JP2000517151A - 低電圧開閉器用電子引外し装置の監視回路装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 本発明は、Ｄ−Ａ変換器に接続され、電源引外し接点が保護しべき電源線を系統電源から分離するように過電流を判定するマイクロプロセッサ装置を備えた低電圧開閉器用電子引外し装置の監視回路装置に関する。マイクロプロセッサ装置（ＭＰＥ）はゼロ点通過比較器（ＮＤＫ）を備え、このゼロ点通過比較器（ＮＤＫ）により、電流ゼロ点通過時に試験用定電流パルス（ＫＳＩ）が変流器補助巻線（ＳＷＺ）を介して電子引外し装置（ＥＡＥ）に振幅測定のために送出される設定値からずれている場合、相応する警報信号（ＡＬＭ）の送出によって（新たな）調整が行われたり、電源引外し接点（ＮＡＫ）が操作される。

Description

【発明の詳細な説明】 低電圧開閉器用電子引外し装置の監視回路装置 本発明は、Ｄ−Ａ変換器に接続され、電源引外し接点が保護すべき電源線を系 統電源から分離するように過電流を判定するマイクロプロセッサ装置を備えた低 電圧開閉器用電子引外し装置の監視回路装置に関する。 この種の回路装置はドイツ国特許第３１５３１６９号明細書により公知である この回路装置を用いても、変流器や電子引外し装置、そのリード線などの劣化は 検出されない。そのような場合、遮断器が短絡状態または過負荷状態でもはや時 間的に正しく遮断動作をしなければ、電気設備に大きな物的損害が発生し、さら にそれは人命にさえも危害を及ぼしかねない。電子引外し装置においては前もっ て試験室で調整が行われる。変流器の点検を組み込まれた状態で行うのはきわめ て困難である。 本発明の課題は、開閉手段を有する電子引外し装置、従ってリード線を含む変 流器を、さらにはその機能性をも、特に作動状態においても監視しうるようにす ることにある。 この課題は本発明により以下の特徴を有する回路装置によって達成される。 １．１ 電子引外し装置のマイクロプロセッサ装置がゼロ点通過比較器を備え、 １．２ ゼロ点通過比較器は電源交流電流のゼロ点通過時にリリース信号を発生 し、 １．３ リリース信号は開閉可能な定電流源に、定電流パルスが変流器補助巻線 を介して電子引外し装置に判定可能な試験電流を誘導するように関係付けられ、 １．４ マイクロプロセッサ装置は振幅測定のために試験電流を変換するＡ−Ｄ 変換器を備え、 １．５ マイクロプロセッサ装置は試験電流に許容しうる偏差を生じたときには 電子引外し装置の（新たな）調整を行い、 １．６ マイクロプロセッサ装置は試験電流に許容し得ない偏差を生じたときに は電源引外し接点を操作するための警報信号を発生する。 マイクロプロセッサ装置内にゼロ点通過比較器を設けることによって、作動中 の電源交流電流のゼロ点通過時に、いわゆるリリース信号が開閉可能な定電流源 に伝送され、定電流パルスにより変流器補助巻線を介して試験電流が電子引外し 装置に誘導される。変流器の電流値に依存するこの試験電流はマイクロプロセッ サ装置内でその振幅を測定され、予め定められた設定値と比較される。変流器の 正常状態を表す設定値から比較的わずかな偏差しかない場合は、場合によっては 電子引外し装置の（新たな）調整が行われる。設定値が許容し得ない程上回られ たら、マイクロプロセッサ装置は監視対象の電源線を系統電源から分離するため に電源引外し接点の操作を行わせ、同時にコントロールセンタへ警報信号を発す る。 本発明の好ましい実施態様によれば、 ２．１ 変流器補助巻線が変流器二次巻線に電気的に結合される。 こうすることによって、定電流パルスを電子引外し装置の種々異なった電気状態 に容易に適合させることができる。 本発明の他の好ましい実施態様によれば、 ３．１ 定電流パルス（ＫＳＩ）が５０Ｈｚの系統周波数の際には０．１ｍｓの 継続時間範囲内に選定される。 こうすることによって、擾乱的な電圧ピークに基づいて間違って誤判定が行われ ることがないようにされる。 本発明のさらに他の好ましい実施態様によれば、 ４．１ 電子引外し装置の監視が位相順に順次行われ、 ４．２ 電子引外し装置の監視が１０秒以内の時間間隔で行われる。 こうすることによって、変流器の機能性が常に監視され、障害の場合、低電圧開 閉器が時間的に正しく遮断することが保証される。 本発明のさらに他の好ましい実施態様によれば、 ５．１ 電源引外し接点の駆動のために試験電流が他の電子引外し装置に直接導 入される。 こうすることによって、試験電流は、通常の変流器が用いられている場合、変流 器を直接的に点検することもなく、監視すべき電源線を系統電源から分離するよ うに作用する。 次に、図面に示す実施形態を参照して本発明をさらに詳細に説明する。ここに は本発明の理解のために必要な回路装置が単に部分的に要約的にしか示されてい ない。 この実施形態には監視すべき電源線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３が示されている。これら の電源線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３は過電流障害の発生時に電源引外し接点ＮＡＫによっ て本来の系統電源から分離される。電源引外し接点ＮＡＫの操作は引外し電磁石 ＡＬＭによって行われる。この引外し電磁石ＡＬＭは障害発生時にマイクロプロ セッサ装置ＭＰＥによって駆動される。マイクロプロセッサ装置ＭＰＥは、交流 電流のゼロ点通過時にリリース信号ＦＧＳを発生するゼロ点通過比較器ＮＤＫを 備えている。このリリース信号ＦＧＳは、所定の大きさの定電流パルスＫＳＩが 変流器補助巻線ＳＷＺおよび変流器二次巻線ＳＷＧを介して電子引外し装置ＥＡ Ｅに試験電流ＰＳＴを発生するように、定電流源ＫＳＱに導入される。試験電流 ＰＳＴは点検対象の変流器の電気特性を表す。このようにして生成された試験電 流ＰＳＴは変流器の正常データを表す設定値と比較され、許容偏差がわずかな場 合は電子引外し装置の（新たな）調整が行われる。試験電流と設定値との偏差が もはや許容し得ない大きさを超えた場合、引外し電磁石ＡＬＭがマイクロプロセ ッサ装置ＭＰＥによって駆動され、電源引外し接点ＮＡＫによって監視すべき電 源線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３が系統電源から分離される。それと同時にマイクロプロセ ッサ装置ＭＰＥからはその障害状態の光学的及び／又は音響的な標識として警報 信号ＡＬＳが例えばコントロールセンタへ送出される。 定電流パルスＫＳＩは図示されていないやり方で通常の変流器に直接導入され 監視すべき電源線を本来の系統電源から分離するようにさせることもできる。し かし、その場合、変流器自体は監視されない。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １． Ｄ−Ａ変換器に接続され、電源引外し接点が保護すべき電源線を系統電 源から分離するように過電流を判定するマイクロプロセッサ装置を備えた低電圧 開閉器用電子引外し装置の監視回路装置において、 １．１ 電子引外し装置（ＥＡＥ）のマイクロプロセッサ装置（ＭＰＥ）がゼロ 点通過比較器（ＮＤＫ）を備え、 １．２ ゼロ点通過比較器（ＮＤＫ）は電源交流電流のゼロ点通過時にリリース 信号（ＦＧＳ）を発生し、 １．３ リリース信号（ＦＧＳ）は開閉可能な定電流源（ＫＳＱ）に、定電流パ ルス（ＫＳＩ）が変流器補助巻線（ＳＷＺ）を介して電子引外し装置（ＥＡＥ） に判定可能な試験電流（ＰＳＴ）を誘導するように関係付けられ、 １．４ マイクロプロセッサ装置（ＭＰＥ）は振幅測定のために試験電流（ＰＳ Ｔ）を変換するＡ−Ｄ変換器（ＡＤＷ）を備え、 １．５ マイクロプロセッサ装置（ＭＰＥ）は試験電流（ＰＳＴ）に許容しうる 偏差を生じたときには電子引外し装置（ＥＡＥ）の（新たな）調整を行い、 １．６ マイクロプロセッサ装置（ＭＰＥ）は試験電流（ＰＳＴ）に許容し得な い偏差を生じたときには電源引外し接点（ＮＡＫ）を操作するための警報信号（ ＡＬＭ）を発生する ことを特徴とする低電圧開閉器用電子引外し装置の監視回路装置。 ２． 請求項１記載の回路装置において、 ２．１ 変流器補助巻線（ＳＷＺ）が変流器二次巻線（ＳＷＧ）に電気的に結合 されている ことを特徴とする回路装置。 ３． 請求項１または２に記載の回路装置において、 ３．１ 定電流パルス（ＫＳＩ）は５０Ｈｚの系統周波数の際には０．１ｍｓの 継続時間範囲内に選定されている ことを特徴とする回路装置。 ４． 請求項１ないし３の１つに記載の回路装置において、 ４．１ 電子引外し装置（ＥＡＥ）の監視が位相順に順次行われ、 ４．２ 電子引外し装置（ＥＡＥ）の監視が１０秒以内の時間間隔で行われる ことを特徴とする回路装置。 ５． 請求項１ないし４の１つに記載の回路装置において、 ５．１ 電源引外し接点（ＮＡＫ）の駆動のために試験電流（ＰＳＴ）が他の電 子引外し装置（ＥＡＥ）に直接導入される ことを特徴とする回路装置。