JP2000295864A - 電力変換装置 - Google Patents
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Abstract
に、低インダクタンス化と組立作業性の改善とMTTR
の短縮を図る。 【解決手段】 本発明は、密着導体は2層構成となっ
ており、第1層にP相導体12aとN相導体12bを平
行に配置し、P相導体12aとN相導体12bの間にA
C相導体12cを隣接するように配置し、第1層の導体
に絶縁物13を挟んで密着させて配置した第2層に、P
相導体12aと重なるようにPC相導体12eを配置
し、N相導体12bと重なるようにNC相導体12fを
配置して一体化させた構成とし、P相導体12a,N相
導体12a,PC相導体12e,NC相導体12fと重
なるようにC相導体12dを配置し、P相導体12aの
端子部15及びN相導体12aの端子部15にて平滑コ
ンデンサ10と接続し、AC相導体12cの端子部16
から出力する。
Description
体及び冷却構造に関する。
と、インバータ回路を構成するスイッチング素子と、こ
れらの要素を接続する導体とから構成されており、スイ
ッチング素子を動作させて電力変換を行っているが、ス
イッチング素子の動作時に、インバータ回路を接続する
導体のインダクタンスの影響で、スイッチング素子の端
子間にサージ電圧が発生するが、これを低減させるため
に、接続導体のインダクタンスを低減する必要があり、
これを実現する方法として、導体を流れる電流が互いに
うち消し合うように密着させて配置する導体構成がとら
れている。
装置(以下、NPC電力変換装置という)について、図
面を用いて説明する。従来のNPC電力変換装置は、図
7に示すように、平滑コンデンサ1と、インバータ回路
を構成するスイッチング素子2a〜2dと、クランプダ
イオード2e,2fと、それらを接続するP相導体3
a,N相導体3b,AC相導体3c,C相導体3d,P
C相導体3e,NC相導体3fから構成されている。
P相導体3aと、P相導体に絶縁物4を挟んで密着さ
せ、重なるように配置したPC導体3eと、これと隣接
するように配置したAC相導体3cと、これと隣接する
ように配置したNC相導体3fと、このNC相導体3f
に絶縁物4aを挟んで密着させ、重なるようにN相導体
3bが配置されていた。
なるようにスイッチング素子2aが配置され、PC相導
体3eとAC相導体3cに重なるようにスイッチング素
子2bが配置され、AC相導体3cとNC相導体3fに
重なるようにスイッチング素子2cが配置され、NC相
導体3fとN相導体3bに重なるようにスイッチング素
子2dが配置されていた。
においては、スイッチング素子2a〜2dをオンオフさ
せ、負荷へ所望の電力を供給する。尚、通電モードとし
ては、出力電圧がP相、C相、N相の場合の3種類があ
る。
て説明する。P相電圧時の通電経路は、図7の矢印Aに
示すように、直流電源からP相導体3a→スイッチング
素子2a→PC相導体3e→スイッチング素子2c→A
C相導体3cの経路となっている。
印Bに示すように、電源から負荷への通電経路は、直流
電源からC相導体3d→クランプダイオード2e→PC
相導体3e→スイッチング素子2c→AC相導体3cの
経路であり、負荷から電源への通電経路は、AC相導体
3cから→スイッチング素子2c→PC相導体3e→ク
ランプダイオード2e→C相導体3d→直流電源となっ
ている。
印Cに示すように、直流電源からN相導体3b→スイッ
チング素子2b→NC相導体3f→スイッチング素子2
d→AC相導体3cの経路となっている。
作にて電流通電経路が変わると、配線インダクタンスの
影響によりスイッチング素子にサージ電圧が加わり、こ
れがスイッチング素子及びクランプダイオードの耐量を
こえると破壊されるため、P相導体3a,N相導体3
b,AC相導体3c,C相導体3d,PC相導体3e,
NC相導体3fを密着させた構成とすることにより、イ
ンダクタンスを低減させてサージ電圧を抑制している。
ッチング素子及びクランプダイオードを並列接続してお
り、各スイッチング素子間の電流値を均等化させるため
に、各スイッチング素子間を接続している導体の抵抗及
びインダクタンスを低減させるために密着積層導体の構
成としている。
ンス化のための密着導体構成としては、各相を構成する
すべての導体をまとめて密着することが最も効果的であ
るが、密着導体の積層数が6層となり、中間層に配置さ
れる導体の放熱性が悪化するために導体の通電容量確保
の目的で導体サイズの拡大が必要となっている。これを
避けるために従来の装置では、部分的に密着導体を用い
ていた。
体のみが密着構成となっており、その他の導体は密着さ
れていないため、インダクタンスを低減できなかった。
また、万一、スイッチング素子及びクランプダイオード
が破損した場合は、密着導体を取り外してから素子交換
を行った後に復旧作業をするが、ここで従来の装置で
は、複数の密着導体より構成されていたために、取り付
け間違いをする可能性があり、これを回避するために密
着導体の用品確認の作業が必要であり、MTTRを長引
かせる要因となっていた。
を配置する構成とすることにより、積層数を減少させて
放熱性を改善し、さらに、導体を一体化することにより
低インダクタンス化と組立作業性の改善とMTTRの短
縮を図った電力変換装置を提供することを目的とする。
に、請求項1に記載の発明は、直流電源に接続された平
滑コンデンサと、この平滑コンデンサの正極電位と負極
電位との間に直列に接続される第1乃至第4のスイッチ
ング素子と、この第2と第3のスイッチング素子と上記
平滑コンデンサの中性点との間に接続された第1のダイ
オードと、上記第3と第4のスイッチング素子と上記平
滑コンデンサの中性点の間に接続された第2のダイオー
ドと、上記平滑コンデンサの正極電位と上記第1のスイ
ッチング素子とを接続するP相導体と、上記平滑コンデ
ンサの負極電位と上記第4のスイッチング素子とを接続
するN相導体と、上記第2と第3のスイッチング素子の
接続点から交流出力として導出されるAC相導体と、上
記第1と第2のスイッチング素子の接続点と上記第1の
ダイオードとを接続するPC相導体と、上記第3と第4
のスイッチング素子の接続点と上記第2のダイオードと
を接続するNC相導体とを備えている。
とを同一平面状に配置し第1層を形成し、上記P相導体
と上記N相導体と上記AC相導体とを同一平面状に配置
し第2層を形成し、上記PC相導体が上記P相導体及び
上記AC相導体の少なくとも一部と重なり上記NC相導
体が上記N相導体及び上記AC相導体の少なくとも一部
と重なるように各々配置されている。
前記第2層との間に絶縁層を形成したことを特徴とす
る。更に、請求項3に記載の発明は、上記第1層と上記
第1及び第2のダイオードとの間に上記平滑コンデンサ
の中性点電位と上記第1及び第2のダイオードとを接続
するC相導体を第3層として形成したことを特徴とす
る。
第1層と上記第2層の間に、C相導体を第3層として形
成し、上記第1層と上記第3層の間と上記第2層と上記
第3層の間に絶縁層を形成したことを特徴とする。
に接続された平滑コンデンサと、この平滑コンデンサの
正極電位と負極電位との間に直列に接続される第1乃至
第4のスイッチング素子と、この第2と第3のスイッチ
ング素子と上記平滑コンデンサの中性点との間に接続さ
れた第1のダイオードと、上記第3と第4のスイッチン
グ素子と上記平滑コンデンサの中性点の間に接続された
第2のダイオードと、上記平滑コンデンサの正極電位と
上記第1のスイッチング素子とを接続するP相導体と、
上記平滑コンデンサの負極電位と上記第4のスイッチン
グ素子とを接続するN相導体と、上記第2と第3のスイ
ッチング素子の接続点から交流出力として導出されるA
C相導体と、上記第1と第2のスイッチング素子の接続
点と上記第1のダイオードとを接続するPC相導体と、
上記第3と第4のスイッチング素子の接続点と上記第2
のダイオードとを接続するNC相導体と、上記平滑コン
デンサの中性点電位と上記第1及び第2のダイオードと
を接続するC相導体とを備えている。
を同一平面状に配置し第1層を形成し、上記AC相導体
と上記C相導体とを同一平面状に配置し第2層を形成
し、上記NC相導体と上記N相導体とを同一平面状に配
置し第3層を形成し、上記C相導体は少なくとも上記P
相導体及び上記N相導体と重なるように配置され、上記
AC相導体は少なくとも上記PC相導体及び上記NC相
導体と重なるように配置されたことを特徴とする。
層と上記第2層との間と上記第2層と上記第3層との間
とに絶縁層を各々形成したことを特徴とする。また、請
求項7に記載の発明は、上記第1乃至第4のスイッチン
グ素子を直列接続し1相分のスイッチング素子群を形成
し、当該1相分のスイッチング素子群と直角となる方向
に、他相分の第1乃至第4のスイッチング素子を並列接
続し、上記各導体で上記第1乃至第4のスイッチング素
子を接続したことを特徴とする。
ング素子及びダイオードを冷却する冷却器を設け、この
冷却器の両面に、上記スイッチング素子及び上記ダイオ
ードを配置し、互いに並列接続したことを特徴とする。
器は受熱部と放熱部とから構成され、上記各導体の冷却
経路と上記冷却器の放熱部の冷却経路を同一経路として
形成すると共に、上記各導体の冷却経路の下流側に上記
冷却器の放熱部を配置することを特徴とした。
て、図面を用いて説明する。
の形態について、図1を用いて説明する。図1に示すよ
うに、本実施の形態は、密着導体が2層構成となってお
り、第1層にP相導体12aとN相導体12bを平行に
同一平面状に配置し、P相導体12aとN相導体12b
の間にAC相導体12cを隣接するように同一平面状に
配置し、第1層の導体に絶縁物13を挟んで密着させて
配置した第2層に、P相導体12aと重なるようにPC
相導体12eを配置し、N相導体12bと重なるように
NC相導体12fを配置して一体化させた構成とし、P
相導体12a,N相導体12a,PC相導体12e,N
C相導体12fと重なるようにC相導体12dを配置
し、P相導体12aの端子部15及びN相導体12aの
端子部15にて平滑コンデンサ10と接続し、AC相導
体12cの端子部16から出力する。
体12aとPC相導体12eに重なるように第1のスイ
ッチング素子11aを配置し、N相導体12bとNC相
導体12fに重なるように第4のスイッチング素子11
bを配置し、PC相導体12eとAC相導体12cに重
なるように第2のスイッチング素子11cを配置し、N
C相導体12fとAC相導体12cに重なるように第3
のスイッチング素子11dを配置し、C相導体12dと
PC相導体12eに重なるように第1のクランプダイオ
ード11eを配置し、C相導体12dとNC相導体12
fに重なるように第2のクランプダイオード11fを配
置し、各スイッチング素子の端子とそれぞれの導体を導
電性のボス14にて接続する構成とする。
経路は、プラス、ゼロ、マイナスの3モードがある。プ
ラスモードの通電経路は、図1の矢印Aに示すように、
P相導体12aから第1のスイッチング素子11aを経
由して、PC相導体12eから第2のスイッチング素子
11cを通り、AC相導体12cから出力される。この
ため、図1のA1とA2,A3,A4で通電経路が反転
しているため、互いにうち消し合うような通電経路とな
っている。マイナスモードも通電経路は、プラスモード
と対称の経路を通電するため、プラスモードと同様なう
ち消し合う通電経路となっている。
導体で構成でき、かつ、密着導体の積層数を2層にでき
るので、放熱性の改善を図れる。更に、導体がうち消し
合うような通電経路の構成となっているため、インダク
タンスの低減を図れる。また、万一、スイッチング素子
及びクランプダイオードが破損した場合は、前述した一
体構成の密着導体であるため、スイッチング素子及びク
ランプダイオードの電極部の接続ネジを脱着するのみ
で、対称となるスイッチング素子及びクランプダイオー
ドを交換可能となり、更に、密着導体が一体構成である
ため、取り付け間違いもなく、大幅なMTTRの短縮を
可能とする。
の形態について、図2を用いて説明する。図2に示すよ
うに、密着導体は3層構成となっており、第1層にP相
導体12aとAC相導体12cとN相導体12bを平行
に配置し、第1層の導体に絶縁物13を挟んで密着させ
て配置した第2層にC相導体12dを配置し、第2層の
導体に絶縁物13aを挟んで密着させて配置した第3層
にPC相導体12eとNC相導体12fを平行に配置し
て一体化した構成とする。
導体12aの端子部15及びC相導体12dの端子部1
5にて平滑コンデンサ10と接続し、AC相導体12c
の端子部42から出力する。
体12aとPC相導体12eに重なるようにスイッチン
グ素子11aを配置し、N相導体12bとNC相導体1
2fに重なるようにスイッチング素子11bを配置し、
PC相導体12eとAC相導体12cに重なるようにス
イッチング素子11cを配置し、NC相導体12fとA
C相導体12cに重なるようにスイッチング素子11d
を配置し、C相導体12dとPC相導体12eに重なる
ようにスイッチング素子11eを配置し、C相導体12
dとNC相導体12fに重なるようにスイッチング素子
11fを配置し、それぞれの導体とスイッチング素子の
端子を導電性のボス14にて接続する構成とする。
導体で構成でき、かつ、密着導体の積層数を3層にで
き、更に通電量が最も小さいために発熱量の少ないC相
導体を中間層とする事により、放熱性を改善できる。ま
た、インバータ回路の接続導体のすべてを、一体化した
密着導体で構成できるため、組立性の改善を図れる。
ンプダイオードが破損した場合は、前述した一体構成の
密着導体であるため、スイッチング素子及びクランプグ
イオードの電極部の接続ネジを脱着するのみで、対称と
なるスイッチング素子及びクランプダイオードを交換可
能となり、さらに、密着導体が一体構成であるため、取
付け間違いもなく、大幅なMTTRの短縮を可能とす
る。
の形態について、図3を用いて説明する。図3に示すよ
うに、本実施の形態は、密着導体は3層で構成されてお
り、第1層にP相導体12aと、これと隣接するように
PC相導体12eを配置し、第1層導体に絶縁物13を
挟んで密着させて配置した第2層に、P相導体12aと
PC相導体12eと重なるように、C相導体12dを配
置し、これと隣接する位置にPC相導体12eと重なる
ようにAC相導体12cを配置し、第2層導体に絶縁物
13aを挟んで密着させて配置した第3層に、P相導体
12a及びC相導体12dと重なるようにN相導体12
bを配置する。
2cと重なるように、NC相導体12fを配置した構成
とする。また更に、スイッチング素子の配置は、P相導
体12aとPC相導体12eに重なるようにスイッチン
グ素子11aを配置し、N相導体12bとNC相導体1
2fに重なるようにスイッチング素子11bを配置し、
PC相導体12eとAC相導体12cに重なるようにス
イッチング素子11cを配置し、NC相導体12fとA
C相導体12cに重なるようにスイッチング素子11d
を配置し、C相導体12dとPC相導体12eに重なる
ようにスイッチング素子11eを配置し、C相導体12
dとNC相導体12fに重なるようにスイッチング素子
11fを配置し、それぞれの導体とスイッチング素子の
端子を導電性のボス14にて接続する構成とする。
層構成となるため、表面側に配置される導体は片面から
放熱できるので放熱性を確保できる。更に、通電量の少
ないC相導体を放熱性の悪い中間層に配置することによ
り温度上昇を抑制できる。また、インバータ回路の接続
導体のすべてを、一体化した密着導体で構成できるた
め、組立性の改善を図れる。その上、更に、密着導体の
入力端子が、P相導体とC相導体とN相導体と密着され
ているため、平滑コンデンサとスイッチング素子及びク
ランプダイオードの接続を密着導体にて接続できるため
インダクタンスの低減を図る。
ンプダイオードが破損した場合は、前述した一体構成の
密着導体であるため、スイッチング素子及びクランプダ
イオードの電極部の接続ネジを脱着するのみで、対称と
なるスイッチング素子及びクランプダイオードを交換可
能となり、更に、密着導体が一体構成であるため、取り
付け間違いもなく、大幅なMTTRの短縮を可能とす
る。
の形態について、図4を用いて説明する。図4に示すよ
うに、本実施の形態は、密着導体が2層構成となってお
り、第1層にP相導体12aとN相導体12bを平行に
配置し、上記P相導体12aとN相導体12bの間にA
C相導体12cを隣接するように配置し、第1層の導体
に絶縁物13を挟んで密着させて配置した第2層に、上
記P相導体12aと重なるようにPC相導体12eを配
置し、上記N相導体12bと重なるようにNC相導体1
2fを配置して一体化させた構成とし、上記P相導体1
2a,N相導体12a,PC相導体12e,NC相導体
12fと重なるようにC相導体12dを配置する。
体12aとPC相導体12eに重なるように第1のスイ
ッチング素子11aを配置しN相導体12bとNC相導
体12fに重なるように第4のスイッチング素子11b
を配置し、PC相導体12eとAC相導体12cに重な
るように第2のスイッチング素子11cを配置し、NC
相導体12fとAC相導体12cに重なるように第3の
スイッチング素子11dを配置し、C相導体12dとP
C相導体12eに重なるように第1のクランプダイオー
ド11eを配置し、C相導体12dとNC相導体12f
に重なるように第2のクランプダイオード11fを配置
する。
続(本実施例では4並列接続)は、上記第1〜第4のス
イッチング素子の直列接続方向と直角となる方向に行
い、P相導体12aの端子部15及びN相導体12aの
端子部15にて平滑コンデンサ10と接続し、AC相導
体12cの端子部16から出力する。尚、各スイッチン
グ素子の端子とそれぞれの導体を導電性のボス14にて
接続する構成とする。
導体で構成でき、かつ、密着導体の積層数を2層にでき
るので放熱性の改善を図れ、更に、第1の実施の形態に
おける通電経路と同様に、互いの導体がうち消し合うよ
うな通電経路の構成となっているため、インダクタンス
の低減を図れる。その上、並列接続されたスイッチング
素子間の接続は、表面積の広い導体で接続され、かつ、
電流の出力は入力側と反対方向からとなるため、各スイ
ッチング素子間の電流は均等に分布される。
の形態について、図5を用いて説明する。図5に示すよ
うに、本実施の形態は、スイッチング素子11を冷却す
るための冷却器17の受熱部17aの両面にスイッチン
グ素子11を取り付け、スイッチング素子端子に密着導
体12を取付け、上記密着導体の端子15から導体を引
き出して一括にまとめた後、平滑コンデンサ10に接続
し、また、密着導体の出力端子16から導体を引き出し
て一括にまとめた後、負荷へ出力する構成とする。この
構成とすることにより、冷却器の両面にインバータ回路
を実装できるため装置の小型化が達成できる。
の形態について、図6を用いて説明する。図6に示すよ
うに、本実施の形態は、スイッチング素子11を冷却す
るための冷却器17の受熱部17aに、スイッチング素
子11を取り付け、スイッチング素子11の端子に密着
導体12を取付け、密着導体12と上記冷却器の放熱部
17bを同一の冷却風経路で、かつ、密着導体12より
も排気側に冷却器の放熱部17bを配置する。
却した冷却風と、冷却器の冷却風を共有できるため、装
置に必要な冷却風量の削減により装置冷却用ファンを小
型化し、装置の小型化を達成できる。
回路の接続に用いる密着導体を、積層数を2〜3層で一
体化できるため、放熱性及び組立性を改善した上でイン
ダクタンスの低減を達成できる。また、NPC主回路を
一体化した密着導体にて構成できるため、万一のスイッ
チング素子交換時にMTTRを短縮できる。
回路を示す結線図。
を示す組立図。
電流通電経路、C…電圧がC相時の電流通電経路、10
…平滑コンデンサ、11a…P相側スイッチング素子、
11b…N相側スイッチング素子、11c…P相−AC
相間スイッチング素子、11d…N相−AC相間スイッ
チング素子、11e…P相側クランプダイオード、11
f…N相側クランプダイオード、12a…P相導体、1
2b…N相導体、12c…AC相導体、12d…C相導
体、12e…PC相導体、12f…NC相導体、13、
13a…絶縁物 14…ボス 15、16…端子 17…冷却器、17a…冷却器の受熱部、17b…冷却
器の放熱部
Claims (9)
- 【請求項1】 直流電源に接続された平滑コンデンサ
と、この平滑コンデンサの正極電位と負極電位との間に
直列に接続される第1乃至第4のスイッチング素子と、
この第2と第3のスイッチング素子と前記平滑コンデン
サの中性点との間に接続された第1のダイオードと、前
記第3と第4のスイッチング素子と前記平滑コンデンサ
の中性点の間に接続された第2のダイオードと、前記平
滑コンデンサの正極電位と前記第1のスイッチング素子
とを接続するP相導体と、前記平滑コンデンサの負極電
位と前記第4のスイッチング素子とを接続するN相導体
と、前記第2と第3のスイッチング素子の接続点から交
流出力として導出されるAC相導体と、前記第1と第2
のスイッチング素子の接続点と前記第1のダイオードと
を接続するPC相導体と、前記第3と第4のスイッチン
グ素子の接続点と前記第2のダイオードとを接続するN
C相導体とを具備し、前記PC相導体と前記NC相導体
とを同一平面状に配置し第1層を形成し、前記P相導体
と前記N相導体と前記AC相導体とを同一平面状に配置
し第2層を形成し、前記PC相導体が前記P相導体及び
前記AC相導体の少なくとも一部と重なり前記NC相導
体が前記N相導体及び前記AC相導体の少なくとも一部
と重なるように各々配置したことを特徴とする電力変換
装置。 - 【請求項2】 前記第1層と前記第2層との間に絶縁
層を形成したことを特徴とする請求項1記載の電力変換
装置。 - 【請求項3】 前記第1層と前記第1及び第2のダイ
オードとの間に前記平滑コンデンサの中性点電位と前記
第1及び第2のダイオードとを接続するC相導体を第3
層として形成したことを特徴とする請求項1又は2に記
載の電力変換装置。 - 【請求項4】 前記第1層と前記第2層の間に、前記
C相導体を第3層として形成し、前記第1層と前記第3
層の間と前記第2層と前記第3層の間に絶縁層を形成し
たことを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。 - 【請求項5】 直流電源に接続された平滑コンデンサ
と、この平滑コンデンサの正極電位と負極電位との間に
直列に接続される第1乃至第4のスイッチング素子と、
この第2と第3のスイッチング素子と前記平滑コンデン
サの中性点との間に接続された第1のダイオードと、前
記第3と第4のスイッチング素子と前記平滑コンデンサ
の中性点の間に接続された第2のダイオードと、前記平
滑コンデンサの正極電位と前記第1のスイッチング素子
とを接続するP相導体と、前記平滑コンデンサの負極電
位と前記第4のスイッチング素子とを接続するN相導体
と、前記第2と第3のスイッチング素子の接続点から交
流出力として導出されるAC相導体と、前記第1と第2
のスイッチング素子の接続点と前記第1のダイオードと
を接続するPC相導体と、前記第3と第4のスイッチン
グ素子の接続点と前記第2のダイオードとを接続するN
C相導体と、前記平滑コンデンサの中性点電位と前記第
1及び第2のダイオードとを接続するC相導体とを具備
し、前記P相導体と前記PC相導体とを同一平面状に配
置し第1層を形成し、前記AC相導体と前記C相導体と
を同一平面状に配置し第2層を形成し、前記NC相導体
と前記N相導体とを同一平面状に配置し第3層を形成
し、前記C相導体は少なくとも前記P相導体及び前記N
相導体と重なるように配置され、前記AC相導体は少な
くとも前記PC相導体及び前記NC相導体と重なるよう
に配置されたことを特徴とする電力変換装置。 - 【請求項6】 前記第1層と前記第2層との間と前記
第2層と前記第3層との間とに絶縁層を各々形成したこ
とを特徴とする請求項5記載の電力変換装置。 - 【請求項7】 前記第1乃至第4のスイッチング素子
を直列接続し1相分のスイッチング素子群を形成し、当
該1相分のスイッチング素子群と直角となる方向に、他
相分の第1乃至第4のスイッチング素子を並列接続し、
前記各導体で前記第1乃至第4のスイッチング素子を接
続したことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記
載の電力変換装置。 - 【請求項8】 前記スイッチング素子及び前記ダイオ
ードを冷却する冷却器を設け、この冷却器の両面に、前
記スイッチング素子及び前記ダイオードを配置し、互い
に並列接続したことを特徴とする請求項1乃至7のいず
れかに記載の電力変換装置。 - 【請求項9】 前記冷却器は受熱部と放熱部とから構
成され、前記各導体の冷却経路と前記冷却器の放熱部の
冷却経路を同一経路として形成すると共に、前記各導体
の冷却経路の下流側に前記冷却器の放熱部を配置するこ
とを特徴とした請求項1乃至8のいずれかに記載の電力
変換装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP09716599A JP3614704B2 (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 電力変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09716599A JP3614704B2 (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 電力変換装置 |
Publications (2)
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|---|---|
| JP2000295864A true JP2000295864A (ja) | 2000-10-20 |
| JP3614704B2 JP3614704B2 (ja) | 2005-01-26 |
Family
ID=14184972
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP09716599A Expired - Lifetime JP3614704B2 (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 電力変換装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3614704B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005348529A (ja) * | 2004-06-03 | 2005-12-15 | Toshiba Corp | インバータ装置 |
| JP2007068302A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Toshiba Corp | 電力用半導体素子及び半導体電力変換装置 |
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| JP2015156799A (ja) * | 2015-04-23 | 2015-08-27 | 株式会社東芝 | 電力変換装置 |
| WO2015159751A1 (ja) * | 2014-04-14 | 2015-10-22 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
-
1999
- 1999-04-05 JP JP09716599A patent/JP3614704B2/ja not_active Expired - Lifetime
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|---|---|---|---|---|
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| JP2013048507A (ja) * | 2011-08-29 | 2013-03-07 | Toshiba Corp | 電力変換装置 |
| WO2015159751A1 (ja) * | 2014-04-14 | 2015-10-22 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
| US10187973B2 (en) | 2014-04-14 | 2019-01-22 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US10398023B2 (en) | 2014-04-14 | 2019-08-27 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
| JP2015156799A (ja) * | 2015-04-23 | 2015-08-27 | 株式会社東芝 | 電力変換装置 |
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|---|---|
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