JP2003107766A - 電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体

Info

Publication number
JP2003107766A
JP2003107766A JP2001302000A JP2001302000A JP2003107766A JP 2003107766 A JP2003107766 A JP 2003107766A JP 2001302000 A JP2001302000 A JP 2001302000A JP 2001302000 A JP2001302000 A JP 2001302000A JP 2003107766 A JP2003107766 A JP 2003107766A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface layer
photosensitive member
electrophotographic photosensitive
group
atom
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001302000A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4562163B2 (ja
JP2003107766A5 (ja
Inventor
Kazuto Hosoi
一人 細井
Junichiro Hashizume
淳一郎 橋爪
Tatsuji Okamura
竜次 岡村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2001302000A priority Critical patent/JP4562163B2/ja
Publication of JP2003107766A publication Critical patent/JP2003107766A/ja
Publication of JP2003107766A5 publication Critical patent/JP2003107766A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4562163B2 publication Critical patent/JP4562163B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 導電性基体上に少なくともカーホ゛ン原子及び周
期律表第13族元素又は第15族元素を含むシリコン原子を母体
とする非単結晶シリコン膜からなる第一の表面層及び、カーホ゛ン
原子を含むシリコン原子を母体とする非単結晶シリコン膜からな
る第二の表面層を形成した電子写真感光体において、帯
電能、感度の向上及び特性むらの低減を高次元で両立す
るとともに強露光画像流れ、融着および感光体表面に生
じる微小なクラックを低減して画像品質を飛躍的に向上させ
る。 【解決手段】 前記第一の表面層は該層内に含有するカー
ホ゛ン原子の増加に伴って光学的ハ゛ント゛キ゛ャッフ゜が増加してい
く関係を満たした領域で形成され、前記第二の表面層は
該層内に含有するカーホ゛ン原子の増加に伴って光学的ハ゛ント゛
キ゛ャッフ゜が減少していく関係を満たした領域で形成された
ものであることを特徴とする電子写真感光体。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光(広義の光であ
って、赤外線、可視光線、紫外線、X線、γ線などを意
味する)のような電磁波に対して感受性のある電子写真
感光体、およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】像形成分野において、電子写真感光体に
おける光受容層を形成する光導電材料としては、高感度
で、SN比〔光電流(Ip)/暗電流(Id)〕が高く、照射す
る電磁波のスペクトル特性に適合した吸収スペクトルを
有すること、光応答性が早く、所望の暗抵抗値を有する
こと、使用時において人体に対して無害であること等の
特性が要求される。特に、事務機としてオフィスで使用
される電子写真装置内に組み込まれる電子写真感光体の
場合には、上記の使用時における無公害性は重要な点で
ある。
【0003】この様な点に優れた性質を示す光導電材料
にアモルファスシリコン(以下、a-Siと表記する)から
なる電子写真感光体が注目されている。
【0004】このような電子写真感光体は、一般的に
は、導電性基体を 50℃〜350℃に加熱し、該基体上に真
空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング
法、熱CVD法、光CVD法、プラズマCVD法等の成
膜法によりa-Siからなる光導電層を形成する。なかで
もプラズマCVD法、すなわち、原料ガスを高周波(R
F波、VHF波)あるいはマイクロ波グロー放電によっ
て分解し、基体上にa-Si堆積膜を形成する方法が好適
なものとして実用に付されている。
【0005】例えば、特開昭57-115556号公報には、a-
Si堆積膜で構成された光導電層を有する光導電部材
の、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気的、光学的、
光導電的特性及び耐湿性等の使用環境特性、さらには経
時安定性について改善を図るため、シリコン原子を母体
としたアモルファス材料で構成された光導電層上に、シ
リコン原子及びカーボン原子を含む非光導電性のアモル
ファス材料で構成された表面障壁層を設ける技術が記載
されている。
【0006】更に、特開昭62-028764号公報には、電荷
ブロッキング層、光導電性層、中間層、表面改質層から
なる感光体において、表面改質層に含有するカーボン原
子、窒素原子及び酸素原子のうち少なくとも1種を中間
層よりも多く含有させた感光体が開示されている。
【0007】また、特開平6-242623号公報には負帯電用
電子写真用感光体の光導電層と表面層の間に非晶質珪素
を主体とし、かつ 50ppm未満のホウ素を含有するか、
または導電性を支配する元素を含まない正孔捕獲層を設
けて優れた電子写真特性が得られる技術が開示されてい
る。
【0008】これらの技術により、電子写真感光体の電
気的、光学的、光導電的特性及び使用環境特性が向上
し、それに伴って画像品質も向上してきた。
【0009】加えて、生産技術の観点からも様々な提案
が為されており、高周波電力の供給方法を変えることに
より、更に様々な改善を行うための様々な工夫が為され
ている。
【0010】例えば、特開昭56-045760号公報には、反
応ガスの励起用電源として、周波数の異なる複数の電
源、一例として 13.56MHzと 400kHzとを同一電極に
印加して該反応ガスを励起し、被処理基板上に堆積膜を
形成する技術が開示されている。
【0011】一方、近年では、より高い周波数の高周波
電源を用いたプラズマCVD法の報告(Plasma Chem
istry and Plasma Processing,Vol.7,No.3,(198
7),p267-273)があり、放電周波数を従来の 13.56MHz
より高くすることで、堆積膜の性能を落とさずに堆積速
度を向上させることができる可能性が示されており、注
目されている。この方法により、製品の低コスト化、高
品質化を同時に達成しうるものとして期待される。
【0012】例えば特開平6-287760号公報にはa-Si系
電子写真用光受容部材形成に用いうるVHF帯の周波数
を用いたPCVDの装置及び方法が開示されている。
【0013】また、上記の2種類の高周波電力を用いる
方法と、より高い周波数の高周波とを組み合わせた例と
して、特開平7-074159号公報には、基板を清浄化するプ
ラズマ処理方法において、基板を載置する電極に高周波
電力と低周波電力、一例として 60MHzと400kHzの高
周波電力を供給し、低周波電力の電力値を変化させるこ
とでプラスイオンの衝突エネルギーを決めるセルフバイ
アス電圧を制御する技術が開示されている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
a-Si系材料で構成された電子写真感光体は、暗抵抗
値、光感度、光応答性等の電気的、光学的、光導電特
性、及び使用環境特性の点、さらには経時安定性および
耐久性の点において、各々個々には特性の向上が図られ
てはいるが、総合的な特性向上を図る上でさらに改良さ
れる余地が存在するのが実情である。
【0015】近年、コンピュータの普及とオフィスのネ
ットワーク化が進んだことにより、電子写真装置も従来
のアナログ複写機としてだけでなく、ファクシミリやプ
リンターの役目を担うためにデジタル化することが求め
られるようになり、更にはデジタル化された情報のフル
カラー出力のため、デジタルフルカラー複写機が要求さ
れることで、それに対応した電子写真感光体が切望され
ている。
【0016】しかしながら、従来の電子写真感光体をデ
ジタルシステムで用いた場合には、以下のような問題が
懸案される。
【0017】例えば、デジタルフルカラー複写機では、
プロセス条件の1つとして、電子写真感光体の周囲に複
数の現像器を設けたり、大型の現像手段を用いるため、
帯電器から現像器までの距離が離れやすい構成になる場
合がある。その為、帯電器から現像器までの電位低下を
補償する為に、帯電電位をこれまで以上に高くすること
が必要になり、更には光感度も高感度にする必要があっ
た。
【0018】また、デジタル複写機の高速化、高寿命化
してきている状況の中、あらゆる環境のもと、使用環
境、電子写真装置本体の構成如何によっては、例えば融
着が発生する場合があった。融着とは、長期間の使用の
間に電子写真感光体表面にトナーが溶けて付着するもの
で、付着の程度によってはベタ白画像やハーフトーン画
像で融着跡が現れるため、実用上、支障を来すことにな
る。このように融着が発生し、画像上に現れるとサービ
スマンが客先に出向いてメンテナンスを行なわなければ
ならず、コスト増を招いてしまう。また、電子写真装置
本体から感光体を取り外してメンテナンスを行なうた
め、その作業中に打痕傷を付け、感光体を使用不能にし
てしまう危険性もあった。更に、デジタルフルカラー電
子写真装置において使用されるカラートナーは低融点の
トナーを用いているため、従来より融着が発生し易い環
境にあり、融着に対する対策が求められている。
【0019】また、従来の電子写真感光体では、色地の
原稿からコントラストの強い画像を得ようとして露光量
を上げた時に、強露光の照射により大量の光キャリアが
生成され、この光キャリアが動きやすい部分へと集中し
て流れ込む現象が生じ、この現象のために、文字部分が
ぼやけてしまう強露光時の画像流れが発生する場合があ
った。この強露光画像流れは、特に電子写真感光体の表
面層に含有する原子の組成比及び添加される不純物元素
の含有量の制御が重要で、作製条件に対応させながら制
御することが重要である。
【0020】また、電子写真装置に於いてコロナ帯電器
を用いて帯電を行う場合、オゾン生成物により感光体表
面が化学的に活性となっているため、使用条件によって
はわずかな衝撃、摩擦等が生じた際に電子写真感光体表
面に微少なクラックが生じ電子写真感光体として実用に
耐えなくなることがあった。
【0021】したがって、電子写真感光体を設計する際
に、上記したような課題が解決されるように電子写真感
光体の層構成、各層の化学的組成など総合的な観点から
の改良を図ることが必要とされ、特に表面層の組成、不
純物元素の濃度、作製条件の適正化が求めることがあっ
た。
【0022】また、作製方法に関して、VHF帯の周波
数によるプラズマCVD法では、RF帯を用いた場合よ
りも、条件によっては特性の良好な膜が得られる為、最
適化された作製方法が期待されている。例えば表面層に
求められる化学的組成や不純物元素の濃度などが、従来
の作成方法で得られた膜と異なることがあり、更にVH
Fの周波数を用いた場合には、特性むらが問題となる場
合がある等、不明な点が多いのが実情である。よって、
VHF帯の周波数を用いた場合に、最適な電子写真特性
の得られるような表面層を確立することが求められてき
た。
【0023】本発明は、上述した従来のa-Siで構成さ
れた電子写真感光体における諸問題を解決することを目
的とするものである。
【0024】即ち、本発明の主たる目的は、帯電能、感
度の向上及び特性むらの低減を高次元で両立するととも
に強露光画像流れ、融着および感光体表面に生じる微小
なクラックを低減して画像品質を飛躍的に向上させた、
シリコン原子を母体とした非単結晶材料で構成された電
子写真感光体、及びその製造方法を提供することにあ
る。
【0025】
【課題を解決するための手段】本発明の電子写真感光体
の製造方法および電子写真感光体は、上記課題を解決す
るために下記の構成を特徴とするものである。
【0026】(1)減圧可能な反応容器内に導電性基体を
設置し、高周波電極に供給した高周波電力によってプラ
ズマを生起させ、導電性基体上に少なくともカーボン原
子及び周期律表第13族元素又は第15族元素を含むシリコ
ン原子を母体とする非単結晶シリコン膜からなる第一の
表面層及びカーボン原子を含むシリコン原子を母体とす
る非単結晶シリコン膜からなる第二の表面層を順次積層
せしめる電子写真感光体の製造方法において、膜内に含
有するカーボン原子の増加に伴って光学的バンドギャッ
プが増加していく関係を満たした領域で該第一の表面層
を形成し、膜内に含有するカーボン原子の増加に伴って
光学的バンドギャップが減少していく関係を満たした領
域で該第二の表面層を形成することを特徴とする電子写
真感光体の製造方法。
【0027】(2)前記第一の表面層と前記第二の表面層
との光学的バンドギャップが、ほぼ同じ値からなる表面
層を形成することを特徴とする上記(1)に記載の電子写
真感光体の製造方法。
【0028】(3)前記第一の表面層と前記第二の表面層
との光学的バンドギャップの差が 0.3eV以下であるこ
とを特徴とする上記(1)〜(2)のいずれかに記載の電子
写真感光体の製造方法。
【0029】(4)前記第一の表面層に含有される周期律
表第13族元素の場合はホウ素原子、第15族元素の場合は
リン原子であることを特徴とする上記(1)〜(3)いずれ
かに記載の電子写真感光体の製造方法。
【0030】(5)前記第一の表面層において、シリコン
原子に対する周期律表第13族元素の含有量が 100原子pp
m以上 30000原子ppm以下であることを特徴とする上記
(1)〜(4)のいずれかに記載の電子写真感光体の製造方
法。
【0031】(6)前記第一の表面層において、シリコン
原子に対する周期律表第15族元素の含有量が 100原子pp
m以上 30000原子ppm以下であることを特徴とする上記
(1)〜(4)のいずれかに記載の電子写真感光体の製造方
法。
【0032】(7)前記高周波電極に供給する高周波電力
において、その発振周波数が 30MHz以上 250MHz以
下であることを特徴とする上記(1)〜(6)のいずれかに
記載の電子写真感光体の製造方法。
【0033】(8)前記複数の高周波電力は周波数が30
MHz以上250MHz以下の高周波電力を少なくとも2
つ含み、該周波数範囲内にある高周波電力が有する電力
値の中で最も大きい電力値と次に大きい電力値を有する
高周波電力について、そのうち周波数の高い方の高周波
電力の電力値をP1、周波数の低い方の高周波電力の電
力値をP2としたとき、前記電力値P1,P2が、 0.1 ≦ P2/(P1+P2) ≦ 0.9 の条件を満たすことを特徴とする上記(1)〜(7)に記載
の電子写真感光体の製造方法。
【0034】(9)導電性基体上に少なくともカーボン原
子及び周期律表第13族元素又は第15族元素を含むシリコ
ン原子を母体とする非単結晶シリコン膜からなる第一の
表面層及び、カーボン原子を含むシリコン原子を母体と
する非単結晶シリコン膜からなる第二の表面層を形成し
た電子写真感光体において、前記第一の表面層は該層内
に含有するカーボン原子の増加に伴って光学的バンドギ
ャップが増加していく関係を満たした領域で形成され、
前記第二の表面層は該層内に含有するカーボン原子の増
加に伴って光学的バンドギャップが減少していく関係を
満たした領域で形成されたものであることを特徴とする
電子写真感光体。
【0035】(10)前記第一の表面層と前記第二の表面
層との光学的バンドギャップが、ほぼ同じ値であること
を特徴とする上記(9)に記載の電子写真感光体。
【0036】(11)前記第一の表面層と前記第二の表面
層との光学的バンドギャップの差が0.5eV以下であるこ
とを特徴とする上記(9)〜(10)のいずれかに記載の電
子写真感光体。
【0037】(12)前記第一の表面層に含有される周期
律表第13族元素の場合はホウ素原子、第15族元素の場合
はリン原子であることを特徴とする上記(9)〜(11)の
いずれかに記載の電子写真感光体。
【0038】(13)前記第一の表面層において、シリコ
ン原子に対する周期律表第13族元素の含有量が 100原子
ppm以上 30000原子ppm以下であることを特徴とする上
記(9)〜(12)のいずれかに記載の電子写真感光体。
【0039】(14)前記第一の表面層において、シリコ
ン原子に対する第15族元素の含有量が 100原子ppm以上
30000原子ppm以下であることを特徴とする上記(9)〜
(12)のいずれかに記載の電子写真感光体。
【0040】(15)前記第一の表面層に周期律表第13族
元素が含有され、負帯電用電子写真感光体として用いら
れることを特徴とする上記(9)〜(13)のいずれかに記
載の電子写真感光体。
【0041】(作用)本発明者らは、2層化された表面層
の役割、構成及び作製方法と、電子写真感光体特性との
相関を種々の条件に渡って調べた。
【0042】電子写真感光体の表面層は、帯電処理の
際、感光体の表面部から内部への電荷の注入を阻止する
電荷注入阻止層としての役割の他に、酸素、水蒸気、空
気中の水分、オゾンといった環境雰囲気中に一般的に存
在する分子種が光導電層表面に直接接触あるいは吸着す
るのを防止する機能を有すると共に、機械的破壊および
磨耗を低減する保護層としての役割を有する。そこで、
従来から本発明者らは、該役割に対応するように機能分
離させた表面層の構成を採用し鋭意検討を行ってきた。
具体的には、電荷注入阻止機能を有した第一の表面層、
表面保護層としての役割を有した第二の表面層として、
第一の表面層では、表面電荷阻止能を得るために電気導
電性を制御する不純物元素を添加させることで帯電性の
改善を図り、第二の表面層では、耐摩耗性や機械的強度
の向上の改善を図っていたが総合的な特性向上という点
で不明慮な点が多く、満足のいく関係を見出すことが出
来なかった。
【0043】そこで、まず本発明者らは表面層に含有し
ているカーボン原子とシリコン原子の組成比を変化させ
ながら、第一の表面層としての性能および第二の表面層
の性能およびそれら2層の組み合わせによる相乗効果を
詳細に調べた。その結果、表面層内に含有するカーボン
量の増加に伴って光学的バンドギャップが増加する領域
で第一の表面層を形成した場合、効果的に導電性を制御
する不純物元素の添加効果が得られるため帯電阻止能が
向上し、且つ膜の抵抗値が最適となるため強露光画像流
れが抑制される。また、表面層内に含有するカーボン量
の増加に伴って光学的バンドギャップが減少する領域で
第二の表面層を形成した場合、耐摩耗性や機械的強度の
向上することで融着の発生が抑制され、更にその組み合
わせを行うことにより感度の向上および感光体表面に生
じる微小クラックの抑制も同時に達成可能になることが
判明した。
【0044】本発明において、負帯電用電子写真感光体
の場合には、第一の表面層に添加する導電性を制御する
不純物元素としては周期律表第13族元素を含有し、該含
有量をシリコン原子に対して 100原子ppm以上 30000原
子ppm以下となるように添加すればよい。シリコン原子
に対する周期律表第13族元素の含有量は、表面からの電
荷注入を阻止する阻止能を十分に得るという観点から 1
00原子ppm以上が好ましく、強露光画像流れを防止する
という観点から 30000原子ppm以下が好ましい。
【0045】一方、正帯電用電子写真感光体の場合に
は、第一の表面層に添加する導電性を制御する不純物元
素としては周期律表第15族元素を含有し、該含有量をシ
リコン原子に対して 100原子ppm以上 30000原子ppm以
下となるように添加すればよい。シリコン原子に対する
周期律表第15族元素の含有量は、表面からの電荷注入を
阻止する阻止能を十分に得るという観点から 100原子pp
m以上が好ましく、強露光画像流れを防止するという観
点から 30000原子ppm以下が好ましい。
【0046】また、従来の表面層では表面からの電荷注
入を阻止するために不純物元素をかなり高濃度に添加し
ているが、適切に添加しないと、場合によっては膜の応
力を大きくしてしまい、微小クラックの原因となる場合
があった。しかし本発明の第一の表面層では、膜内に含
有するカーボン原子の含有量と光学的バンドギャップの
関係を適切に満たした領域で不純物元素を添加すること
で、応力差の増大が防止できていると思われる。
【0047】また、本発明らは融着現象について調べて
いったところ、従来の第二の表面層の形成条件によって
は融着が発生してしまう場合があることを明らかとなっ
た。これらの現象を形成条件に照らし合わせて整理して
いった結果、特に膜内の含有するカーボン原子の増加に
伴って光学的バンドギャップが減少していく関係を満た
した領域で第二の表面層の形成をおこなった場合に限っ
て、融着の抑制に効果が見られた。
【0048】また、第一の表面層と第二の表面層の組み
合わせにおいて、両層の光学的バンドギャップの差を出
来るだけ小さくすることで、更なる阻止能の向上が可能
となり帯電能の向上が可能になることを見出した。その
効果が得られる理由は、第一の表面層および第二の表面
層の光学的バンドギャップの差が小さいほど、第一の表
面層にドーピングされた不純物元素によるフェルミ準位
の変化分がダイレクトに障壁の大きさに影響することに
なる。その為、第一の表面層と第二の表面層との接合間
での障壁がより高くなることで阻止能の向上が得られる
と考えている。また、第一の表面層と第二の表面層を組
み合わせることで、キャリアの走行が最適に制御される
為、感度の向上が可能となると考えている。
【0049】また本発明者は、表面層をより一層改善す
るために、様々な作製方法について検討した。
【0050】その結果、本発明で規定した領域で第一の
表面層および第二の表面層を形成時、VHF帯の高周波
を用いたプラズマCVD法で作成した場合には、RF帯
の高周波を用いた場合よりも上記の効果をより発揮で
き、また堆積速度も速く出来るため、より好ましいこと
が判った。この原因としては明らかとなっていないが、
1つにはVHF帯の周波数を用いることで高エネルギー
プラズマが形成され、それにより分解されにくかったメ
タンガスの分解効率が向上した為と考えられる。これに
より、プラズマ中に良好で最適な活性種が増加され膜構
造のそのものが向上するとともに周期律表第13族あるい
は第15族に属する元素が3配位或いは4配位でドーピン
グされる割合が異なっていることが影響しているのでは
ないかと推察している。そこで、本発明における具体的
な発振周波数の範囲としてとしては、30MHz以上 250
MHz以下のVHF帯がより好ましい。
【0051】しかしながら、VHF帯の周波数を用いた
場合には、高品質で高速に堆積膜を形成することができ
る反面、定在波に起因したむらが基体表面上に生じてし
まう場合がある。この様な問題を回避するためには、異
なる複数の周波数の高周波を重畳することで、問題を効
果的に抑制することが出来ることが判明した。
【0052】また、本発明においては、定在波抑制効果
が得られさえすれば、用いる高周波電力の周波数の種類
に関しては特に制限されるものではないが、一定の周波
数範囲の高周波電力を一定の電力値割合で組み合わせた
場合に最適となり、特に、第1の高周波電力と第2の高
周波電力は、速い堆積速度を期待出来る周波数範囲で、
しかも共に同一の活性種を生成出来る関係にある周波数
範囲であり、それらの電力バランスを適切に設定される
ことが最も望ましい。
【0053】そしてさらに適切な周波数と電力値を持っ
た第3、第4の高周波電力を重ねることで、場合によっ
てはさらに定在波抑制効果を高めたり、他の効果(例え
ばバイアス効果)を得ることも可能である、しかし本発
明の基本的な考え方、作用を示す上で、まず2つの異な
る周波数を用いた場合について以下に説明する。
【0054】第1の高周波電力の周波数をf1、電力値
をP1とし、第2の高周波電力の周波数をf2、電力値
をP2としたとき(但し、f1 > f2)、第1、第2の高
周波電力の望ましい周波数については、下限としては 3
0MHz以上の範囲とすることが、堆積膜の品質、堆積速
度の点で好ましい。一方、上限としては 250MHzより
大きくすると、電力の進行方向での減衰が顕著となり、
異なる周波数の高周波電力との減衰率のずれが顕著とな
ってしまい、十分な均一化効果が得られなくなってしま
う。よって 250MHz以下にすることで重畳効果が有効
に得られるため、好ましい。
【0055】また、2つの高周波電力の電力値P1,P
2(但し高周波電極に供給される高周波電力のうちの上
記の周波数範囲内にある高周波電力が有する電力値の中
で、最も大きい電力値P1とその次に大きい電力値P2
とする。)の割合の範囲に関しては、2つの高周波電力
の合計の電力値(P1 + P2)に対するP2の値が、0.1
以上 0.9以下が望ましい。つまり、P2の割合が小さく
なると、P1のみの場合に近づき、定在波抑制効果は小
さくなる。逆にP2の割合が大きくなりすぎると、同様
にP2単独の場合に近くなり、効果が小さくなる。実験
的事実から、少なくとも一方の高周波電力が、2つの合
計電力に対して 10%以上にすることで、定在波抑制効
果が顕著に得られることが判った。また、更に好ましく
はP2/(P1 + P2)を 0.2以上 0.7以下にすることが
最も望ましいことも実験から明らかとなった。
【0056】また、2つの高周波電力を組み合わせた場
合に本発明の効果は十分に得られるが、さらに第3の高
周波電力を組み合わせることも可能である。
【0057】以上のような改善によって、本発明は、電
子写真感光体の帯電能(阻止能)および感度の向上と特性
むらの抑制を高次元で両立可能であると共に、画像流
れ、融着及び感光体表面に生じる微小なクラックの発生
を抑制可能になることによって画像品質を飛躍的に向上
させ、前記した従来技術における諸問題の全てを解決
し、極めて優れた電気的、光学的特性、画像品質、耐久
性及び耐環境性を有する電子写真感光体を提供し、また
これを再現性よく得ることが可能な製造方法を提供す
る。
【0058】
【発明の実施の形態】(実施態様例)以下、図面に従って
本発明の電子写真感光体の製造方法について詳細に説明
する。
【0059】図1は、本発明の製造方法によって作製さ
れた電子写真感光体の好適な層構成の一例を説明するた
めの模式的構成図である。
【0060】図1の電子写真感光体100は、導電性基
体101の上に光受容層102が設けられている。該光
受容層102はシリコンを母体とする下部電荷注入阻止
層106、及びシリコンを母体とする光導電層103、
更にはシリコンとカーボンを母体とする第一の表面層1
04、第二の表面層105がこの順で設けられている。
【0061】<基体>本発明において使用される基体と
しては、導電性でも電気絶縁性であってもよい。導電性
基体としては、Al、Cr、Mo、Au、In、Nb、Te、
V、Ti、Pt、Pd、Fe等の金属、およびこれらの合
金、例えばステンレス等が挙げられる。
【0062】また、電気絶縁性材料としてポリエステ
ル、ポリエチレン、ポリカーボネート、セルロースアセ
テート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリスチレ
ン、ポリアミド等の合成樹脂のフィルムまたはシート、
ガラス、セラミック等を挙げることができる。本発明に
おいてはこれら電気絶縁性基体の少なくとも感光層を形
成する側の表面を導電処理して基体として用いることが
できる。
【0063】<下部電荷注入阻止層>本発明において、
導電性基体101の上層には、基体101側からの電荷
の注入を阻止する働きのある下部電荷注入阻止層106
を、設けるのが効果的である。下部電荷注入阻止層10
6は光受容層102が一定極性の帯電処理をその自由表
面に受けた際、基体101側より光導電層103側に電
荷が注入されるのを阻止する機能を有している。
【0064】本発明の下部電荷注入阻止層の形成におい
て使用されるSi供給用ガスとなり得る物質としては、
SiH4、Si26、Si38、Si410等のガス状態の、
またはガス化し得る水素化珪素(シラン類)が有効に使用
されるものとして挙げられ、更に層作製時の取り扱い易
さ、Si供給効率の良さ等の点でSiH4、Si26が好ま
しいものとして挙げられる。
【0065】下部電荷注入阻止層106には、シリコン
を母体に導電性を制御する不純物を光導電層103に比
べて比較的多く含有させる。下部電荷注入阻止層106
に含有される不純物元素としては、周期律表第13族元
素または第15族元素を用いることが出来る。本発明に
おいては下部電荷注入阻止層106中に含有される不純
物元素の含有量は、本発明の目的が効果的に達成できる
ように所望にしたがって適宜決定されるが、好ましくは
シリコンに対して 10原子ppm以上 10000原子ppm以
下、より好適には 50原子ppm以上 7000原子ppm以下、
最適には 100原子ppm以上 5000原子ppm以下とされる
のが望ましい。
【0066】そのような第13族原子導入用の原料物質
として具体的には、硼素原子導入用として、B26、B
410、B59、B511、B610、B612、B614
等の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲン
化硼素等が挙げられる。この他、AlCl3、GaCl3、G
a(CH3)3、InCl3、TlCl3等も挙げることができる。
【0067】第15族原子導入用の原料物質として、有
効に使用されるのは、燐原子導入用としては、PH3
24等の水素化燐、PF3、PF5、PCl3、PCl5
PBr 3、PBr5、PI3等のハロゲン化燐等が挙げられ
る。この他、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、As
5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、SbCl5、Bi
3、BiCl3、BiBr3等も第15族原子導入用の出発
物質の有効なものとして挙げることができる。
【0068】更に、下部電荷注入阻止層106には、窒
素及び酸素を含有させることによって、該下部電荷注入
阻止層106と基体101との間の密着性の向上を図る
ことが可能となる。また、負帯電用電子写真感光体の場
合には、不純物元素をドープしなくても窒素および酸素
を最適に含有させることで優れた阻止能を有することも
可能となる。具体的に、下部電荷注入阻止層106の全
層領域に含有される窒素および酸素の含有量は、窒素お
よび酸素の和をシリコン原子に対して0.1原子%以
上、より好ましくは1.2原子%以上、また、40原子
%以下、より好ましくは20原子%以下とすることによ
り、電荷阻止能が向上する。
【0069】また、本発明における下部電荷注入阻止層
106に含有される水素および/またはハロゲンは、層
内に存在する未結合手を補償し膜質の向上に効果を奏す
る。下部電荷注入阻止層106中に含有される原子の含
有量の和は、シリコン原子に対して1原子%以上が好ま
しく、5原子%以上がより好ましく、10原子%以上が
更に好ましい。一方、50原子%以下が好ましく、40
原子%以下がより好ましく、30原子%以下が更に好ま
しい。
【0070】本発明において、下部電荷注入阻止層10
6の層厚は所望の電子写真特性が得られること、及び経
済的効果等の点から好ましくは0.1〜5μm、より好
ましくは0.3〜4μm、最適には0.5〜3μmとされ
るのが望ましい。層厚が0.1μmより薄くなると、基
体101からの電荷の注入阻止能が不充分になって充分
な帯電能が得られなくなり、5μmより厚くしても電子
写真特性の向上は期待できず、逆に残留電位の上昇など
の弊害が発生する可能性がある。
【0071】<光導電層>本発明の電子写真感光体10
0における光導電層103は、シリコン原子を母体とし
た非単結晶質膜からなり、膜中に水素原子または/及び
ハロゲン原子が含有されることが必要である。これはシ
リコン原子の未結合手を補償し、層品質の向上、特に光
導電性および電荷保持特性を向上させるために必須不可
欠であるからである。水素原子またはハロゲン原子の含
有量、または水素原子とハロゲン原子の和の量はシリコ
ン原子と水素原子または/及びハロゲン原子の和に対し
て好ましくは10〜40原子%、より好ましくは15〜
25原子%とされるのが望ましい。光導電層103中に
含有される水素原子または/及びハロゲン原子の量を制
御するには、例えば基体101の温度、水素原子または
/及びハロゲン原子を含有させるために使用される原料
物質の反応容器内へ導入する量、放電電力等を制御すれ
ばよい。
【0072】本発明の光導電層の形成において使用され
るSi供給用ガスとなり得る物質としては、SiH4、Si
26、Si38、Si410等のガス状態の、またはガス
化し得る水素化珪素(シラン類)が有効に使用されるもの
として挙げられ、更に層作製時の取り扱い易さ、Si供
給効率の良さ等の点でSiH4、Si26が好ましいもの
として挙げられる。
【0073】本発明においては、光導電層103には必
要に応じて導電性を制御する不純物元素を含有させても
良い。含有させる不純物元素としては下部電荷注入阻止
層106と同様、周期律表第13族元素または第15族元素
を用いることができる。光導電層103に含有される不
純物元素の含有量としては、好ましくは1×10-2原子
ppm以上1×104原子ppm以下、より好ましくは5×
10-2原子ppm以上5×103原子ppm以下、最適には
1×10-1原子ppm以上1×103原子ppm以下とされ
るのが望ましい。
【0074】そのような第13族原子導入用の原料物質
として具体的には、硼素原子導入用として、B26、B
410、B59、B511、B610、B612、B614
等の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲン
化硼素等が挙げられる。この他、AlCl3、GaCl3、G
a(CH3)3、InCl3、TlCl3等も挙げることができる。
【0075】第15族原子導入用の原料物質として、有
効に使用されるのは、燐原子導入用としては、PH3
24等の水素化燐、PF3、PF5、PCl3、PCl5
PBr 3、PBr5、PI3等のハロゲン化燐等が挙げられ
る。この他、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、As
5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、SbCl5、Bi
3、BiCl3、BiBr3等も第15族原子導入用の出発
物質の有効なものとして挙げることができる。
【0076】本発明において、光導電層の層厚は所望の
電子写真特性が得られること及び経済的効果等の点から
適宜所望にしたがって決定され、好ましくは10μm以
上50μm以下、より好ましくは20μm以上45μm
以下、最適には25μm以上40μm以下とされるのが
望ましい。
【0077】<第一の表面層>本発明の効果が得られる
電子写真感光体100においては、表面層が第一の表面
層104と第二の表面層105から構成する必要があ
る。また、該第一の表面層104と第二の表面層105
は、シリコン原子とカーボン原子を母体とした非単結晶
質膜からなることで、光導電層103を形成するシリコ
ン原子という共通の構成要素を有しているので、積層界
面において化学的な安定性の確保が成されている。
【0078】第一の表面層104は、電子写真感光体が
帯電処理をその最表面に受けた際、最表面側より光導電
層103側に電荷が注入されるのを阻止する機能を有し
ている。そのような機能を付与するために、第一の表面
層104はある程度の高抵抗な膜特性が要求されると同
時に、不純物元素の添加により電荷の抵抗を適切な範囲
に設定する必要がある。本発明の第一の表面層104
は、層内に含有するカーボン原子の増加に伴って光学的
バンドギャップが増加する関係を満たした領域で形成す
ることが必要である。この領域で第一の表面層104を
形成することで、不純物元素の添加を効率的に達成可能
となり、阻止能の向上が可能となる。第一の表面層10
4に含有される導電性を制御する不純物元素は、第一の
表面層104中に満遍なく均一に分布されるために、該
層作成時に常時一定量を供給しても良いし、あるいは不
均一に分布させるために添加するガス流量を時間的に変
化させても良い。
【0079】本発明の第一の表面層の形成において使用
されるSi供給用ガスとなり得る物質としては、Si
4、Si26、Si38、Si410等のガス状態の、ま
たはガス化し得る水素化珪素(シラン類)が有効に使用さ
れるものとして挙げられ、更に層作製時の取り扱い易
さ、Si供給効率の良さ等の点でSiH4、Si26が好ま
しいものとして挙げられる。
【0080】更にカーボン供給用ガスとしては例えばメ
タンガスが挙げられる。
【0081】また、本発明の第一の表面層と第二の表面
層の組み合わせにおいて、両層の光学的バンドギャップ
の差を出来るだけ小さくすることが、更なる阻止能の向
上という点で好ましく、該光学的バンドギャップの差が
0.3eV以下であることが好適である。本発明で形成す
る第一の表面層の光学的バンドギャップの範囲は、製造
条件によって変化するが、好ましくは1.9eV以上2.
6eV以下の範囲が望ましい。
【0082】また、本発明の第一の表面層104に含有
される導電性を制御する不純物元素としては、p型導電
特性を与える周期律表第13族に属する原子およびn型
導電性特性を与える周期律表第15族に属する原子を用
いることができる。
【0083】周期律表第13族元素としては、具体的に
は、ホウ素(B)、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、
インジウム(In)、タリウム(Tl)等があり、特にホウ
素、アルミニウム、ガリウムが好適である。
【0084】周期律表第15族元素としては、具体的に
はリン(P)、砒素(As)、アンチモン(Sb)、ビスマス
(Bi)等があり、特にリン、砒素が好適である周期律表
第13族元素および第15族元素を構造的に導入するに
は、層形成の際に、第13族元素導入用の原料ガスたと
えばジボラン(B26)ガスおよび第15族元素導入用の
原料ガスたとえばホスフィン(PH3)ガスを反応容器中
に、光導電層103を形成するための他のガスと共に導
入してやれば良い。
【0085】そのような第13族原子導入用の原料物質
として具体的には、硼素原子導入用として、B26、B
410、B59、B511、B610、B612、B614
等の水素化硼素、BF3、BCl3、BBr3等のハロゲン
化硼素等が挙げられる。この他、AlCl3、GaCl3、G
a(CH3)3、InCl3、TlCl3等も挙げることができる。
【0086】第15族原子導入用の原料物質として、有
効に使用されるのは、燐原子導入用としては、PH3
24等の水素化燐、PF3、PF5、PCl3、PCl5
PBr 3、PBr5、PI3等のハロゲン化燐等が挙げられ
る。この他、AsH3、AsF3、AsCl3、AsBr3、As
5、SbH3、SbF3、SbF5、SbCl3、SbCl5、Bi
3、BiCl3、BiBr3等も第15族原子導入用の出発
物質の有効なものとして挙げることができる。
【0087】本発明において第一の表面層104に含有
される導電性を制御する不純物元素の含有量としては、
本発明の効果が達成できるように、負帯電用電子写真感
光体の場合には、シリコン原子に対する周期律表第13
族元素の含有量を 100原子ppm以上 30000原子ppm以下
と適切に制御することが望ましい。シリコン原子に対す
る周期律表第13族に属する原子の含有量が 100原子pp
m以上だと表面からの電荷注入を阻止する能力を向上さ
せること、また、30000原子ppm以下の場合には、画像
流れを防止することが可能となるので好ましい。また、
正帯電用電子写真感光体の場合には、シリコン原子に対
する周期律表第15族に属する原子の含有量を 100原子
ppm以上 30000原子ppm以下と適切に制御することが望
ましい。シリコン原子に対する周期律表第13族に属す
る原子の含有量が 100原子ppm以上だと表面からの電荷
注入を阻止する能力を向上させること、また、30000原
子ppm以下の場合には、画像流れを防止することが可能
となるので好ましい。
【0088】また、第一の表面層104の層厚は、光導
電層103及び第二の表面層105の層厚及び求められ
る電子写真特性によって総合的には判断されて決定され
るが、表面からの電荷注入の阻止能力を十分発揮し、か
つ画像品質に影響を与えない事などから、0.01μm以上
1μm以下とされるのが望ましい。層厚が 0.01μmよ
り薄くなると、表面側からの電荷の注入阻止能が不充分
になって充分な帯電能が得られなくなり、1μmより厚
くしても電子写真特性の向上は期待できず、むしろ感度
等の特性の低下を招くことがある。
【0089】<第二の表面層>第二の表面層105は、
主に繰り返し使用特性、電気的耐圧性、使用環境特性、
耐久性、耐湿性において優れた特性を有している。その
ような特性を得るためには、ある程度の硬さを有し、更
には潤滑性を有するような特性にする必要がある。
【0090】本発明の第二の表面層105は、層内に含
有するカーボン原子の増加に伴って光学的バンドギャッ
プが減少する関係を満たした領域で形成することが必要
である。この領域で第二の表面層105を形成すること
で、硬度に優れ更には潤滑性が向上し融着を防止するこ
とが可能となる。
【0091】また、本発明の第二の表面層の形成におい
て使用されるシリコン供給用ガスとしては例えばシラン
ガス、更にカーボン供給用ガスとしては例えばメタンガ
スが挙げられる。
【0092】また、本発明に於ける第二の表面層105
の層厚としては、好ましくは 0.01μm以上3μm以
下、より好ましくは 0.05μm以上2μm以下、更に好
ましくは 0.1μm以上1μm以下とされるのが望ましい
ものである。層厚が 0.01μmよりも薄いと光受容部材
を使用中に摩耗等の理由により表面層が失われてしまい
易く、3μmを越えると残留電位の増加等による電子写
真特性の低下がみられる場合がある。
【0093】また、本発明で形成する第二の表面層の光
学的バンドギャップの範囲は、製造条件によって変化す
るが、好ましくは 2.0eV以上 2.6eV以下の範囲が望ま
しい。
【0094】本発明の目的を達成し得る特性を有する第
一の表面層104及び第二の表面層105を形成するに
は、基体101の温度、反応容器内のガス圧、放電パワ
ーを所望にしたがって、適宜設定する必要がある。
【0095】さらに、基体101の温度は、層設計にし
たがって最適範囲が適宜選択されるが、通常の場合、好
ましくは150〜350℃、より好ましくは180〜3
30℃、最適には200〜300℃とするのが望まし
い。
【0096】反応容器内のガス圧も同様に層設計にした
がって適宜最適範囲が選択されるが、VHF帯の高周波
を用いる場合、好ましくは1×10-2Pa以上5×102
Pa以下、好ましくは5×10-2Pa以上5×101Pa以
下、最適には1×10-1Pa以上1×101Pa以下とす
るのが好ましい。
【0097】本発明の第一の表面層104および第二の
表面層105は、原料ガスを例えば、RF帯の周波数を
用いたプラズマCVD法で作製することが可能である
が、本発明の効果を最大限に得るためには、炭化水素の
分解性に優れたVHF帯の周波数を用いることが好適
で、より好ましくはVHF帯の異なる周波数を有する複
数の高周波電力を適切に制御して高周波電極に同時に供
給して作製することが最も好ましい。
【0098】<堆積膜形成装置>次に、電子写真用感光
体を作成するための装置及び膜形成方法について詳述す
る。
【0099】図3および図4は、本発明に適用しうる堆
積膜形成装置の実施形態の模式図である。
【0100】図3は、電源としてVHF帯の周波数を用
いたプラズマCVD法による堆積膜形成装置の模式図
で、図4はRF帯の周波数を用いたプラズマCVD法に
よる堆積膜形成装置の模式図である。
【0101】図3の堆積膜形成装置は、反応容器3111の
外部に複数の高周波電極3114が設置された装置である。
【0102】円筒状の反応容器3111の底面には排気管31
12が形成され、排気管3112の他端は不図示の排気装置に
接続されている。反応容器3111の中心部を取り囲むよう
に、堆積膜の形成される6本の円筒状基体3113が同心円
上に配置されている。
【0103】反応容器3111の側壁は誘電体部材で構成さ
れ、その材料としては、アルミナ、ムライト、ジルコニ
ア、コージェライト、ジルコン-コージェライト、炭化
珪素、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、酸化ベリリウム
マイカ系セラミックス等が挙げられる。
【0104】原料ガスは、反応容器3111内に同心円上に
配置された原料ガス導入管3118を介して反応容器中に導
入される。
【0105】高周波電力は、例えば周波数の異なる2つ
の高周波電源 3116、3117からマッチングボックス3115
内においてそれぞれの整合回路を経て合成され、電力分
岐板3124を介して、反応容器側壁を取り囲むように同心
円上に配置された高周波電極3114より反応容器3111内に
供給される。
【0106】また、放電初期の真空処理安定性を向上す
るために、電力分岐板3124と高周波電極3114はコンデン
サーを介して接続してもよい。
【0107】このような図3の装置を用いた場合の堆積
膜形成を、概略以下のような手順により行うことができ
る。
【0108】まず、反応容器3111内に円筒状基体3113を
設置し、不図示の排気装置により排気管3112を通して反
応容器3111内を排気する。続いて、発熱体3120により円
筒状基体3113を所定の温度に加熱・制御する。
【0109】円筒状基体3113が所定の温度となったとこ
ろで、原料ガス導入管3118を介して、原料ガスを反応容
器3111内に導入する。原料ガスの流量が設定流量とな
り、また、反応容器3111内の圧力が安定したのを確認し
た後、発振周波数が互いに異なる2つの高周波電源311
6、3117よりマッチングボックス3115を介して高周波電
極3114へ所定の高周波電力を供給する。これにより、反
応容器3111内にグロー放電が生起し、原料ガスが励起解
離して円筒状基体3113上に堆積膜が形成される。
【0110】図4の堆積膜形成装置は、反応容器内に導
電性基体4113が設置された装置である。
【0111】円筒状の反応容器の底面には排気管4112が
形成され、排気管4112の他端は不図示の排気装置に接続
されている。
【0112】原料ガスは、原料ガス導入管4118を介して
反応容器中に導入される。また、高周波電力は、マッチ
ングボックス4115を介して高周波電極4114より反応容器
内に供給される。
【0113】このような図4の装置を用いた場合の堆積
膜形成を、概略以下のような手順により行うことができ
る。
【0114】まず、反応容器内に円筒状基体4113を設置
し、不図示の排気装置により排気管4112を通して反応容
器内を排気する。続いて、発熱体4120により円筒状基体
4113を所定の温度に加熱・制御する。
【0115】円筒状基体4113が所定の温度となったとこ
ろで、原料ガス導入管4118を介して、原料ガスを反応容
器4111内に導入する。原料ガスの流量が設定流量とな
り、また、反応容器内の圧力が安定したのを確認した
後、発振周波数が13.56MHzの高周波電源よりマッチン
グボックス4115を介して高周波電極4114へ所定の高周波
電力を供給する。これにより、反応容器内にグロー放電
が生起し、原料ガスが励起解離して円筒状基体4113上に
堆積膜が形成される。
【0116】本発明の周波数については、VHF帯の高
周波を用いることが好適であるが、発振周波数が互いに
異なる複数の高周波電力を同一の電極に同時に供給する
ことが好ましい。この場合は、高周波電源3116、3117は
各々の発振周波数の関係が、例えば高周波電源3116が第
1の高周波電力(周波数f1、電力値P1)を供給する第
1の高周波電源、3117が第2の高周波電力(周波数f2、
電力値P2)を供給する第2の高周波電源とした場合、 30MHz≦f2<f1≦250MHz 0.1≦P2/(P1+P2)≦0.9 とすることが可能である電源を用いる。
【0117】また、第1の高周波電源にはf1よりも低
く、f2よりも高いカットオフ周波数特性をもつハイパ
スフィルターを設けてもよい。また、同様に第2の高周
波電源にはf2よりも高く、f1よりも低いカットオフ周
波数特性をもつローパスフィルターを設けてもよい。そ
れらの周波数選択性は高い方が、それぞれの高周波電源
に回り込む他方の電力が小さく出来、より好ましい。
【0118】また、前記電力の範囲が 0.2≦P2/(P1+P2)≦0.7 の場合がより好ましい。
【0119】
【実施例】以下、実施例により本発明の効果を具体的に
説明するが、本発明はこれらによって何等限定されるも
のではない。
【0120】(実施例1)図3に記載の堆積膜形成装置を
用い、直径30mm、長さ358mmの円筒状アルミニウム
シリンダー上に、本発明の電子写真感光体製造方法に従
って、負帯電用電子写真感光体を作製した。
【0121】まず、カーボン原子とシリコン原子が含有
する表面層をシリコンウエハー基板およびコーニング社
製7059ガラス基板上に堆積し、カーボン原子含有量(C/
(Si+C))すなわちシリコン原子とカーボン原子の和に
対するカーボン原子の比(C/(Si+C))と光学的バンド
ギャップの関係を調べた。そして、7059ガラス基板はU
V可視測定装置により光学的バンドギャップを測定し、
シリコンウエハー基板はRBS(ラザフォードバックス
キャッタリング)装置によりカーボン原子含有量(C/(S
i+C))を測定した。表面層の作成条件は、表1に示す条
件で、ガス流量を変化させることでカーボン原子含有量
(C/(Si+C))を変化させた。この条件で、カーボン原
子含有量(C/(Si+C))と光学的バンドギャップの関係
を調べたところ、図2の結果が得られた。
【0122】次に、同様の装置を用いて表2に示した条
件により、前述した成膜手順に従いアルミニウムシリン
ダー上に下部電荷注入阻止層、光導電層を順次積層し
た。続いて図2の関係を基にした条件に従い、カーボン
原子含有量(C/(Si+C))が増加するに伴って光学的バ
ンドギャップが増加する領域で第一の表面層を形成し、
カーボン原子含有量(C/(Si+C))が増加するに伴って
光学的バンドギャップが減少する領域で第二の表面層を
順次積層した。以上の手順により、第一の表面層および
第二の表面層の組み合わせを変化させることで、A〜F
の計6種類の負帯電用電子写真感光体を作製した。な
お、第一の表面層には周期律表第13族元素を含有させ
るガス種としてジボランガスを使用し、シリコン原子に
対して3000原子ppm含有させた。
【0123】(比較例1)実施例1と同様に、図3に記載
の堆積膜形成装置を用いて表2に示した条件により、ア
ルミニウムシリンダー上に下部電荷注入阻止層、光導電
層を順次積層した。続いて図2の関係を基にした条件に
従い、カーボン原子含有量(C/(Si+C))が増加するに
伴って光学的バンドギャップが増加する領域を満たした
第一の表面層および第二の表面層を順次積層し負帯電用
電子写真感光体を作製した。
【0124】なお、比較例1で作製した表面層は、カー
ボン原子含有量(C/(Si+C))が0.19、光学的バンドギ
ャップが1.96eVからなる第一の表面層およびカーボン
原子含有量(C/(Si+C))が0.45、光学的バンドギャ
ップが2.41eVからなる第二の表面層で形成した。な
お、第一の表面層には周期律表第13族元素を含有させ
るガス種としてジボランガスを使用し、シリコン原子に
対して3000原子ppm含有させた。
【0125】(比較例2)実施例1と同様に、図3に記載
の堆積膜形成装置を用いて表2に示した条件により、ア
ルミニウムシリンダー上に下部電荷注入阻止層、光導電
層を順次積層した。続いて図2の関係を基にした条件に
従い、カーボン原子含有量(C/(Si+C))が増加するに
伴って光学的バンドギャップが減少する領域を満たした
第一の表面層および第二の表面層を順次積層し負帯電用
電子写真感光体を作製した。
【0126】なお、比較例2で作製した表面層は、カー
ボン原子含有量(C/(Si+C))が0.71、光学的バンドギ
ャップが2.48eVからなる第一の表面層およびカーボン
原子含有量(C/(Si+C))が0.78、光学的バンドギャッ
プが2.25eVからなる第二の表面層で形成した。なお、
第一の表面層には周期律表第13族元素を含有させるガ
ス種としてジボランガスを使用し、シリコン原子に対し
て3000原子ppm含有させた。
【0127】(比較例3)実施例1と同様に、図3に記載
の堆積膜形成装置を用いて表2に示した条件により、ア
ルミニウムシリンダー上に下部電荷注入阻止層、光導電
層を順次積層した。続いて表3に示した条件からなる表
面層を、実施例のように二層に分けずに一層積層し負帯
電用電子写真感光体を作製した。
【0128】なお、比較例3では、高周波電極に導入す
る発振周波数は105MHzのみで高周波電力導入を行
った。
【0129】このようにして作製した負帯電用電子写真
感光体を、次の様に特性評価を行った。
【0130】<帯電能>電子写真感光体を電子写真装置
(キヤノン製GP405)に設置し、プロセススピード200m
m/sec、前露光(波長660nmのLED)光量4lx・s、帯電
器の電流値-800μAの条件にて電子写真装置の現像器位
置にセットした表面電位計(TREK社のModel344)の
電位センサーにより像露光(波長655nmの半導体レーザ
ー)を照射しない状態での感光体の表面電位を測定し、
それを帯電能とした。
【0131】<感度>電子写真感光体を、上述の条件で
表面電位が-400V(暗電位)になるように帯電器の電流値
を調整した後、像露光(波長655nmの半導体レーザー)を
照射し、像露光光源の光量を調整して、表面電位が-50
V(明電位)となるようにし、そのときの露光量を感度と
した。
【0132】<特性むら>帯電能について感光体の母線
方向全領域に渡って測定し、各々の平均値に対する最大
値と最小値を求め、次いで(最大値)/(最小値)を求め
た。この値が最大のものを特性むらとした。数値が1に
近いほど均一性が良好であることを表す。
【0133】<融着>電子写真装置(キヤノン製GP40
5)のクリーニングブレードの押し当て圧を1/2倍にな
るように改造し、更に環境条件を25℃/10%の常温・
低湿環境とし、更に1%原稿を用いることで融着が発生
しやすい環境を作り出した。このような加速試験機に電
子写真感光体を設置し、10万枚の耐久を行った。耐久
中、及び耐久後の画像および電子写真感光体の表面を顕
微鏡観察し、融着の発生個数を観察した。
【0134】<強露光画像流れ>強露光画像流れの評価
は、電子写真装置(キヤノン製GP405)で図5に示した
黒色部と白色部が一定の幅aで並んだテストチャートを
用意し、線幅aを狭めていった時に複写画像上において
再現し、解像しうる最小の線幅aにより行った。即ち、
線幅aを狭めていった時に、ある線幅a以下になると画像
上の隣り合う黒色部の輪郭の画像流れによる微少なボケ
が重なり合い、事実上解像不可となってしまう。その時
の線幅aを画像流れの程度を表す指標とした。
【0135】<微小クラック>微小なクラックの有無に
関しては、各々の条件において作製した電子写真感光体
を温度−50℃に調整された容器の中に12時間放置
し、その後直ちに温度80℃、湿度80%に調整された
容器の中に2時間放置する。このサイクルを10サイク
ル繰り返した後にハーフトーン画像によって画像を出し
た際に、画像に現われた微少なクラックの数をチェック
した。
【0136】それぞれの項目に関して、比較例3の負帯
電用電子写真感光体の評価値を100として相対比較を
行った。
【0137】実施例1、比較例1〜3の結果を表4に示
す。カーボン原子含有量(C/(Si+C))が増加するに伴
って光学的バンドギャップが増加する領域で第一の表面
層を形成し、カーボン原子含有量(C/(Si+C))が増加
するに伴って光学的バンドギャップが減少する領域で第
二の表面を形成した組み合わせにする場合に、融着、画
像流れ、微小クラックなどが発生せず、非常に良好な結
果が得られ、電気的特性についても良好な結果が得られ
た。また、第一の表面層と第二の表面層の光学的バンド
ギャップの差が0.3eV以下の時に特に電気特性で良好
な結果が得られた。
【0138】これに対し光学的バンドギャップの増加領
域のみで形成した比較例1、同じく減少領域のみで形成
した比較例2では、改善の度合いが少なく、特に比較例
1では融着が比較例3より悪い結果であった。
【0139】
【表1】
【0140】
【表2】
【0141】
【表3】
【0142】
【表4】 (実施例2)図3に記載の堆積膜形成装置を用い、直径3
0mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダ
ー上に、表5に示した条件で負帯電用電子写真感光体を
作製した。
【0143】まず、カーボン原子とシリコン原子が含有
する表面層をシリコンウエハー基板とコーニング社製70
59ガラス基板上に堆積し、カーボン原子含有量(C/(Si
+C))と光学的バンドギャップの関係を調べた。本実施
例では、シランガスとメタンガスの流量を変化させてカ
ーボン原子含有量(C/(Si+C))の増加に伴って光学的
バンドギャップが増加する領域と減少する領域を調べ
た。そして、第一の表面層はカーボン原子含有量(C/
(Si+C))が増加するに伴って光学的バンドギャップが
増加する領域で形成し、第二の表面層はカーボン原子含
有量(C/(Si+C))が増加するに伴って光学的バンドギ
ャップが減少する領域で形成し、更には第一の表面層と
第二の表面層の光学的バンドギャップの差が0.05eV
になように組み合わせた。
【0144】なお、実施例2においては、第一の表面層
に含有させるシリコン原子に対する周期律表第13族元
素の含有量を50原子ppm、100原子ppm、5000原子pp
m、10000原子ppm、30000原子ppm、35000原子ppmと
なるように変化させた。また、本実施例では周期律表第
13族元素を含有させるガス種としてジボランガスを使
用した。
【0145】作製した各々の電子写真感光体について実
施例1と同様にして相対評価を行った結果を表6に示
す。表6から明らかなようにシリコン原子に対する周期
律表第13族元素の含有量が、100原子ppm以上30000原
子ppm以下の第一の表面層を形成した負帯電用電子写真
感光体は、帯電能の向上および画像流れの抑制に関して
特に効果が得られた。
【0146】
【表5】
【0147】
【表6】 (実施例3)図3に記載の堆積膜形成装置を用い、直径3
0mm、長さ358mmの円筒状アルミニウムシリンダ
ー上に、表7に示した条件で正帯電用電子写真感光体を
作製した。
【0148】まず、カーボン原子とシリコン原子が含有
する表面層をシリコンウエハー基板とコーニング社製70
59ガラス基板上に堆積し、シランガスとメタンガスの流
量を変化させてカーボン原子含有量(C/(Si+C))の増
加に伴って光学的バンドギャップが増加する領域と減少
する領域を調べた。そして、第一の表面層はカーボン原
子含有量(C/(Si+C))が増加するに伴って光学的バン
ドギャップが増加する領域で形成し、第二の表面層はカ
ーボン原子含有量(C/(Si+C))が増加するに伴って光
学的バンドギャップが減少する領域で形成し、更には第
一の表面層と第二の表面層の光学的バンドギャップの差
が0.1eVになように組み合わせた。
【0149】なお、実施例3においては、第一の表面層
に含有させるシリコン原子に対する周期律表第15族元
素の含有量を50原子ppm、100原子ppm、5000原子pp
m、10000原子ppm、30000原子ppm、35000原子ppmと
なるように変化させた。また、本実施例では周期律表第
15族元素を含有させるガス種としてホスフィンガスを
使用した。
【0150】(比較例4)実施例3と同様に、図3に記載
の堆積膜形成装置を用いて表8に示した条件により、ア
ルミニウムシリンダー上に下部電荷注入阻止層、光導電
層を順次積層し、続いて表面層を、実施例のように二層
に分けず、比較例3と同様に一層積層し正帯電用電子写
真感光体を作製した。
【0151】なお、比較例4では、高周波電極に導入す
る発振周波数は105MHzのみで高周波電力導入を行
った。
【0152】このようにして作製した正帯電用電子写真
感光体を、次の様に特性評価を行った。
【0153】<帯電能>電子写真感光体を電子写真装置
(キヤノン製GP405を正帯電評価用に改造したもの)
に設置し、プロセススピード200mm/sec、前露光
(波長660nmのLED)光量4lx・s、帯電器の電流値1
000μAの条件にて電子写真装置の現像器位置にセット
した表面電位計(TREK社のModel344)の電位セン
サーにより像露光(波長655nmの半導体レーザー)を
照射しない状態での感光体の表面電位を測定し、それを
帯電能とした。
【0154】<強露光画像流れ>強露光画像流れの評価
は、電子写真装置(キヤノン製GP405を正帯電評価
用に改造したもの)で図5に示した黒色部と白色部が一
定の幅aで並んだテストチャートを用意し、線幅aを狭め
ていった時に複写画像上において再現し、解像しうる最
小の線幅aにより行った。即ち、線幅aを狭めていった時
に、ある線幅a以下になると画像上の隣り合う黒色部の
輪郭の画像流れによる微少なボケが重なり合い、事実上
解像不可となってしまう。その時の線幅aを画像流れの
程度を表す指標とした。
【0155】それぞれの項目に関して、比較例4の正帯
電用電子写真感光体の評価値を100として相対比較を
行った。
【0156】実施例3、比較例4の結果を表9に示す。
表9から明らかなようにシリコン原子に対する周期律表
第15族元素の含有量が、100原子ppm以上30000ppm以
下の第一の表面層を形成した電子写真感光体は、帯電能
の向上および画像流れの抑制に関して特に効果が得られ
た。
【0157】
【表7】
【0158】
【表8】
【0159】
【表9】
【0160】
【発明の効果】本発明によれば、帯電能、感度の向上及
び特性むらの低減を高次元で両立するとともに強露光画
像流れ、融着および感光体表面に生じる微小なクラック
を低減して画像品質を飛躍的に向上させた、シリコン原
子を母体とした非単結晶材料で構成された電子写真感光
体が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子写真感光体の好適な層構成の一例
を説明するための模式的構成図である。
【図2】本発明に表面層のおけるカーボン含有量と光学
的バンドギャップの関係図である。
【図3】本発明に適用しうる堆積膜形成装置の模式図で
ある。
【図4】本発明に適用しうる堆積膜形成装置の模式図で
ある。
【図5】テストチャートの一例を説明するための概略図
である。
【符号の説明】
100 電子写真感光体 101 導電性基体 102 光受容層 103 光導電層 104 第一の表面層 105 第二の表面層 106 下部電荷注入阻止層 3100 堆積装置 3110 中心部 3111,4111 反応容器 3112,4112 排気管 3113,4113 円筒状基体 3114,4114 高周波電極 3115,4115 マッチングボックス 3116,3117 高周波電源 3118,4118 原料ガス導入管 3119 シールド 3120,4120 発熱体 3121 回転軸 3122 減速ギア 3123 モータ 3124 電力分岐板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡村 竜次 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 2H068 DA05 DA08 DA09 DA14 DA15 DA17 DA19 DA23 EA25 EA36 4K030 BA29 BB05 BB13 CA02 CA14 FA03 JA16 JA18 LA17

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 減圧可能な反応容器内に導電性基体を設
    置し、高周波電極に供給した高周波電力によってプラズ
    マを生起させ、導電性基体上に少なくともカーボン原子
    及び周期律表第13族元素又は第15族元素を含むシリ
    コン原子を母体とする非単結晶シリコン膜からなる第一
    の表面層及びカーボン原子を含むシリコン原子を母体と
    する非単結晶シリコン膜からなる第二の表面層を順次積
    層させる電子写真感光体の製造方法において、 膜内に含有するカーボン原子の増加に伴って光学的バン
    ドギャップが増加していく関係を満たした領域で該第一
    の表面層を形成し、膜内に含有するカーボン原子の増加
    に伴って光学的バンドギャップが減少していく関係を満
    たした領域で該第二の表面層を形成することを特徴とす
    る電子写真感光体の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記第一の表面層と前記第二の表面層と
    の光学的バンドギャップが、ほぼ同じ値からなる表面層
    を形成することを特徴とする請求項1に記載の電子写真
    感光体の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記第一の表面層と前記第二の表面層と
    の光学的バンドギャップの差が0.3eV以下であること
    を特徴とする請求項1〜2に記載の電子写真感光体の製
    造方法。
  4. 【請求項4】 前記第一の表面層に含有される周期律表
    第13族元素の場合はホウ素原子、第15族元素の場合
    はリン原子であることを特徴とする請求項1〜3に記載
    の電子写真感光体の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記第一の表面層において、シリコン原
    子に対する周期律表第13族元素の含有量が100原子
    ppm以上30000原子ppm以下であることを特徴とす
    る請求項1〜4に記載の電子写真感光体の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記第一の表面層において、シリコン原
    子に対する周期律表第15族元素の含有量が100原子
    ppm以上30000原子ppm以下であることを特徴とす
    る請求項1〜4に記載の電子写真感光体の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記高周波電極に供給する高周波電力に
    おいて、その発振周波数が30MHz以上250MHz以
    下であることを特徴とする請求項1〜6に記載の電子写
    真感光体の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記複数の高周波電力は周波数が30M
    Hz以上250MHz以下の高周波電力を少なくとも2つ
    含み、該周波数範囲内にある高周波電力が有する電力値
    の中で最も大きい電力値と次に大きい電力値を有する高
    周波電力について、そのうち周波数の高い方の高周波電
    力の電力値をP1、周波数の低い方の高周波電力の電力
    値をP2としたとき、前記電力値P1,P2が、 0.1 ≦ P2/(P1+P2) ≦ 0.9 の条件を満たす、請求項7に記載の負帯電用電子写真感
    光体の作製方法。
  9. 【請求項9】 導電性基体上に少なくともカーボン原子
    及び周期律表第13族元素又は第15族元素を含むシリ
    コン原子を母体とする非単結晶シリコン膜からなる第一
    の表面層及び、カーボン原子を含むシリコン原子を母体
    とする非単結晶シリコン膜からなる第二の表面層を形成
    した電子写真感光体において、前記第一の表面層は該層
    内に含有するカーボン原子の増加に伴って光学的バンド
    ギャップが増加していく関係を満たした領域で形成さ
    れ、前記第二の表面層は該層内に含有するカーボン原子
    の増加に伴って光学的バンドギャップが減少していく関
    係を満たした領域で形成されたものであることを特徴と
    する電子写真感光体。
  10. 【請求項10】 前記第一の表面層と前記第二の表面層
    との光学的バンドギャップが、ほぼ同じ値であることを
    特徴とする請求項9に記載の電子写真感光体。
  11. 【請求項11】 前記第一の表面層と前記第二の表面層
    との光学的バンドギャップの差が0.3eV以下であるこ
    とを特徴とする請求項9〜10に記載の電子写真感光
    体。
  12. 【請求項12】 前記第一の表面層に含有される周期律
    表第13族元素の場合はホウ素原子、第15族元素の場
    合はリン原子であることを特徴とする請求項9〜11に
    記載の電子写真感光体。
  13. 【請求項13】 前記第一の表面層において、シリコン
    原子に対する周期律表第13族元素の含有量が100原
    子ppm以上30000原子ppm以下であることを特徴と
    する請求項9〜12に記載の電子写真感光体。
  14. 【請求項14】 前記第一の表面層において、シリコン
    原子に対する周期律表15族元素の含有量が100原子
    ppm以上30000原子ppm以下であることを特徴とす
    る請求項9〜12に記載の電子写真感光体。
  15. 【請求項15】 前記第一の表面層に周期律表第13族
    元素が含有され、負帯電用電子写真感光体として用いら
    れることを特徴とする請求項9〜13に記載の電子写真
    感光体。
JP2001302000A 2001-09-28 2001-09-28 電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体 Expired - Fee Related JP4562163B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001302000A JP4562163B2 (ja) 2001-09-28 2001-09-28 電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001302000A JP4562163B2 (ja) 2001-09-28 2001-09-28 電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003107766A true JP2003107766A (ja) 2003-04-09
JP2003107766A5 JP2003107766A5 (ja) 2008-11-13
JP4562163B2 JP4562163B2 (ja) 2010-10-13

Family

ID=19122322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001302000A Expired - Fee Related JP4562163B2 (ja) 2001-09-28 2001-09-28 電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4562163B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010049241A (ja) * 2008-07-25 2010-03-04 Canon Inc 電子写真感光体および電子写真装置
JP2010049240A (ja) * 2008-07-25 2010-03-04 Canon Inc 電子写真感光体の製造方法
JP2013011916A (ja) * 2008-07-25 2013-01-17 Canon Inc 電子写真感光体および電子写真装置
US8440377B2 (en) 2009-11-26 2013-05-14 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8445168B2 (en) 2009-11-26 2013-05-21 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8455163B2 (en) 2009-11-27 2013-06-04 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8465891B2 (en) 2009-11-17 2013-06-18 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8507170B2 (en) 2008-07-25 2013-08-13 Canon Kabushiki Kaisha Image-forming method and image-forming apparatus
US8630558B2 (en) 2009-11-25 2014-01-14 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic apparatus having an electrophotgraphic photosensitive member with an amorphous silicon carbide surface layer

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61133948A (ja) * 1984-12-05 1986-06-21 Toshiba Corp 電子写真感光体
JPS61143768A (ja) * 1984-12-17 1986-07-01 Toshiba Corp 電子写真感光体
JPH06273954A (ja) * 1993-01-20 1994-09-30 Fuji Xerox Co Ltd 電子写真感光体および電子写真方法
JPH09197694A (ja) * 1996-01-19 1997-07-31 Canon Inc 電子写真感光体およびその製造方法
JPH11319546A (ja) * 1998-03-13 1999-11-24 Canon Inc プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
JP2000054146A (ja) * 1998-08-06 2000-02-22 Canon Inc 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61133948A (ja) * 1984-12-05 1986-06-21 Toshiba Corp 電子写真感光体
JPS61143768A (ja) * 1984-12-17 1986-07-01 Toshiba Corp 電子写真感光体
JPH06273954A (ja) * 1993-01-20 1994-09-30 Fuji Xerox Co Ltd 電子写真感光体および電子写真方法
JPH09197694A (ja) * 1996-01-19 1997-07-31 Canon Inc 電子写真感光体およびその製造方法
JPH11319546A (ja) * 1998-03-13 1999-11-24 Canon Inc プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
JP2000054146A (ja) * 1998-08-06 2000-02-22 Canon Inc 堆積膜形成方法及び堆積膜形成装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010049241A (ja) * 2008-07-25 2010-03-04 Canon Inc 電子写真感光体および電子写真装置
JP2010049240A (ja) * 2008-07-25 2010-03-04 Canon Inc 電子写真感光体の製造方法
US8323862B2 (en) 2008-07-25 2012-12-04 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
JP2013011916A (ja) * 2008-07-25 2013-01-17 Canon Inc 電子写真感光体および電子写真装置
US8507170B2 (en) 2008-07-25 2013-08-13 Canon Kabushiki Kaisha Image-forming method and image-forming apparatus
US8465891B2 (en) 2009-11-17 2013-06-18 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8630558B2 (en) 2009-11-25 2014-01-14 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic apparatus having an electrophotgraphic photosensitive member with an amorphous silicon carbide surface layer
US8440377B2 (en) 2009-11-26 2013-05-14 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8445168B2 (en) 2009-11-26 2013-05-21 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus
US8455163B2 (en) 2009-11-27 2013-06-04 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP4562163B2 (ja) 2010-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3155413B2 (ja) 光受容部材の形成方法、該方法による光受容部材および堆積膜の形成装置
JP4562163B2 (ja) 電子写真感光体の製造方法及び電子写真感光体
JP2004077650A (ja) 電子写真装置
JP2002123020A (ja) 負帯電用電子写真感光体
JP2003337437A (ja) 負帯電用電子写真感光体およびそれを用いた電子写真装置
JP2003107767A (ja) 電子写真感光体及び電子写真感光体の製造方法
US7338738B2 (en) Electrophotographic photosensitive member and process for producing the same
US6686109B2 (en) Electrophotographic process and apparatus
JP3606395B2 (ja) 電子写真用光受容部材
JP4110053B2 (ja) 電子写真用感光体製造方法、及び電子写真感光体、並びにそれを用いた電子写真装置
JP3466745B2 (ja) 電子写真装置
JP3437299B2 (ja) 画像形成方法
JPH1073982A (ja) 帯電器及びこれを用いた電子写真装置
JP3459700B2 (ja) 光受容部材および光受容部材の製造方法
JP3289011B2 (ja) 堆積膜形成装置の洗浄方法
JP2003122037A (ja) 負帯電用電子写真感光体及び電子写真装置
JP4143491B2 (ja) 電子写真感光体の製造方法
JP2000171995A (ja) 電子写真用光受容部材
JPH09236935A (ja) 電子写真用光受容部材及びその製造方法
JP4448043B2 (ja) 電子写真感光体
JPH05134441A (ja) 電子写真用光受容部材の形成方法
JP2006189822A (ja) 電子写真感光体
JPH05119501A (ja) 光受容部材形成方法
JP2006133524A (ja) 電子写真感光体および電子写真装置
JP2003107765A (ja) 電子写真感光体及び電子写真感光体の作製方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080929

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080929

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080929

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100312

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100407

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100603

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100721

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100726

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4562163

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees