JP2000354163A - 画像処理方法 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 誤差拡散処理後の二値画像のエッジ再現性の
向上を図る。 【解決手段】 多値階調の画素に二値化処理を行って二
値画像を生成する画像処理方法であって、注目画素１２
０を決定し、注目画素の隣接画素１２１，１２２を決定
し、注目画素１２０と隣接画素１２１，１２２との濃度
差を求め、濃度差が所定の設定値よりも大きい場合には
注目画素１２０をエッジ部とし、注目画素１２０がエッ
ジ部である場合の二値化処理時の閾値を、隣接画素１２
１，１２２とのエッジ強度が大きいほど低く設定して二
値化処理を行う。
向上を図る。 【解決手段】 多値階調の画素に二値化処理を行って二
値画像を生成する画像処理方法であって、注目画素１２
０を決定し、注目画素の隣接画素１２１，１２２を決定
し、注目画素１２０と隣接画素１２１，１２２との濃度
差を求め、濃度差が所定の設定値よりも大きい場合には
注目画素１２０をエッジ部とし、注目画素１２０がエッ
ジ部である場合の二値化処理時の閾値を、隣接画素１２
１，１２２とのエッジ強度が大きいほど低く設定して二
値化処理を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリンタ、スキャ
ナ、複写機、ファクシミリ等に適用され、多値画像情報
を２値画像として再現する画像処理方法に関するもので
ある。
ナ、複写機、ファクシミリ等に適用され、多値画像情報
を２値画像として再現する画像処理方法に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】多値画像を２値画像に変換する方法の一
つとして、誤差拡散法が広く知られている。
つとして、誤差拡散法が広く知られている。
【０００３】図５は従来の誤差拡散法を実行する回路を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【０００４】同図において、画像メモリ１００から２値
化処理を行う注目画素の多値データＤが読み込まれ、γ
補正ＲＯＭ１０１に格納されている補正データを参照し
てプリンタ等の出力機器の印字特性に応じた多値データ
へとγ補正される。γ補正された多値データＤ’は誤差
拡散処理部１０７の加算器１０２により、この注目画素
における誤差データＥが加算され、Ｆ＝Ｄ’＋Ｅが出力
される。
化処理を行う注目画素の多値データＤが読み込まれ、γ
補正ＲＯＭ１０１に格納されている補正データを参照し
てプリンタ等の出力機器の印字特性に応じた多値データ
へとγ補正される。γ補正された多値データＤ’は誤差
拡散処理部１０７の加算器１０２により、この注目画素
における誤差データＥが加算され、Ｆ＝Ｄ’＋Ｅが出力
される。
【０００５】誤差データを付加された注目画素のデータ
Ｆは、比較器１０４において２値化閾値Ｔｈと比較さ
れ、Ｆ≧Ｔｈの場合には２値信号Ｂ＝”１”が出力さ
れ、Ｆ＜Ｔｈの場合には２値信号Ｂ＝”０”が出力され
る。そして、この出力結果から、２値化処理時の２値化
誤差Ｅ’が減算器１０６によりＥ’＝Ｆ−Ｂ’として算
出される。
Ｆは、比較器１０４において２値化閾値Ｔｈと比較さ
れ、Ｆ≧Ｔｈの場合には２値信号Ｂ＝”１”が出力さ
れ、Ｆ＜Ｔｈの場合には２値信号Ｂ＝”０”が出力され
る。そして、この出力結果から、２値化処理時の２値化
誤差Ｅ’が減算器１０６によりＥ’＝Ｆ−Ｂ’として算
出される。
【０００６】ここで、入力データが２５６階調（０〜２
５５）である場合、Ｂ’＝Ｂ×２５５となる。したがっ
て、例えば、入力多値データがＤ＝２３０、２値化の閾
値がＴｈ＝１２８である場合、２値化後の出力データは
Ｂ＝１であり、２値化誤差Ｅは、Ｅ＝Ｄ−Ｂ×２５５＝
２３０−１×２５５＝−２５となる。
５５）である場合、Ｂ’＝Ｂ×２５５となる。したがっ
て、例えば、入力多値データがＤ＝２３０、２値化の閾
値がＴｈ＝１２８である場合、２値化後の出力データは
Ｂ＝１であり、２値化誤差Ｅは、Ｅ＝Ｄ−Ｂ×２５５＝
２３０−１×２５５＝−２５となる。
【０００７】この２値化誤差Ｅは重み付け誤差演算器１
０５において、所定の誤差マトリクスＭｘｙにより、こ
れ以降処理される画素のデータに対して分配するため
に、誤差メモリ１０３に格納され、次画素の多値データ
に加算器１０２で加算され、誤差データの伝播が行われ
る。
０５において、所定の誤差マトリクスＭｘｙにより、こ
れ以降処理される画素のデータに対して分配するため
に、誤差メモリ１０３に格納され、次画素の多値データ
に加算器１０２で加算され、誤差データの伝播が行われ
る。
【０００８】すなわち、例では入力多値データがＤ＝２
３０であるのに対して、２値化閾値Ｔｈ＝１２８との比
較結果、２値化後の出力データは１であり、２５６階調
での２５５となるため、入力多値データＤの２３０に対
して２５の誤差が生じる。したがって、入力多値データ
Ｄ＝２３０に対する誤差２５を２値化誤差とし、この誤
差を、誤差マトリクスを用いて重み付け誤差演算器１０
５により未処理の画素の誤差メモリ１０３へ誤差分配
し、以降の画素での２値化処理に反映させる。
３０であるのに対して、２値化閾値Ｔｈ＝１２８との比
較結果、２値化後の出力データは１であり、２５６階調
での２５５となるため、入力多値データＤの２３０に対
して２５の誤差が生じる。したがって、入力多値データ
Ｄ＝２３０に対する誤差２５を２値化誤差とし、この誤
差を、誤差マトリクスを用いて重み付け誤差演算器１０
５により未処理の画素の誤差メモリ１０３へ誤差分配
し、以降の画素での２値化処理に反映させる。
【０００９】ここで、従来の誤差拡散法において用いら
れる誤差マトリクスを図６に示す。
れる誤差マトリクスを図６に示す。
【００１０】図６において、＊で示した画素が現在の注
目画素であり、この画素に対して２値化処理を行うとす
る。
目画素であり、この画素に対して２値化処理を行うとす
る。
【００１１】この注目画素を２値化した際に生じる誤差
を、同図に示した重み付け係数（７，１，５，３）で未
処理の次画素に対して誤差を配分する。そして、＊で示
された注目画素の２値化処理を行う際は誤差メモリ１０
３に格納された誤差配分値を読み出し、この誤差配分値
を用いて画像メモリ１００から読み出された次の入力値
に対して補正を行う。
を、同図に示した重み付け係数（７，１，５，３）で未
処理の次画素に対して誤差を配分する。そして、＊で示
された注目画素の２値化処理を行う際は誤差メモリ１０
３に格納された誤差配分値を読み出し、この誤差配分値
を用いて画像メモリ１００から読み出された次の入力値
に対して補正を行う。
【００１２】このように、誤差拡散法は、ある画素の２
値化処理の際に生じる２値化誤差を以降に２値化処理す
る画素データに対して分配し、２値化後に画像データと
元の多値画像データとの誤差を最小に押さえようとする
方法である。
値化処理の際に生じる２値化誤差を以降に２値化処理す
る画素データに対して分配し、２値化後に画像データと
元の多値画像データとの誤差を最小に押さえようとする
方法である。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】このような誤差拡散法
による２値化処理を行った画像においては、誤差を周囲
画素に分配するという性質上、２値化された画像のエッ
ジ部の再現性が問題となる。つまり、注目画素におい
て、周囲の画素の情報が一部付加されるために画像のエ
ッジ部の再現性が低下するのである。
による２値化処理を行った画像においては、誤差を周囲
画素に分配するという性質上、２値化された画像のエッ
ジ部の再現性が問題となる。つまり、注目画素におい
て、周囲の画素の情報が一部付加されるために画像のエ
ッジ部の再現性が低下するのである。
【００１４】この課題についての従来のアプローチとし
て、元の多値データに対してハイパスフィルタ等による
エッジ強調処理を施し、エッジの保存性を向上するとい
った方法が用いられている。
て、元の多値データに対してハイパスフィルタ等による
エッジ強調処理を施し、エッジの保存性を向上するとい
った方法が用いられている。
【００１５】しかしながら、これによれば、画像全体に
フィルタ処理が影響して画質が劣化するといった新たな
問題が発生するので、根本的な解決には至ってない。
フィルタ処理が影響して画質が劣化するといった新たな
問題が発生するので、根本的な解決には至ってない。
【００１６】そこで、本発明は、誤差拡散処理後の２値
画像のエッジ再現性の向上を図ることのできる画像処理
方法を提供することを目的とする。
画像のエッジ再現性の向上を図ることのできる画像処理
方法を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明の画像処理方法は、多値階調の画素に２値化
処理を行って２値画像を生成する画像処理方法であっ
て、注目画素を決定し、注目画素の隣接画素を決定し、
注目画素と隣接画素との濃度差を求め、濃度差が所定の
設定値よりも大きい場合には注目画素をエッジ部とし、
注目画素がエッジ部である場合の２値化処理時の閾値
を、隣接画素とのエッジ強度が大きいほど低く設定して
２値化処理を行うものである。
に、本発明の画像処理方法は、多値階調の画素に２値化
処理を行って２値画像を生成する画像処理方法であっ
て、注目画素を決定し、注目画素の隣接画素を決定し、
注目画素と隣接画素との濃度差を求め、濃度差が所定の
設定値よりも大きい場合には注目画素をエッジ部とし、
注目画素がエッジ部である場合の２値化処理時の閾値
を、隣接画素とのエッジ強度が大きいほど低く設定して
２値化処理を行うものである。
【００１８】これにより、注目画素における隣接画素と
のエッジ強度が大きい場合には２値化閾値が低く設定さ
れてドットの発生確率が高くなり、逆の場合には２値化
閾値が高く設定されてドットの発生確率が低くなるの
で、誤差拡散処理後の２値画像のエッジ再現性の向上を
図ることが可能になる。
のエッジ強度が大きい場合には２値化閾値が低く設定さ
れてドットの発生確率が高くなり、逆の場合には２値化
閾値が高く設定されてドットの発生確率が低くなるの
で、誤差拡散処理後の２値画像のエッジ再現性の向上を
図ることが可能になる。
【００１９】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、多値階調の画素に２値化処理を行って２値画像を生
成する画像処理方法であって、注目画素を決定し、注目
画素の隣接画素を決定し、注目画素と隣接画素との濃度
差を求め、濃度差が所定の設定値よりも大きい場合には
注目画素をエッジ部とし、注目画素がエッジ部である場
合の２値化処理時の閾値を、隣接画素とのエッジ強度が
大きいほど低く設定して２値化処理を行う画像処理方法
であり、誤差拡散処理後の２値画像のエッジ再現性の向
上を図ることが可能になるという作用を有する。
は、多値階調の画素に２値化処理を行って２値画像を生
成する画像処理方法であって、注目画素を決定し、注目
画素の隣接画素を決定し、注目画素と隣接画素との濃度
差を求め、濃度差が所定の設定値よりも大きい場合には
注目画素をエッジ部とし、注目画素がエッジ部である場
合の２値化処理時の閾値を、隣接画素とのエッジ強度が
大きいほど低く設定して２値化処理を行う画像処理方法
であり、誤差拡散処理後の２値画像のエッジ再現性の向
上を図ることが可能になるという作用を有する。
【００２０】以下、本発明の実施の形態について説明す
る。
る。
【００２１】図１は本発明の一実施の形態である画像処
理方法を実行するための回路を示すブロック図、図２は
本発明の一実施の形態である画像処理方法においてエッ
ジ部として検出される画素を示す説明図、図３は本発明
の一実施の形態である画像処理方法における２値化処理
での閾値の設定を示す説明図、図４は本発明の一実施の
形態である画像処理方法による処理手順を示すフローチ
ャートである。
理方法を実行するための回路を示すブロック図、図２は
本発明の一実施の形態である画像処理方法においてエッ
ジ部として検出される画素を示す説明図、図３は本発明
の一実施の形態である画像処理方法における２値化処理
での閾値の設定を示す説明図、図４は本発明の一実施の
形態である画像処理方法による処理手順を示すフローチ
ャートである。
【００２２】図示するように、画像メモリ１００から２
値化処理を行う注目画素の多値データＤが読み込まれ、
γ補正ＲＯＭ１０１に格納されている補正データを参照
してプリンタ等の出力デバイスの印字特性に応じた多値
データへとγ補正される。γ補正された多値データは、
注目画素の隣接するエッジ部分を検出する隣接エッジ検
出手段１０８によりエッジ検出処理が行われた後、誤差
拡散処理部１０７の閾値決定手段１０９で閾値が決定さ
れる。また、加算機１０２により注目画素における誤差
データが加算される。
値化処理を行う注目画素の多値データＤが読み込まれ、
γ補正ＲＯＭ１０１に格納されている補正データを参照
してプリンタ等の出力デバイスの印字特性に応じた多値
データへとγ補正される。γ補正された多値データは、
注目画素の隣接するエッジ部分を検出する隣接エッジ検
出手段１０８によりエッジ検出処理が行われた後、誤差
拡散処理部１０７の閾値決定手段１０９で閾値が決定さ
れる。また、加算機１０２により注目画素における誤差
データが加算される。
【００２３】誤差データを付加された注目画素のデータ
は、閾値決定手段１０９で決定された閾値と比較器１０
４において比較され、所定の２値信号が出力される。そ
して、この出力結果から２値化処理時の２値化誤差が減
算器１０６により算出される。
は、閾値決定手段１０９で決定された閾値と比較器１０
４において比較され、所定の２値信号が出力される。そ
して、この出力結果から２値化処理時の２値化誤差が減
算器１０６により算出される。
【００２４】この２値化誤差は重み付け誤差検算器１０
５において、所定の誤差マトリクスＭｘｙにより、これ
以降処理される画素のデータに対して分配するために誤
差メモリ１０３に格納され、次画素の多値データに加算
機１０２で加算され、誤差データの伝播が行われる。
５において、所定の誤差マトリクスＭｘｙにより、これ
以降処理される画素のデータに対して分配するために誤
差メモリ１０３に格納され、次画素の多値データに加算
機１０２で加算され、誤差データの伝播が行われる。
【００２５】ここで、隣接エッジ検出手段１０８は、注
目画素における２値化処理の際に、この注目画素がエッ
ジ部分かどうかを検出するためのもので、注目画素と左
右隣接画素での多値データを基に注目画素がエッジ部か
どうかの情報を出力する。なお、エッジ部の検出手順に
ついては後述する。
目画素における２値化処理の際に、この注目画素がエッ
ジ部分かどうかを検出するためのもので、注目画素と左
右隣接画素での多値データを基に注目画素がエッジ部か
どうかの情報を出力する。なお、エッジ部の検出手順に
ついては後述する。
【００２６】また、閾値決定手段１０９は、注目画素に
おいて隣接エッジ検出手段１０８により注目画素がエッ
ジ部として検出された場合に、この注目画素におけるエ
ッジ再現性を向上させるために、エッジ強度に応じて２
値化のための閾値を設定する。
おいて隣接エッジ検出手段１０８により注目画素がエッ
ジ部として検出された場合に、この注目画素におけるエ
ッジ再現性を向上させるために、エッジ強度に応じて２
値化のための閾値を設定する。
【００２７】次に、エッジの検出および保存について図
２を用いて説明する。
２を用いて説明する。
【００２８】図２において２値化処理を行う多値データ
の画像が示されており、この多値データは２５６階調
（０〜２５５）のデータにより表されている。そして、
この図における各画素の濃度は、注目画素１２０および
隣接画素１２１が濃度０、隣接画素１２２が濃度１２８
とする。
の画像が示されており、この多値データは２５６階調
（０〜２５５）のデータにより表されている。そして、
この図における各画素の濃度は、注目画素１２０および
隣接画素１２１が濃度０、隣接画素１２２が濃度１２８
とする。
【００２９】ここで、左右隣接画素がエッジ部として検
出されるべき画素は注目画素１２０であり、この画素に
おける２値化後の画像では、ドットを発生せずに、隣接
画素１２２が位置するエッジ部を保存すべき画素であ
る。また隣接画素１２１、隣接画素１２２は注目画素１
２０に隣接する左右の画素であり、エッジの検出処理の
際に、注目画素１２０の左右画素として濃度差を算出す
るために濃度が参照される。
出されるべき画素は注目画素１２０であり、この画素に
おける２値化後の画像では、ドットを発生せずに、隣接
画素１２２が位置するエッジ部を保存すべき画素であ
る。また隣接画素１２１、隣接画素１２２は注目画素１
２０に隣接する左右の画素であり、エッジの検出処理の
際に、注目画素１２０の左右画素として濃度差を算出す
るために濃度が参照される。
【００３０】次に、注目画素を１２０とし、この注目画
素に隣接するエッジ部があるかどうかの検出について説
明する。ここで、注目画素１２０の濃度データをＤ１、
隣接画素１２１の濃度データをＤ２、隣接画素１２２の
濃度データをＤ３、注目画素１２０での左右の隣接画素
である隣接画素１２１および隣接画素１２２の濃度差を
各ＤＬ、ＤＲとすると、注目画素１２０における左隣接
画素１２１との濃度差、右隣接画素１２２との濃度差は
それぞれ、 ＤＬ＝｜Ｄ１−Ｄ２｜ ＤＲ＝｜Ｄ１−Ｄ３｜ となる。そして、この値がある一定の値Ｓを超えた場
合、注目画素１２０をエッジ部として検出する。つま
り、ＤＬ＞ＳまたはＤＲ＞Ｓの何れかが成立した場合、
この注目画素をエッジ部とする。
素に隣接するエッジ部があるかどうかの検出について説
明する。ここで、注目画素１２０の濃度データをＤ１、
隣接画素１２１の濃度データをＤ２、隣接画素１２２の
濃度データをＤ３、注目画素１２０での左右の隣接画素
である隣接画素１２１および隣接画素１２２の濃度差を
各ＤＬ、ＤＲとすると、注目画素１２０における左隣接
画素１２１との濃度差、右隣接画素１２２との濃度差は
それぞれ、 ＤＬ＝｜Ｄ１−Ｄ２｜ ＤＲ＝｜Ｄ１−Ｄ３｜ となる。そして、この値がある一定の値Ｓを超えた場
合、注目画素１２０をエッジ部として検出する。つま
り、ＤＬ＞ＳまたはＤＲ＞Ｓの何れかが成立した場合、
この注目画素をエッジ部とする。
【００３１】なお、本実施の形態においては、注目画素
に隣接する左右の画素を注目画素としているが、左右の
みならず上下、あるいは隣接する全ての画素、さらには
その周囲の画素の濃度を参照することで、エッジ検出精
度の向上、エッジ方向に応じた制御が可能となり、エッ
ジ再現性を一層向上させることができる。
に隣接する左右の画素を注目画素としているが、左右の
みならず上下、あるいは隣接する全ての画素、さらには
その周囲の画素の濃度を参照することで、エッジ検出精
度の向上、エッジ方向に応じた制御が可能となり、エッ
ジ再現性を一層向上させることができる。
【００３２】次に、注目画素において隣接する左右のエ
ッジを検出した場合のドット発生制御について説明す
る。
ッジを検出した場合のドット発生制御について説明す
る。
【００３３】左右何れかに隣接するエッジが検出された
画素においては、エッジの保存処理を行うために、注目
画素濃度と隣接左右画素濃度との濃度差に応じてドット
の発生を制御することで、この画素に隣接するエッジ部
でのエッジ再現性が向上する。そして、ドットの発生を
制御するのは、左右に隣接するエッジが検出された画素
での２値化処理時の閾値を変化させてドットの発生率を
下げることで可能である。
画素においては、エッジの保存処理を行うために、注目
画素濃度と隣接左右画素濃度との濃度差に応じてドット
の発生を制御することで、この画素に隣接するエッジ部
でのエッジ再現性が向上する。そして、ドットの発生を
制御するのは、左右に隣接するエッジが検出された画素
での２値化処理時の閾値を変化させてドットの発生率を
下げることで可能である。
【００３４】このような処理について図３を用いて説明
する。ここで、図３は、誤差拡散処理時における画像デ
ータの濃度と閾値の設定によるドットのＯＮ／ＯＦＦの
関係を示したものである。
する。ここで、図３は、誤差拡散処理時における画像デ
ータの濃度と閾値の設定によるドットのＯＮ／ＯＦＦの
関係を示したものである。
【００３５】一般に、従来の誤差拡散による２値化の際
の２値化閾値は、図３（ａ）に示すように、２５６階調
の入力濃度に対して中間の１２８程度に設定してこれを
固定している。しかしながら、本実施の形態では、図３
（ｂ）に示すように、左右に隣接するエッジが検出され
た画素での２値化閾値を上げることでドットＯＦＦ領域
を広げてこの画素においてドットを発生しにくくし、エ
ッジ隣接画素でのドット発生を少なくしてエッジ部での
エッジ再現性を向上させている。
の２値化閾値は、図３（ａ）に示すように、２５６階調
の入力濃度に対して中間の１２８程度に設定してこれを
固定している。しかしながら、本実施の形態では、図３
（ｂ）に示すように、左右に隣接するエッジが検出され
た画素での２値化閾値を上げることでドットＯＦＦ領域
を広げてこの画素においてドットを発生しにくくし、エ
ッジ隣接画素でのドット発生を少なくしてエッジ部での
エッジ再現性を向上させている。
【００３６】また、図３（ｃ）に示すように、逆に左右
に隣接するエッジが検出された画像での２値化閾値を下
げることでドットＯＮ領域を広げ、この画素においてド
ットを発生しやすくする。
に隣接するエッジが検出された画像での２値化閾値を下
げることでドットＯＮ領域を広げ、この画素においてド
ットを発生しやすくする。
【００３７】このように、エッジ部として検出された注
目画素において左右の画素とのエッジ強度に応じて閾値
を変動させることで、より忠実なエッジ再現が可能にな
る。
目画素において左右の画素とのエッジ強度に応じて閾値
を変動させることで、より忠実なエッジ再現が可能にな
る。
【００３８】つまり、エッジ部として検出された注目画
素の濃度と左右隣接画素の濃度との濃度差をＤ、閾値の
変動量を設定する定数をＮ、この注目画素における２値
化閾値をＴｈとすると、Ｔｈ＝１２８−Ｄ／Ｎとして閾
値を設定する。
素の濃度と左右隣接画素の濃度との濃度差をＤ、閾値の
変動量を設定する定数をＮ、この注目画素における２値
化閾値をＴｈとすると、Ｔｈ＝１２８−Ｄ／Ｎとして閾
値を設定する。
【００３９】これにより、エッジ強度が大きい画素にお
いては、２値化閾値Ｔｈが低く設定されて注目画素にお
けるドットの発生確率が高くなる。また、エッジ強度が
小さい画素においては、２値化閾値Ｔｈが高く設定され
るためにドットの発生確率が下がり、結果としてドット
が発生しにくくなる。なお、エッジ部と判定されなかっ
た画素については、Ｔｈ＝１２８の固定閾値により２値
化処理を行う。
いては、２値化閾値Ｔｈが低く設定されて注目画素にお
けるドットの発生確率が高くなる。また、エッジ強度が
小さい画素においては、２値化閾値Ｔｈが高く設定され
るためにドットの発生確率が下がり、結果としてドット
が発生しにくくなる。なお、エッジ部と判定されなかっ
た画素については、Ｔｈ＝１２８の固定閾値により２値
化処理を行う。
【００４０】本実施の形態においては、閾値Ｔｈを上述
の算出式により制御しているが、このような線形特性を
有するものでなく、非線形特性を有する算出式を用いて
閾値Ｔｈを制御することで、より忠実なエッジ再現を行
うことができる。
の算出式により制御しているが、このような線形特性を
有するものでなく、非線形特性を有する算出式を用いて
閾値Ｔｈを制御することで、より忠実なエッジ再現を行
うことができる。
【００４１】また、算出式を用いることなく、注目画素
の濃度と隣接画素の濃度との濃度差Ｄの値に対応した閾
値を保持するテーブルを用意し、このテーブルを参照す
ることで閾値の設定を行うようにしても、より細かな閾
値設定が可能になる。
の濃度と隣接画素の濃度との濃度差Ｄの値に対応した閾
値を保持するテーブルを用意し、このテーブルを参照す
ることで閾値の設定を行うようにしても、より細かな閾
値設定が可能になる。
【００４２】このような２値化処理について、図４のフ
ローチャートを参照しつつ説明する。
ローチャートを参照しつつ説明する。
【００４３】図４において、先ず、２値化処理を行う画
像の多値データの１ライン分を画像メモリ１００に格納
し（ステップｓ２００）、次にこのラインの画素に対し
て分配される誤差データを誤差メモリ１０３に格納する
（ステップｓ２１０）。そして、１ライン分のデータか
ら２値化を行う画素の濃度データＤ１を読み出し、この
画素での重み付け誤差を加算し、注目画素データを取得
するとともに、γ補正ＲＯＭ１０１からこの画素データ
に対応する補正データへ変換を行う（ステップｓ２２
０）。
像の多値データの１ライン分を画像メモリ１００に格納
し（ステップｓ２００）、次にこのラインの画素に対し
て分配される誤差データを誤差メモリ１０３に格納する
（ステップｓ２１０）。そして、１ライン分のデータか
ら２値化を行う画素の濃度データＤ１を読み出し、この
画素での重み付け誤差を加算し、注目画素データを取得
するとともに、γ補正ＲＯＭ１０１からこの画素データ
に対応する補正データへ変換を行う（ステップｓ２２
０）。
【００４４】次に、隣接エッジ検出手段１０８におい
て、注目画素に隣接する左右の画素での濃度データＤ
２，Ｄ３を画像メモリ１００より取得し（ステップｓ２
３０）、注目画素の濃度データＤ１と左右画素の濃度デ
ータＤ２，Ｄ３との濃度差であるＤＬ＝｜Ｄ１−Ｄ２｜
およびＤＲ＝｜Ｄ１−Ｄ３｜を算出する（ステップｓ２
４０）。
て、注目画素に隣接する左右の画素での濃度データＤ
２，Ｄ３を画像メモリ１００より取得し（ステップｓ２
３０）、注目画素の濃度データＤ１と左右画素の濃度デ
ータＤ２，Ｄ３との濃度差であるＤＬ＝｜Ｄ１−Ｄ２｜
およびＤＲ＝｜Ｄ１−Ｄ３｜を算出する（ステップｓ２
４０）。
【００４５】そして、得られた濃度差ＤＬ，ＤＲと設定
値Ｓとを比較し（ステップｓ２５０）、濃度差ＤＬと濃
度差ＤＲの何れかが設定値Ｓより大であった場合には、
閾値決定手段１０９でこの画素をエッジに隣接する画素
として検出し、閾値をエッジ強度に応じて前述の閾値Ｔ
ｈ＝１２８−Ｄ／Ｎとして設定する（ステップｓ２７
０）。一方、濃度差ＤＬおよび濃度差ＤＲの何れもが設
定値Ｓより小であった場合には、この画素をエッジに隣
接しない画素として閾値を１２８のままにする（ステッ
プｓ２６０）。
値Ｓとを比較し（ステップｓ２５０）、濃度差ＤＬと濃
度差ＤＲの何れかが設定値Ｓより大であった場合には、
閾値決定手段１０９でこの画素をエッジに隣接する画素
として検出し、閾値をエッジ強度に応じて前述の閾値Ｔ
ｈ＝１２８−Ｄ／Ｎとして設定する（ステップｓ２７
０）。一方、濃度差ＤＬおよび濃度差ＤＲの何れもが設
定値Ｓより小であった場合には、この画素をエッジに隣
接しない画素として閾値を１２８のままにする（ステッ
プｓ２６０）。
【００４６】このようにして閾値を設定した後、この注
目画素における誤差拡散による２値化処理を行い（ステ
ップｓ２８０）、この画素での処理を終了する。
目画素における誤差拡散による２値化処理を行い（ステ
ップｓ２８０）、この画素での処理を終了する。
【００４７】そして、現在のライン全ての画素に対して
前述の処理が終了したかを判定する（ステップｓ２９
０）。終了していなければ、次の画素へ進んで（ステッ
プｓ３１０）ステップｓ２２０からステップｓ２８０を
実行する。また、終了していれば、全ラインに対しての
処理を終了したかの判定を行い（ステップｓ３００）、
全ラインの処理が終了していなければ次のラインへ進ん
で（ステップｓ３２０）全処理を終えるまで以上の処理
を繰り返す。
前述の処理が終了したかを判定する（ステップｓ２９
０）。終了していなければ、次の画素へ進んで（ステッ
プｓ３１０）ステップｓ２２０からステップｓ２８０を
実行する。また、終了していれば、全ラインに対しての
処理を終了したかの判定を行い（ステップｓ３００）、
全ラインの処理が終了していなければ次のラインへ進ん
で（ステップｓ３２０）全処理を終えるまで以上の処理
を繰り返す。
【００４８】このように、本実施の形態によれば、注目
画素と隣接画素との濃度差を求め、濃度差が所定の設定
値よりも大きい場合には注目画素をエッジ部とし、注目
画素がエッジ部である場合の２値化処理時の閾値を、隣
接画素とのエッジ強度が大きいほど低く設定して２値化
処理を行うようにしているので、注目画素における隣接
画素とのエッジ強度が大きい場合には２値化閾値が低く
設定されてドットの発生確率が高くなり、逆の場合には
２値化閾値が高く設定されてドットの発生確率が低くな
る。これにより、誤差拡散処理後の２値画像のエッジ再
現性の向上を図ることが可能になる。
画素と隣接画素との濃度差を求め、濃度差が所定の設定
値よりも大きい場合には注目画素をエッジ部とし、注目
画素がエッジ部である場合の２値化処理時の閾値を、隣
接画素とのエッジ強度が大きいほど低く設定して２値化
処理を行うようにしているので、注目画素における隣接
画素とのエッジ強度が大きい場合には２値化閾値が低く
設定されてドットの発生確率が高くなり、逆の場合には
２値化閾値が高く設定されてドットの発生確率が低くな
る。これにより、誤差拡散処理後の２値画像のエッジ再
現性の向上を図ることが可能になる。
【００４９】なお、本実施の形態において用いられた閾
値の値は取り得る数値の一例として示されたものであ
り、これらの数値に拘束されるものではない。
値の値は取り得る数値の一例として示されたものであ
り、これらの数値に拘束されるものではない。
【００５０】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、注目画
素における隣接画素とのエッジ強度が大きい場合には２
値化閾値が低く設定されてドットの発生確率が高くな
り、逆の場合には２値化閾値が高く設定されてドットの
発生確率が低くなるので、誤差拡散処理後の２値画像の
エッジ再現性の向上を図ることが可能になるという有効
な効果が得られる。
素における隣接画素とのエッジ強度が大きい場合には２
値化閾値が低く設定されてドットの発生確率が高くな
り、逆の場合には２値化閾値が高く設定されてドットの
発生確率が低くなるので、誤差拡散処理後の２値画像の
エッジ再現性の向上を図ることが可能になるという有効
な効果が得られる。
【図１】本発明の一実施の形態である画像処理方法を実
行するための回路を示すブロック図
行するための回路を示すブロック図
【図２】本発明の一実施の形態である画像処理方法にお
いてエッジ部として検出される画素を示す説明図
いてエッジ部として検出される画素を示す説明図
【図３】本発明の一実施の形態である画像処理方法にお
ける２値化処理での閾値の設定を示す説明図
ける２値化処理での閾値の設定を示す説明図
【図４】本発明の一実施の形態である画像処理方法によ
る処理手順を示すフローチャート
る処理手順を示すフローチャート
【図５】従来の誤差拡散法を実行する回路を示すブロッ
ク図
ク図
【図６】従来の誤差拡散法において用いられる誤差マト
リクスを示す説明図
リクスを示す説明図
１００ 画像メモリ １０１ γ補正ＲＯＭ １０２ 加算器 １０３ 誤差メモリ １０４ 比較器 １０５ 重み付け誤差演算器 １０６ 加算器 １０７ 誤差拡散手段 １０８ 隣接エッジ検出手段 １０９ 閾値決定手段 １２０ 注目画素 １２１ 隣接画素 １２２ 隣接画素
Claims (1)
- 【請求項１】多値階調の画素に２値化処理を行って２値
画像を生成する画像処理方法であって、 注目画素を決定し、 前記注目画素の隣接画素を決定し、 前記注目画素と前記隣接画素との濃度差を求め、 前記濃度差が所定の設定値よりも大きい場合には前記注
目画素をエッジ部とし、 前記注目画素がエッジ部である場合の２値化処理時の閾
値を、前記隣接画素とのエッジ強度が大きいほど低く設
定して２値化処理を行うことを特徴とする画像処理方
法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11163286A JP2000354163A (ja) | 1999-06-10 | 1999-06-10 | 画像処理方法 |
| US09/580,524 US6842267B1 (en) | 1999-06-10 | 2000-05-30 | Image processing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11163286A JP2000354163A (ja) | 1999-06-10 | 1999-06-10 | 画像処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000354163A true JP2000354163A (ja) | 2000-12-19 |
Family
ID=15770943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11163286A Pending JP2000354163A (ja) | 1999-06-10 | 1999-06-10 | 画像処理方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6842267B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000354163A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100658353B1 (ko) | 2005-04-08 | 2006-12-15 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리방법 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003046783A (ja) * | 2001-08-02 | 2003-02-14 | Fujitsu Ltd | スムージング方法及びスムージング回路 |
| KR100438720B1 (ko) * | 2002-04-09 | 2004-07-05 | 삼성전자주식회사 | 영상의 휘도 레벨 변환 방법 및 장치 |
| US9063048B2 (en) * | 2012-07-12 | 2015-06-23 | Mitutoyo Corporation | Hardness tester and program |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH065881B2 (ja) | 1987-01-23 | 1994-01-19 | 松下電送株式会社 | 二値化処理装置 |
| US5216753A (en) * | 1990-03-29 | 1993-06-01 | Eastman Kodak Company | Halftone compression with sharpness preservation |
| US5778105A (en) * | 1994-01-14 | 1998-07-07 | R.R. Donnelley & Sons Company | Method of and apparatus for removing artifacts from a reproduction |
-
1999
- 1999-06-10 JP JP11163286A patent/JP2000354163A/ja active Pending
-
2000
- 2000-05-30 US US09/580,524 patent/US6842267B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100658353B1 (ko) | 2005-04-08 | 2006-12-15 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널의 화상처리 장치 및 화상처리방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6842267B1 (en) | 2005-01-11 |
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