JP2000298059A - 受光器および光測定装置 - Google Patents

受光器および光測定装置

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JP2000298059A
JP2000298059A JP11108059A JP10805999A JP2000298059A JP 2000298059 A JP2000298059 A JP 2000298059A JP 11108059 A JP11108059 A JP 11108059A JP 10805999 A JP10805999 A JP 10805999A JP 2000298059 A JP2000298059 A JP 2000298059A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光源からの任意の位置におけるビームパター
ンの測定を高精度で行える受光器およびこれを備えた光
測定装置を提供すること。 【解決手段】 被測定光のビームパターンを光電変換部
20を用いて計測する光測定装置用の受光器2におい
て、被測定光が内部を通過可能であると共に被測定光の
入射によってビームパターンに応じた投影像が形成され
る入射板8と、入射板8を通過した通過光のうち少なく
とも主光線Lが入射可能な第1のレンズ12および当該
第1のレンズ12を通過した通過光を光電変換部20に
入射させる第2のレンズ18を有すると共に、投影像を
拡大または縮小させるズーム部10と、を備えることを
特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定光のビーム
パターンを計測するための受光器およびこれを備えた光
測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、光源から出力された被測定光
の放射分布、強度分布などを測定する光測定装置の例と
して、たとえば特公平3−4858号公報に掲載された
二次元配光分布測定装置が知られている。この二次元配
光分布測定装置では、被測定光源から出射された光束は
コリメータレンズ系によってその出射角度に対応した位
置に集光され、これを各光束について行うことにより、
各光束の出射方向の強度に比例した二次元強度分布を示
す空中像が形成される。そして、この空中像を撮像装置
で撮像することにより、被測定光の二次元配光分布を知
ることができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記特公平3
−4858号公報に掲載された二次元配光分布測定装置
には、次のような問題があった。すなわち、上記測定装
置においては、被測定光の角度に応じた強度分布を位置
情報に置き換えて測定するため、光源からの任意の位置
(距離)におけるビームパターンの測定ができなかっ
た。
【0004】また、ビームパターンの測定精度を高める
には、被測定光を適切なサイズで漏れの無いようにCC
Dなどの光電変換部に入射させる必要があるが、上記公
報に記載された装置においては、ビームパターンの測定
精度を高めるための工夫は何らなされていなかった。
【0005】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、光源からの任意の位置におけるビームパター
ンの測定を高精度で行える受光器およびこれを備えた光
測定装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の受光器は、被測定光のビームパターンを光
電変換部を用いて計測する光測定装置用の受光器におい
て、被測定光が内部を通過可能であると共に被測定光の
入射によってビームパターンに応じた投影像が形成され
る入射板と、入射板を通過した通過光のうち少なくとも
主光線が入射可能な第1のレンズおよび当該第1のレン
ズを通過した通過光を光電変換部に入射させる第2のレ
ンズを有すると共に投影像を拡大または縮小させるズー
ム部と、を備えることを特徴とする。
【0007】本発明に係る受光器によれば、入射板に入
射した被測定光は、ズーム部の第1のレンズを通過した
後、第2のレンズより出力される。このとき、入射板に
は、被測定光のビームパターンに応じた投影像が形成さ
れる。そして、第2のレンズからの出力光をたとえばC
CDなどの光電変換部で撮像することで、入射板の配置
位置における被測定光のビームパターンを計測すること
ができる。また、入射板を通過した通過光の主光線は全
て第1のレンズに入射するため、入射板上のビームパタ
ーンを漏れなく計測することができる。さらに、ズーム
部により、入射板上のビームパターンに応じた投影像を
拡大または縮小して第2のレンズより出力させることが
できるため、投影像の大きさをCCDなどの撮像装置の
検出サイズに合わせることができる。
【0008】また、入射板は、光ファイバが複数本束ね
られて成るファイバ光学部品であることが望ましい。こ
のように、いわゆるファイバオプティカルプレート(F
OP)などのファイバ光学部品を入射板として用いるこ
とにより、各光ファイバを通過した通過光の主光線の方
向を略同一にすることができる。このため、入射板の中
心部分のビームパターンのみならず、入射板の周辺部分
のビームパターンも正確に測定することができる。
【0009】さらに、入射板は、第1のレンズ側に通過
光の主光線を第1のレンズの中心軸方向に傾ける傾光部
を有することが望ましい。このような構成を採用した場
合、傾光部によって入射板の周辺部分の通過光が第1の
レンズの中心軸方向に傾けられるため、第1のレンズの
寸法を小さくしても当該通過光の主光線が当該第1のレ
ンズに入射することができる。
【0010】また、ズーム部は、被測定光が通過可能な
開口を有すると共に開口の大きさを調節可能な絞りを有
することが望ましい。このような絞りの開口の大きさを
調節することにより、ズーム部からの出射光の光量を調
整することができる。
【0011】本発明の光測定装置は、上述の受光器と、
第2のレンズを通過した通過光を受光するとともに当該
通過光を電気信号に変換する光電変換部と、電気信号に
基づいてビームパターンを算出する算出手段と、を備え
ることを特徴とする。
【0012】本発明に係る光測定装置によれば、第2の
レンズを通過した通過光はCCDや光電子増倍管などの
光電変換部によって電気信号に変換され、さらに、算出
手段によって当該電気信号に基づいて被測定光の入射板
の配置位置におけるビームパターンが算出される。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る受光器および光測定装置の好適な実施形態につ
いて詳細に説明する。尚、同一要素には同一符号を用い
るものとし、重複する記載は省略する。
【0014】[第1実施形態]図1は、本実施形態の受
光器2を備えた光測定装置4の構成図である。光測定装
置4は、光源6から出力される被測定光のビームパター
ンを測定するものである。光測定装置4は、被測定光が
入射する際にビームパターンに応じた投影像が形成され
る拡散板(入射板)8と、拡散板8上のビームパターン
に応じた投影像を撮像するためのCCD(光電変換部)
20と、拡散板8を通過した通過光をCCD20の受光
面に入射させると共にズーム機能を有するズーム部10
と、CCD20からの信号に基づいてビームパターンの
算出を行う演算装置22と、演算装置22によって算出
されたビームパターンを表示するディスプレイ24と、
から構成されている。なお、拡散板8は、すりガラス、
乳白色板などによって形成することができる。また、受
光器2は、拡散板8およびズーム部10を有し、さらに
これらを収容する筐体を備えているが、当該筐体の図示
は省略する。
【0015】また、ズーム部10には、拡散板8からの
通過光が直接入射する入射レンズ(第1のレンズ)12
と、凸部が対向して設けられた二つの凸メニスカスレン
ズ14,15と、通過光をCCD20に入射させるリレ
ーレンズ(第2のレンズ)18と、凸メニスカスレンズ
15とリレーレンズ18の間に介在されると共に5枚の
レンズからなる接合レンズ17と、凸メニスカスレンズ
15と接合レンズ17との間を摺動自在に設けられたバ
リエータレンズ16と、が設けられている。ズーム部1
0は、バリエータレンズ16を摺動させることにより、
拡散板8上のビームパターンを拡大または縮小すること
ができる。なお、拡散板8から出射された拡散光(通過
光)のうちの少なくとも主光線Lは、全て入射レンズ1
2に入射できるように構成されている。
【0016】次に、図1を参照して、光測定装置4によ
るビームパターンの測定方法を説明する。
【0017】まず、光源6からの被測定光を受光器2の
拡散板8に入射させて、拡散板8上に被測定光のビーム
パターンを形成(投影)させる。そして、拡散板8を通
過した被測定光は、拡散光として入射レンズ12に入射
する。このとき、拡散光のうちの少なくとも主光線L
は、全て入射レンズ12に入射する。その後、入射レン
ズ12を通過した被測定光は、凸メニスカスレンズ1
4,15、バリエータレンズ16、および接合レンズ1
7を通過して、リレーレンズ18によってCCD20の
受光面上で結像させられる。すなわち、CCD20によ
って、拡散板8の配置位置における被測定光のビームパ
ターンが撮像される。
【0018】なお、バリエータレンズ16を摺動させる
ことで、拡散板8上のビームパターンに応じた投影像を
拡大または縮小してリレーレンズ18より出力させるこ
とができる。このため、ビームパターンに応じた投影像
の大きさをCCD20の受光面のサイズに合わせること
ができる。
【0019】CCD20の受光面上に結像された光は電
気信号に変換され、当該電気信号は演算装置22に送信
される。そして、演算装置22は、CCD20からの電
気信号に基づいて拡散板8の配置位置における被測定光
のビームパターンを算出する。このとき、拡散板8を通
過した拡散光のうちの少なくとも主光線Lは、全て入射
レンズ12に入射するため、演算装置22は、拡散板8
上のビームパターンを漏れなく算出することができる。
また、上述のように、ズーム部10によって拡散板8上
の投影像の大きさをCCD20の受光面のサイズに合わ
せることができるため、ビームパターンを高精度で測定
することができる。
【0020】また、演算装置22による算出されるビー
ムパターンの内容としては、被測定光の拡散板8の配置
位置における径(ビーム径)、被測定光の傾き、楕円率
などがある。ビーム径は、CCD20の受光面への被測
定光の入射面積に基づいて算出される。また、被測定光
の傾きは次のように算出する。まず、ビーム強度の最大
値の2分の1以上の輝度を有する領域の重心位置を算出
して、光学系の中心位置のズレを求める。そして、この
中心位置のズレと、光源6と拡散板8の距離の関係とに
基づいて被測定光の傾きを算出する。さらに、ビームの
楕円率は次のように算出する。まず、輝度の最も高い箇
所を通る直線を定め、その直線まわりの慣性モーメント
が最小となるような直線(慣性主軸)を求める。そし
て、これらの直線によって定まる慣性等価楕円から楕円
の長短径比を算出する。
【0021】演算装置22は、被測定光のビームパター
ンを算出した後、算出結果をディスプレイ24に表示さ
せる。このとき、演算装置22は、ディスプレイ24
に、図2(a)に示すように被測定光の3次元画像26
を表示させたり、図2(b)に示すように2次元画像2
8を表示させることもできる。図2(a)に示す3次元
画像26のZ方向は、拡散板8の配置位置における被測
定光の光量すなわち強度を示しており、図2(b)に示
す2次元画像28は、光強度の等しい部分を繋いだいわ
ゆる等高線表示となっている。
【0022】[第2実施形態]次に、図3を用いて、本
発明に係る受光器および光測定装置の第2実施形態につ
いて説明する。本実施形態が第1実施形態と異なるの
は、受光器2において、被測定光の入射板として拡散板
8の代わりに光ファイバ31が複数本束ねられて成るフ
ァイバオプティカルプレート(FOP)30を用いた点
である。このように、FOP30を入射板として用いる
ことにより、各光ファイバ31を通過した通過光の主光
線Lの方向を略同一にすることができる。このため、本
実施形態の光測定装置4によれば、FOP30の中心部
分のビームパターンのみならず、FOP30の周辺部分
のビームパターンも正確に測定することができる。ま
た、主光線Lの方向が略同一になることから、入射レン
ズ12のレンズ径を小さくしても主光線Lを当該入射レ
ンズ12に入射させることができる。このため、入射レ
ンズ12およびこれを収容する受光器2の小型化を図る
ことができる。
【0023】[第3実施形態]次に、図4を用いて、本
発明に係る受光器および光測定装置の第3実施形態を説
明する。本実施形態が第2実施形態と異なるのは、受光
器2の入射板の構造および配列されたレンズの枚数であ
る。入射板であるFOP30とリレーレンズ18との間
には、入射レンズ34、バリエータレンズ36、および
接合レンズ17がFOP30側から順に配置されてい
る。なお、バリエータレンズ36は4枚のレンズから成
り、入射レンズ34と接合レンズ17との間で摺動可能
である。
【0024】また、FOP30の光出射面(図4におけ
る右側)には、複数の傾光部35を有するフレネルレン
ズ33が取り付けられている。このフレネルレンズ33
の各傾光部35によって、FOP30の各光ファイバ3
1から出射された被測定光の主光線Lは、入射レンズ3
4の中心軸Xの方向に傾けられる。このため、たとえ入
射レンズ34の径を小さくしても主光線Lが当該入射レ
ンズ34に入射することができ、受光器2のより一層の
小型化を図ることができる。
【0025】[第4実施形態]次に、図5を用いて、本
発明に係る受光器および光測定装置の第4実施形態を説
明する。本実施形態が第3実施形態と異なるのは、FO
P30の形状である。本実施形態では、主光線Lを入射
レンズ34の中心軸Xの方向に傾けるためにFOP30
にフレネルレンズ33を取り付けるのではなく、光出射
面が凸状に湾曲したFOP40を用いている。このよう
なFOP40を用いても、各主光線Lを入射レンズ34
の中心軸X方向に集光させることができ、ひいては受光
器2の小型化を図ることができる。
【0026】[第5実施形態]次に、図6を用いて、本
発明に係る受光器および光測定装置の第5実施形態を説
明する。本実施形態の特徴は、ズーム部10内の接合レ
ンズ17に円形の開口42を有する絞り44が設けられ
ている点である。また、開口42の大きさは、図示を省
略する機構によって調節することができる。そして、開
口42の大きさを調節することにより、ズーム部10か
らの出射光量を調整することができる。さらに、FOP
30を通過した被測定光の光束径、形状、および位置
は、絞り44の開口42で一致させられている。このた
め、開口42の大きさを調整しても被測定光の光束の立
体角は変わらず、FOP30の配置位置における被測定
光のビームパターンを正確に測定することができる。
【0027】以上、本発明者によってなされた発明を実
施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記各実
施形態に限定されるものではない。例えば、ズーム部を
構成するレンズの配置方法は上述のものに限られず、こ
の他種々の方法を採用することができる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入射板に、被測定光のビームパターンに応じた投影像が
形成される。そして、第2のレンズからの出力光をたと
えばCCDなどの光電変換部で撮像することで、入射板
の配置位置における被測定光のビームパターンを計測す
ることができる。また、入射板を通過した通過光の主光
線は全て第1のレンズに入射するため、入射板上のビー
ムパターンを漏れなく計測することができる。さらに、
ズーム部により、入射板上のビームパターンに応じた投
影像を拡大または縮小して第2のレンズより出力させる
ことができるため、投影像の大きさをCCDなどの撮像
装置の検出サイズに合わせることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施形態の受光器および光測定装置を示す
図である。
【図2】図2(a)は、ディスプレイに被測定光の3次
元画像を表示させた状態を示す図であり、図2(b)
は、ディスプレイに被測定光の2次元画像を表示させた
状態を示す図である。
【図3】第2実施形態の受光器および光測定装置を示す
図である。
【図4】第3実施形態の受光器および光測定装置を示す
図である。
【図5】第4実施形態の受光器および光測定装置を示す
図である。
【図6】第5実施形態の受光器および光測定装置を示す
図である。
【符号の説明】
2…受光器、4…光測定装置、6…光源、8…拡散板
(入射板)、10…ズーム部、12,34…入射レンズ
(第1のレンズ)、16…バリエータレンズ、18…リ
レーレンズ(第2のレンズ)、20…CCD(光電変換
部)、22…演算装置(算出手段)、24…ディスプレ
イ、26…3次元画像、28…2次元画像、31…光フ
ァイバ、33…フレネルレンズ、35…傾光部、42…
開口、44…絞り、L…主光線。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定光のビームパターンを光電変換部
    を用いて計測する光測定装置用の受光器において、 前記被測定光が内部を通過可能であると共に前記被測定
    光の入射によって前記ビームパターンに応じた投影像が
    形成される入射板と、 前記入射板を通過した通過光のうち少なくとも主光線が
    入射可能な第1のレンズおよび当該第1のレンズを通過
    した前記通過光を前記光電変換部に入射させる第2のレ
    ンズを有すると共に、前記投影像を拡大または縮小させ
    るズーム部と、 を備えることを特徴とする受光器。
  2. 【請求項2】 前記入射板は、光ファイバが複数本束ね
    られて成るファイバ光学部品であることを特徴とする請
    求項1記載の受光器。
  3. 【請求項3】 前記入射板は、前記第1のレンズ側に、
    前記通過光の主光線を前記第1のレンズの中心軸方向に
    傾ける傾光部を有することを特徴とする請求項1または
    請求項2記載の受光器。
  4. 【請求項4】 前記ズーム部は、前記被測定光が通過可
    能な開口を有すると共に前記開口の大きさを調節可能な
    絞りを有することを特徴とする請求項1〜請求項3のう
    ち何れか一項記載の受光器。
  5. 【請求項5】 請求項1〜請求項4のうち何れか一項記
    載の受光器と、 前記ズーム部の前記第2のレンズを通過した前記通過光
    を受光するとともに当該通過光を電気信号に変換する前
    記光電変換部と、 前記電気信号に基づいて前記ビームパターンを算出する
    算出手段と、 を備えることを特徴とする光測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030074967A (ko) * 2002-03-15 2003-09-22 동광전자 주식회사 컴퓨터용 화상 카메라를 이용한 광측정 방법
JP2006349570A (ja) * 2005-06-17 2006-12-28 Fuji Xerox Co Ltd 光量検出装置及び光量検出方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030074967A (ko) * 2002-03-15 2003-09-22 동광전자 주식회사 컴퓨터용 화상 카메라를 이용한 광측정 방법
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