面を、薄膜磁
気ヘッドのエアベアリング面から離れた位置に配置して
いる。そのため、スロートハイトが小さい場合でも、上
部磁極層のヨーク部分層43がエアベアリング面に露出
することがなく、その結果、いわゆるサイドライトの発
生を防止することができる。
【0087】本実施の形態におけるその他の構成、作用
および効果は、第1の実施の形態と同様である。
【0088】[第3の実施の形態]次に、図15を参照
して、本発明の第3の実施の形態に係る薄膜磁気ヘッド
およびその製造方法について説明する。図15は、本実
施の形態に係る薄膜磁気ヘッドの平面図である。この図
では、オーバーコート層は省略している。
【0089】本実施の形態に係る薄膜磁気ヘッドは、下
部磁極層の第2の部分8bを、薄膜コイルの第1層部分
10の周囲を囲うように形成したものである。下部磁極
層の第2の部分8bをこのような形状とすることによ
り、絶縁層11の平坦化処理が容易になる。
【0090】本実施の形態におけるその他の構成、作用
および効果は、第2の実施の形態と同様である。なお、
第1の実施の形態における下部磁極層の第2の部分8b
を、本実施の形態のような形状に形成してもよい。
【0091】本発明は、上記各実施の形態に限定され
ず、種々の変更が可能である。例えば、上記各実施の形
態では、上部磁極層のヨーク部分のみを、複数の磁性材
料層の間に抵抗層を配置した構造としたが、下部磁極層
のヨーク部分も同様の構造としてもよい。
【0092】また、上記各実施の形態では、下部磁極層
によってスロートハイトを規定するようにしたが、上部
磁極層によってスロートハイトを規定するようにしても
よい。
【0093】また、上記各実施の形態では、基体側に読
み取り用のMR素子を形成し、その上に、書き込み用の
誘導型磁気変換素子を積層した構造の薄膜磁気ヘッドに
ついて説明したが、この積層順序を逆にしてもよい。
【0094】つまり、基体側に書き込み用の誘導型磁気
変換素子を形成し、その上に、読み取り用のMR素子を
形成してもよい。このような構造は、例えば、上記実施
の形態に示した上部磁極層の機能を有する磁性膜を下部
磁極層として基体側に形成し、記録ギャップ膜を介し
て、それに対向するように上記実施の形態に示した下部
磁極層の機能を有する磁性膜を上部磁極層として形成す
ることにより実現できる。この場合、誘導型磁気変換素
子の上部磁極層とMR素子の下部シールド層を兼用させ
ることが好ましい。
【0095】
【発明の効果】以上説明したように請求項1ないし7の
いずれかに記載の薄膜磁気ヘッドまたは請求項14ない
し21のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法に
よれば、少なくとも一方の磁性層におけるヨーク部分
を、複数の磁性材料層と抵抗層とを有するように形成す
ると共に、抵抗層を、ヨーク部分のうち、磁極部分との
連結部の近傍および他の磁性層との連結部の近傍を除い
た一部の領域に配置したので、磁束の通過を妨げること
なく、誘導型磁気変換素子の磁路を形成する磁性層にお
ける渦電流損失を減少させて、高周波特性を改善するこ
とができるという効果を奏する。
【0096】また、請求項2記載の薄膜磁気ヘッドまた
は請求項15記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法によれ
ば、抵抗層が、分割された複数の領域に配置されるの
で、更に、磁束の通過領域が広くなり、磁性層における
渦電流損失をより減少させることが可能になるという効
果を奏する。
【0097】また、請求項5記載の薄膜磁気ヘッドまた
は請求項19記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法によれ
ば、第1の磁性層が、薄膜コイルに対向する領域を含む
領域に配置された第1の部分と、この第1の部分におけ
る薄膜コイル側の面に接続され、磁極部分を形成する第
2の部分とを有し、薄膜コイルの少なくとも一部が、第
1の磁性層の第2の部分の側方に配置され、第2の磁性
層のヨーク部分が、複数の磁性材料層と抵抗層とを有す
るようにしたので、更に、積層構造を有する第2の磁性
層のヨーク部分の形成が容易になるという効果を奏す
る。
【0098】また、請求項8ないし13のいずれかに記
載の薄膜磁気ヘッドまたは請求項22ないし28のいず
れかに記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法によれば、少な
くとも一方の磁性層におけるヨーク部分を、複数の磁性
材料層と抵抗層とを有するように形成すると共に、抵抗
層を、分割された複数の領域に配置したので、磁束の通
過を妨げることなく、誘導型磁気変換素子の磁路を形成
する磁性層における渦電流損失を減少させて、高周波特
性を改善することができるという効果を奏する。
【0099】また、請求項11記載の薄膜磁気ヘッドま
たは請求項26記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法によれ
ば、第1の磁性層が、薄膜コイルに対向する領域を含む
領域に配置された第1の部分と、この第1の部分におけ
る薄膜コイル側の面に接続され、磁極部分を形成する第
2の部分とを有し、薄膜コイルの少なくとも一部が、第
1の磁性層の第2の部分の側方に配置され、第2の磁性
層のヨーク部分が、複数の磁性材料層と抵抗層とを有す
るようにしたので、更に、積層構造を有する第2の磁性
層のヨーク部分の形成が容易になるという効果を奏す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法における一工程を説明するための断面図で
ある。
【図2】図1に続く工程を説明するための断面図であ
る。
【図3】図2に続く工程を説明するための断面図であ
る。
【図4】図3に続く工程を説明するための断面図であ
る。
【図5】図4に続く工程を説明するための断面図であ
る。
【図6】図5に続く工程を説明するための断面図であ
る。
【図7】図6に続く工程を説明するための断面図であ
る。
【図8】本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘッ
ドにおける上部磁極層の第1の磁性材料層と第1の抵抗
層とを示す平面図である。
【図9】本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘッ
ドにおける上部磁極層の第2の磁性材料層と第2の抵抗
層とを示す平面図である。
【図10】本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘ
ッドの平面図である。
【図11】本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘ
ッドにおける上部磁極層の抵抗層のパターンの他の例を
示す平面図である。
【図12】本発明の第1の実施の形態に係る薄膜磁気ヘ
ッドにおける上部磁極層の抵抗層のパターンの更に他の
例を示す平面図である。
【図13】本発明の第2の実施の形態に係る薄膜磁気ヘ
ッドの断面図である。
【図14】本発明の第2の実施の形態に係る薄膜磁気ヘ
ッドの平面図である。
【図15】本発明の第3の実施の形態に係る薄膜磁気ヘ
ッドの平面図である。
【図16】従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法における一
工程を説明するための断面図である。
【図17】図16に続く工程を説明するための断面図で
ある。
【図18】図17に続く工程を説明するための断面図で
ある。
【図19】図18に続く工程を説明するための断面図で
ある。
【図20】図19に続く工程を説明するための断面図で
ある。
【図21】図20に続く工程を説明するための断面図で
ある。
【図22】従来の薄膜磁気ヘッドの平面図である。
【符号の説明】
1…基板、2…絶縁層、3…下部シールド層、5…MR
素子、8a…下部磁極層の第1の部分、8b…下部磁極
層の第2の部分、9…絶縁膜、10…薄膜コイル、11
…絶縁層、12…記録ギャップ層、13…上部磁極層、
13a〜13c…磁性材料層、21,22…抵抗層、1
7…オーバーコート層。

Claims (28)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気的に連結され、且つ記録媒体に対向
    する側の一部が記録ギャップ層を介して互いに対向する
    磁極部分を含み、それぞれ少なくとも1つの層からなる
    第1および第2の磁性層と、この第1および第2の磁性
    層の間に、この第1および第2の磁性層に対して絶縁さ
    れた状態で配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁気
    変換素子を備えた薄膜磁気ヘッドであって、 前記第1および第2の磁性層は、それぞれ、前記薄膜コ
    イルに対向する領域を含む領域に配置されると共に前記
    磁極部分に連結されたヨーク部分を有し、 少なくとも一方の磁性層における前記ヨーク部分は、複
    数の磁性材料層と、隣接する2つの磁性材料層の間に配
    置され、前記磁性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層
    とを有し、 前記抵抗層は、前記ヨーク部分のうち、前記磁極部分と
    の連結部の近傍および他の磁性層との連結部の近傍を除
    いた一部の領域に配置されていることを特徴とする薄膜
    磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 前記抵抗層は、分割された複数の領域に
    配置されていることを特徴とする請求項1記載の薄膜磁
    気ヘッド。
  3. 【請求項3】 前記抵抗層は、絶縁材料によって形成さ
    れていることを特徴とする請求項1または2記載の薄膜
    磁気ヘッド。
  4. 【請求項4】 前記絶縁材料は、無機材料よりなること
    を特徴とする請求項3記載の薄膜磁気ヘッド。
  5. 【請求項5】 前記第1の磁性層は、前記薄膜コイルに
    対向する領域を含む領域に配置された第1の部分と、こ
    の第1の部分における前記薄膜コイル側の面に接続さ
    れ、磁極部分を形成する第2の部分とを有し、 前記薄膜コイルの少なくとも一部は、前記第1の磁性層
    の第2の部分の側方に配置され、 前記第2の磁性層のヨーク部分は、前記複数の磁性材料
    層と前記抵抗層とを有することを特徴とする請求項1な
    いし4のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッド。
  6. 【請求項6】 更に、磁気抵抗素子と、記録媒体に対向
    する側の一部が前記磁気抵抗素子を挟んで対向するよう
    に配置され、前記磁気抵抗素子をシールドするための第
    1および第2のシールド層とを備えたことを特徴とする
    請求項1ないし5のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッド。
  7. 【請求項7】 前記第2のシールド層は、前記第1の磁
    性層を兼ねていることを特徴とする請求項6記載の薄膜
    磁気ヘッド。
  8. 【請求項8】 磁気的に連結され、且つ記録媒体に対向
    する側の一部が記録ギャップ層を介して互いに対向する
    磁極部分を含み、それぞれ少なくとも1つの層からなる
    第1および第2の磁性層と、この第1および第2の磁性
    層の間に、この第1および第2の磁性層に対して絶縁さ
    れた状態で配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁気
    変換素子を備えた薄膜磁気ヘッドであって、 前記第1および第2の磁性層は、それぞれ、前記薄膜コ
    イルに対向する領域を含む領域に配置されると共に前記
    磁極部分に連結されたヨーク部分を有し、 少なくとも一方の磁性層における前記ヨーク部分は、複
    数の磁性材料層と、隣接する2つの磁性材料層の間に配
    置され、前記磁性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層
    とを有し、 前記抵抗層は、分割された複数の領域に配置されている
    ことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
  9. 【請求項9】 前記抵抗層は、絶縁材料によって形成さ
    れていることを特徴とする請求項8記載の薄膜磁気ヘッ
    ド。
  10. 【請求項10】 前記絶縁材料は、無機材料よりなるこ
    とを特徴とする請求項9記載の薄膜磁気ヘッド。
  11. 【請求項11】 前記第1の磁性層は、前記薄膜コイル
    に対向する領域を含む領域に配置された第1の部分と、
    この第1の部分における前記薄膜コイル側の面に接続さ
    れ、磁極部分を形成する第2の部分とを有し、 前記薄膜コイルの少なくとも一部は、前記第1の磁性層
    の第2の部分の側方に配置され、 前記第2の磁性層のヨーク部分は、前記複数の磁性材料
    層と前記抵抗層とを有することを特徴とする請求項8な
    いし10のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッド。
  12. 【請求項12】 更に、磁気抵抗素子と、記録媒体に対
    向する側の一部が前記磁気抵抗素子を挟んで対向するよ
    うに配置され、前記磁気抵抗素子をシールドするための
    第1および第2のシールド層とを備えたことを特徴とす
    る請求項8ないし11のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッ
    ド。
  13. 【請求項13】 前記第2のシールド層は、前記第1の
    磁性層を兼ねていることを特徴とする請求項12記載の
    薄膜磁気ヘッド。
  14. 【請求項14】 磁気的に連結され、且つ記録媒体に対
    向する側の一部が記録ギャップ層を介して互いに対向す
    る磁極部分を含み、それぞれ少なくとも1つの層からな
    る第1および第2の磁性層と、この第1および第2の磁
    性層の間に、この第1および第2の磁性層に対して絶縁
    された状態で配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁
    気変換素子を備え、 前記第1および第2の磁性層は、それぞれ、前記薄膜コ
    イルに対向する領域を含む領域に配置されると共に前記
    磁極部分に連結されたヨーク部分を有する薄膜磁気ヘッ
    ドの製造方法であって、 前記第1の磁性層を形成する工程と、 前記第1の磁性層の上に前記ギャップ層を形成する工程
    と、 前記ギャップ層の上に前記第2の磁性層を形成する工程
    と、 前記第1の磁性層と前記第2の磁性層の間に配置される
    ように前記薄膜コイルを形成する工程とを含み、 前記第1の磁性層を形成する工程と前記第2の磁性層を
    形成する工程の少なくとも一方は、複数の磁性材料層
    と、隣接する2つの磁性材料層の間に配置され、前記磁
    性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層とを有するヨー
    ク部分を形成すると共に、前記抵抗層を、前記ヨーク部
    分のうち、前記磁極部分との連結部の近傍および他の磁
    性層との連結部の近傍を除いた一部の領域に配置するこ
    とを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
  15. 【請求項15】 前記第1の磁性層を形成する工程と前
    記第2の磁性層を形成する工程の少なくとも一方は、前
    記抵抗層を、分割された複数の領域に配置することを特
    徴とする請求項14記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
  16. 【請求項16】 前記抵抗層は、絶縁材料によって形成
    されることを特徴とする請求項14または15記載の薄
    膜磁気ヘッドの製造方法。
  17. 【請求項17】 前記絶縁材料は、無機材料よりなるこ
    とを特徴とする請求項16記載の薄膜磁気ヘッドの製造
    方法。
  18. 【請求項18】 前記抵抗層は、前記無機材料よりなる
    層を反応性イオンエッチングによって選択的にエッチン
    グすることによって所定のパターンに形成されることを
    特徴とする請求項17記載の薄膜磁気ヘッドの製造方
    法。
  19. 【請求項19】 前記第1の磁性層を形成する工程は、
    前記薄膜コイルに対向する領域を含む領域に配置された
    第1の部分と、この第1の部分における前記薄膜コイル
    側の面に接続され、磁極部分を形成する第2の部分とを
    有する第1の磁性層を形成し、 前記薄膜コイルを形成する工程は、前記薄膜コイルの少
    なくとも一部を、前記第1の磁性層の第2の部分の側方
    に配置されるように形成し、 前記第2の磁性層を形成する工程は、前記第2の磁性層
    のヨーク部分を、前記複数の磁性材料層と前記抵抗層と
    を有するように形成することを特徴とする請求項14な
    いし18のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッドの製造方
    法。
  20. 【請求項20】 更に、磁気抵抗素子と、記録媒体に対
    向する側の一部が前記磁気抵抗素子を挟んで対向するよ
    うに配置され、前記磁気抵抗素子をシールドするための
    第1および第2のシールド層とを形成する工程を含むこ
    とを特徴とする請求項14ないし19のいずれかに記載
    の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
  21. 【請求項21】 前記第2のシールド層は、前記第1の
    磁性層を兼ねていることを特徴とする請求項20記載の
    薄膜磁気ヘッドの製造方法。
  22. 【請求項22】 磁気的に連結され、且つ記録媒体に対
    向する側の一部が記録ギャップ層を介して互いに対向す
    る磁極部分を含み、それぞれ少なくとも1つの層からな
    る第1および第2の磁性層と、この第1および第2の磁
    性層の間に、この第1および第2の磁性層に対して絶縁
    された状態で配設された薄膜コイルとを有する誘導型磁
    気変換素子を備え、 前記第1および第2の磁性層は、それぞれ、前記薄膜コ
    イルに対向する領域を含む領域に配置されると共に前記
    磁極部分に連結されたヨーク部分を有する薄膜磁気ヘッ
    ドの製造方法であって、 前記第1の磁性層を形成する工程と、 前記第1の磁性層の上に前記ギャップ層を形成する工程
    と、 前記ギャップ層の上に前記第2の磁性層を形成する工程
    と、 前記第1の磁性層と前記第2の磁性層の間に配置される
    ように前記薄膜コイルを形成する工程とを含み、 前記第1の磁性層を形成する工程と前記第2の磁性層を
    形成する工程の少なくとも一方は、複数の磁性材料層
    と、隣接する2つの磁性材料層の間に配置され、前記磁
    性材料層よりも電気抵抗の大きい抵抗層とを有するヨー
    ク部分を形成すると共に、前記抵抗層を、分割された複
    数の領域に配置することを特徴とする薄膜磁気ヘッドの
    製造方法。
  23. 【請求項23】 前記抵抗層は、絶縁材料によって形成
    されることを特徴とする請求項22記載の薄膜磁気ヘッ
    ドの製造方法。
  24. 【請求項24】 前記絶縁材料は、無機材料よりなるこ
    とを特徴とする請求項23記載の薄膜磁気ヘッドの製造
    方法。
  25. 【請求項25】 前記抵抗層は、前記無機材料よりなる
    層を反応性イオンエッチングによって選択的にエッチン
    グすることによって所定のパターンに形成されることを
    特徴とする請求項24記載の薄膜磁気ヘッドの製造方
    法。
  26. 【請求項26】 前記第1の磁性層を形成する工程は、
    前記薄膜コイルに対向する領域を含む領域に配置された
    第1の部分と、この第1の部分における前記薄膜コイル
    側の面に接続され、磁極部分を形成する第2の部分とを
    有する第1の磁性層を形成し、 前記薄膜コイルを形成する工程は、前記薄膜コイルの少
    なくとも一部を、前記第1の磁性層の第2の部分の側方
    に配置されるように形成し、 前記第2の磁性層を形成する工程は、前記第2の磁性層
    のヨーク部分を、前記複数の磁性材料層と前記抵抗層と
    を有するように形成することを特徴とする請求項22な
    いし25のいずれかに記載の薄膜磁気ヘッドの製造方
    法。
  27. 【請求項27】 更に、磁気抵抗素子と、記録媒体に対
    向する側の一部が前記磁気抵抗素子を挟んで対向するよ
    うに配置され、前記磁気抵抗素子をシールドするための
    第1および第2のシールド層とを形成する工程を含むこ
    とを特徴とする請求項22ないし26のいずれかに記載
    の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
  28. 【請求項28】 前記第2のシールド層は、前記第1の
    磁性層を兼ねていることを特徴とする請求項27記載の
    薄膜磁気ヘッドの製造方法。
JP10107899A 1999-04-08 1999-04-08 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 Expired - Fee Related JP3805922B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10107899A JP3805922B2 (ja) 1999-04-08 1999-04-08 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
US09/532,518 US6490126B1 (en) 1999-04-08 2000-03-21 Thin-film magnetic head having a magnetic layer including stacked magnetic material layers and a resistance layer and method of manufacturing same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10107899A JP3805922B2 (ja) 1999-04-08 1999-04-08 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004129223A Division JP2004247045A (ja) 2004-04-26 2004-04-26 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000293816A true JP2000293816A (ja) 2000-10-20
JP3805922B2 JP3805922B2 (ja) 2006-08-09

Family

ID=14291076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10107899A Expired - Fee Related JP3805922B2 (ja) 1999-04-08 1999-04-08 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6490126B1 (ja)
JP (1) JP3805922B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3379701B2 (ja) * 1999-12-27 2003-02-24 ティーディーケイ株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3587375B2 (ja) * 2000-09-19 2004-11-10 Tdk株式会社 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
US6678117B2 (en) * 2001-06-18 2004-01-13 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Magnetic transducer with bilayer pole piece structure with improved milling endpoint detection
KR100590531B1 (ko) * 2003-12-19 2006-06-15 삼성전자주식회사 수직 자기 기록을 위한 자기 헤드
JP2008034075A (ja) * 2006-07-04 2008-02-14 Tdk Corp 内部に非磁性層を含む磁性層を備えた薄膜磁気ヘッド

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6035315A (ja) 1983-08-04 1985-02-23 Nec Corp 薄膜磁気ヘッド
JPH073685B2 (ja) * 1989-03-20 1995-01-18 ヤマハ株式会社 薄膜磁気ヘッド
EP0580027A2 (en) * 1992-07-20 1994-01-26 Read-Rite Corporation Thin film magnetic head
JPH06139521A (ja) 1992-10-29 1994-05-20 Victor Co Of Japan Ltd 薄膜磁気ヘッド
JPH06243427A (ja) * 1992-12-25 1994-09-02 Sanyo Electric Co Ltd 薄膜磁気ヘッド
JPH1139610A (ja) 1997-07-11 1999-02-12 Hitachi Ltd 薄膜磁気ヘッド及びそれを用いた磁気記録装置
US6259583B1 (en) * 1998-09-16 2001-07-10 International Business Machines, Corporation Laminated yoke head with a domain control element

Also Published As

Publication number Publication date
US6490126B1 (en) 2002-12-03
JP3805922B2 (ja) 2006-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001084535A (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法および磁気抵抗効果装置の製造方法
JP3583649B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法ならびに磁気抵抗効果装置
JP3859398B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2000311311A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2001060307A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3522595B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3856587B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2000149219A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3560872B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3588287B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2000357307A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2001034911A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3805922B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3362034B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP3553393B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JP3421635B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2000182215A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2001167408A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2000155915A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP2001093113A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
US6598289B1 (en) Method of manufacturing thin-film magnetic head
JP3490643B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JP2002008207A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法
JP4010702B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JP2002008208A (ja) 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031222

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040224

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20040326

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040422

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20040524

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20040611

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060511

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees