JP2000347902A - デジタル装置及び関連するデジタル装置に搭載されたソフトウェアのソフトウェアモジュールのために動作及びエラー情報を復元する方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、デジタル装置に搭載される一つ
のソフトウェアのソフトウェアモジュールから生ずる動
作情報を復元する方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、デジタル装置の中のソフトウ
ェアモジュールのために、テスト機能を実行してテスト
情報を決定する方法を提供する。装置は、ソフトウェア
モジュールと夫々関連する複数のフラグを含み、各ソフ
トウェアモジュールは少なくとも一つの上記テスト機能
と関連する。この方法は、該当するソフトウェアモジュ
ールと関連するフラグの値の関数としてテスト機能を実
行する段階と、ユーザによるアクセスのために結果とし
てのテスト情報を与える段階とを有する。本発明は更
に、この方法を実施する装置を提供することを目的とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明が属する技術分野】本発明は、ソフトウェア保守
の分野に係わり、特にデジタル装置、とりわけデジタル
デコーダ、テレビジョン受像機、ディスクリーダ／レコ
ーダに搭載されたソフトウェアのソフトウェアモジュー
ルから動作情報又はエラー情報を復元することに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】オペレーティングシステムによって管理
されるマイクロプロセッサに基づくサブアセンブリ（又
はカード）を含むプラットホームを有し、そのため益々
複雑性が高められた搭載ソフトウェアの利用を可能にす
るデジタル装置が増えている。

【０００３】まだ物理的に開いているデジタル装置の上
に搭載されたソフトウェアの開発フェーズの間、開発者
はカードをテイラー又はデバッグするための利用可能な
技術的な手段を有し、これは一般的に開発環境（イーサ
ネット（登録商標）をロードするネットワーク、ソフト
ウェアの動作のシングルステップシミュレーションを可
能にする組込み式デバッガ）と称される。

【０００４】一旦テイラーテスト及びデバッグテストが
行なわれると、ハードウェア・プラットフォームは工場
で製造され、装置はソフトウェアを組込んだ後に閉じら
れる。

【０００５】既存のデジタル装置は、外部通信ポート
（シリアル、パラレル、モデム）を含む。搭載ソフトウ
ェアの挙動は、これらポートのうちのいずれか一つに対
して書込まれた情報のストリームを読出し、ソフトウェ
アモジュールの集合の動作をテストすることでモニタさ
れ得る。ここでは、ソフトウェアモジュールという表現
は一つのハードウェアの動作に当てられた情報及びソー
スコードの集合を意味するとして理解されるべきであ
る。この情報のストリームの読出しは、例えば、モニタ
を具備するマイクロコンピュータをこのポートに接続す
ることで実現され、従ってソフトウェアの挙動の視覚化
を可能にする。

【０００６】選択されたポートへのこの書込みは、これ
までソフトウェアのバージョンに依存してきた。これ
は、ソフトウェアの形成中のコンパイルに対する指示の
みが、挙動の確認が望まれるソフトウェアモジュールの
一つ以上のサブグループの決定を可能にするからであ
る。

【０００７】しかしながら、一つ以上の所与のソフトウ
ェアモジュールの動作を通知する前述の情報のストリー
ムの中の情報項目を得ることを望む場合、ソフトウェア
全体が新情報項目を組込むよう再構築され、次に装置の
中に再ロードされねばならない。ソフトウェアの再ロー
ドは、例えば、ユーザが必要なソフトウェアモジュール
のテストをソースコードの中に書込むことによって成さ
れる。これら通常の更新は退屈であり、高価であり、時
間が掛かり（テストの書込み時間）、且つ、ソフトウェ
アの新バージョンを導入するために特定の行動を試みる
ことがユーザに要求される。

【０００８】更に、新しく導入された新情報項目は、侵
入的であり、且つ、ソフトウェアの挙動を変え得る。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、デジタル装
置に搭載される一つのソフトウェアのソフトウェアモジ
ュールから生ずる動作情報を復元し、ユーザが少なくと
も一つのソフトウェアモジュールの動作に関して通知さ
れることを望むとき装置が動作される間に実行され得、
又、ソフトウェア全体の再ロードを必要としない方法を
提供することで前述の欠点を克服することを目的とす
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】従って、本発明の技術的
内容は、デジタル装置の中のソフトウェアモジュールの
ために、テスト機能を実行してテスト情報を決定する方
法に係わり、上記装置はソフトウェアモジュールと夫々
関連する複数のフラグを有し、各ソフトウェアモジュー
ルは少なくとも一つのテスト機能と関連し、上記方法
は、該当するソフトウェアモジュールと関連するフラグ
の値の関数としてテスト機能を実行する段階と、ユーザ
によるアクセスのために結果としてのテスト情報を与え
る段階とを有することを特徴とする。

【００１１】このようにして、ユーザが動作を確認する
ことを望むソフトウェアモジュールに該当するフラグを
アクティブ値、例えば１、にすることで有効化すること
を単に必要とするだけではない。フラグを有効化するこ
とは、所望のソフトウェアモジュールと関連するテスト
機能を実行する可能性を許可する。従って、本発明によ
る方法はユーザによるソフトウェアのソースコードに対
する修正（コンパイル、リンクエディティング）、及
び、デジタル装置の中にソフトウェアを再ロードするこ
とを回避する。本発明は、動作中も実行され得、且つ、
ユーザに望まれる動作情報項目を復元できることから選
択的である、動的な方法を得ることを可能にする。

【００１２】本発明の一実施例によると、方法は上記フ
ラグの値を上記装置の外部接続を通して設定する段階を
有する。

【００１３】本発明の更なる技術的内容は、ソフトウェ
アモジュールと上記ソフトウェアモジュールに関連する
テスト情報を決定するテスト機能とを有するデジタル装
置に係わり、ソフトウェアモジュール及び少なくとも一
つのテスト機能に夫々関連するフラグを保持するメモリ
と、該当するフラグの値に依存してテスト機能の実行を
起動する手段とを有することを特徴とする。

【００１４】テスト機能の実行を起動する手段はマイク
ロプロセッサであってもよい。

【００１５】従って、本発明による装置では、その中に
含まれるメモリの変更可能性に注目すべきである。前に
説明した通りこのメモリは、ユーザが得ようとする搭載
ソフトウェアのソフトウェアモジュールに関連するテス
ト情報をカスタマイズすることを可能にする。

【００１６】本発明の一実施例によると、ライブラリは
デジタル装置の出力ポートの上でテスト情報が利用可能
となることを示す情報項目を含む。

【００１７】本発明の一実施例によると、一つのソフト
ウェアを形成する機能的なソフトウェア層の数はライブ
ラリの数に等しく、各ライブラリは不揮発性メモリの中
の特定のアドレスに保存される。

【００１８】本発明の一実施例によると、上記フラグの
うちの少なくとも一部は、装置をリセットするような特
定のイベントが生じた際に初期化される値、即ちデフォ
ルト値を有する。従って、この特徴は装置が、例えば、
電流が中断される度に標準状態に戻ることを可能にす
る。

【００１９】本発明の一実施例によると、装置はデジタ
ルデコーダ、デジタルテレビジョン受像機、デジタルデ
ィスクリーダ及び／又はレコーダを含む群に属する。

【００２０】

【発明の実施の形態】本発明の他の特徴及び利点は、添
付図を参照して非制限的な例によって以下の実施例の説
明から明白になるだろう。

【００２１】説明を簡略化するために、同一の参照番号
は同様の機能を果たす要素を明示するために用いられ
る。

【００２２】図１中、モニタ２を具備するコンピュータ
１の形態として示されるユーザのワークステーションが
シリアルライン１０を用いてデジタルデコーダ３に接続
されている。

【００２３】このとき、コンピュータ１とデコーダ３と
の接続はシリアルラインを通じてデータを交換するプロ
トコルによって行なわれる。デコーダは、コンピュータ
１の存在を検知し、デコーダ自体をスレーブモードに構
成する。そのとき、ユーザは以下で説明する動作のモー
ドに基づいて動作を確認することが望まれるソフトウェ
アモジュールを、ＥＥＰＲＯＭタイプの不揮発性メモリ
６の中でパラメータ化し得る。メモリ６への書込み及び
メモリ６からの読出しは、マイクロプロセッサ７を介し
て行なわれる。再プログラム可能なメモリ８は、テスト
機能及びソフトウェアモジュールのためのコードを保持
する。

【００２４】図２は、０又は１の値を取ることが可能な
ｎビットのストリング４を示す図である。ユーザは、例
えば、ＥＥＰＲＯＭの中にあるこのストリングに対し
て、二つのパーティから認識され本質的に既知である、
コンピュータに接続されるシリアルリンク、及び、通信
プロトコルを用いてアクセスする。変形例によると、ユ
ーザはデコーダの内部の隠されたメニューを介してこの
ストリングにアクセスする。

【００２５】デコーダに搭載されたソフトウェアがソフ
トウェア層に構成されるため、ユーザによって受信され
るべき情報の分割はユーザインタフェース及び「ミドル
ウェア」と称される他のソフトウェアのソフトウェア群
毎、例えば、ドライバソフトウェアの群毎、に成され得
る。従って、ソフトウェア群の数だけストリング４があ
る。各ストリング４は、特定のアドレスにおいてＥＥＰ
ＲＯＭの中に保存され、ｎビットのフィールドと一つの
バイトとを含む。

【００２６】ｎビットのフィールドにおいてインデック
スｊのビットは、関連する群のテスト機能ｊに該当す
る。このビットが０の場合、テストは不活性であり、つ
まりテスト機能はソフトウェアが実行される間ソフトウ
ェアモジュールに関連する如何なる機能も呼出さない。
反対の場合、即ちビットが１の場合、テスト機能は活性
であり、つまりテスト機能（通常当業者に公知の「トレ
ース」と称される機能）はモジュールの機能を呼出し
（例えば、モデムモジュール機能の接続、切断）、この
実行から動作状態又はエラー情報項目を得る。これらの
ビットは、ユーザが所望のテスト機能を選択し得、それ
故に該当するソフトウェアモジュールに関連する情報を
得られるようユーザによって入力される。

【００２７】一つのバイトにおいては、ユーザに望ま
れ、関連するソフトウェア群に関する情報がその上でバ
イトが利用可能となる出力のタイプを特定する。このバ
イトの対応する値が「シリアル−チャネル出力」、「パ
ラレルポート上での出力」及び「出力無し」を明示する
ことを想像することは可能である。従って、群の活性さ
れたテストの集合は夫々に対応するテストの結果を特定
のポート上にディスパッチする。「出力無し」が要求さ
れた場合、テストの結果が無効になる。

【００２８】例えば、「ドライバソフトウェア」群は、
モデム、チップカードリーダ、ケーブルリターンチャネ
ル、ビデオモジュール及びオーディオモジュールといっ
たモニタされるべき５つのソフトウェアモジュールを有
するものとして定義される。ユーザは、ストリングのイ
ンデックス１のビットを値１に設定することでモデムテ
スト機能のみを活性化し、ストリングの他のビットに値
０を割当てることで他のソフトウェアモジュールの他の
テスト機能を不活性化し、最初のバイトを値０１に設定
することでモデムモジュールで活性化されたテストから
結果として得る情報をシリアルポートへルーチングする
ことを選択する。このとき、コンピュータ１がシリアル
ラインを介してこの情報を受けることが可能となる。こ
の情報は、コンピュータのスクリーン上で、即ち「モデ
ムが接続されている」、「エラー：キャリア損失」、
「ライン問題」等のタイプの特徴のストリングの形態で
伝搬される。このアプリケーションで定義されるような
同一のテスト機能は、一連の結果を提供できることが説
明される。

【００２９】変形例によると、テストの結果をユーザに
解釈可能な他の形態で示すことが可能である。例えば、
テストの結果としてスクリーン上に示される二つのバイ
トは問合せのタイプ及びその結果を夫々提供する。従っ
て、結果をコーディングした例によると、「０１ ０
０」の表示はモデムの成功した接続（０１：モデムの接
続、００：成功）として解釈可能となる。この変形例
は、交換される情報の量を減少することを可能にする。

【００３０】一旦所望のテスト機能及び出力のタイプが
ストリング４の中に入力されると、ユーザは他のテスト
を実行することから生じる他の表示された結果を見得
る。これは、該当する結果を表示するソフトウェアの実
行中、絶えず発生する活性化されたテスト機能に加え
て、ソフトウェアのプログラミング後に一度だけ実施さ
れる本質的に公知のシステム診断機能もスクリーン上に
結果を出力し得るからである。同様にして、テスト機能
は、例えば、定期的に本文の診断を提供するために規則
的に行なわれ得る。

【００３１】本発明は当然のことながら、本願で説明し
た実施例に制限されない。例えば、デジタルデコーダの
代わりに特にデジタルテレビジョン受像機、デジタルデ
ィスクリーダ及び／又はレコーダのようにソフトウェア
モジュールを有する搭載されたソフトウェアを含む全て
の他のデジタル装置とすることが可能である。同様にし
て、不揮発性メモリはＦＬＡＳＨメモリでもよい。

【００３２】本実施例によると、２進値がテスト機能の
実行を決定するが、本発明はこのような実施例に制限さ
れない。特に、バイナリ項目は実行されるべき幾つかの
テスト機能を明示し得る。テスト機能は、又、一つ以上
のソフトウェアモジュールをテストし得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】ワークステーション及びデコーダを含む開発環
境を示す図である。

【図２】本発明によるライブラリ又はバイナリ要素をビ
ットの形態で示す図である。

【符号の説明】

１ コンピュータ ２ モニタ ３ デコーダ ４ ストリング ５ 情報項目 ６ 不揮発性メモリ ７ マイクロプロセッサ ８ 再プログラム可能なメモリ １０ シリアルライン

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 391000771 46，Ｑｕａｉ Ａｌｐｈｏｓｅ Ｌｅ Ｇ ａｌｌｏ，92648 Ｂｏｕｌｏｇｎｅ Ｃ ｅｄｅｘ，Ｆｒａｎｃｅ，Ｆｒａｎｋｒｅ ｉｃｈ (72)発明者 ドニ クレスペル フランス国，35000 レンヌ，リュ・モン セニュール・デュシェスン 15 (72)発明者 パトリク ルプランス フランス国，35220 シャトブール，リ ュ・アナトル・ル・ブラズ ６ (72)発明者 ジャン−マリ ステイェ フランス国，35220 シャトブール，リ ュ・デ・オルメ ８

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 デジタル装置の中のソフトウェアモジュ
   ールのために、テスト機能を実行してテスト情報を決定
   する方法であって、 上記装置は、ソフトウェアモジュールと夫々関連する複
   数のフラグを含み、上記各ソフトウェアモジュールは少
   なくとも一つの上記テスト機能と関連し、上記方法は、 該当する上記ソフトウェアモジュールと関連する上記フ
   ラグの値の関数としてテスト機能を実行する段階と、 ユーザによるアクセスのために結果としてのテスト情報
   を与える段階とを有することを特徴とする方法。
2. 【請求項２】 上記フラグの値を上記装置の外部接続を
   通して設定する段階を更に有する、請求項１記載の方
   法。
3. 【請求項３】 上記フラグの値を上記装置の制御メニュ
   ーを通して表示する段階を有する、請求項１又は２記載
   の方法。
4. 【請求項４】 ソフトウェアモジュールと、上記ソフト
   ウェアモジュールに関連するテスト情報を決定するテス
   ト機能とを有するデジタル装置であって、 ソフトウェアモジュール及び少なくとも一つのテスト機
   能に夫々関連するフラグを保持するメモリと、 上記該当するフラグの値に依存してテスト機能の実行を
   起動する手段とを有することを特徴とするデジタル装
   置。
5. 【請求項５】 上記フラグは、ソフトウェアモジュール
   のタイプに関連して群へと編成される、請求項４記載の
   装置。
6. 【請求項６】 上記メモリは、上記テスト情報を出力す
   る上記装置の出力ポートを示す情報項目を更に有する、
   請求項４又は５記載の装置。
7. 【請求項７】 上記フラグのうちの少なくとも一部は、
   装置をリセットするような特定のイベントが生じた際に
   初期化される値、即ちデフォルト値を有する請求項４乃
   至６のうちいずれか一項記載の装置。
8. 【請求項８】 上記フラグの値にアクセスし、修正する
   インタフェースを更に有する、請求項４乃至７のうちい
   ずれか一項記載の装置。