JP2003016894A - 温度ヒューズおよびそれを用いた電子機器 - Google Patents
温度ヒューズおよびそれを用いた電子機器Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 安定した溶断性能を持つ温度ヒューズを提供
することを目的とする。 【解決手段】 可溶合金11と、可溶合金11の一端と
電気的に接続された第1のリード線12と、可溶合金1
1の他の一端と電気的に接続された第2のリード線13
とを備え、第1のリード線12の熱伝導度を第2のリー
ド線13の熱伝導度より高くしたものである。
することを目的とする。 【解決手段】 可溶合金11と、可溶合金11の一端と
電気的に接続された第1のリード線12と、可溶合金1
1の他の一端と電気的に接続された第2のリード線13
とを備え、第1のリード線12の熱伝導度を第2のリー
ド線13の熱伝導度より高くしたものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は各種電子機器の過熱
保護に用いられる温度ヒューズおよびそれを用いた電子
機器に関するものである。
保護に用いられる温度ヒューズおよびそれを用いた電子
機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の温度ヒューズは特開平7−226
139号公報に記載されたものが知られている。
139号公報に記載されたものが知られている。
【0003】以下、従来の温度ヒューズについて、図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
【0004】図7は従来の温度ヒューズの断面図、図8
は同A−A線断面図である。
は同A−A線断面図である。
【0005】図7、図8において、可溶合金1の両端部
にリード線2が接続されている。可溶合金1にはフラッ
クス3が塗布され、かつ両端が開口した筒状のケース4
内に収納されている。また、ケース4の開口部はエポキ
シ系の合成樹脂5で封止されている。
にリード線2が接続されている。可溶合金1にはフラッ
クス3が塗布され、かつ両端が開口した筒状のケース4
内に収納されている。また、ケース4の開口部はエポキ
シ系の合成樹脂5で封止されている。
【0006】さらに、リード線2は主材料が鉄、すなわ
ち図8に示すように鉄線2aの周囲に銅めっき層2b、
錫めっき層2cを施した構成となっている。
ち図8に示すように鉄線2aの周囲に銅めっき層2b、
錫めっき層2cを施した構成となっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の温度ヒュー
ズは、可溶合金1の両端を同じ主材料のリード線2と接
続されているため、熱伝導の悪い材料をリード線2の主
材料としたとき、一方のリード線2を発熱部品と直接接
続して使用すると、このリード線2を介して可溶合金1
に伝わった発熱部品からの異常熱が可溶合金1へ伝わり
にくい場合が生じて、可溶合金1の溶断が遅くなってし
まう。
ズは、可溶合金1の両端を同じ主材料のリード線2と接
続されているため、熱伝導の悪い材料をリード線2の主
材料としたとき、一方のリード線2を発熱部品と直接接
続して使用すると、このリード線2を介して可溶合金1
に伝わった発熱部品からの異常熱が可溶合金1へ伝わり
にくい場合が生じて、可溶合金1の溶断が遅くなってし
まう。
【0008】さらに、熱伝導の良い材料をリード線2の
主材料としたとき、一方のリード線2をはんだ付けによ
って実装基板に実装すると、はんだの熱が伝わりやすく
実装時に可溶合金1が既に溶断してしまうという課題を
有していた。
主材料としたとき、一方のリード線2をはんだ付けによ
って実装基板に実装すると、はんだの熱が伝わりやすく
実装時に可溶合金1が既に溶断してしまうという課題を
有していた。
【0009】本発明は上記の課題を解決するもので、安
定した溶断性能を持つ温度ヒューズおよびそれを用いた
電子機器を提供することを目的とするものである。
定した溶断性能を持つ温度ヒューズおよびそれを用いた
電子機器を提供することを目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は以下の構成を有する。
に本発明は以下の構成を有する。
【0011】本発明の請求項1に記載の発明は、特に、
第1のリード線の熱伝導度を第2のリード線の熱伝導度
より高くするという構成を有しており、これにより、第
1のリード線を発熱部品と直接接続して使用する場合、
この第1のリード線を介して可溶合金に伝わった発熱部
品からの異常熱が可溶合金へ素早く伝わり、可溶合金の
溶断が速くなったり、第2のリード線を実装基板に取り
付けてはんだ付けによって接続させる場合、はんだの熱
が可溶合金へ伝わりにくく、実装時に可溶合金が溶断し
てしまうことを防止でき、この結果、安定した溶断性能
を持つ温度ヒューズが得られるという作用効果が得られ
る。
第1のリード線の熱伝導度を第2のリード線の熱伝導度
より高くするという構成を有しており、これにより、第
1のリード線を発熱部品と直接接続して使用する場合、
この第1のリード線を介して可溶合金に伝わった発熱部
品からの異常熱が可溶合金へ素早く伝わり、可溶合金の
溶断が速くなったり、第2のリード線を実装基板に取り
付けてはんだ付けによって接続させる場合、はんだの熱
が可溶合金へ伝わりにくく、実装時に可溶合金が溶断し
てしまうことを防止でき、この結果、安定した溶断性能
を持つ温度ヒューズが得られるという作用効果が得られ
る。
【0012】本発明の請求項2に記載の発明は、特に、
第1のリード線の熱伝導度より高い第2のリード線が備
えられた温度ヒューズの第1のリード線を発熱部品に接
続するようにした電子機器の構成を有しており、これに
より、第1のリード線を介して可溶合金に伝わった発熱
部品からの異常熱が可溶合金へ素早く伝わり、可溶合金
の溶断が速くなり、電子機器の信頼性が向上するという
作用効果が得られる。
第1のリード線の熱伝導度より高い第2のリード線が備
えられた温度ヒューズの第1のリード線を発熱部品に接
続するようにした電子機器の構成を有しており、これに
より、第1のリード線を介して可溶合金に伝わった発熱
部品からの異常熱が可溶合金へ素早く伝わり、可溶合金
の溶断が速くなり、電子機器の信頼性が向上するという
作用効果が得られる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態にお
ける温度ヒューズについて図面を参照しながら説明す
る。
ける温度ヒューズについて図面を参照しながら説明す
る。
【0014】図1は本発明の一実施の形態における温度
ヒューズの断面図、図2(a)は図1における同A−A
線断面図、図2(b)は図1における同B−B線断面図
である。
ヒューズの断面図、図2(a)は図1における同A−A
線断面図、図2(b)は図1における同B−B線断面図
である。
【0015】図1において、可溶合金11の一端と電気
的に接続された第1のリード線12と、可溶合金11の
他の一端と電気的に接続された第2のリード線13とを
備え、第1のリード線12の熱伝導度が第2のリード線
13の熱伝導度より高くなっている。
的に接続された第1のリード線12と、可溶合金11の
他の一端と電気的に接続された第2のリード線13とを
備え、第1のリード線12の熱伝導度が第2のリード線
13の熱伝導度より高くなっている。
【0016】可溶合金11は、線状あるいは平板状で、
錫、鉛、ビスマス、カドミウム、インジウム等あるいは
これらの合金からなる。また、可溶合金11にはロジン
系のフラックス14が塗布され、さらに両端に開口部を
持つ筒状のケース15で覆われている。ケース15は例
えばセラミック、PBT、PPS、フェノール樹脂、ガ
ラス等からなり、このケース15の両端の開口部がエポ
キシ、シリコン等の硬化性樹脂16で封止されている。
錫、鉛、ビスマス、カドミウム、インジウム等あるいは
これらの合金からなる。また、可溶合金11にはロジン
系のフラックス14が塗布され、さらに両端に開口部を
持つ筒状のケース15で覆われている。ケース15は例
えばセラミック、PBT、PPS、フェノール樹脂、ガ
ラス等からなり、このケース15の両端の開口部がエポ
キシ、シリコン等の硬化性樹脂16で封止されている。
【0017】第1のリード線12は、銅などの導電性の
良い金属を主材料とし、可溶合金11の一端と電気的に
接続され、線状になっている。
良い金属を主材料とし、可溶合金11の一端と電気的に
接続され、線状になっている。
【0018】第2のリード線13は、鉄などの導電性の
良い金属を主材料とし、可溶合金11の他の一端と電気
的に接続され、線状になっている。なお、第1のリード
線12、第2のリード線13はそれぞれ可溶合金11に
対して直線上に形成されている。
良い金属を主材料とし、可溶合金11の他の一端と電気
的に接続され、線状になっている。なお、第1のリード
線12、第2のリード線13はそれぞれ可溶合金11に
対して直線上に形成されている。
【0019】また、第1のリード線12は第2のリード
線13より熱伝導度が高くなっている。
線13より熱伝導度が高くなっている。
【0020】さらに、第1のリード線12、第2のリー
ド線13はそれぞれ図2(a)(b)に示すように、主
材料の表面にはんだ付け性の良好な金属めっき層12
a,13a、例えば錫、銀あるいははんだ等のめっき層
が施されている。なお、図2(c)に示すように導電性
の良好な銀、銅等の第1の金属めっき層13bを第1の
リード線12は第2のリード線13に施し、さらにその
上にはんだ付け性の良好な錫、はんだなどの第2の金属
めっき層13cを施してもよい。
ド線13はそれぞれ図2(a)(b)に示すように、主
材料の表面にはんだ付け性の良好な金属めっき層12
a,13a、例えば錫、銀あるいははんだ等のめっき層
が施されている。なお、図2(c)に示すように導電性
の良好な銀、銅等の第1の金属めっき層13bを第1の
リード線12は第2のリード線13に施し、さらにその
上にはんだ付け性の良好な錫、はんだなどの第2の金属
めっき層13cを施してもよい。
【0021】以下、本実施の形態の温度ヒューズを用い
た電子機器について説明する。
た電子機器について説明する。
【0022】図3は、本実施の形態の温度ヒューズの使
用方法を示す電子機器の要部の側面図である。
用方法を示す電子機器の要部の側面図である。
【0023】図3において例えば抵抗器などの発熱部品
17のリード線18に本実施の形態の温度ヒューズ19
の第1のリード線20aをスポット溶接等で直接接続
し、温度ヒューズ19の第2のリード線20bと発熱部
品17の他方のリード線21とを実装基板22に挿入す
る。また、温度ヒューズ19の第2のリード線20bと
発熱部品17の他のリード線21は実装基板22の下方
にそれぞれはんだ接続部21bを有し、はんだ接続部2
1bと実装基板22とをはんだによって接続する。
17のリード線18に本実施の形態の温度ヒューズ19
の第1のリード線20aをスポット溶接等で直接接続
し、温度ヒューズ19の第2のリード線20bと発熱部
品17の他方のリード線21とを実装基板22に挿入す
る。また、温度ヒューズ19の第2のリード線20bと
発熱部品17の他のリード線21は実装基板22の下方
にそれぞれはんだ接続部21bを有し、はんだ接続部2
1bと実装基板22とをはんだによって接続する。
【0024】上記したように本発明の一実施の形態にお
ける温度ヒューズは、第1のリード線12の熱伝導度を
第2のリード線13の熱伝導度より高くしたため、図3
で説明したように、第1のリード線20aを発熱部品1
7と直接接続して使用すれば、この第1のリード線20
aを介して可溶合金11に伝わった発熱部品17からの
異常熱が可溶合金11へ素早く伝わり、可溶合金11の
溶断が速くなる。また、第2のリード線20bを実装基
板22に取り付けてはんだ付けによって接続させる場
合、はんだの熱が可溶合金11へ伝わりにくく、実装時
に可溶合金11が溶断してしまうことを防止できる。こ
の結果、安定した溶断性能を持つ温度ヒューズを用いた
電子機器として、信頼性に優れたものとすることができ
る。
ける温度ヒューズは、第1のリード線12の熱伝導度を
第2のリード線13の熱伝導度より高くしたため、図3
で説明したように、第1のリード線20aを発熱部品1
7と直接接続して使用すれば、この第1のリード線20
aを介して可溶合金11に伝わった発熱部品17からの
異常熱が可溶合金11へ素早く伝わり、可溶合金11の
溶断が速くなる。また、第2のリード線20bを実装基
板22に取り付けてはんだ付けによって接続させる場
合、はんだの熱が可溶合金11へ伝わりにくく、実装時
に可溶合金11が溶断してしまうことを防止できる。こ
の結果、安定した溶断性能を持つ温度ヒューズを用いた
電子機器として、信頼性に優れたものとすることができ
る。
【0025】なお、第1のリード線12、第2のリード
線13の熱伝導度は、要求される可溶合金11の溶断温
度、異常発熱時の可溶合金11の溶断に至るまでの時間
などの特性や、発熱部品と温度ヒューズとの距離、第
1、第2のリード線12,13の線径、長さ、熱容量に
あわせて適宜選定すればよい。
線13の熱伝導度は、要求される可溶合金11の溶断温
度、異常発熱時の可溶合金11の溶断に至るまでの時間
などの特性や、発熱部品と温度ヒューズとの距離、第
1、第2のリード線12,13の線径、長さ、熱容量に
あわせて適宜選定すればよい。
【0026】また、第1のリード線12の金属めっき1
2aを除いた主材料を銅で構成すれば、銅は比較的熱伝
導度が高いため、発熱部品17からの異常熱が第1のリ
ード線12を介して可溶合金11に素早く伝わり、可溶
合金11の温度は上昇しやすく、かつ材料コストが安価
になる。
2aを除いた主材料を銅で構成すれば、銅は比較的熱伝
導度が高いため、発熱部品17からの異常熱が第1のリ
ード線12を介して可溶合金11に素早く伝わり、可溶
合金11の温度は上昇しやすく、かつ材料コストが安価
になる。
【0027】このとき、第2のリード線13の主材料と
して銅より熱伝導度の低い金属、例えば鉄、ニッケル、
クロム等の単体あるいはこれら二種類以上の合金および
前記金属と銅との合金などを用いることができる。
して銅より熱伝導度の低い金属、例えば鉄、ニッケル、
クロム等の単体あるいはこれら二種類以上の合金および
前記金属と銅との合金などを用いることができる。
【0028】ここで、本実施の形態の温度ヒューズとそ
の比較例としての温度ヒューズについて、溶断性能の比
較実験結果について説明する。
の比較例としての温度ヒューズについて、溶断性能の比
較実験結果について説明する。
【0029】本実施の形態の温度ヒューズとして、第1
のリード線12は線径0.6mmの銅線に錫めっきした
もの、第2のリード線13は線径0.6mmのニッケル
線に錫めっきしたものを用い、比較例品1として第1、
第2のリード線ともに銅線に錫めっきしたもの、比較例
品2として第1、第2のリード線ともにニッケル線に錫
めっきしたものをそれぞれ用い、全て可溶合金は融点9
8℃、線径0.6mm、長さ4mmのものを用いた。な
お、試料は各々10個作製した。
のリード線12は線径0.6mmの銅線に錫めっきした
もの、第2のリード線13は線径0.6mmのニッケル
線に錫めっきしたものを用い、比較例品1として第1、
第2のリード線ともに銅線に錫めっきしたもの、比較例
品2として第1、第2のリード線ともにニッケル線に錫
めっきしたものをそれぞれ用い、全て可溶合金は融点9
8℃、線径0.6mm、長さ4mmのものを用いた。な
お、試料は各々10個作製した。
【0030】また、実験は図3に示したように抵抗器な
どの発熱部品17のリード線18と本実施の形態の温度
ヒューズ19の第1のリード線20aとをスポット溶接
等で直接接続し、温度ヒューズ19の第2のリード線2
0bと発熱部品17の他方のリード線21とを実装基板
22に挿入した。そして、発熱部品17に過電流を通電
して発熱部品17の表面温度が200℃になるように設
定し、温度ヒューズ19が溶断するまでの時間を測定し
た。
どの発熱部品17のリード線18と本実施の形態の温度
ヒューズ19の第1のリード線20aとをスポット溶接
等で直接接続し、温度ヒューズ19の第2のリード線2
0bと発熱部品17の他方のリード線21とを実装基板
22に挿入した。そして、発熱部品17に過電流を通電
して発熱部品17の表面温度が200℃になるように設
定し、温度ヒューズ19が溶断するまでの時間を測定し
た。
【0031】この結果、本実施の形態の温度ヒューズは
16秒〜20秒で溶断したが、比較例品2は65秒〜8
5秒で溶断した。
16秒〜20秒で溶断したが、比較例品2は65秒〜8
5秒で溶断した。
【0032】上記の実験結果より、本実施の形態の温度
ヒューズは、第1のリード線12の熱伝導度を第2のリ
ード線13の熱伝導度より高くしたため、安定した溶断
性能を持つ温度ヒューズが得られることがわかる。
ヒューズは、第1のリード線12の熱伝導度を第2のリ
ード線13の熱伝導度より高くしたため、安定した溶断
性能を持つ温度ヒューズが得られることがわかる。
【0033】さらに、各試料の実装基板22の下方にあ
るリード線20b、21に250℃、3秒のはんだディ
ップを行い、はんだ接続部21bを形成した。
るリード線20b、21に250℃、3秒のはんだディ
ップを行い、はんだ接続部21bを形成した。
【0034】この結果、本実施の形態の温度ヒューズは
第2のリード線20bに熱伝導度の低いニッケル線を使
用しているのではんだ熱が第2のリード線20bから可
溶合金まで伝わりにくく、可溶合金11が溶断温度に達
することがないため、異常はなかったが、比較例品1は
熱伝導度の良い銅線を使用しているため、はんだ熱が第
2のリード線20bから可溶合金11に伝わり全数溶断
した。つまり、第2のリード線20bとして熱伝導度の
低い金属を主材料としたものを使用することによって、
はんだ付けによる可溶合金の溶断を防止できる。
第2のリード線20bに熱伝導度の低いニッケル線を使
用しているのではんだ熱が第2のリード線20bから可
溶合金まで伝わりにくく、可溶合金11が溶断温度に達
することがないため、異常はなかったが、比較例品1は
熱伝導度の良い銅線を使用しているため、はんだ熱が第
2のリード線20bから可溶合金11に伝わり全数溶断
した。つまり、第2のリード線20bとして熱伝導度の
低い金属を主材料としたものを使用することによって、
はんだ付けによる可溶合金の溶断を防止できる。
【0035】なお、本発明の一実施の形態の温度ヒュー
ズは、第1のリード線12、第2のリード線13がそれ
ぞれ可溶合金11に対して直線上に形成されたアキシャ
ルリードタイプのものについて説明したが、図4に示す
ように第1のリード線12、第2のリード線13を平行
に配置したラジアルリードタイプのもの(A−A線断面
図は図2(a)(b)、B−B線断面図は図2(c)と
同様になる)、および図5に示すような可溶合金を含む
温度ヒューズ本体23に対して第1、第2の板状端子2
4,25を直線上に配置した薄形温度ヒューズも同様の
効果が得られる。ここで図6(a)は図5のA−A線断
面図、図6(b)は同B−B線断面図で、第1の板状端
子24の熱伝導度は第2の板状端子25より高くなって
おり、また、24a,25aはそれぞれ板状端子24,
25の表面に設けられた金属めっき層である。
ズは、第1のリード線12、第2のリード線13がそれ
ぞれ可溶合金11に対して直線上に形成されたアキシャ
ルリードタイプのものについて説明したが、図4に示す
ように第1のリード線12、第2のリード線13を平行
に配置したラジアルリードタイプのもの(A−A線断面
図は図2(a)(b)、B−B線断面図は図2(c)と
同様になる)、および図5に示すような可溶合金を含む
温度ヒューズ本体23に対して第1、第2の板状端子2
4,25を直線上に配置した薄形温度ヒューズも同様の
効果が得られる。ここで図6(a)は図5のA−A線断
面図、図6(b)は同B−B線断面図で、第1の板状端
子24の熱伝導度は第2の板状端子25より高くなって
おり、また、24a,25aはそれぞれ板状端子24,
25の表面に設けられた金属めっき層である。
【0036】さらに、図3に示すような発熱部品17と
本実施の形態の温度ヒューズ19を直接接続したものを
絶縁ケースに収めたタイプの温度ヒューズについても同
様である。
本実施の形態の温度ヒューズ19を直接接続したものを
絶縁ケースに収めたタイプの温度ヒューズについても同
様である。
【0037】
【発明の効果】以上のように本発明は、第1のリード線
の熱伝導度を第2のリード線の熱伝導度より高くしたた
め、第1のリード線を発熱部品と直接接続して使用する
場合、この第1のリード線を介して可溶合金に伝わった
発熱部品からの異常熱が可溶合金へ素早く伝わり、可溶
合金の溶断が速くなったり、第2のリード線を実装基板
に取り付けてはんだ付けによって接続させる場合、はん
だの熱が可溶合金へ伝わりにくく、実装時に可溶合金が
溶断してしまうことが防止でき、この結果、安定した溶
断性能を持つ温度ヒューズおよび信頼性の高い電子機器
が得られるという効果を奏するものである。
の熱伝導度を第2のリード線の熱伝導度より高くしたた
め、第1のリード線を発熱部品と直接接続して使用する
場合、この第1のリード線を介して可溶合金に伝わった
発熱部品からの異常熱が可溶合金へ素早く伝わり、可溶
合金の溶断が速くなったり、第2のリード線を実装基板
に取り付けてはんだ付けによって接続させる場合、はん
だの熱が可溶合金へ伝わりにくく、実装時に可溶合金が
溶断してしまうことが防止でき、この結果、安定した溶
断性能を持つ温度ヒューズおよび信頼性の高い電子機器
が得られるという効果を奏するものである。
【図1】本発明の一実施の形態における温度ヒューズの
断面図
断面図
【図2】(a)同A−A線断面図
(b)同B−B線断面図
(c)同他の例を示すA−A線あるいはB−B線断面図
【図3】同使用方法を示す電子機器の要部の側面図
【図4】同他の例の温度ヒューズを示す断面図
【図5】同他の例の温度ヒューズを示す上面図
【図6】(a)図5の温度ヒューズのA−A線断面図
(b)同B−B線断面図
【図7】従来の温度ヒューズの断面図
【図8】同A−A線断面図
11 可溶合金
12 第1のリード線
13 第2のリード線
14 フラックス
15 ケース
16 酸化性樹脂
17 発熱部品
18 リード線
19 温度ヒューズ
20a 第1のリード線
20b 第2のリード線
21 リード線
21b はんだ接続部
22 実装基板
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 仙田 謙治
大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器
産業株式会社内
Fターム(参考) 5G502 AA02 AA11 BA03 BD03 FF10
Claims (2)
- 【請求項1】 可溶合金と、前記可溶合金の一端と電気
的に接続された第1のリード線と、前記可溶合金の他の
一端と電気的に接続された第2のリード線とを備え、前
記第1のリード線の熱伝導度を前記第2のリード線の熱
伝導度より高くした温度ヒューズ。 - 【請求項2】 可溶合金の一端に第1のリード線が、他
端にこの第1のリード線の熱伝導度より高い第2のリー
ド線が備えられた温度ヒューズの前記第1のリード線を
発熱部品に接続した電子機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001198159A JP2003016894A (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | 温度ヒューズおよびそれを用いた電子機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001198159A JP2003016894A (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | 温度ヒューズおよびそれを用いた電子機器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| JP2003016894A true JP2003016894A (ja) | 2003-01-17 |
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ID=19035649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001198159A Pending JP2003016894A (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | 温度ヒューズおよびそれを用いた電子機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003016894A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180101108A (ko) * | 2017-03-03 | 2018-09-12 | 아벨정밀(주) | 전력형 온도퓨즈 저항기 및 그 제조방법 |
-
2001
- 2001-06-29 JP JP2001198159A patent/JP2003016894A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180101108A (ko) * | 2017-03-03 | 2018-09-12 | 아벨정밀(주) | 전력형 온도퓨즈 저항기 및 그 제조방법 |
| KR101987019B1 (ko) * | 2017-03-03 | 2019-06-10 | 아벨정밀(주) | 전력형 온도퓨즈 저항기 및 그 제조방법 |
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