JP2000308637A - Ｃｔ装置の像再構成方法 - Google Patents

Ｃｔ装置の像再構成方法

Info

Publication number
JP2000308637A
JP2000308637A JP11333037A JP33303799A JP2000308637A JP 2000308637 A JP2000308637 A JP 2000308637A JP 11333037 A JP11333037 A JP 11333037A JP 33303799 A JP33303799 A JP 33303799A JP 2000308637 A JP2000308637 A JP 2000308637A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
projection
field
extrapolation
reference data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP11333037A
Other languages
English (en)
Inventor
Thomas Flohr
フロール トーマス
Bernd Ohnesorge
オーネゾルゲ ベルント
Karl Schwarz
シュワルツ カール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Publication of JP2000308637A publication Critical patent/JP2000308637A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T12/00—Tomographic reconstruction from projections
    • G06T12/10—Image preprocessing, e.g. calibration, positioning of sources or scatter correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/612—Specific applications or type of materials biological material
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2211/00—Image generation
    • G06T2211/40—Computed tomography
    • G06T2211/432—Truncation
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
    • Y10S378/901—Computer tomography program or processor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定フィールドのはみ出しによって生ずる像
アーティファクトの補正が可能であり再構成された像の
良好な品質が得られるようにする。 【解決手段】 広がりが測定フィールドをはみ出す検査
対象物の測定フィールド内に存在する範囲の投影を受け
入れ、 ａ）測定フィールドのはみ出しが生じている投影を検出
するステップと、 ｂ）検出された投影を表す測定点の各列ができるだけ実
際に近づくように完全にされ、少なくともほぼ零である
１つの測定点で開始されかつ終了するように、検出され
て切り取られた投影を表す測定点の列に外挿測定点を追
加するステップと、を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、検査対象物に対し
て相対的に移動可能な放射源と、この放射源から出され
た放射の検出器システムとを備え、この検出器システム
が検査対象物に対する放射源の相対的な種々の位置にお
いて広がりが測定フィールドをはみ出す検査対象物の測
定フィールド内に存在する範囲の投影を撮影し、投影が
チャネル番号と測定値とにより示される測定点の列によ
って表されるＣＴ装置の像再構成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＴ像システムにおいては、放射源（例
えばＸ線源）と検出器システムとから成る測定装置の形
状によって、放射源等及び検出器システムを投影の撮影
のために回転させる回転軸線の周りに形成される測定フ
ィールドが規定される。撮影される検察対象物の一部が
この測定フィールドの外に存在すると、測定フィールド
のはみ出しが生じている測定フィールド縁部には広く広
がった明るい範囲と線の形の強い像アーティファクトと
が現れる。このアーティファクトは投影の開始及び／又
は終了時において零とは大きく異なる測定値によって生
ぜしめられる。測定フィールドは通常いわゆるガントリ
開口内に心出しされる。その場合測定フィールドのはみ
出しは異常な大きさによって引き起こされると共に間違
って横たわった対象物によっても引き起こされる。
【０００３】高い計算費用を有する例えば反復法又はウ
エーブレット法のような切り取られた投影からなる像再
構成方法は知られている。
【０００４】さらに、米国特許第５６４０４３６号明細
書により、測定フィールドのはみ出しに起因するアーテ
ィファクトを、種々の強さのＸ線によって求められた測
定データを利用することにより妨げることが知られてい
る。
【０００５】さらにまた、米国特許第５２９９２４８号
明細書及びヨーロッパ特許第００３０１４３号明細書に
より、測定フィールドのはみ出しを生ずる投影が外挿に
よって、検出された投影を表す測定点の各列が完全にさ
れかつこの測定点の各列が測定値が少なくともほぼ零で
ある１つの測定点で開始及び終了するように補完される
ことが知られている。しかしながら、この補完にも拘わ
らず像品質はしばしばまだ十分ではない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
で述べた種類の方法において、測定フィールドのはみ出
しによって生ずる像アーティファクトの補正が可能であ
りかつ再構成された像の良好な品質が得られるようにす
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によれ
ば請求項１に記載の方法によって解決される。
【０００８】本発明による方法は測定された投影の拡大
と外挿とに基づいている。この拡大及び外挿は測定フィ
ールドのはみ出しを検出された投影に制限され、しかも
拡大され投影を表す測定点の列の開始及び終了では測定
値の零への減少を保証するべきである。
【０００９】本発明による方法によって、測定フィール
ドのはみ出しと一緒に撮影されるような像の診断値も得
られ、しかも検査対象物の横臥状態が変化したことに起
因する不十分な像品質のために場合によっては必要な検
査のやり直しを回避することが可能になる。達成可能な
高い補正品質の他に、本発明による方法は簡単に実現す
ることができると共に計算費用の低い点が特徴である。
【００１０】本発明による方法はＣＴ装置の形状により
規定される測定フィールドの効果的な拡大を可能にし、
特に比較的小さい測定フィールドを有する“コンパクト
形”ＣＴ装置に対しても、また大きな測定フィールドを
有する大形ＣＴ装置に対しても有効である。
【００１１】それゆえ、本発明による方法によって特に
良好な結果が得られる。何故ならば、第１のやり方によ
れば、追加された測定点が、投影を表し直交座標系にプ
ロットされた測定点の列の開始又は終了に続く多数の測
定点の、投影を表す測定点の列の最初ないしは最後の測
定点を通って座標系の測定値に相応する軸に平行に延び
る直線に関する鏡像によって、引き続いて投影を表す測
定点の列の最初ないしは最後の測定点を通って座標系の
チャネル番号に相応する軸に平行に延びる直線に関する
鏡像によって得られるように、対称な外挿の形で外挿が
行われる。このようにして投影が実際に近いデータによ
って補完され、その結果雑音特性は投影の外挿範囲に対
しても保たれ続ける。
【００１２】高い像品質は、第２のやり方により外挿が
放射のフェードインなしに生ずる測定フィールドに対し
て測定された基準データを利用して行われる場合にも得
られる。というのは、この場合も、外挿の進行中に付け
加えられたデータは実際の状況に非常に良好に近づけら
れることが保証されるからである。
【００１３】測定フィールドのはみ出しを有し外挿が行
われるべきである投影の検出は、本発明の実施態様によ
れば、閾値観察によって、連続する多数の測定点Ｎ
th,scoの測定値の平均値が投影を表す測定点の列の少な
くとも開始又は終了において、測定フィールドのはみ出
しを有する投影の存在を示す閾値を超過する場合に対し
て行われる。すなわち、測定フィールドのはみ出しを有
する投影の検出は非常に簡単で計算能力を僅かに高めた
やり方で可能になる。
【００１４】外挿パラメータの選択、特に検出された投
影に追加される測定点の数の選択は、本発明の実施態様
によれば、測定フィールドのはみ出しの見積もりによっ
て求められた大きさを考慮して行われる。このやり方も
計算能力を僅かに高めるだけでよい。
【００１５】外挿測定点を零へできるだけ滑らかに移行
させるために、本発明の特に優れた実施態様によれば、
外挿測定点の重み付けはその移行を保証する減衰関数を
用いて行われる。通常は畳み込み（コンボリューショ
ン）の長さ限界が超過されないような数の外挿測定点が
追加されるのではあるが、必要に応じて本発明の他の実
施態様により、畳み込みの長さ限界の超過が生ずるよう
な数の外挿測定点が追加される。その場合、少なくとも
畳み込みの長さ限界の超過が適度に生ずると測定フィー
ルド縁部に特に良好な像品質が得られる。
【００１６】像を再構成するために多数の処理ステップ
を必要とするので、計算費用を最小にするために外挿と
外挿測定点の追加とは、測定点の追加によって高められ
る計算費用を次に続く僅かな処理ステップのみに制限す
るために、像再構成の進行においてできるだけ遅い時点
で行われるようにしたほうがよい。それにより、本発明
の実施態様によって、外挿と測定点の追加とが像再構成
の進行においてコンボリューションカーネルを用いた投
影の畳み込みの直前に行われることは有利である。
【００１７】測定フィールドのはみ出しはその都度実施
される検査の状況によって制約される必要はない。この
はみ出しは、本発明の実施態様によれば、診察上重要な
範囲を撮像するのに十分な縮小された測定フィールド
（以下においては縮小測定フィールドとも称される）へ
の放射源から出た放射のフェードインが行われることに
よっても意識的に生ぜしめられる。その場合、本発明に
よる方法は切り取られた投影から成るフェードインされ
た縮小測定フィールド内の部分対象物の再構成のために
使用される。この場合も同様に高い像品質が保証され、
同時に検査対象物に照射される線量の減少が達成され
る。さらに、測定フィールドの縮小に相応してチャネル
数を減らすことにより計算費用が減少する。その際、像
再構成が縮小測定フィールド内に位置する再構成測定フ
ィールドに対してのみ行われると好ましい。縮小測定フ
ィールドに対してその場合に生ずる“安全余裕”は再構
成測定フィールドにおいてその縁部まで相応の像品質を
保証する。
【００１８】本発明の特に優れた実施態様によれば、外
挿が検査の前に放射のフェードインなしに生ずる測定フ
ィールドに対して測定された基準データを利用して行わ
れる。これによって、外挿が実際の状況に非常に良好に
近づくことが保証される。
【００１９】本発明の他の優れた実施態様によれば、外
挿は、検査中に縮小測定フィールドに関する測定点と同
時に測定された、放射のフェードインなしに生ずる測定
フィールドに関する基準データを利用しても測定され
る。これは例えば、ＣＴ装置のシステム軸線の方向に連
続的に配置された検出器要素の多数の行を有する検出器
システムによって、検出器要素の行の１つを基準データ
を求めるために使用することにより行うことができる。
【００２０】測定された測定点と外挿された測定点（以
下においては外挿測定点とも称する）との間の安定した
移行を保証するために、本発明の実施態様によれば、縮
小測定フィールドで測定された測定点の測定値のレベル
への基準データのスケーリングが行われる。
【００２１】数値による外挿の代わりに測定された基準
データに基づく外挿は、診断上重要な範囲のみが撮影毎
に変えられ、しかしその重要な範囲を取り囲む範囲がほ
ぼ同じに残される場合には特に有利である。
【００２２】すなわち、本発明による方法が測定フィー
ルドのはみ出しによって生じる像アーティファクトの補
正のみを可能にするのではないことは明らかである。寧
ろ、本発明による方法は大きな身体内の部分対象物の適
確な撮影の際に生ずるアーティファクトの補正にも適す
る。その際、放射を部分対象物に相応してフェードイン
することにより測定フィールドが縮小されることによっ
て、検査対象物に照射される線量が減少する。さらに、
計算費用は僅かになり、それにも拘わらず本発明による
方法の補正アルゴリズムが縮小測定フィールド内に診断
上高い像品質を保証する。しかも、本発明による方法は
対象物が小さい場合（例えば２５ｃｍの頭部測定フィー
ルド）にチャネル数を減らされた縮小測定フィールドの
像再構成にも適する。本発明による方法が像再構成への
外挿の効率的な組み込みを可能にすることは同様に有利
である。
【００２３】
【発明の実施の形態】本発明を以下において図面に基づ
いて詳細に説明する。
【００２４】図１に示されているＸ線ＣＴ装置は、ファ
ン状（扇形状）のＸ線束２を送り出すＸ線放射源１と、
システム軸線の方向に連続的に配置された１つ又は多数
の行の個別検出器、例えばそれぞれ５１２個の個別検出
器から構成されている検出器３とから成る測定ユニット
を有している。Ｘ線束２が出発するＸ線放射源１の焦点
は参照符号４を付されている。検査対象物５（図示され
ている実施例の場合には患者）は寝台６の上に横たわっ
ており、この寝台はガントリ８の測定開口７を通って延
びている。
【００２５】ガントリ８にはＸ線放射源１と検出器３と
が互いに向かい合って取付けられている。ガントリ８は
ＣＴ装置の参照符号ｚを付されているｚ軸又はシステム
軸線の周りに回転可能に支えられており、またｚ軸のφ
方向に検査対象物５を走査するために、少なくとも１８
０°とファン角度（ファン状のＸ線束２の開き角度）と
の和に等しい大きさの角度だけ回転させられる。その際
にＸ線発生器装置９により作動させられるＸ線放射源１
から出発するＸ線束２が円形横断面の測定フィールド１
０を捕捉する。
【００２６】測定ユニット１、３の予め決められた角度
位置で投影が撮影され、その際に相応のデータが検出器
３からコンピュータ１１に到達し、このコンピュータが
投影に相応する測定点の列から画素マトリックスの画素
の減弱係数を再構成し、これらをディスプレイ装置１２
に像として再現する。こうしてディスプレイ装置１２に
検査対象物５の透視された層の像が現れる。各投影ｐ
（ｌ、ｋ）は特定の角度位置すなわち投影角度ｌに対応
付けられ、検出器要素の数すなわちチャネル数に相応す
る数の測定点を含んでおり、これらの測定点にそれぞれ
相応の測定値が対応付けられる。なお、ｋは測定値がど
の検出器要素から出ているかを与えるチャネル番号であ
る。
【００２７】検出器３は多くの行の検出器を有すること
ができるので、必要な際には検査対象物５の多くの層を
同時に撮影することが可能である。その際に投影角度あ
たり能動的な検出器行の数に相応する数の投影が撮影さ
れる。
【００２８】ガントリ８に付設されている駆動装置１３
はガントリを連続的に回転させるのに適し、さらに一方
では寝台６、従って検査対象物５と他方では測定ユニッ
ト１、３を備えたガントリ８とのｚ方向への相対移動を
可能にする別の駆動装置が設けられている場合、ヘリカ
ルスキャンを実施することができる。
【００２９】図１に示されているように検査対象物５が
測定フィールド１０をはみ出すような寸法を有する状況
では、既に冒頭で述べたようにアーティファクトが現れ
る。このようなアーティファクトは、検査対象物５がそ
の寸法上絶対に測定フィールド１０をはみ出さないがし
かしながら測定フィールド１０をはみ出すように寝台６
上に不都合に横たわっている場合にも現れる。この種の
アーティファクトを消去するためにコンピュータ１１に
以下において詳細に述べる本発明による像再構成方法が
適用される。
【００３０】この方法によれば最初に測定フィールドの
はみ出しが生じている投影が検出される。
【００３１】全体でＮs個の測定点で投影内の測定フィ
ールドはみ出しを検出するために（ｋ＝０（ｌ）（Ｎs
―ｌ）、投影の開始及び終了におけるＮth、sco個の測定
点のインターバルが検査される。最初ないし最後の
Ｎth、sco個の測定点の式（１ａ）、（１ｂ）による平均
値ＭA（ｌ）、ＭE（ｌ）が予め定義された閾値Ｓth、sco
以上にある場合、次の式は検査対象物による測定フィー
ルドはみ出しに基づいている。
【００３２】
【数１】
【００３３】Ｎth、scoに対する有効なパラメータ選定は
例えばＮs／１５０である。Ｓth、sc oに対しては例えば
約５ｍｍＨ2Ｏの減弱値が利用される。
【００３４】本来の補正の第１のステップは、図２に示
されているように、投影の開始及び終了において減弱値
零を持つＮext個の測定点を備え測定フィールドはみ出
しを有する投影ｐ（ｌ、ｋ）の対称的な拡大である。式
（２）に基づいてチャネル指数ｋ‘＝０（ｌ）（Ｎs／
＋２Ｎext−ｌ）を持つ拡大された投影Ｐext（ｌ、
ｋ‘）が生ずる。
【００３５】
【数２】
【００３６】拡大パラメータＮextの適当な選定は後で
詳細に説明する。
【００３７】補正に関する以下のステップにおいて、測
定フィールドはみ出しを有する投影を追加された“測定
点”の“測定値”の検出が外挿によって行われる。その
際に実際に測定されたデータが取り扱われていないにも
拘わらず、以下においては測定点及び測定値について説
明する。
【００３８】測定点の外挿は対応する測定値の零への一
様な移行を保証しなければならない。図２はこのために
Ｎext個の測定点を有する投影の開始と終了とのインタ
ーバル内での外挿に関する原理的な関係を示す。
【００３９】外挿の最初の簡単な例はインターバルｋ
‘∈［Ｎext（ｌ）（Ｎext＋Ｎfit−ｌ）］ないしはｋ
‘∈［（Ｎext＋Ｎs−Ｎfit）（ｌ）（Ｎext＋Ｎs−
ｌ）］における投影の最初と最後の測定点への図３に示
された線形フィットで実現される例である。外挿範囲の
計算は係数ｃ0、A，ｃ1、Aないしはｃ0、E，ｃ1、Eを用いて
式（３ａ）、（３ｂ）により行われる。
【００４０】
【数３】
【００４１】係数の計算は二次偏差の最小和の決定によ
って行うことができる。簡単な例は投影終了時の範囲Ｎ
fitのウインドーにおける測定点の平均値を計算するこ
とである。この平均値はその場合最初ないしは最後の有
効測定点と共に線形フィットのための係数を決定する。
【００４２】上述の線形フィットと同様にして、投影開
始におけるＮfit個の測定点ｋ‘∈［Ｎext（ｌ）（Ｎ
ext＋Ｎfit−ｌ）］ないしは投影終了における測定点ｋ
‘∈［（Ｎext＋Ｎs−Ｎfit）（ｌ）（Ｎext＋Ｎs−
ｌ）］の高位のフィット（例えばパラボリック・フィッ
ト）を実施することができる。ここで例として挙げられ
たパラボリック・フィットには外挿式（４ａ）、（４
ｂ）が適用される。
【００４３】
【数４】
【００４４】係数の計算は再び二次偏差の最小和の決定
によって、又は投影終了におけるＮ fit個の測定点を有
するそれぞれ２つのウインドー内の平均値の計算によっ
て行うことができる。パラボリック係数はその場合平均
値と投影の最初ないしは最後の有効測定点とから得られ
る。
【００４５】外挿の特に優れたやり方は図４に示された
対称外挿である。
【００４６】このステートメントの場合、投影開始ない
しは投影終了における有効測定点は最初ないしは最後の
有効測定点に関する鏡像によって、測定された投影の続
きとして外挿インターバルに複写される。式（５ａ）、
（５ｂ）は非常に低い計算費用が特徴であるこのステー
トメントの外挿規則を述べている。式（５ａ）は投影開
始に関し、式（５ｂ）は投影終了に関する。
【００４７】
【数５】
【００４８】この場合、ＳA、ＳEはＳA＝ｐ（０）、ＳE
＝ｐ（Ｎs−ｌ）を持つ観察中の投影ｐ（ｋ）の最初な
いしは最後の有効測定点の値である。ＫS,A、ＫS,Eは閾
値２ＳAないしは２ＳEをｐ（ＫS,A）>２ＳAないしはｐ
（ＫS,E）>２ＳEで超過する最初ないしは最後の測定点
の指数である。その場合“閾値指数”はＫS,A≦Ｎextな
いしはＫS,E≦Ｎs−Ｎext−ｌに制限されなければなら
ない。もう一度図４は測定点鏡像を用いた式（５ａ）、
（５ｂ）によって与えられる外挿を示していることを述
べておく。その場合、鏡像は、先ず図４の直交座標系の
測定値に対応する軸に平行に最初ないしは最後の測定さ
れた測定点を通る直線に関して、次にチャネル番号ｋな
いしはｋ’に対応する軸に平行に最初ないしは最後の測
定された測定点を通る直線に関して生じることが明らか
になる。
【００４９】対称外挿のステートメントは２つの他の既
に説明したステートメントに比べて投影終了時において
安定な移行が行われるという利点を有している。さらに
外挿インターバルに投影の雑音特性が得られる。
【００５０】外挿測定点の零への一様な移行を保証する
ために、外挿インターバルはさらに式（６ａ）、（６
ｂ）により減衰関数ｗA（ｋ‘）ないしはｗE（ｋ‘）を
用いて重み付けされる。その際減衰関数には特にｗ
A（０）＝０、ｗA（Ｎext−ｌ）＝ｌ、ｗE（Ｎs＋２Ｎ
ext−ｌ）＝０、ｗE（Ｎs＋Ｎext−ｌ）＝ｌが適用され
る。
【００５１】
【数６】
【００５２】ｗA（ｋ‘）ないしはｗE（ｋ‘）に対して
は例えば式（７ａ）、（７ｂ）によるｃｏｓ関数が使用
される。
【００５３】
【数７】
【数８】
【００５４】ｃｏｓ状減衰ベクトルは予め与えられた外
挿パラメータのために前もって計算され、記憶される。
パラメータτcosは例えばインターバルτcos∈［０．
５；３］に選定される。
【００５５】測定フィールド縁部で大きく変化する構造
物（例えば縮小測定フィールドにおける肩、頭蓋）を持
つ検査対象物に対して最良の像品質を得るために、観察
中の投影内の対象物の測定フィールドはみ出しの大きさ
を、この投影の外挿用の外挿パラメータのぴったり合っ
た適合のために見積もることは有効である。その際、例
えばパラメータＮext及びτcos又は減衰関数ｗAないし
はｗEの影響範囲は両投影縁部における測定フィールド
はみ出しと対象物の構造物とに対する適当な基準に応じ
て変化する。上述の実施例の場合、その基準としては投
影縁部における測定値と投影の最大測定値との比と、イ
ンターバル［０；ＫS,A］及び［ＫS,E；ＮＴ−ｌ］にお
けるチャネルの数とが利用される。
【００５６】像再構成の際、投影を表す測定点の列がコ
ンピュータ１１内で多数の処理ステップから成るシーケ
ンスで処理される。例えば逆投影によってＣＴ像を直接
計算する前のシーケンスにおける最後のステップは高域
通過特性を持つコンボリューションカーネルを用いた投
影のフィルタリングである。測定フィールドはみ出しが
生じている場合ここではアーティファクト発生の原因に
なる。外挿は本発明の場合には再構成シーケンスにおい
て確かに基本的には常に畳み込みの前に行うことができ
る。上述の実施例の場合には外挿はしかしながら、先行
のステップにおいて処理すべきデータ量、従って計算費
用を不必要に高めないために、できるだけ遅くすなわち
畳み込みの直前に行われる。
【００５７】コンボリューションカーネルを用いたフィ
ルタリングのために、長さＮsの投影は値零を持つ測定
点の追加によって過畳み込み誤差（エーリアシング）を
回避するために畳み込み長さＬF≧２Ｎs−ｌ（畳み込み
の長さ限界）にもたらされなければならない。外挿投影
にはその場合畳み込み長さＬF≧２（Ｎｓ＋２Ｎext）−
ｌが適用される。一般に投影のフィルタリングは周波数
範囲の離散的スペクトルの掛け算によって実行される。
離散的投影スペクトルは長さＬFFTの“高速フーリエ変
換”（ＦＦＴｓ）を用いて計算される。その際、ＬFFT
は例えばいわゆるＲａｄｉｘ２−ＦＦＴを使用した場合
には式ＬFFT＝２ceil(ld(2NS-1))を満足しなければなら
ない（ｌｄ（ｘ）＝ｘの対数デュアリス、ｃｅｉｌ
（ｘ）＝ｘは次の大きい方の整数に切り上げられる）。
投影のチャネル数Ｎｓが２の累乗に一致しない場合、
“差インターバル”における投影の外挿はＬFFT長さの
拡大、従って計算費用の高騰を引き起こすことなく行う
ことができる。Ｎextによって説明される外挿範囲の限
界は式（８）によって与えられる。
【００５８】
【数９】
【００５９】投影のチャネル数が畳み込みの長さ限界を
超過すると、フィルタリングは投影の縁部範囲に過畳み
込み誤差を生ぜしめる。一般的にこの“エーリアシン
グ”誤差は再構成された像内においてＣＴ値レベルの減
少として測定フィールド縁部へ向かって変化する。観察
中の投影のチャネル数が２の累乗に非常に接近して位置
するべきである場合、外挿ステップはできれば２（Ｎs
＋２Ｎext）−ｌ>ＬFを持つ畳み込みの長さ限界を超過
することを必要とする。投影内の測定フィールドはみ出
しは測定フィールドの外側範囲にＣＴ値の増大をもたら
すので、過畳み込みの逆方向の効果が部分的な補償のた
めに利用される。Ｎextによって表される外挿インター
バルを適当に選定し、畳み込みの長さ限界の超過が適度
であると、測定フィールド縁部に極めて良好な像品質が
得られる。測定フィールドはみ出しによって惹き起され
たアーティファクトは消去され、それに対してエーリア
シング・アーティファクトは発生しない。それゆえ、畳
み込みの長さＬFの増大及びそれに起因する計算費用の
増大は回避することができる。
【００６０】ＣＴ装置の上述した作動形式とは異なった
第２の作動形式においては、大きな身体の部分対象物を
的確に撮影するために既に述べた方法で構成される拡張
された方法に基づいてアーティファクトの補正が行われ
る、すなわち像再構成が切り取られた投影データから行
われる。
【００６１】この第２の作動形式において、能動的な測
定フィールドのはみ出しが、意識的に、図５のようにＸ
線源１から出たファン状のＸ線束２をシャッタ、特にＸ
線源１に隣接する一次Ｘ線シャッタ１４によって診断上
重要な範囲を撮像するのに十分な縮小測定フィールド１
７にフェードインすることによって惹き起される。
【００６２】この種の縮小測定フィールド１７のために
図５によれば観察中の投影のチャネルインターバル［Ｋ
M,A、ＫM,E］が有効測定点を割り付けられる。理論上、
本発明による方法を縮小測定フィールド１７の全体に適
用すると像を再構成することができる。しかし、投影に
おいてチャネルインターバル［ＫM,A、ＫM,E］を覆う縮
小測定フィールド１７内に再構成像フィールド１８が規
定されると有意義である。像表示は再構成像フィールド
１８に制限されるので、診断上重要な範囲１６は全部こ
こに位置するようにしたほうがよい。縮小測定フィール
ド１７に対する“安全余裕”が再構成像フィールド１８
内の診断上重要な範囲１６に対してその像フィールド１
８の縁部まで相応の像品質を保証する。
【００６３】縮小測定フィールド１７の縁部における投
影のランダムな切り取りのため、さらに同様に再構成像
フィールド１８内にＣＴ値レベルのアーティファクト及
び誤差を見込まねばならない。これは縮小測定フィール
ドの外でチャネル範囲にデータを適当に外挿することに
よって防止される。通常、検査対象物５はその全体が縮
小測定フィールドを明らかにはみ出す。その場合、この
ことは外挿が検査対象物５の縁部における投影の立下り
“エッジ”に制限されることに基づいていない。
【００６４】従って、以下において、第２の作動形式に
おいて選択的に作動可能な２つの外挿ステートメントの
例について説明する。このステートメントは第１の作動
形式と関連して説明されたステートメントに比べて拡張
されている。
【００６５】第１のステートメントは多項式外挿であ
る。その場合、外挿インターバル［Ｋ M,A−Ｋext＋ｌ；
ＫM,A］、［ＫM,E；ＫM,E＋Ｋext−ｌ］において、測定
点は図６に示されているように２次の放物線近似（多項
式フィット）によって計算される。放物線係数ｃ
0（ｌ）、ｃ1（ｌ）、ｃ2（ｌ）は３個の根拠点つまり
最初の測定点ｐ（ｌ、ＫM,A）及び最後の測定点ｐ
（ｌ、ＫM,E）、バーｐ（ｌ、Ｋmax（ｌ））から連立方
程式（９）によって決定される。その際、Ｋmax（ｌ）
は投影ｌの最大値に対するチャネル指数である。“最大
根拠値” バーｐ（ｌ、Ｋmax（ｌ））は指数Ｋ
max（ｌ）の周りの幅ΔＫmaxの対称なチャネルインター
バルからなる平均値である。なお、バーｐはｐの上に
“―”が付いている符号を表わしている。
【００６６】
【数１０】
【００６７】外挿インターバル内の測定点はその場合に
は式（１０）によって計算される。
【００６８】
【数１１】
【００６９】第１の作動形式の場合のように、式（１１
ａ）、（１１ｂ）、（１２ａ）、（１２ｂ）による外挿
インターバルの例えばｃｏｓ状の重み付けによって、外
挿データを零に一様に収束させることが保証される。
【００７０】
【数１２】
【００７１】
【数１３】
【００７２】外挿インターバルＫextの幅は、同様に完
全な投影に比べて縮小された畳み込み長さＬL,Mが使用
されるように選定される。過畳み込みを防止すべき場合
には、ＬL,M≧２（ＫM,E−ＫM,A＋２Ｋext＋ｌ）が適用
されねばならない。しかしながら第１の作動形式におけ
るようにここでも同様に外挿に基づいて畳み込みの長さ
限界を適度に超過することが可能である。
【００７３】第２のステートメントに基づいて、外挿は
測定された基準データを基礎として縮小測定フィールド
１７の外で行われる。しかも、これは特に検査対象物５
の領域の部分範囲の検査の際に、測定された断層投影を
ｚ方向に適度に変えて行われる。これの医学的な適用例
は心臓検査又はＸ線透視ＣＴによる中間処置である。
【００７４】基準データを求める際２つの方式を選択的
に作動させることができる。
【００７５】第１に、基準データは本来の検査の前に検
査対象物５の検査すべき範囲の中央のｚ位置で測定フィ
ールド１０全体を用いてガントリ８の一回転によって得
られる。この基準回転は線量を減らして行うことがで
き、さらに縮小測定フィールド１７内に診断上重要な範
囲を正確に位置決めするために使われる。図７は測定フ
ィールド１７の全体を用いた測定を示し、図８は一次Ｘ
線シャッタ１４によって縮小された測定フィールド１７
を用いた種々のｚ位置での測定を示す。外挿インターバ
ルのチャネル範囲内の基準データを記憶することができ
る。
【００７６】図９のように、離散的角度位置ｌにおける
投影の基準データｐref（ｌ、ｋ）が主検査中に縮小さ
れた投影ｐ（ｌ、ｋ）の外挿のために使用される。外挿
インターバルの限界での安定した移行を保証するため
に、基準データは式（１３）を用いて測定されたデータ
のレベルへスケーリングされる。スケーリング係数ｓA
（ｌ）、ｓE（ｌ）は外挿インターバル限界ｋ＝ＫM,A及
びｋ＝ＫM,Eでの測定された投影と基準投影との測定値
の比から得られる。
【００７７】第１の作動形式の場合のように、インター
バル限界内の外挿データの零への一様な移行を達成する
ために、外挿インターバルは式（１２）の重み付け関数
ｗA（ｋ）、ｗE（ｋ）と掛け算される。
【００７８】
【数１４】
【００７９】式（１３）の拡張として、より一層滑らか
な移行のために、インターバル［Ｋ M,A；ＫR,A］及び
［ＫR,E；ＫM,E］内に同時に存在する測定データと基準
データとの移行重み付けを実施することができる。
【００８０】本来の検査の前に基準検査を用いることの
他に、基準データはここで述べたような多行のＣＴ装置
の場合には特定の基準検出器行から得られる。基準検出
器行においてのみ縮小測定フィールド１７の完全なＸ線
源側フェードインが行われず、それゆえ活用可能な基準
データは、特に患者線量を減らした上述の実施例の場合
のように、縮小測定フィールド１７の外で、従って測定
フィールド１０全体に関して取られる。基準検出器行に
おける線量減少は部分的に透明なＸ線源側シャッタ１９
によって実現することができ、これは一例が４個の検出
器行３1〜３4を有する検出器３を備えたＣＴ装置用の図
９〜図１２に示され、その際この実施例の場合には第４
番目の検出器行３4が基準行として機能する。
【００８１】基準データセットのための記憶費用を減少
させるために、その投影数及びチャネル数を記憶前に減
らすことが可能である。その基準データセットは外挿の
ために内挿（例えば“ニアレスト・ナイボー”又は線
形）による適当な拡張によって再び完全な大きさに戻さ
れる。
【００８２】上述の外挿ステートメントは一例として理
解すべきである。他のステートメントが本発明の枠内で
可能である。何れにしても上述のステートメントは特に
有利であると見なされる。
【００８３】上述の実施例の場合、外挿はコンボリュー
ションカーネルを用いた投影の畳み込みの直前に行われ
ている。しかしながら、本発明の枠内で外挿を処理フロ
ーの別の個所で行うことも可能である。
【００８４】上述の実施例は本発明による方法のＣＴ技
術への医学的適用に関する。しかしながら、発明による
方法は他のトモグラフ的像形成方法にも、また非医学的
分野にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による像再構成方法が適用されているＣ
Ｔ装置を部分的にブロック回路で示す概略図。
【図２】本発明による像再構成方法の進行中に測定点の
外挿を行うための種々のステートメントを示す図。
【図３】本発明による像再構成方法の進行中に測定点の
外挿を行うための種々のステートメントを示す図。
【図４】本発明による像再構成方法の進行中に測定点の
外挿を行うための種々のステートメントを示す図。
【図５】本発明による像再構成方法を適用し縮小測定フ
ィールドで動作する第２の作動形式のＣＴ装置を示す概
略図。
【図６】図５に示された作動形式のための測定点の外挿
を示す図。
【図７】第２の作動形式の変形例において本発明による
像再構成方法に基づいて動作するＣＴ装置を示す概略
図。
【図８】第２の作動形式の変形例において本発明による
像再構成方法に基づいて動作するＣＴ装置を示す概略
図。
【図９】図７及び図８の作動形式における測定点の外挿
を示す図。
【図１０】第２の作動形式の別の変形例において本発明
による像再構成方法に基づいて動作するＣＴ装置を示す
概略図。
【図１１】第２の作動形式の別の変形例において本発明
による像再構成方法に基づいて動作するＣＴ装置を示す
概略図。
【図１２】第２の作動形式の別の変形例において本発明
による像再構成方法に基づいて動作するＣＴ装置を示す
概略図。
【符号の説明】
１ Ｘ線放射源 ２ Ｘ線束 ３ 検出器 ４ 焦点 ５ 検査対象物 ６ 寝台 ７ 測定開口 ８ ガントリ ９ Ｘ線発生器装置 １０ 測定フィールド １１ コンピュータ １２ ディスプレイ装置 １３ 駆動装置 １４ 一次Ｘ線シャッタ １５ 焦点軌道 １６ 診断上重要な範囲 １７ 縮小測定フィールド １８ 再構成測定フィールド ２０ 部分透明シャッタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ベルント オーネゾルゲ ドイツ連邦共和国 91054 エルランゲン ユングシュトラーセ 12 (72)発明者 カール シュワルツ ドイツ連邦共和国 91154 ロート アベ ンベルガー シュトラーセ ８ Ｆターム(参考） 4C093 AA21 BA03 BA10 CA13 FD07 FD08 FD09 FE14

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 検査対象物に対して相対的に移動可能な
    放射源と、この放射源から出された放射の検出器システ
    ムとを備え、この検出器システムが検査対象物に対する
    放射源の相対的な種々の位置において広がりが測定フィ
    ールドをはみ出す検査対象物の測定フィールド内に存在
    する範囲の投影を撮影し、投影がチャネル番号と測定値
    とにより示される測定点の列によって表され、 ａ）測定フィールドのはみ出しが生じている投影を検出
    するステップと、 ｂ）検出された投影を表す測定点の各列が、測定値が少
    なくともほぼ零である１つの測定点で開始されかつ終了
    するように、検出された投影を表す測定点の列に外挿測
    定点を追加するステップと、を有し、その場合次の追加
    的なステップ、つまり、 ・追加される測定点が、投影を表し直交座標系にプロッ
    トされた測定点の列の開始又は終了に続く多数の測定点
    の、投影を表す測定点の列の最初ないしは最後の測定点
    を通って座標系の測定値に相応する軸に平行に延びる直
    線に関する鏡像によって、引き続いて投影を表す測定点
    の列の最初ないしは最後の測定点を通って座標系のチャ
    ネル番号に相応する軸に平行に延びる直線に関する鏡像
    によって得られるように、外挿が行われるステップ、 ・外挿が放射のフェードインなしに生ずる測定フィール
    ドに対して測定された基準データを利用して行われるス
    テップ、の少なくとも１つが行われることを特徴とする
    ＣＴ装置の像再構成方法。
  2. 【請求項２】 測定フィールドのはみ出しを有する投影
    の検出が、閾値観察によって、連続する多数の測定点Ｎ
    th,scoの測定値の平均値が投影を表す測定点の列の少な
    くとも開始又は終了において、測定フィールドのはみ出
    しを有する投影の存在を示す閾値を超過する場合に対し
    て行われることを特徴とする請求項１記載の方法。
  3. 【請求項３】 減衰関数を用いて行う外挿測定点の重み
    付けは、これらの測定点が一様に零に移行するように行
    われることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
  4. 【請求項４】 その都度検出された投影のために外挿の
    パラメータの選択及び重み付けが測定フィールドのはみ
    出しの見積もりによって求められた大きさを考慮して行
    われることを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載の
    方法。
  5. 【請求項５】 外挿測定点が、畳み込みの長さ限界の超
    過が生ずるが畳み込みの長さ限界の拡大を必要としない
    ような数で追加されることを特徴とする請求項１乃至４
    の１つに記載の方法。
  6. 【請求項６】 投影データの畳み込みがコンボリューシ
    ョンカーネルを用いて行われ、外挿が像再構成の進行に
    おいてコンボリューションカーネルを用いた投影の畳み
    込みの直前に実施されることを特徴とするされることを
    特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
  7. 【請求項７】 測定フィールドのはみ出しが、診察上重
    要な範囲を撮像するのに十分な縮小測定フィールドへの
    放射源から出た放射のフェードインが行われることによ
    って生ぜしめられることを特徴とする請求項１乃至６の
    １つに記載の方法。
  8. 【請求項８】 像再構成が、縮小測定フィールド内に位
    置する再構成測定フィールドに対してのみ行われること
    を特徴とする請求項７記載の方法。
  9. 【請求項９】 外挿が放射のフェードインなしに生ずる
    測定フィールドに関する基準データを利用して行われ、
    その場合基準データは検査の前に放射のフェードインな
    しに生ずる測定フィールドに対して測定されることを特
    徴とする請求項１乃至８の１つに記載の方法。
  10. 【請求項１０】 外挿が放射のフェードインなしに生ず
    る測定フィールドに関する基準データを利用して行わ
    れ、その場合基準データは検査中に縮小測定フィールド
    に関する測定点と同時に測定されることを特徴とする請
    求項１乃至８の１つに記載の方法。
  11. 【請求項１１】 放射のフェードインなしに生ずる測定
    フィールドに関する基準データと縮小測定フィールドに
    関する基準データとが複数の行の検出器要素を有する検
    出器システムによって測定され、その場合検出器要素の
    各行は多数の検出器要素に相応する数のチャネルを有
    し、基準データは１つの行の検出器要素によって、縮小
    測定フィールドに関する測定点は他の行の検出器要素に
    よって測定され、基準データの測定の際には検出器要素
    の行毎に縮小測定フィールドに関する測定点の測定の場
    合よりも多くのチャネルが考慮されることを特徴とする
    請求項１０記載の方法。
  12. 【請求項１２】 外挿が放射のフェードインなしに生ず
    る測定フィールドに関する基準データを利用して行わ
    れ、その場合縮小測定フィールドで測定された測定点の
    測定値のレベルへの基準データのスケーリングが行われ
    ることを特徴とする請求項１乃至１１の１つに記載の方
    法。
  13. 【請求項１３】 縮小測定フィールドで測定された測定
    点の測定値のレベルへの基準データの移行重み付けが行
    われることを特徴とする請求項１２記載の方法。
  14. 【請求項１４】 外挿が放射のフェードインなしに生ず
    る測定フィールドに関する基準データを利用して行わ
    れ、その場合基準データが縮小された形で記憶され、外
    挿の前に内挿によって再度拡大されることを特徴とする
    請求項１乃至１３の１つに記載の方法。
JP11333037A 1998-11-27 1999-11-24 Ｃｔ装置の像再構成方法 Abandoned JP2000308637A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19854917A DE19854917B4 (de) 1998-11-27 1998-11-27 Verfahren zur Bildrekonstruktion für ein CT-Gerät
DE19854917.2 1998-11-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000308637A true JP2000308637A (ja) 2000-11-07

Family

ID=7889315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11333037A Abandoned JP2000308637A (ja) 1998-11-27 1999-11-24 Ｃｔ装置の像再構成方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6307909B1 (ja)
JP (1) JP2000308637A (ja)
DE (1) DE19854917B4 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004065706A (ja) * 2002-08-08 2004-03-04 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 投影データ補正方法、画像生成方法およびｘ線ｃｔ装置
JP2005021702A (ja) * 2003-07-03 2005-01-27 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc トランケーション補償の方法及び装置
JP2007533390A (ja) * 2004-04-21 2007-11-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ トランケートされた投影と事前に取得した３次元ｃｔ画像を用いる円錐ビームｃｔ装置
JP2014195526A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 朝日レントゲン工業株式会社 画像再構成装置、画像再構成方法、及びｘ線撮影装置

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10026566A1 (de) * 2000-05-30 2001-12-13 Siemens Ag Computertomograph
DE10112792B4 (de) * 2001-03-16 2007-09-27 Siemens Ag Verfahren zur Korrektur einer Kalibrierwerte enthaltenden Kalibriertabelle eines CT-Geräts
US6856666B2 (en) * 2002-10-04 2005-02-15 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Multi modality imaging methods and apparatus
US6810102B2 (en) * 2002-10-04 2004-10-26 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Methods and apparatus for truncation compensation
DE10256075A1 (de) * 2002-11-29 2004-06-17 Siemens Ag Kombiniertes Emmissions-Tomographie- und Computer-Tomographie-Gerät
US6934353B2 (en) * 2003-10-01 2005-08-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Methods, apparatus, and computer readable mediums for performing perfusion studies
US7415145B2 (en) * 2003-12-30 2008-08-19 General Electric Company Methods and apparatus for artifact reduction
SE527885C2 (sv) * 2004-01-13 2006-07-04 Xcounter Ab Förfarande och anordning för rekonstruktion av ett föremåls dämpningsdensitet från röntgenprojektionsavbildningsdata
CN100502785C (zh) * 2004-02-02 2009-06-24 株式会社日立医药 断层成像设备及其方法
US7050528B2 (en) * 2004-09-30 2006-05-23 Wisconsin Alumni Research Foundation Correction of CT images for truncated or incomplete projections
KR100687846B1 (ko) * 2005-01-21 2007-02-27 경희대학교 산학협력단 국부 고해상도 엑스선 단층 영상 재구성 방법 및 국부고해상도 엑스선 단층 영상 재구성 장치
CN100381104C (zh) * 2005-03-22 2008-04-16 东软飞利浦医疗设备系统有限责任公司 一种自动消减边缘伪影的x－射线计算机层析成像机
DE102005034876B3 (de) * 2005-07-26 2007-04-05 Siemens Ag Verfahren zur Erstellung von computertomographischen Darstellungen durch ein CT mit mindestens zwei winkelversetzten Strahlenquellen
US7756315B2 (en) * 2005-11-23 2010-07-13 General Electric Company Method and apparatus for field-of-view expansion of volumetric CT imaging
DE102006014629A1 (de) * 2006-03-29 2007-10-04 Siemens Ag Verfahren zur Korrektur von Trunkierungsartefakten
DE102006014630B4 (de) 2006-03-29 2014-04-24 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Korrektur von Trunkierungsartefakten
DE102006056824A1 (de) * 2006-12-01 2008-06-12 Sicat Gmbh & Co. Kg Bildrekonstruktion auf der Basis von 2D Projektionsdaten
DE102006062277A1 (de) * 2006-12-22 2008-06-26 Siemens Ag Verfahren zur Korrektur von Trunkierungsartefakten in einem Rekonstruktionsverfahren für computertomographische Aufnahmen
DE102007036561A1 (de) * 2007-08-03 2009-02-19 Siemens Ag Verfahren zur Korrektur von Trunkierungsartefakten in einem Rekonstruktionsverfahren für tomographische Aufnahmen mit trunkierten Projektionsdaten
US8213694B2 (en) * 2008-02-29 2012-07-03 Barco N.V. Computed tomography reconstruction from truncated scans
FR2932286B1 (fr) * 2008-06-06 2011-07-15 Gen Electric Procede d'extrapolation d'une image bidimensionnelle en niveaux de gris dans un dispositif de radiographie
US8712134B2 (en) * 2011-10-18 2014-04-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and system for expanding axial coverage in iterative reconstruction in computer tomography (CT)
US9237873B2 (en) 2011-10-31 2016-01-19 General Electric Company Methods and systems for CT projection domain extrapolation
US9697624B2 (en) * 2014-08-28 2017-07-04 Shimadzu Corporation Image processing apparatus, radiation tomography apparatus, and method of performing image processing
CN104323789B (zh) 2014-09-25 2017-08-25 沈阳东软医疗系统有限公司 一种ct扫描图像重建方法及ct扫描仪
CN106920265B (zh) * 2015-12-28 2024-04-26 上海联影医疗科技股份有限公司 计算机断层扫描图像重建方法及装置
US10825210B2 (en) 2017-11-30 2020-11-03 Canon Medical Systems Corporation Method and apparatus for projection domain truncation correction in computed-tomography (CT)
US11357467B2 (en) 2018-11-30 2022-06-14 Accuray, Inc. Multi-pass computed tomography scans for improved workflow and performance
WO2020112684A2 (en) 2018-11-30 2020-06-04 Accuray Inc. Multi-pass computed tomography scans for improved workflow and performance
WO2020238818A1 (en) 2019-05-24 2020-12-03 Shanghai United Imaging Healthcare Co., Ltd. Imaging systems and methods
US11166690B2 (en) 2020-03-19 2021-11-09 Accuray, Inc. Noise and artifact reduction for image scatter correction
US11647975B2 (en) 2021-06-04 2023-05-16 Accuray, Inc. Radiotherapy apparatus and methods for treatment and imaging using hybrid MeV-keV, multi-energy data acquisition for enhanced imaging
US11605186B2 (en) 2021-06-30 2023-03-14 Accuray, Inc. Anchored kernel scatter estimate
US11794039B2 (en) 2021-07-13 2023-10-24 Accuray, Inc. Multimodal radiation apparatus and methods
US11854123B2 (en) 2021-07-23 2023-12-26 Accuray, Inc. Sparse background measurement and correction for improving imaging
US12257083B2 (en) 2022-02-07 2025-03-25 Accuray Inc. Methods for saturation correction and dynamic gain configuration and apparatuses for performing the same
DE102023207831B3 (de) 2023-08-15 2024-11-28 Siemens Healthineers Ag Bildrekonstruktion mit Extrapolation

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2753260A1 (de) * 1977-11-30 1979-05-31 Philips Patentverwaltung Verfahren zur ermittlung der raeumlichen verteilung der absorption einer strahlung
US4305127A (en) * 1979-11-29 1981-12-08 Technicare Corporation Projection completion method of partial area scan
AT392594B (de) 1987-07-24 1991-04-25 Tyrolia Freizeitgeraete Backenkoerper fuer sicherheitsskibindungen
US5640436A (en) * 1995-01-26 1997-06-17 Hitachi Medical Corporation Method and apparatus for X-ray computed tomography
JPH10222675A (ja) * 1997-01-31 1998-08-21 Toray Ind Inc データ処理方法および装置
US5953388A (en) * 1997-08-18 1999-09-14 George Mason University Method and apparatus for processing data from a tomographic imaging system

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004065706A (ja) * 2002-08-08 2004-03-04 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 投影データ補正方法、画像生成方法およびｘ線ｃｔ装置
JP2005021702A (ja) * 2003-07-03 2005-01-27 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc トランケーション補償の方法及び装置
JP2007533390A (ja) * 2004-04-21 2007-11-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ トランケートされた投影と事前に取得した３次元ｃｔ画像を用いる円錐ビームｃｔ装置
JP2014195526A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 朝日レントゲン工業株式会社 画像再構成装置、画像再構成方法、及びｘ線撮影装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE19854917B4 (de) 2008-07-03
US6307909B1 (en) 2001-10-23
DE19854917A1 (de) 2000-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000308637A (ja) Ｃｔ装置の像再構成方法
US7082180B2 (en) Methods and apparatus for computing volumetric perfusion
US7623691B2 (en) Method for helical windmill artifact reduction with noise restoration for helical multislice CT
Ohnesorge et al. Efficient correction for CT image artifacts caused by objects extending outside the scan field of view
JP4152649B2 (ja) Ｃｔスカウト画像処理のための方法及び装置
JP4384749B2 (ja) 高減衰性物体のためのアーティファクト補正
KR101576703B1 (ko) 화상 처리 장치, 화상 처리 방법 및 컴퓨터 판독 가능 저장 매체
JP4666915B2 (ja) 灌流測定のための動き補正
US6493416B1 (en) Method and apparatus for noise reduction in computed tomographic systems
CN102236903B (zh) 通过迭代的图像重建在ct拍摄中提高时间分辨率
JP4575718B2 (ja) トランケーション補正を行う撮像装置
JP2004188187A (ja) アーティファクト低減を容易にする方法及び装置
JP2004174262A (ja) 灌流データを取得する方法及び装置
JPH11276474A (ja) 断層画像形成システム
JPH10262960A (ja) 部分体積アーチファクト低減方法およびシステム
US6587537B1 (en) Methods and apparatus for multi-slice image reconstruction
CN102376084B (zh) 使用各向异性噪声模型对ct图像的迭代图像滤波
JP4301866B2 (ja) 物体の画像を再構成する方法及び装置
US6845141B2 (en) Computed tomography apparatus wherein an image of a subject is reconstructed for a reconstruction field that is larger than the measuring field
US6351514B1 (en) Slice-adaptive multislice helical weighting for computed tomography imaging
US6418184B1 (en) Helical rowwise view weighting of computed tomographic images
JP4079488B2 (ja) 計算機式断層写真法システムにおいて基準チャンネルの閉塞を検出する方法及びシステム
JP2001218764A (ja) ティルト形螺旋再構成マルチ・スライスｃｔのための方法及び装置
JP4676641B2 (ja) マルチ・スライスｃｔ走査の螺旋再構成の方法及び装置
JP3484288B2 (ja) Ｘ線断層撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061030

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20090330