JP2000504876A - 加工物にイオン注入するためのイオン注入装置 - Google Patents
加工物にイオン注入するためのイオン注入装置Info
- Publication number
- JP2000504876A JP2000504876A JP9529531A JP52953197A JP2000504876A JP 2000504876 A JP2000504876 A JP 2000504876A JP 9529531 A JP9529531 A JP 9529531A JP 52953197 A JP52953197 A JP 52953197A JP 2000504876 A JP2000504876 A JP 2000504876A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load lock
- workpiece
- ion
- ion implantation
- implantation apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P30/00—Ion implantation into wafers, substrates or parts of devices
- H10P30/20—Ion implantation into wafers, substrates or parts of devices into semiconductor materials, e.g. for doping
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0431—Apparatus for thermal treatment
- H10P72/0434—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/08—Ion sources; Ion guns using arc discharge
- H01J27/14—Other arc discharge ion sources using an applied magnetic field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/08—Ion sources; Ion guns
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/18—Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/3002—Details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/3002—Details
- H01J37/3007—Electron or ion-optical systems
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/304—Controlling tubes by information coming from the objects or from the beam, e.g. correction signals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/317—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
- H01J37/3171—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for ion implantation
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
- H10P72/0418—Apparatus for fluid treatment for etching
- H10P72/0421—Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/33—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H10P72/3304—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterised by movements or sequence of movements of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/33—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H10P72/3306—Horizontal transfer of a single workpiece
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/33—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H10P72/3308—Vertical transfer of a single workpiece
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H10P72/3411—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/78—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using vacuum or suction, e.g. Bernoulli chucks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/02—Details
- H01J2237/022—Avoiding or removing foreign or contaminating particles, debris or deposits on sample or tube
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/06—Sources
- H01J2237/083—Beam forming
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/18—Vacuum control means
- H01J2237/184—Vacuum locks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2001—Maintaining constant desired temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2007—Holding mechanisms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/202—Movement
- H01J2237/20221—Translation
- H01J2237/20228—Mechanical X-Y scanning
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/204—Means for introducing and/or outputting objects
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/30—Electron or ion beam tubes for processing objects
- H01J2237/317—Processing objects on a microscale
- H01J2237/31701—Ion implantation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/30—Electron or ion beam tubes for processing objects
- H01J2237/317—Processing objects on a microscale
- H01J2237/31701—Ion implantation
- H01J2237/31705—Impurity or contaminant control
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.イオンビームを発生するように選択された物質をイオン化するイオン源と、 このイオン源に流体連結されている処理室を形成しているハウジングと、 このハウジングに連結されたロードロック室と、 前記加工物を前記ロードロック室から排出するために前記処理室内に取付けら れ、かつイオン源により発生したイオンビームによる注入中に、前記加工物を支 持するための単一の加工物ハンドリングアセンブリと、 を備えたことを特徴とする、加工物を処理するためのイオン注入装置。 2.加工物ハンドリングアセンブリは、注入中に加工物を移送方向に移送するた めの移送手段を含んでいることを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注 入装置。 3.イオン注入装置が長手軸線方向に沿って伸びており、かつイオン源により発 生したイオンビームは、前記長手軸線を横切る方向に向いていることを特徴とす る請求の範囲第2項に記載のイオン注入装置。 4.移送手段は、イオンビームにほぼ直交して配置され、イオンビームが通過す る加工物を移送方向に移動することを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオ ン注入装置。 5.イオン源により発生したイオンビームと長手軸線とのなす角が、85度より 大きいかまたはほぼ等しいことを特徴とする請求の範囲第3項に記載のイオン注 入装置。 6.イオン注入装置が長手軸線に沿って伸びており、かつイオン源により発生し たイオンビームと長手軸軸線とのなす角が、5度に等しいかまたはそれより大き いことを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 7.加工物ハンドリングアセンブリは、処理中に加工物を支持するプラテンと、 ロードロック室に対する前記プラテンの位置を移動する手段とを備えていること を特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 8.複数の加工物を蓄えるための加工物カセットを有する端部ステーションと、 前記カセットとロードロック室との間で加工物を移送するためのエンドエフェ クタとをさらに備えていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注 入装置。 9.加工物ハンドリングアセンブリの移動を自動的に制御するためのコントロー ラをさらに含むことを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 10.イオン源は、リボンビームを発生する手段を含んでいることを特徴とする請 求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 11.ロードロック室を選択された圧力下に置くために、前記ロードロック室に連 結された圧力手段をさらに含むことを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオ ン注入装置。 12.ロードロック室の少なくとも一部が選択された温度に置くために、前記ロー ドロック室に連結される温度制御手段をさらに含むことを特徴とする請求の範囲 第1項に記載のイオン注入装置。 13.低温デッキを形成するためにロードロック室の床を選択温度にする冷却構造 体をさらに含むことを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 14.加工物をロードロック室内に配置したときに加工物を引き寄せて前記ロード ロック室の床に接触させるために前記床に連結された真空手段を備えて、それに よって加工物から前記ロードロック室の床に熱伝達を行うようにしたことを特徴 とする請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 15.ロードロック室の床は、そこに形成される複数の真空開口を有し、加工物の 裏側の大部分を冷却表面と接触させるために、この開口は、前記真空手段と流体 連通していることを特徴とする請求の範囲第14項に記載のイオン注入装置。 16.ロードロック室の床を介して冷却流体が循環して冷却表面を形成するための 手段をさらに含むこと特徴とする請求の範囲第14項に記載のイオン注入装置。 17.真空手段は、加工物の裏側に圧力を加えるために冷却表面に形成された流体 ネットワークを含むことを特徴とする請求の範囲第14項に記載のイオン注入装 置。 18.上部表面と底部表面を有するロードロック積層要素をさらに含み、この積層 要素は、ロードロック室の積層配列を形成するように軸方向において相互配置さ れていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 19.前記ロードロック積層要素の各々は、一緒に積み重ねた時、ロードロック積 層要素の一方を隣接するロードロック積層要素に対して入れ子にするための入れ 子手段を含んでいることを特徴とする請求の範囲第18項に記載のイオン注入装 置。 20.入れ子手段は、さらに、積層されたときロードロックが入れ子状態となるよ うに、第1外形状を有する形作られた底部表面が、相補的な外形状を有する隣接 ロードロックの形作られた上部表面に対して入れ子状態となるように構成されて いることを特徴とする請求の範囲第19項に記載のイオン注入装置。 21.各ロードロックの底部表面は、最底部の第1底面、その外側の段部に第2底 面、さらにその外側の段部に第3底面を有していることを特徴とする請求の範囲 第20項に記載のイオン注入装置。 22.各ロードロックの上部表面は、最上部の第1面と、第1壁部分によって前記 第1上面から離れてへこんだ第2面と、さらにへこんだ第3面とを含むことを特 徴とする請求の範囲第20項に記載のイオン注入装置。 23.ロードロックの前側部分に設けた前側スロットに連結して作動する第1ゲー トバルブと、前記ロードロックの後側部分に前側開口に対向して形成された後側 スロットに連結し、かつ加工物の径路を通過できるように前記前側スロットに整 合して配置されている第2ゲートバルブとをさらに含んでいることを特徴とする 請求の範囲第1項に記載のイオン注入装置。 24.ロードロックの積層された列は、イン注入装置によって多数の加工物を容易 に処理するように形成されることを特徴とする請求の範囲第18項に記載のイオ ン注入装置。 25.水平な軸線に沿って延在して、加工物を処理するイオン注入装置であって、 イオンビームを発生するための選択された物質をイオン化するイオン源と、 このイオン源に流体連通する処理室を形成するハウジングと、 このハウジングに連結したロードロックと、 前記処理室内に取付けられ、前記イオン源によって発生したイオンビームに よってイオン注入される間、加工物を保持し、注入処理時に、水平軸線を横切る 方向への線形移動において、加工物を移送させるための加工物ハンドリングアセ ンブリと、 を備えていることを特徴とするイオン注入装置。 26.線形移動方向と水平軸線とのなす角は、約85゜に等しい角度またはそれよ り小さい角度を形成していることを特徴とする請求の範囲第25項に記載のイオ ン注入装置。 27.イオン源により発生したイオンビームが、約5゜より大きいかあるいは等し くなる角度を形成するように水平軸線を横切る方向に向いていることを特徴とす る請求の範囲第25項に記載のイオン注入装置 28.単一の加工物移送アセンブリは、加工物をロードロックと処理室との間を移 動させ、かつ処理中、加工物を保持することを特徴とする請求の範囲第25項に 記載のイオン注入装置。 29.加工物ハンドリングアセンブリは、処理中、加工物を支持するためのプラテ ンと、このプラテンの位置を移動するための手段とを含んでいることを特徴とす る請求の範囲第25項に記載のイオン注入装置。 30.さらに、複数の加工物を保管する加工物カセットを有する端部ステーション と、前記カセットとロードロックとの間で加工物を移送するためのエンドエフェ クタとを含んでいることを特徴とする請求の範囲第25項に記載のイオン注入装 置。 31.イオン源は、リボンビームを発生するための手段を含んでいることを特徴と する請求の範囲第25項に記載のイオン注入装置。 32.上表面と底表面を有する複数のロードロックをさらに含み、前記ロードロッ クの各々は、互いに軸方向に配置されてロードロックの積層された列を形成する ことを特徴とする請求の範囲第25項に記載のイオン注入装置。 33.各ロードロックは、一緒に積層されると、隣接のロードロックとともに入れ 子にするための手段を含んでいることを特徴とする請求の範囲第32項に記載の イオン注入装置。 34.ロードロックの積層された列は、イン注入装置によって多数の加工物を容易 に処理するように形成されていることを特徴とする請求の範囲第32項に記載の イオン注入装置。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US60198396A | 1996-02-16 | 1996-02-16 | |
| US08/601,983 | 1996-02-16 | ||
| US08/756,133 US5793050A (en) | 1996-02-16 | 1996-11-26 | Ion implantation system for implanting workpieces |
| US08/756,133 | 1996-11-26 | ||
| PCT/US1997/002411 WO1997030470A1 (en) | 1996-02-16 | 1997-02-14 | Ion implantation system for implanting workpieces |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000504876A true JP2000504876A (ja) | 2000-04-18 |
| JP2000504876A5 JP2000504876A5 (ja) | 2004-11-04 |
| JP4355968B2 JP4355968B2 (ja) | 2009-11-04 |
Family
ID=27084012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52953197A Expired - Fee Related JP4355968B2 (ja) | 1996-02-16 | 1997-02-14 | 加工物にイオン注入するためのイオン注入装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5793050A (ja) |
| EP (1) | EP0880797A1 (ja) |
| JP (1) | JP4355968B2 (ja) |
| KR (1) | KR100474875B1 (ja) |
| AU (1) | AU1960097A (ja) |
| WO (1) | WO1997030470A1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005174870A (ja) * | 2003-12-15 | 2005-06-30 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | イオン注入方法及びイオン注入装置 |
| JP2005174871A (ja) * | 2003-12-15 | 2005-06-30 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | イオン注入装置 |
| JP2006032930A (ja) * | 2004-06-14 | 2006-02-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | ドーピング装置 |
| JP2007527627A (ja) * | 2004-03-05 | 2007-09-27 | アクセリス テクノロジーズ インコーポレーテッド | イオンビーム注入装置用のワークピース移送システム |
| KR20180123522A (ko) * | 2016-03-08 | 2018-11-16 | 에바텍 아크티엔게젤샤프트 | 기판 탈가스용 챔버 |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3239779B2 (ja) * | 1996-10-29 | 2001-12-17 | 日新電機株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
| JP3286240B2 (ja) * | 1998-02-09 | 2002-05-27 | 日本エー・エス・エム株式会社 | 半導体処理用ロードロック装置及び方法 |
| KR100296651B1 (ko) * | 1998-07-09 | 2001-10-26 | 윤종용 | 반도체진공설비및이를이용하는방법 |
| US6161311A (en) | 1998-07-10 | 2000-12-19 | Asm America, Inc. | System and method for reducing particles in epitaxial reactors |
| AU6763000A (en) * | 1999-08-11 | 2001-03-05 | Multilevel Metals, Inc. | Load lock system for foups |
| US6726429B2 (en) * | 2002-02-19 | 2004-04-27 | Vertical Solutions, Inc. | Local store for a wafer processing station |
| US6878240B2 (en) * | 2002-06-28 | 2005-04-12 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for obtaining symmetrical junctions between a read sensor and hard bias layers |
| US20050110292A1 (en) * | 2002-11-26 | 2005-05-26 | Axcelis Technologies, Inc. | Ceramic end effector for micro circuit manufacturing |
| US20040100110A1 (en) * | 2002-11-26 | 2004-05-27 | Axcelis Technologies, Inc. | Ceramic end effector for micro circuit manufacturing |
| US7207766B2 (en) * | 2003-10-20 | 2007-04-24 | Applied Materials, Inc. | Load lock chamber for large area substrate processing system |
| US7497414B2 (en) * | 2004-06-14 | 2009-03-03 | Applied Materials, Inc. | Curved slit valve door with flexible coupling |
| US7575220B2 (en) * | 2004-06-14 | 2009-08-18 | Applied Materials, Inc. | Curved slit valve door |
| US20070006936A1 (en) * | 2005-07-07 | 2007-01-11 | Applied Materials, Inc. | Load lock chamber with substrate temperature regulation |
| US7845891B2 (en) | 2006-01-13 | 2010-12-07 | Applied Materials, Inc. | Decoupled chamber body |
| KR20070096669A (ko) * | 2006-03-27 | 2007-10-02 | 브룩스오토메이션아시아(주) | 로드락 챔버 |
| US7547897B2 (en) * | 2006-05-26 | 2009-06-16 | Cree, Inc. | High-temperature ion implantation apparatus and methods of fabricating semiconductor devices using high-temperature ion implantation |
| US7665951B2 (en) | 2006-06-02 | 2010-02-23 | Applied Materials, Inc. | Multiple slot load lock chamber and method of operation |
| US7845618B2 (en) | 2006-06-28 | 2010-12-07 | Applied Materials, Inc. | Valve door with ball coupling |
| US8124907B2 (en) | 2006-08-04 | 2012-02-28 | Applied Materials, Inc. | Load lock chamber with decoupled slit valve door seal compartment |
| US8450193B2 (en) * | 2006-08-15 | 2013-05-28 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Techniques for temperature-controlled ion implantation |
| US7935942B2 (en) * | 2006-08-15 | 2011-05-03 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Technique for low-temperature ion implantation |
| KR101817170B1 (ko) | 2010-05-28 | 2018-01-10 | 액셀리스 테크놀러지스, 인크. | 냉각식 이온 주입 시스템의 가열식 로터리 시일 및 베어링 |
| US8481969B2 (en) | 2010-06-04 | 2013-07-09 | Axcelis Technologies, Inc. | Effective algorithm for warming a twist axis for cold ion implantations |
| US9711324B2 (en) * | 2012-05-31 | 2017-07-18 | Axcelis Technologies, Inc. | Inert atmospheric pressure pre-chill and post-heat |
| US9925604B1 (en) * | 2016-12-07 | 2018-03-27 | Design Ready Controls, Inc. | Automated DIN rail shear system |
Family Cites Families (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3954191A (en) * | 1974-11-18 | 1976-05-04 | Extrion Corporation | Isolation lock for workpieces |
| US4013262A (en) * | 1974-12-13 | 1977-03-22 | Varian Associates | Rotary apparatus for moving workpieces through treatment beam with controlled angle of orientation and ion implanter incorporating such apparatus |
| US4000426A (en) * | 1975-05-15 | 1976-12-28 | Aita Konstantinovna Zaitseva | Apparatus for feeding parts in ion-beam machining |
| US4234797A (en) * | 1979-05-23 | 1980-11-18 | Nova Associates, Inc. | Treating workpieces with beams |
| US4228358A (en) * | 1979-05-23 | 1980-10-14 | Nova Associates, Inc. | Wafer loading apparatus for beam treatment |
| US4229655A (en) * | 1979-05-23 | 1980-10-21 | Nova Associates, Inc. | Vacuum chamber for treating workpieces with beams |
| US4346301A (en) * | 1979-07-30 | 1982-08-24 | Hughes Aircraft Company | Ion implantation system |
| US4258266A (en) * | 1979-07-30 | 1981-03-24 | Hughes Aircraft Company | Ion implantation system |
| US4433951A (en) * | 1981-02-13 | 1984-02-28 | Lam Research Corporation | Modular loadlock |
| US4550239A (en) * | 1981-10-05 | 1985-10-29 | Tokyo Denshi Kagaku Kabushiki Kaisha | Automatic plasma processing device and heat treatment device |
| US4517465A (en) * | 1983-03-29 | 1985-05-14 | Veeco/Ai, Inc. | Ion implantation control system |
| US4568234A (en) * | 1983-05-23 | 1986-02-04 | Asq Boats, Inc. | Wafer transfer apparatus |
| US4553069A (en) * | 1984-01-05 | 1985-11-12 | General Ionex Corporation | Wafer holding apparatus for ion implantation |
| US4705951A (en) * | 1986-04-17 | 1987-11-10 | Varian Associates, Inc. | Wafer processing system |
| US4836733A (en) * | 1986-04-28 | 1989-06-06 | Varian Associates, Inc. | Wafer transfer system |
| US4917556A (en) * | 1986-04-28 | 1990-04-17 | Varian Associates, Inc. | Modular wafer transport and processing system |
| US4745287A (en) * | 1986-10-23 | 1988-05-17 | Ionex/Hei | Ion implantation with variable implant angle |
| US4911103A (en) * | 1987-07-17 | 1990-03-27 | Texas Instruments Incorporated | Processing apparatus and method |
| US4899059A (en) * | 1988-05-18 | 1990-02-06 | Varian Associates, Inc. | Disk scanning apparatus for batch ion implanters |
| GB8906265D0 (en) * | 1989-03-18 | 1989-05-04 | Eigroup Limited | Pre-cooled dry cooling apparatus |
| US5003183A (en) * | 1989-05-15 | 1991-03-26 | Nissin Electric Company, Limited | Ion implantation apparatus and method of controlling the same |
| FR2662024B1 (fr) * | 1990-05-10 | 1992-10-23 | Spiral Rech & Dev | Installation pour l'etude ou la transformation de la surface d'echantillons places dans le vide ou dans une atmosphere controlee. |
| JP2751975B2 (ja) * | 1991-12-20 | 1998-05-18 | 株式会社日立製作所 | 半導体処理装置のロードロック室 |
| US5229615A (en) * | 1992-03-05 | 1993-07-20 | Eaton Corporation | End station for a parallel beam ion implanter |
| US5404894A (en) * | 1992-05-20 | 1995-04-11 | Tokyo Electron Kabushiki Kaisha | Conveyor apparatus |
| US5308989A (en) * | 1992-12-22 | 1994-05-03 | Eaton Corporation | Fluid flow control method and apparatus for an ion implanter |
| US5486080A (en) * | 1994-06-30 | 1996-01-23 | Diamond Semiconductor Group, Inc. | High speed movement of workpieces in vacuum processing |
| US5751003A (en) * | 1996-02-16 | 1998-05-12 | Eaton Corporation | Loadlock assembly for an ion implantation system |
-
1996
- 1996-11-26 US US08/756,133 patent/US5793050A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-02-14 EP EP97907646A patent/EP0880797A1/en not_active Ceased
- 1997-02-14 WO PCT/US1997/002411 patent/WO1997030470A1/en not_active Ceased
- 1997-02-14 AU AU19600/97A patent/AU1960097A/en not_active Abandoned
- 1997-02-14 JP JP52953197A patent/JP4355968B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-02-14 KR KR10-1998-0706327A patent/KR100474875B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-23 US US09/066,180 patent/US6025602A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005174870A (ja) * | 2003-12-15 | 2005-06-30 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | イオン注入方法及びイオン注入装置 |
| JP2005174871A (ja) * | 2003-12-15 | 2005-06-30 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | イオン注入装置 |
| JP2007527627A (ja) * | 2004-03-05 | 2007-09-27 | アクセリス テクノロジーズ インコーポレーテッド | イオンビーム注入装置用のワークピース移送システム |
| JP2006032930A (ja) * | 2004-06-14 | 2006-02-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | ドーピング装置 |
| KR20180123522A (ko) * | 2016-03-08 | 2018-11-16 | 에바텍 아크티엔게젤샤프트 | 기판 탈가스용 챔버 |
| JP2019515484A (ja) * | 2016-03-08 | 2019-06-06 | エヴァテック・アーゲー | 基板を脱ガスするためのチャンバ |
| KR102345172B1 (ko) | 2016-03-08 | 2021-12-31 | 에바텍 아크티엔게젤샤프트 | 기판 탈가스용 챔버 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6025602A (en) | 2000-02-15 |
| KR100474875B1 (ko) | 2005-07-07 |
| EP0880797A1 (en) | 1998-12-02 |
| WO1997030470A1 (en) | 1997-08-21 |
| US5793050A (en) | 1998-08-11 |
| JP4355968B2 (ja) | 2009-11-04 |
| AU1960097A (en) | 1997-09-02 |
| KR19990082589A (ko) | 1999-11-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2000504876A (ja) | 加工物にイオン注入するためのイオン注入装置 | |
| JP2001518226A (ja) | イオン注入装置のためのロードロックアセンブリ | |
| TWI285392B (en) | Substrate processing apparatus with independently configurable integral load locks | |
| US6949143B1 (en) | Dual substrate loadlock process equipment | |
| JP5048198B2 (ja) | デュアル脱気/冷却装填ロッククラスタツール | |
| US6382895B1 (en) | Substrate processing apparatus | |
| KR101522324B1 (ko) | 로드 락 빠른 펌프 벤트 | |
| WO1997030465A9 (en) | Loadlock assembly for an ion implantation system | |
| US4851101A (en) | Sputter module for modular wafer processing machine | |
| JP2006216983A (ja) | 垂直にスタックされた処理チャンバーおよび単一軸二重ウエハー搬送システムを備えた半導体ウエハー処理システム | |
| US20020005168A1 (en) | Dual wafer load lock | |
| JP2001500660A (ja) | イオン注入機用のイオンビームシールド | |
| US20240290645A1 (en) | Apparatus for transporting substrate, system for processing substrate, and method of transporting substrate | |
| EP0244950B1 (en) | Method and apparatus for handling and processing wafer-like materials | |
| KR19980024442A (ko) | 피처리체의 반송을 위한 중계장치 | |
| TW578215B (en) | Method to produce components or its inter-products, vacuum-processing equipment and ultra-high-vacuum CVD-reactor | |
| JP2003209152A (ja) | ワークピース処理チャンバ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031212 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20031212 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070206 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070125 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20070507 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20070625 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070803 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090106 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090406 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090525 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090427 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090623 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090722 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120814 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130814 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |