JP2000314702A - 塩分汚染碍子検出装置および方法 - Google Patents
塩分汚染碍子検出装置および方法Info
- Publication number
- JP2000314702A JP2000314702A JP11125423A JP12542399A JP2000314702A JP 2000314702 A JP2000314702 A JP 2000314702A JP 11125423 A JP11125423 A JP 11125423A JP 12542399 A JP12542399 A JP 12542399A JP 2000314702 A JP2000314702 A JP 2000314702A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 碍子に接触することなく塩分で汚染された高
圧送電線の碍子等を遠隔検出すること。 【解決手段】 被検知碍子４の表面へレーザ光線３を照
射するレーザ光源２と、レーザ光線３を照射して表面に
スパークを発生させたときに、被検知碍子４等の表面の
塩分がプラズマ状になったために発生するＮａ−Ｄ線を
検知するＮａ−Ｄ線検出手段１とにより構成される。
圧送電線の碍子等を遠隔検出すること。 【解決手段】 被検知碍子４の表面へレーザ光線３を照
射するレーザ光源２と、レーザ光線３を照射して表面に
スパークを発生させたときに、被検知碍子４等の表面の
塩分がプラズマ状になったために発生するＮａ−Ｄ線を
検知するＮａ−Ｄ線検出手段１とにより構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、高圧送電線を支持す
る碍子の塩分で汚染された状態を検出する装置および方
法に関し、特に、碍子に接触することなく塩分で汚染さ
れた碍子を遠隔検出できるように構成したものである。
る碍子の塩分で汚染された状態を検出する装置および方
法に関し、特に、碍子に接触することなく塩分で汚染さ
れた碍子を遠隔検出できるように構成したものである。
【０００２】
【従来の技術】高圧送電線を支持する碍子の表面が、潮
風の塩分によって汚染されると漏電して送電不能に陥る
ので、塩分で汚染された碍子を洗浄しなければならな
い。
風の塩分によって汚染されると漏電して送電不能に陥る
ので、塩分で汚染された碍子を洗浄しなければならな
い。
【０００３】そのために、碍子が汚染されているか否か
を検知する必要があり、従来の検知方法は、送電系統と
は別にパイロット碍子を吊しておいて、強風が吹いた後
などに、パイロット碍子を降ろして水で洗浄し、洗浄し
た水の塩分を測定して汚染状態を知るという手間のかか
る方法を行なっていた。
を検知する必要があり、従来の検知方法は、送電系統と
は別にパイロット碍子を吊しておいて、強風が吹いた後
などに、パイロット碍子を降ろして水で洗浄し、洗浄し
た水の塩分を測定して汚染状態を知るという手間のかか
る方法を行なっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、全鉄塔に吊し
たパイロット碍子を引き降ろし、これらを洗浄して塩分
を検出するというのは、極めて効率の悪い作業である
し、パイロット碍子を吊していない場所の汚染について
は検知する手段がなかった。そこで、塩分で汚染された
碍子等を遠隔検出できる装置の出現が望まれていた。
たパイロット碍子を引き降ろし、これらを洗浄して塩分
を検出するというのは、極めて効率の悪い作業である
し、パイロット碍子を吊していない場所の汚染について
は検知する手段がなかった。そこで、塩分で汚染された
碍子等を遠隔検出できる装置の出現が望まれていた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明の塩分汚染碍子
検出装置は、被検知碍子４の表面へレーザ光線３を照射
するレーザ光源２と、レーザ光線を照射して表面にスパ
ークを発生させたときに、被検知碍子４の表面の塩分が
プラズマ状になったために発生するＮａ−Ｄ線を検知す
るＮａ−Ｄ線検出手段１とを具備している。
検出装置は、被検知碍子４の表面へレーザ光線３を照射
するレーザ光源２と、レーザ光線を照射して表面にスパ
ークを発生させたときに、被検知碍子４の表面の塩分が
プラズマ状になったために発生するＮａ−Ｄ線を検知す
るＮａ−Ｄ線検出手段１とを具備している。
【０００６】
【発明の実施の形態】この発明の塩分汚染碍子検出装置
は、図１に示すように、比較的大きなパルス・レーザ出
力を発生して被検知碍子４の表面へ照射するレーザ光源
２と、被検知碍子４の表面でスパークを発生して碍子４
の表面に付着した塩分がプラズマ状態になったために発
生するナトリウムに固有のスペクトル線（Ｎａ−Ｄ線）
を検出するＮａ−Ｄ線検出装置１とにより構成されてい
る。
は、図１に示すように、比較的大きなパルス・レーザ出
力を発生して被検知碍子４の表面へ照射するレーザ光源
２と、被検知碍子４の表面でスパークを発生して碍子４
の表面に付着した塩分がプラズマ状態になったために発
生するナトリウムに固有のスペクトル線（Ｎａ−Ｄ線）
を検出するＮａ−Ｄ線検出装置１とにより構成されてい
る。
【０００７】レーザ光源２から出力されるレーザ光線３
は、凹面鏡11の透孔12を経て被検知碍子４へ照射され
る。Ｎａ−Ｄ線検出装置１は、碍子４の方向から入射し
た光線を凹面鏡11で集束し、入射した光線のうち、Ｎａ
−Ｄ線を透過させるフィルタ13と、このフィルタ13を透
過したＮａ−Ｄ線を電気信号に変換する光電変換素子14
と、この光電変換素子14の出力を増幅する増幅器15と、
増幅された信号を指示する指示器16とを備えている。
は、凹面鏡11の透孔12を経て被検知碍子４へ照射され
る。Ｎａ−Ｄ線検出装置１は、碍子４の方向から入射し
た光線を凹面鏡11で集束し、入射した光線のうち、Ｎａ
−Ｄ線を透過させるフィルタ13と、このフィルタ13を透
過したＮａ−Ｄ線を電気信号に変換する光電変換素子14
と、この光電変換素子14の出力を増幅する増幅器15と、
増幅された信号を指示する指示器16とを備えている。
【０００８】レーザ光源２から放射させるレーザ光線３
は電磁波であるから、碍子４の表面に集束して照射され
とき、レーザ光線３は電界を形成してスパークする。こ
のスパーク時に、碍子４の表面に塩分が存在すると、塩
分がプラズマ状態になってナトリウムに固有のＮａ−Ｄ
線を発生するので、フィルタ13によってＮａ−Ｄ線を選
択して光電変換素子14で検出し、指示器16に指示させる
ことにより、碍子表面における塩分の有無を知ることが
できる。
は電磁波であるから、碍子４の表面に集束して照射され
とき、レーザ光線３は電界を形成してスパークする。こ
のスパーク時に、碍子４の表面に塩分が存在すると、塩
分がプラズマ状態になってナトリウムに固有のＮａ−Ｄ
線を発生するので、フィルタ13によってＮａ−Ｄ線を選
択して光電変換素子14で検出し、指示器16に指示させる
ことにより、碍子表面における塩分の有無を知ることが
できる。
【０００９】
【発明の効果】以上の実施の形態に基づく説明から明ら
かなように、この発明によると、高圧送電系統における
碍子の塩分で汚染された状態を遠隔検出できるので、塩
分で汚染された碍子のみを洗浄すればよくなるので、塩
害発生時の洗浄作業を効率よく行なうことができる。
かなように、この発明によると、高圧送電系統における
碍子の塩分で汚染された状態を遠隔検出できるので、塩
分で汚染された碍子のみを洗浄すればよくなるので、塩
害発生時の洗浄作業を効率よく行なうことができる。
【図１】この発明の塩分汚染碍子検出装置の実施の形態
を示す原理図である。
を示す原理図である。
１ Ｎａ−Ｄ線検出装置 ２ レーザ光源 ３ レーザ光線 ４ 碍子 11 凹面鏡 12 透孔 13 フィルタ 14 光電変換素子 15 増幅器 16 指示器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G043 AA03 BA07 CA05 EA10 FA01 GA02 GA04 GB01 GB21 HA03 JA03 KA08 KA09 LA01
Claims (2)
- 【請求項１】 被検知碍子の表面へレーザ光線を照射す
るレーザ光源と、レーザ光線を照射して表面にスパーク
を発生させたときに、被検知碍子の表面の塩分がプラズ
マ状になったために発生するＮａ−Ｄ線を検知するＮａ
−Ｄ線検出手段とを具備することを特徴とする塩分汚染
碍子検出装置。 - 【請求項２】 被検知碍子の表面へレーザ光線を照射し
て表面にスパークを発生させ、そのとき、被検知碍子の
表面の塩分が存在して、該塩分がプラズマ状になったた
めに発生するＮａ−Ｄ線を検知することにより塩分汚染
碍子を検出する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11125423A JP2000314702A (ja) | 1999-05-06 | 1999-05-06 | 塩分汚染碍子検出装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11125423A JP2000314702A (ja) | 1999-05-06 | 1999-05-06 | 塩分汚染碍子検出装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000314702A true JP2000314702A (ja) | 2000-11-14 |
Family
ID=14909745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11125423A Pending JP2000314702A (ja) | 1999-05-06 | 1999-05-06 | 塩分汚染碍子検出装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000314702A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012032240A (ja) * | 2010-07-29 | 2012-02-16 | Shimadzu Corp | 拡散反射測定装置 |
| CN102520119A (zh) * | 2011-11-10 | 2012-06-27 | 广东电网公司东莞供电局 | 一种电力外绝缘表面污秽度测量方法 |
| US8400504B2 (en) | 2010-04-05 | 2013-03-19 | King Fahd University Of Petroleum And Minerals | Contamination monitoring of high voltage insulators |
| CN103245761A (zh) * | 2013-04-28 | 2013-08-14 | 华南理工大学 | 一种以积污速率划分污区等级的方法 |
| CN104280072A (zh) * | 2014-10-21 | 2015-01-14 | 华北电力大学（保定） | 一种绝缘子污秽检测方法及装置 |
| CN104502747A (zh) * | 2014-12-02 | 2015-04-08 | 国家电网公司 | 一种适用于特高压绝缘子检测的装置和方法 |
| CN108590314A (zh) * | 2018-05-29 | 2018-09-28 | 中国电力工程顾问集团西南电力设计院有限公司 | 一种集成构架 |
| KR102578812B1 (ko) * | 2022-09-29 | 2023-09-15 | 주식회사 정우계전 | 광 방식에 의한 염분 입자 검출 장치 및 방법 |
-
1999
- 1999-05-06 JP JP11125423A patent/JP2000314702A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8400504B2 (en) | 2010-04-05 | 2013-03-19 | King Fahd University Of Petroleum And Minerals | Contamination monitoring of high voltage insulators |
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| CN103245761A (zh) * | 2013-04-28 | 2013-08-14 | 华南理工大学 | 一种以积污速率划分污区等级的方法 |
| CN103245761B (zh) * | 2013-04-28 | 2015-08-26 | 华南理工大学 | 一种以积污速率划分污区等级的方法 |
| CN104280072A (zh) * | 2014-10-21 | 2015-01-14 | 华北电力大学（保定） | 一种绝缘子污秽检测方法及装置 |
| CN104502747A (zh) * | 2014-12-02 | 2015-04-08 | 国家电网公司 | 一种适用于特高压绝缘子检测的装置和方法 |
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