JP2003122016A - 光硬化性オルガノポリシロキサン組成物 - Google Patents
光硬化性オルガノポリシロキサン組成物Info
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Abstract
化性オルガノポリシロキサン組成物であって、すでに工
業化された原料を使用し、感度、解像性及び保存安定性
に優れ、塗布後未硬化の状態で粘着性が少なく、硬化後
の耐熱性に優れた光硬化性オルガノポリシロキサン組成
物を提供する。 【解決手段】(A)(メタ)アクリロイルオキシプロピ
ルトリメトキシシランとフェニルトリメトキシシランと
の共加水分解縮重合物に含まれるシラノール基をトリア
ルキルシロキシ基に置換することにより得られた平均分
子量、例えば重量平均分子量が3,000〜100,0
00(GPCによるポリスチレン換算値)の(メタ)ア
クリロイルオキシル基含有オルガノポリシロキサン、及
び(B)光増感剤を含有する光硬化性オルガノポリシロ
キサン組成物。
Description
ターン形成、パッシベーション等に用いられる半導体用
感光性耐熱材料として有用な光硬化性オルガノポリシロ
キサン組成物に関する。
は、シリコーンラダーポリマー系の感光性耐熱材料(特
開昭60−108839号公報、特開昭60−1088
40号公報、特開昭60−108841号公報、特開昭
59−193925号公報、特開昭60−76739号
公報、特開昭60−80851号公報等参照)が知られ
ているが、感度が低く製造工程も複雑であり、実用的な
ものではなかった。
的で、かつ経済的に得ることができる光硬化性オルガノ
ポリシロキサン組成物であって、すでに工業化された原
料を使用し、感度、解像性及び保存安定性に優れ、塗布
後未硬化の状態で粘着性が少なく、硬化後の耐熱性に優
れた光硬化性オルガノポリシロキサン組成物を提供する
ことにある。
平均組成式(1) : (CH 2 =CR 1 COOC 3 H 6 -)a (Ph)b R 2 c(R 3 3 SiO)d SiO (4-a-b-c-d)/2 (1) (式中、R1 は水素原子又はメチル基を示し、R2 は炭
素原子数1〜8のアルキル基又は炭素原子数1〜8のア
ルケニル基を示し、Phはフェニル基を示し、R3は炭素
原子数1〜8のアルキル基又は炭素原子数1〜8のアル
ケニル基を示し、aは0.05<a<0.9を満足し、
bは0.1<b<0.9を満足し、cは0≦c<0.2
を満足し、dは0<d≦0.5を満足し、かつ0.8≦
a+b+c+d≦1.5を満足する数である)で表さ
れ、平均分子量が3,000 〜100,000 (GPCによるポリ
スチレン換算値)である(メタ)アクリロイルオキシル
基含有オルガノポリシロキサン、及び
ガノポリシロキサン組成物である。本発明の第2は、前
記光硬化性オルガノポリシロキサン組成物に光を照射し
て硬化させることからなる硬化物の製造方法である。
基含有オルガノポリシロキサン 本発明に用いる(A)成分の(メタ)アクリロイルオキ
シル基含有オルガノポリシロキサンは、前記一般式
(1)で示され、一般に、分岐した構造を有するオルガ
ノポリシロキサンである。式(1) において、aは組成物
が感光性を示す上で重要な役割を果たす(メタ)アクリ
ロイルオキシル基の割合を示し、0.05<a<0.9
を満足し、bは得られる硬化物に耐熱性を付与するフェ
ニル基の量を示し、0.1<b<0.9を満足し、cは
0≦c<0.2を満足し、dは0<d≦0.5,好まし
くは0<d≦0.1を満足し、かつ0.8≦a+b+c
+d≦1.5,好ましくは1≦a+b+c+d≦1.1
を満足する数である。
ルガノポリシロキサンは、平均分子量、例えば重量平均
分子量が3,000〜100,000(GPCによるポ
リスチレン換算値)であり、好ましくは、5,000〜
50,000(GPCによるポリスチレン換算値)であ
る。この平均分子量が小さすぎると、本発明の組成物を
コーティングした後、その末硬化状態での表面タックが
残り易くなる場合がある。一方、大き過ぎると、該
(A)成分が溶剤に溶けにくくなる場合がある。この
(メタ)アクリロイルオキシル基含有オルガノポリシロ
キサンは、例えば、下記一般式(2):
ルコキシ置換アルキル基を示す)で表される(メタ)ア
クリロイルオキシプロピルトリアルコキシシランと、該
シラン1モル当たり0.7 〜20モル量の、下記一般式
(3):
ルコキシ置換アルキル基を示す)で示されるフェニルト
リアルコキシシラン及び場合によっては、さらに例えば
前記一般式(2)のシラン1モル当たり0〜4モル量
(組成式(1)中、R2 は多くない方が好ましい)の一
般式(4):
ルコキシ置換アルキル基を示す)で表されるオルガノト
リアルコキシシラン、例えばアルキルトリアルコキシシ
ラン、アルケニルトリアルコキシシランとを、共加水分
解及び縮重合に供し、得られた縮重合物に含まれるシラ
ノール基をトリアルキルシロキシ基に転換することによ
り得られる。
般式(1)のR3 で表される炭素原子数1〜8のアルキ
ル又はアルケニル基としては、例えば、メチル基、エチ
ル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブ
チル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ネオペンチ
ル基、ヘキシル基、ヘプチル基、シクロヘキシル基、シ
クロヘプチル基、オクチル基、α−エチルヘキシル基、
ビニル基、アリル基、プロペニル基、イソプロペニル
基、ブテニル基等が挙げられる。中でも好ましいのはメ
チル基である。
又はアルコキシ置換アルキル基は、一般に炭素原子数1
〜12のもの、好ましくは炭素原子数1〜4のものであ
って、このような非置換又はアルコキシ置換アルキル基
としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、
イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、tert−ブチ
ル基、ペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基、ヘプ
チル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ドデシル
基、メトキシメチル基、メトキシエチル基、エトキシメ
チル基、エトキシエチル基等が挙げられる。中でも好ま
しいのは、メチル基である。
又はアルコキシ置換アルキル基としては、前記R4 で表
される非置換又はアルコキシ置換アルキル基と同様のも
のが挙げられる。また前記一般式(4)のR6 で表され
る非置換又はアルコキシ置換アルキル基としては、前記
R4 で表される非置換又はアルコキシ置換アルキル基と
同様のものが挙げられる。
の(メタ)アクリロイルオキシプロピルトリアルコキシ
シランと一般式(3)のフェニルトリアルコキシシラン
とを、一般式(2)のシラン:一般式(3)のシランの
モル比1:0.7〜20、好ましくは、1:1〜5で、
好ましくは酸触媒存在下に、共加水分解反応させて、シ
ラノール基を有する共加水分解縮合物を得る。
リロイルオキシプロピルトリアルコキシシランの具体例
としては、例えば、アクリロイルオキシプロピルトリメ
トキシシラン、アクリロイルオキシプロピルトリエトキ
シシラン、アクリロイルオキシプロピルトリプロポキシ
シラン、(2−メチル)アクリロイルオキシプロピルト
リメトキシシラン、(2−メチル)アクリロイルオキシ
プロピルトリエトキシシラン、アクリロイルオキシプロ
ピルトリ(メトキシエトキシ)シラン等が挙げられる。
アルコキシシランの具体例としては、例えば、フェニル
トリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フ
ェニルトリプロポキシシラン、フェニルトリブトキシシ
ラン等が挙げられる。
アルコキシシランの具体例としては、例えば、メチルト
リメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチル
トリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラン、エ
チルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、
エチルトリプロポキシシラン、エチルトリブトキシシラ
ン、プロピルトリメトキシシラン、プロピルトリエトキ
シシラン、プロピルトリプロポキシシラン、プロピルト
リブトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニル
トリ(メトキシエトキシ)シラン等が挙げられる。前記
の共加水分解は、酸触媒の存在下に行うのが好ましい。
酸触媒としては、公知の酸触媒である無機酸及び有機酸
を用いることができ、具体的には、例えば、塩酸、硫酸
等の無機酸;酢酸、シュウ酸等の有機酸が挙げられる。
中でも好ましいのは塩酸である。
(3)及び(4)で示されるアルコキシシランの合計量
100重量部に対し、通常0.001〜1.0重量部で
ある。共加水分解は、通常、0〜50℃で行えばよい。
このようにして得られる共加水分解物は、次に縮重合に
供される。この縮重合反応の条件は、前記一般式(1)
のオルガノポリシロキサンの分子量をコントロールする
上で重要である。反応温度は50〜100℃が好まし
く、特に80℃〜100℃が好ましい。
間以上が好ましい。特に平均分子量、例えば重量平均分
子量3,000以上(GPCによるポリスチレン換算
値)の該オルガノポリシロキサンを得るためには、上記
の共加水分解により生じたシラノール基と、共加水分解
後も残存するアルコキシ基を上記反応条件で縮重合する
必要がある。このようにして共加水分解及び縮重合を経
て得られた共加水分解縮重合物中にはアルコキシ基はほ
ぼ完全に消失しているが、一部のシラノール基は未反応
のまま残存している。
は、前記共加水分解縮重合物をシリル化剤と反応させ
て、残存するシラノール基をシリル化する。前記シリル
化剤としては、例えば、下記一般式(5): R7 3 Si−NH−SiR7 3 (5) (式中、R7 は独立に炭素原子数1〜8のアルキル基又
は炭素原子数1〜8のアルケニル基を示す)で表される
ヘキサオルガノジシラザン、例えばヘキサアルキルジシ
ラザン、テトラアルキルジアルケニルジシラザン、テト
ラアルケニルジアルキルジシラザン等が挙げられる。前
記一般式(5)のR7 で示される炭素原子数1〜8のア
ルキル又はアルケニル基としては前記R2 及びR3 と同
様のものが挙げられ、好ましくはメチル基及びビニル基
である。前記一般式(5)のヘキサオルガノジシラザン
の具体例としてはヘキサメチルジシラザン、テトラメチ
ルジブチルジシラザン、ヘキサエチルジシラザン、テト
ラメチルジビニルジシラザン、テトラビニルジメチルジ
シラザン等が挙げられる。前記一般式(5)以外のシリ
ル化剤としては、例えばN−トリメチルシリルアセトア
ミド、N,O−ビス(トリメチルシリル)アセトアミ
ド、N−トリメチルシリルイミダゾール等が挙げられ
る。以上のシリル化剤の中でも、ヘキサアルキルジシラ
ザン、特にヘキサメチルジシラザンが好ましい。
われ、このような有機溶媒としては、例えば、メチルト
リブチルケトン、トルエン、キシレン等が挙げられる。
シリル化剤の使用量は、共加水分解縮重合物中に残存す
るシラノール基の量により一概に決定できないが、通
常、前記共加水分解縮重合物に対して5重量%以上が好
ましい。前記シリル化反応の温度は、80℃以上、特に
80〜160℃が好ましく、反応時間は、0.5〜3時
間程度でよい。このシリル化により、共加水分解縮合物
に残存するシラノール基はほぼ完全にトリアルキルシロ
キシ基に転化され不活性になる。
れる(メタ)アクリロイルオキシル基含有オルガノポリ
シロキサンが得られる。該(メタ)アクリロイルオキシ
ル基含有オルガノポリシロキサンは、シラノール基が分
子中に残存していないので親水性が乏しく親油性が高い
ので水と混和しない有機溶剤に溶解した状態で水洗する
ことにより容易に水溶性不純物を除去できる。したがっ
て、高純度化が容易でしかもシラノール基を含有してい
ないので保存安定性に優れている。更に、硬化性が優
れ、塗布後、未硬化状態で粘着性が少ない。
ば、2,6−ビス(p−アジドベンザル)−4−tert−
アミールシクロヘキサノン、2,6−ビス(p−アジド
ベンザル)−4−メチルシクロヘキサノン、4,4’−
ジアジドベンザルアセトン等のビスアジド化合物;3,
3−カルボニルビス(7−ジエチルアミノクマリン)、
6−メチルクマリン等のクマリン系色素;ベンゾフェノ
ン及びこれらの誘導体、例えば、テトラ(tert−ブチル
ペロキシカルボニル)ベンゾフェノン等;ベンゾイン、
及びこれらの誘導体、例えば、ベンゾインエチルエーテ
ル、ベンゾインメチルエーテルなどが挙げられ、中でも
好ましいのは、2,6−ビス(p−アジドベンザル)−
4−tert−アミールシクロヘキサノン、3,3−カルボ
ニルビス(7−ジエチルアミノクマリン)、テトラ(te
rt−ブチルペロキシカルボニル)ベンゾフェノン、ベン
ゾフェノンである。
(A)成分の(メタ)アクリロイルオキシル基含有オル
ガノポリシロキサン100重量部に対し、0.0001
〜20重量部が好ましく、さらに好ましくは0.1〜1
0重量部である。
記(A)及び(B)成分のほか、必要により、溶剤や、
例えば、ハイドロキノンモノメチルエーテル、2,6−
ジ(tert−ブチル)−4−メチルフェノール等の重合禁
止剤、通常光硬化性オルガノポリシロキサン組成物に用
いるその他の添加剤などを配合することができる。
シレン、メチルイソブチルケトン、1−メトキシ−2−
プロパノール等が挙げられる。溶剤の使用量は、組成物
全体で40〜80重量%が好ましい。
びにその他の必要な成分を均一に混合して得ることがで
きる。
は、例えば次のように用いられる。即ち、スピンナー等
の塗布装置を用いて所定の基体に塗布し、組成物に含ま
れる溶剤を風乾して、好ましくは、0.1〜10μm
(乾燥後の厚さ)の組成物被膜を形成した後、マスクア
ライナー等を用い、これに直接、或いはフォトマスクで
組成物被膜表面を遮蔽してから、光を照射して該組成物
被膜の露光部分を硬化させる。照射する光としては、例
えば、遠紫外線(波長:例193nm,253nm)、i線
(波長:365nm)、g線(波長:436nm)、h線
(波長:405nm)等の紫外線が挙げられる。
成物被膜は、例えば、メチルトリブチルケトン等の溶剤
を用いて溶解、除去することにより、前記フォトマスク
に応じたパターンを形成ができる。また、組成物被膜を
半導体のパッシベーションに用いる場合には、好ましく
は、200℃〜300℃で1〜4時間加熱することによ
り、硬化させた組成物被膜中に残存する溶剤等の揮発分
が完全に飛散し、耐熱性、密着性に優れた被膜が得られ
る。
さらに具体的に説明する。なお、本例中、平均分子量
は、GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフ)に
よるポリスチレン換算値であり、また記号MW は重量平
均分子量を意味する。
468重量部、及びフェニルトリメトキシシラン()
792重量部をフラスコに仕込み(:のモル比=
1:2)、これに水534.2重量部及び酸触媒として
の塩酸(36重量%)2重量部を混合した溶液を攪拌下
で10分間かけて滴下し、加水分解反応を行った。次
に、反応混合物を100℃に加熱し、副生したメチルア
ルコールを留去しながら5時間縮重合反応を行った。
トリブチルケトンに溶解した後、該加水分解縮重合物1
00重量部に対してヘキサメチルジシラザン25重量部
を添加し、100℃で1時間加熱した。その後、メチル
トリブチルケトンを100℃/5mmHgで減圧留去
し、樹脂状の固形物として(A)成分の(メタ)アクリ
ロイルオキシル基含有オルガノポリシロキサンを得た。
なお、この(メタ)アクリロイルオキシル基含有オルガ
ノポリシロキサンの平均分子量(MW )を測定した結
果、7,000であった。
シル基含有オルガノポリシロキサン100重量部と、
(B)成分の2,6−ビス(p−アジドベンザル)−4
−tert−アミールシクロヘキサノン5重量部とを、メチ
ルイソブチルケトン233.4重量部に溶解した溶液
を、孔径が0.5μmのメンブレンフィルターでろ過
し、本発明の組成物を得た。得られた組成物をシリコン
ウェハー上にスピンコート法により塗布し、風乾した
後、膜厚が2.5μmの組成物被膜を形成した。この組
成物被膜は、未硬化の状態で粘着性は無かった。
い、予め半導体の回路に応じてパターンを形成したフォ
トマスクを密着させ、露光した後(180mJ)、キシ
レンを用いて現像し、シリコンウェハー上に厚さが1.
8μmで、20μmL/Sの解像パターンを得た。な
お、20μmL/Sの解像パターンとは、シリコーンウ
ェーハー上に幅20μm組成物被膜と幅20μmのスペ
ースが交互に連なる縞状パターンをいう(以下、同
じ)。
468重量部、及びフェニルトリメトキシシラン()
594重量部をフラスコに仕込み(:のモル比=
1:5)、これに水446重量部及び酸触媒としての塩
酸(36重量%)1.7重量部を混合した溶液を滴下
し、加水分解反応を行った。次に、これを80℃に加熱
し、副生したメチルアルコールを留去しながら縮重合反
応を行った。
トリブチルケトンに溶解した後、該加水分解縮重合物1
00重量部に対してヘキサメチルジシラザン25重量部
を添加し、100℃で1時間加熱した後、メチルトリブ
チルケトンを100℃、5mmHgで減圧留去し、樹脂
状の固形物として(A)成分の(メタ)アクリロイルオ
キシル基含有オルガノポリシロキサンを得た。なお、こ
の(メタ)アクリロイルオキシル基含有オルガノポリシ
ロキサンの平均分子量(MW )を測定した結果、12,
000であった。
ノポリシロキサン100重量部と、(B)成分のテトラ
(tert−ブチルペロキシカルボニル)ベンゾフェノ
ン4重量部及び3,3−カルボニルビス(7−ジエチル
アミノクマリン)0.005重量部とを、メチルイソブ
チルケトン233.4重量部に溶解した溶液を、孔径が
0.5μmのメンブレンフィルターでろ過し、本発明の
組成物を得た。
ピンコート法により塗布し、風乾した後、膜厚が2.5
μmの組成物被膜を形成した。この組成物被膜は、未硬
化の状態で粘着性は無かった。この組成物被膜に、マス
クアライナーを用い、予め半導体の回路に応じてパター
ンを形成したフォトマスクを密着させ、露光した後(7
08mJ)、メチルイソブチルケトンを用いて現像し、
シリコンウェハー上に厚さが1.7μmで、20μmL
/Sの解像パターンを得た。
水分解縮重合物を得た。
おいて行ったのと同様にしてヘキサメチルジシラザンで
処理し、(A)成分の(メタ)アクリロイルオキシル基
含有オルガノポリシロキサンを得た。なお、この(メ
タ)アクリロイルオキシル基含有オルガノポリシロキサ
ンの平均分子量(MW )を測定した結果、12,000
であった。
基含有オルガノポリシロキサン100重量部を、トルエ
ン200重量部に溶解し、これを純水600重量部で2
回水洗した。この時の分離廃水の電導度を測定したとこ
ろ、3μs/cmであった。
シル基含有オルガノポリシロキサンのトルエン溶液から
共沸脱水及びトルエン留去を行って精製した。次に、こ
うして精製した(メタ)アクリロイルオキシル基含有オ
ルガノポリシロキサン100重量部と、(B)成分のテ
トラ(tert−ブチルペロキシカルボニル)ベンゾフ
ェノン4重量部と、3,3−カルボニルビス(7−ジエ
チルアミノクマリン)0.005重量部とを、メチルイ
ソブチルケトン233.4重量部に溶解した溶液を、孔
径が0.5μmのメンブレンフィルターでろ過し、本発
明の組成物を得た。この組成物中の不純物濃度を測定し
た結果、Na+ が1ppm以下、K+ が1ppm以下、
Cl- が1ppm以下であった。得られた組成物をシリ
コンウェハー上にスピンコート法により塗布し、風乾し
た後、膜厚が2.5μmの組成物被膜を形成した。この
組成物被膜は、未硬化の状態で粘着性は無かった。
いて予め半導体の回路に応じてパターンを形成したフォ
トマスクを密着させ、露光した後(708mJ)、メチ
ルイソブチルケトンを用いて、組成物被膜の未硬化部分
を溶解、除去し、シリコンウェハー上に、厚さが1.7
μmで、20μmL/Sの解像パターンを得た。
468重量部、及びフェニルトリメトキシシラン()
198重量部をフラスコに仕込み(:のモル比=
1:0.5)、これに水334重量部及び酸触媒として
の塩酸(36重量%)1.3重量部を混合した溶液を滴
下し、加水分解反応を行った。次に反応液を80℃に加
熱し、副生したメチルアルコールを留去しながら縮重合
反応を行った。
イソブチルケトンに溶解した後、該加水分解縮重合物1
00重量部に対してヘキサメチルジシラザン25重量部
を添加し、100℃で1時間加熱した後、メチルイソブ
チルケトンを100℃/5mmHgで減圧留去したとこ
ろ、高粘度の樹脂を得た。この樹脂は、粘着性があり、
フォトマスクを使用する光硬化性オルガノポリシロキサ
ン組成物としては不適当であった。なお、この樹脂の平
均分子量(MW )を測定した結果、9,000であっ
た。
ピルトリメトキシシラン()468重量部、及びフェ
ニルトリメトキシシラン()792重量部をフラスコ
に仕込み(:のモル比=1:2)、これに水53
4.2重量部及び酸触媒としての塩酸(36重量%)2
重量部を混合した溶液を攪拌下で10分間かけて滴下
し、加水分解反応を行った。次に、この反応混合物を1
00℃に加熱し、副生したメチルアルコールを留去しな
がら1時間縮重合反応を行った。
トリブチルケトンに溶解した後、該加水分解縮重合物1
00重量部にヘキサメチルジシラザン25重量部を添加
し、100℃で1時間加熱した後、メチルトリブチルケ
トンを100℃/5mmHgで減圧留去したところ、高
粘度で水あめ状の樹脂を得た。この樹脂は、粘着性があ
り、フォトマスクを使用する光硬化性オルガノポリシロ
キサン組成物としては不適当であった。なお、この樹脂
の平均分子量(MW )を測定した結果、2,000であ
った。
ピルトリメトキシシラン()468重量部、及びフェ
ニルトリメトキシシラン()792重量部をフラスコ
に仕込み(:のモル比=1:2)、これに水53
4.2重量部及び酸触媒としての塩酸(36重量%)2
重量部を混合した溶液を攪拌下で10分間かけて滴下
し、加水分解反応を行った。
したメチルアルコールを留去しながらさらに昇温を続
け、150℃で10時間縮重合反応を行った。次に得ら
れた加水分解縮合物をメチルトリブチルケトンに溶解し
ようとしたが、該縮合物を均一に溶解するのは困難であ
った。該縮合物の平均分子量(MW )を測定した結果1
10,000であった。
468重量部、及びフェニルトリメトキシシラン()
9900重量部をフラスコに仕込み(:のモル比=
1:25)、これに水4450重量部及び酸触媒として
塩酸(36重量%)16.6重量部を混合した溶液を攪
拌下で10分間かけて滴下し、加水分解反応を行った。
次に反応混合物を100℃に加熱し、副生したメチルア
ルコールを留去しながら5時間縮重合反応を行った。
ブチルケトンに溶解した後、該加水分解縮重合物100
重量部に対してヘキサメチルジシラザン25重量部を添
加し、100℃で1時間加熱した。その後、メチルトリ
ブチルケトンを100℃/5mmHgで減圧留去し、樹
脂固形物を得た。なお、この樹脂固形物の平均分子量
(MW )を測定した結果6,000であった。
2,6−ビス(p−アジドベンザル)−4−tert−
アミールシクロヘキサノン5重量部とを、メチルイソブ
チルケトン233.4重量部に溶解した溶液を孔径0.
5μmのメンブレンフィルターでろ過し、光硬化性組成
物を得た。得られた光硬化性組成物をシリコンウェハー
上にスピンコート法により塗布し、風乾した後、膜厚が
2.5μmの組成物被膜を形成した。この組成物被膜は
未硬化の状態で粘着性は無かった。
い、予め半導体の回路に応じてパターンを形成したフォ
トマスクを密着させ、露光した後(708mJ)、キシ
レンを用いて現像したが、該組成物被膜の光感度が低く
硬化が不十分なため、該組成物被膜はキシレンに溶解
し、シリコンウェハー上には、フォトマスクに対応した
パターンは得られなかった。
℃、及び40℃で保存し、粘度(cSt)の経時変化を
測定した。結果を図1に示す。なお、図1中、縦軸は、
25℃における組成物の粘度(cSt)であり、横軸は
保存期間(日数)である。
用いて、300℃で4時間処理し、その間の重量減少を
経時的に測定した。結果を図2に示す。
保存安定性に優れ、塗布後、未硬化の状態で粘着性が少
なく、硬化後の耐熱性に優れる。この組成物は、半導体
リソグラフィ用感光性耐熱材料や、半導体パッシベーシ
ョン用感光性耐熱材料として有用である。
Claims (2)
- 【請求項1】(A) 下記一般式(2): CH2=CR1COO−C3H6−Si(OR4)3 (2) (式中、R1 は水素原子又はメチル基を示し、R4 は非
置換又はアルコキシ置換アルキル基を示す)で表される
(メタ)アクリロイルオキシプロピルトリアルコキシシ
ランと、該シラン1モル当たり1〜18モル量の、下記
一般式(3): PhSi(OR5)3 (3) (式中、Phはフェニル基を示し、R5 は非置換又はア
ルコキシ置換アルキル基を示す)で表されるフェニルト
リアルコキシシラン及び場合によってはさらに前記一般
式(2)のシラン1モル当り0〜4モル量の下記一般式
(4): R2Si(OR6)3 (4) (式中、R2 は炭素原子数1〜8のアルキル基又は炭素
原子数1〜8のアルケニル基を示し、R6 は非置換又は
アルコキシ置換アルキル基を示す)で表されるオルガノ
トリアルコキシシランとを、共加水分解及び重縮合に供
し、得られた縮重合物に含まれるシラノール基を、下記
一般式(6): R7 3SiO− (6) (式中、R7 は独立に炭素原子数1〜8のアルキル基又
はアルケニル基を示す)で表されるシロキシ基に転換す
ることにより得られた平均分子量3,000〜100,000(GP
Cによるポリスチレン換算値)の(メタ)アクリロイル
オキシル基含有オルガノポリシロキサン、及び(B) 光増
感剤を含有してなる光硬化性オルガノポリシロキサン組
成物。 - 【請求項2】請求項1の組成物に光を照射して硬化させ
ることにより得られる硬化物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002200068A JP4064172B2 (ja) | 1995-03-16 | 2002-07-09 | 光硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7-84722 | 1995-03-16 | ||
| JP8472295 | 1995-03-16 | ||
| JP2002200068A JP4064172B2 (ja) | 1995-03-16 | 2002-07-09 | 光硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08891796A Division JP3347936B2 (ja) | 1995-03-16 | 1996-03-18 | 光硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003122016A true JP2003122016A (ja) | 2003-04-25 |
| JP4064172B2 JP4064172B2 (ja) | 2008-03-19 |
Family
ID=26425713
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002200068A Expired - Lifetime JP4064172B2 (ja) | 1995-03-16 | 2002-07-09 | 光硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4064172B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007226209A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-09-06 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 感光性樹脂組成物 |
-
2002
- 2002-07-09 JP JP2002200068A patent/JP4064172B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007226209A (ja) * | 2006-01-25 | 2007-09-06 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 感光性樹脂組成物 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4064172B2 (ja) | 2008-03-19 |
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