JP2002510102A - 物品を検査するための方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 本物を指摘する特性の存在を決定するために物品を検査するための方法及び装置。その方法が、少なくとも第１と第２のウェーブバンドにおける放射による物品の照射と、第１のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第１の放射の検知であって、生成された第１の放射が本物を指摘する特性の存在又は欠如に従い更に物品上の不明瞭にする物質の存在に対応して変化するように、第１のウェーブバンドが選択される第１の放射の検知とを具備する。第２のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第２の放射が検知され、物品により生成される第２の放射が、物品上の不明瞭にする物質の程度によって変化するが、しかし本物を指摘する特性の存在とは実質的に独立であるように、第２のウェーブバンドが選択される。検知された放射は、本物を指摘する特性が存在するかどうかを決定するために比較される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 本発明は、物品、例えば紙幣等の価値のある書類を検査するための方法及び装
置に関する。

【０００２】 安全管理用（ｓｅｃｕｒｉｔｙ）書類の真正を確証するためにレフレクタンス
（ｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ）計測を使用することの原理は良く知られている。安
全管理用用紙の特性は、スペクトル（ＵＶ、可視及びＩＲ）のある範囲において
反射率が、偽の書類を製作するために使用された多くの非安全管理用用紙の反射
率とは異なる様なものである。

【０００３】 例えば簡単な真正の確証システムは、ＵＶライトによる書類の照射及び反射強
度の計測により製作できる。もしこの強度が前もって決められた敷居値レベルを
越える場合は、書類は本物であると見なされる（但し特定の状況において、偽の
書類がより高い反射率を有する場合があることを留意する）。紙の自然のＵＶ励
起蛍光による計測が同時に実施可能であり、即ち最も安全管理された用紙は低レ
ベルの自然蛍光を有する。この「ＵＶ発光」計測技術はまた良く知られている。

【０００４】 上記で概要が説明された単純な技術には、任意の実用上において幾つかの欠点
がある。２つの最も重要なものを以下に示す。 ・ 任意の与えられた書類からの反射強度はまた、計測システムの特性に依存
しており、その計測システムの幾つかには著しく変化するものがある。例えば、
ほとんどのＵＶ発生源の出力強度は温度により変化し、更にその発生源の経過年
数と共に変化する。使用される光学的構成要素（フィルター、窓、レンズ等）の
特性もそれらの経過年数と共に変化する。使用において光学的な表面に形成され
る汚れやほこりは計測される強度を減少する。 ・ 反射強度は書類の汚れに依存しており、書類が汚れているほど、反射率は
低い。

【０００５】 計測システムの感度の変化は、参考面で計測された信号レベルを継続的に監視
する自動キャリブレーションシステムにより減少されても良いが、しかし連続的
に清浄な参考面を提供することには困難があり、費用を要する。その様なシステ
ムはもちろん、書類の任意の汚れを補償できない。

【０００６】 複合の影響は、検知システムの識別力を減少させる。もし検知の敷居値が、新
規の清浄な（高い感度）システムにより最も汚れのない偽物を検知するのに十分
高く設定されるならば、汚れた本物のノート（記述）の比較的大きな部分が間違
えて偽物と見なされるであろう、即ちこの部分は、検知システムが経過年数を増
加するか又は汚れるに従い増大するであろう。もし本物のノートの小さな部分だ
けが、古い汚れた（低感度）システムにより間違って偽物と見なされるように、
敷居値が低下された場合には、偽物の許容できない大きな部分が、清浄なシステ
ムにより本物であると見なされるであろう。

【０００７】 ＵＳ−Ａ−４７２３０７２は、同じ光学的ウェーブバンド（周波数帯域）にお
いて作動する１以上のセンサーを使用する、紙幣の汚れを計測するための装置を
開示する。本発明は汚れの計測に関するものではない。

【０００８】 ＵＳ−Ａ−３６７９３１４は、異なるスペクトル分布を有するライトビームを
使用してノート部分の選択された部分を継続的に照射し、その後照射された部分
を通り透過した（ｔｒａｎｓｍｉｔｔｅｄ）光又はそれにより影響を受けた光を
検知することにより、紙幣の真正を光学的にテストするための装置について開示
する。この検討案の問題は、紙幣の照射を制御するために、照射ビームを機械的
に横切る一対のフィルタをスキャン（走査）する必要があることである。

【０００９】 本発明の一つの形態に従い、本物を指摘する特性の存在を決定するための物品
の検査方法は、少なくとも第１と第２のウェーブバンドにおける放射による物品
の照射と、第１のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第１
の放射の検知であって、生成された第１の放射が本物を指摘する特性の存在又は
欠如に従い更に物品上の不明瞭にする物質の存在に対応して変化するように、第
１のウェーブバンドが選択される第１の放射の検知と、第２のウェーブバンドで
の照射に対応して物品により生成される第２の放射の検知であって、物品により
生成される第２の放射が、物品上の不明瞭にする物質の程度によって変化するが
、しかし本物を指摘する特性の存在とは実質的に独立であるように、第２のウェ
ーブバンドが選択される第２の放射の検知と、更に本物を指摘する特性が存在す
るかどうかを決定するための、検知された第１と第２の放射の比較とを具備する
。

【００１０】 本発明の第２の形態に従い、本物を指摘する特性の存在を決定するための物品
の検査装置は、少なくとも第１と第２のウェーブバンドにおける放射により物品
を照射するための少なくとも１つの発生源と、第１のウェーブバンドでの照射に
対応して物品により生成される第１の放射を検知するための第１の検知器であっ
て、生成された第１の放射が本物を指摘する特性の存在又は欠如に従い更に物品
上の不明瞭にする物質の存在に対応して変化するように、第１のウェーブバンド
が選択される第１の検知器と、第２のウェーブバンドでの照射に対応して物品に
より生成される第２の放射を検知するための第２の検知器であって、物品により
生成される第２の放射が、物品上の不明瞭にする物質の程度によって変化するが
、しかし本物を指摘する特性の存在とは実質的に独立であるように、第２のウェ
ーブバンドが選択される第２の検知器と、本物を指摘する特性が存在するかどう
かを決定するために、検知された第１と第２の放射を比較するための比較手段と
を具備する。

【００１１】 上記で規定した特性を有する少なくとも２つの異なるウェーブバンドで物品を
照射することにより、汚れ等の不明瞭にする物質を有する場合でさえも、本物と
本物でない物品について識別することが可能であることを我々は発見した。

【００１２】 一般的に第１のウェーブバンドは、例えば紫外線又は赤外線範囲内等の、可視
波長範囲の外側にある。実際に基本的には、照明は電磁スペクトルのどこかにあ
る。本物の特性は一般的に、その隠れた特徴により可視波長範囲内で可視ではな
いので、このことが重要である場合が良くある。しかし第２のウェーブバンドは
可視波長範囲にある場合が良くあるが、その理由は可視波長範囲では、それは本
物の特性により実質的に影響されないからである。場合によってはしかし、両方
のウェーブバンドは可視波長バンド（帯域）内あるいは外に有り得る。

【００１３】 第１と第２のウェーブバンドが、共に近いことを前提にすると、汚れは２つの
ウェーブバンドにおける放射において実質的に同じ影響を有する。従って第１と
第２の検知された放射の間の関係は、汚れの程度に実質的に同様に関係がない（
少なくとも特定の限度までは）。これはその後に、本物と偽物の紙幣の間の識別
について非常に好都合な方法を提供しており、例えばその場合には第１と第２の
放射の間の関係は、真正性（ａｕｔｈｅｎｔｉｃｉｔｙ）に依存して相違してお
り、汚れの量には依存しない。

【００１４】 個別の発生源が使用可能であるが、本発明の特別に好都合な形態では、両方又
は全てのウェーブバンドにおいて放射を生成する単一の発生源が使用可能である
。例えば、従来のＵＶ発生源にはＵＶウェーブバンドにおいて、及び更に可視領
域において放射を生成するものが幾つかある。簡単にするために以下ではＵＶ放
射の使用について説明するが、単一又は複数の別の波長が代わりに使用可能であ
ることが理解されるべきである。

【００１５】 全てのウェーブバンドにおける照射及び選択的な検知は、選択されたウェーブ
バンドにおける照射よりむしろ、機械的なスキャニング（走査）のための必要性
を回避し、横のそれた（ｓｔｒａｙ）光に対する影響され易さを減少し、更に処
理を簡単にする。好都合には、これは検知器の前にフィルタを設置することで実
現できる。

【００１６】 通常は２つの第１のウェーブバンドが十分であると分かっていたが、２つ以上
のウェーブバンドでの照射が実施できる。場合によってはこれは、真正をより正
確に決定できる。

【００１７】 例えば３つのウェーブバンドにおいて照射が使用される実施の形態において、
３つのウェーブバンドの２つは、生成された放射が２つの本物を指摘する特性の
それぞれ１つの存在又は存在しないことにより変化する領域、及び不明瞭にする
物質の程度により変化する領域に、それらが存在するように通常選択される。第
３のウェーブバンドは、生成された放射が不明瞭にする物質の程度により変化す
る領域にあるが、そのウェーブバンドは２つの本物を指摘する特性の存在又は存
在しないことにより実質的に変化しない。

【００１８】 一般的に、物品により生成された第１と第２の検知された放射は、反射された
放射を具備しており、反射された放射の波長は物品の特性（印字、紙等）に依存
する。場合によっては照射はまた、物品の印字又は紙を発光させる。既知の方法
において照射を適切に調節することにより、蛍光と燐光の違いを識別することが
可能であると考えられる。その調節はまた、環境の光の影響を排除するためにも
使用できる。

【００１９】 第１と第２の検知された放射は一般的に、それぞれ第１と第２のウェーブバン
ド内にある。しかし場合によっては、第１と第２の検知された放射の１つ又は両
方は、対応する照射から波長においてオフセットしても良い。

【００２０】 第１と第２の検知された放射間の関係は、種々の方法により決定できる。１つ
の検討案では、第１と第２の検知された放射の強度の比が決定される。その比は
その後、物品が本物かどうかを決定するために、前もって決められた敷居値と比
較される。これとは別の検討案では、第１と第２の検知された放射の多くの異な
る特性が決定でき、その特性から計測ベクトルが、本物及び／又は既知の偽物の
物品に対応する１つ以上の計測ベクトルとの比較のために製作される。

【００２１】 本発明の重要な用途は、紙幣等の価値のある書類の検査においてであるが、本
発明はまた別の種類の物品、特に可視及び可視ではないウェーブバンドの両方に
対応するインクにより印字されるものの検査に適用可能であることが認識される
。 本発明による方法及び装置の幾つかの例が、添付図を参照すると共に以下で説
明される。

【００２２】 図１に示す装置は一対のＵＶランプ１，２を具備しており、そのランプが生じ
る放射が領域３に向かうように、そのランプが角度を持って設置される。領域３
は、ベルト等の動く搬送機５上の領域３を通り運ばれる紙幣４の通路（パス）内
に設置される。各ランプは典型的に、図４に示されるような波長範囲を生成する
。特に比較的高い強度の放射は、第１のウェーブバンド（周波数帯域）、即ちＵ
Ｖバンド（波長約３８０ｎｍ以下）及び第２のウェーブバンド、即ち可視範囲（
波長約３８０から７００ｎｍ）内に生成されることが分かる。第１の近似として
、このスペクトルの全体の形状は、たとえ全体の積分された出力が変化しても、
温度又はランプの経過年数により著しく変化することはない。

【００２３】 ランプ１，２により生成された放射は、紙幣により反射されており、反射放射
の（第１と第２の）波長は紙幣の紙及び紙幣のインクに依存する。反射したＵＶ
放射の強度はインク又は紙幣の紙の真正性（ａｕｔｈｅｎｔｉｃｉｔｙ）、及び
汚れの程度に対応する。反射した可視放射の強度は、汚れの程度に実質的に単独
で依存する。放射はまた、紙幣４上のインクを刺激して発光させても良い。反射
された放射及び発光は、焦点結合（ｆｏｃｕｓｉｎｇ）及び検知システム６によ
り受光される。システム６は、管状のハウジング７を具備しており、そのハウジ
ングの先端には赤外線遮断（ｓｔｏｐ）フィルタ８及び焦点（ｆｏｃｕｓｉｎｇ
）レンズ９が設置されており、そのレンズはＵＶパスフィルタ１０及び可視パス
フィルタ１１に入射放射の焦点を合わせており、そのフィルタの特性を図５に示
す。それぞれのセンサ１２、１３は、フィルタ１０、１１の後ろに設置される。
センサ１２は従って、入射の（ｉｎｃｉｄｅｎｔ）ＵＶライトの強度の出力を表
示する一方で、センサ１３は入射の可視光の強度の出力を表示する。

【００２４】 一つの好適な検討案において、検知された放射の強度は、例えばそれらの比を
とることにより単純に比較され、そしてその後この比は、紙幣が本物かどうかを
決定するために、前もって決められた敷居値に比較される。例えば本物の紙幣は
、２つのウェーブバンドにおけるその強度が同様である偽物との対照においてＵ
Ｖ反射と比較すると高くなる可視反射を有しても良い。もし比が敷居値を越して
いる場合には、これは本物のノートを示しており、即ち２つのウェーブバンドに
おいて反射強度に比較的大きな相違がある。

【００２５】 前述のように、ある種のインクは、１つ又は両方のウェーブバンドにおける照
射において発光可能である。加えてセンサは、環境の光を受光し反応しても良い
。好適な検討案において従って、ランプ１、２は調節されるので、一方の環境の
光と他方の照射に応じて受光された光を区別することが可能であるが、これは本
発明の基本部分ではない。

【００２６】 図２はランプ出力を調節するための単純な回路を図示しており、回路は、ラン
プ制御回路２１に接続する時間発生機２０を備えており、ランプ制御回路は順番
にランプ１、２に接続する。

【００２７】 各センサ１２，１３はそれぞれ増幅器３０に接続する。２基の増幅器の出力は
、それぞれの信号処理回路３１、３２に出力される。これらは信号を処理して多
数の信号計測を生成し、量は増幅器出力の異なる特性に関係する。信号処理回路
はロー（低周波数帯）パスフィルタ、ハイ（高周波数帯）パスフィルタ、デモジ
ュレータ（復調器）、インテグレータ（積分器）及び当業者の良く知る別の技術
を具備しても良い。計測は増幅器出力の相違してフィルタを通されたバージョン
（ｖｅｒｓｉｏｎｓ）等、及びこれらの組み合わせ（合計、差、商等）を含む。
一般的にこれらの信号処理回路は、記憶（ｓｔｏｒａｇｅ）容量を有さず、増幅
器出力が変化する時に、処理において固有の比較的短い遅れは別にして、計測は
変化する。その様な信号処理は、便利さに応じて、アナログ又はデジタル電子ハ
ードウエア３３を使用するか又は、ソフトウエア技術を使用して実施されても良
い。

【００２８】 センサ１２、１３から得ることが出来る一般的な情報は以下のものを含む。 （ａ）検知されたＵＶライト（光）の調節（ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）レベル （ｂ）検知されたＵＶライトの平均、又はＤＣ、レベル （ｃ）検知された可視ライトの調節レベル （ｄ）検知された可視ライトの平均、又はＤＣ、レベル これらはある種の計測を得るために使用できる。

【００２９】 最も重要な計測は、比（ａ）：（ｃ）であることが良くあるが、（ｂ）と（ｄ
）もまた有用な情報を幾つか提供できる。ＵＶチャンネルは波長の範囲に対して
感度がよいので、出力（ｂ）は「短い」ＵＶ波長の照明により引き起こされる任
意の「長い」ＵＶ波長のりん光からの寄与を含むことが出来る。この「ＵＶりん
光」の計測は出力（ｂ）と出力（ａ）の間の差により与えられる。同様に、出力
（ｄ）及び（ｃ）間の差は任意の可視りん光の計測である。

【００３０】 計測は計測分析電気回路３３に出力され、それはまた別の外部信号入力（敷居
値レベル、書類搬送システムからの位置の情報等）を有しても良い。この回路は
、紙幣が本物かどうかを指示する一つの出力信号を生成するために、計測を個別
に処理するか又は、組み合わせて処理する。

【００３１】 処理は比較的単純であっても良く、上記で説明したように敷居値のレベルとの
信号レベルの比較及び２つの第２のウェーブバンドにおける反射を代表する計測
の比較を具備する。場合によっては、本物及び既知の偽物のノートの特性を定義
するために、数個の計測を一緒に処理するものや、それらを独立した計測として
よりもむしろ単一の計測ベクトルとして扱うものや、多次元のクラスタリング（
ｃｌｕｓｔｅｒｉｎｇ）技術を使用するもののようなより複雑な技術が、偽物を
高い割合で識別することが可能であることが分かってきた。その様な処理は、標
準的な数学及びソフトウエア技術を使用して通常実施されており、人工（アーテ
ィフィシャル）ニューラルネットの使用を含む。

【００３２】 これらの計測は、書類が搬送システムを介して検知器を通り過ぎる際に、書類
の一箇所で実施されても良いし、あるいは多くの箇所でも良い。その様な技術は
当業者には良く知られている。

【００３３】 ＵＶパスフィルタ１０の応答は、本物と偽物の書類の反射率の相違が最大にな
るＵＶスペクトルの部分において計測が実施されるように選択される。可視パス
フィルタ１１の応答は、顕著な可視出力がある領域で計測が実施されるように選
択される。

【００３４】 上記の例において２つの周波数帯が使用された。図６は、３つのウェーブバン
ドにおける書類からの放射を検知する装置を示す。図６に示される回路は図２及
び図３に示されるものに非常に似ており、この回路は図１に示されるものと同様
な配置（ａｒｒａｎｇｅｍｅｎｔ）で使用される。この場合において一対のラン
プ１０１、１０２は一般的にネオン等のガスを含む放電ランプの形であり、書類
に照射するように使用される。各ランプは、別の広いバンドの発生源が使用可能
であるにも係わらず、３３０ｎｍ以下〜８００ｎｍ以上までの波長において多数
の狭いピークにおいて放射を生成する。ランプは時計１０４に接続するランプ制
御回路１０３により制御される。書類からの放射はそれぞれのフィルタ１０８〜
１１０を経由して３つのフォトダイオード１０５〜１０７まで通過する。これら
のフィルタのパスバンドは図７に示されており、図７ではこれらのパスバンドが
重複しないことが分かる。フィルタ１０８のためのパスバンドは１１１で示され
ており、フィルタ１０９のためのパスバンドは１１２で示されており、更にフィ
ルタ１１０のためのパスバンドは１１３で示される。

【００３５】 フォトダイオード１０５〜１０７からの出力信号は、それぞれの増幅器１１４
〜１１６により増幅されて、それぞれの信号処理電気回路１１７〜１１９まで通
過する。信号はその後、図３で示される電気回路３３と同様に分析電気回路１２
０まで通過する。

【００３６】 照射が３つの（又はそれ以上の）ウェーブバンドで計測される場合に、処理の
最も簡単な形では、各ウェーブバンド１１１〜１１３の強度の比を計算しており
、そのウェーブバンドでは生成された放射は、生成された放射が不明瞭にする材
料の程度によって変化するが本物を指摘する特性の存在又は存在しないことによ
っては実質的に変化しないウェーブバンドにおける強度に対して、本物を指摘す
る特性の存在又は存在しないことによって変化する。これらの比はその後、物品
が本物かどうかを決定するために、前もって決められた敷居値に比較される。し
かし計測ベクトルが検知された放射の幾つかの異なる特性から製作される技術を
使用することは、この場合には通常はより好都合であり、その後この計測ベクト
ルは、本物及び／又は偽物の物品に対応する１以上の計測ベクトルと比較される
。

【００３７】 本発明は書類の選別機（ｓｏｒｔｅｒ）及び受取機（ａｃｃｅｐｔｏｒ）を含
む物品検査システムの多くの異なる形、及び計数機（ｃｏｕｎｔｅｒ）、選別機
、引出機（ｄｉｓｐｅｎｓｅｒ）、受取機等の現金取扱装置に適用可能である。
本発明は紙幣の検査に特に適する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 図１は、装置の第１の例の図解的図面である。

【図２】 図２は、ランプ制御回路を示すブロック回路図である。

【図３】 図３は、処理回路を示すブロック図である。

【図４】 図４は、フィルタを通されていないＵＶ発生源の一般的な出力スペクトルを写
実的に図示する。

【図５】 図５は、２つの第２のウェーブバンドの特性決定に使用できる一対の光学的な
フィルタの特性を写実的に図示する。（この特定の一対のフィルタは例としての
み提供されており、別の対又は複数のフィルタが用途によってはより以上に適し
ている場合があることが認識される必要がある。）

【図６】 図６は、装置の第２の例の図解的ブロック図である。

【図７】 図７は、図６の装置に使用されるウェーブバンドを図示する。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，Ｅ Ａ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ， ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，Ｇ Ｅ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ， ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，Ｍ Ｎ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ， ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，Ｚ Ａ，ＺＷ (72)発明者 リーブス，デビット チャールズ イギリス国，ハンプシャー ピーオー８ ８ビージー，ウォータールービル，グッド ウッド クローズ 27 Ｆターム(参考） 3E041 AA03 BB03

Claims (19)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 本物（ａｕｔｈｅｎｔｉｃｉｔｙ）を指摘する特性の存在を
   決定するための物品（ａｒｔｉｃｌｅ）の検査方法において、その検査方法が、 少なくとも第１と第２のウェーブバンドにおける放射による物品の照射と、 第１のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第１の放射の
   検知であって、生成された第１の放射が本物を指摘する特性の存在又は欠如に従
   い更に物品上の不明瞭にする物質の存在に対応して変化するように、第１のウェ
   ーブバンドが選択される第１の放射の検知と、 第２のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第２の放射の
   検知であって、物品により生成される第２の放射が、物品上の不明瞭にする物質
   の程度によって変化するが、しかし本物を指摘する特性の存在とは実質的に独立
   であるように、第２のウェーブバンドが選択される第２の放射の検知と、更に 本物を指摘する特性が存在するかどうかを決定するための、検知された第１と
   第２の放射の比較と、 を具備する物品の検査方法。
2. 【請求項２】 第１のウェーブバンドが可視波長領域の外側にある請求項１
   に記載の方法。
3. 【請求項３】 第２のウェーブバンドが可視波長範囲内にある請求項１又は
   ２に記載の方法。
4. 【請求項４】 第１の検知された放射が可視波長範囲の外側にある請求項１
   から３のいずれか一項に記載の方法。
5. 【請求項５】 第２のウェーブバンドが可視波長バンド内にある請求項１か
   ら４のいずれか一項に記載の方法。
6. 【請求項６】 第１の放射が実質的に第１の波長バンド範囲内に入る請求項
   １から５のいずれか一項に記載の方法。
7. 【請求項７】 第２の放射が実質的に第２の波長バンド範囲内に入る請求項
   １から６のいずれか一項に記載の方法。
8. 【請求項８】 第１と第２のウェーブバンドの少なくとも１つにおける放射
   が、物品により反射して、第１と第２の検知された放射の少なくとも一部分をそ
   れぞれ構成する請求項１から７のいずれか一項に記載の方法。
9. 【請求項９】 検知された放射が発光を含む請求項１から８のいずれか一項
   に記載の方法。
10. 【請求項１０】 照射する放射の調節及び実質的に調節のない状態及び／又
    は同様な調節の状態で受けられた放射の検知を更に具備する請求項１から９のい
    ずれか一項に記載の方法。
11. 【請求項１１】 比較の手順が、第１と第２の検知された放射の強度の間の
    比の決定を具備する請求項１から１０のいずれか一項に記載の方法。
12. 【請求項１２】 受諾の条件に対応する予想される関係との比較手順の結果
    の関係の決定を更に具備する請求項１から１１のいずれか一項に記載の方法。
13. 【請求項１３】 請求項１１に依存する場合に、関係決定手順が、敷居値と
    の比の比較を具備する請求項１２に記載の方法。
14. 【請求項１４】 照射が単一の発生源から生成される請求項１から１３のい
    ずれか一項に記載の方法。
15. 【請求項１５】 少なくとも３つのウェーブバンドにおける放射が検知され
    る請求項１から１４のいずれか一項に記載の方法。
16. 【請求項１６】 物品が、例えば紙幣等の価値のある書類のようなシートを
    具備する請求項１から１５のいずれか一項に記載の方法。
17. 【請求項１７】 本物を指摘する特性の存在を決定するための物品の検査装
    置において、その検査装置が、 少なくとも第１と第２のウェーブバンドにおける放射により物品を照射するた
    めの少なくとも１つの発生源と、 第１のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第１の放射を
    検知するための第１の検知器であって、生成された第１の放射が本物を指摘する
    特性の存在又は欠如に従い更に物品上の不明瞭にする物質の存在に対応して変化
    するように、第１のウェーブバンドが選択される第１の検知器と、 第２のウェーブバンドでの照射に対応して物品により生成される第２の放射を
    検知するための第２の検知器であって、物品により生成される第２の放射が、物
    品上の不明瞭にする物質の程度によって変化するが、しかし本物を指摘する特性
    の存在とは実質的に独立であるように、第２のウェーブバンドが選択される第２
    の検知器と、 本物を指摘する特性が存在するかどうかを決定するために、検知された第１と
    第２の放射を比較するための比較手段と、 を具備する物品の検査装置。
18. 【請求項１８】 第１と第２の発生源が共通の発生源により形成される請求
    項１７に記載の装置。
19. 【請求項１９】 請求項１から１６のいずれか一項に記載の方法を実施する
    ように適合される請求項１７又は１８に記載の装置。