JP2000351665A - セラミック膜用の安定化されたペロブスカイト - Google Patents

セラミック膜用の安定化されたペロブスカイト

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チューチャン・チャン
Ravi Prasad
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Praxair Technology Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 酸素分離膜において有用な新規なタイプの安
定な実質的に立方晶の結晶構造ペロブスカイト及びその
製造方法を提供する。 【解決手段】 安定化量の少なくとも一種のセリウムガ
ドリニウムオキシド(CGO)を中に有する少なくとも
一種のストロンチウムドープされたランタンコバルトオ
キシド(LSC)の安定な実質的に立方晶のペロブスカ
イト結晶構造。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特定の安定な実質
的に立方晶の結晶構造ペロブスカイトを製造する方法に
関する。その上に、本発明は、酸素分離膜において有用
な新規なタイプの安定な実質的に立方晶の結晶構造ペロ
ブスカイトに関する。
【0002】
【従来の技術】酸素含有ガス状流からの酸素の分離は、
多数の商業上有意な製造作業におけるプロセス工程であ
る。酸素分離の一方法は、混合導体セラミック膜材料を
利用する。酸素イオン及び電子は、その他の種が不透質
である非多孔質のセラミック膜材料を通して選択的に輸
送される。適したセラミックスは、混合導体ペロブスカ
イト及び二元相金属−金属酸化物組合せを含む。適例と
なるセラミック組成物は、米国特許第5,342,43
1号(Anderson等);同第5,648,304
号(Mazanec等);同第5,702,999号
(Mazanec等);同第5,712,220号(C
arolan等);同第5,733,435号(Pra
sad等)並びに日本国特許出願(公開)第61−21
717号に開示されている。これらの文献のすべて全体
を本明細書中に援用する。
【0003】固体電解質及び混合導電性酸化物から形成
されるセラミック膜は、酸素選択性の性質を示すのが典
型的である。「酸素選択性」とは、酸素イオンだけが膜
を横切って輸送され、その他の元素及びイオンは、膜を
横切って輸送されないことを意味する。特別の有利な固
体電解質セラミック膜は、無機酸化物、典型的にはカル
シウム−又はイットリウム−安定化されたジルコニアを
含有する酸化物或はフルオライト又はペロブスカイト構
造を有する類似の酸化物から造られる。そのような膜を
ガス精製用途において使用することは、米国特許第5,
733,435号(Prasad等)及びPrasad
等による「Reactive Purge for S
olid Electrolyte Membrane
GasSeparation」なる表題のヨーロッパ
特許出願第778,069号に記載されている。
【0004】セラミック膜材料は、化学的電位差が膜要
素を横切って保たれている時に、広く行われている酸素
分圧において温度範囲450°〜約1200℃で酸素イ
オン及び電子を輸送する能力を有する。この化学的電位
差は、イオン輸送膜を横切る酸素分圧の正の比を保つこ
とによって確立される。酸素分圧(PO2)は、膜の陽極
側に比べて陰極側で一層高い値に保たれ、陰極側は、酸
素含有ガスに暴露され、陽極側では、輸送された酸素が
回収される。この正のPO2比は、輸送された酸素と酸素
消費プロセス又は燃料ガスとを反応させることによって
得られることができる。混合導体ペロブスカイトセラミ
ック膜の酸素イオン導電率は、0.01〜100S/c
mの範囲であるのが典型的であり、ここで、S(「シー
メンス」)は、オームの逆数(1/Ω)である。
【0005】ペロブスカイトの酸素分離用の有効な用途
について、ペロブスカイトは、下記のいくつもの要件を
満足すべきである:(1)ペロブスカイトは、高い酸素
束(flux)を有すべきである、ここで、束とは、膜
構造を通る酸素輸送のレートである;(2)ペロブスカ
イト構造は、作業温度で化学的に安定でなければならな
い;(3)ペロブスカイトは、機械的安定度を持たなけ
ればならない;及び(4)ペロブスカイトは、作業温度
の範囲全体にわたって立方晶結晶構造を持たなければな
らない。六方晶結晶構造を有するペロブスカイトは、酸
素輸送用に有効でない。いくつかのペロブスカイトは、
室温(名目上20℃)において六方晶結晶構造を有し、
高い温度においてのみ相転移を受ける。そのような物質
では、相転移温度は、その物質を膜要素として収容する
酸素分離装置を作動させることができる最低の物質を表
す。
【0006】多数の混合酸化物ペロブスカイトが酸素分
離用に有用として開示されてきた。実例となるペロブス
カイトは、ABO3(ここで、Aはランタニド元素であ
り、Bは遷移金属であり、Oは酸素である)形態のもの
である。ランタニド、又は遷移金属元素は、IUPAC
により明記されている通りの元素の周期表における原子
番号57(ランタン)〜原子番号71(ルテチウム)の
元素である。イットリウム(原子番号39)は、ランタ
ニド群の内に含まれるのが典型的である。遷移金属は、
チタン、バナジウム、クロム、マンガン、鉄、コバル
ト、ニッケル、銅及び亜鉛を含む。A成分及び/又はB
成分は、安定性及び性能を高めるためにその他の物質で
ドープされてもよい。
【0007】酸素分離膜における潜在的な用途について
広く研究されてきた一つのタイプのペロブスカイトは、
ストロンチウムドープされたランタンコバルトオキシド
(La1-xSrxCoO3-z)(また時には、本明細書中
「LSCペロブスカイト」とも呼ぶ)である。米国特許
第5,648,304号(Mazanec等)は、La
0.05Sr0.95CoO3-zペロブスカイト(また時には、
本明細書中「LSC95」とも呼ぶ)に関する約900
℃を越える温度における高い酸素束を開示した。LSC
95に関するそれ以上のテストは、約850℃よりも低
い温度において酸素束を示さなかった。この欠陥の理由
は、LSC95が温度約850℃において実質的に立方
晶結晶構造から六方晶結晶構造に構造変換することに起
因されると考えられる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】これより、LSCペロ
ブスカイトの性能を、従来可能と考えられるよりも一層
広い範囲にわたって酸素分離膜用に有用にするために向
上させようとする要求が存在する。特に、約900℃よ
りも低い、望ましくは500℃以下程に低い温度におい
てこの望まない構造変換に対して安定なLSCペロブス
カイトについての要求が存在する。本発明は、この要求
への解決策を提供する。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の一態様は、少な
くとも一種のストロンチウムドープされたランタンコバ
ルトオキシド(また時には、本明細書中LSCとも呼
ぶ)の安定な実質的に立方晶のペロブスカイト結晶構造
を製造する方法であって、下記: (a)安定化量の少なくとも一種のセリウム(Ce)ガ
ドリニウム(Gd)オキシド(時には、CGOと呼ぶ)
を少なくとも一種のストロンチウムドープされたランタ
ンコバルトオキシドに周囲温度で組み込み及び(b)次
いで、混合物を焼結して安定化された実質的に立方晶の
LSCペロブスカイト結晶構造を形成することを含む方
法を指向する。
【0010】本発明の別の態様は、物質組成物として
の、安定化量の少なくとも一種のセリウムガドリニウム
オキシド(CGO)を中に有する、酸素分離装置用に有
用な少なくとも一種のストロンチウムドープされたラン
タンコバルトオキシド(LSC)の安定な実質的に立方
晶のペロブスカイト結晶構造を指向する。
【0011】CGOは、LSC中に第二相として導入す
ることができ又はLSCペロブスカイト構造においてド
ーパントと表示することができる。
【0012】本発明のこれらの安定化されたLSCペロ
ブスカイトは、在来のLSCペロブスカイトに関して用
いられるよりも低い温度で稠密な酸素分離膜用に有用に
なる程の酸素伝導率を保持する。一層低い作業温度を用
いることは、作業コストの低減を意味し、これよりこれ
らの安定化されたペロブスカイトが、在来のLSCペロ
ブスカイトに勝る有意の商業上の利点を提供することを
意味するのが普通である。その上に、これらの安定化さ
れたLSCペロブスカイトは、作業温度において長い期
間の間安定である(すなわち、それらの立方晶構造を保
つ)。
【0013】本発明の別の態様は、LSCペロブスカイ
トフィルム用の基材又は中間層においてCGOを使用し
てフィルムと基材との間の密着力及び熱膨張を向上さ
せ、依然この複合フィルム用途について優れた酸素束を
得ることを含む。
【0014】
【発明の実施の形態】その他の目的、特徴及び利点は、
好適な実施態様及び添付図の下記の説明から当業者に思
い浮かぶものと思う。
【0015】本発明は、安定化量の特定のイオン性導体
(例えば、CGO)をLSCペロブスカイト構造中に組
み入れてLSCペロブスカイト単独の通常の作業温度範
囲よりも低い温度において安定である安定な実質的に立
方晶の結晶構造を形成することに関する。
【0016】本明細書及び特許請求の範囲において用い
る通りの「安定な実質的に立方晶の結晶構造」なる用語
は、性質が実質的に立方晶でありかつこの安定化された
LSC/CGOペロブスカイトが、CGOの存在しない
同じLSCペロブスカイトに比べて一層広い温度(特に
一層低い温度)範囲にわたって酸素分離膜物質として有
用になるように六方晶結晶構造への相当の度合いの望ま
ない構造変換を受けないLSCペロブスカイトの結晶構
造を言う。
【0017】本明細書及び特許請求の範囲において用い
る通りの「安定化量」なる用語は、生成するペロブスカ
イト構造が、CGOの存在しない同じLSCペロブスカ
イトに比べて一層広い温度(特に一層低い温度)範囲に
わたって酸素分離膜物質として有用になるように室温又
はそれ以上で立方晶結晶構造を形成し(かつ六方晶構造
への望まない構造変換を防ぐ)程のLSCペロブスカイ
ト構造中に組み入れるCGOの任意の適した量を意味す
る。LSCペロブスカイト中に組み入れるCGOの好適
なモル量は、約0.01≦CGO/LSC≦1の範囲に
なることができ、一層好ましくは約0.03≦CGO/
LSC≦0.67の範囲になることができる。CGO/
LSCの最も好適なモル比は、約0.05≦CGO/L
SC≦0.25である。
【0018】CGOと共に安定な立方晶の結晶構造を形
成することができる任意の適したLSCペロブスカイト
を用いてよい。LSCペロブスカイトは、La1-xSrx
CoO3-z式(式中、xは、約0.0001〜約0.1
であり、zは、式の化学量論によって決められる数であ
る)のものであるのが好ましい。最も好適なLSCペロ
ブスカイトは、ワシントン、ウディンビルのPraxa
ir Specialty Ceramics,In
c.から入手し得るLSC95である。LSC95は、
La0.05Sr0.95CoO3-z式(式中、zは、上に定義
した)を有する。
【0019】安定化されたLSCペロブスカイトを生じ
る任意の適したセリウムガドリニウムオキシドを用いて
よい。CGOは、Ce1-yGdy2-z式(式中、yは、
約0.01〜約0.4であり、zは、式の化学量論によ
って決められる数である)のものであるのが好ましい。
最も好適なCGOは、Praxair Special
ty Ceramics,Inc.から入手し得るCe
0.8Gd0.22-zである。
【0020】本発明の安定化されたLSC/CGO化合
物は、LSCペロブスカイトとCGOとを一緒に適した
バインダー[例えば、Solutia,Inc.(以前
はMonsanto]から入手し得るBUTVARポリ
ビニルブチラール(PVD)を含有する適した溶媒[例
えば、2−プロパノール]の存在において混合し;次い
で生成した混合物を加熱して初めに溶媒を蒸発させる
(60°〜120℃にする)ことによって調製するのが
普通である。混合物を、次いでサーキュラーダイ及び圧
力約1,000〜約20,000psi(6.9〜14
0MPa)を使用して一軸プレスすることができる。生
成したディスクに、次いでバインダー焼尽(burn−
out)プロセスを施す(すなわち、ディスクを約25
℃から1℃/分で約400℃に加熱し、次いでその温度
に1時間保つ)。このバインダー焼尽は、ディスクから
バインダーを除き、LSC及びCGOだけを残す。生成
した加熱されたディスクを更に空気雰囲気中で速度2℃
/分で加熱して焼結温度(例えば、1000°〜140
0℃)にする。所望する温度に達した際に、ディスクを
その温度にCGOを中に有するLSCの二元相又はドー
プされた実質的に立方晶の結晶構造を形成する程の時間
(例えば、約1〜約12時間)保つ。
【0021】生成した焼結されたディスクは、それで酸
素分離膜として使用するのに適している。これらのディ
スクは、温度約400°〜約800℃の酸素含有ガス流
から酸素を分離するつもりのプロセスにおいて使用する
ことができる。
【0022】発明を実施するその他の代わりの方法は、
第二相を立方晶ペロブスカイトフィルムを安定にするた
めの基材支持体又は中間層として使用して複合フィルム
用途について優れた酸素束を得ることを含む。
【0023】在来の多孔質基材は、アルミナ、イットリ
ア安定化されたジルコニア、マグネシア、チタニア、高
温酸素適合性合金及び化合物並びにそれらの混合物を含
む。基材物質を選定する際の主要な考慮すべき事項は、
下記を含むのが普通である: (1)基材と膜物質との間の熱膨張係数(TEC)調
和;(2)基材と膜物質との間の化学的適合性(悪い化
学反応がない);(3)基材と膜物質との間の良好な結
合;及び(4)低コスト。
【0024】これらの代わりの実施態様では、CGO層
を適した基材に適用し、次いでLSCペロブスカイトフ
ィルム又は層をCGO層の上に適用する。次いで、複合
材を焼結して複合材においてCGOを中に有するLSC
ペロブスカイトの安定化された実質的に立方晶の結晶構
造を形成する。
【0025】本発明を下記の例及び比較によって更に詳
細に説明する。はっきりと他の方法で述べない場合に
は、部及びパーセンテージはすべてモルにより、温度は
すべて℃で表す。
【0026】
【実施例】例1 Ce0.8Gd0.22-z3モル%を有するLa0.05Sr
0.95CoO3-zを含有する安定化されたペロブスカイト
(LSC95−3CGO)の調製 La0.05Sr0.95CoO3-z粉末(Praxair S
pecialty Ceramics,Inc.)をC
0.8Gd0.22-z(Praxair Special
ty Ceramics,Inc.)3モル%とSpe
xミキサー(Spex Industries,In
c.)を使用することにより約15〜20分間混合する
ことによってLSC95−3CGO粉末を調製した。粉
末を、次いでポリビニルブロミド(PVB)(Solu
tiaのButvar)3重量%を含有する2−プロパ
ノール溶液中に加え、磁気攪拌器によって80℃で混合
して2−プロパノールを蒸発させ、次いでメッシュサイ
ズ150ミクロンを有する篩分け機(siever)を
通して篩分けした後にプレスした。二元相ディスクを、
1.5インチ(3.8cm)ダイを圧力10.4kps
i(71.8MPa)下で使用して調製した後に、バイ
ンダー焼尽プロセス(25℃から400℃に1℃/分及
び1時間保つ)を施し、空気中で加熱/冷却速度2℃/
分を用いて1150℃で2時間焼結した。LSC95−
3CGOの相発現を研究するために、CuKα放射によ
るRigkuミニフレックス回折計を使用してX線回折
(XRD)分析を行った。XRD分析を図1に示す。
【0027】例2 Ce0.8Gd0.22-z5モル%を有するLa0.05Sr
0.95CoO3-zを含有する安定化されたペロブスカイト
(LSC95−5CGO)の調製 La0.05Sr0.95CoO3-z粉末(Praxair S
pecialty Ceramics,Inc.)をC
0.8Gd0.22-z(Praxair Special
ty Ceramics,Inc.)5モル%とSpe
xミキサー(Spex Industries,In
c.)を使用することにより約15〜20分間混合する
ことによってLSC95−5CGO粉末を調製した。粉
末を、次いでPVB(SolutiaのButvar)
3重量%を含有する2−プロパノール溶液中に加え、磁
気攪拌器によって80℃で混合して2−プロパノールを
蒸発させ、次いでメッシュサイズ150ミクロンを有す
る篩分け機を通して篩分けした後にプレスした。二元相
ディスクを、1.5インチダイを圧力10.4kpsi
下で使用して調製した後に、バインダー焼尽プロセス
(25℃から400℃に1℃/分及び1時間保つ)を施
し、空気中で加熱/冷却速度2℃/分を用いて1150
℃で2時間焼結した。LSC95−5CGOの相発現を
研究するために、Cu Kα放射によるRigkuミニ
フレックス回折計を使用してX線回折分析を行った。X
RD分析を図1に示す。焼結されたディスク試験片をア
ルミナテストセル中に銀ペーストでシールしたものを用
いて酸素透過速度を測定した。
【0028】透過は、温度800°〜900℃でHe不
活性ガスパージ及び異なる反応性パージガスによって行
った。HP 5890 Gas Chromatogr
aphy、酸素分析計及び水分分析計を使用してガス組
成を分析し、酸素束を計算した。これらの酸素束を図2
に示す。
【0029】例3 Ce0.8Gd0.22-z10モル%を有するLa0.05Sr
0.95CoO3-zを含有する安定化されたペロブスカイト
(LSC95−10CGO)の調製 La0.05Sr0.95CoO3-z粉末(Praxair S
pecialty Ceramics,Inc.)をC
0.8Gd0.22-z(Praxair Special
ty Ceramics,Inc.)10モル%とSp
exミキサー(Spex Industries,In
c.)を使用することにより約15〜20分間混合する
ことによってLSC95−10CGO粉末を調製した。
粉末を、次いでPVB(SolutiaのButva
r)3重量%を含有する2−プロパノール溶液中に加
え、磁気攪拌器によって80℃で混合して2−プロパノ
ールを蒸発させ、次いでメッシュサイズ150ミクロン
を有する篩分け機を通して篩分けした後にプレスした。
二元相ディスクを、1.5インチダイを圧力10.4k
psi下で使用して調製した後に、バインダー焼尽プロ
セス(25℃から400℃に1℃/分及び1時間保つ)
を施し、空気中で加熱/冷却速度2℃/分を用いて11
50℃で2時間焼結した。LSC95−10CGOの相
発現を研究するために、Cu Kα放射によるRigk
uミニフレックス回折計を使用してX線回折分析を行っ
た。焼結されたディスク試験片をアルミナテストセル中
に銀ペーストでシールしたものを用いて酸素透過速度を
測定した。透過は、温度700°〜900℃でHe不活
性ガスパージによって行った。HP 5890 Gas
Chromatography、酸素分析計及び水分
分析計を使用してガス組成を分析し、酸素束を計算し
た。XRD分析を図1に示す。この酸素束値を図2に示
す。
【0030】図1は、LSC95単独及び異なる量のC
GOを有するLSC95、すなわちLSC95−3CG
O、LSC95−5CGO及びLSC95−10CGO
ディスクの室温におけるX線回折(XRD)を示す。L
SC95単独及び3%のCGOを有するLSC95ディ
スクは、室温において六方晶(菱面体)構造を保持し
た。1150℃で焼結した後のCGO5モル%及び10
モル%を有するLSC95ディスクについて室温におい
て立方晶ペロブスカイト構造が形成された(それらは、
立方晶ペロブスカイトに基づいて完全に指数を付ける
(index)ことができた)。
【0031】図2は、LSC95、LSC95−5CG
O及びLSC95−10CGOの酸素束比較を示す。L
SC95は、900℃で酸素束1.8sccm(標準c
3)/cm2を保持したが、約850℃よりも低い温度
で酸素束を示さなかった。それは、主にLSC95が、
低い温度で立方晶から六方晶に構造変換することによ
り、XRD研究によって確認される。LSC95−5C
GO及びLSC95−10CGOの性能は、900℃、
850℃及び800℃それぞれにおけるO2束1.7、
1.2、0.7sccm/cm2に匹敵し得る。図2
は、またLSC95−5CGO及びLSC95−10C
GOについて低い温度で相変換を示さなかった。これ
は、立方晶LSC95が、十分な量のCGOを加えるこ
とによって900℃から室温に安定化されることができ
ることを示す。
【0032】800℃におけるLSC95−5CGOデ
ィスクの長期の安定性テストもまた実施し、図3に示
す。図3における結果は、ディスク(厚さ1mm)のO
2束が、初めにHeパージを用いて0.7sccm/c
2から0.6sccm/cm2にわずかに減少しかつ8
00℃において360時間にわたって依然安定な束0.
6sccm/cm2であったことを示す。サンプルは、
室温に冷却した際に、無傷でありかつクラックが存在し
ないように見えた。このことは、CGO5%を有するL
SC95を、低い温度(<800℃)で安定な酸素輸送
膜として使用することができることを立証した。
【0033】発明を発明の特定の実施態様によって上に
説明したが、多くの変更、変更態様及び変法を、本明細
書中に開示する発明の概念から逸脱しないでなすことが
できることことは明らかである。よって、特許請求の範
囲に記載する発明の精神及び広い範囲に入るそのような
変更、変更態様及び変法すべてを包含することを意図す
る。本明細書中に引用する特許出願、特許及びその他の
刊行物すべて全体を本明細書中に援用する。
【図面の簡単な説明】
【図1】LSC95ペロブスカイト単独並びにCGO3
モル%、5モル%及び10モル%を中に有するLSC9
5ペロブスカイトの室温X線回折を示す。
【図2】LSC95ペロブスカイト単独並びにCGO5
モル%及び10モル%を中に有するLSC95ペロブス
カイトの酸素束を示す。
【図3】800℃におけるLSC95ペロブスカイト単
独及びCGO5モル%を中に有するLSC95ペロブス
カイトの長期の安定性テストの結果を示す。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも一種のストロンチウムドープ
    されたランタンコバルトオキシド(LSC)ペロブスカ
    イトの安定な実質的に立方晶の結晶構造を製造する方法
    であって、下記: (a)安定化量の少なくとも一種のセリウムガドリニウ
    ムオキシド(CGO)をLSCペロブスカイトに組み込
    み;及び (b)混合物を焼結してLSCペロブスカイトの安定な
    実質的に立方晶の結晶構造を製造することを含む方法。
  2. 【請求項2】 安定化量の少なくとも一種のセリウムガ
    ドリニウムオキシド(CGO)を中に有する少なくとも
    一種のストロンチウムドープされたランタンコバルトオ
    キシド(LSC)の安定な実質的に立方晶のペロブスカ
    イト結晶構造を含む物質組成物。
  3. 【請求項3】 基材と、少なくとも一種のセリウムガド
    リニウムオキシド(CGO)の第一層と、安定化された
    量の少なくとも一種のCGOを中に有する少なくとも一
    種のストロンチウムドープされたランタンコバルトオキ
    シド(LSC)の安定な実質的に立方晶のペロブスカイ
    ト結晶構造を含む第二層とを含む複合組成物。
  4. 【請求項4】 酸素含有ガス流から酸素を温度400°
    〜800℃で分離する方法であって、請求項2の組成物
    を、酸素含有ガス流から酸素を分離するための酸素分離
    膜として使用する方法。
JP2000159875A 1999-06-01 2000-05-30 セラミック膜用の安定化されたペロブスカイト Withdrawn JP2000351665A (ja)

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