JP2002310902A - 波長選択性のある散乱光測定方法 - Google Patents
波長選択性のある散乱光測定方法Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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-
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 微粒子が分散された透明体などに見られる視
感中心波長から離れた波長域に光散乱強度のピークがあ
る透明基材に対してもヘイズ率を正確に測定すること。 【解決手段】 積分球装置を用い、透明体の各波長毎の
全光線透過率Ｔ１及び拡散光線透過率Ｔ２を測定し、Ｔ
２／Ｔ１×１００（％）に基づいて各波長毎のヘイズ率
（％）を求めること。
感中心波長から離れた波長域に光散乱強度のピークがあ
る透明基材に対してもヘイズ率を正確に測定すること。 【解決手段】 積分球装置を用い、透明体の各波長毎の
全光線透過率Ｔ１及び拡散光線透過率Ｔ２を測定し、Ｔ
２／Ｔ１×１００（％）に基づいて各波長毎のヘイズ率
（％）を求めること。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス、プラスチ
ック等の透明体において光照射により生じる散乱光の分
光特性測定方法に関する。
ック等の透明体において光照射により生じる散乱光の分
光特性測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】透明な媒質中に球状あるいは不定形の微
粒子が分散した透明基材に、太陽光やハロゲンランプ光
を照射すると、該微粒子の表面で光散乱が起こり、該透
明基材の外観色調等に悪影響を与えることがある。この
ような現象は、分散媒質と微粒子の光学定数差、微粒子
の粒径や充填率などが、光散乱強度や波長依存性に影響
を与えるためであることが知られている。
粒子が分散した透明基材に、太陽光やハロゲンランプ光
を照射すると、該微粒子の表面で光散乱が起こり、該透
明基材の外観色調等に悪影響を与えることがある。この
ような現象は、分散媒質と微粒子の光学定数差、微粒子
の粒径や充填率などが、光散乱強度や波長依存性に影響
を与えるためであることが知られている。
【０００３】微粒子が分散した透明体としては、例え
ば、該透明体表面に形成したチタニアあるいはシリカマ
トリクス膜中などに金、銀などの金属微粒子が分散した
着色膜（例えば、特開２０００−２６４６７９号公報
等）、コロイダルシリカやチタニア微粒子などが分散し
た膜（例えば、特開平１０−６０６６５号公報、特開平
１１−１４７２７７号公報等）、車両用合わせガラスの
着色シェードに用いられるＰＶＢ（ポリビニルブチラー
ル）樹脂に顔料を練り込んだもの、合わせガラス用中間
膜中に微粒子を混入したもの（例えば、特開平８−２５
９２７９号公報、特開平１０−２９７９４５号公報等）
等が知られている。
ば、該透明体表面に形成したチタニアあるいはシリカマ
トリクス膜中などに金、銀などの金属微粒子が分散した
着色膜（例えば、特開２０００−２６４６７９号公報
等）、コロイダルシリカやチタニア微粒子などが分散し
た膜（例えば、特開平１０−６０６６５号公報、特開平
１１−１４７２７７号公報等）、車両用合わせガラスの
着色シェードに用いられるＰＶＢ（ポリビニルブチラー
ル）樹脂に顔料を練り込んだもの、合わせガラス用中間
膜中に微粒子を混入したもの（例えば、特開平８−２５
９２７９号公報、特開平１０−２９７９４５号公報等）
等が知られている。
【０００４】上記に示すようなガラスやプラスチックな
どの透明体の光線透過率、ヘイズ率を測定する方法とし
ては、ＪＩＳ−Ｋ−７１０５、或いはＪＩＳ−Ｒ−３２
１２などに示される積分球方式の測定法が一般的に用い
られている。該測定法は、光散乱を伴うような微細キ
ズ、気泡、不均質相などを有する透明基材でも、該透明
基材に入射した光線を積分球装置で集光することにより
拡散光線透過率と平行光線透過率を合計した全光線透過
率を測定することができるとともに拡散光線透過率のみ
を分離して測定でき、それらの値から算出することによ
りヘーズ率も求めることができる。例えば、特開平９−
８６９６７号公報には、シリカマトリクス中にＩＴＯ微
粒子を分散させた薄膜、また、特開平１１−３８２０８
号公報には、液晶表示画面の視認性を向上させた光散乱
フィルムについてのヘイズ率の測定例などが記載されて
いる。
どの透明体の光線透過率、ヘイズ率を測定する方法とし
ては、ＪＩＳ−Ｋ−７１０５、或いはＪＩＳ−Ｒ−３２
１２などに示される積分球方式の測定法が一般的に用い
られている。該測定法は、光散乱を伴うような微細キ
ズ、気泡、不均質相などを有する透明基材でも、該透明
基材に入射した光線を積分球装置で集光することにより
拡散光線透過率と平行光線透過率を合計した全光線透過
率を測定することができるとともに拡散光線透過率のみ
を分離して測定でき、それらの値から算出することによ
りヘーズ率も求めることができる。例えば、特開平９−
８６９６７号公報には、シリカマトリクス中にＩＴＯ微
粒子を分散させた薄膜、また、特開平１１−３８２０８
号公報には、液晶表示画面の視認性を向上させた光散乱
フィルムについてのヘイズ率の測定例などが記載されて
いる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
前記に示したＪＩＳ−Ｋ−７１０５或いはＪＩＳ−Ｒ−
３２１２などに示される積分球方式の測定法により測定
されるヘーズ率は、Ａ、ＣまたはＤ６５光源をＹ値で表
示するため、人間の一番視感強度が強い波長域である波
長５３０ｎｍ付近の視感中心波長におけるヘイズ率を示
すものである。このため、前述した微粒子が分散された
透明基材などに見られる視感中心波長から離れた波長域
に光散乱強度のピークがある透明基材においては、ヘイ
ズ率の数値化ができず目視観察に頼らざるを得ないとい
う問題があった。
前記に示したＪＩＳ−Ｋ−７１０５或いはＪＩＳ−Ｒ−
３２１２などに示される積分球方式の測定法により測定
されるヘーズ率は、Ａ、ＣまたはＤ６５光源をＹ値で表
示するため、人間の一番視感強度が強い波長域である波
長５３０ｎｍ付近の視感中心波長におけるヘイズ率を示
すものである。このため、前述した微粒子が分散された
透明基材などに見られる視感中心波長から離れた波長域
に光散乱強度のピークがある透明基材においては、ヘイ
ズ率の数値化ができず目視観察に頼らざるを得ないとい
う問題があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、従来の前記の
課題に鑑みなされたものであって、微粒子が分散された
透明体などに見られる視感中心波長から離れた波長域に
光散乱強度のピークがある透明基材に対してもヘイズ率
を正確に測定することが可能な波長選択性のある散乱光
測定方法を提供するものである。
課題に鑑みなされたものであって、微粒子が分散された
透明体などに見られる視感中心波長から離れた波長域に
光散乱強度のピークがある透明基材に対してもヘイズ率
を正確に測定することが可能な波長選択性のある散乱光
測定方法を提供するものである。
【０００７】すなわち、本発明の波長選択性のある散乱
光測定方法は、積分球装置を用い、透明体の各波長毎の
全光線透過率Ｔ１及び拡散光線透過率Ｔ２を測定し、
（１）式に基づいて各波長毎のヘイズ率（％）を求める
ことを特徴とする。
光測定方法は、積分球装置を用い、透明体の各波長毎の
全光線透過率Ｔ１及び拡散光線透過率Ｔ２を測定し、
（１）式に基づいて各波長毎のヘイズ率（％）を求める
ことを特徴とする。
【０００８】
【式２】
【０００９】また、本発明の波長選択性のある散乱光測
定方法は、前記の各透過率を可視光線領域（３８０〜７
８０ｎｍ）の各波長毎に測定することを特徴とする。
定方法は、前記の各透過率を可視光線領域（３８０〜７
８０ｎｍ）の各波長毎に測定することを特徴とする。
【００１０】さらに、本発明の波長選択性のある散乱光
測定方法は、透明体は、該透明体中に光を散乱する微粒
子状物質が含有されてなることを特徴とする。
測定方法は、透明体は、該透明体中に光を散乱する微粒
子状物質が含有されてなることを特徴とする。
【００１１】さらにまた、本発明の波長選択性のある散
乱光測定方法は、透明体は、透明基板表面に微粒子状物
質を含む膜が被覆されている透明基材であることを特徴
とする。
乱光測定方法は、透明体は、透明基板表面に微粒子状物
質を含む膜が被覆されている透明基材であることを特徴
とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の波長選択性のある散乱光
測定方法は、積分球装置を用い、透明体の各波長毎の全
光線透過率Ｔ１（％）及び拡散光線透過率Ｔ２（％）を
測定し、（１）式に基づいて各波長毎のヘイズ率（％）
を求めることを特徴とする。
測定方法は、積分球装置を用い、透明体の各波長毎の全
光線透過率Ｔ１（％）及び拡散光線透過率Ｔ２（％）を
測定し、（１）式に基づいて各波長毎のヘイズ率（％）
を求めることを特徴とする。
【００１３】
【式３】
【００１４】本発明に用いられる積分球装置は、図１に
その断面図を示す様に、積分球装置１の球体２の左右に
相対向して入射側開口部３、横側開口部４が設けられて
おり、該開口部３には測定用の試料５が取り付けれるよ
うになっており、一方、横側開口部４には横蓋６が着脱
自在できるようになっている。また、該球体２の上下に
相対向して、下側開口部７と受光部８が設けられてお
り、下側開口部７は下蓋９が着脱自在になっている。
その断面図を示す様に、積分球装置１の球体２の左右に
相対向して入射側開口部３、横側開口部４が設けられて
おり、該開口部３には測定用の試料５が取り付けれるよ
うになっており、一方、横側開口部４には横蓋６が着脱
自在できるようになっている。また、該球体２の上下に
相対向して、下側開口部７と受光部８が設けられてお
り、下側開口部７は下蓋９が着脱自在になっている。
【００１５】この積分球装置１を用いて全光線透過率
（％）、拡散光透過率（％）、ヘイズ率（％）を測定す
るには次に示す（１）〜（４）のような操作を行う。
（％）、拡散光透過率（％）、ヘイズ率（％）を測定す
るには次に示す（１）〜（４）のような操作を行う。
【００１６】（１）透過率１００％合わせ 先ず、入射側開口部３に試料５を装着しない状態で、横
蓋６および下蓋９をそれぞれの開口部４，７に装着して
閉口し、入射側開口部３の外部に設けた光源１０より光
線１１を球体２内に入射させる。球体２内に入射した入
射光線１１は、球体２内で全反射したのち受光部８より
出て行く。その時、受光部８において光線の出射光強度
Ｌ１を測定し、その時の出射光強度を透過率１００％と
し、透過率１００％合わせを行う。
蓋６および下蓋９をそれぞれの開口部４，７に装着して
閉口し、入射側開口部３の外部に設けた光源１０より光
線１１を球体２内に入射させる。球体２内に入射した入
射光線１１は、球体２内で全反射したのち受光部８より
出て行く。その時、受光部８において光線の出射光強度
Ｌ１を測定し、その時の出射光強度を透過率１００％と
し、透過率１００％合わせを行う。
【００１７】（２）全光線透過率の測定 次に、試料５を入射側開口部３に装着し、横蓋６及び下
蓋９により開口部４，７を閉口させた状態で受光部８に
おいて各波長毎の出射光強度Ｌ２を測定し、下記の
（２）式に基づき各波長毎の全光線透過率Ｔ１を算出す
る。
蓋９により開口部４，７を閉口させた状態で受光部８に
おいて各波長毎の出射光強度Ｌ２を測定し、下記の
（２）式に基づき各波長毎の全光線透過率Ｔ１を算出す
る。
【００１８】
【式４】
【００１９】（３）拡散光線透過率の測定 次に、横蓋６を開口部４より取り外した状態で、受光部
８における出射光強度Ｌ３を測定し、下記の（３）式に
基づき拡散光線透過率Ｔ２を算出する。この拡散光線透
過率は、横蓋６を開口部４より取り外すことにより、球
体２内に導入した光線のうち、平行光線透過率を球体２
外に逃がすことにより各波長毎の拡散光線透過率が得ら
れる。
８における出射光強度Ｌ３を測定し、下記の（３）式に
基づき拡散光線透過率Ｔ２を算出する。この拡散光線透
過率は、横蓋６を開口部４より取り外すことにより、球
体２内に導入した光線のうち、平行光線透過率を球体２
外に逃がすことにより各波長毎の拡散光線透過率が得ら
れる。
【００２０】
【式５】
【００２１】（４）ヘイズ率の計算 前記（２）式で得られた全光線透過率Ｔ１（％）を
（３）式で得られた拡散光線透過率Ｔ２（％）を式
（１）に導入して各波長毎のヘイズ率を算出する。
（３）式で得られた拡散光線透過率Ｔ２（％）を式
（１）に導入して各波長毎のヘイズ率を算出する。
【００２２】
【式６】
【００２３】なお、積分球装置については、例えばＪＩ
Ｓ−Ｒ−３１０６に記載の分光光度計等を用いることが
できる。なお、測定する波長の領域は、波長３８０〜７
８０ｎｍの可視光線領域が好ましい。
Ｓ−Ｒ−３１０６に記載の分光光度計等を用いることが
できる。なお、測定する波長の領域は、波長３８０〜７
８０ｎｍの可視光線領域が好ましい。
【００２４】本発明の測定に用いられる透明体として
は、Ｓｎ、Ｔｉ、Ｓｉ、Ｚｎ、Ｚｒ、Ｆｅ、Ａｌ、Ｃ
ｒ、Ｃｏ、Ｃｅ、Ｉｎ、Ｎｉ、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐ
ｔ、Ｍｎ、Ｔａ、Ｗ 、Ｖ 、Ｍｏの金属、酸化物、窒
化物、硫化物あるいはＳｂ、Ｓｎ、Ｆなどのドープ物の
各単独物、もしくはこれらの中から少なくとも２種以上
を選択してなる複合物、またはさらに当該各単独物もし
くは複合物に有機樹脂物を含む混合物または有機樹脂物
を被覆した被膜物などの微粒子を、ガラス中に混入した
り、或いはプラスチック樹脂中に混入したり、或いは膜
中に混入させる等して、透過率変化、着色、熱線遮蔽、
紫外線遮蔽、電波透過性、耐久性向上等種々の機能を発
揮させるものを用いることができる。なお、微粒子の粒
径は特に限定するものではないが、透明性を確保するた
めには、約０．１μｍ以下の粒径を有するものが好まし
く、機能、用途、基材の材質、微粒子の粒径、含有量等
特に限定するものではない。
は、Ｓｎ、Ｔｉ、Ｓｉ、Ｚｎ、Ｚｒ、Ｆｅ、Ａｌ、Ｃ
ｒ、Ｃｏ、Ｃｅ、Ｉｎ、Ｎｉ、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｐ
ｔ、Ｍｎ、Ｔａ、Ｗ 、Ｖ 、Ｍｏの金属、酸化物、窒
化物、硫化物あるいはＳｂ、Ｓｎ、Ｆなどのドープ物の
各単独物、もしくはこれらの中から少なくとも２種以上
を選択してなる複合物、またはさらに当該各単独物もし
くは複合物に有機樹脂物を含む混合物または有機樹脂物
を被覆した被膜物などの微粒子を、ガラス中に混入した
り、或いはプラスチック樹脂中に混入したり、或いは膜
中に混入させる等して、透過率変化、着色、熱線遮蔽、
紫外線遮蔽、電波透過性、耐久性向上等種々の機能を発
揮させるものを用いることができる。なお、微粒子の粒
径は特に限定するものではないが、透明性を確保するた
めには、約０．１μｍ以下の粒径を有するものが好まし
く、機能、用途、基材の材質、微粒子の粒径、含有量等
特に限定するものではない。
【００２５】以上に述べたように、本発明によれば、分
光光度計により全光線透過率、拡散光透過率の各波長毎
の測定値を測定できるので、従来のヘーズメータでは測
定できなかったヘーズ率の波長毎の光散乱特性が把握で
きるようになり、散乱光の色調や散乱強度の波長依存性
の把握が可能となる。
光光度計により全光線透過率、拡散光透過率の各波長毎
の測定値を測定できるので、従来のヘーズメータでは測
定できなかったヘーズ率の波長毎の光散乱特性が把握で
きるようになり、散乱光の色調や散乱強度の波長依存性
の把握が可能となる。
【００２６】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。ただし本発明は係る実施例に限定されるものではな
い。
る。ただし本発明は係る実施例に限定されるものではな
い。
【００２７】実施例１〜４ （１）試料の準備 透明ガラス基板上に、表１に示す４種類の着色膜（膜厚
２００ｎｍ）をゾルゲル法で被覆し、ヘイズ率の測定用
試料とした。
２００ｎｍ）をゾルゲル法で被覆し、ヘイズ率の測定用
試料とした。
【００２８】
【表１】
【００２９】（２）ヘイズ率の算出 次に、前記で準備した４種類の試料のヘイズ率を求め
た。積分球装置を有する分光光度計（日立製作所製 Ｕ
４０００型）を用い、前述の方法により（２）式、
（３）式に基づき、可視光線領域（３８０〜７８０ｎ
ｍ）の各波長毎の透過率１００％合わせ、全光線透過
率、拡散透過率を測定し、（１）式に基づきヘイズ率を
求めた。求めた各波長毎のヘイズ率の光分光曲線を図２
に示す。図２に示すように、試料１〜４の波長毎のヘイ
ズ率はかなり変動していることが判る。特に、試料２、
４はその傾向が著しい。
た。積分球装置を有する分光光度計（日立製作所製 Ｕ
４０００型）を用い、前述の方法により（２）式、
（３）式に基づき、可視光線領域（３８０〜７８０ｎ
ｍ）の各波長毎の透過率１００％合わせ、全光線透過
率、拡散透過率を測定し、（１）式に基づきヘイズ率を
求めた。求めた各波長毎のヘイズ率の光分光曲線を図２
に示す。図２に示すように、試料１〜４の波長毎のヘイ
ズ率はかなり変動していることが判る。特に、試料２、
４はその傾向が著しい。
【００３０】（３）Ｌ*ａ*ｂ*及び座標軸上の色調 次に、上記で求めた各波長毎のヘーズ率より、ＪＩＳ−
Ｚ−８７２９に示されるＬ*ａ*ｂ*表色系の色度座標の
計算に基づきＬ*ａ*ｂ*および座標上の色調を求めた。
求めたＬ*ａ*ｂ*表色系色度座標を表２に示す。表２に
示すように、目視観察による散乱光の色調と色度座標上
の色調がほとんど一致している。
Ｚ−８７２９に示されるＬ*ａ*ｂ*表色系の色度座標の
計算に基づきＬ*ａ*ｂ*および座標上の色調を求めた。
求めたＬ*ａ*ｂ*表色系色度座標を表２に示す。表２に
示すように、目視観察による散乱光の色調と色度座標上
の色調がほとんど一致している。
【００３１】
【表２】
【００３２】以上に示すように、本発明の方法によれば
可視光線領域（３８０〜７８０ｎｍ）の波長毎のヘイズ
率が測定できるので、目視観察による散乱光の色調と測
定したＬ*ａ*ｂ*表色系の色度座標上の色調がほとんど
一致し、各試料の散乱光の識別が可能となった。
可視光線領域（３８０〜７８０ｎｍ）の波長毎のヘイズ
率が測定できるので、目視観察による散乱光の色調と測
定したＬ*ａ*ｂ*表色系の色度座標上の色調がほとんど
一致し、各試料の散乱光の識別が可能となった。
【００３３】比較例１〜４ 実施例１〜４で得られた各試料を、従来の測定法である
ヘーズメータ（日本電色工業製 ＮＤＨ−２０Ｄ型）で
ヘイズ率及び目視観察（ハロゲンランプ照射）による散
乱光の色調を測定した。結果を表３に示す。表３に示す
ように、従来の測定法では、視感強度の強い波長５３０
ｎｍ付近のヘイズ率しか測定できず、今回の試料のよう
な波長選択性のある微粒子を含む透明基材の場合には、
ヘイズ値は真の値を示していないという問題がある。
ヘーズメータ（日本電色工業製 ＮＤＨ−２０Ｄ型）で
ヘイズ率及び目視観察（ハロゲンランプ照射）による散
乱光の色調を測定した。結果を表３に示す。表３に示す
ように、従来の測定法では、視感強度の強い波長５３０
ｎｍ付近のヘイズ率しか測定できず、今回の試料のよう
な波長選択性のある微粒子を含む透明基材の場合には、
ヘイズ値は真の値を示していないという問題がある。
【００３４】
【表３】
【００３５】実施例５、６ 透明ガラス基板上にチタニア微粒子をシリカマトリクス
中に分散させた薄膜（膜厚７０ｎｍ）をゾルゲル法で形
成したもの２種類を試料とし目視観察した。結果を表４
に示す。表４に示されるように、２つの試料間では膜の
表面状態の違いで、ハロゲンランプ光を照射した際に観
察される散乱光に違いが認められた。これらの試料につ
いて実施例１と同様に測定し、各波長毎のヘーズ率を求
めた結果を図４に示す。前記試料１〜４と同様に、各波
長毎のヘイズ率は波長により大きく変動しており、特に
試料５においてその傾向が強かった。
中に分散させた薄膜（膜厚７０ｎｍ）をゾルゲル法で形
成したもの２種類を試料とし目視観察した。結果を表４
に示す。表４に示されるように、２つの試料間では膜の
表面状態の違いで、ハロゲンランプ光を照射した際に観
察される散乱光に違いが認められた。これらの試料につ
いて実施例１と同様に測定し、各波長毎のヘーズ率を求
めた結果を図４に示す。前記試料１〜４と同様に、各波
長毎のヘイズ率は波長により大きく変動しており、特に
試料５においてその傾向が強かった。
【００３６】
【表４】
【００３７】比較例５、６ 試料５，６のヘイズ率を比較例１〜４と同じ方法により
ヘイズ率を測定し、結果を表５に示す。表５に示すよう
に、前記の図４に示した波長毎のヘイズ値とかなり大き
く異なる傾向を示している。
ヘイズ率を測定し、結果を表５に示す。表５に示すよう
に、前記の図４に示した波長毎のヘイズ値とかなり大き
く異なる傾向を示している。
【００３８】
【表５】
【００３９】
【発明の効果】本発明は、従来の一般的なヘーズメータ
では測定できなかった波長毎のヘイズ率分光特性が把握
できるようになり、散乱光の色調や散乱強度をランク分
けできるようになる著効を有する。
では測定できなかった波長毎のヘイズ率分光特性が把握
できるようになり、散乱光の色調や散乱強度をランク分
けできるようになる著効を有する。
【図１】積分球装置の概略を示す図である。
【図２】実施例１〜４におけるヘイズ率分光曲線を示す
図である。
図である。
【図３】実施例１〜４におけるＬ*ａ*ｂ*表色系色度座
標を示す図である。
標を示す図である。
【図４】実施例６、６におけるヘイズ率分光曲線を示す
図である。
図である。
１ 積分球装置 ２ 球体 ３ 入射側開口部 ４ 横側開口部 ５ 試料 ６ 横蓋 ７ 下側開口部 ８ 受光部 ９ 下蓋 １０ 光源 １１ 入射光線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G020 AA08 DA02 DA03 DA04 DA12 DA22 DA24 DA31 DA66 2G059 AA02 BB08 EE01 EE02 EE13 GG10 HH02 JJ01 JJ16 KK01 KK07
Claims (4)
- 【請求項１】積分球装置を用い、透明体の各波長毎の全
光線透過率Ｔ１及び拡散光線透過率Ｔ２を測定し、
（１）式に基づいて各波長毎のヘイズ率（％）を求める
ことを特徴とする波長選択性のある散乱光測定方法。 【式１】 - 【請求項２】前記請求項１における各透過率を可視光線
領域（３８０〜７８０ｎｍ）の各波長毎に測定すること
を特徴とする請求項１記載の波長選択性のある散乱光測
定方法。 - 【請求項３】透明体は、該透明体中に光を散乱する微粒
子状物質が含有されてなることを特徴とする請求項１ま
たは２記載の波長選択性のある散乱光測定方法。 - 【請求項４】透明体は、透明基板表面に微粒子状物質を
含む膜が被覆されている透明基材であることを特徴とす
る請求項１乃至３のいずれかに記載の波長選択性のある
散乱光測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001116764A JP2002310902A (ja) | 2001-04-16 | 2001-04-16 | 波長選択性のある散乱光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001116764A JP2002310902A (ja) | 2001-04-16 | 2001-04-16 | 波長選択性のある散乱光測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002310902A true JP2002310902A (ja) | 2002-10-23 |
Family
ID=18967448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001116764A Pending JP2002310902A (ja) | 2001-04-16 | 2001-04-16 | 波長選択性のある散乱光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002310902A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100675216B1 (ko) * | 2005-08-23 | 2007-01-29 | 삼성전기주식회사 | 헤이즈 측정 방법 및 그 장치 |
| EP2171430A4 (en) * | 2007-07-19 | 2010-12-22 | 3M Innovative Properties Co | SENSOR OF OPTICAL PROPERTIES |
| WO2010104699A3 (en) * | 2009-03-09 | 2011-01-13 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for measuring haze of sheet materials or other materials |
| CN102192786A (zh) * | 2010-03-18 | 2011-09-21 | 大*电子株式会社 | 量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器 |
| CN102305760A (zh) * | 2011-05-23 | 2012-01-04 | 成都光明光电股份有限公司 | 光学玻璃耐腐蚀性测试装置及其测试方法 |
| JP2014215257A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 日本電色工業株式会社 | ヘーズ値計測装置 |
| CN107615468A (zh) * | 2015-05-13 | 2018-01-19 | 信越半导体株式会社 | 雾度的评价方法 |
-
2001
- 2001-04-16 JP JP2001116764A patent/JP2002310902A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100675216B1 (ko) * | 2005-08-23 | 2007-01-29 | 삼성전기주식회사 | 헤이즈 측정 방법 및 그 장치 |
| EP2171430A4 (en) * | 2007-07-19 | 2010-12-22 | 3M Innovative Properties Co | SENSOR OF OPTICAL PROPERTIES |
| US7969560B2 (en) | 2007-07-19 | 2011-06-28 | 3M Innovative Properties Company | Optical property sensor |
| CN102422148B (zh) * | 2009-03-09 | 2015-02-25 | 霍尼韦尔国际公司 | 用于测量片状材料或其它材料的雾度的装置和方法 |
| WO2010104699A3 (en) * | 2009-03-09 | 2011-01-13 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for measuring haze of sheet materials or other materials |
| CN102422148A (zh) * | 2009-03-09 | 2012-04-18 | 霍尼韦尔国际公司 | 用于测量片状材料或其它材料的雾度的装置和方法 |
| US8184294B2 (en) | 2009-03-09 | 2012-05-22 | Honeywell International Inc. | Apparatus and method for measuring haze of sheet materials or other materials |
| CN102192786A (zh) * | 2010-03-18 | 2011-09-21 | 大*电子株式会社 | 量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器 |
| JP2011196735A (ja) * | 2010-03-18 | 2011-10-06 | Otsuka Denshi Co Ltd | 量子効率測定方法、量子効率測定装置、および積分器 |
| TWI500912B (zh) * | 2010-03-18 | 2015-09-21 | Otsuka Denshi Kk | 量子效率測量方法、量子效率測量裝置以及積分器 |
| CN102305760A (zh) * | 2011-05-23 | 2012-01-04 | 成都光明光电股份有限公司 | 光学玻璃耐腐蚀性测试装置及其测试方法 |
| CN102305760B (zh) * | 2011-05-23 | 2013-10-02 | 成都光明光电股份有限公司 | 光学玻璃耐腐蚀性测试装置及其测试方法 |
| JP2014215257A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 日本電色工業株式会社 | ヘーズ値計測装置 |
| CN107615468A (zh) * | 2015-05-13 | 2018-01-19 | 信越半导体株式会社 | 雾度的评价方法 |
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