JP2000305055A - Electroabsorption optical modulator - Google Patents

Electroabsorption optical modulator

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JP2000305055A
JP2000305055A JP11112448A JP11244899A JP2000305055A JP 2000305055 A JP2000305055 A JP 2000305055A JP 11112448 A JP11112448 A JP 11112448A JP 11244899 A JP11244899 A JP 11244899A JP 2000305055 A JP2000305055 A JP 2000305055A
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Japan
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layer
barrier layer
optical modulator
quantum well
absorption
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誠哉 ▲高▼橋
Masaya Takahashi
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Japan Aviation Electronics Industry Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子の閉じ込めを強くして効率の良い量子効
果が得られ、価電子帯の障壁を低くして正孔のパイルア
ップを阻止する電界吸収型光変調器を提供する。 【解決手段】 量子井戸層2を量子井戸層の禁制帯幅よ
り広い禁制帯幅を有する障壁層Iと障壁層Iの禁制帯幅
より広い禁制帯幅を有する障壁層IIにより狭持した量子
井戸構造より成る光吸収層4を具備する電界吸収型光変
調器。
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-absorption optical modulator which enhances electron confinement, obtains an efficient quantum effect, and lowers a valence band barrier to prevent hole pile-up. I do. SOLUTION: The quantum well layer 2 is sandwiched between a barrier layer I having a forbidden bandwidth wider than the forbidden bandwidth of the quantum well layer and a barrier layer II having a forbidden bandwidth wider than the forbidden bandwidth of the barrier layer I. An electro-absorption type optical modulator including a light absorption layer 4 having a structure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、電界吸収型光変
調器に関し、特に、低いバイアス電圧による駆動で動作
し、高周波の入力信号を信号劣化させることなしに変調
する電界吸収型光変調器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electro-absorption optical modulator, and more particularly to an electro-absorption optical modulator which operates by driving with a low bias voltage and modulates a high-frequency input signal without signal deterioration. .

【0002】[0002]

【従来の技術】薄膜成長技術の発展により、単原子層厚
レベルで急峻な組成変化を示す半導体ヘテロ接合界面を
形成することができる時代が到来した。この薄膜成長技
術により薄膜を多層重ね合わせて形成した多重量子井戸
構造は、光変調器、光スイッチの如き光デバイスに応用
されている。
2. Description of the Related Art With the development of thin film growth technology, the era has come in which a semiconductor heterojunction interface showing a steep composition change at a monoatomic layer thickness level can be formed. The multiple quantum well structure formed by stacking thin films by this thin film growth technique has been applied to optical devices such as optical modulators and optical switches.

【0003】量子井戸構造は室温において励起子吸収が
生起し、量子井戸層に垂直な方向に電界を印加すると、
吸収ピークは電界強度の2乗に比例して低エネルギ側で
ある長波長側にシフトする量子閉じ込めシュタルク効果
が生ずる。電界吸収型光変調器において、これは従来の
バルクを使用したフランツ・ケルディッシュ 効果と比較
して高効率で同等の消光比を得るに、必要とされる素子
長を短くすることができるので素子容量が小さくなり、
低電圧駆動により高速の変調特性を得ることができる。
In a quantum well structure, exciton absorption occurs at room temperature, and when an electric field is applied in a direction perpendicular to the quantum well layer,
A quantum confined Stark effect occurs in which the absorption peak shifts in proportion to the square of the electric field strength to the longer wavelength side, which is the lower energy side. In an electro-absorption type optical modulator, this is necessary to obtain a high efficiency and equivalent extinction ratio compared to the conventional Franz-Keldysh effect using a bulk. Capacity is reduced,
High-speed modulation characteristics can be obtained by low-voltage driving.

【0004】図1を参照して説明するに、電界吸収型光
変調器の従来例は、有機金属気相成長法(MOVPE)
或は分子線エピタキシャル法(MBE)を採用して以下
の順序により形成される。n−InP基板6の表面にn
型にドーピングされたn−InPクラッド層3を成膜す
る。次いで、n−InPクラッド層3の表面にInGa
AsP障壁層IIを成膜する。このInGaAsP障壁層
IIの表面にInGaAsP量子井戸層2を成膜する。I
nGaAsP量子井戸層2の表面にInGaAsP障壁
層Iを成膜する。更に、InGaAsP障壁層Iの表面
にp型にドーピングされたp−InPクラッド層1を成
膜する。次に、p−InP型クラッド層1の表面とn−
InP基板6の裏面に電極を形成する。これら両電極に
直流電源を逆極性に接続し、InGaAsP量子井戸層
2とInGaAsP障壁層IおよびInGaAsP障壁
層IIより成る光吸収層4に垂直に逆バイアス電界を印加
する。そして、直流電源には信号源も直列接続されてい
る。
Referring to FIG. 1, a conventional example of an electroabsorption type optical modulator is a metal organic chemical vapor deposition (MOVPE).
Alternatively, it is formed in the following order by employing a molecular beam epitaxy method (MBE). The surface of the n-InP substrate 6 has n
An n-InP cladding layer 3 doped with a mold is formed. Next, InGa is deposited on the surface of the n-InP cladding layer 3.
An AsP barrier layer II is formed. This InGaAsP barrier layer
An InGaAsP quantum well layer 2 is formed on the surface of II. I
An InGaAsP barrier layer I is formed on the surface of the nGaAsP quantum well layer 2. Further, a p-type doped p-InP cladding layer 1 is formed on the surface of the InGaAsP barrier layer I. Next, the surface of the p-InP cladding layer 1 and the n-
An electrode is formed on the back surface of the InP substrate 6. A DC power supply is connected to these electrodes with opposite polarities, and a reverse bias electric field is applied vertically to the InGaAsP quantum well layer 2 and the light absorption layer 4 composed of the InGaAsP barrier layer I and the InGaAsP barrier layer II. A signal source is also connected in series to the DC power supply.

【0005】この電界吸収型光変調器は、光吸収層4の
一方の面41に対して紙面に垂直の方向に光を入射せし
める。光吸収層4の一方の方の面41から光吸収層4に
入射した光はこの光吸収層4を伝播してその他方の面か
ら放射されるが、p−InP型クラッド層1の表面の電
極とn−InP基板6の裏面の電極により挟持される光
吸収層4の領域は変調層として動作するので、伝播する
光はこの過程において印加電界により変調されて、光吸
収層4の他方の面から放射される。
This electro-absorption type optical modulator makes light incident on one surface 41 of the light absorption layer 4 in a direction perpendicular to the plane of the drawing. Light incident on the light absorbing layer 4 from one surface 41 of the light absorbing layer 4 propagates through the light absorbing layer 4 and is emitted from the other surface. Since the region of the light absorption layer 4 sandwiched between the electrode and the electrode on the back surface of the n-InP substrate 6 operates as a modulation layer, propagating light is modulated by an applied electric field in this process, and the other side of the light absorption layer 4 is modulated. Radiated from the surface.

【0006】ここで、従来例のエネルギバンドは図3に
示される通りである。図3(a)は電界=0の場合を示
し、図3(b)は逆バイアス電界を印加した場合を示
す。即ち、InGaAsP量子井戸層2を挟むInGa
AsP障壁層IおよびInGaAsP障壁層IIのエネル
ギバンドは等しい。そして、InGaAs(P)/In
P系において、伝導帯のバンドオフセットΔEc は小さ
く、価電子帯のバンドオフセットΔEv は大きい。
Here, the energy band of the conventional example is as shown in FIG. FIG. 3A shows the case where the electric field = 0, and FIG. 3B shows the case where the reverse bias electric field is applied. That is, InGaP sandwiching the InGaAsP quantum well layer 2
The energy bands of the AsP barrier layer I and the InGaAsP barrier layer II are equal. And InGaAs (P) / In
In the P system, the band offset ΔE c of the conduction band is small, and the band offset ΔE v of the valence band is large.

【0007】以上のことから、光吸収層4に光を入射し
た時に生ずる電流の電子−正孔についてみると、InG
aAsP量子井戸層2内における電子の閉じ込めは弱
く、量子効果が劣化する。そして、量子井戸構造に電界
を印加した時は、電子が量子井戸構造外にトンネル現象
で容易に移動するところから、吸収端のブロードニング
が生じ、消光特性が鈍化する。また、重い正孔は、価電
子帯のバンドオフセットΔEv が大きいところから障壁
を越えることが困難で、入射光の強度が大きい場合に量
子井戸内に蓄積し、周波数応答特性が劣化する。
From the above, the electron-hole of the current generated when light is incident on the light absorbing layer 4 is InG
The confinement of electrons in the aAsP quantum well layer 2 is weak, and the quantum effect deteriorates. Then, when an electric field is applied to the quantum well structure, the electrons easily move out of the quantum well structure by a tunnel phenomenon, so that the absorption edge broadens and the quenching characteristics are degraded. In addition, heavy holes are difficult to cross the barrier because of a large band offset ΔE v of the valence band. When the intensity of incident light is high, the heavy holes accumulate in the quantum well, and the frequency response characteristics deteriorate.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述した通りの量子井
戸構造を有する電界吸収型光変調器は、InGaAs
(P)/InP系において、伝導帯のバンドオフセット
ΔEc は小さく、価電子帯のバンドオフセットΔEv
大きい。従って、電子の閉じ込めは弱く、量子効果が劣
化し、電界印加時の容易なトンネル現象により消光特性
が鈍化する。また、重い正孔は入射光強度が大きい場
合、パイルアップして周波数応答特性が劣化する。
An electroabsorption optical modulator having a quantum well structure as described above is made of InGaAs.
(P) / In InP system, the band offset Delta] E c of the conduction band is small, the band offset Delta] E v of the valence band is large. Therefore, the confinement of electrons is weak, the quantum effect is degraded, and the quenching characteristic is degraded due to the easy tunnel phenomenon when an electric field is applied. When the intensity of incident light is large, heavy holes are piled up and the frequency response characteristics are deteriorated.

【0009】この発明は、低電圧駆動で高速の変調特性
を有する上述の問題を解消した電界吸収型光変調器を提
供するものである。
An object of the present invention is to provide an electro-absorption type optical modulator which has low-voltage driving and high-speed modulation characteristics and which solves the above-mentioned problem.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1:量子井戸層2
を量子井戸層の禁制帯幅より広い禁制帯幅を有する障壁
層Iと障壁層Iの禁制帯幅より広い禁制帯幅を有する障
壁層IIにより狭持した量子井戸構造より成る光吸収層4
を具備する電界吸収型光変調器を構成した。そして、請
求項2:請求項1に記載される電界吸収型光変調器にお
いて、光吸収層4の一方の面を構成する障壁層Iに面
し、障壁層Iの禁制帯幅より広い禁制帯幅を有しp型に
ドーピングされたクラッド層1を具備し、光吸収層4の
他方の面を構成する障壁層IIに面し、障壁層IIの禁制帯
幅より広い禁制帯幅を有してn型にドーピングされたク
ラッド層3を具備する電界吸収型光変調器を構成した。
Means for Solving the Problems Claim 1: Quantum well layer 2
A light absorption layer 4 having a quantum well structure sandwiched between a barrier layer I having a forbidden bandwidth wider than the forbidden bandwidth of the quantum well layer and a barrier layer II having a forbidden bandwidth wider than the forbidden bandwidth of the barrier layer I.
An electro-absorption type optical modulator comprising Claim 2: In the electroabsorption type optical modulator according to claim 1, the forbidden band facing the barrier layer I constituting one surface of the light absorbing layer 4 and wider than the forbidden band width of the barrier layer I. It has a width and a p-type doped cladding layer 1 and faces the barrier layer II constituting the other surface of the light absorbing layer 4 and has a wider bandgap than the bandgap of the barrier layer II. Thus, an electroabsorption optical modulator including the cladding layer 3 doped with n-type was formed.

【0011】また、請求項3:請求項1および請求項2
の内の何れかに記載される電界吸収型光変調器におい
て、両クラッド層1、3表面に電極を形成し、両電極に
直流電源を逆極性に接続して光吸収層に垂直に逆バイア
ス電界を印加する電界吸収型光変調器を構成した。
[0011] Claim 3: Claims 1 and 2
In the electroabsorption type optical modulator described in any one of the above, electrodes are formed on the surfaces of both cladding layers 1 and 3, and a direct current power supply is connected to both electrodes in opposite polarities to reversely bias the light absorption layer vertically. An electro-absorption optical modulator for applying an electric field was constructed.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】この発明は、電界吸収型光変調器
の光吸収層として、量子井戸層と、量子井戸層と比較し
て禁制帯幅が広い障壁層Iと、障壁層Iと比較して禁制
帯幅が広い障壁層IIより成る量子井戸構造を具備する。
以上の通りの光吸収層を具備することにより、電子の閉
じ込めを強くすることができて効率の良い量子効果が得
られ、そして、価電子帯の障壁を低くすることができて
正孔のパイルアップを阻止することができる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a light absorption layer of an electro-absorption type optical modulator, comprising: a quantum well layer; a barrier layer I having a wider forbidden band width than the quantum well layer; And a quantum well structure composed of a barrier layer II having a wide bandgap.
By providing the light absorbing layer as described above, the electron confinement can be strengthened, an efficient quantum effect can be obtained, and the valence band barrier can be reduced, and the hole pile can be reduced. Up can be prevented.

【0013】[0013]

【実施例】図1を参照して説明するに、この発明の実施
例も、有機金属気相成長法(MOVPE)或は分子線エ
ピタキシャル法(MBE)を採用して従来例と同様に各
層を以下の順序により形成する。先ず、n−InP基板
6の表面にn型にドーピングされたn−InPクラッド
層3を成膜する。次いで、n−InPクラッド層3表面
にInGaAsP障壁層IIを成膜する。このInGaA
sP障壁層IIの組成はフォトルミネッセンスピーク波長
で1.1 μmである。このInGaAsP障壁層IIの表
面にInGaAsP量子井戸層2を成膜する。このIn
GaAsP量子井戸層2の組成はフォトルミネッセンス
ピーク波長で1.55 μmである。InGaAsP量子
井戸層2の表面にInGaAsP障壁層Iを成膜する。
InGaAsP障壁層Iの組成はフォトルミネッセンス
ピーク波長で1.33 μmである。更に、InGaAs
P障壁層Iの表面にp型にドーピングされたp−InP
クラッド層1を成膜する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to FIG. 1, an embodiment of the present invention also employs metal organic chemical vapor deposition (MOVPE) or molecular beam epitaxy (MBE) to form each layer in the same manner as in the prior art. They are formed in the following order. First, the n-InP clad layer 3 doped with n-type is formed on the surface of the n-InP substrate 6. Next, an InGaAsP barrier layer II is formed on the surface of the n-InP cladding layer 3. This InGaAs
The composition of the sP barrier layer II is 1.1 μm at the photoluminescence peak wavelength. An InGaAsP quantum well layer 2 is formed on the surface of the InGaAsP barrier layer II. This In
The composition of the GaAsP quantum well layer 2 is 1.55 μm in photoluminescence peak wavelength. An InGaAsP barrier layer I is formed on the surface of the InGaAsP quantum well layer 2.
The composition of the InGaAsP barrier layer I is 1.33 μm at the photoluminescence peak wavelength. Further, InGaAs
P-InP doped p-type on the surface of the P barrier layer I
The clad layer 1 is formed.

【0014】次に、p−InP型クラッド層1の表面と
n−InP基板6の裏面に電極を形成する。これら両電
極に直流電源を逆極性に接続し、InGaAsP量子井
戸層2、InGaAsP障壁層IおよびInGaAsP
障壁層IIより成る光吸収層に垂直に逆バイアス電界を印
加する。また、直流電源には信号源も直列接続されてい
る。
Next, electrodes are formed on the front surface of the p-InP clad layer 1 and the back surface of the n-InP substrate 6. A DC power supply is connected to these electrodes with opposite polarities, and the InGaAsP quantum well layer 2, the InGaAsP barrier layer I and the InGaAsP
A reverse bias electric field is applied vertically to the light absorption layer composed of the barrier layer II. A signal source is also connected in series to the DC power supply.

【0015】以上の電界吸収型光変調器において、量子
井戸層2を量子井戸層2の禁制帯幅より広い禁制帯幅を
有する障壁層Iと障壁層Iの禁制帯幅より広い禁制帯幅
を有する障壁層IIにより狭持した量子井戸構造より成る
光吸収層4を具備している。そして、この電界吸収型光
変調器はその一方の面を構成する障壁層Iに面し、障壁
層Iの禁制帯幅より広い禁制帯幅を有してp型にドーピ
ングされたクラッド層1を具備し、光吸収層4の他方の
面を構成する障壁層IIに面し、障壁層IIの禁制帯幅より
広い禁制帯幅を有してn型にドーピングされたクラッド
層2を具備している。
In the above-described electroabsorption type optical modulator, the quantum well layer 2 is made to have a barrier layer I having a band gap wider than the band gap of the quantum well layer 2 and a band gap wider than the band gap of the barrier layer I. The light absorption layer 4 having a quantum well structure sandwiched by the barrier layers II is provided. This electro-absorption type optical modulator faces the barrier layer I which constitutes one surface thereof and has a p-type doped clad layer 1 having a band gap wider than the band gap of the barrier layer I. A cladding layer 2 which faces the barrier layer II constituting the other surface of the light absorption layer 4 and has an forbidden band width larger than the forbidden band width of the barrier layer II and is doped with n-type. I have.

【0016】また、この電界吸収型光変調器は、両クラ
ッド層1および2の表面に電極を形成し、両電極に直流
電源を逆極性に接続して光吸収層に垂直に逆バイアス電
界を印加する。ここで、図2は実施例のエネルギバンド
図である。図2(a)は電界が0の場合を示し、図2
(b)は逆バイアス電界を印加した場合を示す。
In this electro-absorption type optical modulator, electrodes are formed on the surfaces of both cladding layers 1 and 2, and a DC power supply is connected to both electrodes with opposite polarities to apply a reverse bias electric field vertically to the light absorption layer. Apply. Here, FIG. 2 is an energy band diagram of the embodiment. FIG. 2A shows a case where the electric field is 0, and FIG.
(B) shows a case where a reverse bias electric field is applied.

【0017】図2に示される通り、量子井戸構造のn−
InPクラッド層3に対面するInGaAsP障壁層II
における伝導帯のバンドオフセットΔEc は高くなり、
電子の閉じ込めが強く、効率の良い量子効果が得られ
る。そして、p−InP型クラッド層1に対面するIn
GaAsP障壁層Iにおける価電子帯のバンドオフセッ
トΔEv は低くなり、質量の重い正孔の移動がスムーズ
に行なえ、InGaAsP量子井戸層2内における正孔
のパイルアップを防止することになる。
As shown in FIG. 2, the n-
InGaAsP barrier layer II facing InP clad layer 3
The band offset ΔE c of the conduction band at
Electrons are strongly confined, and an efficient quantum effect can be obtained. Then, the In facing the p-InP clad layer 1
The band offset ΔE v of the valence band in the GaAsP barrier layer I is reduced, and the movement of holes having a high mass can be performed smoothly, thereby preventing the pile-up of holes in the InGaAsP quantum well layer 2.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上の通りであって、この発明の電界吸
収型光変調器は、光吸収層としてInGaAsP量子井
戸層2と、この量子井戸層2と比較して禁制帯幅が広い
InGaAsP障壁層Iと、InGaAsP障壁層Iと
比較して広い禁制帯幅を有するInGaAsP障壁層II
より成る量子井戸構造を具備し、この光吸収層を挟むp
−InP型クラッド層1が障壁層Iに対面し、n−In
Pクラッド層3がInGaAsP障壁層IIに対面して形
成され、p−InP型クラッド層1表面およびn−In
P基板6の裏面に電極を形成して光吸収層に垂直に逆バ
イアス電界を印加する構成を具備する。以上の構成を具
備することにより、電子の閉じ込めを強くすることがで
き、効率の良い量子効果が得られ、そして、価電子帯の
障壁を低くすることができるところから、正孔のパイル
アップを阻止することができる。
As described above, the electroabsorption optical modulator according to the present invention has an InGaAsP quantum well layer 2 as a light absorbing layer, and an InGaAsP barrier having a wider bandgap compared with the quantum well layer 2. Layer I and an InGaAsP barrier layer II having a wider bandgap compared to the InGaAsP barrier layer I
Having a quantum well structure consisting of
-InP clad layer 1 faces barrier layer I, and n-In
A P cladding layer 3 is formed so as to face the InGaAsP barrier layer II, and the surface of the p-InP cladding layer 1 and the n-In
An electrode is formed on the back surface of the P substrate 6 and a reverse bias electric field is applied vertically to the light absorbing layer. By providing the above structure, electron confinement can be strengthened, an efficient quantum effect can be obtained, and the valence band barrier can be reduced. Can be blocked.

【0019】これにより、低電圧で駆動して高速の変調
特性を示す電界吸収型光変調器を構成することができ
る。
Thus, an electro-absorption optical modulator driven at a low voltage and exhibiting high-speed modulation characteristics can be constructed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】電界吸収型光変調器を説明する図。FIG. 1 illustrates an electro-absorption optical modulator.

【図2】実施例のエネルギバンド図。FIG. 2 is an energy band diagram of the embodiment.

【図3】従来例のエネルギバンド図。FIG. 3 is an energy band diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 クラッド層 2 量子井戸層 3 クラッド層 6 基板 I 障壁層 II 障壁層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cladding layer 2 Quantum well layer 3 Cladding layer 6 Substrate I Barrier layer II Barrier layer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 量子井戸層を量子井戸層の禁制帯幅より
広い禁制帯幅を有する障壁層Iと障壁層Iの禁制帯幅よ
り広い禁制帯幅を有する障壁層IIにより狭持した量子井
戸構造より成る光吸収層を具備することを特徴とする電
界吸収型光変調器。
1. A quantum well comprising a quantum well layer sandwiched between a barrier layer I having a forbidden bandwidth wider than the forbidden bandwidth of the quantum well layer and a barrier layer II having a forbidden bandwidth wider than the forbidden bandwidth of the barrier layer I. An electro-absorption type optical modulator comprising a light absorption layer having a structure.
【請求項2】 請求項1に記載される電界吸収型光変調
器において、 光吸収層の一方の面を構成する障壁層Iに面し、障壁層
Iの禁制帯幅より広い禁制帯幅を有してp型にドーピン
グされたクラッド層を具備し、 光吸収層の他方の面を構成する障壁層IIに面し、障壁層
IIの禁制帯幅より広い禁制帯幅を有してn型にドーピン
グされたクラッド層を具備することを特徴とする電界吸
収型光変調器。
2. The electro-absorption type optical modulator according to claim 1, which faces the barrier layer I which constitutes one surface of the light absorption layer, and has a forbidden band width wider than the forbidden band width of the barrier layer I. A cladding layer doped with p-type, and facing the barrier layer II constituting the other surface of the light absorbing layer,
An electroabsorption optical modulator comprising an n-type doped cladding layer having a band gap wider than the band gap II.
【請求項3】 請求項1および請求項2の内の何れかに
記載される電界吸収型光変調器において、 両クラッド層表面に電極を形成し、両電極に直流電源を
逆極性に接続して光吸収層に垂直に逆バイアス電界を印
加することを特徴とする電界吸収型光変調器。
3. The electro-absorption optical modulator according to claim 1, wherein electrodes are formed on both clad layer surfaces, and a DC power supply is connected to both electrodes in opposite polarities. An electroabsorption optical modulator characterized in that a reverse bias electric field is applied vertically to the light absorbing layer.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004294840A (en) * 2003-03-27 2004-10-21 Japan Aviation Electronics Industry Ltd Electric absorption type optical modulator
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