JP2000357228A - エッジ検出方法、エッジ検出装置、及び記録媒体 - Google Patents

エッジ検出方法、エッジ検出装置、及び記録媒体

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JP2000357228A JP11167200A JP16720099A JP2000357228A JP 2000357228 A JP2000357228 A JP 2000357228A JP 11167200 A JP11167200 A JP 11167200A JP 16720099 A JP16720099 A JP 16720099A JP 2000357228 A JP2000357228 A JP 2000357228A
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Yasumasa Ichiyanagi
安正 一柳
Takeo Yazawa
武男 矢澤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 エッジ座標検出の精度が向上し、生産性が低
下することなく、低コストで実施できるエッジ検出方
法、エッジ検出装置及び記録媒体を提供する。 【解決手段】 鋼板1の平面に対してテレビカメラ3の
撮像方向を所定角度傾けて鋼板1を撮影する。画像処理
装置4が、記録媒体6のプログラム情報に基づき、テレ
ビカメラ3の撮影画像の所定領域の輝度値が所定値以上
になった時点から、撮影画像を保存し、各撮影画像につ
き、画素の列毎に所定値以上の輝度を有した画素の輝度
の合計値を求め、該合計値がしきい値を超える画素の列
の数が最大である撮影画像を選択し、エッジの画素座標
を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばリバース圧
延における厚板圧延及びホットストリップの粗圧延等で
鋼板の先端に発生する板反りを測定するために、鋼板を
撮影した画像上で鋼板エッジの画素座標を検出するエッ
ジ検出方法、その実施に使用するエッジ検出装置、及び
該エッジ検出装置をコンピュータで実現するためのコン
ピュータプログラムが記録されてある記録媒体に関す
る。
【0002】
【従来の技術】リバース圧延における厚板圧延及びホッ
トストリップ粗圧延等で発生する上下反り(以下、板反
りと言う)によって、鋼板には腰折れ等の表面疵が生
じ、また板反りに起因して冷却ムラが生じ、品質が劣化
する。そして、板反りに起因してストリッパガイドの破
損等の設備トラブルが発生することもある。この対策と
して、板反りを測定し、その値から上下圧延ロール等の
圧延条件を修正している。特開平4−213013号公
報に開示された鋼板の反り測定方法では、検出器がテー
ブルローラ上の鋼板を検知したときに、テレビカメラで
鋼板の側面を撮影し、その画像に対して画像処理を行っ
て鋼板エッジの画素座標(以下、エッジ座標と言う)を
複数個検出し、これに基づき板反りの反り量を測定して
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この測定方法
においては、鋼板の有無を前記検出器で検出するため
に、設備が複雑になり、メンテナンスが問題となってい
た。また、前記検出器は設備上及びメンテナンス上、鋼
板の先端部がロールから出た直後の位置に設置すること
が出来ず、ロールから例えば5m離れた位置に検出器を
設置している場合、鋼板の長さが3mであるときは、少
なくとも2m以上余分に搬送させて検出させた後、再圧
延のために逆方向に搬送することになり、生産性の低下
が問題となっていた。また、この測定方法においては、
テレビカメラで鋼板の側面を撮影しているが、鋼板が反
っている場合、テレビカメラ設置側と反対側は、鋼板の
上面が撮影されることになってエッジ座標を正確に検出
することができないという問題があった。さらに、撮影
する鋼板は、エッジの部分が他の部分より温度が低くな
る場合があり、可視光領域の波長の光を含んで撮影する
ときには、画像において温度の低い部分が暗くなり、2
値化等の処理を行うときに、エッジ座標を正確に検出す
ることができない。
【0004】本発明は斯かる事情に鑑みてなされたもの
であり、搬送される金属板の平面に対して撮像装置の撮
像方向を所定角度傾けて金属板を撮影し、撮影画像の画
素の列毎に、所定値以上の輝度を有した画素の輝度の合
計値を求め、該合計値を指標としてエッジ座標を検出す
る画像を選択することにより、エッジ座標検出の精度が
向上するエッジ検出方法、その実施に使用するエッジ検
出装置、及び該エッジ検出装置をコンピュータで実現す
るためのコンピュータプログラムが記録されてある記録
媒体を提供することを主たる目的とする。そして、撮像
装置に波長が所定値以上である光を透過させるフィルタ
を設けることにより、エッジの部分が他の部分より温度
が低くなっている場合においても、精度良くエッジ座標
を検出することができるエッジ検出方法、エッジ検出装
置、及び記録媒体を提供することを目的とする。また、
撮像装置の撮影画像の所定領域の輝度値が所定値以上に
なった時点から撮影画像を保存することにより、検出器
が不要であって、装置の構成が簡単であり、生産性を低
下させることなく、低コストで実施できるエッジ検出方
法、エッジ検出装置、及び記録媒体を提供することを目
的とする。
【0005】そして、金属板を画像の長手方向に広範囲
に取り込んだ画像を容易に選択することができるエッジ
検出方法、エッジ検出装置、及び記録媒体を提供するこ
とを目的とする。さらに、画像に輝度ムラがある場合で
も精度良くエッジ座標を検出することができるエッジ検
出方法、エッジ検出装置、及び記録媒体を提供すること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】第1発明に係るエッジ検
出方法は、搬送される金属板を撮像装置により撮影して
得られた撮影画像を画像処理し、処理した画像上で前記
金属板のエッジの画素座標を検出するエッジ検出方法に
おいて、前記撮像装置の撮像方向を前記金属板の平面に
対して所定角度傾けて前記金属板を撮影し、前記撮影画
像を複数保存し、各撮影画像につき、該撮影画像を構成
する画素の列毎に、所定値以上の輝度を有する画素の輝
度の合計値を求め、該合計値を指標として前記画素座標
を検出する撮影画像を選択することを特徴とする。
【0007】第2発明に係るエッジ検出方法は、第1発
明において、前記撮像装置に波長が所定値以上である光
を透過させるフィルタを設けて、前記金属板を撮影する
ことを特徴とする。
【0008】第3発明に係るエッジ検出方法は、第1発
明において、前記撮像装置の撮影画像の所定領域の輝度
値が所定値以上になった時点から撮影画像を保存するこ
とを特徴とする。
【0009】第4発明に係るエッジ検出方法は、第1発
明において、前記合計値がしきい値を超える画素の列の
数が最大である撮影画像を選択することを特徴とする。
【0010】第5発明に係るエッジ検出方法は、第1発
明において、選択した撮影画像について、行方向にm画
素、列方向にn画素を1ブロックとして輝度の合計値を
求め、列方向に隣接するブロックの各輝度の合計値の差
の絶対値を(m×n)で除した商を1行ずつずらして求
め、これを各列について実行して得られた各商を画素値
として強調画像を得、該強調画像について、しきい値を
設定して各画素毎に2値化処理を行い、得られた2値化
画像上で前記エッジの画素座標を検出することを特徴と
する。
【0011】第6発明に係るエッジ検出装置は、搬送さ
れる金属板の撮影画像を保存して画像処理し、処理した
画像上で前記金属板のエッジの画素座標を検出するエッ
ジ検出装置において、前記撮影画像の所定領域の輝度値
が所定値以上であるか否かを判定し、前記輝度値が所定
値以上になった時点から、前記撮影画像を保存する手段
と、保存した各撮影画像につき、該撮影画像を構成する
画素の列毎に、所定値以上の輝度を有する画素の輝度の
合計値を求める手段と、該合計値を指標として前記画素
座標を検出する画像を選択する画像選択手段とを備えた
ことを特徴とする。
【0012】第7発明に係るエッジ検出装置は、第6発
明において、前記画像選択手段が、前記合計値がしきい
値を超える画素の列の数が最大である撮影画像を選択す
べくなしてあることを特徴とする。
【0013】第8発明に係るエッジ検出装置は、第6発
明において、選択した撮影画像について、行方向にm画
素、列方向にn画素を1ブロックとして輝度の合計値を
求める第1処理を実行する手段と、列方向に隣接するブ
ロックの各合計値の差の絶対値を(m×n)で除して商
を求める第2処理を実行する手段と、ブロックを1行ず
つずらして、前記第1処理及び第2処理を実行する第3
処理を実行する手段と、ブロックを1列ずつずらして、
前記第3処理を実行する手段と、得られた各商を画素値
として強調画像を得る手段と、前記強調画像について、
しきい値を設定して各画素毎に2値化処理を行う手段と
を備えることを特徴とする。
【0014】第9発明に係る記録媒体は、コンピュータ
に、搬送される金属板の撮影画像を保存させて画像処理
させ、処理した画像上で前記金属板のエッジの画素座標
を検出させるコンピュータプログラムを記録してあるコ
ンピュータでの読み取りが可能な記録媒体において、コ
ンピュータに、前記撮像装置の撮影画像の所定領域の輝
度値が所定値以上であるか否かを判定させ、前記輝度値
が所定値以上になった時点から、前記撮影画像を保存さ
せるプログラムコード手段と、コンピュータに、保存し
た各撮影画像につき、該撮影画像を構成する画素の列毎
に、所定値以上の輝度を有する画素の輝度の合計値を求
めさせるプログラムコード手段と、コンピュータに、前
記合計値を指標として前記画素座標を検出する撮影画像
を選択させる画像選択プログラムコード手段とを含むコ
ンピュータプログラムを記録してあることを特徴とす
る。
【0015】第10発明に係る記録媒体は、第9発明に
おいて、前記画像選択プログラムコード手段が、コンピ
ュータに、前記合計値がしきい値を超える画素の列の数
が最大である撮影画像を選択させるべくなしてあること
を特徴とする。
【0016】第11発明に係る記録媒体は、第9発明に
おいて、コンピュータに、選択した撮影画像について、
行方向にm画素、列方向にn画素を1ブロックとして輝
度の合計値を求める第1処理を実行させるプログラムコ
ード手段と、コンピュータに、列方向に隣接するブロッ
クの各合計値の差の絶対値を(m×n)で除して商を求
める第2処理を実行させるプログラムコード手段と、コ
ンピュータに、ブロックを1行ずつずらして、前記第1
処理及び第2処理を実行する第3処理を実行させるプロ
グラムコード手段と、コンピュータに、ブロックを1列
ずつずらして、前記第3処理を実行させるプログラムコ
ード手段と、コンピュータに、得られた各商を画素値と
して強調画像を作成させるプログラムコード手段と、コ
ンピュータに、前記強調画像について、しきい値を設定
して各画素毎に2値化処理を行わせるプログラムコード
手段とを含むコンピュータプログラムを記録してあるこ
とを特徴とする。
【0017】第1発明による場合は、撮像装置の撮像方
向を金属板の平面に対して所定角度傾けて金属板を撮影
するので、金属板の側面とともに上面が撮影され、金属
板の撮像装置設置側と反対側のエッジ座標も精度良く検
出することができる。第1発明、第6発明及び第9発明
による場合は、撮影画像を構成する画素の列毎に前記合
計値を求めており、該合計値の大きい画素の列を多く含
む画像は、金属板が画像の長手方向に広範囲に侵入した
画像に相当するので、該合計値の大きい画素の列を多く
含む画像を選択することで、金属板を画像の長手方向に
広範囲に取り込んだ画像を容易に選択することができ、
エッジ座標検出の精度が向上する。第2発明による場合
は、撮像装置にフィルタを設けて金属板を撮影するの
で、金属板のエッジの部分が他の部分より温度が低くな
っている場合でも、画像においてエッジの部分が暗くな
らないので、エッジ座標検出の精度が向上する。
【0018】第3発明、第6発明及び第9発明による場
合は、前記撮像装置の撮影画像の所定領域の輝度値が所
定値以上になった時点、すなわち金属板の先端部が撮影
画面に侵入した時点から撮影画像を保存するので、金属
板の先端部が視野に侵入したことを検出する検出器が不
要になる。従って、装置の構成が簡単になり、余分な搬
送を行って生産性を低下させることなく、低コストでエ
ッジの検出を行うことができる。第4発明、第7発明及
び第10発明による場合は、前記合計値がしきい値を超
える画素の列の数が最大である撮影画像を選択するの
で、金属板を画像の長手方向に広範囲に取り込んだ画像
をさらに容易に選択することができる。
【0019】第5発明、第8発明及び第11発明による
場合は、金属板部分と金属板のない背景部分との境界で
あるエッジのコントラストを強調する強調画像処理を行
うので、精度良くエッジ座標を検出することができる。
隣接する前記ブロックが共に背景部分にある場合は、各
ブロックの輝度の合計値は小さく、略等しいので、前記
商は略0になる。隣接する一方のブロックが背景部分に
あり、他方のブロックが金属板内にある場合は、各ブロ
ックの輝度の合計値の差が大きいので、前記商は大きく
なる。隣接するブロックが共に金属板内にある場合は、
各ブロックの輝度の合計値は大きいが、値が略等しいの
で、前記商は略0になる。従って、エッジ部分が他の部
分と比較してコントラストが強くなる。そして、撮影画
像に輝度ムラがある場合においても、ムラにより生じる
ブロック間の輝度の差と、隣接するブロックがエッジ部
分にあるために生じる輝度の差とでは、エッジ部分の輝
度の差の方が大きいので、前記強調画像処理を行うこと
により、エッジ部分のコントラストが強くなり、エッジ
座標を検出し易くなる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づいて具体的に説明する。図1は本発明に
係るエッジ検出装置の構成を示すブロック図であり、図
2は鋼板1、ローラ2及び撮像装置としてのテレビカメ
ラを示す断面図である。鋼板1は、ローラ2により長手
方向に、図1中左から右に搬送される。テレビカメラ3
は、鋼板1の側方上側から鋼板1の平面に光軸を向けて
配置されている。テレビカメラ3は、撮影画面の長手方
向を鋼板1の長手方向に一致させ、撮影画面の左側から
鋼板1が侵入する状態で鋼板1を撮影する。テレビカメ
ラ3のレンズにはフィルタ3aが取り付けられている。
図3のフィルタ特性のグラフに示したように、フィルタ
3aは波長が800nm以上である光を透過させる。従
って、このフィルタ3aにより可視光がカットされる。
テレビカメラ3は画像処理装置4の通信インターフェー
ス45に接続され、画像処理装置4には圧延条件設定装
置5が接続されている。
【0021】画像処理装置4はコンピュータからなり、
CPU41、及び本発明のCD−ROM等の記録媒体6
からプログラムを読み取るCD−ROMドライブ等の補
助記録手段42を備える。補助記録手段42に読み取ら
れたプログラムはハードディスク43に記録され、前記
プログラムがハードディスク43から読み取られ、一時
的に情報を記憶するメモリ44に記憶されて、CPU4
1により実行することで、コンピュータは画像処理装置
4として動作する。
【0022】図4は、画像処理装置4の処理手順を示す
フローチャートであり、図5は、テレビカメラ3の撮影
画像を示す模式図である。画像処理装置4の処理は各鋼
板1の圧延及び再圧延毎に行われる。まず、ステップS
1において、テレビカメラ3により撮影された撮影画像
を通信インターフェース45を介して取り込み、図5に
示した撮影画像の左側の所定領域(例えば幅1×長さ1
00画素)の輝度の合計値を求め、これがしきい値α
(例えば10000)より大きいか否かを判断する。前
記領域の画素の輝度の合計値がα以下である場合、テレ
ビカメラ3が次に撮影した画像を取り込み、ステップS
1を繰り返す。前記合計値がαより大きい場合、鋼板1
の先端部が撮影画面に侵入しているので、撮影画像の保
存を開始する(ステップS2)。撮影画像はメモリ44
に保存され、30画像保存される。図6は、前記領域に
おける輝度の合計値の経時的変化の1例を示したグラフ
である。この場合、処理開始5秒後に、前記合計値が1
0000を超えており、この時点から撮影画像の保存が
開始される。
【0023】次に、メモリ44に保存された撮影画像の
中からエッジ座標を検出するのに最適な撮影画像を選択
する(ステップS3)。各撮影画像について、画素の列
毎に、所定値以上の輝度を有した画素の輝度を合計し、
この合計値がβ(例えば5000)を超える画素の列を
最大数含む撮影画像を選択する。各撮影画像につき、合
計値がβを超える右端の画素の列の座標を求め、この座
標が撮影画像の最右端座標以下であって最大である撮影
画像を選択する。選択された撮影画像は、鋼板1が画像
の長手方向に最も広範囲に侵入した画像に相当する。図
7に、撮影画像の模式図、及び該撮影画像の座標と輝度
合計値との関係を示したグラフを3例示す。(a)の場
合、鋼板1の先端部は撮影画像の左側に片寄っており、
右端の画素の列の座標も左寄りであり、鋼板1の画像へ
の侵入が不充分である。(c)の場合、鋼板1の先端部
は撮影画像の右側で切れており、右端の画素の列の座標
が撮影画像の最右端座標と一致している。従って、
(a)及び(c)は選択画像として不適当であり、先端
部が切れることがなく、鋼板1が撮影画像の長手方向に
広範囲に入っている(b)の撮影画像を選択する。
【0024】そして、選択された撮影画像において、エ
ッジのコントラストを強調する強調画像処理及び2値化
処理を行い、エッジ座標を検出する(ステップS4)。
図8は、強調画像の画素値の求め方の説明図であり、図
9は、強調画像の処理の説明図である。(a)の選択し
た撮影画像につき、行方向にm(例えば3)画素、列方
向にn(例えば2)画素を1ブロックとして輝度の合計
値を求め、列方向に隣接するブロックの各合計値の差の
絶対値をm×n(=6)で除して商を求めることを順
次、1行ずつずらして行う。例えば、1行目及び2行目
の6画素の輝度の和L1と、3行目及び4行目の6画素
の輝度の和L2との差の絶対値を6で除して平均値を求
め、次に2行目及び3行目の画素の輝度の和L1と、4
行目及び5行目の画素の輝度の和L2との差の絶対値を
6で除して平均値を求める。得られた各商をその列の画
素値とし、これを各列に繰り返して強調画像(b)を得
る。鋼板1のない背景部分にL1及びL2がある場合
は、L1及びL2は小さく、略等しいので、前記商は略
0になる。L1が背景部分にあり、L2が鋼板1内にあ
る場合は、L2とL1との差が大きいので、前記商は大
きくなる。L1及びL2が鋼板1内にある場合は、L1
及びL2は大きいが、値が略等しいので、前記商は略0
になる。従って、鋼板1部分と背景部分との境界である
エッジ部分が他の部分と比較してコントラストが強くな
り、(b)に示した強調画像が得られる。なお、撮影画
像に輝度ムラがある場合においても、ムラにより生じる
ブロック間の輝度の差と、ブロックがエッジ部分にある
ために生じる輝度の差とでは、エッジ部分の輝度の差の
方が大きいので、前記強調画像処理を行うことにより、
エッジ部分のコントラストが強くなる。上述のようにし
て得られた強調画像(b)に適宜の2値化しきい値th
を設定して、強調画像(b)の2値化及びノイズ除去処
理を行い、画像(c)を得て、公知の手法によりエッジ
座標を検出する。ノイズ除去は、検出したエッジ座標を
追跡し、所定の角度以上曲がった点以降を鋼板1の前面
のエッジとして判断し、除去することにより行われる。
【0025】検出されたエッジ座標のデータは圧延条件
設定装置5に送られる。圧延条件設定装置5は、このデ
ータに基づき板反りの反り量(反り曲率等)を算出し、
予め求めておいたパスライン位置と板反り量との関係、
又は上下ワークロールの周速差と板反り量との関係か
ら、前記実測板反り量の板反りの発生を防止するのに必
要なパスライン位置及び上下ワークロールの周速差を算
出し、算出したパスライン位置及び上下ワークロールの
周速差に基づき、パスライン位置及び上下ワークロール
の周速の少なくとも一方を制御して、次パスの圧延での
板反りの発生を防止する。この制御方法は、特開平11-4
7812号公報に開示されている。
【0026】以上のように本発明のエッジ検出方法によ
れば、撮像方向を鋼板1の平面に対して所定角度傾けて
鋼板1を撮影するので、鋼板1の側面とともに上面が撮
影される。また、テレビカメラ3にフィルタ3aを設け
ることにより、鋼板1のエッジの部分が他の部分より温
度が低くなっている場合でも、撮影画像においてエッジ
の部分が暗くならない。そして、保存した各撮影画像に
つき、前記画素の輝度の合計値がβを超える右端の画素
の列の座標を求め、該座標が画像の最右端座標以下であ
って最大である画像を選択するので、鋼板1を長手方向
に広範囲に取り込んだ画像を容易に選択することができ
る。さらに、前記強調画像処理を行うので、撮影画像に
輝度ムラがある場合においても、エッジ部分のコントラ
ストを強くすることができる。従って、本発明のエッジ
検出方法においては、エッジ座標を精度良く検出するこ
とができ、その結果、板反り量を精度良く測定して圧延
条件の設定を適正に行い、板反りを確実に制御すること
ができる。そして、テレビカメラ3の撮影画像の所定領
域の輝度値が所定値以上になった時点から撮影画像を保
存するので、検出器が不要で装置の構成が簡単になり、
生産性を低下させることなく、低コストで板反りの測定
を実施することができる。
【0027】なお、前記実施形態においては、テレビカ
メラ3のレンズにフィルタ3aを取り付けた場合につき
説明しているがこれに限定されるものではない。但し、
フィルタ3aを設けると、鋼板1のエッジの部分の温度
が低くなっている場合でも、画像でこの部分が暗くなら
ないので、エッジ座標を精度良く検出することができ
る。そして、金属板の種類、しきい値α及びβ、並びに
画素数m及びn等は自由に設定できるのは言うまでもな
い。
【0028】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明に係るエッ
ジ検出方法及びエッジ検出装置による場合は、撮像方向
を金属板の平面に対して所定角度傾けて金属板を撮像す
るので、金属板の側面とともに上面が撮影され、金属板
の撮像装置設置側と反対側のエッジ座標も精度良く検出
することができ、板反り測定の精度が向上する。また、
撮像装置にフィルタを設けることにより、金属板のエッ
ジの部分が他の部分より温度が低くなっている場合で
も、画像においてエッジの部分が暗くならないので、エ
ッジ座標検出の精度が向上する。
【0029】そして、保存した各画像につき、画素の列
毎に所定値以上の輝度を有した画素の輝度の合計値を求
め、これを指標とするので、金属板を画像の長手方向に
広範囲に取り込んだ画像を容易に選択することができ
る。この場合、前記合計値がしきい値を超える画素の列
を最大数含む撮影画像を選択するのが好ましい。さら
に、行方向にm画素、列方向にn画素を1ブロックとし
て輝度の合計値を求め、列方向に隣接する2ブロックの
前記合計値の差の絶対値を(m×n)で除した商を1行
ずつずらして求め、これを各列に実行して得られた各商
を画素値として強調画像処理を行うので、輝度ムラがあ
る場合においてもエッジのコントラストが強調される。
従って、エッジ座標の検出の精度が向上する。その結
果、板反り量の測定の精度が向上し、圧延条件の設定を
適正に行って、反りを確実に制御することができる。
【0030】また、撮像装置の撮影画像の所定領域の輝
度値が所定値以上になった時点から撮影画像を保存する
ので、金属板の先端部の撮影画面への侵入を検出する検
出器が不要になる。従って、装置の構成が簡単になり、
余分な搬送を行って生産性が低下することなく、低コス
トで板反りの測定を実施することができる。さらに、本
発明に係る記録媒体による場合は、汎用コンピュータで
前記エッジ検出装置を実現することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るエッジ検出装置の構成を示すブロ
ック図である。
【図2】鋼板、ローラ及びテレビカメラを示す断面図で
ある。
【図3】フィルタ特性を示したグラフである。
【図4】画像処理装置の処理手順を示すフローチャート
である。
【図5】テレビカメラの撮影画像を示す模式図である。
【図6】所定領域における輝度の合計値の経時的変化の
1例を示したグラフである。
【図7】撮影画像の模式図、及び該画像の座標と輝度合
計値との関係を示したグラフである。
【図8】強調画像の画素値の求め方を示す説明図であ
る。
【図9】強調画像の処理を示す説明図である。
【符号の説明】
1 鋼板 2 ローラ 3 テレビカメラ 3a フィルタ 4 画像処理装置 5 圧延条件設定装置 6 記録媒体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢澤 武男 大阪府大阪市中央区北浜4丁目5番33号 住友金属工業株式会社内 Fターム(参考) 5B057 CE03 CE12 DA20 DB08 DC16 5L096 AA06 BA03 CA03 DA02 EA05 EA12 EA43 FA06 GA51

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搬送される金属板を撮像装置により撮影
    して得られた撮影画像を画像処理し、処理した画像上で
    前記金属板のエッジの画素座標を検出するエッジ検出方
    法において、 前記撮像装置の撮像方向を前記金属板の平面に対して所
    定角度傾けて前記金属板を撮影し、前記撮影画像を複数
    保存し、各撮影画像につき、該撮影画像を構成する画素
    の列毎に、所定値以上の輝度を有する画素の輝度の合計
    値を求め、該合計値を指標として前記画素座標を検出す
    る撮影画像を選択することを特徴とするエッジ検出方
    法。
  2. 【請求項2】 前記撮像装置に波長が所定値以上である
    光を透過させるフィルタを設けて、前記金属板を撮影す
    る請求項1記載のエッジ検出方法。
  3. 【請求項3】 前記撮像装置の撮影画像の所定領域の輝
    度値が所定値以上になった時点から撮影画像を保存する
    請求項1記載のエッジ検出方法。
  4. 【請求項4】 前記合計値がしきい値を超える画素の列
    の数が最大である撮影画像を選択する請求項1記載のエ
    ッジ検出方法。
  5. 【請求項5】 選択した撮影画像について、行方向にm
    画素、列方向にn画素を1ブロックとして輝度の合計値
    を求め、列方向に隣接するブロックの各輝度の合計値の
    差の絶対値を(m×n)で除した商を1行ずつずらして
    求め、これを各列について実行して得られた各商を画素
    値として強調画像を得、該強調画像について、しきい値
    を設定して各画素毎に2値化処理を行い、得られた2値
    化画像上で前記エッジの画素座標を検出する請求項1記
    載のエッジ検出方法。
  6. 【請求項6】 搬送される金属板の撮影画像を保存して
    画像処理し、処理した画像上で前記金属板のエッジの画
    素座標を検出するエッジ検出装置において、 前記撮影画像の所定領域の輝度値が所定値以上であるか
    否かを判定し、前記輝度値が所定値以上になった時点か
    ら、前記撮影画像を保存する手段と、 保存した各撮影画像につき、該撮影画像を構成する画素
    の列毎に、所定値以上の輝度を有する画素の輝度の合計
    値を求める手段と、 該合計値を指標として前記画素座標を検出する画像を選
    択する画像選択手段とを備えたことを特徴とするエッジ
    検出装置。
  7. 【請求項7】 前記画像選択手段は、前記合計値がしき
    い値を超える画素の列の数が最大である撮影画像を選択
    すべくなしてある請求項6記載のエッジ検出装置。
  8. 【請求項8】 選択した撮影画像について、行方向にm
    画素、列方向にn画素を1ブロックとして輝度の合計値
    を求める第1処理を実行する手段と、 列方向に隣接するブロックの各合計値の差の絶対値を
    (m×n)で除して商を求める第2処理を実行する手段
    と、 ブロックを1行ずつずらして、前記第1処理及び第2処
    理を実行する第3処理を実行する手段と、 ブロックを1列ずつずらして、前記第3処理を実行する
    手段と、 得られた各商を画素値として強調画像を得る手段と、 前記強調画像について、しきい値を設定して各画素毎に
    2値化処理を行う手段とを備える請求項6記載のエッジ
    検出装置。
  9. 【請求項9】 コンピュータに、搬送される金属板の撮
    影画像を保存させて画像処理させ、処理した画像上で前
    記金属板のエッジの画素座標を検出させるコンピュータ
    プログラムを記録してあるコンピュータでの読み取りが
    可能な記録媒体において、 コンピュータに、前記撮像装置の撮影画像の所定領域の
    輝度値が所定値以上であるか否かを判定させ、前記輝度
    値が所定値以上になった時点から、前記撮影画像を保存
    させるプログラムコード手段と、 コンピュータに、保存した各撮影画像につき、該撮影画
    像を構成する画素の列毎に、所定値以上の輝度を有する
    画素の輝度の合計値を求めさせるプログラムコード手段
    と、 コンピュータに、前記合計値を指標として前記画素座標
    を検出する撮影画像を選択させる画像選択プログラムコ
    ード手段とを含むコンピュータプログラムを記録してあ
    ることを特徴とするコンピュータでの読み取りが可能な
    記録媒体。
  10. 【請求項10】 前記画像選択プログラムコード手段
    は、コンピュータに、前記合計値がしきい値を超える画
    素の列の数が最大である撮影画像を選択させるべくなし
    てある請求項9記載のコンピュータでの読み取りが可能
    な記録媒体。
  11. 【請求項11】 コンピュータに、選択した撮影画像に
    ついて、行方向にm画素、列方向にn画素を1ブロック
    として輝度の合計値を求める第1処理を実行させるプロ
    グラムコード手段と、 コンピュータに、列方向に隣接するブロックの各合計値
    の差の絶対値を(m×n)で除して商を求める第2処理
    を実行させるプログラムコード手段と、 コンピュータに、ブロックを1行ずつずらして、前記第
    1処理及び第2処理を実行する第3処理を実行させるプ
    ログラムコード手段と、 コンピュータに、ブロックを1列ずつずらして、前記第
    3処理を実行させるプログラムコード手段と、 コンピュータに、得られた各商を画素値として強調画像
    を作成させるプログラムコード手段と、 コンピュータに、前記強調画像について、しきい値を設
    定して各画素毎に2値化処理を行わせるプログラムコー
    ド手段とを含むコンピュータプログラムを記録してある
    請求項9記載のコンピュータでの読み取りが可能な記録
    媒体。
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