JP2003166891A - 物理量測定方法及びその装置 - Google Patents
物理量測定方法及びその装置Info
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Abstract
量の差分値を周囲環境などに影響されずに、かつ、非測
定対象の物理量の影響を受けることなく正確に測定でき
るようにする技術の提供を目的とする。 【解決手段】測定対象の物理量と非測定対象の物理量と
に応じて入力光に光路差を発生させるセンサと、その非
測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生させる
センサとの組み合わせで構成されるセンサ対に光源の光
を入力し、その入力に応答して出力される光路差の発生
された光を、別に用意される同一の光路差発生機能を持
つセンサ対に入力して、その入力に応答して出力される
光路差の発生された光を2つに分波して干渉縞を生成す
る。そして、この干渉縞から、測定対象の物理量の差分
値に応じた移動量を非測定対象の物理量の差分値に応じ
た移動量を差し引く形で検出することで、測定対象の物
理量の差分値を測定する。
Description
物理量の差分値を測定する物理量測定方法及びその装置
に関し、特に、距離的に離れた位置で発生する物理量の
差分値を周囲環境などに影響されずに正確に測定できる
ようにするとともに、非測定対象の物理量に影響されず
に正確に測定できるようにする物理量測定方法及びその
装置に関する。
御する場合、距離的に離れた位置に存在するプロセス流
体の圧力の差分値を測定することが要求されることがあ
る。
に示すように、2か所の測定位置のそれぞれに圧力計を
用意する構成を採って、その2台の圧力計の測定値(電
気信号)を演算回路へ伝送して差分処理することで、2
か所の測定位置で発生する圧力の差分値を測定するよう
にしている。
力の差分値を測定する差圧計を用意する構成を採って、
導圧管を使って、2か所の測定位置のそれぞれから差圧
計へプロセス流体を導き入れることで、2か所の測定位
置で発生する圧力の差分値を測定するようにしている。
管が詰まって測定できなくなったり、導圧管が破損する
とプロセス流体が外部に流れ出てしまうという問題点が
ある。
コンオイルなどの封入液を封入するリモートシールを使
って、2か所の測定位置のそれぞれから差圧計へプロセ
ス流体の圧力を伝搬させることで、2か所の測定位置で
発生する圧力の差分値を測定するようにすることもあ
る。
の測定位置のそれぞれに圧力計を用意する構成を採っ
て、その2台の圧力計の測定値を演算回路で差分処理す
るという方法を用いていると、高価な圧力計を2台用意
しなければならず、コストが高くなるという問題点があ
る。
のそれぞれから差圧計へプロセス流体を導き入れるとい
う方法を用いていると、導圧管が詰まって測定できなく
なるという問題点や、導圧管が破損するとプロセス流体
が外部に流れ出るという問題点がある。
測定位置のそれぞれから差圧計へプロセス流体の圧力を
伝搬させるという方法を用いていると、導圧管の詰まり
やプロセス流体が外部に流れ出てしまうという危険性は
ないものの、2本のリモートシールが異なる環境下に配
置されるために、温度などの影響を受けることで測定精
度が低下するという問題点がある。しかも、この方法で
は、リモートシールが破損するときに封入液が外部に漏
れるという問題点がある。
技術の構築が叫ばれているが、この物理量測定技術の構
築にあたっては、非測定対象の物理量に影響されずに正
確に測定できるようにしていく必要がある。
であって、距離的に離れた位置で発生する物理量の差分
値を周囲環境などに影響されずに正確に測定できるよう
にするとともに、非測定対象の物理量に影響されずに正
確に測定できるようにする新たな物理量測定技術の提供
を目的とする。
に、本発明では、反射構造に従って、測定対象の物理
量と非測定対象の物理量とに応じて入力光に光路差を発
生させるセンサと、反射構造に従って、その非測定対象
の物理量に応じて入力光に光路差を発生させるセンサと
の組み合わせで構成される複数のセンサ対と、最前段
のセンサ対に対応付けて設けられて、そのセンサ対に光
源の発光する光を伝送する光ファイバ手段と、最前段
のセンサ対以外の各センサ対に対応付けて設けられ、前
段のセンサ対に対応付けて設けられる光ファイバ手段を
逆伝送する光路差の発生された光を入力として、その光
を対となるセンサ対に伝送する光ファイバ手段と、最
後段のセンサ対に対応付けて設けられる光ファイバ手段
を逆伝送する光路差の発生された光を入力として、その
光を2つに分波する光学手段と、光学手段から出射さ
れる2つに分波された光により生成される干渉縞を検知
する検知手段と、検知手段により検知される干渉縞の
縞位置から、非測定対象の物理量の影響を受けずに測定
対象の物理量の差分値を算出する算出手段とを備えるよ
うに構成する。
の光の伝送先となるセンサ対として、測定対象の物理量
と非測定対象の物理量とに応じて入力光に光路差を発生
させるセンサと、その非測定対象の物理量に応じて入力
光に光路差を発生するセンサとが並列接続されるものを
用いたり、そのようなセンサが直列接続されるものを用
いることがある。
では、透過構造に従って、測定対象の物理量と非測定
対象の物理量とに応じて入力光に光路差を発生させるセ
ンサと、透過構造に従って、その非測定対象の物理量に
応じて入力光に光路差を発生させるセンサとの組み合わ
せで構成されるセンサ対と、最前段のセンサ対に対応
付けて設けられて、そのセンサ対に光源の発光する光を
伝送する光ファイバ手段と、最前段のセンサ対以外の
各センサ対に対応付けて設けられ、前段のセンサ対に直
列的に接続されて、そのセンサ対により光路差の発生さ
れた光を入力として、その光を対となるセンサ対に伝送
する光ファイバ手段と、最後段のセンサ対により光路
差の発生された光を入力として、その光を2つに分波す
る光学手段と、光学手段から出射される2つに分波さ
れた光により生成される干渉縞を検知する検知手段と、
検知手段により検知される干渉縞の縞位置から、非測
定対象の物理量の影響を受けずに測定対象の物理量の差
分値を算出する算出手段とを備えるように構成する。
の光の伝送先となるセンサ対として、測定対象の物理量
と非測定対象の物理量とに応じて入力光に与える光路長
を変化させるセンサと、その非測定対象の物理量に応じ
て入力光に与える光路長を変化させるセンサと、それら
のセンサをバイパスする光ファイバ手段とが並列接続さ
れるものを用いることがある。
象の物理量と非測定対象の物理量とに応じて入力光に光
路差を発生させるセンサと、その非測定対象の物理量に
応じて入力光に光路差を発生させるセンサとの組み合わ
せで構成される少なくとも2つのセンサ対が用意されて
いて、最前段のセンサ対の1つのセンサが光路差n1×
L1(n1 は屈折率、L1 は長さ)の発生機能を有し、次
段のセンサ対のそれに対応付けられる1つのセンサが光
路差n2 ×L2(n2 は屈折率、L2 は長さ)の発生機能
を有する場合の例で説明するならば、最前段のセンサ対
に対応付けて設けられる光ファイバを介して、その最前
段のセンサに光源の発光する光が入力されると、その最
前段のセンサの光路差n1 ×L1 の発生機能により、反
射構造のセンサで説明するならば、光路長が変化をしな
い光と、光路長がn1 ×L1 変化する光とが発生する。
けて設けられる光ファイバを介して、その次段のセンサ
に入力され、その次段のセンサの光路差n2 ×L2 の発
生機能により、反射構造のセンサで説明するならば、こ
の入力光を起点にして、光路長が変化しない光と、光路
長がn2 ×L2 変化する光とが発生する。
光路長の変化を受けて次段のセンサに入力され、そこで
はn2 ×L2 の光路長の変化を受けないで伝送する光
と、最前段のセンサでn1 ×L1 の光路長の変化を受け
ないで次段のセンサに入力され、そこではn2 ×L2 の
光路長の変化を受けて伝送する光とが存在することで、
(n1 ×L1 −n2 ×L2 )という因子を持つ位相差が
発生し、これにより、光路差(n1 ×L1 −n2 ×
L2 )に応じた干渉縞がセンサの上に生成される。
応じた干渉縞の縞位置は、測定対象の物理量と非測定対
象の物理量とに応じて入力光に光路差を発生させるセン
サである場合には、測定対象の物理量の差分値と非測定
対象の物理量の差分値とに応じたものとなり、一方、非
測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生させる
センサである場合には、非測定対象の物理量の差分値に
応じたものとなる。
測定対象の物理量が温度である場合で説明するならば、
前者の干渉縞の位置D12a と、後者の干渉縞の位置D
12b とは、 D12a =D12a (P,T) D12b =D12b (T) 但し、P=P1 −P2 P1 :最前段のセンサ位置で発生する圧力 P2 :次段のセンサ位置で発生する圧力 T=T1 −T2 T1 :最前段のセンサ位置における温度 T2 :次段のセンサ位置における温度 で表される。
により生成される干渉縞位置D12aは、差圧と温度差と
が変化すると、 ΔD12a =C12a (P) ×ΔP+C12a (T) ×ΔT と変化する。
を示しており、温度差一定の条件下で求められる単位差
圧量当たりの干渉縞の移動量として、予め実験により求
めることができる。また、C12a (T) は、温度差に関す
る感度を示しており、差圧一定の条件下で求められる単
位温度差あたりの干渉縞の移動量として、予め実験によ
り求めることができる。
より生成される干渉縞位置D12b は、温度差が変化する
と、 ΔD12b =C12b (T) ×ΔT と変化する。
度を示しており、差圧一定の条件下で求められる単位温
度差あたりの干渉縞の移動量として、予め実験により求
めることができる。
サ対の内の温度にのみ反応するセンサにより生成される
干渉縞位置D12b の移動量を求めて、これを予め求めて
ある感度C12b (T) で割り算することで温度差ΔTを求
める。
方に反応するセンサにより生成される干渉縞位置D12a
の移動量を求めて、この求めた移動量ΔD12a と、先に
求めた温度差ΔTと、予め求めてある感度C12a (P) ,
C12a (T) とを、 ΔD12a =C12a (P) ×ΔP+C12a (T) ×ΔT から導出される ΔP=(ΔD12a −C12a (T) ×ΔT)/C12a (P) に代入することで差圧ΔPを測定する。
位置で測定される物理量の差分値を測定するにあたっ
て、導圧管やリモートシールなどの代わりに光ファイバ
を用いて、光干渉を使ってその差分値を測定するという
構成を採るとともに、そのときに、非測定対象の物理量
の影響をキャンセルする形で物理量の差分値を測定する
という構成を採ることから、距離的に離れた位置で発生
する物理量の差分値を周囲環境などに影響されずに正確
に測定できるようになるとともに、非測定対象の物理量
に影響されずに正確に測定できるようになる。
光波は同じ位相変動を受けることで、外乱による干渉は
キャンセルし合うことになるので、本発明によれば、距
離的に離れた位置で発生する物理量の差分値を周囲環境
などに影響されずに正確に測定できるようになるととも
に、非測定対象の物理量に影響されずに正確に測定でき
るようになるのである。
生する圧力の差分値を測定する実施の形態に従って、本
発明を詳細に説明する。
る。
れる第1のセンサ対100と、第2の測定点に設置され
る第2のセンサ対200とを使って、第1の測定点で発
生する圧力と第2の測定点で発生する圧力との差分値を
測定するという構成を採っている。
点における温度の影響を受けつつ、第1の測定点で発生
する圧力に応じて入力光に光路差を発生させる第1の圧
力温度センサ100aと、第1の測定点における温度の
みに応じて入力光に光路差を発生させる第1の温度セン
サ100bとで構成される。
定点における温度の影響を受けつつ、第2の測定点で発
生する圧力に応じて入力光に光路差を発生させる第2の
圧力温度センサ200aと、第2の測定点における温度
のみに応じて入力光に光路差を発生させる第2の温度セ
ンサ200bとで構成される。
イアフラムなどの受圧部材にセットされる全反射鏡10
1aと、全反射鏡101aに対向して設けられて、入力
光の一部を反射するとともに、残りの一部を透過する半
透過鏡102aと、半透過鏡102aを透過する光を平
行化して全反射鏡101aに照射するレンズ103aと
で構成されており、半透過鏡102aと全反射鏡101
aとの間の距離をL1aで表すならば、入力光に対して、
半透過鏡102aで反射される場合と全反射鏡101a
で反射される場合とで、2n1aL1a( n1aは半透過鏡1
02aと全反射鏡101aとの間にある物質の屈折率)
という光路差を発生させる。
アフラムなどの受圧部材にセットされる全反射鏡101
bと、全反射鏡101bに対向して設けられて、入力光
の一部を反射するとともに、残りの一部を透過する半透
過鏡102bと、半透過鏡102bを透過する光を平行
化して全反射鏡101bに照射するレンズ103bとで
構成されており、半透過鏡102bと全反射鏡101b
との間の距離をL1bで表すならば、入力光に対して、半
透過鏡102bで反射される場合と全反射鏡101bで
反射される場合とで、2n1bL1b( n1bは半透過鏡10
2bと全反射鏡101bとの間にある物質の屈折率)と
いう光路差を発生させる。
第1の圧力温度センサ100aと同一の構造を有して、
ダイアフラムなどの受圧部材にセットされる全反射鏡2
01aと、全反射鏡201aに対向して設けられて、入
力光の一部を反射するとともに、残りの一部を透過する
半透過鏡202aと、半透過鏡202aを透過する光を
平行化して全反射鏡201aに照射するレンズ203a
とで構成されており、半透過鏡202aと全反射鏡20
1aとの間の距離をL2aで表すならば、入力光に対し
て、半透過鏡202aで反射される場合と全反射鏡20
1aで反射される場合とで、2n2aL2a( n2aは半透過
鏡202aと全反射鏡201aとの間にある物質の屈折
率)という光路差を発生させる。
の温度センサ100bと同一の構造を有して、ダイアフ
ラムなどの受圧部材にセットされる全反射鏡201b
と、全反射鏡201bに対向して設けられて、入力光の
一部を反射するとともに、残りの一部を透過する半透過
鏡202bと、半透過鏡202bを透過する光を平行化
して全反射鏡201bに照射するレンズ203bとで構
成されており、半透過鏡202bと全反射鏡201bと
の間の距離をL2bで表すならば、入力光に対して、半透
過鏡202bで反射される場合と全反射鏡201bで反
射される場合とで、2n2bL2b( n2bは半透過鏡202
bと全反射鏡201bとの間にある物質の屈折率)とい
う光路差を発生させる。
定するとともに、第1の測定点と第2の測定点との間に
圧力差及び温度差がない場合に「L1a=L2a」となる第
1の圧力温度センサ100a及び第2の圧力温度センサ
200aを用いることを想定する。
想定するとともに、第1の測定点と第2の測定点との間
に温度差がない場合に「L1b=L2b」となる第1の温度
センサ100b及び第2の温度センサ200bを用いる
ことを想定する。
の測定点で発生する圧力及び温度と第2の測定点で発生
する圧力及び温度との間に圧力差及び温度差がない場合
には、「L1a=L2a」となり、半透過鏡102aと全反
射鏡101aとの間にある物質と、半透過鏡202aと
全反射鏡201aとの間にある物質とが同じであること
で「n1a=n2a」となることから、第1の圧力温度セン
サ100aにより発生する光路差2n1aL1aと、第2の
圧力温度センサ200aにより発生する光路差2n2aL
2aとは一致することになる。
力と第2の測定点で発生する圧力との間に圧力差がある
場合には、この2つの光路差に違いがでる。しかも、こ
の光路差は、温度の影響を受けることになる。
測定点における温度との間に温度差がない場合には、
「L1b=L2b」となり、半透過鏡102bと全反射鏡1
01bとの間にある物質と、半透過鏡202bと全反射
鏡201bとの間にある物質とが同じであることで「n
1b=n2b」となることから、第1の温度センサ100b
により発生する光路差2n1bL1bと、第2の温度センサ
200bにより発生する光路差2n2bL2bとは一致する
ことになる。
と第2の測定点における温度との間に温度差がある場合
には、この2つの光路差に違いがでる。
いを検出することで、第1の測定点で発生する圧力と第
2の測定点で発生する圧力との差分値を、第1及び第2
の測定点における温度の影響を受けることなく測定する
という構成を採るものである。
では、低コヒーレント光を発光するLEDなどで構成さ
れる光源1(いわゆる白色光源で構成される光源1)
と、光源1の発光する光を取り出すシングルモードの光
ファイバ2と、第1のセンサ対100に対応付けて設け
られて、光ファイバ2の取り出す光を第1のセンサ対1
00に伝送するシングルモードの光ファイバ3aと、光
ファイバ3aを伝送してくる光を2つに分波して第1の
センサ対100に入力する光分波結合器50aと、光フ
ァイバ2と光ファイバ3aとを結合するとともに、光フ
ァイバ3aを逆伝送してくる光を分波する光分波結合器
4aと、光分波結合器4aの分波する光を取り出すシン
グルモードの光ファイバ5と、第2のセンサ対200に
対応付けて設けられて、光ファイバ5の取り出す光を第
2のセンサ対200に伝送するシングルモードの光ファ
イバ3bと、光ファイバ3bを伝送してくる光を2つに
分波して第2のセンサ対200に入力する光分波結合器
50bと、光ファイバ5と光ファイバ3bとを結合する
とともに、光ファイバ3bを逆伝送してくる光を分波す
る光分波結合器4bと、光分波結合器4bの分波する光
を取り出すシングルモードの光ファイバ6と、光ファイ
バ6の取り出す光を2つに分波する光分波結合器7と、
光分波結合器7の分波する一方の光を取り出すシングル
モードの光ファイバ8aと、光分波結合器7の分波する
もう一方の光を取り出すシングルモードの光ファイバ8
bと、光ファイバ8a及び光ファイバ8bから出射され
る光により生成される干渉縞を検出するラインイメージ
センサ9と、ラインイメージセンサ9の検出する干渉縞
の縞位置から、第1の測定点で発生する圧力と第2の測
定点で発生する圧力との間の圧力差を算出する演算装置
10とを備える。
3bについては、シングルモードのものに限られる必要
はなくマルチモードのものを用いることも可能であり、
これに対応して、光ファイバ2,5,6,8a,8bに
ついても、シングルモードのものに限られる必要はなく
マルチモードのものを用いることも可能である。
圧力温度センサ100aと第2の圧力温度センサ200
aとの関係で説明するならば、図2(a)に示すよう
に、全反射鏡101aで反射してから全反射鏡201a
で反射して伝送する光の伝送パターン(第1の伝送パタ
ーン)と、図2(b)に示すように、半透過鏡102a
で反射してから半透過鏡202aで反射して伝送する光
の伝送パターン(第2の伝送パターン)と、図2(c)
に示すように、半透過鏡102aで反射してから全反射
鏡201aで反射して伝送する光の伝送パターン(第3
の伝送パターン)と、図2(d)に示すように、全反射
鏡101aで反射してから半透過鏡202aで反射して
伝送する光の伝送パターン(第4の伝送パターン)とい
う、4種類の光の伝送パターンが存在することになる。
けて出射される光の位相差としては、(イ)図3に示す
ように、第1の伝送パターンと第2の伝送パターンとの
組み合わせにより発生する位相差=k×2(n1aL1a+
n2aL2a)と、(ロ)図4に示すように、第2の伝送パ
ターンと第4の伝送パターンとの組み合わせ(図中の
(a))と、第1の伝送パターンと第3の伝送パターンと
の組み合わせ(図中の(b))により発生する位相差=k
×2n1aL1aと、(ハ)図5に示すように、第2の伝送
パターンと第3の伝送パターンとの組み合わせ(図中の
(a))と、第1の伝送パターンと第4の伝送パターンと
の組み合わせ(図中の(b))により発生する位相差=k
×2n2aL2aと、(ニ)図6に示すように、第3の伝送
パターンと第4の伝送パターンとの組み合わせにより発
生する位相差=k×2(n1aL1a−n2aL2a)という、
4種類の位相差が存在することになる。
bと第2の温度センサ200bとの関係においても、図
2に示した4種類の光の伝送パターンが存在し、これに
より、図3ないし図6に示したものに対応する4種類の
位相差k×2(n1bL1b+n 2bL2b),k×2n
1bL1b,k×2n2bL2b,k×2(n1bL1b−n
2bL2b)が存在することになる。
点(z,0)に到達する光ファイバ8aから出射される
光と光ファイバ8bから出射される光との間には、図7
に示す式(ヤングの干渉計の式)に従って算出される光
路差Δが存在する。ここで、“h”は、ラインイメージ
センサ9と光ファイバ8a,8bの先端との間の距離を
示し、“2a”は、光ファイバ8a,8bの先端同士の
間の距離を示している。
と第2の圧力温度センサ200aとの関係で説明するな
らば、ラインイメージセンサ9上に生成される干渉縞
は、光源1の発光する光のコヒーレンス長をlc で表す
ならば、 lc ≧Δ−2(n1aL1a+n2aL2a) lc ≧Δ−2(n1aL1a−n2aL2a) lc ≧Δ−2n1aL1a lc ≧Δ−2n2aL2a lc ≧Δ+2(n1aL1a+n2aL2a) lc ≧Δ+2(n1aL1a−n2aL2a) lc ≧Δ+2n1aL1a lc ≧Δ+2n2aL2a という条件が成立するときに、 Δ=2(n1aL1a+n2aL2a) Δ=2(n1aL1a−n2aL2a) Δ=2n1aL1a Δ=2n2aL2a となる場所で強い干渉強度を示すことになる。
る干渉縞の強度は、ガウシアン分布のビーム強度を持つ
ビームを想定するならば、図8に示すようなモデル式に
従ってシミュレーションすることができる。
センサ100aと第2の圧力温度センサ200aとによ
り生成される干渉縞を示しており、式中に含まれるn1a
L1a、n2aL2aが圧力及び温度により変化することにな
る。
温度センサ200bとにより生成される干渉縞について
は、このモデル式の持つn1aL1a、n2aL2aを、それぞ
れn 1bL1b,n2bL2b(これが温度のみにより変化す
る)に代えたモデル式で強度が計算されることになる。
示する。
図7中に示すhを100mm、図7中に示すaを10m
m、n1aを空気の屈折率である1、n2aを空気の屈折率
である1として、(イ)L1a=150μm、L2a=15
0μmのときに生成される干渉縞と、(ロ)L1a=15
0μm、L2a=200μmのときに生成される干渉縞
と、(ハ)L1a=150μm、L2a=250μmのとき
に生成される干渉縞とをシミュレーションすることで行
った。
る中央干渉縞、は2(n1aL1a−n2aL2a)という光
路差因子に基づく干渉縞、は2n1aL1aという光路差
因子に基づく干渉縞、は2n2aL2aという光路差因子
に基づく干渉縞、は2(n 1aL1a+n2aL2a)という
光路差因子に基づく干渉縞である。
干渉縞は左右対称に出現し、L2aの増大に合わせて互い
に逆方向に移動する。
子は、第1の圧力温度センサ100aの置かれる第1の
測定点で発生する圧力と、第2の圧力温度センサ200
aの置かれる第2の測定点で発生する圧力との差圧を示
しており、これから、この2(n1aL1a−n2aL2a)と
いう光路差因子に基づく干渉縞の移動量を検出すること
で、その差圧を測定することができる。
2の圧力温度センサ200aとは温度の影響を受けるの
で、この2(n1aL1a−n2aL2a)という光路差因子に
基づく干渉縞の移動量を検出して、それに基づいて差圧
を算出したのでは、温度の影響を受けた差圧測定にな
る。
サ100bと第2の温度センサ200bとの関係におい
ても、同じ条件下で、 Δ=2(n1bL1b+n2bL2b) Δ=2(n1bL1b−n2bL2b) Δ=2n1bL1b Δ=2n2bL2b となる場所で強い干渉強度を示すことになる。
いう光路差因子は、第1の温度センサ100bの置かれ
る第1の測定点における温度と、第2の温度センサ20
0bの置かれる第2の測定点における温度との温度差を
示しており、これから、この2(n1bL1b−n2bL2b)
という光路差因子に基づく干渉縞の移動量を検出するこ
とで、その温度差を測定することができる。
1の温度センサ100bとが干渉しないようにするため
の次の条件 lc ≦Δ−2(n1aL1a−n1bL1b) lc ≦Δ+2(n1aL1a−n1bL1b) が成立するように構成するとともに、第2の圧力温度セ
ンサ200aと第2の温度センサ200bとが干渉しな
いようにするための次の条件 lc ≦Δ−2(n2aL2a−n2bL2b) lc ≦Δ+2(n2aL2a−n2bL2b) が成立するように構成することになる。
2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞の移動量を検
出するとともに、2(n1bL1b−n2bL2b)という光路
差因子に基づく干渉縞の移動量を検出して、それらに基
づいて、温度の影響を受けない形で、第1の測定点で発
生する圧力と第2の測定点で発生する圧力との差圧を算
出する処理を行う。
内容をフローチャートの形で図示する。
は、図10に示すフローチャートの処理を行うことで、
実際の測定で必要となる演算パラメータを算出してメモ
リに保存する処理を行う。
入る前に、図10に示すフローチャートに示すように、
先ず最初に、ステップ1で、測定の基準となる差圧条件
を決定して、それをメモリに保存する。
の差圧条件下で、2(n1aL1a−n 2aL2a)という光路
差因子に基づく干渉縞の位置を実際に検出するととも
に、2(n1bL1b−n2bL2b)という光路差因子に基づ
く干渉縞の位置を実際に検出して、それらを干渉縞位置
の初期値としてメモリに保存する。
分かるように、第1の測定点と第2の測定点との間に圧
力差及び温度差がない場合に「n1aL1a=n2aL2a」と
なる第1の圧力温度センサ100a及び第2の圧力温度
センサ200aを用いる場合には、2(n1aL1a−n2a
L2a)という光路差因子に基づく干渉縞位置は、2(n
1aL1a+n2aL2a)や2n1aL1aや2n2aL2aという光
路差因子に基づく干渉縞の位置よりも中央干渉縞に近い
位置になる。そして、第1の測定点と第2の測定点との
間に温度差がない場合に「n1bL1b=n2bL2b」となる
第1の温度センサ100b及び第2の温度センサ200
bを用いる場合には、2(n1bL1b−n 2bL2b)という
光路差因子に基づく干渉縞位置は、2(n1bL1b+n2b
L2b)や2n1bL1bや2n2bL2bという光路差因子に基
づく干渉縞の位置よりも中央干渉縞に近い位置になる。
路差因子に基づく干渉縞位置と、2(n1bL1b−n2bL
2b)という光路差因子に基づく干渉縞位置のどちらが中
央干渉縞に近い位置となるのかについては、基本的に
は、L1a(差圧及び温度差がないときにはL2aと一致す
る)と、L1b(温度差がないときにはL2bと一致する)
との間の大小関係により決められる。
起点とする干渉縞の出現順序については設計的事項によ
り一意に決めることが可能であり、これから、2(n1a
L1a−n2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞の位
置と、2(n1bL1b−n2bL 2b)という光路差因子に基
づく干渉縞の位置とについては、それを検出することが
可能となるので、ステップ2では、決定した基準の差圧
条件下で、これらの干渉縞の位置を実際に検出して、そ
れらを干渉縞位置の初期値としてメモリに保存するよう
に処理するのである。
えば、ラインイメージセンサ9の出力する画素値の微分
値をとって、中央干渉縞から規定の順番に従って出現す
る微分極大値の位置を検出することで行う。また、分解
能を上げるために、左右対称位置のものを検出すること
が好ましい。
ときには、中央干渉縞が干渉縞位置の初期値となるの
で、このステップ2の処理を省略することが可能であ
る。
圧条件下の近傍で、温度差一定の条件下で実際に差圧を
変化させ、そのときの2(n1aL1a−n2aL2a)という
光路差因子に基づく干渉縞位置の移動量に従って、単位
差圧量当たりの干渉縞の移動量として求められる差圧に
関する感度C12a (P) を求めて、それをメモリに保存す
る。
圧条件下の近傍で、差圧一定の条件下で実際に温度差を
変化させ、そのときの2(n1aL1a−n2aL2a)という
光路差因子に基づく干渉縞位置の移動量に従って、単位
温度差当たりの干渉縞の移動量として求められる温度に
関する感度C12a (T) を求めて、それをメモリに保存す
る。
圧条件下の近傍で、差圧一定の条件下で実際に温度差を
変化させ、そのときの2(n1bL1b−n2bL2b)という
光路差因子に基づく干渉縞位置の移動量に従って、単位
温度差当たりの干渉縞の移動量として求められる温度に
関する感度C12b (T) を求めて、それらの感度をメモリ
に保存する。
ときには、図11に示すフローチャートの処理を行うこ
とで、温度の影響を受けることなく差圧を測定する。
入ると、図11に示すフローチャートに示すように、先
ず最初に、ステップ1で、2(n1bL1b−n2bL2b)と
いう光路差因子に基づく干渉縞の位置を検出する。
えば、ラインイメージセンサ9の出力する画素値の微分
値をとって、中央干渉縞から規定の順番に従って出現す
る微分極大値の位置を検出することで行う。また、分解
能を上げるために、左右対称位置のものを検出すること
が好ましい。
縞位置と、メモリに保存してある対応の干渉縞位置の初
期値との差分値を算出することで、2(n1bL1b−n2b
L2b)という光路差因子に基づく干渉縞位置の初期値か
らの移動量ΔD12b を算出する。
量ΔD12b を、メモリに保存してある温度に関する感度
C12b (T) で割り算することで、第1の測定点における
温度と第2の測定点における温度との温度差ΔTを算出
する。
2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞の位置を検出
する。
えば、ラインイメージセンサ9の出力する画素値の微分
値をとって、中央干渉縞から規定の順番に従って出現す
る微分極大値の位置を検出することで行う。また、分解
能を上げるために、左右対称位置のものを検出すること
が好ましい。
縞位置と、メモリに保存してある対応の干渉縞位置の初
期値との差分値を算出することで、2(n1aL1a−n2a
L2a)という光路差因子に基づく干渉縞位置の初期値か
らの移動量ΔD12a を算出する。
量ΔD12a と、先に算出した温度差ΔTと、メモリに保
存してある圧力に関する感度C12a (P) と、メモリに保
存してある温度に関する感度C12a (T) とから、上述し
た ΔP=(ΔD12a −C12a (T) ×ΔT)/C12a (P) という算出式に従って、メモリに保存してある基準の差
圧条件からの差圧の変位を算出する。
の変位と、メモリに保存してある基準の差圧条件とを加
算することで現在の差圧を算出して、それを測定結果と
して出力する。
1aL1a−n2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞の
移動量を検出するとともに、2(n1bL1b−n2bL2b)
という光路差因子に基づく干渉縞の移動量を検出して、
それらに基づいて、温度の影響を受けない形で、第1の
測定点で発生する圧力と第2の測定点で発生する圧力と
の差圧を算出して出力するように処理するのである。
定点と第2の測定点との間に圧力差及び温度差がない場
合に「n1aL1a=n2aL2a」となる第1の圧力温度セン
サ100a及び第2の圧力温度センサ200aを用いる
ことを想定した。
果から分かるように、第1の測定点と第2の測定点との
間の圧力差及び温度差を示す2(n1aL1a−n2aL2a)
という光路差因子に基づく干渉縞は、ヤングの干渉計に
基づく中央干渉縞の位置を起点にして、その差圧の絶対
値の大きさが大きくなるに従って中央干渉縞から離れる
形態で移動することになる。
度センサ100a及び第2の圧力温度センサ200aを
用いることに限られるものではなくて、第1の測定点と
第2の測定点との間に圧力差及び温度差がない場合に
「n1aL1a≠n2aL2a」となる第1の圧力温度センサ1
00a及び第2の圧力温度センサ200aを用いること
も可能であり、この場合には負圧を測定できるようにな
る。
の間に圧力差及び温度差がない場合に「n1aL1a≠n2a
L2a」となる第1の圧力温度センサ100a及び第2の
圧力温度センサ200aを用いる場合には、図12に示
すように、2(n1aL1a−n 2aL2a)という光路差因子
に基づく干渉縞が中央干渉縞以外の干渉縞位置を起点に
して、その2(n1aL1a−n2aL2a)の持つ符号の指定
する向きに応じて移動するので、第1の測定点と第2の
測定点との間の圧力差が逆転するような負圧についても
測定できるようになるのである。
基本的には第1の測定点で発生する圧力に応答して光路
差を変化させるとともに、第2の圧力温度センサ200
aは、基本的には第2の測定点で発生する圧力に応答し
て光路差を変化させることから、温度差については考慮
しないで、第1の測定点と第2の測定点との間に圧力差
がない場合に「n1aL1a≠n2aL2a」となる第1の圧力
温度センサ100a及び第2の圧力温度センサ200a
を用いることでも、第1の測定点と第2の測定点との間
の圧力差が逆転するような負圧についても測定できるこ
とになる。
差圧条件を設定し、その基準の差圧条件下での干渉縞の
初期値を検出して、それからの変位を検出することで、
温度差を考慮しつつ圧力の差分値を測定するという構成
を採っているので、図12に示すような動きを示す干渉
縞の移動についても、その移動を検出することで圧力の
差圧値を測定できるのである。
第1の測定点と第2の測定点との間に温度差がない場合
に「n1bL1b=n2bL2b」となる第1の温度センサ10
0b及び第2の温度センサ200bを用いることを想定
したが、本発明は、このような構成の第1の温度センサ
100b及び第2の温度センサ200bを用いることに
限られるものではなくて、第1の測定点と第2の測定点
との間に温度差がない場合に「n1bL1b≠n2bL2b」と
なる第1の温度センサ100b及び第2の温度センサ2
00bを用いることも可能である。
ファイバ3a,3bとしてシングルモードのものを用い
ることを想定したが、マルチモードのものを用いること
も可能である。
ングルモードの光ファイバのコア径よりも大きいことか
ら、光ファイバ3a,3bとしてマルチモードのものを
用いると、ファブリペロ構造を持つ第1のセンサ対10
0から戻される光が効率的に光ファイバ3aのコア(正
確には半透過鏡102a,102bに接続する光ファイ
バのコア)に戻されるとともに、ファブリペロ構造を持
つ第2のセンサ対200から戻される光が効率的に光フ
ァイバ3bのコア(正確には半透過鏡202a,202
bに接続する光ファイバのコア)に戻されるという利点
が得られることになる。
ペロ構造を持つ第1のセンサ対100や第2のセンサ対
200から戻される光の一部は、光ファイバ3aや光フ
ァイバ3bのクラッドに戻されることになるが、光ファ
イバ3aや光ファイバ3bのコア径が大きいと、そのク
ラッドに戻される光の割合が小さくなることで、第1の
センサ対100や第2のセンサ対200から戻される光
が効率的に光ファイバ3aや光ファイバ3bのコアに戻
されるという利点が得られるのである。
ら分かるように、ラインイメージセンサ9上に生成され
る干渉縞は、コヒーレンス長lc で規定される減衰係数
を持つγ(A)という減衰項に従って、コヒーレンス長
lc で規定される幅を持つことになる。
いう光路差因子に基づく干渉縞がヤングの干渉計に基づ
く中央干渉縞の持つ幅から外れないと、2(n1aL1a−
n2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞の移動を検
出できないことになる。
光路差因子に基づく干渉縞がヤングの干渉計に基づく中
央干渉縞の持つ幅から外れないと、2(n1bL1b−n2b
L2b)という光路差因子に基づく干渉縞の移動を検出で
きないことになる。
を大きくする必要があり、そのときにも、光ファイバ3
aや光ファイバ3bのコアに光を効率的に戻すことがで
きるようにするために、光ファイバ3aや光ファイバ3
bのコア径を大きくする必要がある。
してマルチモードのものを用いると、第1のセンサ対1
00から戻される光が効率的に光ファイバ3aのコアに
戻されるようになるとともに、第2のセンサ対200か
ら戻される光が効率的に光ファイバ3bのコアに戻され
るようになるという利点が得られ、それにより、L1a、
L2a、L1b及びL2bの長さを大きくできるようになるこ
とで、2(n1aL1a−n2aL2a)という光路差因子に基
づく干渉縞の移動を正確に測定できるようになるととも
に、2(n1bL1b−n2bL2b)という光路差因子に基づ
く干渉縞の移動を正確に測定できるようになるという利
点が得られることになる。
2の圧力温度センサ200aや第1の温度センサ100
bや第2の温度センサ200bのギャップ長Lに基づく
光量ロスについて行ったシミュレーションの結果につい
て説明する。
電磁波方程式を解くビーム伝搬法(Beam Propagation Me
thod) を実装した市販のソフトウェアパッケージを使
い、光ファイバの外径を100μm、光ファイバのコア
の屈折率を1.45、光ファイバのクラッドの屈折率を
1.447、光の波長を0.84μm、ギャップ長Lの間に
ある媒体を空気層、光ファイバのコア径φを10/20
/40/60μm、第1のセンサ100aや第2のセン
サ100bのギャップ長Lを0.5/1/2.5/5/10
/25/50/100μmとして行った。
ョンの結果を図示する。ここで、図15は、図14のシ
ミュレーション結果の一部拡大図を示し、図16は、図
15のシミュレーション結果の一部拡大図を示してい
る。
ップ長Lとコア径φとの比(L/φ)を表し、縦軸は光
ファイバ中を1mm逆伝搬した場所での、入射光量に対
する反射光量との比で定義される光量ロス(%)を示し
ている。
ように、0.1%の光量ロスを目安とした場合、コア径φ
が10μmの場合には、ギャップ長Lとコア径φとの比
(L/φ)の上限値はおおよそ0.5となることで、ギャ
ップ長Lの上限値はおおよそ5μmであることが分か
る。また、コア径φが20μmの場合には、ギャップ長
Lとコア径φとの比(L/φ)の上限値はおおよそ0.8
となることで、ギャップ長Lの上限値はおおよそ16μ
mであることが分かる。また、コア径φが40μmの場
合には、ギャップ長Lとコア径φとの比(L/φ)の上
限値はおおよそ1.2となることで、ギャップ長Lの上限
値はおおよそ48μmであることが分かる。また、コア
径φが60μmの場合には、ギャップ長Lとコア径φと
の比(L/φ)の上限値はおおよそ1.5となることで、
ギャップ長Lの上限値はおおよそ90μmであることが
分かる。
ら分かるように、0.01%の光量ロスを目安とした場
合、コア径φが10μmの場合には、ギャップ長Lとコ
ア径φとの比(L/φ)の上限値はおおよそ0.2となる
ことで、ギャップ長Lの上限値はおおよそ2μmである
ことが分かる。また、コア径φが20μmの場合には、
ギャップ長Lとコア径φとの比(L/φ)の上限値はお
およそ0.2となることで、ギャップ長Lの上限値はおお
よそ4μmであることが分かる。また、コア径φが40
μmの場合には、ギャップ長Lとコア径φとの比(L/
φ)の上限値はおおよそ0.4となることで、ギャップ長
Lの上限値はおおよそ16μmであることが分かる。ま
た、コア径φが60μmの場合には、ギャップ長Lとコ
ア径φとの比(L/φ)の上限値はおおよそ0.5となる
ことで、ギャップ長Lの上限値はおおよそ30μmであ
ることが分かる。
イバ3aや光ファイバ3bのコア径が与えられるとき
に、第1の圧力温度センサ100aや第2の圧力温度セ
ンサ200aや第1の温度センサ100bや第2の温度
センサ200bのギャップ長Lには上限値が存在するこ
とになる。
のシングルモードの光ファイバを用いる場合には、光量
ロスを0.1%に抑える場合には、ギャップ長Lとコア径
φとの比(L/φ)の上限値はおおよそ0.6となること
で、ギャップ長Lは7.5μm以下とする必要がある。ま
た、コア径φが50μmとなる市販のマルチモードの光
ファイバを用いる場合には、光量ロスを0.1%に抑える
場合には、ギャップ長Lとコア径φとの比(L/φ)の
上限値はおおよそ1.35となることで、ギャップ長Lは
67μm以下とする必要がある。但し、光量ロスが大き
くなることを許容する場合には、この上限値はこれより
も大きくなることは言うまでもない。
ロ構造を持つ第1の圧力温度センサ100aや第2の圧
力温度センサ200aや第1の温度センサ100bや第
2の温度センサ200bを想定したことによりでてきた
ものであり、受圧部が光導波路で構成されるような他の
構造を持つ場合には、このような上限値に制限されるも
のでないことは言うまでもない。
00aや第2の圧力温度センサ200aのギャップ長L
(L1a ,L2a) を大きくすると、2(n1aL1a−n2aL
2a)という光路差因子に基づく干渉縞がヤングの干渉計
に基づく中央干渉縞の持つ幅から大きく外れることで、
その干渉縞の移動を正確に検出できるようになり有利で
ある。
の温度センサ200bのギャップ長L(L1b ,L2b) を
大きくすると、2(n1bL1b−n2bL2b)という光路差
因子に基づく干渉縞がヤングの干渉計に基づく中央干渉
縞の持つ幅から大きく外れることで、その干渉縞の移動
を正確に検出できるようになり有利である。
ョン結果は、シングルモードの光ファイバを想定するこ
とで「L1a=6μm、L1b=5μm」として、図8に示
すモデル式に基づいて行ったシミュレーション結果を示
しているが、この場合には、L1a ,L2aが小さいこと
で、2(n1aL1a−n2aL2a)という光路差因子に基づ
く干渉縞がヤングの干渉計に基づく中央干渉縞の持つ幅
に入ってしまい、実質的にその干渉縞の移動を検出する
ことができない。
レーション結果は、マルチモードの光ファイバを想定す
ることで「L1a=60μm、L1b=35μm」として、
図8に示すモデル式に基づいて行ったシミュレーション
結果を示しているが、この場合には、L1a ,L2aを大き
くとれることで、2(n1aL1a−n2aL2a)という光路
差因子に基づく干渉縞がヤングの干渉計に基づく中央干
渉縞の持つ幅から外れることで、その干渉縞の移動を検
出することができるのである。
ーション結果は、h=100mm、a=1.0mm、中心
波長λ0 =850nm、発光帯域半値全幅Δλ=22n
m、コヒーレンス長lc (0.44×λ0 2/Δλ)=14
μm、センサ素子長=8mmを想定して行った。
ンサ素子長と対比されるべきものではなくて、コヒーレ
ンス長lc で規定される干渉縞の持つ幅を示しているも
のに過ぎない。
ングルモードの光ファイバを使えないという結論になっ
てしまうが、そのようなことはない。
果は、シングルモードの光ファイバを想定することで
「L1a=20μm、L1b=7μm」として、図8に示す
モデル式に基づいて行ったシミュレーション結果を示し
ているが、この場合には、2(n1aL1a−n2aL2a)と
いう光路差因子に基づく干渉縞がヤングの干渉計に基づ
く中央干渉縞の持つ幅から外れることで、その干渉縞の
移動を検出することができる。
果は、L1a ,L2a以外の条件については、図17(a)
(b)に示すシミュレーション結果と同じである。
かるように、光ファイバとしては、マルチモードのもの
でなければならないということはなく、シングルモード
のものを用いることも可能である。
成要素について詳細に説明する。
る。これは、高いコヒーレンシーの光を用いると、中央
干渉縞がなかなか減衰しないことで、その幅が大きくな
り、これにより、2(n1aL1a−n2aL2a)という光路
差因子に基づく干渉縞の位置や、2(n1bL1b−n2bL
2b)という光路差因子に基づく干渉縞の位置を正確に検
出することが不可能になるからである。
2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞の位置を具体
例にして、これを検証するために行ったシミュレーショ
ンの結果を図示する。
に示すhを100mm、図7中に示すaを10mm、n
1aを空気の屈折率である1、n2aを空気の屈折率である
1、光源1の発光波長を850nm、L1a=50μm、
L2a=150μm,200μm,250μmとし、
(イ)光源1の発光帯域半値全幅が0.44nmのときに
生成される干渉縞と、(ロ)光源1の発光帯域半値全幅
が2.2nmのときに生成される干渉縞と、(ハ)光源1
の発光帯域半値全幅が22nmのときに生成される干渉
縞と、(ニ)光源1の発光帯域半値全幅が44nmのと
きに生成される干渉縞とをシミュレーションすることで
行った。
1の発光帯域半値全幅が0.44nmのときに生成される
干渉縞であり、図20に示すシミュレーション結果が光
源1の発光帯域半値全幅が2.2nmのときに生成される
干渉縞であり、図21に示すシミュレーション結果が光
源1の発光帯域半値全幅が22nmのときに生成される
干渉縞であり、図22に示すシミュレーション結果が光
源1の発光帯域半値全幅が44nmのときに生成される
干渉縞である。
発光波長λ0 と発光帯域半値全幅Δλとから、 lc =0.44×(λ0 2/Δλ) により求められるので、図19に示すシミュレーション
結果のコヒーレンス長l c は722μm、図20に示す
シミュレーション結果のコヒーレンス長lc は144μ
m、図21に示すシミュレーション結果のコヒーレンス
長lc は14μm、図22に示すシミュレーション結果
のコヒーレンス長lc は7μmとなる。
半値全幅が22nm程度の低いコヒーレンシーの光を発
光する光源1を用意すれば、2(n1aL1a−n2aL2a)
という光路差因子に基づく干渉縞の位置を検出すること
が可能になることが検証できた。したがって、2(n1b
L1b−n2bL2b)という光路差因子に基づく干渉縞の位
置を検出することが可能になることが検証できた。
ると、コヒーレンス長lc で規定される幅を持つ中央干
渉縞の幅が大きくなることで、2(n1aL1a−n
2aL2a)という光路差因子に基づく干渉縞が中央干渉縞
の内部に埋もれてしまうことになって、その干渉縞の位
置を検出することが不可能になるので、低いコヒーレン
シーの光を発光する光源1を用いる必要がある。
現するために、図23に示すように、発光波長の異なる
複数の光源1を用意して、それを光分波結合器4aに伝
送するという構成を採ってもよい。
サ対200の構成 第1のセンサ対100を構成する第1の圧力温度センサ
100aとして、単一構成のものを用いる他に、同一構
造を持つ複数のものを光ファイバを使って並列接続する
ことで構成されるものを用いるようにしてもよい。
のような複数並列接続構成のものを用いると、それぞれ
のセンサが入力光に対して同一の2n1aL1aという光路
差を発生することで、光学的に平均値を算出しているこ
とになり、第1の測定点で発生する圧力を高精度に検出
できるようになる。
1の温度センサ100bとして、単一構成のものを用い
る他に、同一構造を持つ複数のものを光ファイバを使っ
て並列接続することで構成されるものを用いるようにし
てもよい。
うな複数並列接続構成のものを用いると、それぞれのセ
ンサが入力光に対して同一の2n1bL1bという光路差を
発生することで、光学的に平均値を算出していることに
なり、第1の測定点における温度を高精度に検出できる
ようになる。
2の圧力温度センサ200aとして、単一構成のものを
用いる他に、同一構造を持つ複数のものを光ファイバを
使って並列接続することで構成されるものを用いるよう
にしてもよい。
のような複数並列接続構成のものを用いると、それぞれ
のセンサが入力光に対して同一の2n2aL2aという光路
差を発生することで、光学的に平均値を算出しているこ
とになり、第2の測定点で発生する圧力を高精度に検出
できるようになる。
2の温度センサ200bとして、単一構成のものを用い
る他に、同一構造を持つ複数のものを光ファイバを使っ
て並列接続することで構成されるものを用いるようにし
てもよい。
うな複数並列接続構成のものを用いると、それぞれのセ
ンサが入力光に対して同一の2n2bL2bという光路差を
発生することで、光学的に平均値を算出していることに
なり、第2の測定点における温度を高精度に検出できる
ようになる。
第2のセンサ対200から逆伝送される光を光ファイバ
8aと光ファイバ8bとに分波することで、ヤングの干
渉計を構成している。
ような構成方法に限られるものではなくて、図24や図
25に示すような様々な構成方法を用いることが可能で
ある。
は、光分波結合器7を介して光ファイバ6に接続される
光ファイバ8a,8bに代えて、光ファイバ6の前面
に、2つのスリット又はピンホールを持つ光遮蔽板12
を備えることで、ヤングの干渉計を構成している。
方法では、シングルモードの光ファイバ8a,8bに代
えて、2モードの光ファイバ13を接続することで、ヤ
ングの干渉計を構成している。
6と光ファイバ13とを接続するコネクタ、15a,1
5bは2モードの光ファイバ13から出射される光をラ
インイメージセンサ9に照射する全反射鏡である。
の干渉計の構成 図1に示す実施形態例では、光分波結合器7を使って、
第2のセンサ対200から逆伝送される光を光ファイバ
8aと光ファイバ8bとに分波することで、ヤングの干
渉計を構成している。
士の間の距離(図7中に示す2a)により、干渉縞の位
置が変化することになる。図9に示したシミュレーショ
ン結果は、a=10mmとして行ったシミュレーション
の結果である。
件については図9に示したシミュレーションと変えずに
行ったシミュレーションの結果を図示する。図中の上段
に示すものがa=20mmとして行ったシミュレーショ
ンの結果であり、下段に示すものがa=10mmとして
行ったシミュレーションの結果(図9に示したもの)で
ある。
に、光ファイバ8a,8bの先端同士の間の距離を小さ
くすると、干渉縞位置の展開の広がりが大きくなること
が分かる。
力差が大きいときには、光ファイバ8a,8bの先端同
士の間の距離を大きくした方がよい。この距離を小さく
すると、測定する圧力差が大きいときに、ラインイメー
ジセンサ9の画素範囲を外れることが起こるからであ
る。一方、測定する圧力差が小さいときには、光ファイ
バ8a,8bの先端同士の間の距離を小さくした方がよ
い。この距離を小さくすると、分解能が上がるからであ
る。
8aを起点として、入力される光を2つに分波する光フ
ァイバの1つ又は複数段の階層構造により構成されると
ともに、光ファイバ8bを起点として、入力される光を
2つに分波する光ファイバの1つ又は複数段の階層構造
により構成されて、ラインイメージセンサ9(1つで構
成されることもあるし、複数で構成されることもある)
に光を出射する最終段の光ファイバの出射間隔がそれぞ
れ異なるものとなるものを用いることで、測定レンジの
拡大を図る構成を採ることが好ましい。
は、例えば、最初に、最も差圧測定レンジの大きなもの
で差圧を測定し、次に、その測定した差圧から、ライン
イメージセンサ9の画素範囲に入る差圧測定レンジの内
で、最も分解能の高い差圧測定レンジを選択して、それ
を使って差圧を再測定することで、最終的な差圧を測定
するように処理することになる。
るには、図28に示すように、光ファイバ2/光分波結
合器4a/光ファイバ5/光分波結合器4b/光ファイ
バ6/光分波結合器7/光ファイバ8a/光ファイバ8
bを、1つのプラットホームに集積化する構成を採るこ
とが好ましい。
現する構成を用いる場合にも、図29に示すように、1
つのプラットホームに集積化する構成を採ることが好ま
しい。
る光ファイバ3aや、第2のセンサ対200に接続され
る光ファイバ3bについても、可能な範囲で、そのプラ
ットホームに集積化することが好ましい。
対100として、第1の圧力温度センサ100aと第1
の温度センサ100bとが光ファイバで並列接続される
ものを用い、第2のセンサ対200として、第2の圧力
温度センサ200aと第2の温度センサ200bとが光
ファイバで並列接続されるものを用いるという構成を採
ったが、図30に示すように、第1のセンサ対100と
して、第1の圧力温度センサ100aと第1の温度セン
サ100bとが光ファイバで直列接続されるものを用
い、第2のセンサ対200として、第2の圧力温度セン
サ200aと第2の温度センサ200bとが光ファイバ
で直列接続されるものを用いるという構成を採ることも
可能である。
実現するために、第1の圧力温度センサ100a(第1
の温度センサ100b)が前段となる場合には、それが
持つ全反射鏡101a(全反射鏡101b)を半透過鏡
に置き換えたものを使用するとともに、第2の圧力温度
センサ200a(第2の温度センサ200b)が前段と
なる場合には、それが持つ全反射鏡201a(全反射鏡
201b)を半透過鏡に置き換えたものを使用すること
になる。
を算出することで測定精度の向上を図るために、第1の
圧力温度センサ100aや第2の圧力温度センサ200
aや第1の温度センサ100bや第2の温度センサ20
0bについて、同一構造を持つ複数のものを光ファイバ
を使って並列接続することで構成されるものを用いるよ
うにしてもよい。
明する。図31に本発明の他の実施形態例を図示する。
所であったが、この実施形態例では測定点が5か所とな
っている。
第1のセンサ対100及び第2のセンサ対200に加え
て、第3の測定点に設置される第3のセンサ対300
と、第4の測定点に設置される第4のセンサ対400
と、第5の測定点に設置される第5のセンサ対500と
を備える構成を採る。
サ対100と同一構造を有して、入力光に対して、圧力
及び温度に反応して、2n3aL3aという光路差を発生さ
せるとともに、温度のみに反応して、2n3bL3bという
光路差を発生させる。
ンサ対100と同一構造を有して、入力光に対して、圧
力及び温度に反応して、2n4aL4aという光路差を発生
させるとともに、温度のみに反応して、2n4bL4bとい
う光路差を発生させる。
ンサ対100と同一構造を有して、入力光に対して、圧
力及び温度に反応して、2n5aL5aという光路差を発生
させるとともに、温度のみに反応して、2n5bL5bとい
う光路差を発生させる。
ンサ対400/第5のセンサ対500を用意することに
合わせて、図1に示した構成に加えて、光分波結合器4
bの分波する光を取り出すシングルモードの光ファイバ
5αと、第3のセンサ対300に対応付けて設けられ
て、光ファイバ5αの取り出す光を第3のセンサ対30
0に伝送するシングルモードの光ファイバ3cと、光フ
ァイバ3cを伝送してくる光を2つに分波して第3のセ
ンサ対300に入力する光分波結合器50cと、光ファ
イバ5αと光ファイバ3cとを結合するとともに、光フ
ァイバ3cを逆伝送してくる光を分波する光分波結合器
4cと、光分波結合器4cの分波する光を取り出すシン
グルモードの光ファイバ5βと、第4のセンサ対400
に対応付けて設けられて、光ファイバ5βの取り出す光
を第4のセンサ対400に伝送するシングルモードの光
ファイバ3dと、光ファイバ3dを伝送してくる光を2
つに分波して第4のセンサ対400に入力する光分波結
合器50dと、光ファイバ5βと光ファイバ3dとを結
合するとともに、光ファイバ3dを逆伝送してくる光を
分波する光分波結合器4dと、光分波結合器4dの分波
する光を取り出すシングルモードの光ファイバ5γと、
第5のセンサ対500に対応付けて設けられて、光ファ
イバ5γの取り出す光を第5のセンサ対500に伝送す
るシングルモードの光ファイバ3eと、光ファイバ3e
を伝送してくる光を2つに分波して第5のセンサ対50
0に入力する光分波結合器50eと、光ファイバ5γと
光ファイバ3eとを結合するとともに、光ファイバ3e
を逆伝送してくる光を分波する光分波結合器4eとを備
えるとともに、図1に示した光ファイバ6が、その光分
波結合器4eの分波する光を取り出して、光分波結合器
7に伝送するという構成を採る。
9上には、2(n1aL1a−n2aL2a)という光路差因子
に基づく干渉縞や、2(n1aL1a−n3aL3a)という光
路差因子に基づく干渉縞というように、任意の2つの測
定点の圧力差に対応付けられる干渉縞位置を持つ干渉縞
が生成されることになる。
ることで、図32に示すように、複数の測定点の差圧を
単一構成のセンサで一度に測定することが可能になる。
の小さいものほど中央干渉縞に近い位置に生成されるこ
とになるので、干渉縞の出現順序が変動する可能性があ
るが、通常の測定対象では、圧力差の順番が変わるよう
なことは起こらないので、本発明によるこのような複数
の測定点の差圧測定が可能になる。
る場合にあっても、光ファイバとして、シングルモード
のものを用いることに限られる必要はなく、マルチモー
ドのものを用いることも可能である。
場合にあっても、2つの測定点の圧力差がないときに発
生する干渉縞が中央干渉縞と一致しないようになる、図
12に示すような干渉縞を発生させるセンサを用いるこ
とができることは言うまでもない。
答して全反射鏡101aなどが動くことで入力光に与え
る光路差を変化させる機能を持つ第1の圧力温度センサ
100aなどを用いることで、圧力差を測定するように
している。
て動けば、本発明を用いることで磁界強度差を測定でき
るようになるし、全反射鏡101aなどが電界強度に応
答して動けば、本発明を用いることで電界強度差を測定
できるようになる。このように、本発明は、その適用が
圧力差の測定に限られるものではない。
が動かなくても、全反射鏡101aなどと半透過鏡10
2aなどとの間にある物質の屈折率が変化することで、
入力光に与える光路差を変化させる機能を持つセンサを
用いることもできる。
3に示すように、温度によって屈折率を変化させるもの
がある。全反射鏡101aなどと半透過鏡102aなど
との間に、このような特性を持つ高分子ポリマーを置い
ておけば、温度差を測定することができるようになる。
が変化したり、濃度が変化したり、磁界が変化したり、
電界が変化したりすると、その屈折率や長さが変化し、
これにより、通過する光の位相差を変化させる。
応して屈折率や長さを変化させる物質を、全反射鏡10
1aなどと半透過鏡102aなどとの間に置くことで、
全反射鏡101aなどが動かなくても、本発明を用いる
ことで、圧力差などを測定することが可能である。
て屈折率や長さを変化させる物質を用いる場合には、図
1に示したような第1の圧力温度センサ100aなどの
ような反射型のセンサの代わりに、図34に示すよう
に、透明なガラス板を平行に配置して、その2つのガラ
ス板の間に、そのような外部要因に敏感に反応して屈折
率や長さを変化させる物質を置くことで入力光に光路長
の変化を与える透過型のセンサが用意されることもあ
る。
いるのに好適な本発明の一実施形態例を図示する。
0として、第1の測定点における温度の影響を受けつ
つ、第1の測定点で発生する圧力に応じて光路長を変化
させる図34に示すような構造を持つ透過型の第1の圧
力温度センサ100aと、第1の測定点における温度の
みに応じて光路長を変化させる図34に示すような構造
を持つ透過型の第1の温度センサ100bと、それらの
センサをバイパスするシングルモードの光ファイバ62
aとの並列接続で構成されるものを用いるという構成を
採っている。
2の測定点における温度の影響を受けつつ、第2の測定
点で発生する圧力に応じて光路長を変化させる図34に
示すような構造を持つ透過型の第2の圧力温度センサ2
00aと、第2の測定点における温度のみに応じて光路
長を変化させる図34に示すような構造を持つ透過型の
第2の温度センサ200bと、それらのセンサをバイパ
スするシングルモードの光ファイバ62bとの並列接続
で構成されるものを用いるという構成を採っている。
0aは、2つのガラス板の間の距離をL1aで表すなら
ば、入力光に対して、通過する際に、n1aL1a( n1aは
2つのガラス板の間にある物質の屈折率)という光路長
を与え、第1の温度センサ100bは、2つのガラス板
の間の距離をL1bで表すならば、入力光に対して、通過
する際に、n1bL1b( n1bは2つのガラス板の間にある
物質の屈折率)という光路長を与える。
2つのガラス板の間の距離をL2aで表すならば、入力光
に対して、通過する際に、n2aL2a( n2aは2つのガラ
ス板の間にある物質の屈折率)という光路長を与え、第
2の温度センサ200bは、2つのガラス板の間の距離
をL2bで表すならば、入力光に対して、通過する際に、
n2bL2b( n2bは2つのガラス板の間にある物質の屈折
率)という光路長を与える。
定するとともに、第1の測定点と第2の測定点との間に
圧力差及び温度差がない場合に「L1a=L2a」となる第
1の圧力温度センサ100a及び第2の圧力温度センサ
200aを用いることを想定する。そして、説明の便宜
上、「n1b=n2b」を想定するとともに、第1の測定点
と第2の測定点との間に温度差がない場合に「L1b=L
2b」となる第1の温度センサ100b及び第2の温度セ
ンサ200bを用いることを想定する。
の測定点で発生する圧力及び温度と第2の測定点で発生
する圧力及び温度との間に圧力差及び温度差がない場合
には、「L1a=L2a」となり、第1の圧力温度センサ1
00aの持つ2つのガラス板の間にある物質と、第2の
圧力温度センサ200aの持つ2つのガラス板の間にあ
る物質とが同じであることで「n1a=n2a」となること
から、第1の圧力温度センサ100aにより与えられる
光路長n1aL1aと、第2の圧力温度センサ200aによ
り与えられる光路長n2aL2aとは一致することになる。
力と、第2の測定点で発生する圧力との間に圧力差があ
る場合には、この2つの光路長に違いがでる。しかも、
この光路長は、温度の影響を受けることになる。
の測定点で発生する温度との間に温度差がない場合に
は、「L1b=L2b」となり、第1の温度センサ100b
の持つ2つのガラス板の間にある物質と、第2の温度セ
ンサ200bの持つ2つのガラス板の間にある物質とが
同じであることで「n1b=n2b」となることから、第1
の温度センサ100bにより与えられる光路長n1bL1b
と、第2の温度センサ200bにより与えられる光路長
n2bL2bとは一致することになる。
度と第2の測定点で発生する温度との間に温度差がある
場合には、この2つの光路長には違いがでる。
違いを検出することで、第1の測定点で発生する圧力と
第2の測定点で発生する圧力との差分値を、第1及び第
2の測定点における温度の影響を受けることなく測定す
るという構成を採るものである。
例では、低コヒーレント光を発光するLEDなどで構成
される光源1(いわゆる白色光源で構成される光源1)
と、光源1の発光する光を取り出して第1のセンサ対1
00に伝送するシングルモードの光ファイバ60aと、
光ファイバ60aを伝送する光を3つに分波して、第1
のセンサ対100に入力する光分波結合器61aと、第
1のセンサ対100の出力する3つの光を結合する光分
波結合器63aと、光分波結合器63aの結合する光を
第2のセンサ対200に伝送するシングルモードの光フ
ァイバ60bと、光ファイバ60bを伝送する光を3つ
に分波して、第2のセンサ対200に入力する光分波結
合器61bと、第2のセンサ対200の出力する3つの
光を結合する光分波結合器63bと、光分波結合器63
bの結合する光を取り出すシングルモードの光ファイバ
6と、光ファイバ6の取り出す光を2つに分波する光分
波結合器7と、光分波結合器7の分波する一方の光を取
り出すシングルモードの光ファイバ8aと、光分波結合
器7の分波するもう一方の光を取り出すシングルモード
の光ファイバ8bと、光ファイバ8a及び光ファイバ8
bから出射される光により生成される干渉縞を検出する
ラインイメージセンサ9と、ラインイメージセンサ9の
検出する干渉縞の縞位置から、第1の測定点で発生する
圧力と第2の測定点で発生する圧力との間に圧力差を算
出する演算装置10とを備える。
力温度センサ100aと第2の圧力温度センサ200a
との関係で説明するならば、第1の圧力温度センサ1
00aを透過してから、第2の圧力温度センサ200a
を透過する光の伝送パターンと、第1の圧力温度セン
サ100aをバイパスする光ファイバ62aを伝送して
から、第2の圧力温度センサ200aをバイパスする光
ファイバ62bを伝送する光の伝送パターンと、第1
の圧力温度センサ100aをバイパスする光ファイバ6
2aを伝送してから、第2の圧力温度センサ200aを
透過する光の伝送パターンと、第1の圧力温度センサ
100aを透過してから、第2の圧力温度センサ200
aをバイパスする光ファイバ62bを伝送する光の伝送
パターンという、4種類の光の伝送パターンが存在する
ことになる。
は固定であることを考慮すると、の伝送パターンで伝
送されると、入力光にはn2aL2aという光路長が与えら
れ、の伝送パターンで伝送されると、入力光にはn1a
L1aという光路長が与えられ、これにより、ラインイメ
ージセンサ9に向けて出射される光の位相差の中に、位
相差=k×(n1aL1a−n2aL2a)という位相差が存在
することになる。
因子は、第1の圧力温度センサ100aの置かれる第1
の測定点で発生する圧力と、第2の圧力温度センサ20
0aの置かれる第2の測定点で発生する圧力との差圧を
示しており、これから、この(n1aL1a−n2aL2a)と
いう光路差因子に基づく干渉縞の移動量を検出すること
で、その差圧を測定することができる。
2の圧力温度センサ200aとは温度の影響を受けるの
で、この(n1aL1a−n2aL2a)という光路差因子に基
づく干渉縞の移動量を検出して、それに基づいて差圧を
算出したのでは、温度の影響を受けた差圧測定になる。
温度センサ200bとの関係においても、第1の温度セ
ンサ100bを透過あるいはバイパスしてから、第2の
温度センサ200bを透過あるいはバイパスすること
で、上述したような4種類の光の伝送パターンが存在
し、これにより、位相差=k×(n1bL1b−n2bL2b)
という位相差が存在することになる。
因子は、第1の温度センサ100bの置かれる第1の測
定点における温度と、第2の温度センサ200bの置か
れる第2の測定点における温度との温度差を示してお
り、これから、この(n1bL1b−n2bL2b)という光路
差因子に基づく干渉縞の移動量を検出することで、その
温度差を測定することができる。
(n1aL1a−n2aL2a)という光路差因子に基づく干渉
縞の移動量を検出するとともに、(n1bL1b−n
2bL2b)という光路差因子に基づく干渉縞の移動量を検
出して、それらに基づいて、温度の影響を受けない形
で、第1の測定点で発生する圧力と第2の測定点で発生
する圧力との差圧を測定できるようになる。
る場合にあっても、光ファイバとして、シングルモード
のものを用いることに限られる必要はなく、マルチモー
ドのものを用いることも可能である。
場合にあっても、2つの測定点の圧力差がないときに発
生する干渉縞が中央干渉縞と一致しないようになる、図
12に示すような干渉縞を発生させるセンサを用いるこ
とができることは言うまでもない。
合にも、光学的な平均値を算出することで測定精度の向
上を図るために、第1の圧力温度センサ100aや第2
の圧力温度センサ200aや第1の温度センサ100b
や第2の温度センサ200bについて、同一構造を持つ
複数のものを光ファイバを使って並列接続することで構
成されるものを用いるようにしてもよい。
2か所であったが、測定点が3か所以上である場合に
は、センサ対を直列的に接続する形態で光ファイバ及び
光分波結合器を備えることになる。
ても、図27に示したように、光ファイバ8aを起点と
して、入力される光を2つに分波する光ファイバの1つ
又は複数段の階層構造により構成されるとともに、光フ
ァイバ8bを起点として、入力される光を2つに分波す
る光ファイバの1つ又は複数段の階層構造により構成さ
れて、ラインイメージセンサ9(1つで構成されること
もあるし、複数で構成されることもある)に光を出射す
る最終段の光ファイバの出射間隔がそれぞれ異なるもの
となるものを用いることで、測定レンジの拡大を図る構
成を採ることが好ましい。
っても、小型化を実現するために、図28に示したよう
に、可能な限りの光ファイバや光分波結合器を、1つの
プラットホームに集積化するという構成を採ることが好
ましい。
的に離れた位置で測定される物理量の差分値を測定する
にあたって、導圧管やリモートシールなどの代わりに光
ファイバを用いて、光干渉を使ってその差分値を測定す
るという構成を採るとともに、そのときに、非測定対象
の物理量の影響をキャンセルする形で物理量の差分値を
測定するという構成を採ることから、距離的に離れた位
置で発生する物理量の差分値を周囲環境などに影響され
ずに正確に測定できるようになるとともに、非測定対象
の物理量に影響されずに正確に測定できるようになる。
光波は同じ位相変動を受けることで、外乱による干渉は
キャンセルし合うことになるので、本発明によれば、距
離的に離れた位置で発生する物理量の差分値を周囲環境
などに影響されずに正確に測定できるようになるととも
に、非測定対象の物理量に影響されずに正確に測定でき
るようになるのである。
所以上の位置で測定される物理量の差分値についても、
周囲環境などに影響されずに同時かつ正確に測定できる
ようになるとともに、非測定対象の物理量に影響されず
に正確に測定できるようになる。
ある。
る。
シミュレーション結果の説明図である。
シミュレーション結果の説明図である。
シミュレーション結果の説明図である。
である。
である。
の説明図である。
の説明図である。
の説明図である。
の説明図である。
である。
ある。
明図である。
Claims (17)
- 【請求項1】 測定対象の物理量と非測定対象の物理量
とに応じて入力光に光路差を発生させるセンサと、その
非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生させ
るセンサとの組み合わせで構成されるセンサ対に光源の
発光する光を入力し、 上記入力に応答して出力される上記センサ対により光路
差の発生された光を、上記センサ対とは別に用意される
同一の光路差発生機能を持つセンサ対に入力し、 上記別のセンサ対により光路差の発生された光を2つに
分波して干渉縞を生成し、 上記干渉縞の縞位置から、非測定対象の物理量の影響を
受けずに測定対象の物理量の差分値を算出することを、 特徴とする物理量測定方法。 - 【請求項2】 測定対象の物理量と非測定対象の物理量
とに応じて入力光に光路差を発生させるセンサと、その
非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生させ
るセンサとの組み合わせで構成される複数のセンサ対
と、 最前段のセンサ対に光源の発光する光を伝送する光ファ
イバ手段と、 前段のセンサ対により光路差の発生された光を対となる
センサ対に伝送する光ファイバ手段と、 最後段のセンサ対により光路差の発生された光を2つに
分波する光学手段と、 上記2つに分波された光により生成される干渉縞を検知
する検知手段と、 上記干渉縞の縞位置から、非測定対象の物理量の影響を
受けずに測定対象の物理量の差分値を算出する算出手段
とを備えることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項3】 反射構造に従って、測定対象の物理量と
非測定対象の物理量とに応じて入力光に光路差を発生さ
せるセンサと、反射構造に従って、その非測定対象の物
理量に応じて入力光に光路差を発生させるセンサとの組
み合わせで構成される複数のセンサ対と、 最前段のセンサ対に対応付けて設けられて、そのセンサ
対に光源の発光する光を伝送する光ファイバ手段と、 最前段のセンサ対以外の各センサ対に対応付けて設けら
れ、前段のセンサ対に対応付けて設けられる光ファイバ
手段を逆伝送する光路差の発生された光を入力として、
その光を対となるセンサ対に伝送する光ファイバ手段
と、 最後段のセンサ対に対応付けて設けられる光ファイバ手
段を逆伝送する光路差の発生された光を入力として、そ
の光を2つに分波する光学手段と、 上記2つに分波された光により生成される干渉縞を検知
する検知手段と、 上記干渉縞の縞位置から、非測定対象の物理量の影響を
受けずに測定対象の物理量の差分値を算出する算出手段
とを備えることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項4】 請求項3記載の物理量測定装置におい
て、 上記センサ対として、測定対象の物理量と非測定対象の
物理量とに応じて入力光に光路差を発生させるセンサ
と、その非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を
発生させるセンサとが並列接続されるものを用いること
を、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項5】 請求項3記載の物理量測定装置におい
て、 上記センサ対として、測定対象の物理量と非測定対象の
物理量とに応じて入力光に光路差を発生させるセンサ
と、その非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を
発生させるセンサとが直列接続されるものを用いること
を、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項6】 請求項4又は5記載の物理量測定装置に
おいて、 上記測定対象の物理量と非測定対象の物理量とに応じて
入力光に光路差を発生させるセンサとして、同一構造を
持つ複数のセンサが並列接続されるものを用いること
を、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項7】 請求項4又は5記載の物理量測定装置に
おいて、 上記非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生
させるセンサとして、同一構造を持つ複数のセンサが並
列接続されるものを用いることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項8】 請求項3ないし7記載のいずれか1項に
記載の物理量測定装置において、 上記センサとして、反射構造を実現するギャップ長が対
となる上記光ファイバ手段のコア径から規定される長さ
以内に入るものを用いることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項9】 透過構造に従って、測定対象の物理量と
非測定対象の物理量とに応じて入力光に光路差を発生さ
せるセンサと、透過構造に従って、その非測定対象の物
理量に応じて入力光に光路差を発生させるセンサとの組
み合わせで構成される複数のセンサ対と、 最前段のセンサ対に対応付けて設けられて、そのセンサ
対に光源の発光する光を伝送する光ファイバ手段と、 最前段のセンサ対以外の各センサ対に対応付けて設けら
れ、前段のセンサ対に直列的に接続されて、そのセンサ
対により光路差の発生された光を入力として、その光を
対となるセンサ対に伝送する光ファイバ手段と、 最後段のセンサ対により光路差の発生された光を入力と
して、その光を2つに分波する光学手段と、 上記2つに分波された光により生成される干渉縞を検知
する検知手段と、 上記干渉縞の縞位置から、非測定対象の物理量の影響を
受けずに測定対象の物理量の差分値を算出する算出手段
とを備えることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項10】 請求項9記載の物理量測定装置におい
て、 上記センサ対として、測定対象の物理量と非測定対象の
物理量とに応じて入力光に与える光路長を変化させるセ
ンサと、その非測定対象の物理量に応じて入力光に与え
る光路長を変化させるセンサと、それらのセンサをバイ
パスする光ファイバ手段とが並列接続されるものを用い
ることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項11】 請求項10記載の物理量測定装置にお
いて、 上記測定対象の物理量と非測定対象の物理量とに応じて
入力光に与える光路長を変化させるセンサとして、同一
構造を持つ複数のセンサが並列接続されるものを用いる
ことを、特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項12】 請求項10記載の物理量測定装置にお
いて、 上記非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生
させるセンサとして、同一構造を持つ複数のセンサが並
列接続されるものを用いることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項13】 請求項2ないし12のいずれか1項に
記載の物理量測定装置において、 上記測定対象の物理量と非測定対象の物理量とに応じて
入力光に光路差を発生させるセンサの組み合わせとし
て、測定対象の物理量の差分値がゼロであるときに同一
の光路差を発生させないものを用いることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項14】 請求項2ないし12のいずれか1項に
記載の物理量測定装置において、 上記非測定対象の物理量に応じて入力光に光路差を発生
させるセンサの組み合わせとして、非測定対象の物理量
の差分値がゼロであるときに同一の光路差を発生させな
いものを用いることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項15】 請求項2ないし14のいずれか1項に
記載の物理量測定装置において、 上記光学手段により2つに分波された光を入力として、
入力光を2つに分波する光学手段の1つ又は複数段の階
層構造により構成され、上記検知手段に光を出射する最
終段の光学手段の出射間隔がそれぞれ異なるものとなる
光学手段を備えることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項16】 請求項2ないし15のいずれか1項に
記載の物理量測定装置において、 上記光ファイバ手段の一部又は全てが1つの基板上に形
成されるように構成されることを、 特徴とする物理量測定装置。 - 【請求項17】 請求項2ないし16のいずれか1項に
記載の物理量測定装置において、 上記算出手段は、非測定対象の物理量の差分値の指す干
渉縞の移動量がマージされた形で検出される、測定対象
の物理量の差分値の指す干渉縞の移動量を検出するとと
もに、非測定対象の物理量の差分値のみの指す干渉縞の
移動量を検出して、それらの検出した移動量に従って、
非測定対象の物理量の影響を受けずに測定対象の物理量
の差分値を算出することを、 特徴とする物理量測定装置。
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