JP2002246802A - 半導体スイッチ、移相回路及び減衰器 - Google Patents
半導体スイッチ、移相回路及び減衰器Info
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- JP2002246802A JP2002246802A JP2001035455A JP2001035455A JP2002246802A JP 2002246802 A JP2002246802 A JP 2002246802A JP 2001035455 A JP2001035455 A JP 2001035455A JP 2001035455 A JP2001035455 A JP 2001035455A JP 2002246802 A JP2002246802 A JP 2002246802A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体素子のオンオフ動作をスイッチングに
用いた半導体スイッチにおいて、小型でアイソレーショ
ンの高い半導体スイッチを得ることを目的とする。 【解決手段】 主線路と接地との間において、外部から
の制御信号に基づいてオン動作又はオフ動作することに
より、オン抵抗状態又はオフ容量状態になる半導体素子
と、半導体素子の接地側電極に直列に接続された容量性
素子と、容量性素子に並列に接続された高抵抗とを設け
るようにした。
用いた半導体スイッチにおいて、小型でアイソレーショ
ンの高い半導体スイッチを得ることを目的とする。 【解決手段】 主線路と接地との間において、外部から
の制御信号に基づいてオン動作又はオフ動作することに
より、オン抵抗状態又はオフ容量状態になる半導体素子
と、半導体素子の接地側電極に直列に接続された容量性
素子と、容量性素子に並列に接続された高抵抗とを設け
るようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体スイッチに
関し、例えば移相器、減衰器に設けられた半導体スイッ
チに関するものである。
関し、例えば移相器、減衰器に設けられた半導体スイッ
チに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の半導体スイッチとして
は、3端子を有し、共通端子を他の2つの端子のうちど
ちらか一方の端子に切換える単極双投開閉器(SPD
T)スイッチがある。
は、3端子を有し、共通端子を他の2つの端子のうちど
ちらか一方の端子に切換える単極双投開閉器(SPD
T)スイッチがある。
【0003】そして、このSPDTスイッチは、他の2
つの端子に電気長の異なる線路がそれぞれ設けられるこ
とにより、当該電気長に応じて位相のずれた信号を他の
2つの端子からそれぞれ出力することができ、移相器と
して利用することができる。
つの端子に電気長の異なる線路がそれぞれ設けられるこ
とにより、当該電気長に応じて位相のずれた信号を他の
2つの端子からそれぞれ出力することができ、移相器と
して利用することができる。
【0004】図14は、実際にSPDTスイッチが移相
器に用いられた一例であり、14TH エー・アイ・エ
ー・エー・インターナショナル・コニュニケーション・
サテライト・システムス・コンファレンス・アンド・エ
グシビットに示されている。
器に用いられた一例であり、14TH エー・アイ・エ
ー・エー・インターナショナル・コニュニケーション・
サテライト・システムス・コンファレンス・アンド・エ
グシビットに示されている。
【0005】このSPDTスイッチは、FETのドレイ
ン・ソース電極間に並列にインダクタを設けることによ
りスイッチとし、電気長の異なる線路を切換える移相器
を含む多ビット移相器である。
ン・ソース電極間に並列にインダクタを設けることによ
りスイッチとし、電気長の異なる線路を切換える移相器
を含む多ビット移相器である。
【0006】図15は、従来の移相回路の構成を示す。
図15において、1は入力端子、2は出力端子、3は第
1のFET(Field Effect Transistor:電界効果トラ
ンジスタ)、4は第1のFETのドレイン・ソース電極
間に並列接続されたインダクタ、5は第2のFET、6
は第2のFETのドレイン・ソース電極間に並列接続さ
れたインダクタ、7は所望の移相量を得るための電気長
の線路(以下、これを移相線路と呼ぶ)、8は基準とな
る電気長の線路(以下、これを基準線路と呼ぶ)、11
は第1のFET3をオンオフ制御するための第1の制御
端子、12は第2のFET5をオンオフ制御するための
第2の制御端子である。因みに、第1の制御端子11は
第1のFET3のゲートに接続され、第2の制御端子1
2は第2のFET5のゲートに接続されている。
図15において、1は入力端子、2は出力端子、3は第
1のFET(Field Effect Transistor:電界効果トラ
ンジスタ)、4は第1のFETのドレイン・ソース電極
間に並列接続されたインダクタ、5は第2のFET、6
は第2のFETのドレイン・ソース電極間に並列接続さ
れたインダクタ、7は所望の移相量を得るための電気長
の線路(以下、これを移相線路と呼ぶ)、8は基準とな
る電気長の線路(以下、これを基準線路と呼ぶ)、11
は第1のFET3をオンオフ制御するための第1の制御
端子、12は第2のFET5をオンオフ制御するための
第2の制御端子である。因みに、第1の制御端子11は
第1のFET3のゲートに接続され、第2の制御端子1
2は第2のFET5のゲートに接続されている。
【0007】FET3は、制御端子11に0[V]の電
圧が印加されると、オン動作することにより、抵抗状態
(以下、これをオン抵抗状態と呼ぶ)となり、その抵抗
値は理想的には0[Ω]である。
圧が印加されると、オン動作することにより、抵抗状態
(以下、これをオン抵抗状態と呼ぶ)となり、その抵抗
値は理想的には0[Ω]である。
【0008】一方、FET3は、制御端子11にピンチ
オフ電圧(Vp)以上の電圧が印加されると、オフ動作
することにより、容量状態(以下、これをオフ容量状態
と呼ぶ)となる。
オフ電圧(Vp)以上の電圧が印加されると、オフ動作
することにより、容量状態(以下、これをオフ容量状態
と呼ぶ)となる。
【0009】ここで、FET3が容量状態となる場合、
当該FET3には、ドレイン・ソース電極間にインダク
タ6が並列接続されているため、オフ容量状態となるF
ET3とインダクタ4とにより並列共振回路を構成し得
るようになされている。
当該FET3には、ドレイン・ソース電極間にインダク
タ6が並列接続されているため、オフ容量状態となるF
ET3とインダクタ4とにより並列共振回路を構成し得
るようになされている。
【0010】従って、FET3は、オフ容量状態となる
際に、入力端子1から高周波信号が入力されると、かか
るインダクタ6と並列共振回路を構成することにより、
当該高周波信号の位相線路7への伝送を遮断する。
際に、入力端子1から高周波信号が入力されると、かか
るインダクタ6と並列共振回路を構成することにより、
当該高周波信号の位相線路7への伝送を遮断する。
【0011】また、FET5は、制御端子11に0
[V]の電圧が印加される場合には制御端子12にピン
チオフ電圧(Vp)以上の電圧が印加され、制御端子1
1にピンチオフ電圧(Vp)以上の電圧が印加される場
合には制御端子12に0[V]の電圧が印加される点を
除いてFET3と同様の構成からなる。
[V]の電圧が印加される場合には制御端子12にピン
チオフ電圧(Vp)以上の電圧が印加され、制御端子1
1にピンチオフ電圧(Vp)以上の電圧が印加される場
合には制御端子12に0[V]の電圧が印加される点を
除いてFET3と同様の構成からなる。
【0012】従って、FET3及びFET5は、交互に
オン抵抗又はオフ容量となるようになされている。
オン抵抗又はオフ容量となるようになされている。
【0013】すなわち、移相器は、第1のFET3をオ
フ容量状態に制御するとともに、第2のFET5をオン
抵抗状態に制御することにより、インダクタ4と共振回
路を構成する第1のFET3を避けて、入力端子1から
入力された高周波信号を第2のFET5を介して基準線
路8に伝送する。
フ容量状態に制御するとともに、第2のFET5をオン
抵抗状態に制御することにより、インダクタ4と共振回
路を構成する第1のFET3を避けて、入力端子1から
入力された高周波信号を第2のFET5を介して基準線
路8に伝送する。
【0014】次に、移相回路は、第1のFET3をオン
抵抗状態に制御するとともに、第2のFET5をオフ容
量状態に制御することにより、インダクタ6と共振回路
を構成する第2のFET5を避けて、入力端子1から入
力された高周波信号を第1のFET3を介して位相線路
7に伝送する。
抵抗状態に制御するとともに、第2のFET5をオフ容
量状態に制御することにより、インダクタ6と共振回路
を構成する第2のFET5を避けて、入力端子1から入
力された高周波信号を第1のFET3を介して位相線路
7に伝送する。
【0015】続けて、位相回路は、位相線路7に伝送さ
れた高周波信号の位相を、当該位相線路7の抵抗値によ
って変化させ、当該位相を変化させた高周波信号を出力
端子2に出力する。
れた高周波信号の位相を、当該位相線路7の抵抗値によ
って変化させ、当該位相を変化させた高周波信号を出力
端子2に出力する。
【0016】従って、移相器は、高周波信号の伝送経路
を移相線路7と基準線路8とで切替えることによって、
位相線路7を通過した高周波信号と基準線路8を通過し
た高周波信号との位相間で所望のずれ(以下、これを移
相量と呼ぶ)を得ることができる。
を移相線路7と基準線路8とで切替えることによって、
位相線路7を通過した高周波信号と基準線路8を通過し
た高周波信号との位相間で所望のずれ(以下、これを移
相量と呼ぶ)を得ることができる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
移相器では、オフ容量状態のFET3又は5とインダク
タ4又は6とからなる並列共振回路を並列共振すること
により、FET3及びインダクタ4又はFET5及びイ
ンダクタ6において、入力端子1から入力された高周波
信号を位相線路7又は基準線路8へ伝送しない、いわゆ
るスイッチオフ状態を実現している。因みに、この移相
器は、使用周波数帯の中心周波数を共振周波数として設
計している。
移相器では、オフ容量状態のFET3又は5とインダク
タ4又は6とからなる並列共振回路を並列共振すること
により、FET3及びインダクタ4又はFET5及びイ
ンダクタ6において、入力端子1から入力された高周波
信号を位相線路7又は基準線路8へ伝送しない、いわゆ
るスイッチオフ状態を実現している。因みに、この移相
器は、使用周波数帯の中心周波数を共振周波数として設
計している。
【0018】しかしながら、この移相器は、FET等の
製造ばらつきにより、例えばFETのオフ容量状態時の
オフ容量が変化して、設定時に期待された周波数とは異
なる周波数が共振周波数となると、FET3又は5とイ
ンダクタ4又は6との間で完全な並列共振が生じなくな
る。
製造ばらつきにより、例えばFETのオフ容量状態時の
オフ容量が変化して、設定時に期待された周波数とは異
なる周波数が共振周波数となると、FET3又は5とイ
ンダクタ4又は6との間で完全な並列共振が生じなくな
る。
【0019】このため、FET3及びインダクタ4又は
FET5及びインダクタ6では、スイッチオフ状態とな
った場合に、入力端子1から入力された高周波信号を完
全に遮断して出力端子2側への伝送を防止する(以下、
これをアイソレーションと呼ぶ)ことができず、アイソ
レーションが劣化するという問題点があった。
FET5及びインダクタ6では、スイッチオフ状態とな
った場合に、入力端子1から入力された高周波信号を完
全に遮断して出力端子2側への伝送を防止する(以下、
これをアイソレーションと呼ぶ)ことができず、アイソ
レーションが劣化するという問題点があった。
【0020】この発明は上述のような課題を解決するた
めになされたもので、小型で高アイソレーション化を図
った半導体スイッチを得ることを目的とする。
めになされたもので、小型で高アイソレーション化を図
った半導体スイッチを得ることを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体ス
イッチは、主線路と接地との間において、外部からの制
御信号に基づいてオン動作又はオフ動作することによ
り、オン抵抗状態又はオフ容量状態になる半導体素子
と、半導体素子の接地側電極に直列に接続された容量性
素子と、容量性素子に並列に接続された高抵抗とを設け
たことを特徴とするものである。
イッチは、主線路と接地との間において、外部からの制
御信号に基づいてオン動作又はオフ動作することによ
り、オン抵抗状態又はオフ容量状態になる半導体素子
と、半導体素子の接地側電極に直列に接続された容量性
素子と、容量性素子に並列に接続された高抵抗とを設け
たことを特徴とするものである。
【0022】また、上述の半導体素子を第1の半導体素
子とし、主線路に第2の半導体素子を挿入し、第1の半
導体素子と第2の半導体素子とを交互にオンオフ動作さ
せることを特徴とするものである。
子とし、主線路に第2の半導体素子を挿入し、第1の半
導体素子と第2の半導体素子とを交互にオンオフ動作さ
せることを特徴とするものである。
【0023】さらに、第1及び第2の半導体スイッチを
備え、第1の半導体スイッチの入力端と第2の半導体ス
イッチの入力端を共通に設け、第1の半導体スイッチの
接地側の半導体素子及び上記第2の半導体スイッチの入
力端側の半導体素子を第1の制御用端子に接続し、第2
の半導体スイッチの接地側の半導体素子及び第1の半導
体スイッチの入力端側の半導体素子を第2の制御用端子
に接続し、第1の制御用端子に接続された半導体素子と
第2の制御用端子に接続された半導体素子を交互にオン
オフ動作することを特徴とするものでのある。
備え、第1の半導体スイッチの入力端と第2の半導体ス
イッチの入力端を共通に設け、第1の半導体スイッチの
接地側の半導体素子及び上記第2の半導体スイッチの入
力端側の半導体素子を第1の制御用端子に接続し、第2
の半導体スイッチの接地側の半導体素子及び第1の半導
体スイッチの入力端側の半導体素子を第2の制御用端子
に接続し、第1の制御用端子に接続された半導体素子と
第2の制御用端子に接続された半導体素子を交互にオン
オフ動作することを特徴とするものでのある。
【0024】さらに、第3及び第4の半導体スイッチを
備え、第3の半導体スイッチの第1の出力端と、第4の
半導体スイッチの第1の入力端との間に、第3の半導体
スイッチの入力端から入力された交流信号の移相を進ま
せるハイパスフィルタを直列に接続し、第3の半導体ス
イッチの第2の出力端と、第4の半導体スイッチの第2
の入力端との間に、第3の半導体スイッチの入力端から
入力された交流信号の移相を遅らせるロウパスフィルタ
が直列に接続される位相回路を構成することを特徴とす
るものである。
備え、第3の半導体スイッチの第1の出力端と、第4の
半導体スイッチの第1の入力端との間に、第3の半導体
スイッチの入力端から入力された交流信号の移相を進ま
せるハイパスフィルタを直列に接続し、第3の半導体ス
イッチの第2の出力端と、第4の半導体スイッチの第2
の入力端との間に、第3の半導体スイッチの入力端から
入力された交流信号の移相を遅らせるロウパスフィルタ
が直列に接続される位相回路を構成することを特徴とす
るものである。
【0025】さらに、第1及び第2の半導体スイッチを
備え、第1及び第2の半導体スイッチが設けられた主線
路間に半導体素子を接続するとともに、当該半導体素子
に抵抗を並列に接続し、第1及び第2の半導体スイッチ
の半導体素子と半導体素子とを交互にオンオフ動作する
減衰器を構成することを特徴とするものである。
備え、第1及び第2の半導体スイッチが設けられた主線
路間に半導体素子を接続するとともに、当該半導体素子
に抵抗を並列に接続し、第1及び第2の半導体スイッチ
の半導体素子と半導体素子とを交互にオンオフ動作する
減衰器を構成することを特徴とするものである。
【0026】さらに、半導体スイッチの主線路の両端に
第1及び第2の半導体素子を接続するとともに、第1及
び第2の半導体素子にそれぞれ抵抗を並列に接続し、半
導体スイッチの半導体素子と第1及び第2の半導体素子
とを交互にオンオフ動作する減衰器を構成することを特
徴とするものである。
第1及び第2の半導体素子を接続するとともに、第1及
び第2の半導体素子にそれぞれ抵抗を並列に接続し、半
導体スイッチの半導体素子と第1及び第2の半導体素子
とを交互にオンオフ動作する減衰器を構成することを特
徴とするものである。
【0027】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、この発明
の実施の形態1で示す半導体スイッチの実際の構成を示
すもので、例えば位相回路の切替え部分等に用いられて
いる。
の実施の形態1で示す半導体スイッチの実際の構成を示
すもので、例えば位相回路の切替え部分等に用いられて
いる。
【0028】図1において、1は入力端子、2は出力端
子、3は半導体素子としてのFET、14はFETのソ
ース・ドレイン電極間を同電位に保つために抵抗値を高
く設定した高抵抗(以下、これを単に抵抗と呼ぶ)、1
5はFETの制御用バイアス端子、16は容量性素子と
してのMIMキャパシタ、17はスルーホール、18は
主線路、19は誘電体基板である。また、図2は、図1
に示す半導体スイッチの等価回路を示す。
子、3は半導体素子としてのFET、14はFETのソ
ース・ドレイン電極間を同電位に保つために抵抗値を高
く設定した高抵抗(以下、これを単に抵抗と呼ぶ)、1
5はFETの制御用バイアス端子、16は容量性素子と
してのMIMキャパシタ、17はスルーホール、18は
主線路、19は誘電体基板である。また、図2は、図1
に示す半導体スイッチの等価回路を示す。
【0029】以下、本実施の形態に示す半導体スイッチ
の動作について説明する。まず、本実施の形態に示す半
導体スイッチの動作を説明する前に、当該半導体スイッ
チに用いられているFET3の動作について、図3に示
すFET3の等価回路を用いて説明する。
の動作について説明する。まず、本実施の形態に示す半
導体スイッチの動作を説明する前に、当該半導体スイッ
チに用いられているFET3の動作について、図3に示
すFET3の等価回路を用いて説明する。
【0030】図3(a)は、FET3がオン動作してオン
抵抗状態となる場合の等価回路であり、図3(b)は、
FET3がオフ動作してオフ容量状態となる場合の等価
回路である。そして、図3(a)及び(b)において、20
は入力端子、21は出力端子、22は寄生容量、23は
寄生インダクタ、24はオン時の抵抗、25はオフ時の
容量である。
抵抗状態となる場合の等価回路であり、図3(b)は、
FET3がオフ動作してオフ容量状態となる場合の等価
回路である。そして、図3(a)及び(b)において、20
は入力端子、21は出力端子、22は寄生容量、23は
寄生インダクタ、24はオン時の抵抗、25はオフ時の
容量である。
【0031】また、図3の等価回路において、寄生容量
22は寄生のインダクタ23に比べて十分小さいので無
視する。
22は寄生のインダクタ23に比べて十分小さいので無
視する。
【0032】そこで、図2に示す半導体スイッチは、こ
の寄生容量22を取り去り、寄生のインダクタ23をイ
ンダクタ26として1つにまとめることによって、図4
に示すような等価回路として表わすことができる。
の寄生容量22を取り去り、寄生のインダクタ23をイ
ンダクタ26として1つにまとめることによって、図4
に示すような等価回路として表わすことができる。
【0033】すなわち、FET3がオン抵抗状態の半導
体スイッチは、図4(a)のように表わされ、FET3が
オフ容量状態の半導体スイッチは、図4(b)のように表
わされる。因みに、FET3のソース・ドレイン電極を
同電位にするための抵抗は、高抵抗のため無視しても影
響はないため削除している。
体スイッチは、図4(a)のように表わされ、FET3が
オフ容量状態の半導体スイッチは、図4(b)のように表
わされる。因みに、FET3のソース・ドレイン電極を
同電位にするための抵抗は、高抵抗のため無視しても影
響はないため削除している。
【0034】ここで、MIM(Metal Insulator Metal)
構造によって構成される容量16は、使用周波数帯の中
心周波数においてかかる寄生のインダクタ26と直列共
振する値に設計されている。
構造によって構成される容量16は、使用周波数帯の中
心周波数においてかかる寄生のインダクタ26と直列共
振する値に設計されている。
【0035】従って、半導体スイッチは、FET3がオ
ン抵抗状態の場合、使用周波数帯の中心周波数では、容
量16及びインダクタ26によるインピーダンスが直列
共振によって無視できるため、図5(a)に示すように、
オン抵抗状態となったFET3のみを用いて接地する。
ン抵抗状態の場合、使用周波数帯の中心周波数では、容
量16及びインダクタ26によるインピーダンスが直列
共振によって無視できるため、図5(a)に示すように、
オン抵抗状態となったFET3のみを用いて接地する。
【0036】ここで、半導体スイッチは、FET3がオ
ン抵抗状態となってその抵抗値を小さくすることによっ
て、入力端子1から入力された高周波信号が抵抗値の小
さくなったFET3を介して接地に伝わり、当該高周波
信号を出力端子2から出力しない(以下、この状態をス
イッチオフ状態と呼ぶ)ようにする。
ン抵抗状態となってその抵抗値を小さくすることによっ
て、入力端子1から入力された高周波信号が抵抗値の小
さくなったFET3を介して接地に伝わり、当該高周波
信号を出力端子2から出力しない(以下、この状態をス
イッチオフ状態と呼ぶ)ようにする。
【0037】さらに、半導体スイッチにおいて、FET
3のソース・ドレイン間は抵抗14によって等電位に保
たれているため、当該FET3がオン抵抗状態となった
場合に、その抵抗値は、FET3のソース・ドレイン間
に電位差が生じている場合に比べて小さくなる。
3のソース・ドレイン間は抵抗14によって等電位に保
たれているため、当該FET3がオン抵抗状態となった
場合に、その抵抗値は、FET3のソース・ドレイン間
に電位差が生じている場合に比べて小さくなる。
【0038】かくして、半導体スイッチは、FET3の
オン状態での抵抗値が小さくなって接地に近づくため、
かかる高周波信号が出力端子2から漏れない、アイソレ
ーションの高いスイッチオフ状態となる。
オン状態での抵抗値が小さくなって接地に近づくため、
かかる高周波信号が出力端子2から漏れない、アイソレ
ーションの高いスイッチオフ状態となる。
【0039】また、半導体スイッチは、FET3がオフ
状態の場合、使用周波数帯の中心周波数では、容量16
及びインダクタ26によるインピーダンスが直列共振に
よって無視できるため、図5(b)に示すように、オフ容
量状態となったFET3のみが主線路18と接地との間
に接続されている。
状態の場合、使用周波数帯の中心周波数では、容量16
及びインダクタ26によるインピーダンスが直列共振に
よって無視できるため、図5(b)に示すように、オフ容
量状態となったFET3のみが主線路18と接地との間
に接続されている。
【0040】そして、半導体スイッチは、入力端子1か
ら入力された高周波信号を出力端子2へ伝送して当該出
力端子2から出力する状態(以下、この状態をスイッチ
オン状態と呼ぶ)となる。また、半導体スイッチは、F
ET3のオフ容量状態の容量が小さいほど低損失で高周
波信号を出力端子2に伝えることができる。
ら入力された高周波信号を出力端子2へ伝送して当該出
力端子2から出力する状態(以下、この状態をスイッチ
オン状態と呼ぶ)となる。また、半導体スイッチは、F
ET3のオフ容量状態の容量が小さいほど低損失で高周
波信号を出力端子2に伝えることができる。
【0041】因みに、半導体スイッチにおいて、MIM
で構成される容量16が設けられていない場合、スイッ
チオフ状態又はスイッチオン状態における等価回路を、
図6(a)又は(b)に示す。
で構成される容量16が設けられていない場合、スイッ
チオフ状態又はスイッチオン状態における等価回路を、
図6(a)又は(b)に示す。
【0042】半導体スイッチにおいて容量16が設けら
れていない場合、当該半導体スイッチは、使用周波数が
高くなるに従って寄生インダクタ26が生じるため、図
6に示すように、主線路18との接地が不十分となり、
アイソレーションが劣化する。
れていない場合、当該半導体スイッチは、使用周波数が
高くなるに従って寄生インダクタ26が生じるため、図
6に示すように、主線路18との接地が不十分となり、
アイソレーションが劣化する。
【0043】ここで、半導体スイッチのスイッチオフ状
態において、容量16が設けられた場合(図5(b))
と、容量16が設けられていない場合(図6(b))と
のアイソレーションの違いを、入力に対する出力の割合
を表わす伝送特性を用いて示す。
態において、容量16が設けられた場合(図5(b))
と、容量16が設けられていない場合(図6(b))と
のアイソレーションの違いを、入力に対する出力の割合
を表わす伝送特性を用いて示す。
【0044】容量16が設けられた場合の伝送特性は、
式(1)で表わされる。
式(1)で表わされる。
【0045】
【数1】
【0046】また、容量16が設けられていない場合の
伝送特性は、式(2)で表わされる。
伝送特性は、式(2)で表わされる。
【0047】
【数2】
【0048】ここで、Zoは特性インピーダンスを示
し、通常50[Ω]が用いられる。また、RはFETの
オン時のオン抵抗状態での抵抗値、LはFETの寄生イ
ンダクタンス26の値である。
し、通常50[Ω]が用いられる。また、RはFETの
オン時のオン抵抗状態での抵抗値、LはFETの寄生イ
ンダクタンス26の値である。
【0049】そして、式(1)及び式(2)で表せる伝
送特性の絶対値を比較すると、FET3における寄生イ
ンダクタンスの値により、式(2)に表わされる伝送特
性が式(1)に表わされる伝送特性より大きくなること
がわかる。
送特性の絶対値を比較すると、FET3における寄生イ
ンダクタンスの値により、式(2)に表わされる伝送特
性が式(1)に表わされる伝送特性より大きくなること
がわかる。
【0050】すなわち、半導体スイッチは、容量16を
設けておくことにより、アイソレーションを向上させ、
スイッチオフ状態となった場合に、出力端子2からの出
力をより抑えることができる。
設けておくことにより、アイソレーションを向上させ、
スイッチオフ状態となった場合に、出力端子2からの出
力をより抑えることができる。
【0051】かくして、本実施の形態に示すような半導
体スイッチは、スイッチオフ状態時に使用周波数帯の中
心周波数で等価的に抵抗のみで接地されるので高アイソ
レーションが実現できる。
体スイッチは、スイッチオフ状態時に使用周波数帯の中
心周波数で等価的に抵抗のみで接地されるので高アイソ
レーションが実現できる。
【0052】また、半導体スイッチは、スイッチオン状
態時には、抵抗とMIM容量の付加によりMIM容量の
損失分のみ通過損失が増加するが、ほとんど無視できる
値であるため、入力端子1から入力された高周波信号の
値をあまり減少させることなく、出力端子2から出力す
ることができる。
態時には、抵抗とMIM容量の付加によりMIM容量の
損失分のみ通過損失が増加するが、ほとんど無視できる
値であるため、入力端子1から入力された高周波信号の
値をあまり減少させることなく、出力端子2から出力す
ることができる。
【0053】さらに、半導体スイッチは、このように高
アイソレーションを得る際に必要とする回路が、並列の
抵抗とMIM容量だけであるため小形化できる。
アイソレーションを得る際に必要とする回路が、並列の
抵抗とMIM容量だけであるため小形化できる。
【0054】実施の形態2.図7は、この発明の実施の
形態2である半導体スイッチの等価回路を示す。図7に
おいて、3a及び3bは第1のFET、27a及び27
bは第2のFET、15は第1の制御用バイアス端子、
28は第2の制御用バイアス端子、29は第1の出力端
子、30は第2の出力端子である。また、図1に示す実
施の形態1と同一部分は同一符号を附し、その説明は省
略する。
形態2である半導体スイッチの等価回路を示す。図7に
おいて、3a及び3bは第1のFET、27a及び27
bは第2のFET、15は第1の制御用バイアス端子、
28は第2の制御用バイアス端子、29は第1の出力端
子、30は第2の出力端子である。また、図1に示す実
施の形態1と同一部分は同一符号を附し、その説明は省
略する。
【0055】ここで、図7に示す半導体スイッチは、図
8に示すような半導体スイッチを2つ備え、当該半導体
スイッチの入力端1を共通に設けて構成されている。以
下、これらの半導体スイッチをそれぞれ第1半導体スイ
ッチA及び第2の半導体スイッチBと呼ぶ。
8に示すような半導体スイッチを2つ備え、当該半導体
スイッチの入力端1を共通に設けて構成されている。以
下、これらの半導体スイッチをそれぞれ第1半導体スイ
ッチA及び第2の半導体スイッチBと呼ぶ。
【0056】この第1及び第2の半導体スイッチA、B
は、図8に示すように、実施の形態1に示した半導体ス
イッチ(図2)の主線路18の入力端子1側に第2のF
ET27を挿入して構成されている。
は、図8に示すように、実施の形態1に示した半導体ス
イッチ(図2)の主線路18の入力端子1側に第2のF
ET27を挿入して構成されている。
【0057】また、この第1及び第2の半導体スイッチ
A、Bは、第1の半導体素子としてのFET3と第2の
半導体素子としてのFET27とを交互にオンオフ動作
するようになされている。これにより、第1及び第2の
半導体スイッチA、Bは、第1のFET3がオン抵抗状
態となると、主線路18上に設けられた第2のFET2
7がオフ容量状態となるため、スイッチングオフ状態で
のアイソレーションをより高めることができる。
A、Bは、第1の半導体素子としてのFET3と第2の
半導体素子としてのFET27とを交互にオンオフ動作
するようになされている。これにより、第1及び第2の
半導体スイッチA、Bは、第1のFET3がオン抵抗状
態となると、主線路18上に設けられた第2のFET2
7がオフ容量状態となるため、スイッチングオフ状態で
のアイソレーションをより高めることができる。
【0058】そして、本実施の形態の半導体スイッチ
は、図7に示すように、第1の半導体スイッチAの入力
端子1と第2の半導体スイッチBの入力端子1とを共通
に設けるとともに、第1の半導体スイッチAの第1のF
ET3a及び第2の半導体スイッチBの第2のFET2
7bには第1の制御用バイアス端子15が接続され、第
1の半導体スイッチAの第2のFET27a及び第2の
半導体スイッチBの第1のFET3bには第2の制御用
バイアス端子28が接続されて構成されている。
は、図7に示すように、第1の半導体スイッチAの入力
端子1と第2の半導体スイッチBの入力端子1とを共通
に設けるとともに、第1の半導体スイッチAの第1のF
ET3a及び第2の半導体スイッチBの第2のFET2
7bには第1の制御用バイアス端子15が接続され、第
1の半導体スイッチAの第2のFET27a及び第2の
半導体スイッチBの第1のFET3bには第2の制御用
バイアス端子28が接続されて構成されている。
【0059】すなわち、本実施の形態の半導体スイッチ
は、第1の制御用バイアス端子15にピンチオフ電圧以
上の電圧が印加されると、第1の半導体スイッチAの第
1のFET3a及び第2の半導体スイッチBの第2のF
ET27bがオフ容量状態となり、第2の制御用バイア
ス端子28に0[V]の電圧が印加されると、第1の半導
体スイッチAの第2のFET27a及び第2の半導体ス
イッチBの第1のFET3bがオン抵抗状態となること
により、図9(a)に示すような等価回路として表わさ
れる。
は、第1の制御用バイアス端子15にピンチオフ電圧以
上の電圧が印加されると、第1の半導体スイッチAの第
1のFET3a及び第2の半導体スイッチBの第2のF
ET27bがオフ容量状態となり、第2の制御用バイア
ス端子28に0[V]の電圧が印加されると、第1の半導
体スイッチAの第2のFET27a及び第2の半導体ス
イッチBの第1のFET3bがオン抵抗状態となること
により、図9(a)に示すような等価回路として表わさ
れる。
【0060】また、本実施の形態の半導体スイッチは、
第1の制御用バイアス端子15に0[V]の電圧が印加さ
れると、第1の半導体スイッチAの第1のFET3a及
び第2の半導体スイッチBの第2のFET27bがオン
抵抗状態となり、第2の制御用バイアス端子28にピン
チオフ電圧以上の電圧が印加されると、第1の半導体ス
イッチAの第2のFET27a及び第2の半導体スイッ
チBの第1のFET3bがオフ容量状態となることによ
り、図9(b)に示すような等価回路として表わされ
る。
第1の制御用バイアス端子15に0[V]の電圧が印加さ
れると、第1の半導体スイッチAの第1のFET3a及
び第2の半導体スイッチBの第2のFET27bがオン
抵抗状態となり、第2の制御用バイアス端子28にピン
チオフ電圧以上の電圧が印加されると、第1の半導体ス
イッチAの第2のFET27a及び第2の半導体スイッ
チBの第1のFET3bがオフ容量状態となることによ
り、図9(b)に示すような等価回路として表わされ
る。
【0061】以下、本実施の形態に示す半導体スイッチ
の動作を、出力端子を第1の出力端子29に固定して説
明する。
の動作を、出力端子を第1の出力端子29に固定して説
明する。
【0062】この半導体スイッチは、図9(a)におい
て、入力端子1から高周波信号が入力されるとオン抵抗
状態となった第2のFET27aを介して、第1の出力
端子29から出力されて、スイッチオン状態となる。
て、入力端子1から高周波信号が入力されるとオン抵抗
状態となった第2のFET27aを介して、第1の出力
端子29から出力されて、スイッチオン状態となる。
【0063】この場合、入力端子1から第1の出力端子
29への伝送特性は、式(3)で表される。
29への伝送特性は、式(3)で表される。
【0064】
【数3】
【0065】このときR<1、wC<<1である。従っ
て、伝送特性S21onは、|S21on|≒1となるた
め、入力端子1から入力された高周波信号はそのまま第
1の出力端子29から出力されることを意味し、かくし
て、この半導体スイッチの入力端子1と第1の出力端子
29との間ではオン状態となっている。
て、伝送特性S21onは、|S21on|≒1となるた
め、入力端子1から入力された高周波信号はそのまま第
1の出力端子29から出力されることを意味し、かくし
て、この半導体スイッチの入力端子1と第1の出力端子
29との間ではオン状態となっている。
【0066】また、この半導体スイッチは、図9(b)
において、入力端子1から高周波信号が入力されるとオ
ン抵抗状態となった第1のFET3aを介して、接地に
流れてスイッチオフ状態となる。
において、入力端子1から高周波信号が入力されるとオ
ン抵抗状態となった第1のFET3aを介して、接地に
流れてスイッチオフ状態となる。
【0067】この場合、入力端子1から第1の出力端子
29への伝送特性は、式(4)で表される。
29への伝送特性は、式(4)で表される。
【0068】
【数4】
【0069】このとき、R<1、ωC<<1である。従
って、伝送特性S21onは、|S21on|>>1となる
ため、入力端子1から入力された高周波信号はそのまま
第1の出力端子29から出力されないことを意味し、か
くして、この半導体スイッチの入力端子1と第1の出力
端子29との間ではスイッチオフ状態となっている。
って、伝送特性S21onは、|S21on|>>1となる
ため、入力端子1から入力された高周波信号はそのまま
第1の出力端子29から出力されないことを意味し、か
くして、この半導体スイッチの入力端子1と第1の出力
端子29との間ではスイッチオフ状態となっている。
【0070】また、この半導体スイッチにおいて、第2
の出力端子30では、上述した半導体スイッチの動作と
逆のことが言える。
の出力端子30では、上述した半導体スイッチの動作と
逆のことが言える。
【0071】かくして、本実施の形態の半導体スイッチ
は、入力端子1から入力された高周波信号を第1の出力
端子29又は第2の出力端子30のうち、どちらか一方
の出力端子から出力することができる。
は、入力端子1から入力された高周波信号を第1の出力
端子29又は第2の出力端子30のうち、どちらか一方
の出力端子から出力することができる。
【0072】さらに、本実施の形態の半導体スイッチで
は、実施の形態1で示した半導体スイッチと同じ構成か
らなる半導体スイッチを用いているため、スイッチオフ
状態となった出力端子側で高アイソレーションを得るこ
とができるようになされている。
は、実施の形態1で示した半導体スイッチと同じ構成か
らなる半導体スイッチを用いているため、スイッチオフ
状態となった出力端子側で高アイソレーションを得るこ
とができるようになされている。
【0073】実施の形態3.図10は、実施の形態2で
上述した半導体スイッチを用いる移相器である。図10
において、31は実施の形態2で示した第1の半導体ス
イッチ(以下、これを第3の半導体スイッチと呼ぶ)、
32は第3の半導体スイッチと同様の構成からなり、当
該第3の半導体スイッチの入力端と出力端を逆に用いた
第4の半導体スイッチ、33はローパスフィルタ、34
はローパスフィルタ33を構成するインダクタ、35は
ローパスフィルタ33を構成するキャパシタ、36はハ
イパスフィルタ、37はハイパスフィルタ36を構成す
るキャパシタ、38はハイパスフィルタ36を構成する
インダクタである。因みに、第3の半導体スイッチ31
の入力端に入力端子1を設け、第4の半導体スイッチ3
2の出力端に出力端子2を設けている。
上述した半導体スイッチを用いる移相器である。図10
において、31は実施の形態2で示した第1の半導体ス
イッチ(以下、これを第3の半導体スイッチと呼ぶ)、
32は第3の半導体スイッチと同様の構成からなり、当
該第3の半導体スイッチの入力端と出力端を逆に用いた
第4の半導体スイッチ、33はローパスフィルタ、34
はローパスフィルタ33を構成するインダクタ、35は
ローパスフィルタ33を構成するキャパシタ、36はハ
イパスフィルタ、37はハイパスフィルタ36を構成す
るキャパシタ、38はハイパスフィルタ36を構成する
インダクタである。因みに、第3の半導体スイッチ31
の入力端に入力端子1を設け、第4の半導体スイッチ3
2の出力端に出力端子2を設けている。
【0074】実際上、位相器において、第3の半導体ス
イッチ31に設けられた第1の出力端2aと第4の半導
体スイッチ32に設けられた第1の入力端1aには、ハ
イパスフィルタ36が接続されるとともに、第3の半導
体スイッチ31に設けられた第2の出力端2bと第4の
半導体スイッチ32に設けられた第2の入力端1bに
は、ロウパスフィルタ33が接続されている。
イッチ31に設けられた第1の出力端2aと第4の半導
体スイッチ32に設けられた第1の入力端1aには、ハ
イパスフィルタ36が接続されるとともに、第3の半導
体スイッチ31に設けられた第2の出力端2bと第4の
半導体スイッチ32に設けられた第2の入力端1bに
は、ロウパスフィルタ33が接続されている。
【0075】ここで、移相器は、第3の半導体スイッチ
(図7)及び第4の半導体スイッチにそれぞれ設けられ
た第1の制御用バイアス端子15、第2の制御用バイア
ス端子28を共有することにより、第3の半導体スイッ
チ31及び第4の半導体スイッチにおける切換えを、同
一線路上に接続された出力端子1a又は1bと入力端子
2a又は2bとを接続するように切換えるようになされ
ている。
(図7)及び第4の半導体スイッチにそれぞれ設けられ
た第1の制御用バイアス端子15、第2の制御用バイア
ス端子28を共有することにより、第3の半導体スイッ
チ31及び第4の半導体スイッチにおける切換えを、同
一線路上に接続された出力端子1a又は1bと入力端子
2a又は2bとを接続するように切換えるようになされ
ている。
【0076】以下、移相器の動作について説明する。す
なわち、移相器は、第3の半導体スイッチ31を第1の
出力端子1a側に切換えるとともに、第4の半導体スイ
ッチ32を第1の入力端子2a側に切換えることによ
り、入力端子1から入力された高周波信号をハイパスフ
ィルタ36を介して出力端子2から出力することができ
る。
なわち、移相器は、第3の半導体スイッチ31を第1の
出力端子1a側に切換えるとともに、第4の半導体スイ
ッチ32を第1の入力端子2a側に切換えることによ
り、入力端子1から入力された高周波信号をハイパスフ
ィルタ36を介して出力端子2から出力することができ
る。
【0077】また、移相器は、第3の半導体スイッチ3
1を第2の出力端子1b側に切換えるとともに、第4の
半導体スイッチ32を第2の入力端子2b側に切換える
ことにより、入力端子1から入力された高周波信号をロ
ウパスフィルタ33を介して出力端子2から出力するこ
とができる。
1を第2の出力端子1b側に切換えるとともに、第4の
半導体スイッチ32を第2の入力端子2b側に切換える
ことにより、入力端子1から入力された高周波信号をロ
ウパスフィルタ33を介して出力端子2から出力するこ
とができる。
【0078】かくして、移相器において、ハイパスフィ
ルタ36に入力された高周波信号は当該高周波信号の位
相が進み、ローパスフィルタ33に入力された高周波信
号は等外高周波信号の位相が遅れることにより、これら
高周波信号の位相間には所望の位相差が生じる。
ルタ36に入力された高周波信号は当該高周波信号の位
相が進み、ローパスフィルタ33に入力された高周波信
号は等外高周波信号の位相が遅れることにより、これら
高周波信号の位相間には所望の位相差が生じる。
【0079】ここで、本実施の形態の移相器では、実施
の形態2で上述した半導体スイッチと同様の構成からな
る第3の半導体スイッチ31及び第4の半導体スイッチ
32を用いることにより、入力端子1から入力された高
周波信号をローパスフィルタ33又はハイパスフィルタ
36のどちらか一方のみを介して出力端子2から出力す
ることができるため、当該出力する高周波信号に対して
所望の位相差を精度良く得ることができるようになされ
ている。
の形態2で上述した半導体スイッチと同様の構成からな
る第3の半導体スイッチ31及び第4の半導体スイッチ
32を用いることにより、入力端子1から入力された高
周波信号をローパスフィルタ33又はハイパスフィルタ
36のどちらか一方のみを介して出力端子2から出力す
ることができるため、当該出力する高周波信号に対して
所望の位相差を精度良く得ることができるようになされ
ている。
【0080】実施の形態4.図11は、実施の形態4に
おけるπ型の可変減衰器の等価回路を示す。図11にお
いて、40は第2のFET、41は第2のFET40を
制御するための制御用バイアス端子、42は抵抗であ
る。また、図2に示す実施の形態1と同一部分には同一
符号を附しその説明は省略する。
おけるπ型の可変減衰器の等価回路を示す。図11にお
いて、40は第2のFET、41は第2のFET40を
制御するための制御用バイアス端子、42は抵抗であ
る。また、図2に示す実施の形態1と同一部分には同一
符号を附しその説明は省略する。
【0081】実際上、可変減衰器において、主線路18
上には、実施の形態1で示す半導体スイッチが2つ設け
られるとともに、これら半導体スイッチにおいて、FE
T(本実施の形態では、これを第1のFETと呼ぶ)3
a及び3bのゲートには、制御線を介して制御用バイア
ス端子15が共通に設けられている。これにより、第1
のFET3a及び3bは、同時にオン抵抗状態又はオフ
容量状態となる。
上には、実施の形態1で示す半導体スイッチが2つ設け
られるとともに、これら半導体スイッチにおいて、FE
T(本実施の形態では、これを第1のFETと呼ぶ)3
a及び3bのゲートには、制御線を介して制御用バイア
ス端子15が共通に設けられている。これにより、第1
のFET3a及び3bは、同時にオン抵抗状態又はオフ
容量状態となる。
【0082】ここで、可変減衰器は、第1のFET3及
び第2のFET40が、交互にオン抵抗状態又はオフ容
量状態となるように、第1の制御用バイアス端子15と
第2の制御用バイアス端子41とに異なる電圧を印加す
るようになされている。
び第2のFET40が、交互にオン抵抗状態又はオフ容
量状態となるように、第1の制御用バイアス端子15と
第2の制御用バイアス端子41とに異なる電圧を印加す
るようになされている。
【0083】以下、可変減衰器の動作について説明す
る。すなわち、可変減衰器は、第2のFET40がオン
抵抗状態となるとともに、第1のFET3がオフ容量状
態となると、入力端子1から入力された高周波信号をオ
ン抵抗状態となっている第2のFET40に伝送するた
め、当該高周波信号を減衰することなく出力端子2から
出力する。
る。すなわち、可変減衰器は、第2のFET40がオン
抵抗状態となるとともに、第1のFET3がオフ容量状
態となると、入力端子1から入力された高周波信号をオ
ン抵抗状態となっている第2のFET40に伝送するた
め、当該高周波信号を減衰することなく出力端子2から
出力する。
【0084】一方、可変減衰器は、第2のFET40が
オフ容量状態となるとともに、当該第2のFET40の
両端に設けられた第1のFET3がオン抵抗状態となる
と、当該第2のFET40に並列に接続された抵抗42
の両端が接地された状態となる。そして、可変減衰器
は、入力端子1から入力された高周波信号を減衰して出
力端子2から出力する。
オフ容量状態となるとともに、当該第2のFET40の
両端に設けられた第1のFET3がオン抵抗状態となる
と、当該第2のFET40に並列に接続された抵抗42
の両端が接地された状態となる。そして、可変減衰器
は、入力端子1から入力された高周波信号を減衰して出
力端子2から出力する。
【0085】この場合、この可変減衰器において、かか
る高周波信号の減衰量X[dB]は、第1のFET3が
オン抵抗状態での抵抗値と、抵抗42の抵抗値によって
設定し得るようになっている。
る高周波信号の減衰量X[dB]は、第1のFET3が
オン抵抗状態での抵抗値と、抵抗42の抵抗値によって
設定し得るようになっている。
【0086】第1のFET3がオン抵抗状態での抵抗値
をR1、抵抗42の値をR2とすると、抵抗値R1は式
(5)で求まり、
をR1、抵抗42の値をR2とすると、抵抗値R1は式
(5)で求まり、
【0087】
【数5】
【0088】また、抵抗値R2は式(6)で求まる。
【0089】
【数6】
【0090】かくして、本実施の形態に示す可変減衰器
は、使用周波数帯の中心周波数において、第1のFET
3がオン抵抗状態となると、等価的に抵抗42のみで接
地されるため、所望の減衰量で精度良く高周波信号を減
衰することができるようになされている。
は、使用周波数帯の中心周波数において、第1のFET
3がオン抵抗状態となると、等価的に抵抗42のみで接
地されるため、所望の減衰量で精度良く高周波信号を減
衰することができるようになされている。
【0091】また、本実施の形態に示す可変減衰器は、
実施の形態1に示す半導体スイッチをπ型の可変減衰器
に用いて構成したが、本発明はこれに限らず、図12に
示すように、実施の形態1に示す半導体スイッチをT型
の可変減衰器に用いても良い。
実施の形態1に示す半導体スイッチをπ型の可変減衰器
に用いて構成したが、本発明はこれに限らず、図12に
示すように、実施の形態1に示す半導体スイッチをT型
の可変減衰器に用いても良い。
【0092】実施の形態5.図13、実施の形態5にお
ける半導体スイッチの等価回路を示す。図13におい
て、45は半導体素子としてのダイオード、46は高周
波チョークコイル、47はDC成分をカットするための
コンデンサ、48はダイオード45をオンオフ制御する
ための制御端子である。また、図2に示す実施の形態1
と同一部分は同一符号を附しその説明は省略する。
ける半導体スイッチの等価回路を示す。図13におい
て、45は半導体素子としてのダイオード、46は高周
波チョークコイル、47はDC成分をカットするための
コンデンサ、48はダイオード45をオンオフ制御する
ための制御端子である。また、図2に示す実施の形態1
と同一部分は同一符号を附しその説明は省略する。
【0093】実際上、本実施の形態に示す半導体スイッ
チにおいて、ダイオード45は、制御端子48に正の電
圧(順バイアス)が印加されることにより等価的に低抵
抗となり、制御端子48に負の電圧(逆バイアス)が印
加されることにより等価的にキャパシタとなる。
チにおいて、ダイオード45は、制御端子48に正の電
圧(順バイアス)が印加されることにより等価的に低抵
抗となり、制御端子48に負の電圧(逆バイアス)が印
加されることにより等価的にキャパシタとなる。
【0094】また、この半導体スイッチにおいて、高周
波信号が入力端子1に入力されると、実施の形態1に示
すFET3と同様に、ダイオード45にも等価回路に寄
生インダクタンスが直列成分として生じる。
波信号が入力端子1に入力されると、実施の形態1に示
すFET3と同様に、ダイオード45にも等価回路に寄
生インダクタンスが直列成分として生じる。
【0095】かくして、本実施の形態で示す半導体スイ
ッチは、かかる寄生インダクタンスを、ダイオード45
に直列接続された容量16と直列共振させることによ
り、実施の形態1で上述したように、半導体スイッチの
オフ状態におけるアイソレーションを向上することがで
きる。
ッチは、かかる寄生インダクタンスを、ダイオード45
に直列接続された容量16と直列共振させることによ
り、実施の形態1で上述したように、半導体スイッチの
オフ状態におけるアイソレーションを向上することがで
きる。
【0096】因みに、本実施の形態に示す半導体スイッ
チは、実施の形態1で示す半導体スイッチのFET3を
ダイオード45に換えたものであるが、実施の形態2な
いし4における、FETをダイオードに換えて用いるよ
うにしても良い。
チは、実施の形態1で示す半導体スイッチのFET3を
ダイオード45に換えたものであるが、実施の形態2な
いし4における、FETをダイオードに換えて用いるよ
うにしても良い。
【0097】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、主線
路と接地との間において、外部からの制御信号に基づい
てオン動作又はオフ動作することにより、オン抵抗状態
又はオフ容量状態になる半導体素子と、半導体素子の接
地側電極に直列に接続された容量性素子と、容量性素子
に並列に接続された高抵抗とを設けたことにより、半導
体素子がオン抵抗状態となった際に、入力側に入力され
た交流信号が当該半導体素子を介して接地に流れやすく
なり、半導体スイッチのアイソレーションを向上するこ
とができる。
路と接地との間において、外部からの制御信号に基づい
てオン動作又はオフ動作することにより、オン抵抗状態
又はオフ容量状態になる半導体素子と、半導体素子の接
地側電極に直列に接続された容量性素子と、容量性素子
に並列に接続された高抵抗とを設けたことにより、半導
体素子がオン抵抗状態となった際に、入力側に入力され
た交流信号が当該半導体素子を介して接地に流れやすく
なり、半導体スイッチのアイソレーションを向上するこ
とができる。
【0098】また、主線路間に半導体素子を挿入するこ
とにより、主線路と接地との間に直列に接続された半導
体素子がオン抵抗状態となって交流信号の出力を行わな
い場合、主線路間に挿入された半導体スイッチがオフ容
量状態となって当該交流信号の直流成分を除去できるた
め、さらに半導体スイッチのアイソレーションを向上す
ることができる。
とにより、主線路と接地との間に直列に接続された半導
体素子がオン抵抗状態となって交流信号の出力を行わな
い場合、主線路間に挿入された半導体スイッチがオフ容
量状態となって当該交流信号の直流成分を除去できるた
め、さらに半導体スイッチのアイソレーションを向上す
ることができる。
【0099】また、第1の半導体スイッチの入力端と第
2の半導体スイッチの入力端を共通に設け、第1の半導
体スイッチの接地側の半導体素子及び上記第2の半導体
スイッチの入力端側の半導体素子を第1の制御用端子に
接続し、第2の半導体スイッチの接地側の半導体素子及
び第1の半導体スイッチの入力端側の半導体素子を第2
の制御用端子に接続し、第1の制御用端子に接続された
半導体素子と第2の制御用端子に接続された半導体素子
を交互にオンオフ動作することにより、アイソレーショ
ンの高い1入力2出力の半導体スイッチを実現できる。
2の半導体スイッチの入力端を共通に設け、第1の半導
体スイッチの接地側の半導体素子及び上記第2の半導体
スイッチの入力端側の半導体素子を第1の制御用端子に
接続し、第2の半導体スイッチの接地側の半導体素子及
び第1の半導体スイッチの入力端側の半導体素子を第2
の制御用端子に接続し、第1の制御用端子に接続された
半導体素子と第2の制御用端子に接続された半導体素子
を交互にオンオフ動作することにより、アイソレーショ
ンの高い1入力2出力の半導体スイッチを実現できる。
【0100】また、第3の半導体スイッチの第1の出力
端と第4の半導体スイッチの第1の入力端との間に、第
3の半導体スイッチの入力端から入力された交流信号の
移相を進ませるハイパスフィルタが直列に接続され、第
3の半導体スイッチの第2の出力端と第4の半導体スイ
ッチの第2の入力端との間に、第3の半導体スイッチの
入力端から入力された交流信号の移相を遅らせるロウパ
スフィルタが直列に接続されて移相回路を構成すること
により、第3及び第4の半導体スイッチのオンオフを確
実に行うことができ、精度良く所望の移相差を発生し得
る移相回路を実現できる。
端と第4の半導体スイッチの第1の入力端との間に、第
3の半導体スイッチの入力端から入力された交流信号の
移相を進ませるハイパスフィルタが直列に接続され、第
3の半導体スイッチの第2の出力端と第4の半導体スイ
ッチの第2の入力端との間に、第3の半導体スイッチの
入力端から入力された交流信号の移相を遅らせるロウパ
スフィルタが直列に接続されて移相回路を構成すること
により、第3及び第4の半導体スイッチのオンオフを確
実に行うことができ、精度良く所望の移相差を発生し得
る移相回路を実現できる。
【0101】また、第1及び第2の半導体スイッチが設
けられた主線路間に半導体素子を接続するとともに、当
該半導体素子に抵抗を並列に接続してπ型の減衰器を構
成し、第1及び第2の半導体スイッチの半導体素子と半
導体素子とを交互にオンオフ動作することにより、所望
の減衰量を精度良く得られる減衰器を実現できる。
けられた主線路間に半導体素子を接続するとともに、当
該半導体素子に抵抗を並列に接続してπ型の減衰器を構
成し、第1及び第2の半導体スイッチの半導体素子と半
導体素子とを交互にオンオフ動作することにより、所望
の減衰量を精度良く得られる減衰器を実現できる。
【0102】また、半導体スイッチの主線路の両端に第
1及び第2の半導体素子を接続するとともに、第1及び
第2の半導体素子にそれぞれ抵抗を並列に接続してT型
の減衰器を構成し、半導体スイッチの半導体素子と第1
及び第2の半導体素子とを交互にオンオフ動作すること
により、所望の減衰量を精度良く得られる減衰器を実現
できる。
1及び第2の半導体素子を接続するとともに、第1及び
第2の半導体素子にそれぞれ抵抗を並列に接続してT型
の減衰器を構成し、半導体スイッチの半導体素子と第1
及び第2の半導体素子とを交互にオンオフ動作すること
により、所望の減衰量を精度良く得られる減衰器を実現
できる。
【図1】 この発明による半導体スイッチの実施の形態
1を示す構成図である。
1を示す構成図である。
【図2】 この発明による半導体スイッチの実施の形態
1を示す回路図である。
1を示す回路図である。
【図3】 この発明による半導体スイッチの説明に供す
る略線図である。
る略線図である。
【図4】 この発明による実施の形態1の半導体スイッ
チの等価回路を示す回路図である。
チの等価回路を示す回路図である。
【図5】 この発明による実施の形態1の半導体スイッ
チが直列共振する場合の等価回路を示す回路図である。
チが直列共振する場合の等価回路を示す回路図である。
【図6】 この発明による実施の形態1の半導体スイッ
チが直列共振する場合の説明に供する回路図である。
チが直列共振する場合の説明に供する回路図である。
【図7】 この発明による実施の形態2の半導体スイッ
チを示す回路図である。
チを示す回路図である。
【図8】 この発明による実施の形態2の半導体スイッ
チの説明に供する回路図である。
チの説明に供する回路図である。
【図9】 この発明による実施の形態2の半導体スイッ
チの等価回路を示す回路図である。
チの等価回路を示す回路図である。
【図10】 この発明による実施の形態3の移相器を示
す回路図である。
す回路図である。
【図11】 この発明による実施の形態4の減衰器を示
す回路図である。
す回路図である。
【図12】 実施の形態4の減衰器に対して他の実施の
形態となるT型の減衰器を示す回路図である。
形態となるT型の減衰器を示す回路図である。
【図13】 この発明による実施の形態5の半導体スイ
ッチを示す回路図である。
ッチを示す回路図である。
【図14】 従来の半導体スイッチを示す略線図であ
る。
る。
【図15】 従来の半導体スイッチを用いた移相器を示
す回路図である。
す回路図である。
1 入力端子、2 出力端子、3 FET、14 抵
抗、15 バイアス端子、16 MIMキャパシタ、1
7 スルーホール、18 主線路、20 入力端子、2
1 出力端子、22 寄生容量、23 寄生インダク
タ、24 オン抵抗、25 オフ容量、27 FET、
28 制御用バイアス端子、29 出力端子、30 出
力端子、31 第1の半導体スイッチ、32 第2の半
導体スイッチ、33 ローパスフィルタ、34 インダ
クタ、35 キャパシタ、36 ハイパスフィルタ、3
7 キャパシタ、38 インダクタ、40 FET、4
1 制御用バイアス端子、42 抵抗、45 ダイオー
ド、46 高周波チョークコイル、47 コンデンサ、
48 制御端子。
抗、15 バイアス端子、16 MIMキャパシタ、1
7 スルーホール、18 主線路、20 入力端子、2
1 出力端子、22 寄生容量、23 寄生インダク
タ、24 オン抵抗、25 オフ容量、27 FET、
28 制御用バイアス端子、29 出力端子、30 出
力端子、31 第1の半導体スイッチ、32 第2の半
導体スイッチ、33 ローパスフィルタ、34 インダ
クタ、35 キャパシタ、36 ハイパスフィルタ、3
7 キャパシタ、38 インダクタ、40 FET、4
1 制御用バイアス端子、42 抵抗、45 ダイオー
ド、46 高周波チョークコイル、47 コンデンサ、
48 制御端子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 檜枝 護重 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 高木 直 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 伊山 義忠 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 中畔 弘晶 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 5J012 BA02 BA04 GA13 5J013 AA06 5J055 AX06 AX53 AX66 BX05 CX03 DX12 DX55 EX07 EX21 EY01 EY05 EY10 EY21 EY29 FX12 FX17 FX35 GX01
Claims (6)
- 【請求項1】 主線路と接地との間において、 外部からの制御信号に基づいてオン動作又はオフ動作す
ることにより、オン抵抗状態又はオフ容量状態になる半
導体素子と、 上記半導体素子の接地側電極に直列に接続された容量性
素子と、 上記容量性素子に並列に接続された高抵抗とを設けたこ
とを特徴とする半導体スイッチ。 - 【請求項2】 請求項1に記載の半導体スイッチにおい
て、 上記半導体素子を第1の半導体素子とし、 上記主線路に第2の半導体素子を挿入し、 上記第1の半導体素子と上記第2の半導体素子とを交互
にオンオフ動作させることを特徴とする半導体スイッ
チ。 - 【請求項3】 請求項2記載の半導体スイッチにおい
て、 請求項2記載の半導体スイッチを2つ備えて第1及び第
2の半導体スイッチとし、 上記第1の半導体スイッチの入力端と上記第2の半導体
スイッチの入力端を共通に設け、 上記第1の半導体スイッチの接地側の半導体素子及び上
記第2の半導体スイッチの入力端側の半導体素子を第1
の制御用端子に接続し、 上記第2の半導体スイッチの接地側の半導体素子及び上
記第1の半導体スイッチの入力端側の半導体素子を第2
の制御用端子に接続し、 上記第1の制御用端子に接続された半導体素子と上記第
2の制御用端子に接続された半導体素子を交互にオンオ
フ動作することを特徴とする半導体スイッチ。 - 【請求項4】 請求項3に記載の半導体スイッチにおい
て、 請求項3に記載の半導体スイッチを第3の半導体スイッ
チとし、 上記第3の半導体スイッチと同一の構成からなる半導体
スイッチを第4の半導体スイッチとし、 上記第3の半導体スイッチの第1の出力端と、上記第4
の半導体スイッチの第1の入力端との間に、上記第3の
半導体スイッチの入力端から入力された交流信号の移相
を進ませるハイパスフィルタが直列に接続され、 上記第3の半導体スイッチの第2の出力端と、上記第4
の半導体スイッチの第2の入力端との間に、上記第3の
半導体スイッチの入力端から入力された交流信号の移相
を遅らせるロウパスフィルタが直列に接続されることを
特徴とする移相回路。 - 【請求項5】 請求項1記載の半導体スイッチにおい
て、 上記半導体スイッチを2つ備えて第1及び第2の半導体
スイッチとし、 上記第1及び第2の半導体スイッチが設けられた主線路
間に半導体素子を接続するとともに、当該半導体素子に
抵抗を並列に接続し、 上記第1及び第2の半導体スイッチの半導体素子と上記
半導体素子とを交互にオンオフ動作することを特徴とす
る減衰器。 - 【請求項6】 請求項1に記載の半導体スイッチにおい
て、 上記半導体スイッチの主線路の両端に第1及び第2の半
導体素子を接続するとともに、上記第1及び第2の半導
体素子にそれぞれ抵抗を並列に接続し、 上記半導体スイッチの半導体素子と上記第1及び第2の
半導体素子とを交互にオンオフ動作することを特徴とす
る減衰器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001035455A JP2002246802A (ja) | 2001-02-13 | 2001-02-13 | 半導体スイッチ、移相回路及び減衰器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001035455A JP2002246802A (ja) | 2001-02-13 | 2001-02-13 | 半導体スイッチ、移相回路及び減衰器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002246802A true JP2002246802A (ja) | 2002-08-30 |
Family
ID=18898893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001035455A Pending JP2002246802A (ja) | 2001-02-13 | 2001-02-13 | 半導体スイッチ、移相回路及び減衰器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002246802A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007150520A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波スイッチ |
| US7340229B2 (en) | 2004-08-20 | 2008-03-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | High frequency amplification circuit and mobile communication terminal using the same |
| JP2014179727A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Japan Radio Co Ltd | 可変インピーダンス回路および減衰器 |
| US10523167B2 (en) | 2016-11-07 | 2019-12-31 | Fujitsu Limited | Variable attenuation device, phase-switching variable attenuation device, and phase shifter |
-
2001
- 2001-02-13 JP JP2001035455A patent/JP2002246802A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7340229B2 (en) | 2004-08-20 | 2008-03-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | High frequency amplification circuit and mobile communication terminal using the same |
| JP2008206208A (ja) * | 2004-08-20 | 2008-09-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 高周波増幅回路およびこれを用いた移動体通信端末 |
| JP2007150520A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波スイッチ |
| JP2014179727A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Japan Radio Co Ltd | 可変インピーダンス回路および減衰器 |
| US10523167B2 (en) | 2016-11-07 | 2019-12-31 | Fujitsu Limited | Variable attenuation device, phase-switching variable attenuation device, and phase shifter |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041124 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050124 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050301 |