JP2001184792A - 光ディスク記録再生装置、光ディスク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 格別な時間を必要とすることなく、記録信号
の波形補正を行う。 【解決手段】 一時記憶メモリ２８におけるデータの書
き込み又は読み出しの際に生ずるピックアップ２４の空
時間を利用して、前記データの記録信号波形が波形補正
回路６０で補正される。まず、ピックアップ２４を光デ
ィスク２２のテスト記録領域へ移動し、切り換え回路６
２でテストパターン発生回路６４に切り換えて、テスト
パターン信号を光ディスク２２に記録する。そして、記
録したテスト信号を再生してそのジッタを測定し、測定
値が減少するように、波形補正回路６０における波形補
正の方法を変更する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、データの一時記憶
手段を備えた光ディスク記録再生装置、この光ディスク
記録再生装置で記録再生可能な多層構造の光ディスクに
関し、特にこの光ディスクにデータを記録する際に好適
な記録波形の補正に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスク装置、例えばＭＤで
は、再生時において、約１０秒の再生時間に相当する４
ＭＢ（ビット）のショックプルーフメモリにデータが一
時記憶され、このショックプルーフメモリから信号が再
生されている間にピックアップがトラックをキックして
おり、これによって次に再生するセクタに対する回転待
ちが行われている。また、記録時においては、記録信号
をショックプルーフメモリに圧縮して一時記憶し、この
メモリから間欠的に信号を読み出して光ディスクに記録
し、余りの時間はピックアップがトラックをキックして
おり、これによって次に記録するセクタに対する回転待
ちが行われている。また、ＤＶＤプレ一ヤは、同様に１
６ＭＢのメモリを備えており、可変転送レ一トで転送速
度も速い。このメモリは、２秒程度の記憶時間を持って
おり、同様にピックアップがトラックをキックして回転
待ちを行っている。

【０００３】なお、現在では、４ＭＢのＤＲＡＭは入手
困難の状況にあり、１６Ｍビットあるいは、それ以上の
ＤＲＡＭを使用するのが一般的となってきている。この
ため、２秒あるいはそれ以上の時間の一時記憶が可能と
なりつつある。

【０００４】ところで、レーザ光を利用して高密度の情
報の再生や記録を行う技術は公知であり、主に光ディス
ク装置として実用化されている。光ディスクは、再生専
用型、追記型、書換型に大別することができる。再生専
用型は音楽情報を記録したＣＤや画像情報を記録したＶ
ＣＤやＤＶＤとして、また追記型はＣＤ‐ＲやＤＶＤ‐
Ｒとして、それぞれ商品化されている。また、書換型と
して、ＣＤ−ＲＷやＤＶＤ‐ＲＡＭ，ＤＶＤ‐ＲＷなど
が映像や音声の記録用，あるいはパソコン用のデータ記
録用として商品化されつつある。

【０００５】これらのうち、書換型は、レーザ光などの
照射条件を変えることによって、２つ以上の状態が可逆
的に変化する記録層を用いるものであり、主なものとし
て光磁気型と相変化型がある。相変化光ディスクは、レ
ーザ光の照射条件を変化させることによって、記録層を
アモルファスと結晶間で可逆的に状態変化させて信号を
記録し、アモルファスと結晶のレーザ光反射率の違いを
光学的に検出して再生を行うものである。このようなレ
ーザ光の反射率変化として信号の再生が可能である点は
再生専用型や追記型と同様であり、またレーザパワーを
消去レベルと記録レベルの間で変調することによって追
記（オーバーライト）が１ビームでできるため、装置構
成を簡略化できるといったメリットがある。

【０００６】このような書換可能な光ディスクにおける
信号記録の高密度化の手法としては、記録マークの前後
のエッジ位置がデジタル信号の「１」に対応するパルス
幅変調方式（ＰＷＭ）が検討されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ＰＷＭ方式
では、記録マークの幅が情報を持つため、記録マークを
歪のないように、すなわち前後対称に記録層に記録する
必要がある。しかし、信号を記録する際の光ディスクの
レーザ照射部分は、蓄熱効果によって照射の開始点より
終点の方が高温になる。このため、記録マークは、先端
より終端の方が幅が広くなり、記録マーク形状が先端部
で細く終端部で太くなって涙滴状に歪むという不都合が
ある。

【０００８】このような記録マークが涙滴状に歪む原因
を、以下、図面を参照して更に説明する。図１５（Ａ）
は、記録すべき入力信号波形である。これを、同図
（Ｂ）のようにそのまま直接レーザ光出力とし、消去パ
ワーレベルＰｅと記録パワーレベルＰｗの間で変調する
ことで信号を記録すると、記録層の到達温度は同図
（Ｃ）のようになる。すなわち、蓄熱効果によって記録
マークの先端部分よりも終端部分の方が温度が高くな
り、結果として記録マークの形状は、同図（Ｄ）のよう
に先端よりも終端の方が広くなって涙滴状に歪む。蓄熱
効果は、光ディスクとレーザスポットの相対速度（線速
度）が遅いほど大きくなるため、涙樹状歪も線速度が遅
いほど大きくなる。この歪は再生波形の歪を引き起こす
ため、記録信号を正しく読み出すことができない可能性
がある。

【０００９】このような記録マークの歪を低減する方法
として、特開平３‐１８５６２８号公報には、一つの記
録マークを複数の短パルス列の照射によって形成するオ
ーバ一ライト方法が開示されている。また、特開平６‐
１２６７４号公報には、前記パルス波形の補正方法が開
示されている。図１６を参照して説明すると、同図
（Ａ）のような入力信号を、短パルス列に変換した後、
同図（Ｂ）のようにレーザ出力を消去パワーレベルＰｅ
と記録パワーレベルＰｗの間で変調することで信号をオ
ーバーライトする。ここで、短パルス列は、幅の広い先
頭パルスとこれより幅が狭い後続パルス列からなる。先
頭パルスの幅は、記録マークの長さにかかわらず常に一
定である。更に、後続パルス列中の各パルスの幅と間隔
はそれぞれ等しく、かつ長さがｎ番目の記録マークを形
成する場合の前記後続パルス中のパルス数は、ｎ‐１個
となっている。

【００１０】例えばＣＤで採用されている８−１４変調
信号（ＥＦＭ信号）は、３Ｔ（Ｔはクロック周期）から
１１Ｔまでの９種類の長さのパルスで構成されている。
このＥＦＭ信号を記録する場合には、最も短い３Ｔのパ
ルスは先頭パルスのみ、次の４Ｔのパルスは先頭パルス
と１つの後続パルス、５Ｔのパルスは先頭パルスと２つ
の後続パルス、という具合に変換する。最も長い１１Ｔ
のパルスは、先頭パルスと８つの後続パルスに変換す
る。このような規則性をもって変換することにより、信
号変換回路を簡単な構成にすることができる。この場
合、記録層の到達温度は、同図（Ｃ）のように、先端で
は幅の広い先頭パルスにより急激に昇温するが、その後
はパルス列が照射されるために終端部分の昇温か抑えら
れる。その結果、記録マークの形状は同図（Ｄ）のよう
に先端と終端の対称性が向上し、涙滴状歪が低減され
る。

【００１１】しかし、前記短パルス化による手法は、線
速度が遅くてかつ記録周波数が低い場合には非常に有効
であるが、ＤＶＤ‐ＲＡＭやＤＶＤ‐ＲＷなどの高密度
記録の場合、線速度が速い場合、記録信号の周波数が高
い場合などにおいては、必ずしも有効とはいえない。記
録信号波形を短パルス化すると、記録層に与えられるエ
ネルギーが小さくなるため、大きな記録パワーが必要に
なる。これは、低線速度のときには問題にならないが、
線速度が速くなって更に大きな記録パワーが必要になる
と、高出力のレーザ光源を必要とし、記録装置のコスト
が高くなってしまう。また、入力信号を短パルス化する
ためには、入力信号のパルス周期（上記ＥＦＭ信号の場
合にはＴ）の整数分の１の周期を持つクロック信号が必
要であり、記録信号の周波数が高い場合にはクロック信
号の周波数が高くなりすぎて回路設計が困難になる。レ
ーザ出力も高周波で変調するほど波形の歪が大きくなっ
てしまう。

【００１２】光ディスクの一般的な使用方法を考えた場
合、光ディスクを一定の回転数で回転させる場合（以下
ＣＡＶ）には、光ディスク内周より外周の方が線速度が
速くなる。記録マ一ク長を内周と外周で同じにして記録
密度を上げるために、外周ほど記録周波数を上げる方法
も提案されている。また、光ディスクを全ての領域にお
いて一定の線速度で回転させる場合（以下ＣＬＶ）で
も、同じ記録装置で異なる種類の光ディスクに信号を記
録する場合には、光ディスクの種類によって線速度や記
録周波数を変える必要がある。

【００１３】加えて、より記録密度の高い光ディスクに
おいては、光ディスク個々のばらつきや光ディスクの記
録回数、あるいは周囲温度などの環境条件によって最適
な記録条件が異なることにより、再生品質が悪化すると
いう可能性がある。また、光ディスク個々に最適な記録
条件を決定するためには、テスト記録を行うとともにそ
の信号を再生して信号品質を測定し、最適値を探さなけ
ればならない。しかし、このような測定を記録時に行う
ことは時間がかかりすぎ、本来の記録すべき信号を最初
から記録できないなどの不都合がある。特に、記録層が
光ディスクの厚さ方向に積層されている多層光ディスク
では、このような測定を記録時に行うことは時間がさら
に一段とかかりすぎ、本来の記録すべき信号を最初から
指定された記録層に記録できないなどの不都合がある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、本発明は、下記（１）〜（１５）の構成になる
光ディスク記録再生装置、光ディスクを提供する。 （１） 光学的に可逆的に相変化する記録層を少なくと
も１層有する多層光ディスクの前記記録層上に、記録す
べき入力データをパルス幅変調した記録データで光変調
して得た記録レーザ光を照射してマークを形成し、前記
マーク上に再生レーザ光を照射して前記記録データを再
生する光ピックアップ手段と、前記入力データを第１の
記憶量に達するまで書き込み、かつ書き込まれた前記入
力データを前記第１の記憶量より低い第２の記憶量に達
するまで書込み速度とは異なる読出し速度で読み出し
て、前記光ピックアップ手段に供給する一時記憶手段
と、前記多層光ディスクの各層上にそれぞれ、記録レー
ザ光又は再生レーザ光を合焦して照射するように、前記
光ピックアップ手段をフォーカスジャンプ制御する光ピ
ックアップ制御手段と、前記一時記憶手段へ前記入力デ
ータが書き込まれている期間中でかつ前記光ピックアッ
プ手段が記録、再生、シークの各動作を行っていない空
き時間内に、前記記録層に対して記録テストを行い、こ
のテスト結果に基づいて前記記録データのパルス波形を
補正する波形補正値を装置側及び／又は前記多層光ディ
スク側に記憶する波形補正手段とを備え、記録時には、
前記波形補正値を用いて前記記録データの波形補正を行
うことを特徴とする光ディスク記録再生装置。 （２） 光学的に可逆的に相変化する記録層を少なくと
も１層有する多層光ディスクの前記記録層上に、記録す
べき入力データをパルス幅変調した記録データで光変調
して得た記録レーザ光を照射してマークを形成し、前記
マーク上に再生レーザ光を照射して前記記録データを再
生する光ピックアップ手段と、前記入力データを第１の
記憶量に達するまで書き込み、かつ書き込まれた前記入
力データを前記第１の記憶量より低い第２の記憶量に達
するまで書込み速度とは異なる読出し速度で読み出し
て、前記光ピックアップ手段に供給する一時記憶手段
と、前記多層光ディスクの各層上にそれぞれ、記録レー
ザ光又は再生レーザ光を合焦して照射するように、前記
光ピックアップ手段をフォーカスジャンプ制御する光ピ
ックアップ制御手段と、前記一時記憶手段から前記入力
データが読み出されている期間中でかつ前記光ピックア
ップ手段が記録、再生、シークの各動作を行っていない
空き時間内に、前記記録層に対して記録テストを行い、
このテスト結果に基づいて前記記録データのパルス波形
を補正する波形補正値を装置側及び／又は前記多層光デ
ィスク側に記憶する波形補正手段とを備え、記録時に
は、前記波形補正値を用いて前記記録データの波形補正
を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装置。 （３） 前記多層光ディスクから読み出したディスク固
有識別情報を、前記波形補正値と共に記録することを特
徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディスク記録
再生装置。 （４） 前記ディスク固有識別情報及び前記波形補正値
を再生することを特徴とする請求項３に記載の光ディス
ク記録再生装置。 （５） 前記記録テストの際に用いられるテスト信号
は、このテスト信号を記録再生した場合にジッタが悪化
する傾向を示す特定の信号列の所定数の繰り返し信号か
らなることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれ
かに記載の光ディスク記録再生装置。 （６） 前記テスト信号の特定の信号列の繰り返しは、
少なくとも記録波長の内最短波長を含むことを特徴とす
る請求項５記載の光ディスク記録再生装置。 （７） 前記波形補正値の品質を評価する手段は、前記
波形補正値を再生した信号のジッタ値を測定する測定手
段と、前記測定手段で測定したジッタ値が所定値以内か
どうかを判断する判断手段と、前記判断手段で判断した
判断結果が前記所定値内の場合には、その記録パラメー
タを前記テスト信号の記録時に用いるように、前記テス
ト信号を格納する記録パラメータ設定手段と、前記判断
手段で判断した判断結果が前記所定値外の場合には、記
録のパラメータを変更して、前記テスト信号の品質評価
を再度行う品質再評価手段とからなることを特徴とする
請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の光ディスク記
録再生装置。 （８） 前記品質再評価手段で行った品質再評価の回数
を計数する係数手段と、前記係数手段の計数値が規定の
所定値を越えた場合には、前記テスト信号の書き込みを
禁止する禁止手段とを更に備えたことを特徴とする請求
項７記載の光ディスク記録再生装置。 （９） 最適な前記波形補正値を得たときの装置側の基
準温度を測定する温度測定手段と、前記温度測定手段で
測定した前記基準温度からの温度変化に応じて、前記波
形補正値を変更する温度変更手段を更に備えたことを特
徴とする請求項１乃至請求項８のいずれかに記載の光デ
ィスク記録再生装置。 （１０） 前記記録データをオーバーライトした記録回
数を管理する記録回数管理手段と、前記記録回数管理手
段で計数した記録回数に応じて、前記波形補正値を変更
する回数変更手段を更に備えたことを特徴とする請求項
１乃至請求項９のいずれかに記載の光ディスク記録再生
装置。 （１１） 前記記録テストを行う記録層は、現在記録又
は再生を行っている層とは異なる層であることを特徴と
する請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載の光ディ
スク記録再生装置。 （１２） 前記記録テストを行う記録層の記録領域は、
現在記録又は再生を行っている領域に最も近い空き領域
であることを特徴とする請求項１乃至請求項１０のいず
れかに記載の光ディスク記録再生装置。 （１３） 前記記録テストを行う記録層の記録領域は、
現在記録又は再生を行っている領域に最も近くかつ現在
記録又は再生を行っている層とは異なる層の空き領域で
あることを特徴とする請求項１乃至請求項１０のいずれ
かに記載の光ディスク記録再生装置。 （１４） 請求項１乃至請求項１３のいずれかに記載の
光ディスク記録再生装置で記録再生可能であり、光学的
に可逆的に相変化する記録層を少なくとも１層有する多
層光ディスクであって、前記記録層に対して行った記録
テストの結果に基づいて、前記記録データのパルス波形
を補正する波形補正値を記録するテスト記録領域を備え
たことを特徴とする光ディスク。 （１５） 前記テスト記録領域は、リードイン領域内に
設けられ、全ての前記記録層の前記波形補正値を記録す
ることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスク。

【００１５】具体的には、ＴＢ（トラックバッファー）
を備え、かつ多層構造、例えば２層構造の光ディスクを
装填してある光ディスク記録再生装置において、所定の
記録層を再生または記録している最中に、その他の記録
層についても、ＴＢに記録中に、或いは再生中の貯まっ
ている間にテストを行い記録の際の最適値を求める。ま
た、この値を光ディスクまたは装置に記録し、再立ち上
げ時は、この値を見てテストすべきかを検出し、このデ
ータがある場合には、この値に基づいて記録を行う。ま
た、２度目以降は光ディスクまたは装置の補正値を参照
することによって、テスト記録を省略できる。また、記
録再生以外の空き時間を利用してこのテストを行うので
ある。さらに、光ディスクとレーザスポットの相対速度
の変化に応じて、前記波形補正の方法を変えるものであ
る。またさらに、光ディスクまたはこの装置の周囲温度
等の測定センサー測定結果の変化に応じて、前記波形補
正の方法を変えるものである。さらに、テスト記録領域
は現在記録または再生している領域の最も近い空き領域
であり、移動等の多くの時間を要しないものである。本
発明によれば、光ディスク個々のばらつきや温度変化
等、光ディスク上の線速度の異なる領域に、あるいは異
なった回転速度で使用する異種の光ディスク上に、現実
的な装置構成によりパルス幅変調されたデジタル信号を
常に記録マークの歪が小さく記録することができるよう
になり、再生波形歪も低減し、高密度記録が可能にな
り、かつ、ユーザーにとっては多層構造の光ディスクを
用いても何の調整時間も必要とせず、違和感を与えない
で、速やかに記録等を行うことができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。下記の説明における光ディスクは記
録レーザ光の照射によって光学的に可逆的に相変化する
記録層を少なくとも１層有する多層光ディスクの一例と
して、記録層が２層構造の光ディスクについて説明す
る。本形態では、光ディスクの種類や線速度の変化に応
じて、記録レーザ波形が最適形状に補正される。例え
ば、入力信号（例えばＥＦＭ信号）が図１（Ａ）のよう
な場合、線速度が予め設定された値より遅い場合には、
レーザ変調波形は同図(Ｂ）のように短パルス列化され
た記録波形ＷＡとする。線速度が設定値よりも速い場合
には、レーザ変調波形は同図（Ｃ）のように入力パルス
幅を少し短くした記録波形ＷＢに変換する。

【００１７】次に、具体例について説明する。最初に、
１枚の相変化光ディスク上に、線速度と記録波形を種々
変えながら記録及び再生を行って、線速度と再生波形歪
の関係を求める。実験に用いた光ディスクの構造は、図
２に示すように、基板１上に、誘電体膜２、記録層３、
誘電体膜４、半透過膜５、誘電体膜６、記録層７、誘電
体膜８、反射膜９が順次積層されている。記録及び再生
用レーザ光は基板１側から入射する。基板１は、ポリカ
ーボネイト製で信号記録用トラックを設けた直径２００
ｍｍの円盤である。記録層３，７は、 ＧｅＳｂＴｅ の
３元素からなり、その膜厚は２０ｎｍである。記録層
３，７の上下の誘電体膜２，４，６，８はＺｎＳであ
り、基板側の誘電体膜２，６が１５０ｎｍ，反対側の誘
電体膜４，８が１５ｎｍである。反射膜９としては、Ａ
ｕを５０ｎｍ設けている。半透過膜５は基板１側から入
射する記録及び再生用レーザ光が記録層７に到達し、こ
こで良好な記録再生特性を得ることできる程の光透過率
を有している。

【００１８】このような光ディスクの記録層３，７を予
め全面結晶化（信号の消去状態）させた後、レーザ照射
によりアモルファスの記録マークとして信号を記録す
る。光ディスクの線速度は、その回転数を変えることに
より、１．５ｍ／ｓ，３ｍ／ｓ，６ｍ／ｓ，９ｍ／ｓの
４つの速度を選択した。入力信号としては、ＥＦＭ信号
を採用した。そして半導体レーザを、（１）記録波形Ｗ
Ａのように短パルス列に補正し変調する方法、（２）記
録波形ＷＢのようにパルス列を若干短く補正して変調す
る方法、でそれぞれ駆動して信号を記録した。

【００１９】具体的な記録波形の形状は、図３のように
なる。まず、同図（Ａ）はＥＦＭ信号の入力波形の一例
であり、Ｔはクロック周期である。同図（Ｂ）は記録波
形ＷＡである。この場合、パルス発生までの幅Ｔａは１
Ｔ，短パルス列中の先頭パルスの幅はＴｂは１．５Ｔ，
後続パルスの幅Ｔｄ及び間隔Ｔｃはどちらも０．５Ｔと
した。すなわち、この記録波形ＷＡのクロック周期は
０．５Ｔであり、ＥＦＭ信号の２倍の周波数のクロック
が必要である。同図（Ｃ）は記録波形ＷＢである。この
場合、すべての記録パルスの幅をＥＦＭ信号よりＴだけ
短くしている。

【００２０】なお、ＥＦＭ信号のクロック周波数は、線
速度が変わっても記録マーク長が同じになるように変化
させた。具体的には、線速度が１．５ｍ／ｓのときクロ
ック周波数は４．３ＭＨｚ，線速度が３ｍ／ｓのときク
ロック周波数は８．６ＭＨｚ，線速度が６ｍ／ｓのとき
クロック周波数は１７．２ＭＨｚ，線速度が９ｍ／ｓの
ときクロック周波数は２５．８ＭＨｚである。

【００２１】次に，以上のようにして記録された信号を
再生し、その再生波形の歪の大きさを求める。再生波形
歪の定量的な評価は、再生波形を予め２値化した後、タ
イム・インターバル・アナライザに入力してジッタ量を
位相マージンとして求めることで行う。位相マージンが
大きいほど、記録マーク前後のエッジ位置のずれ量が小
さく、記録マークの歪は小さい。図４に、数種類の光デ
ィスクにおける位相マージンと線速度のばらつきの関係
を示す。なお、線速度が９ｍ／ｓ時は記録波形をＢとし
た。図５には、光ディスクの温度変化に対する位相マ一
ジンと線速度のばらつきの関係を示す。図６には、その
ときの光ディスクの盤面上における記録パワーと線速度
の関係を示す。なお、消去パワーは、全ての記録波形の
違いにかかわらず、各線速度において一定にした。

【００２２】図４から明かなように、記録波形ＷＡの場
合は、傾きは小さいが線速度が速いほど位相マージンは
大きくなっている点で好ましいが、光ディスクによるば
らつきがある。また、図５からすると、温度によるマー
ジンの変動もある。これは、オーバーライトの場合、記
録層３，７の加熱による温度によって支配されるため、
線速度、周囲温度の変動、光ディスクの製造ばらつきな
どにより、光ディスクの温度が最良の状態にできなかっ
たことを示している。記録パワーについては、図６に示
すように、記録波形ＷＡでは記録層３，７に与えるエネ
ルギを短パルス列で与えているため、大きな記録パワー
が必要になる。このため、特に高線速度においては、光
源として出力の大きな半導体レーザが必要になる。

【００２３】また、図７（Ａ）の記録波形ＷＣのよう
に、図３（Ｂ）の記録波形ＷＡの記録パルス列の前後で
レーザパワーを消去レベルより低くしてもよい。このよ
うにすれば、マーク間隔を狭くして記録する場合に、記
録パワーで照射された領域の熱が後方に拡散し、次の記
録マークを大きく描いてしまうという熱干渉の現象を小
さくできる。このため、位相マージンを大きくするのに
有効である。レーザパワーを消去レベルより低くする期
間が長すぎると、記録層３，７が結晶化温度以上に到達
しなくなり、消し残りが生じてしまう。しかし、消去レ
ベルより低くする期間τがτ≦λ／Ｖ（λ：レーザ波
長、Ｖ：レ一ザースポットと光ディスクの相対速度）の
範囲内であれば、その期間の前後のＰｅ及びＰｗで重複
して照射されるし、またその期間の前後のＰｅ及びＰｗ
で照射された領域からの伝導熱によっても昇温される。
従って、記録層３，７は結晶化温度に達し、消し残りは
小さくできる。

【００２４】なお、記録波形ＷＣでは、記録パルス列の
前後双方でレーザバワーを消去レベルより低くしたが、
前後のいずれか一方のみとしても充分効果がある。ま
た、消去レベルより低いレベルを、再生パワーレベルも
しくはレーザのオフレベルとすれば、装置構成を簡略化
できる。図３の記録波形ＷＢにおいても、同様に、記録
パワーの前後もしくはそのどちらか一方に消去レベルよ
り低いレベルを設けるようにしてよい。図３の記録波形
ＷＡを図７（Ｂ）の記録波形ＷＤのように、記録パルス
列に対応する期間において、記録パワーレベルと再生パ
ワーレベルあるいはレーザのオフレベルとの間で変調し
てもよい。この方法では、記録マーク内の全ての場所に
おいて記録層３，７が溶融後急冷されるため、安定した
記録マ一クが形成でき、位相マージンを大きくするのに
有効である。

【００２５】次に、本形態による光ディスク装置につい
て、図９〜図１１を参照しながら説明する。ＤＶＤディ
スクは、図１１のように、光ディスク内でのセクタは螺
旋状のＣＬＶであるから、線速度が一定であり、内周側
のエリアＥＡで４セクタブロック，１ブロックは８セク
タ（実際のＤＶＤは１ブロックが１６セクタであり、実
際とは異なる）であり、外周側のエリアＥＢで８セクタ
ブロック，１ブロックは８セクタである。回転周期も、
エリアＥＡ内周で４０ｍｓｅｃ，エリアＥＢ外周で８０
ｍｓｅｃ程度である。

【００２６】次に、図９を参照して、主要部を説明す
る。キー入力部１０により入力した再生や記録の開始
は、システムコントローラ１２が判断し、信号処理部１
４やサーボプロセッサ１６に指令する。サーボプロセッ
サ１６は、ドライバ１８を介してスピンドルモータ２０
を駆動し、光ディスク２２が回転する。光ピックアップ
２４から読み出した信号は、図１０のプリアンプ２６に
供給され、ここで再生信号とサーボ信号を生成する。サ
ーボエラー信号は、サーボエラー信号生成回路４９で生
成される。サーボプロセッサ１６で前記サーボ信号を処
理することにより、ディスク２２のトラックに対するフ
オーカシングやトラッキングの信号を生成する。そし
て、これらの信号に基づいて、ドライバ１８により光ピ
ックアップ２４のアクチュエータを駆動することによ
り、光ピックアップ２４の一巡のサーボ制御が行なわれ
る。

【００２７】再生信号は、図１０に示すプリアンプ２６
に供給され、ＲＦアンプ５０で増幅される。増幅後の再
生信号の周波数特性は、イコライザ５２で最適化し、Ｐ
ＬＬ回路５４でＰＬＬ制御をかける。また、ＰＬＬのビ
ットクロックとデ一夕の時間軸の比較からジッタ生成回
路５６で生成したジッ夕値をシステムコントローラ１２
がＡ／Ｄ変換して測定し、この値に従って記録時の波形
補正回路を変更する。信号処理部１４では、再生信号が
ディジタル信号に変換され、例えば同期検出が行われ
る。これにより、光ディスク上のＥＦＭ＋信号からＮＲ
Ｚデータにデコードされ、エラー訂正処理が行なわれて
セクタのアドレス信号とデータ信号を得る。この信号
は、可変転送レートで圧縮された信号であるので、これ
を一時記憶メモリ２８（４ＭＢのＤＲＡＭ）に記憶し、
可変転送レートの時間軸の吸収を行う。一時記憶メモリ
２８から読み出された信号は、Ａ−Ｖデコーダ３０によ
り伸長され、オーディオとビデオの信号に分離される。
そして、それぞれ図示しないＤ／Ａコンバータにより、
アナログの音声信号と映像信号に変換出力される。

【００２８】また、プリアンプ２６のＰＬＬ回路５４で
生成した光ディスク２２の速度信号をサーボプロセッサ
１６に送り、この速度信号によって光ディスク２２をＣ
ＬＶで回転制御している。スピンドルモ一夕２０のホー
ル素子などによる回転位置信号はサーボプロセッサ１６
へ帰還し、この信号から生成した速度信号から、一定回
転のＦＧ制御も行っている。

【００２９】以上の各部の全体制御は、システムコント
ローラ１２が行っている。他に、記録したい画像の解像
度やカーレースなどのスピードの速いシーンなどを取り
分ける場合や、記録時間優先で設定するためのキー入力
や外部からの制御データをマイクロコンピュータ（図示
せず）が認識しており、切替端子により記録時間を変更
したり、設定を外部のユーザが選択できるように構成さ
れている。

【００３０】光ピックアップ２４は、半導体レーザを光
源とし、コリメ一夕レンズ，対物レンズなどにより光デ
ィスク２２上にレーザスボットを形成する。半導体レー
ザは、図１０のレーザ駆動回路５８により駆動される
が、信号を記録する場合には入力信号は波形補正回路６
０により、波形補正された後レーザ駆動回路５８へ入力
される。ここでは、入力信号は、ＥＦＭ＋信号と、テス
トパターン発生回路６４で発生したテストパターン信号
が切換回路６２によって切り換えられる。波形補正回路
６０は、ＥＦＭ信号を短パルス列に変換する回路であり
（具体的回路構成は、例えば特開平３‐１８５６２８号
公報参照）、短パルス列化された波形でレーザ駆動回路
５８を変調すると、図３（Ｂ）の記録波形ＷＡが得られ
る。また、波形補正回路６０は、パルス幅を短く変換す
る回路であり、短かくなった波形でレーザ駆動回路５８
を変調すると、図３（Ｃ）の記録波形ＷＢが得られる。

【００３１】波形補正回路６０は、遅延素子とＡＮＤ回
路により構成できる。すなわち、入力信号を遅延素子で
遅延した後、最初の入力信号との論理積を求めること
で、図３（Ｃ）の記録波形ＷＢが得られる。波形補正回
路６０では、システムコントローラ１２の制御に基づく
線速度の切換回路６２により、大きな単位での時間軸の
切換えが行われ、次に、ジッタ値が最良になるように図
３（Ｂ）のＴａ，Ｔｂ，Ｔｃ，Ｔｄの詳細な時間設定が
行われる。

【００３２】テストパターン発生回路６４は、同様に線
速度切換えによって大きな単位の時間軸の切換えを行
い、パターンとして、ＥＦＭ＋の最高周波数である３Ｔ
を含む信号、例えば３，４，３，５，３，６，３，７，
３，８，３，９，３，１０，３，１１Ｔというような一
定長の信号の繰返しパターンを発生する構成になってい
る。ここでは、複数種類の特定パターンを記録してもよ
い。図示していないが、光ディスク２２付近に温度を検
出するためのサーミスタなどのセンサが備えられてお
り、これから温度を検出する温度検出回路６６を備えて
いる。この回路構成としては、プリアンプ２６内部の半
導体，例えばダイオ一ドの順方向電圧の温度特性を測定
するような構成でもよい。

【００３３】本装置は、信号を記録する場合に、最初に
レーザスポットを光ディスク２２上に照射し、信号トラ
ックに予め設けられたアドレス信号をアドレス再生回路
（図示せず）で判読する。そして、システムコントロー
ラ１２によって線速度を設定する。例えば、（１）画質
はよいが、全体の記録時間が２時間程度であるモードで
は、線速度を６ｍ／ｓとする，（２）画質は普通である
が、全体の記録時間が４時間程度であるモードでは、線
速度を３ｍ／ｓとする，（３）画質は悪いが、全体の記
録時間が８時間程度であるモードでは、線速度を１．５
ｍ／ｓとする，などの選択が可能である。

【００３４】また、上述したように、他に、記録したい
画像の解像度やカーレースなどのスピードの速いシーン
などを取り分ける場合や、記録時間優先で設定するため
のキー入力や外部からの制御データに基づいて、切替端
子により記録時間を変更したり、外部のユーザによる選
択により記録時間を変更可能である。

【００３５】なお、ここではＣＬＶ制御としているが、
ＣＡＶ制御やゾーンＣＡＶ制御などで、内周と外周の線
速度が３０ゾーン程度に変更になるような場合でも、ト
ラックのアドレス位置をシステムコントローラ１２が管
理しながらそれぞれの位置にて線速度を設定することで
適用可能である。この場合は、設定された線速度に基づ
いて基本的なＴ周期が設定される。

【００３６】次に、本形態の動作について、図１２及び
図１３も参照しながら説明する。図１２は、一時記憶メ
モリ２８の記憶量の時間変化を示すものであり、ａ領域
では信号が書き込まれ、ｂ領域では書き込まれた信号が
読み出される。即ち、書込み速度とは異なる読出し速度
で書き込まれた信号が読み出される。図１３は、動作の
手順をフローチャートとして示すものである。まず、音
声や映像などの本来のデータを記録する場合の動作から
説明する。まず、記録モード，再生モード，あるいは待
機モードの判別を行う。記録モードの場合には（ステッ
プＳＡ）、記録すべき音声や映像などのデータを圧縮す
るとともに、エラー訂正コード，アドレス，シンク信号
を付加して、一時記憶メモリ２８に記録する（図１２の
ａ領域，ステップＳＢ）。この動作は、一時記憶データ
がフルレベル（第１の記憶量）になるまで行われる（ス
テップＳＣ）。フルレベルの値は、パワーセーブ状態か
らの復帰時間から余裕を取った値，例えば１００ｍｓｅ
ｃ程度の時間である。この値は、記録時の圧縮比のモー
ド、あるいは外部から設定されたモードによって設定さ
れる。

【００３７】一時記憶メモリ２８のデータ記憶量がフル
レベルとなると、今度はそのデータが一時記憶メモリ２
８から読み出されて光ディスク２２に書き込まれる（図
１２のｂ領域，ステップＳＤ）。この動作は、一時記憶
データがエンプティレベル（第２の記憶量）になるまで
行われる（ステップＳＥ）。そして、エンプティレベル
に達した時点で、データの読み出しは停止となる（ステ
ップＳＦ）。そして、再び一時記憶メモリ２８に対する
データの書き込みが行われる（ステップＳＢ）。

【００３８】ところで、本形態では、記録モードである
と判断された時点で、記録信号の波形補正の最適化が終
了しているかどうかをシステムコントローラ１２で判断
する（ステップＳＧ）。波形補正最適化処理が既に行わ
れている場合は、何度もこの最適化処理を行う必要はな
い。光ディスク２２セット後、あるいは、最適化処理終
了後一定時間が経過したかどうか、又は、所定の温度変
化があったかどうかを判断し、どちらかが所定値を越え
た場合に、前記波形補正処理を行うようにする。最適化
処理が終了していなければ、本来のデータを記録すべき
セクタを記憶するとともに（ステップＳＨ）、記録テス
トモード（ステップＳＩ）に移行する。

【００３９】記録テストモードでは、ステップＳＩに示
すように、前記一時記憶メモリ２８に本来のデータを記
録している間に、例えば、光ディスク２２の管理領域か
ら予め空き領域を検索しておき、該当する記録層３，７
のいずれかにフォーカスジャンプしてテスト信号を現在
位置に対して半径方向に最も近い記録する領域（記録ト
ラック）へピックアップ２４が移動するか、又は、所定
の記録テスト専用の領域にピックアップ２４が移動す
る。そして、テスト用のパターン信号を、例えば１訂正
ブロック１６セクタ（１セクタは２０４８バイト）分デ
ィスク２２の該当領域に書き込む。すなわち、切り換え
回路６２をテストパターン発生回路６４側に切り換え、
テストパターン信号を波形補正回路６０を介してレーザ
駆動回路５８に供給する。レーザ駆動回路５８は、入力
されたテスト信号を光ディスク２２に記録する。この記
録時に１つの方法では、レーザーの発光レベルを測定
し、測定値から本来あるべき発光レベルとの差を計算
し、この差に基づいて発光レベルを補正する。

【００４０】２つ目の方法では、前記テストパターン信
号をレーザーパワーを変更しながら記録し、記録したト
ラックへピックアップ２４が再度キックし、このトラッ
クのテスト信号を再生してそれぞれのレーザーパワーで
のジッタを測定する。そして、このジッタ値が最良とな
るレーザーパワーでの波形補正パラメータ，すなわち波
形補正回路６０のＴａ〜Ｔｄを変更する。波形補正パラ
メータである波形補正回路６０のＴａ〜Ｔｄの変更は、
光ディスク２２の特性の傾向に対応してテーブルに予め
まとめられている補正係数を用いて行う。ここでの測定
はジッタを測定したが、ジッタの代わりにアシンメトリ
ーを測定し、このアシンメトリー値が所定の値になるレ
ーザーパワーを最適なパワーとして設定しても良い。

【００４１】以上の記録テストモードの動作は、一時記
憶メモリ２８に信号が蓄積されてフルレベルになるまで
の時間の範囲内で行われる。すなわち、フルレベルにな
った時点における波形補正パラメータの値で、波形補正
回路６０が設定される。記録テストモード終了時には、
該当する記録層３，７のいずれかの記録テストモードを
解除するとともに、該当する記録層３，７のいずれかに
フォーカスジャンプして開始時に記憶した本来のデータ
の記録セクタにピックアップが移行して待機する（ステ
ップＳＪ）。そして、一時記憶メモリ２８の記憶量がフ
ルレベルになった時点で、その記録セクタに本来のデー
タが記録される（ステップＳＣ，ＳＤ）。

【００４２】以上のように、本形態によれば、一時記憶
メモリに対するデータの書き込み中におけるピックアッ
プの空時間を利用して、該当する記録層３，７のいずれ
かにフォーカスジャンプしてテスト信号の記録及び再生
を行うとともに、その再生信号のジッタが測定される。
そして、このジッタが低減されるように、記録パルス波
形の補正パラメータが設定される。このため、格別な波
形補正パラメータ設定のための時間を必要とせず、ユー
ザに違和感を与えることなく、データ記録を行うことが
できる。

【００４３】なお、本発明は、何ら上記形態に限定され
るものではなく、例えば、次のものも含まれる。

【００４４】（１）前記実施形態では、一時記憶メモリ
２８に対するデータの書き込み時に、波形補正パラメー
タの設定を行ったが、データの読み出し時の空時間を利
用して行ってもよい。図１４には、再生時における一時
記憶メモリ２８の記憶量の変化が示されている。一時記
憶メモリ２８には、ＤＶＤの場合、５００ｍｓｅｃ程度
の時間の情報が記憶可能である。従って、トラック一周
が８０ｍｓｅｃであるとしても、６周分程度の時間余裕
があることになる。ピックアップ２４によりディスク２
２の所定位置のセクタから再生を開始した時点で、トラ
ッキングやフォーカスのエラー監視や、信号処理上のエ
ラー処理を行った後、一時記憶メモリ２８への信号書き
込みを開始し（図１４ｃ領域）、エンプティレベルを越
えた時点において、Ａ‐Ｖデコーダ３０への再生を開始
し（同図ｄ領域）、フルレベルになるまで、ピックアッ
プ２４からの再生信号を一時記憶メモリ２８に書き込
む。そして、フルレベルになったら、一時記憶メモリ２
８への書き込みを禁止し（ｅ領域）、Ａ一Ｖデコーダ３
０への再生がエンプティレベルになるまで行われる。こ
のとき、通常は、次に再生すべきセクタにピックアップ
２４がくるように、トラックをキックして待機する。こ
の状態で、波形補正最適化処理が終了しているかを判断
する。そして、終了していないときは、上述した波形補
正最適化処理を行うようにする。

【００４５】（２）前記補正係数の変更は、単に個別の
周期Ｔによって行うのではなく、３Ｔ，１１Ｔ，３Ｔ，
４Ｔなどの３Ｔ信号の前後の信号が短い，あるいは長い
などを考慮する方がより好ましい。

【００４６】（３）前記形態では、テスト信号の記録再
生を何度も繰り返すことが考えられる。この繰り返し回
数を減らすために、図５に示した記録特性に影響の大き
い温度特性を予め前記温度センサにて測定しておく。そ
して、この測定値によって、前記Ｔａ〜Ｔｄの補正係数
を修正するようにする。例えば、測定した温度が１０度
の場合、光ディスク２２は暖まりにくいから、Ｔｃに対
してＴｄを多くする方向に変更する。温度が４０度と高
い場合には、Ｔｄに対してＴｃを長くする方向に変更す
る。

【００４７】（４）前記形態では、テスト信号の再生信
号のジッタ値を測定しているが、これはジッタ値が再生
信号の品質に関係するためである。例えば、ＲＦ信号，
特にその３Ｔ信号などの高い周波数成分を抽出し、この
振幅が最大になるように制御してもよい。

【００４８】（５）前記形態のような相変化光ディスク
では、記録回数に限度があり、回数の増加に従ってジッ
タが悪化していくことが知られている。従って、好まし
い実施形態では、トラックにリンクして記録回数を計数
する手段を持ち、この記録回数を更新する。そして、こ
の記録回数の増加に伴って、例えばテスト記録を終了す
るときの限度のジッタ値を上げて行く。また、記録回数
の増加に従って、良好に記録が行われないように変化し
ていくことから、Ｔａ〜Ｔｄの時間を段階的に変えて行
くことが望ましい。

【００４９】（６）前記形態では、波形補正手段として
最高転送レートである線速度が６ｍ／ｓのときは、記録
信号の生成回路を簡略化するため、図３（Ｃ）の信号波
形を用いている。しかし、線速度６ｍ／ｓでも、異なる
種類の複数の補正手段を用いてよい。

【００５０】（７）前記形態では、波形補正手段とし
て、線速度の遅い領域では記録パルスを複数の短パルス
からなるパルス列に波形補正したのち信号を記録し、線
速度の速い領域では記録パルスを短く波形補正したのち
信号を記録する。しかしながら、最適な波形補正は、光
ディスクの構造や種類によっても異なる場合があり、前
記形態で示した波形が常に最適補正であるとは限らな
い。例えば、場合によっては、線速度にかかわらず記録
パルスを複数の短パルスからなるパルス列に波形補正す
る方法を採用し、線速度の速い領域と遅い領域で変換さ
れた短パルス列のパルスの振幅を変える，例えば線速度
の速い領域で先端部分の振幅を大きくするというような
方法によって、光ディスクの全領域で位相マージンを大
きくすることも可能であり、このような補正方法も本発
明に含まれる。

【００５１】（８）線速度にかかわらず、記録パルスを
複数の短パルスからなるパルス列に波形補正する方法を
採用し、線速度の速い領域と遅い領域で変換された短パ
ルス列のパルスの幅を変えてもよい。例えば線速度の遅
い領域では記録波形を図８（Ａ）の記録波形ＷＥとし、
線速度の速い領域では記録波形ＷＥの短パルス列のパル
ス幅を広げて図８（Ｂ）の記録波形ＷＦのようにする。
信号記録時の蓄熱効果は線速度が速くなると小さくなる
ため、短パルス列のパルス福を広げても涙状歪は大きく
ならない。短パルス列のパルス幅を広げると記録層に供
給されるエネルギが増えるため、結果としてパルス幅が
狭い場合より記録パワーを低減することができる。

【００５２】なお、図８に示す記録波形ＷＥ，ＷＦにお
いても、図７の記録波形ＷＣ，ＷＤのように、記録パル
ス列の前後もしくはその一方でレーザパワーを消去レベ
ルより低くしたり、あるいは記録パルス列に対応する期
間、記録パワーと再生パワーレベルあるいはレーザのオ
フレベルとの間で変調してもよいことは言うまでもな
い。

【００５３】（９）前記形態は、現在のＤＶＤの規格で
は再生専用のみの２層ディスクであるが、例えば２層の
うちの１層は相変化記録層で構成されて他の１層は再生
専用層である２層光ディスク、あるいは、図２に示すよ
うに、２層とも相変化記録層である２層光ディスクなど
いずれのものにも本発明は適用可能である。また、少な
くとも１層が相変化記録層である多層光ディスクに対し
ても同様に本発明は適用可能である。一方、本発明の装
置の構成としては、光学的に可逆的に相変化する記録層
を少なくとも１層有する多層光ディスクの前記記録層上
に、記録すべき入力データをパルス幅変調した記録デー
タで光変調して得た記録レーザ光を照射してマークを形
成し、前記マーク上に再生レーザ光を照射して前記記録
データを再生する光ピックアップ手段と、前記入力デー
タを第１の記憶量に達するまで書き込み、かつ書き込ま
れた前記入力データを前記第１の記憶量より低い第２の
記憶量に達するまで書込み速度とは異なる読出し速度で
読み出して、前記光ピックアップ手段に供給する一時記
憶手段と、前記多層光ディスクの各層上にそれぞれ、記
録レーザ光又は再生レーザ光を合焦して照射するよう
に、前記光ピックアップ手段をフォーカスジャンプ制御
する光ピックアップ制御手段と、前記一時記憶手段へ前
記入力データが書き込まれている期間中でかつ前記光ピ
ックアップ手段が記録、再生、シークの各動作を行って
いない空き時間内に、あるいは、前記一時記憶手段から
前記入力データが読み出されている期間中でかつ前記光
ピックアップ手段が記録、再生、シークの各動作を行っ
ていない空き時間内に、前記記録層に対して記録テスト
を行い、このテスト結果に基づいて前記記録データのパ
ルス波形を補正する波形補正値を装置側及び／又は前記
多層光ディスク側に記憶する波形補正手段とを備え、記
録時には、前記波形補正値を用いて前記記録データの波
形補正を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装置
である。また、２層以上の多層光ディスクを認識する手
段、そのうち少なくとも１層が相変化記録層であること
を認識する手段、２層以上の多層信号面上にそれぞれ、
光スポットをフォ一カスして照射するためのフォーカス
ジャンプ手段、複数の相変化記録層の波形補正値をテス
トして記憶しておく波形補正手段を備えている。

【００５４】（１０）圧縮伸長ブロックを持たない光デ
ィスク装置、例えばＤＶＤ−ＲＡＭやＤＶＤ−Ｒ／Ｗな
どのコンピュータ周辺機器などにおいても、本発明は同
様に適用可能である。これらの機器は、圧縮伸長データ
の記録再生を行うが、装置として圧縮伸長回路を持たな
い。例えば、圧縮データは、伸長しない状態で外部のコ
ンピュータへ、例えばＡＴＡＰＩやｌＥＥＥ１３９４な
どのバスを介して出力され、コンピュータ上のソフトウ
ェアで伸長される。このような外部からの制御入力によ
りコントロールされる機器で、記録の最適化を行うため
には、光ディスクに対してピックアップが記録，再生，
又はシーク動作中などビジー状態か、又は、アンセレク
ト状態かを監視し、アンセレクト状態になった時点で前
記波形補正最適化処理を行う。

【００５５】このために、まず、光ディスクを起動した
状態で、光ディスク挿入か電源投入のいずれかによって
光ディスクの種類，すなわち単層か多層か，記録層があ
るかどうかを判断する。そして、記録層があり、かつ、
記録最適化が必要かどうかを判断する。記録最適化の要
否は例えばフラグによって表される。例えば、電源投入
時や光ディスク挿入時には論理値の「０」となってお
り、記録最適化要の状態である。そして、一度最適化が
終了すれば、フラグは「１」となる。ただし、所定時間
が経過した場合、あるいは、前記波形補正値を得る際の
装置側の温度を測定しておき、前回最適化したとき測定
した温度に対して所定の温度変化があった場合には、フ
ラグは「０」となる。このフラグをみて、記録層がある
場合は前記アンセレクト状態を監視し、その時点で波形
最適化を行う。構成としては、各層の信号面にフォーカ
スするためのフォーカスジャンプ手段を持ち、波形補正
手段は、複数の記録層の波形補正値をテストして最適な
波形補正値を記憶しておけばよい。前記した多層光ディ
スクの種類が再生専用か記録可能かの判断に基づいて、
記録可能の多層光ディスクの場合、記録テスト時に所定
の記録層にフォーカスジャンプして、テスト記録が終了
した段階で、もとの記録層のトラックに戻ってくる。

【００５６】（１１）着脱可能な光ディスクでは、ある
装置で記録したものを別の装置で安定に再生することが
必要である。しかし、記録密度の向上に伴って、そのよ
うな安定再生も難しくなってきている。前記形態は、自
装置内で最適な記録を行う場合であるが、他装置での互
換性を向上するための手法について以下説明する。この
ような場合は、前記波形補正値を光ディスクに記録する
ことにより、光ディスクを起動する際に、その補正値を
参照すれば、再度テスト記録をする必要がなく、この補
正値を参照して最適な記録を簡単に行うことができる。
つまり、前記波形補正値は装置側、光ディスク側のいず
れかまたはその両方に記録しても良い（換言すれぱこの
波形補正値を装置側及び／又は前記多層光ディスク側に
記憶する）。また、前記波形補正値を光ディスクの固有
識別マーク（ディスク固有識別情報）と共に（同時に）
装置側にも記録する。これによって、装置で前記波形
補正値を記録する場合、同じ装置で再度同じ光ディスク
を起動する際に、この光ディスクの固有識別マークの同
一性及び前記波形補正値を参照すれば、再度テスト記録
をする必要がなくなる、光ディスクの出荷時に光ディ
スク側に前記波形補正値を記録する場合には、装置側が
この波形補正値を読み出してこれを参照して、光ディス
クにその補正値を記録する事により、最適な記録を簡単
に、行うことが出来る。

【００５７】具体例を示すと、ＤＶＤの場合、光ディス
クの最内周にはリードイン領域が半径２４ｍｍ未満にあ
る。２４ｍｍ以降はデータ領域である。リードイン領域
には、従来、光ディスクの種類（再生専用、ライトワン
ス、記録再生型）、層（単層ディスク、２層光ディス
ク、パラレル、オポジット）、反射率（単層０．７，２
層０．３）、デ一夕の開始アドレス、終了アドレスなど
の物理情報が記載されている。

【００５８】本形態では、これらに加えて、記録可能な
ライトワンス型及び記録再生型については、パラメータ
として、最適記録レーザパワー（パワーは、図３
（Ｂ）に示すような記録波形のＰｗ，Ｐｅなどのレーザ
パワーに相当する振幅値を示す）、最適記録波形補正
値（補正値は、基本的に図３（Ｂ）の時間的なプロフィ
ールであるＴａ〜Ｔｄの時間的関係を示す。実際には、
これらの４つの値を記録してもよいし、これらの値の複
数種類のセットをテーブル化したような記号でもよ
い）、線速度、記録時温度（前記,の条件として
省略されてもよい）、記録装置（市場で記録される場
合に記録装置を特定するもの）、メーカー名（製造時
に記録される場合には光ディスクのメーカのみ。市場で
記録される場合には光ディスクメー力と前記,のデ
ータに対応して装置メーカが記録される）、製造ロッ
トＮｏ（製造時に記録される場合には光ディスクのＮｏ
のみ。市場でも記録される場合には光ディスクメーカと
前記,のデータに対応した装置Ｎｏが記録され
る）、などが記載される。

【００５９】（１２）光ディスク装置で２層の光ディス
クの記録が行われる場合は、それら記録データが他社に
読まれないように暗号化されていてもよく、また、これ
らのデータが特定の１つの記録層にまとめて記録されて
いてもよい。

【００６０】このような光ディスクの記録再生装置とし
ては、上述した形態と全く同一のものでよいが、テスト
記録領域として、リードイン領域に用意されているテス
ト記録領域にテスト記録を行うようにする。なお、この
領域以外にも、記録したデータが通常のデータの記録再
生によって破壊されないような領域であれば、いずれの
領域でもよい。記録再生装置は、最初の立ち上げの際
に、このリードイン領域のテスト記録領域などを再生す
るとともに、波形補正値を再生する。そして、波形補正
値がなければ、上記記録テストを行って波形補正パラメ
ータの最適値を測定し、この測定最適値をエンコードし
て記録領域に書き込む。これにより、次回以降はこの最
適値を再生することで記録補正を行うようにすれば、再
度補正作業を行う必要がない。このとき、メー力名や製
造ロットＮｏなどを確認し、例えば、製造ロットにより
補正値の読み方が変わるなどの対応を行う。

【００６１】光ディスクに予め補正値が記録してある場
合も同様であり、最初の立ち上げの際に、リードイン領
域に用意されているテスト記録領域を再生し、波形補正
値を再生する。そして、この補正値をデコーダにより再
生し、光ディスクメーカ名や製造ロットＮｏなどを参照
し、波形補正値を記録用のレジスタに記憶しておく。以
降の記録時には、この波形補正最適値によりデータを書
き込む。

【００６２】（１３）より詳細には、測定時の温度を前
記温度センサにて測定しておき、この温度の値を補正値
と同時に記録しておく。線速度などの条件も、同時に記
録しておく。そして、再生時にこれらの条件を同時に再
生し、新たに記録を行う場合に、その時点での温度や線
速度などのパラメータを比較し、その結果両者に差があ
れば、この差とこれを補正する計算式又はテーブルから
補正値を修正する。そして、この修正後の値を最適な値
として記録を行う。

【００６３】（１４）２層光ディスクの場合、前記記録
領域が第１層にあり、２層目のデータも１層目に集中し
て書き込んであれば、再生時の処理が簡略化される。こ
の場合、単層の場合と同様に２層分のデータを再生し、
各層毎に設定を行うが、データがなく補正値を記録をす
る場合は、まず第１層で上記記録テストを行い、最適値
を測定する。そして次に、第２層にフォーカスジャンプ
して上記記録テストを行い、最適値を測定する。その
後、それら２つのデータをエンコードし、第１層の記録
領域に移動してこの記録領域に最適値を書き込む。これ
により、次回以降は、この最適値を再生して記録補正を
行えば、再度補正作業を行う必要がない。

【００６４】上述した構成を有する本発明は、下記の構
成を更に備えても良い。即ち、前記多層光ディスクから
読み出したディスク固有識別情報を、前記波形補正値と
共に記録しても良い。また、前記ディスク固有識別情報
及び前記波形補正値を再生しても良い。また、前記記録
テストの際に用いられるテスト信号は、このテスト信号
を記録再生した場合にジッタが悪化する傾向を示す特定
の信号列の所定数の繰り返し信号からなる。前記テスト
信号の特定の信号列の繰り返しは、少なくとも記録波長
の内最短波長を含んでも良い。また、前記波形補正値の
品質を評価する手段は、前記波形補正値を再生した信号
のジッタ値を測定する測定手段と、前記測定手段で測定
したジッタ値が所定値以内かどうかを判断する判断手段
と、前記判断手段で判断した判断結果が前記所定値内の
場合には、その記録パラメータを前記テスト信号の記録
時に用いるように、前記テスト信号を格納する記録パラ
メータ設定手段と、前記判断手段で判断した判断結果が
前記所定値外の場合には、記録のパラメータを変更し
て、前記テスト信号の品質評価を再度行う品質再評価手
段とからなっても良い。また、前記品質再評価手段で行
った品質再評価の回数を計数する係数手段と、前記係数
手段の計数値が規定の所定値を越えた場合には、前記テ
スト信号の書き込みを禁止する禁止手段とを更に備えて
も良い。また、最適な前記波形補正値を得たときの装置
側の基準温度を測定する温度測定手段と、前記温度測定
手段で測定した前記基準温度からの温度変化に応じて、
前記波形補正値を変更する温度変更手段を更に備えても
良い。また、前記記録データをオーバーライトした記録
回数を管理する記録回数管理手段と、前記記録回数管理
手段で計数した記録回数に応じて、前記波形補正値を変
更する回数変更手段を更に備えても良い。さらに、上記
した光ディスク記録再生装置で記録再生可能であり、光
学的に可逆的に相変化する記録層を少なくとも１層有す
る多層光ディスクであって、前記記録層に対して行った
記録テストの結果に基づいて、前記記録データのパルス
波形を補正する波形補正値を記録するテスト記録領域を
備えたことを特徴とする光ディスクであっても良い。更
に、前記テスト記録領域は、リードイン領域内に設けら
れ、全ての前記記録層の前記波形補正値を記録するもの
であっても良い。

【００６５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
記録時又は再生時にデータを一時的に格納する一時記憶
手段におけるデータの書き込み又は読み出しの際に生ず
るピックアップの空時間を利用して、前記データの記録
信号波形を補正することとしたので、格別な波形補正の
ための時間を必要とせず、データ記録を良好に行うこと
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の基本的な作用を示す記録波形図であ
る。

【図２】光ディスクの一例を示す主要断面図である。

【図３】本発明の一形態における記録波形を示す図であ
る。

【図４】各種記録波形における線速度と位相マージンの
関係を示す図である。

【図５】線速度と位相マージンの関係の温度変動を示す
図である。

【図６】各種記録波形における線速度と記録パワーの関
係を示す図である。

【図７】本発明における他の記録波形を示す図である。

【図８】本発明における他の記録波形を示す図である。

【図９】本形態にかかる光ディスク装置の主要部を示す
ブロック図である。

【図１０】図９のプリアンプの構成例を示すブロック図
である。

【図１１】ＤＶＤにおける光ディスク形態を示す図であ
る。

【図１２】一時記憶メモリのデータ書き込み時における
記憶量の変化を示す図である。

【図１３】一形態における主要動作を示す図である。

【図１４】一時記憶メモリのデータ読み出し時における
記憶量の変化を示す図である。

【図１５】記録マークの涙滴化の様子を示す図である。

【図１６】従来技術による記録マークの補正の様子を示
す図である。

【符号の説明】

１０…キー入力部 １２…システムコントローラ １４…信号処理部 １６…サーボプロセッサ １８…ドライバ ２０…スピンドルモータ ２２…光ディスク、多層光ディスク ２４…ピックアップ ２６…プリアンプ ２８…一時記憶メモリ ３０…デコーダ ４９…サーボエラー信号生成回路 ５０…アンプ ５２…イコライザ ５４…ＰＬＬ回路 ５６…ジッタ生成回路 ５８…レーザ駆動回路 ６０…波形補正回路 ６２…切換回路 ６４…テストパターン発生回路 ６６…温度検出回路

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光学的に可逆的に相変化する記録層を少
   なくとも１層有する多層光ディスクの前記記録層上に、
   記録すべき入力データをパルス幅変調した記録データで
   光変調して得た記録レーザ光を照射してマークを形成
   し、前記マーク上に再生レーザ光を照射して前記記録デ
   ータを再生する光ピックアップ手段と、 前記入力データを第１の記憶量に達するまで書き込み、
   かつ書き込まれた前記入力データを前記第１の記憶量よ
   り低い第２の記憶量に達するまで書込み速度とは異なる
   読出し速度で読み出して、前記光ピックアップ手段に供
   給する一時記憶手段と、 前記多層光ディスクの各層上にそれぞれ、記録レーザ光
   又は再生レーザ光を合焦して照射するように、前記光ピ
   ックアップ手段をフォーカスジャンプ制御する光ピック
   アップ制御手段と、 前記一時記憶手段へ前記入力データが書き込まれている
   期間中でかつ前記光ピックアップ手段が記録、再生、シ
   ークの各動作を行っていない空き時間内に、前記記録層
   に対して記録テストを行い、このテスト結果に基づいて
   前記記録データのパルス波形を補正する波形補正値を装
   置側及び／又は前記多層光ディスク側に記憶する波形補
   正手段とを備え、 記録時には、前記波形補正値を用いて前記記録データの
   波形補正を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装
   置。
2. 【請求項２】 光学的に可逆的に相変化する記録層を少
   なくとも１層有する多層光ディスクの前記記録層上に、
   記録すべき入力データをパルス幅変調した記録データで
   光変調して得た記録レーザ光を照射してマークを形成
   し、前記マーク上に再生レーザ光を照射して前記記録デ
   ータを再生する光ピックアップ手段と、 前記入力データを第１の記憶量に達するまで書き込み、
   かつ書き込まれた前記入力データを前記第１の記憶量よ
   り低い第２の記憶量に達するまで書込み速度とは異なる
   読出し速度で読み出して、前記光ピックアップ手段に供
   給する一時記憶手段と、 前記多層光ディスクの各層上にそれぞれ、記録レーザ光
   又は再生レーザ光を合焦して照射するように、前記光ピ
   ックアップ手段をフォーカスジャンプ制御する光ピック
   アップ制御手段と、 前記一時記憶手段から前記入力データが読み出されてい
   る期間中でかつ前記光ピックアップ手段が記録、再生、
   シークの各動作を行っていない空き時間内に、前記記録
   層に対して記録テストを行い、このテスト結果に基づい
   て前記記録データのパルス波形を補正する波形補正値を
   装置側及び／又は前記多層光ディスク側に記憶する波形
   補正手段とを備え、 記録時には、前記波形補正値を用いて前記記録データの
   波形補正を行うことを特徴とする光ディスク記録再生装
   置。
3. 【請求項３】 前記多層光ディスクから読み出したディ
   スク固有識別情報を、前記波形補正値と共に記録するこ
   とを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディス
   ク記録再生装置。
4. 【請求項４】 前記ディスク固有識別情報及び前記波形
   補正値を再生することを特徴とする請求項３に記載の光
   ディスク記録再生装置。
5. 【請求項５】 前記記録テストの際に用いられるテスト
   信号は、このテスト信号を記録再生した場合にジッタが
   悪化する傾向を示す特定の信号列の所定数の繰り返し信
   号からなることを特徴とする請求項１乃至請求項４のい
   ずれかに記載の光ディスク記録再生装置。
6. 【請求項６】 前記テスト信号の特定の信号列の繰り返
   しは、少なくとも記録波長の内最短波長を含むことを特
   徴とする請求項５記載の光ディスク記録再生装置。
7. 【請求項７】 前記波形補正値の品質を評価する手段
   は、 前記波形補正値を再生した信号のジッタ値を測定する測
   定手段と、 前記測定手段で測定したジッタ値が所定値以内かどうか
   を判断する判断手段と、 前記判断手段で判断した判断結果が前記所定値内の場合
   には、その記録パラメータを前記テスト信号の記録時に
   用いるように、前記テスト信号を格納する記録パラメー
   タ設定手段と、 前記判断手段で判断した判断結果が前記所定値外の場合
   には、記録のパラメータを変更して、前記テスト信号の
   品質評価を再度行う品質再評価手段とからなることを特
   徴とする請求項１乃至請求項７のいずれかに記載の光デ
   ィスク記録再生装置。
8. 【請求項８】 前記品質再評価手段で行った品質再評価
   の回数を計数する係数手段と、 前記係数手段の計数値が規定の所定値を越えた場合に
   は、前記テスト信号の書き込みを禁止する禁止手段とを
   更に備えたことを特徴とする請求項７記載の光ディスク
   記録再生装置。
9. 【請求項９】 最適な前記波形補正値を得たときの装置
   側の基準温度を測定する温度測定手段と、 前記温度測定手段で測定した前記基準温度からの温度変
   化に応じて、前記波形補正値を変更する温度変更手段を
   更に備えたことを特徴とする請求項１乃至請求項８のい
   ずれかに記載の光ディスク記録再生装置。
10. 【請求項１０】 前記記録データをオーバーライトした
    記録回数を管理する記録回数管理手段と、 前記記録回数管理手段で計数した記録回数に応じて、前
    記波形補正値を変更する回数変更手段を更に備えたこと
    を特徴とする請求項１乃至請求項９のいずれかに記載の
    光ディスク記録再生装置。
11. 【請求項１１】 前記記録テストを行う記録層は、現在
    記録又は再生を行っている層とは異なる層であることを
    特徴とする請求項１乃至請求項１０のいずれかに記載の
    光ディスク記録再生装置。
12. 【請求項１２】 前記記録テストを行う記録層の記録領
    域は、現在記録又は再生を行っている領域に最も近い空
    き領域であることを特徴とする請求項１乃至請求項１０
    のいずれかに記載の光ディスク記録再生装置。
13. 【請求項１３】 前記記録テストを行う記録層の記録領
    域は、現在記録又は再生を行っている領域に最も近くか
    つ現在記録又は再生を行っている層とは異なる層の空き
    領域であることを特徴とする請求項１乃至請求項１０の
    いずれかに記載の光ディスク記録再生装置。
14. 【請求項１４】 請求項１乃至請求項１３のいずれかに
    記載の光ディスク記録再生装置で記録再生可能であり、
    光学的に可逆的に相変化する記録層を少なくとも１層有
    する多層光ディスクであって、 前記記録層に対して行った記録テストの結果に基づい
    て、前記記録データのパルス波形を補正する波形補正値
    を記録するテスト記録領域を備えたことを特徴とする光
    ディスク。
15. 【請求項１５】 前記テスト記録領域は、リードイン領
    域内に設けられ、全ての前記記録層の前記波形補正値を
    記録することを特徴とする請求項１４に記載の光ディス
    ク。