JP2000356565A - 振動試験装置 - Google Patents
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
試験に対応することができるとともに簡単に試験を実施
でき、さらに、自動化にも容易に対応可能な振動試験装
置を提供する。 【解決手段】 支持部1に設置された対象物Tを加振部
2によって加振して、対象物Tの応答を信号検出部3で
検出する振動試験装置であって、先端を対象物Tに近づ
けて配される放電プローブ20と、放電プローブ20と
対象物Tとの間に電位差を与えて放電を発生させる放電
コントローラ22とを加振部2に備える。
Description
た対象物を加振部によって加振して、対象物の応答を信
号検出部で検出する振動試験装置に関する。
では、回転運動に起因して高圧圧縮機の動翼やタービン
動翼などの回転部品が高周波の繰り返し応力を受ける。
例えばこうした動翼は、直上流に配される静翼によって
空力的な応力(加振力)を受け、この場合、静翼の枚数
に回転数を乗じたものが加振力の振動周波数となる。振
動周波数が動翼の固有振動数と一致すると動翼に共振が
生じて大きな応力が作用してしまうため、ガスタービン
エンジンでは一般に、定常運転時における振動周波数と
動翼の固有振動数とがなるべく一致しないように設計が
行われている。
固有振動数を実際に確認したり、あるいは製作時のバラ
ツキを調べたりすることを目的として、振動試験装置が
用いられる。振動試験装置は、対象物を設置するための
支持部、対象物を加振するための加振部、および対象物
の応答を検出するための信号検出部を備えており、これ
らには対象物の特性や試験内容に応じて様々な方法のも
のが提案されている。
が採用されることが多い。打撃試験は、打撃ハンマで対
象物を叩くことにより加振する方法で、加振系を対象物
に取り付ける必要がなく、一度に低周波からある程度の
高周波までのスペクトルを得ることでき、しかも短時間
で行えて汎用性が広いといった利点を有する。特に上述
した動翼など、比較的小さい構造物の振動試験では広く
採用されている。
験には、以下のような課題がある。 ・50kHzを超える高周波の振動試験への対応が極め
て難しい。図5は、打撃ハンマによる打撃加振力を示す
ものである。時間軸上でTp秒間継続して与えられたエ
ネルギーは、周波数スペクトルが例えば半正弦波に近い
形状となる。対象周波数の上限Fmaxは、(b)に示
すように、スペクトルの谷間の溝で示される零交点Pよ
り小さくなければならない。零交点Pの周波数は波の継
続時間Tpに逆比例し、波形が鋭くTpが小さいほど零
交点Pは高周波数になる。ところが打撃試験では、実際
の打撃によって対象物に衝撃波を与えているため、継続
時間Tpを所定以下にすることが難しい。そのため、対
象周波数上限Fmaxは、50kHzが限界とされてお
り、実際には、32kHzを超えると打撃・試験にかな
りの技能と時間が要求される。近年、前述したガスター
ビンエンジンでは、小型の高出力のものを中心に動翼等
の回転部品が受ける振動周波数が50kHzを超えるも
のが多く、打撃試験では高周波領域での振動の特性が得
られにくい。
存する。打撃試験は、実施者が打撃ハンマで対象物を叩
くので、人間を加振系の一部にしている。このため、加
振の良否が実施者の技能や経験に依存する度合が比較的
大きくなってしまい、初心者には失敗が多い。また、実
際の試験では、失敗を除いた何度かの試験の平均を取っ
てその結果とすることが多く、手間がかかる場合が多
い。
なる。打撃試験を自動化しようとすると、打撃といった
機械的な動きを精度よくコントロールするための機構が
必要になる。そのため装置が複雑になり、自動化を実現
するのが難しい。
ものであり、50kHzを超える高周波を対象とする振
動試験に対応することができるとともに簡単に試験を実
施でき、さらに、自動化にも容易に対応可能な振動試験
装置を提供することを目的とする。
め、請求項1に係る発明は、支持部に設置された対象物
を加振部によって加振して、対象物の応答を信号検出部
で検出する振動試験装置であって、加振部が、先端を対
象物に近づけて配される放電プローブと、放電プローブ
と対象物との間に電位差を与えて放電を発生させる放電
コントローラとを備える技術が採用される。この振動試
験装置は、加振部が放電プローブと放電コントローラと
を備えているので、放電プローブと対象物との間で放電
を発生させることで対象物に継続時間の極めて短い衝撃
波を与えて対象物を加振することが可能となる。このた
め、高周波の振動試験にも対応することが可能となる。
験措置において、放電コントローラが、放電プローブと
対象物との間の電位差を変化させる変圧手段を備える技
術が採用される。この振動試験装置では、放電プローブ
と対象物との間の電位差を変化させる変圧手段を備えて
いるので、特性に応じてその対象物に適したエネルギー
量の放電を生じさせることで、様々な特性の対象物に対
する振動試験を確実に行うことが可能となる。
の振動試験装置において、加振部が、放電プローブを保
持しかつ放電プローブと対象物との距離を変化させるプ
ローブ案内機構を備える技術が採用される。この振動試
験装置では、プローブ案内機構が放電プローブと対象物
との距離を変化させるので、対象物の大きさの変化にも
容易に対応することが可能となるとともに、対象物の特
性に応じて放電プローブと対象物とを最適な距離にして
効率的に対象物を加振することが可能になる。
いずれかの振動試験装置において、信号検出部が対象物
の応答を非接触で検出する非接触式の応答変換器を備え
る技術が採用される。この振動試験装置では、信号検出
部が非接触式の応答変換器を備えているので、対象物の
取り付け・取り外しをさらに容易に行うことが可能とな
る。
いずれかの振動試験装置において、支持部が、対象物を
自動的に入れ換えて設置する交換機構を備える技術が採
用される。この振動試験装置では、交換機構が対象物を
自動的に入れ換えて設置するので、複数の対象物を連続
的に試験することが可能となる。
いずれかの振動試験装置において、支持部が、対象物の
一部をはめ込んで設置するための溝が形成された支持機
構を備える技術が採用される。この振動試験装置では、
支持機構に対象物の一部をはめ込んで設置するための溝
が形成されているので、対象物の取り付け・取り外しを
容易に行うことが可能となる。
の一実施形態について図1〜図3を参照して説明する。
図2は、本実施形態の全体のシステム構成を示してお
り、この図に示すように、振動試験装置は、支持部1、
加振部2、信号検出部3、信号処理部4、制御部5とに
よって構成されている。本実施形態では、ガスタービン
エンジン用の動翼T(例えば高圧圧縮機の動翼)を振動
試験するように構成されている。
対象物(動翼)Tを支持機構10で支持するものであ
る。また交換機構11を備えており、支持機構10への
動翼Tの取り付け・取り外しを自動的に行うようになっ
ている。支持機構10は、質量と剛性とを十分に備えた
構造体から構成され、ここでは、動翼Tが設置されるよ
うに、設置面にタブテイル形状の溝10aが形成されて
いる。また、溝10aに装着された動翼Tを例えば油圧
やエア圧などを利用して所定の力で保持・固定するよう
になっている。さらに支持機構10は、常にアース(接
地)された状態にあって、支持する動翼Tをアースする
ようになっている。一方、交換機構11は、図示しない
駆動手段を有しており、外部から供給される動翼Tを支
持機構10まで自動搬送して支持機構10の溝10aに
動翼Tを装着するとともに、試験後の動翼Tを溝10a
から抜き出して外部へ送るように構成されている。
波を与えるものであり、放電プローブ20、プローブ案
内機構21、および放電コントローラ22からなる。放
電プローブ20は、先端を略球状あるいは尖状等に形成
された導体20aを有し、絶縁体20bを介してプロー
ブ案内機構21に保持されている。また放電プローブ2
0は、先端形状の異なるものが複数用意されていて、対
象物の材質や表面特性によって使い分けられる。プロー
ブ案内機構21は、図示しない駆動手段を有しており、
指示を受けることによって放電プローブ20の先端と動
翼Tとが所定の距離(ギャップ)Gになるように放電プ
ローブ20を移動させる構成となっている。さらに、放
電によって衝撃波を与える箇所は、動翼Tの例えば翼の
付け根に近い箇所とされ、こうした放電箇所は、例えば
取得すべき対象モードの出力応答に応じて定められてい
る。
0の先端に所定の電位を与えるように構成されている。
図3に放電用の基本的な等価回路を示す。ギャップGが
所定距離にセットされている状態でコンデンサCを電圧
Eまで上昇させるとギャップGでの気体の絶縁が破壊さ
れて放電が起こる。本実施形態の放電コントローラ22
は、電気容量の異なる複数のコンデンサからなる図示し
ない変圧手段を有しており、対象物の大きさや材質等に
応じて充電するコンデンサが選択されるようになってい
る。また、始動用の図示しないスイッチング回路を備え
ており、このスイッチング回路での始動によってギャッ
プGでの放電が発生するようになっている。スイッチン
グ回路での始動用の機構には、例えば、針電極とテフロ
ン管とによる沿面放電を用いた始動ギャップなどが用い
られる。
あたっては、ギャップGと電極形状(放電プローブ20
先端および対象物T)とに応じた所定の電圧が必要とさ
れる。例えば、平行板間での放電は、球形同士の間での
放電に比べて高い電圧が必要である。本実施形態では、
図1に戻り、放電プローブ20の先端と動翼Tとのギャ
ップGが数mm程度の所定値に予め定められており、放
電コントローラ22は、ギャップG間が放電に要する電
圧よりもやや高い電圧となるように、放電プローブ20
に電位を与えるようになっている。なお、この電位によ
って生じる放電では動翼Tの表面等に損傷や材料の変質
が起こらないことが予め確認されている。
電気信号に変換して検出するものであり、応答変換器3
0および増幅器31からなる。増幅器31は、応答変換
器30からの電気信号を後続の信号処理が可能になるま
で増幅して調整するものである。応答変換器30には、
非接触方式のものが適用され、ここでは、対象物にレー
ザ光を照射して反射光のドップラーシフト周波数から速
度の時間応答を求めるレーザドップラ速度計30が用い
られている。また、このレーザドップラ速度計30は、
他の可動機構と干渉しない少し離れた場所から、例えば
対象物の自由端側といった応答の検出に適切な箇所に向
けてレーザ光を照射および反射光を受光するように配設
される。なお、応答変換器30には、このレーザドップ
ラ速度計のほか、渦電流やレーザ光、静電容量等を利用
した変位計といったものが用いられる。
Fourier Transform)アナライザが用いられている。F
FTアナライザ4は、信号検出部3からの電気信号をデ
ジタル信号に変換して必要な演算を行った後、結果を周
波数軸上に対して表すものであり、この結果は制御部5
に出力されるようになっている。なお信号処理部4に
は、このFFTアナライザのほか、信号処理ソフトを内
蔵するコンピュータが用いられる。
して制御するものであり、動翼Tの振動試験を自動的に
連続して行えるように各部へ指示するようになってい
る。
の固有振動数を計測するための振動試験を行う際の動作
の流れを以下説明する。外部から受け取った動翼Tを交
換機構11が支持機構10のタブテイル溝10aに装着
してセットする。動翼Tの設置が確認されると、プロー
ブ案内機構21が駆動して所定のギャップGとなるよう
に放電プローブ20を動翼Tへ近づける。そして、放電
コントローラ22が放電プローブ20に所定の電位を与
えることにより、ギャップGで放電が起こる。
極めて短時間の衝撃波を受けることになる。衝撃波によ
って加振された動翼Tの速度応答をレーザドップラ速度
計30が時刻歴アナログ信号として検出する。FFTア
ナライザ4は、増幅器31を通して受けた振動をデジタ
ル信号に変換して必要な演算を行い、周波数軸状に表し
た結果を制御部5へ出力する。こうした一連の振動試験
が完了すると、交換機構11が次のタービン翼Tを入れ
換えて支持機構10セットして次の振動試験が行われ
る。このような一連の流れが繰り返され、自動的に動翼
Tの振動検査が連続的に実行される。
翼Tの固有振動数の測定結果が示されている。この波形
図を見ると、50kHzを超える周波数領域においても
固有振動数を確実に検出していることが分かる。
ーブ20と動翼Tとの間で放電を発生させることで動翼
Tに継続時間の極めて短い衝撃波を与えて動翼Tを加振
することができる。これにより高周波のスペクトルを得
ることができ、打撃試験では難しい50kHzを超える
高周波の振動試験にも対応することができる。また放電
による加振は、打撃による加振に比べてノイズが少なく
小さな加振エネルギーでも固有振動数を検出しやすいの
で、表面等に損傷を与えることなく動翼Tを十分に加振
することができる。また、本実施形態では、放電プロー
ブ20と動翼Tとの間の電位差を変化させる変圧手段を
備えているので、様々な特性の対象物に対しても振動試
験を確実に行うことができる。さらに、プローブ案内機
構21によって放電プローブ20と動翼Tとの距離を変
化させることで、対象物の大きさの変化にも容易に対応
することができる。
って対象物を加振するので、実施者の技術や熟練度に精
度が大きく依存するといったことがない。そのため、少
ない回数で精度の高い試験をすることが可能となり、試
験に要する労力を軽減することができる。さらに、放電
プローブ20の先端を動翼Tに近づけて加振するため、
加振点を特定しやすく狙った位置を確実に加振すること
ができる。
度計30を用いて加振・応答検出をともに非接触とし、
交換機構11によって動翼Tを自動的に入れ換えて設置
するように構成することで、複数の動翼Tを連続的に振
動試験するといったことを簡単な機構で実現している。
また、支持機構10には動翼Tをはめ込んで設置するた
めのタブテイル状の溝10aが形成されており、動翼T
の取り付け・取り外しを容易に行うことができ、確実に
動翼Tを保持することができる。
内のコンデンサを利用して放電を発生させているが、本
発明は、圧電素子や静電気を利用して放電を発生させる
構成をも含むものとする。特に圧電素子を用いた場合に
は、放電のための電源を必要とせず、さらに簡易な機構
で放電を発生させることが可能となり、装置をコンパク
トに構成することが可能になる。
例えば可変抵抗器などによってその流れをコントロール
し、放電時間をある程度制御するような構成としてもよ
い。放電時間を制御することで対象物に応じて対象周波
数領域を変化させるといったことが可能になる。
以下の効果を得ることができる。請求項1に係る振動試
験装置は、加振部が放電プローブと放電コントローラと
を備えているので、放電プローブと対象物との間で放電
を発生させることで対象物に継続時間の極めて短い衝撃
波を与えて対象物を加振することができる。継続時間の
極めて短い衝撃波を用いるため、打撃試験では難しい5
0kHzを超える高周波の振動試験にも対応することが
できる。またこの装置は、電気的な信号によって対象物
を加振するので、実施者の技術や熟練度に精度が大きく
依存するといったことがない。そのため、少ない回数で
精度の高い試験をすることが可能となり、試験に要する
労力を軽減することができる。さらに、簡単な機構で加
振できるので、自動化に向けた装置を容易に構成するこ
とができる。
的小さい対象物の振動試験に適している。すなわち、打
撃ハンマで打撃する箇所が定まり難いような小さい構造
物(対象物)であっても、放電を利用して容易に加振す
ることができる。同様に、組み立てられた状態の部品の
振動試験にも容易に適用することができ、様々な構造物
に広く応用することができる。
ローブと対象物との間の電位差を変化させる変圧手段を
備えているので、特性に応じてその対象物に適したエネ
ルギー量の放電を生じさせることで、様々な特性の対象
物に対する振動試験を確実に行うことができる。また、
電位差を変化させることで放電による対象物の損傷を容
易に防ぐことができる。
ブ案内機構が放電プローブと対象物との距離を変化させ
るので、対象物の大きさの変化にも容易に対応すること
ができる。しかも、対象物の特性に応じて放電プローブ
と対象物とを放電に最適な距離として、効率的に対象物
を加振することができる。また、放電プローブを移動さ
せることで対象物の取り付け・取り外しが容易に行える
ようになる。
出部が非接触式の応答変換器を備えているので、対象物
の取り付け・取り外しをさらに容易に行うことができる
とともに、自動化を容易に実現できるようになる。
構が対象物を自動的に入れ換えて設置するので、複数の
対象物を連続的に試験することができる。このため、試
験に要する労力を大幅に軽減することができる。
構に対象物の一部をはめ込んで設置するための溝が形成
されているので、対象物の取り付け・取り外しを容易に
行うことができる。このため、自動化をさらに容易に実
現することができる。
る。
成を示すブロック図である。
る。
を示す波形図である。
あり、(a)は時間歴波形、(b)は周波数スペクトル
を示している。
Claims (6)
- 【請求項1】 支持部に設置された対象物を加振部によ
って加振して、該対象物の応答を信号検出部で検出する
振動試験装置であって、 前記加振部は、先端を前記対象物に近づけて配される放
電プローブと、該放電プローブと前記対象物との間に電
位差を与えて放電を発生させる放電コントローラとを備
えることを特徴とする振動試験装置。 - 【請求項2】 前記放電コントローラは、前記放電プロ
ーブと前記対象物との間の電位差を変化させる変圧手段
を備えることを特徴とする請求項1記載の振動試験装
置。 - 【請求項3】 前記加振部は、前記放電プローブを保持
しかつ該放電プローブと前記対象物との距離を変化させ
るプローブ案内機構を備えることを特徴とする請求項1
または2記載の振動試験装置。 - 【請求項4】 前記信号検出部は、前記対象物の応答を
非接触で検出する非接触式の応答変換器を備えることを
特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の振動試験
装置。 - 【請求項5】 前記支持部は、前記対象物を自動的に入
れ換えて設置する交換機構を備えることを特徴とする請
求項1から4のいずれかに記載の振動試験装置。 - 【請求項6】 前記支持部は、前記対象物の一部をはめ
込んで設置するための溝が形成された支持機構を備える
ことを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の振
動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11167473A JP2000356565A (ja) | 1999-06-14 | 1999-06-14 | 振動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11167473A JP2000356565A (ja) | 1999-06-14 | 1999-06-14 | 振動試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000356565A true JP2000356565A (ja) | 2000-12-26 |
Family
ID=15850341
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11167473A Pending JP2000356565A (ja) | 1999-06-14 | 1999-06-14 | 振動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000356565A (ja) |
Cited By (6)
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-
1999
- 1999-06-14 JP JP11167473A patent/JP2000356565A/ja active Pending
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