JP2002092902A - 光ピックアップの光記録再生回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品点数、回路構成を簡素化し、複数の異な
るフォーマットの光ディスクに対応する光ピックアップ
の光記録再生回路を提供する。 【解決手段】 光発生器１０１から出射されたレーザ光
は、ビームスプリッタ１０３で透過光と反射光に一定の
割合に分けられ、このうちの透過光が結像レンズ１０に
よって光ディスク１１上に結像する。その反射光はビー
ムスプリッタ１０３まで同一光路を戻る。ビームスプリ
ッタ１０３に到達した光ディスク１１からの反射光はこ
こで透過光と反射光が一定の割合に分けられる。このう
ちの反射光が光検出器１０２に入射する。光検出器１０
２では光ディスク１１からの反射光の光発生器１０１の
複数のレーザダイオード毎に異なる入射位置に対応して
フォトダイオードが配置される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ピックアップの
光記録再生回路に関し、再生する光ディスクのフォーマ
ットに応じてフォトダイオードの組み合わせを変更する
光ピックアップの光記録再生回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクは、フロッピディスクよりも
記録容量が大きく、ハードディスクよりも携帯性が高い
ことから、広い範囲で用いられており、光ディスクに関
する発明も多数考案されており、光ピックアップの光記
録再生回路もその１つである。

【０００３】光ピックアップの光記録再生回路では、複
数のフォトダイオードからなる光検出器の出力を、それ
ぞれ個別にＩ−Ｖ変換、および増幅した後に信号の検出
方法に合わせてフォトダイオードの出力を演算してＲＦ
（Radio Frequency ）信号、トラッキングエラー信号、
フォーカスエラー信号を検出する。このためフォトダイ
オードおよびＩ−Ｖ変換器以降の回路構成はそれぞれの
信号の検出方法を満足するように配置および構成され
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光ピッ
クアップの光記録再生回路では、再生する光ディスクの
フォーマットが異なると、光学系の構成や要求される検
出精度等が対応していないため、記録内容が読み出せな
いという問題が存在した。

【０００５】上記のような問題を解決するために考えら
れる方法としては、光学系の構成や要求される検出精度
等によって信号の検出方法を変えることが考えられる
が、このような場合、回路構成が複雑になり、装置の大
型化及びコストの増大を招くという問題を有している。

【０００６】従って、本発明は上記問題点に鑑みてなさ
れたものであり、光学系の構成や要求される検出精度等
によって信号の検出方法を変え、更に、再生する光ディ
スクのフォーマット毎に信号の演算に使用するフォトダ
イオードの組み合わせおよびＩ−Ｖ変換器以降の回路構
成を変更することで、部品点数、回路構成を簡素化し、
複数の異なるフォーマットの光ディスクに対応する光ピ
ックアップの光記録再生回路を提供することを目的とす
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、複数の異なるフォーマット
の光ディスクに対応するための複数の光発生器と、複数
のフォトダイオードからなる光検出器と、光検出器の発
生する電流を電圧に変換する複数のＩ−Ｖ変換器と、Ｉ
−Ｖ変換器の出力を増幅する増幅器と、増幅器の出力を
加算、減算、および加減算してＲＦ信号、トラッキング
エラー信号、およびフォーカスエラー信号とする複数の
加減算器と、を有し、光検出器への光ディスクからの反
射光が入射する位置が複数の光発生器で異なり、光検出
器が、光ディスクからの反射光の入射位置毎に１組ずつ
配置され、それぞれのフォトダイオードの出力を差動増
幅し、ＲＦ信号、トラッキングエラー信号、およびフォ
ーカスエラー信号の少なくとも１つ以上について、再生
する光ディスクのフォーマットに応じて信号の演算に使
用するフォトダイオードの組み合わせおよびＩ−Ｖ変換
器以降の回路構成を変更することを特徴とする。

【０００８】従って、請求項１記載の発明は、再生する
光ディスクのフォーマットに応じて信号の演算に使用す
るフォトダイオードの組み合わせおよびＩ−Ｖ変換器以
降の回路構成を変更することによって、部品点数および
回路構成を簡素化した複数の異なるフォーマットの光デ
ィスクに対応することが可能となる。

【０００９】また、請求項２記載の発明によれば、請求
項１記載の光ピックアップの光記録再生回路において、
再生する光ディスクのフォーマットに応じたフォトダイ
オードの組み合わせの変更に連動してＩ−Ｖ変換器のＩ
／Ｖ変換効率を変更することを特徴とする。

【００１０】従って、請求項２記載の発明によれば、再
生する光ディスクのフォーマットに応じたフォトダイオ
ードの組み合わせの変更に連動してＩ−Ｖ変換器のＩ／
Ｖ変換効率を変更することによって、フォトダイオード
の入射光の波長による感度の変化やフォーマット毎の光
ディスクの反射率の変化によって発生する信号のダイナ
ミックレンジの差を解消することが可能となる。

【００１１】また、請求項３記載の発明によれば、請求
項１記載の光ピックアップの光記録再生回路において、
再生する光ディスクのフォーマットに応じたフォトダイ
オードの組み合わせの変更に連動して増幅器の増幅率を
変更することを特徴とする。

【００１２】従って、請求項３記載の発明によれば、再
生する光ディスクのフォーマットに応じたフォトダイオ
ードの組み合わせの変更に連動して増幅器の増幅率を変
更することによって、フォトダイオードの入射光の波長
による感度の変化やフォーマット毎の光ディスクの反射
率の変化によって発生する信号のダイナミックレンジの
差を解消することが可能となる。

【００１３】また、請求項４記載の発明によれば、請求
項１から３のいずれか１項に記載の光ピックアップの光
記録再生回路において、光検出器とＩ−Ｖ変換器以降の
少なくとも１つ以上の機能を同一半導体基板上または同
一半導体パッケージ内に形成することを特徴とする。

【００１４】従って、請求項４記載の発明によれば、光
検出器とＩ−Ｖ変換器以降の少なくとも１つ以上の機能
を同一半導体基板上または同一半導体パッケージ内に形
成することによって、回路の実装面積を削減することが
可能となる。

【００１５】また、請求項５記載の発明によれば、請求
項１から４のいずれか１項に記載の光ピックアップの光
記録再生回路において、少なくとも１つの光発生器を同
一パッケージ内に集積することを特徴とする。

【００１６】従って、請求項５記載の発明によれば、少
なくとも１つの光発生器を同一パッケージ内に集積する
ことによって、回路の実装面積を削減することが可能と
なる。

【００１７】

【発明の実施の形態】本発明の一実施形態における光ピ
ックアップの光記録検出回路をトラッキングエラー信号
の検出にプッシュプル法とＤＰＤ（Differential Phase
Detection）法を用いた場合で説明する。

【００１８】図１は、本発明の一実施形態による光ピッ
クアップの光記録再生回路における光学系部位の構成を
示す図である。以下、図１を用いて、本実施形態におけ
る光学系部位を構成する各機器の機能について説明す
る。

【００１９】本実施形態による光ピックアップの光記録
再生回路における光学系部位は、光発生器１０１と、光
検出器１０２と、ビームスプリッタ１０３と、結像レン
ズ１０と、光ディスク１１と、を有する。

【００２０】結像レンズ１０は、光を所定の位置に結像
させるレンズである。また、光ディスク１１は、データ
の読み書きにレーザ光を利用する記録媒体であり、具体
的には、ＣＤやＤＶＤなどがこれにあたる。

【００２１】光発生器１０１は、複数のレーザダイオー
ドをそれぞれの出射光が結像レンズ１０の視野内に入る
ように近接して実装する。１０２は光検出器、１０３は
ビームスプリッタである。

【００２２】図１で光発生器１０１から出射されたレー
ザ光は、ここでは省略されるコリメートレンズ、偏光板
等の光学系を通りビームスプリッタ１０３に到達する。
光発生器１０１から出射されたレーザ光はビームスプリ
ッタ１０３で透過光と反射光に一定の割合に分けられ
る。このうちの透過光が結像レンズ１０によって光ディ
スク１１上に結像する。

【００２３】その反射光はビームスプリッタ１０３まで
同一光路を戻る。ビームスプリッタ１０３に到達した光
ディスク１１からの反射光はここで透過光と反射光が一
定の割合に分けられる。このうちの反射光が光検出器１
０２に入射する。光検出器１０２では光ディスク１１か
らの反射光の光発生器１０１の複数のレーザダイオード
毎に異なる入射位置に対応してフォトダイオードが配置
される。

【００２４】図２は、本発明の一実施形態における光ピ
ックアップの光記録再生回路が有する光発生器１０１の
構成を示す図である。（ア）は、光発生器１０１の上面
図であり、（イ）は、上面図におけるａ−ａ’面の断面
図である。

【００２５】光発生器１０１は、少なくとも半導体基板
１と、レーザダイオード９Ａ、９Ｂと、を有する。な
お、図２は以後の説明する為のもので本発明における有
効な光発生器の構成を限定するものでは無く、レーザダ
イオード９Ａ、９Ｂの出力制御用のフォトダイオードや
電極等は図示していない。

【００２６】図３は、本発明の一実施形態の光ピックア
ップの光記録再生回路における光検出器２を含む構成を
示す図である。光検出器２は、半導体基板１上に形成さ
れ、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄ
を有する。

【００２７】ここで、フォトダイオード２１Ａ〜２1 Ｄ
の組はレーザダイオード９Ａから出射され光ディスクで
反射された光を受光し、レーザダイオード９Ｂから出射
され光ディスクで反射された光を受光しないように配置
される。フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄの組はレーザ
ダイオード９Ｂから出射され光ディスクで反射された光
を受光し、レーザダイオード９Ａから出射され光ディス
クで反射された光を受光しないように配置される。

【００２８】なお、図３も以後の説明のためのもので本
発明で有効なフォトダイオードの配置を限定するもので
はない。また、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２
Ａ〜２２Ｄの組はそれぞれ、レーザダイオード９Ｂから
出射され光ディスクで反射された光、レーザダイオード
９Ａから出射され光ディスクで反射された光を受光しな
いように配置する代わりに、その上部にそれぞれ入射を
防ぎたいレーザダイオード９Ａ、９Ｂの波長の光を阻止
する手段（例えばフィルタ）をつけるようにしてもよ
い。

【００２９】図４は、本発明の一実施形態における光学
系で光発生器１０１と、光検出器２を使用した光ピック
アップの光記録再生回路の第１の構成を示す図である。
光記録再生回路は、少なくとも加算器４Ａ、４Ｂと、差
動増幅器６Ａ〜６Ｄ、６１と、スイッチ７と、フォトダ
イオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄと、Ｉ−Ｖ変
換器３１Ａ〜３１Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄと、を有し、スイ
ッチ７は、入力端子ＩＮ１、ＩＮ２と、出力端子ＯＵＴ
１、ＯＵＴ２と、を有する。

【００３０】図４の構成において、フォトダイオード２
１Ａ〜２1 Ｄは、レーザダイオード９Ａから出射された
後、光ディスク１１で反射された光を受光し、レーザダ
イオード９Ｂから出射された後、光ディスク１１で反射
された光に関しては受光しない。

【００３１】フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄは、レー
ザダイオード９Ｂから出射され光ディスク１１で反射さ
れた光を受光し、レーザダイオード９Ａから出射され光
ディスク１１で反射された光に関しては、受光しない。

【００３２】フォトダイオード３１Ａ〜３１Ｄ、差動増
幅器６Ａ〜６Ｄは、光ディスク１１からの反射光が入射
するフォトダイオードの出力と光ディスク１１からの反
射光が入射しないフォトダイオードの出力を差動増幅
し、光ディスク１１からの反射光が入射するフォトダイ
オードの出力に含まれているノイズを低減する。

【００３３】差動増幅器６１は、トラッキングエラー信
号を生成し、低電圧源５は、フォトダイオード２１Ａ〜
２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄに逆バイアスをかける。

【００３４】スイッチ７は、加算器４Ａ、４Ｂで加算を
行う差動増幅器６１の出力をフォトダイオード２１Ａ〜
２１Ｄの出力からトラッキングエラー信号を作成する場
合と、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄの出力からトラ
ッキングエラー信号を作成する場合と、で切り換える。

【００３５】図６は、本発明の一実施形態における光ピ
ックアップの光記録再生回路のスイッチ７の接続パター
ンを示す図である。以下、図６の（ア）および（イ）を
用いて、スイッチ７によるトラッキングエラー信号の作
成について説明する。

【００３６】図６の（ア）のように、フォトダイオード
２１Ａ〜２１Ｄの出力からトラッキングエラー信号を作
成する場合は、入力端子ＩＮ１が出力端子ＯＵＴ１、入
力端子ＩＮ２が出力端子出力端子ＯＵＴ２に接続され
る。

【００３７】また、図６の（イ）のように、フォトダイ
オード２２Ａ〜２２Ｄの出力からトラッキングエラー信
号を作成する場合は、入力端子ＩＮ２が出力端子ＯＵＴ
１、入力端子ＩＮ１が出力端子ＯＵＴ２に接続される。

【００３８】なお、トラッキングエラー信号の生成はフ
ォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄで受光する場合はプッシ
ュプル法とし、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄで受光
する場合はＤＰＤ法を使用するものとする。

【００３９】図４でフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、
２２Ａ〜２２ＤのアノードはそれぞれＩ−Ｖ変換器３１
Ａ〜３１Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄの入力に接続され、フォト
ダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄのカソード
は定電圧源５に接続される。ここで、定電圧源５の電圧
はフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄが
逆バイアスとなるようにする。

【００４０】Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄの出力は差動
増幅器６Ａ〜６Ｄの非反転入力に、Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ
〜３２Ｄの出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの反転入力に接
続される。

【００４１】そして、差動増幅器６Ａの出力は加算器４
Ａの入力に接続され、差動増幅器６Ｄの出力は加算器４
Ｂの入力に接続される。差動増幅器６Ｂの出力はスイッ
チ７の一方の入力端子ＩＮ１に、差動増幅器６Ｃの出力
はスイッチ７のもう一方の入力端子ＩＮ２に接続され、
スイッチ７の出力端子ＯＵＴ１は加算器４Ａの入力に、
出力端子ＯＵＴ２は加算器４Ｂの入力に接続される。さ
らに加算器４Ａの出力は差動増幅器６１の非反転入力
に、加算器４Ｂの出力は差動増幅器６１の反転入力に接
続される。

【００４２】次に、図４の回路でトラッキングエラー信
号の検出動作を説明する。レーザダイオード９Ａに対応
する光ディスクに記録された信号を再生する場合、フォ
トダイオード２１Ａ〜２１Ｄには光発生器１０１のレー
ザダイオード９Ａから出射され光ディスクで反射された
光が入射するので、その入射光量に応じてカソードから
アノードに流れる電流の大きさが変化する。

【００４３】一方、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄに
は光ディスクの反射光が入射しないので、光ディスクか
らの反射光に対応してカソードからアノードに流れる電
流の大きさは変化しないが、定電圧源５の変動によるノ
イズ、寄生容量や電磁誘導によって配線に入る光発生器
１０１のレーザダイオードの戻り光対策の高周波重畳回
路やデジタル回路などからのノイズ、そして、フォトダ
イオード自身の発生するノイズによる電流はフォトダイ
オード２１Ａ〜２１Ｄと同様に流れる。

【００４４】図５は、本発明の一実施形態における光ピ
ックアップの光記録再生回路のＩ−Ｖ変換器による出力
電圧を示す図である。以下、図５を用いて、本実施形態
におけるＩ−Ｖ変換器による出力電圧の変化について説
明する。

【００４５】フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ
〜２２Ｄに流れる電流の変化はＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３
１Ｄ、３２Ａ〜３２ＤでＩ−Ｖ変換が行われ、フォトダ
イオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄに流れる電流
の大きさの変化に対応してＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１
Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄの出力電圧が変化する。

【００４６】Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄでは光ディス
ク１１からの反射光とノイズに対応して出力電圧が変化
し（図５（ア））、Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄではノ
イズに対応して出力電圧が変化する（図５（イ））。

【００４７】また、Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄ、３２
Ａ〜３２Ｄの出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの入力に接続
される。差動増幅器６Ａ〜６ＤではＩ−Ｖ変換器３１Ａ
〜３１Ｄの出力とＩ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄの出力の
間でそれぞれ差動増幅が行われるのでＩ−Ｖ変換器３１
Ａ〜３１Ｄのそれぞれの出力の光ディスク１１からの反
射光はそのまま増幅されて出力されるが、ノイズはＩ−
Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄのそれぞれの出力のノイズと相
殺されるので、その出力にはノイズの重畳しない光ディ
スク１１からの反射光だけが出力される（図５
（ウ））。

【００４８】ここで、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ
で受光する場合はトラッキングエラー信号をプッシュプ
ル法で生成する。プッシュプル法ではトラック方向に沿
って左右に２分割したフォトダイオードの出力差からト
ラッキングエラー信号を生成するので、この場合はフォ
トダイオード２１Ａ、２１Ｂとフォトダイオード２１
Ｃ、２１Ｄの出力差を求めればよい。

【００４９】フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄの出力か
らトラッキングエラー信号を作成するときスイッチ７２
は入力端子ＩＮ１が出力端子ＯＵＴ１に接続され、入力
端子ＩＮ２が出力端子ＯＵＴ２に接続されるので差動増
幅器６Ｂの出力は加算器４Ａの入力に、差動増幅器６Ｃ
の出力は加算器４Ｂの入力に接続される。

【００５０】この為、加算器４Ａでは差動増幅器６Ａ、
６Ｂの出力を加算し、加算器４Ｂでは差動増幅器６Ｃ、
６Ｄの出力を加算することになり、次に差動増幅器６１
では加算器４Ａの出力と加算器４Ｂの出力を差動増幅す
る。

【００５１】ここで、差動増幅器６Ａの出力は元をたど
ると、フォトダイオード２１Ａの出力、差動増幅器６Ｂ
の出力は元をたどるとフォトダイオード２１Ｂの出力、
差動増幅器６Ｃの出力は元をたどるとフォトダイオード
２１Ｃの出力、差動増幅器６Ｄの出力は元をたどるとフ
ォトダイオード２１Ｄの出力であるので、加算器４Ａの
出力はフォトダイオード２１Ａ、２１Ｂの和、加算器４
Ｂの出力はフォトダイオード２１Ｃ、２１Ｄの和とな
り、差動増幅器６１の出力はフォトダイオード２１Ａ、
２１Ｂとフォトダイオード２１Ｃ、２１Ｄの出力差とな
りトラッキングエラー信号を得る。

【００５２】これに対してレーザダイオード９Ｂに対応
する光ディスク１１に記録された信号を再生する場合、
フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄには光発生器１０１の
レーザダイオード９Ｂから出射され光ディスク１１で反
射された光が入射するので、その入射光量に応じてカソ
ードからアノードに流れる電流の大きさが変化する。

【００５３】一方、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄに
は光ディスク１１の反射光が入射しないので、光ディス
ク１１からの反射光に対応してカソードからアノードに
流れる電流の大きさは変化しないが、定電圧源５の変動
によるノイズ、寄生容量や電磁誘導によって配線に入る
光発生器１０１のレーザダイオードの戻り光対策の高周
波重畳回路やデジタル回路などからのノイズ、そして、
フォトダイオード自身の発生するノイズによる電流はフ
ォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄと同様に流れる。

【００５４】そして、フォトダイオード２２Ａ〜２２
Ｄ、２１Ａ〜２１Ｄに流れる電流の変化はＩ−Ｖ変換器
３２Ａ〜３２Ｄ、３１Ａ〜３１ＤでＩ−Ｖ変換が行わ
れ、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄ、２１Ａ〜２１Ｄ
に流れる電流の大きさの変化に対応してＩ−Ｖ変換器３
２Ａ〜３２Ｄ、３１Ａ〜３１Ｄの出力電圧が変化する。

【００５５】Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄでは光ディス
ク１１からの反射光とノイズに対応して出力電圧が変化
し（図５（ア））、Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄではノ
イズに対応して出力電圧が変化する（図５（イ））。

【００５６】そして、Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄ、３
１Ａ〜３１Ｄの出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの入力に接
続される。差動増幅器６Ａ〜６ＤではＩ−Ｖ変換器３２
Ａ〜３２Ｄの出力とＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄの出力
の間でそれぞれ差動増幅が行われるのでＩ−Ｖ変換器３
２Ａ〜３２Ｄのそれぞれの出力の光ディスク１１からの
反射光はそのまま増幅されて出力される。

【００５７】一方、ノイズはＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１
Ｄのそれぞれの出力のノイズと相殺されるので、差動増
幅器６Ａ〜６Ｄの出力にはノイズの重畳しない光ディス
ク１１からの反射光だけが出力される（図５（エ）：Ｉ
−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄの出力が差動増幅器６Ａ〜６
Ｄの反転入力に接続されるので出力の極性が反転してい
る）。

【００５８】ここで、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄ
で受光する場合はトラッキングエラー信号をＤＰＤ法で
生成する。ＤＰＤ法では４分割（その一方はトラック方
向に沿うようにする）したフォトダイオードの対角線差
信号からトラッキングエラー信号を生成するので、この
場合はフォトダイオード２２Ａ、２２Ｃとフォトダイオ
ード２２Ｂ、２２Ｄの出力差を求めれば良い。

【００５９】フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄの出力か
らトラッキングエラー信号を作成するときスイッチ７２
は入力端子ＩＮ２が出力端子ＯＵＴ１に接続され、入力
端子ＩＮ１が出力端子ＯＵＴ２に接続されるので差動増
幅器６Ｂの出力は加算器４Ｂの入力に、差動増幅器６Ｃ
の出力は加算器４Ａの入力に接続される。

【００６０】この為、加算器４Ａでは差動増幅器６Ａ、
６Ｃの出力を加算し、加算器４Ｂでは差動増幅器６Ｂ、
６Ｄの出力を加算することになり、次に差動増幅器６１
で加算器４Ａの出力と加算器４Ｂの出力を差動増幅す
る。

【００６１】ここで、差動増幅器６Ａの出力は元をたど
るとフォトダイオード２２Ａの出力、差動増幅器６Ｃの
出力は元をたどるとフォトダイオード２２Ｃの出力、差
動増幅器６Ｂの出力は元をたどるとフォトダイオード２
２Ｂの出力、差動増幅器６Ｄの出力は元をたどるとフォ
トダイオード２２Ｄの出力であるので、加算器４Ａの出
力はフォトダイオード２２Ａ、２２Ｃの和、加算器４Ｂ
の出力はフォトダイオード２２Ｂ、２２Ｄの和となり、
差動増幅器６１の出力はフォトダイオード２２Ａ、２２
Ｃとフォトダイオード２２Ｂ、２２Ｄの出力差となりト
ラッキングエラー信号を得る。

【００６２】以降は図示しないが差動増幅器６１の出力
はフレキシブルケーブル等の配線でメイン基板のアナロ
グフロントエンドに入力され、増幅とフォトダイオード
２１Ａ〜２１Ｄで受光する場合とフォトダイオード２２
Ａ〜２２Ｄで受光する場合での極性の統一を含む波形整
形がなされた後に二値化してデジタルデータとされてト
ラッキングサーボの処理が行われる。

【００６３】ここで、図４では、フォトダイオード２１
Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄのカソードが共通になる構
成としているが、アノードが共通になる構成としても良
く、この場合は図４とは逆にフォトダイオード２１Ａ〜
２１Ｄ、２２Ａ〜２２ＤのカソードはそれぞれＩ−Ｖ変
換器３１Ａ〜３１Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄの入力に接続さ
れ、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄ
のアノードは定電圧源５に接続される。この場合も、定
電圧源５の電圧はフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２
２Ａ〜２２Ｄが逆バイアスとなるようにする。

【００６４】また、差動増幅器６Ａ〜６Ｄ、６１の入力
の極性は後段の構成で極性が合うようにすれば図４の構
成の限りではない。さらに、場合によっては加算器４
Ａ、４Ｂで加算と同時に増幅を行ってもよい。

【００６５】本発明の一実施形態における光学系で光発
生器１０１と、光検出器２を使用した光ピックアップの
光記録再生回路の第２の構成を示す図である。図７の構
成は、図４における第１の構成がフォトダイオードの出
力をＩ−Ｖ変換し、差動増幅した後に演算に使用する信
号の切り換えを行っていたのに対し、Ｉ−Ｖ変換前に信
号の切り換えを行うようにしたものである。

【００６６】本実施形態において、光ピックアップの光
記録再生回路は、少なくとも加算器４Ａ、４Ｂと、差動
増幅器６Ａ〜６Ｄ、６１と、スイッチ７１、７２と、フ
ォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄと、Ｉ
−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄと、を有
し、スイッチ７１、７２は、それぞれ入力端子ＩＮ１、
ＩＮ２と、出力端子ＯＵＴ１、ＯＵＴ２と、を有する。

【００６７】図７で、フォトダイオード２１Ａ〜２1 Ｄ
は、レーザダイオード９Ａから出射され光ディスク１１
で反射された光を受光し、レーザダイオード９Ｂから出
射され光ディスク１１で反射された光に関しては、受光
しない。

【００６８】フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄは、レー
ザダイオード９Ｂから出射され光ディスクで反射された
光を受光し、レーザダイオード９Ａから出射され光ディ
スクで反射された光に関しては受光しない。

【００６９】差動増幅器６Ａ〜６Ｄは、光ディスクから
の反射光が入射するフォトダイオードの出力と光ディス
クからの反射光が入射しないフォトダイオードの出力を
差動増幅して光ディスクからの反射光が入射するフォト
ダイオードの出力に含まれているノイズを低減する。

【００７０】差動増幅器６１は、トラッキングエラー信
号を生成し、低電圧源５は、フォトダイオード２１Ａ〜
２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄに逆バイアスをかける。

【００７１】スイッチ７１、７２は、フォトダイオード
２１Ａ〜２１Ｄの出力からトラッキングエラー信号を作
成するときと、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄの出力
からトラッキングエラー信号を作成するときでＩ−Ｖ変
換器に接続されるフォトダイオードの出力を変更する。

【００７２】スイッチ７１、７２の信号線の接続は図６
のようにフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄの出力からト
ラッキングエラー信号を作成するときは入力端子ＩＮ１
が出力端子ＯＵＴ１に、そして入力端子ＩＮ２が出力端
子ＯＵＴ２に接続され、フォトダイオード２２Ａ〜２２
Ｄの出力からトラッキングエラー信号を作成するときは
入力端子入力端子ＩＮ１が出力端子ＯＵＴ２に、そし
て、入力端子ＩＮ１が出力端子ＯＵＴ２に接続される。

【００７３】なお、トラッキングエラー信号の生成は第
１の構成と同様にフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄで受
光する場合はプッシュプル法とし、フォトダイオード２
２Ａ〜２２Ｄで受光する場合はＤＰＤ法を使用するもの
とする。

【００７４】図７でフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、
２２Ａ〜２２Ｄの共通のカソードは定電圧源５に接続さ
れる。フォトダイオード２１Ａ、２１ＤのアノードはＩ
−Ｖ変換器３１Ａ、３１Ｄの入力に接続され、フォトダ
イオード２２Ａ、２２ＤのアノードはＩ−Ｖ変換器３２
Ａ、３２Ｄの入力に接続される。

【００７５】フォトダイオード２１Ｂ、２１Ｃのアノー
ドはスイッチ７１の入力端子ＩＮ１、入力端子ＩＮ２
に、フォトダイオード２２Ｂ、２２Ｃのアノードはスイ
ッチ７２の入力端子ＩＮ１、入力端子ＩＮ２に接続され
る。さらに、スイッチ７１の出力端子ＯＵＴ１、出力端
子ＯＵＴ２はＩ−Ｖ変換器３１Ｂ、３１Ｃに接続され、
スイッチ７２の出力端子ＯＵＴ１、出力端子ＯＵＴ２は
Ｉ−Ｖ変換器３２Ｂ、３２Ｃに接続される。

【００７６】ここで、定電圧源５の電圧はフォトダイオ
ード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄが逆バイアスとな
るようにする。そして、Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄの
出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの非反転入力に、Ｉ−Ｖ変
換器３２Ａ〜３２Ｄの出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの非
反転入力に接続される。

【００７７】差動増幅器６Ａ、６Ｂの出力は加算器４Ａ
の入力に接続され、差動増幅器６Ｃ、６Ｄの出力は加算
器４Ｂの入力に接続される。さらに加算器４Ａの出力は
差動増幅器６１の非反転入力に、加算器４Ｂの出力は差
動増幅器６１の反転入力に接続される。

【００７８】次に図７の回路でトラッキングエラー信号
の検出動作を説明する。レーザダイオード９Ａに対応す
る光ディスク１１に記録された信号を再生する場合、フ
ォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄには光発生器１０１のレ
ーザダイオード９Ａから出射され光ディスク１１で反射
された光が入射するので、その入射光量に応じてカソー
ドからアノードに流れる電流の大きさが変化する。

【００７９】一方、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄに
は光ディスク１１の反射光が入射しないので、光ディス
ク１１からの反射光に対応してカソードからアノードに
流れる電流の大きさは変化しないが、定電圧源５の変動
によるノイズ、寄生容量や電磁誘導によって配線に入る
光発生器１０１のレーザダイオードの戻り光対策の高周
波重畳回路やデジタル回路などからのノイズ、そして、
フォトダイオード自身の発生するノイズによる電流はフ
ォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄと同様に流れる。

【００８０】また、フォトダイオード２１Ａ、２２Ａ、
２１Ｄ、２２Ｄに流れる電流の変化はＩ−Ｖ変換器３１
Ａ、３２Ａ、３１Ｄ、３２ＤでＩ−Ｖ変換が行われ、ま
たフォトダイオード２１Ｂ、２２Ｂに流れる電流の変化
はスイッチ７１、７２の入力端子ＩＮ１に入力して図６
のように出力端子ＯＵＴ１から出力されてＩ−Ｖ変換器
３１Ｂ、３２ＢでＩ−Ｖ変換が行われる。

【００８１】さらに、フォトダイオード２１Ｃ、２２Ｃ
に流れる電流の変化はスイッチ７１、７２の入力端子Ｉ
Ｎ２に入力して図６のように出力端子ＯＵＴ２から出力
されてＩ−Ｖ変換器３１Ｃ、３２ＣでＩ−Ｖ変換が行わ
れ、それぞれ接続されたフォトダイオードに流れる電流
の大きさの変化に対応してＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１
Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄの出力電圧が変化する。

【００８２】Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄでは光ディス
ク１１からの反射光とノイズに対応して出力電圧が変化
し（図５（ア））、Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄではノ
イズに対応して出力電圧が変化する（図５（イ））。

【００８３】また、Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄ、３２
Ａ〜３２Ｄの出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの入力に接続
される。差動増幅器６Ａ〜６ＤではＩ−Ｖ変換器３１Ａ
〜３１Ｄの出力とＩ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄの出力の
間で差動増幅が行われるのでＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１
Ｄのそれぞれの出力の光ディスク１１からの反射光はそ
のまま増幅されて出力されるが、ノイズはＩ−Ｖ変換器
３２Ａ〜３２Ｄのそれぞれの出力のノイズと相殺される
ので、その出力にはノイズの重畳しない光ディスク１１
からの反射光だけが出力される（図５（ウ））。

【００８４】ここで、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ
で受光する場合は、トラッキングエラー信号をプッシュ
プル法で生成する。プッシュプル法ではトラック方向に
沿って左右に２分割したフォトダイオードの出力差から
トラッキングエラー信号を生成するので、この場合はフ
ォトダイオード２１Ａ、２１Ｂとフォトダイオード２１
Ｃ、２１Ｄの出力差を求めればよい。

【００８５】フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄの出力か
らトラッキングエラー信号を作成する場合は、差動増幅
器６Ａの出力は元をたどるとフォトダイオード２１Ａの
出力、差動増幅器６Ｂの出力は元をたどるとフォトダイ
オード２１Ｂの出力、差動増幅器６Ｃの出力は元をたど
るとフォトダイオード２１Ｃの出力、差動増幅器６Ｄの
出力は元をたどるとフォトダイオード２１Ｄの出力であ
る。

【００８６】このため、差動増幅器６Ａの出力と差動増
幅器６Ｂの出力を加算する加算器４Ａではフォトダイオ
ード２１Ａの出力とフォトダイオード２１Ｂの出力を加
算し、差動増幅器６Ｃの出力と差動増幅器６Ｄの出力を
加算する加算器４Ｂではフォトダイオード２１Ｃの出力
とフォトダイオード２１Ｄの出力を加算することにな
り、次に差動増幅器６１では加算器４Ａの出力と加算器
４Ｂの出力を差動増幅するので、差動増幅器６１の出力
はフォトダイオード２１Ａ、２１Ｂとフォトダイオード
２１Ｃ、２１Ｄの出力差となりトラッキングエラー信号
を得る。

【００８７】これに対してレーザダイオード９Ｂに対応
する光ディスク１１に記録された信号を再生する場合、
フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄには光発生器１０１の
レーザダイオード９Ｂから出射され光ディスク１１で反
射された光が入射するので、その入射光量に応じてカソ
ードからアノードに流れる電流の大きさが変化する。

【００８８】一方、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄに
は光ディスク１１の反射光が入射しないので、光ディス
ク１１からの反射光に対応してカソードからアノードに
流れる電流の大きさは変化しないが、定電圧源５の変動
によるノイズ、寄生容量や電磁誘導によって配線に入る
光発生器１０１のレーザダイオードの戻り光対策の高周
波重畳回路やデジタル回路などからのノイズ、そして、
フォトダイオード自身の発生するノイズによる電流はフ
ォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄと同様に流れる。

【００８９】また、フォトダイオード２１Ａ、２２Ａ、
２１Ｄ、２２Ｄに流れる電流の変化はＩ−Ｖ変換器３１
Ａ、３２Ａ、３１Ｄ、３２ＤでＩ−Ｖ変換が行われ、ま
たフォトダイオード２１Ｂ、２２Ｂに流れる電流の変化
はスイッチ７１、７２の入力端子入力端子ＩＮ１に入力
して図６のように出力端子ＯＵＴ２から出力されてＩ−
Ｖ変換器３１Ｃ、３２ＣでＩ−Ｖ変換が行われる。

【００９０】さらに、フォトダイオード２１Ｃ、２２Ｃ
に流れる電流の変化はスイッチ７１、７２の入力端子Ｉ
Ｎ２に入力して図６のように出力端子ＯＵＴ１から出力
されてＩ−Ｖ変換器３１Ｂ、３２ＢでＩ−Ｖ変換が行わ
れ、それぞれ接続されたフォトダイオードに流れる電流
の大きさの変化に対応してＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１
Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄの出力電圧が変化する。

【００９１】Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄでは光ディス
ク１１からの反射光とノイズに対応して出力電圧が変化
し（図５（ア））、Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄではノ
イズに対応して出力電圧が変化する（図５（イ））。

【００９２】また、Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄ、３１
Ａ〜３１Ｄの出力は差動増幅器６Ａ〜６Ｄの入力に接続
される。差動増幅器６Ａ〜６ＤではＩ−Ｖ変換器３２Ａ
〜３２Ｄの出力とＩ−Ｖ変換器３１Ａ〜３１Ｄの出力の
間で差動増幅が行われるのでＩ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２
Ｄのそれぞれの出力の光ディスク１１からの反射光はそ
のまま増幅されて出力される。

【００９３】一方、ノイズは、Ｉ−Ｖ変換器３１Ａ〜３
１Ｄのそれぞれの出力のノイズと相殺されるので、差動
増幅器６Ａ〜６Ｄの出力にはノイズの重畳しない光ディ
スク１１からの反射光だけが出力される（図５
（エ））。また、Ｉ−Ｖ変換器３２Ａ〜３２Ｄの出力が
差動増幅器６Ａ〜６Ｄの反転入力に接続されるので出力
の極性が反転している。

【００９４】ここで、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄ
で受光する場合はトラッキングエラー信号をＤＰＤ法で
生成する。ＤＰＤ法では４分割（その一方はトラック方
向に沿うようにする）したフォトダイオードの対角線差
信号からトラッキングエラー信号を生成するので、この
場合はフォトダイオード２２Ａ、２２Ｃとフォトダイオ
ード２２Ｂ、２２Ｄの出力差を求めればよい。

【００９５】フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄの出力か
らトラッキングエラー信号を作成する場合は、差動増幅
器６Ａの出力は元をたどるとフォトダイオード２２Ａの
出力、差動増幅器６Ｂの出力は元をたどるとフォトダイ
オード２２Ｃの出力、差動増幅器６Ｃの出力は元をたど
るとフォトダイオード２２Ｂの出力、差動増幅器６Ｄの
出力は元をたどるとフォトダイオード２２Ｄの出力であ
る。

【００９６】このため、差動増幅器６Ａの出力と差動増
幅器６Ｂの出力を加算する加算器４Ａではフォトダイオ
ード２２Ａの出力とフォトダイオード２２Ｃの出力を加
算し、差動増幅器６Ｃの出力と差動増幅器６Ｄの出力を
加算する加算器４Ｂではフォトダイオード２２Ｂの出力
とフォトダイオード２２Ｄの出力を加算することにな
り、次に差動増幅器６１では加算器４Ａの出力と加算器
４Ｂの出力を差動増幅するので、差動増幅器６１の出力
はフォトダイオード２２Ａ、２２Ｃとフォトダイオード
２２Ｂ、２２Ｄの出力差となりトラッキングエラー信号
を得る。

【００９７】以降は図示しないが差動増幅器６１の出力
はフレキシブルケーブル等の配線でメイン基板のアナロ
グフロントエンドに入力され、増幅とフォトダイオード
２１Ａ〜２１Ｄで受光する場合とフォトダイオード２２
Ａ〜２２Ｄで受光する場合での極性の統一を含む波形整
形がなされた後に二値化してデジタルデータとされてト
ラッキングサーボの処理が行われる。

【００９８】図７は、本発明の一実施形態における光学
系で光発生器と、光検出器を使用した光ピックアップの
光記録再生回路の第２の構成を示す図である。なお、フ
ォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄの極
性、差動増幅器６Ａ〜６Ｄ、６１の入力の極性も第１の
構成と同様に図７の限りではない。また、場合によって
は加算器４Ａ、４Ｂで加算と同時に増幅を行っても良い
のも第１構成と同様である。

【００９９】以上、本発明の実施形態について構成を上
げて説明を行ったが、スイッチで信号を切り換えるよう
なものの位置は上述のものに限らない。また、複数の異
なるフォーマットの光ディスクで光源のレーザダイオー
ドの発光波長が異なる場合、一般にフォトダイオードは
入射する光の波長によって感度が変化し、また、光ディ
スクの反射率が異なる場合が考えられる。

【０１００】以上のような場合、フォトダイオードの出
力の大きさが光ディスク毎に変化するので得られるトラ
ッキングエラー信号のダイナミックレンジが光ディスク
毎に変化するという問題が起こる。

【０１０１】この場合は光ディスクの変更の際にフォト
ダイオードの組み合わせの変更に連動して、Ｉ−Ｖ変換
器のＩ／Ｖ変換効率の変更、増幅器の増幅率の変更のい
ずれか、または両者を同時に行うことで最終的に得られ
るトラッキングエラー信号のダイナミックレンジを統一
できる。

【０１０２】さらに、近年、光ピックアップではサイズ
縮小、コスト削減等の目的で構成部品の機能の集積化が
行われており、これは光記録再生回路についても行われ
て、光検出器とＩ−Ｖ変換器さらには加算器までを同一
半導体基板上または同一半導体パッケージに集積化した
もの、これらに加えて光発生器も同一半導体基板上また
は同一半導体パッケージに集積化したものが使用され始
めている。

【０１０３】そして、本発明の光ピックアップでの光記
録再生回路でも同様に集積化を行うことが可能である。
図８は、本発明の一実施形態における光ピックアップの
光記録再生回路の第１の構成を同一半導体基板上に集積
したものを示す図である。

【０１０４】図８の構成において、光ピックアップの光
記録再生回路は、半導体基板１と、光検出器２と、Ｉ−
Ｖ変換器と、加算器４と、差動増幅器６と、フォトダイ
オード２１Ａ〜２１Ｄと、を有する。

【０１０５】図９は、本発明の一実施形態において、光
発生器と光検出器とＩ−Ｖ変換器と加減算器を同一半導
体パッケージに集積した光ピックアップの光記録再生回
路を示す図であり、（ア）は上面図、（イ）は（ア）の
ｂ−ｂ’における断面図である。また、図９の構成で
は、ホログラム光学素子を使用して、光発生器からの射
出光と光発生器への入射光との光路が分離されている。

【０１０６】図９の構成において、光ピックアップの光
記録再生回路は、半導体基板１と、光検出器２と、Ｉ−
Ｖ変換器３と、加算器４と、差動増幅器６と、ミラー８
と、レーザダイオード９Ａ、９Ｂと、フォトダイオード
２１Ａ〜２１Ｄ、２２Ａ〜２２Ｄと、を有する。

【０１０７】光検出器２とＩ−Ｖ変換器３、差動増幅器
６、加算器４は半導体基板１上に半導体プロセスによっ
て形成され、レーザダイオード９Ａ、９Ｂとミラー８
は、半導体基板１上に実装されている。なお、レーザダ
イオード９Ａ、９Ｂの出力制御用のフォトダイオードは
図示していない。

【０１０８】図１０は、本発明の一実施形態における光
学系の部位を含む光ピックアップの光記録再生回路の構
成を示す図である。以下、図１０を用いて、本実施形態
におけるレーザダイオード９Ａから出射されたレーザ光
が光検出器２のフォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄに入力
するまでの光路を説明する。

【０１０９】レーザダイオード９Ａ、９Ｂから出射され
たレーザ光はミラー８によって直角上向きに反射され、
ホログラム光学素子１２に入射するようになっている。
ホログラム光学素子１２に入射したレーザ光はホログラ
ム光学素子１２を透過後、ここでは省略されるコリメー
トレンズ、偏光板、ミラー等の光学系を通り結像レンズ
１０によって光ディスク１１上に結像し、その反射光は
同一光路を戻り、再び上記のホログラム光学素子１２に
入射する。

【０１１０】そして、ホログラム光学素子１２により偏
向された光ディスク１１からの反射光は光検出器２のフ
ォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄに入射する。なお、レー
ザダイオード９Ｂから出射されたレーザ光が光検出器２
のフォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄに入力するまでの光
路も同様に説明される。なお、本発明の実施形態として
は、図８および図９の構成に限らず他の構成で光記録再
生回路を集積化したものも考えられる。

【０１１１】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明は、再生する光ディスクのフォーマットに応じて信号
の演算に使用するフォトダイオードの組み合わせおよび
Ｉ−Ｖ変換器以降の回路構成を変更することによって、
部品点数および回路構成を簡素化し、複数の異なるフォ
ーマットの光ディスクに対応することが可能となる。

【０１１２】また、請求項２記載の発明によれば、再生
する光ディスクのフォーマットに応じたフォトダイオー
ドの組み合わせの変更に連動してＩ−Ｖ変換器のＩ／Ｖ
変換効率を変更することによって、フォトダイオードの
入射光の波長による感度の変化やフォーマット毎の光デ
ィスクの反射率の変化によって発生する信号のダイナミ
ックレンジの差を解消することが可能となる。

【０１１３】また、請求項３記載の発明によれば、再生
する光ディスクのフォーマットに応じたフォトダイオー
ドの組み合わせの変更に連動して増幅器の増幅率を変更
することによって、フォトダイオードの入射光の波長に
よる感度の変化やフォーマット毎の光ディスクの反射率
の変化によって発生する信号のダイナミックレンジの差
を解消することが可能となる。

【０１１４】また、請求項４記載の発明によれば、光検
出器とＩ−Ｖ変換器以降の少なくとも１つ以上の機能を
同一半導体基板上または同一半導体パッケージ内に形成
することによって、回路の実装面積を削減することが可
能となる。

【０１１５】また、請求項５記載の発明によれば、少な
くとも１つの光発生器を同一パッケージ内に集積するこ
とによって、回路の実装面積を削減することが可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態による光ピックアップの光
記録再生回路における光学系部位の構成を示す図であ
る。

【図２】本発明の一実施形態における光ピックアップの
光記録再生回路が有する光発生器の構成を示す図であ
り、（ア）は光発生器の上面図であり、（イ）は上面図
におけるａ−ａ’面の断面図である。

【図３】本発明の一実施形態の光ピックアップの光記録
再生回路における光検出器を含む構成を示す図である。

【図４】本発明の一実施形態における光学系で光発生器
と、光検出器を使用した光ピックアップの光記録再生回
路の第１の構成を示す図である。

【図５】（ア）〜（エ）は、本発明の一実施形態におけ
る光ピックアップの光記録再生回路のＩ−Ｖ変換器によ
る出力電圧を示す図である。

【図６】本発明の一実施形態における光ピックアップの
光記録再生回路のスイッチの接続パターンを示す図であ
り、（ア）は、フォトダイオード２１Ａ〜２１Ｄの出力
からトラッキングエラーを作成する構成であり、（イ）
は、フォトダイオード２２Ａ〜２２Ｄの出力からトラッ
キングエラーを作成する構成である。

【図７】本発明の一実施形態における光学系で光発生器
と、光検出器を使用した光ピックアップの光記録再生回
路の第２の構成を示す図である。

【図８】本発明の一実施形態における光ピックアップの
光記録再生回路の第１の構成を同一半導体基板上に集積
したものを示す図である。

【図９】本発明の一実施形態において、光発生器と光検
出器とＩ−Ｖ変換器と加減算器を同一半導体パッケージ
に集積した光ピックアップの光記録再生回路を示す図で
あり、（ア）は上面図、（イ）は上面図におけるｂ−
ｂ’の断面図である。

【図１０】本発明の一実施形態における光学系の部位を
含む光ピックアップの光記録再生回路の構成を示す図で
ある。

【符号の説明】

１ 半導体基板 ２ 光検出器 ３ Ｉ−Ｖ変換器 ４、４Ａ、４Ｂ 加算器 ５ 定電圧源 ６、６Ａ〜６Ｄ、６１ 差動増幅器 ７ スイッチ ８ ミラー ９Ａ、９Ｂ レーザダイオード １０ 結像レンズ １１ 光ディスク １２ ホログラム光学素子 ２１、２１Ａ〜２１Ｄ、２２、２２Ａ〜２２Ｄ フォト
ダイオード ３１Ａ〜３１Ｄ、３２Ａ〜３２Ｄ Ｉ−Ｖ変換器 １０１ 光発生器 １０２ 光検出器 １０３ ビームスプリッタ ＩＮ１、ＩＮ２ 入力端子 ＯＵＴ１、ＯＵＴ２ 出力端子

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の異なるフォーマットの光ディスク
   に対応するための複数の光発生器と、 複数のフォトダイオードからなる光検出器と、 該光検出器の発生する電流を電圧に変換する複数のＩ−
   Ｖ変換器と、 該Ｉ−Ｖ変換器の出力を増幅する増幅器と、 該増幅器の出力を加算、減算、および加減算してＲＦ信
   号、トラッキングエラー信号、およびフォーカスエラー
   信号とする複数の加減算器と、 を有し、 前記光検出器への前記光ディスクからの反射光が入射す
   る位置が複数の前記光発生器で異なり、前記光検出器
   が、前記光ディスクからの前記反射光の入射位置毎に１
   組ずつ配置され、それぞれの前記フォトダイオードの出
   力を差動増幅し、前記ＲＦ信号、前記トラッキングエラ
   ー信号、および前記フォーカスエラー信号の少なくとも
   １つ以上について、再生する前記光ディスクの前記フォ
   ーマットに応じて信号の演算に使用する前記フォトダイ
   オードの組み合わせおよび前記Ｉ−Ｖ変換器以降の回路
   構成を変更することを特徴とする光ピックアップの光記
   録再生回路。
2. 【請求項２】 再生する前記光ディスクのフォーマット
   に応じた前記フォトダイオードの組み合わせの変更に連
   動して前記Ｉ−Ｖ変換器のＩ／Ｖ変換効率を変更するこ
   とを特徴とする請求項１記載の光ピックアップの光記録
   再生回路。
3. 【請求項３】 再生する前記光ディスクのフォーマット
   に応じた前記フォトダイオードの組み合わせの変更に連
   動して前記増幅器の増幅率を変更することを特徴とする
   請求項１記載の光ピックアップの光記録再生回路。
4. 【請求項４】 前記光検出器と前記Ｉ−Ｖ変換器以降の
   少なくとも１つ以上の機能を同一半導体基板上または同
   一半導体パッケージ内に形成することを特徴とする請求
   項１から３のいずれか１項に記載の光ピックアップの光
   記録再生回路。
5. 【請求項５】 少なくとも１つの前記光発生器を同一パ
   ッケージ内に集積することを特徴とする請求項１から４
   のいずれか１項に記載の光ピックアップの光記録再生回
   路。