JP2003168082A - Ｒｆ−ｉｄの検査方法および検査システムおよび検査対象のｒｆ−ｉｄフォーム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、製造されるＲＦ−ＩＤのフォーム状
態で良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査方法、検査システ
ムおよびＲＦ−ＩＤフォームに関し、ＲＦ−ＩＤフォー
ムに不必要な情報の印字、印刷を施さずに、検査より検
査後の必要情報の形成における工程を削減して効率向上
を図ることを目的とする。 【解決手段】検査処理手段１３が、検査対象のインレッ
ト１２Ｘに所定の情報を送信して記憶させ、当該インレ
ット１２Ｘから送信されてくる記憶させた所定情報を受
信して、上記送信した所定情報とを比較することで当該
インレット１２Ｘの良否判定を行い、当該送信した所定
情報に基づいて当該インレット１２Ｘと関連付けられた
印字情報を光加工手段１７に送信し、光加工手段１７が
送信されてきた印字情報に基づいて、該当のインレット
１２Ｘが貼着されているＲＦ−ＩＤフォームの所定部分
に、直接に光照射して必要な印字を行わせる構成とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、製造されるＲＦ−
ＩＤのフォーム状態で良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査
方法、検査システムおよびＲＦ−ＩＤフォームに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＲＦ−ＩＤ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅ
ｑｕｅｎｃｙ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）と称さ
れる非接触型識別媒体（非接触型ＩＣカード等）に関す
る技術が急速に進歩してきており、その使用も多岐にわ
たっている。このようなＲＦ−ＩＤの検査は、基材にＩ
Ｃモジュール、アンテナを形成したインレットと称する
ものをフォームシートに貼着した状態でリード・ライト
が行われることが一般的である。このような状態での検
査においては、フォームシートに本来不必要な情報等の
印字がなされないことが望まれていると共に、検査後処
理の効率向上が望まれている。

【０００３】従来、インレットが貼着されたＲＦ−ＩＤ
フォームにおいて、その性能等の検査を行う場合、当該
インレットのＩＣモジュールに対してデータを送信して
記憶させ、その後に当該インレットから記憶したデータ
を検査システム側に送信させて当該検査システム側で受
信したデータとインレットに送信したデータとのマッチ
ングを行うことにより当該インレットの良否を判定する
ことが行われる。

【０００４】そして、良品とされたインレットに対し、
固有のＩＤ（識別子）番号等を順次記憶させ、これを順
次読み取って当該ＩＤ番号やこれに関連付けられた使用
者名等をデータベース等より取得してＲＦ−ＩＤフォー
ムの何れかの部分に静電式プリンタ等により印字する。
この場合、静電式プリンタによる印字時にＩＣモジュー
ルが故障する場合もあることから、再度記憶させたデー
タを読み取って故障の如何の検査が行われるものであ
る。

【０００５】また、他の方法として、予めＲＦ−ＩＤフ
ォームの何れかに当該ＩＤ番号等に関連付けられたバー
コードを印字しておき、当該検査時にこのバーコードを
読み取り、これに関連付けられたＩＤ番号等をデータベ
ース等より取得して当該インレットのＩＣモジュールに
記憶させ、これを読み取って良否の判定を行うと共に、
当該ＩＤ番号等をＲＦ−ＩＤフォームの何れかの部分に
静電式プリンタ等により印字する。そして、上記同様
に、再度記憶させたデータを読み取って故障の如何の検
査が行われるものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法の何れにしても、静電式プリンタによる印字の後に
は再度検査を行わなければならず、工程が多く効率が低
下するという問題がある。また、本来ＲＦ−ＩＤフォー
ムには本来不必要なものが何も印字、印刷されないこと
が要請されており、上記後者より前者の方が検査のみに
必要なバーコードを不要とする分、上記要請に応えられ
るものであるが、後者より工程が増大するという問題が
ある。

【０００７】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、ＲＦ−ＩＤフォームに不必要な情報の印字、印
刷を施さずに、検査より検査後の必要情報の形成におけ
る工程を削減して効率向上を図るＲＦ−ＩＤの検査方
法、検査システムおよびＲＦ−ＩＤフォームを提供する
ことを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１の発明では、ＲＦ−ＩＤが製造される際
に、ＲＦ−ＩＤフォームにＩＣモジュール、アンテナを
備えるインレットが貼着されるものであり、検査対象の
当該ＲＦ−ＩＤフォームに貼着されたインレットに対し
て通信を行い、良否を判定するＲＦ−ＩＤの検査方法で
あって、検査対象の前記インレットに所定の情報を送信
して当該インレットのＩＣモジュールに記憶させるステ
ップと、前記インレットから前記記憶させた所定情報が
送信され、当該所定情報を受信して前記送信した所定情
報とを比較することで当該インレットの良否判定を行う
ステップと、前記インレットが良品の場合に、前記送信
した所定情報に基づいて当該インレットと関連付けられ
た印字情報を光加工手段に送信するステップと、前記光
加工手段が送信されてきた印字情報に基づいて、該当の
インレットが貼着されているＲＦ−ＩＤフォームの所定
部分に、直接に光照射して印字を行うステップと、を含
む構成とする。

【０００９】請求項２の発明では、ＲＦ−ＩＤが製造さ
れる際に、ＲＦ−ＩＤフォームにＩＣモジュール、アン
テナを備えるインレットが貼着されるものであり、検査
対象の当該ＲＦ−ＩＤフォームに貼着されたインレット
に対して通信を行い、良否を判定するＲＦ−ＩＤの検査
システムであって、前記インレットに対して通信を行う
ためのシステム側アンテナと、検査対象の前記インレッ
トに前記システム側アンテナを介して所定の情報を送信
して当該インレットのＩＣモジュールに記憶させ、当該
インレットから送信されてくる記憶させた所定情報を受
信して、上記記憶させるために送信した所定情報とを比
較することで当該インレットの良否判定を行い、当該イ
ンレットが良品の場合に、当該送信した所定情報に基づ
いて当該インレットと関連付けられた印字情報を送信す
る処理手段と、前記処理手段より送信されてきた印字情
報に基づいて、該当の前記インレットが貼着されている
ＲＦ−ＩＤフォームの所定部分に、直接に光照射して印
字を行う光加工手段と、を有する構成とする。

【００１０】請求項３の発明では、請求項１記載のＲＦ
−ＩＤの検査方法および請求項２記載のＲＦ−ＩＤの検
査システムにおける検査対象のＲＦ−ＩＤフォームであ
って、前記インレットが貼着され、所定部分に必要な印
字情報が形成される構成とする。

【００１１】請求項４〜６の発明では、「前記印字情報
が形成される所定部分は、前記インレットが貼着された
領域、または当該インレットが貼着された領域以外の部
分である」構成であり、「前記印字情報が形成される所
定部分には、少なくともその表面と色を異にするインキ
が形成され、前記光加工手段による光照射により当該イ
ンキが削り取られることで情報形成される」構成であ
り、「前記印字情報が形成される所定部分は、少なくと
も色を異にする部材が２層で形成され、前記光加工手段
による光照射により照射面の層部分が削り取られること
で情報形成される」構成である。

【００１２】このように、検査対象のインレットに所定
の情報を送信して当該インレットのＩＣモジュールに記
憶させ、当該インレットから送信されてくる記憶させた
所定情報を受信して、上記記憶させるために送信した所
定情報とを比較することで当該インレットの良否判定を
行い、当該インレットが良品の場合に、当該送信した所
定情報に基づいて当該インレットと関連付けられた印字
情報を光加工手段に送信し、光加工手段が送信されてき
た印字情報に基づいて、該当のインレットが貼着されて
いるＲＦ−ＩＤフォームの所定部分に、直接に光照射し
て必要な印字を行わせる。すなわち、インレットの検査
時に記憶させるべき所定情報を最終的に記憶させる情報
とし、検査後に当該記憶させた所定情報に基づいて必要
な印字情報を光加工により直接形成させるもので、ＲＦ
−ＩＤフォームに不必要な情報の印字、印刷を施さず
に、検査から検査後の必要情報の形成における工程を削
減して効率向上を図ることが可能となるものである。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態
を図により説明する。本実施形態では、ＲＦ−ＩＤとし
て電磁誘導型のものを示すが、静電誘導型のものにも適
用することができるものである。

【００１４】図１に、本発明に係るＲＦ−ＩＤの検査シ
ステムのブロック構成図を示す。図１において、ＲＦ−
ＩＤの検査システム１１は、連続したＲＦ−ＩＤフォー
ムの各ＲＦ−ＩＤフォームにおける検査対象のインレッ
ト１２Ｘに対し、処理手段である検査処理手段１３およ
び駆動構造手段１４を含んで構成される。検査対象の上
記インレット１２Ｘは、アンテナ２１およびＩＣモジュ
ール２２により構成され、アンテナ２１は、平面上でコ
イル状に巻回されたもので、検査処理手段１３からの信
号を受信し、または当該インレット１２Ｘより検査処理
手段１３にデータを送信する役割をなす。また、ＩＣモ
ジュール２２は、処理部３１、メモリ３２および復調部
３３を含んで構成されるる。

【００１５】上記ＩＣモジュール２２において、メモリ
３２は例えばカードとしての種々の情報を記憶するため
のものである。上記復調部３３は、アンテナ２１で受信
した電波から制御信号、データを復調し、適宜コード変
換する。そして、処理部３１は、プログラムにより、受
信した制御信号、データをメモリ３２に記憶させ、また
メモリに記憶したデータを送信する処理を行う。

【００１６】上記検査処理手段１３は、検査対象のイン
レット１２Ｘの良否判定を行う処理手段を構成するもの
として、制御部４１、ＤＢ（データベース）４２、検査
処理部４３、データメモリ４４を備え、電力増幅部４
５、変調部４６、発信部４７、検波部４８、データ変換
部４９、搬送駆動制御部５０、アンテナ駆動制御部５
１、インターフェース（ＩＦ）部５２および表示手段５
３を備える。

【００１７】上記制御部４１は、この検査処理手段１３
の全体を統括制御するもので、これに応じたプログラム
がセットされている。ＤＢ４２は、最終的にＲＦ−ＩＤ
となるインレット１２ＸにおけるＩＣモジュール２２の
メモリ３２に記憶させるＩＤ等と関連付けられた使用者
名等の情報（印字情報をも含む）を格納する。上記検査
処理部４３は、プログラムによる検査ルーチンでインレ
ット１２Ｘに対する検査処理、判定を行うものある。上
記データメモリ４４は、主に通信を行うための種々の設
定データを記憶すると共に、適宜検査判定のための一時
記憶領域（バッファであって、検査処理部４３に備えさ
せてもよい）としての役割をもなす。

【００１８】上記データ変換部４９は、検査対象のイン
レット１２Ｘに対して情報を送信する場合の情報を例え
ば「１」、「０」に変換し、また当該インレット１２Ｘ
からの送信データを例えば「１」、「０」に変換する。
上記変調部４６は、発信部４７からの発信出力に基づい
て上記データ変換部４９で変換された情報を例えばＦＳ
Ｋ（周波数偏位変調）変調波に変調する。上記電力増幅
部４５は、変調部４６で変調された変調波を電力増幅す
るもので、この増幅された変調波が後述のシステム側ア
ンテナより送信されるものである。そして、検波部４８
は、システム側アンテナで受信したインレット１２Ｘか
らの送信電波を検波して復調する。

【００１９】一方、上記搬送駆動制御部５０は、インレ
ット１２Ｘを順次検査するために搬送する上述の搬送駆
動部６２を駆動させるための制御信号を制御部４１から
の指令に基づき生成してＩＦ部５２を介して後述の搬送
駆動部に送出する。また、上記アンテナ駆動制御部５１
は、インレット１２Ｘに対して後述のシールド部材およ
びシステム側アンテナを上下方向に移動させ、対象のア
ンテナ２１との距離（通信距離）を制御する信号を制御
部４１の指令に基づいて生成し、ＩＦ部５２を介して後
述のアンテナ駆動部に送出するものである。

【００２０】また、ＩＦ部５２には後述の位置検出部１
５からの位置検出信号が入力されるもので、この信号が
制御部４１に送出される。さらに、ＩＦ部５２は、検査
結果の良否（何れか）を検査対象のＲＦ−ＩＤフォーム
（インレット１２Ｘ）にマーキングするための信号を制
御部４１より取得したときに当該マーカ１６にマーキン
グ信号を送出する。そして、ＩＦ部５２を介して、制御
部４１より光加工手段であるレーザ加工手段１７に対
し、該当インレット１２Ｘに送信した所定情報に基づい
て当該インレット１２Ｘと関連付けられた印字情報をＤ
Ｂ４２より取得して送信する。

【００２１】上記レーザ加工手段１７は、送信されてき
た印字情報に基づいて、該当のインレット１２Ｘが貼着
されているＲＦ−ＩＤフォームの所定部分に、適宜スキ
ャニングして直接に光照射して印字を行うものである。
なお、光加工手段として、本実施形態ではレーザ光によ
る加工を行う場合を示したが、これに限らず、紙やフィ
ルム、樹脂等を削り取ることによる加工ができる光を照
射するものであればよく、当該光として例えばほぼ単一
波長のコヒーレンス性を有する光ビームがある。

【００２２】上記駆動構造手段１４は、上記インレット
１２Ｘとの通信を行うシステム側アンテナ６１を搭載
し、搬送駆動部６２およびアンテナ駆動部６３で構成さ
れる。上記搬送駆動部６２は後述のベルト搬送部を直接
駆動するためのものである。上記アンテナ駆動部６３
は、上述のようにシステム側アンテナ６１をインレット
１２Ｘの方向に上下動させるＺ移動させ、当該ＲＦ−Ｉ
Ｄフォームの幅方向のインレット１２Ｘ間でＹ移動させ
る。なお、このアンテナ駆動部６３は、後述のシールド
部材およびシステム側アンテナ６１を移動させるもので
ある。

【００２３】ここで、図２に、図１の検査対象のＲＦ−
ＩＤフォームの構成説明図を示す。図２（Ａ）は、連続
したＲＦ−ＩＤフォーム７１を示したもので、例えば紙
等のフォーム基材７２の所定部分にインレットシート
（単に、インレットと称す）１２Ａが貼着され、このイ
ンレット貼着領域以外の部分にＩＤや氏名等のＩＣモジ
ュール関連付情報７３Ａが形成されたＦ−ＩＤフォーム
が連続されたものである。

【００２４】また、図２（Ｂ）はインレット１２Ａを示
したもので、当該インレット１２Ａは、一方面に、コイ
ルによりアンテナ２１が形成されると共に、当該アンテ
ナ２１の内側にタイミングマーク２２が形成され、当該
アンテナ２１の両端にＩＣモジュール２３が電気的に接
続されて搭載されたものである。例えば不透明フィル
ム、紙等の不透明部材または透明フィルム等の透明部材
の一方面に、スクリーン印刷等によりアンテナ２１およ
びタイミングマーク２２が形成された後に、上記ＩＣモ
ジュール２３が上述のように搭載されたものである。

【００２５】そして、インレット１２ＡのＩＣモジュー
ル２３が形成された面に接着剤等を塗布し、図２（Ａ）
に示すように、連続したフォームシートの該当する個々
のＲＦ−ＩＤフォームの所定部分に貼着したものであ
る。なお、当該インレット１２Ａの基材を透明部材とし
た場合には、貼着したインレット１２Ａ上にさらに紙等
の不透明部材が貼着されてアンテナ２１、タイミングマ
ーク２２およびＩＣモジュール２３を視認不能としてい
る。このような個々のＲＦ−ＩＤフォーム７１は、検査
後に、インレット１２Ａ部分が通常知られている製造工
程で、例えば個人認証カードや、クレジットカード、電
子マネーカード等として作製されるものである。

【００２６】また、図２（Ｃ）はＩＣモジュール関連付
情報７３部分の概略断面図を示したもので、フォーム基
材７２の該当部分にその表面と色の異なるインキ層７３
Ａが印刷等により形成され、後述の印字情報にしたがっ
てレーザ光により当該インキ層７３Ａを削り取ることに
より、ＩＣモジュール関連付情報７３を形成させるため
のものである。なお、本実施形態では、ＩＣモジュール
関連付情報７３を、インレット貼着部分以外の所定部分
に形成させる場合を示しているが、インレット１２Ａの
基材が不透明な場合にはその裏面にインキ層を予め形成
しておき、またインレット１２Ａの基材が透明な場合に
は貼着後に覆う不透明部材であって貼着後に表面となる
面にインキを予め形成しておいてもよい。

【００２７】そこで、図３に、図１の検査システムにお
ける検査処理手段部分の概略斜視図を示す。図３におい
て、検査処理システム８１は、大別して、検査対象のＲ
Ｆ−ＩＤフォーム（インレット１２Ａ）を検査位置に順
次搬送する搬送手段の一を構成するベルト搬送部８２、
シールド部材８３、駆動機構８４で構成される。ここで
は検査処理を行う検査処理手段１３は図示されていな
い。

【００２８】上記ベルト搬送部８２は、図示しない供給
手段で供給される連続したＲＦ−ＩＤフォーム７１を順
次搬送するもので、検査位置の対象のＲＦ−ＩＤフォー
ム（インレット）が検査対象のインレット１２Ｘとな
る。上記シールド部材８３は、金属、導電性樹脂等の導
電性物質により板状、または網状に形成されるもので、
システム側アンテナ６１と検査対象のインレット１２Ｘ
との間（ここではインレット１２Ｘの下方）に介在され
る。また、シールド部材８３は、システム側アンテナを
対象の当該インレット１２Ｘに対向させる開口部８３Ａ
が形成されたもので、その周縁部分を、検査対象のイン
レット１２Ｘからの距離を当該開口部８３Ａが形成され
る面より大とさせて、エッジによる電波発信を近傍のＲ
Ｆ−ＩＤフォーム（インレット）に影響させないように
している。

【００２９】そして、上記駆動機構８４は、検査対象の
インレット１２Ｘの下方であって、上記シールド部材８
３の下方に配置されるもので、システム側アンテナ６１
を搭載してベルト搬送部８２の幅方向に移動させるＹ駆
動と、上下方向に移動させるＺ駆動とを行う。一方、ベ
ルト搬送部８２の上方における検査位置近傍に、検査対
象のインレット１２Ｘが検査位置に搬送されてきたこと
を上記タイミングマーク２２で検出する位置検出部１５
および検査後に検査結果を当該ＲＦ−ＩＤフォーム（イ
ンレット１２Ｘ）にマーキングするマーカ１６が、適宜
位置で配置される。

【００３０】上記位置検出部１５は、視認不能なタイミ
ングマーク２２を検出するものとして、当該タイミング
マーク２２が金属材料で形成される場合には近接センサ
または光透過型センサが使用され、金属材料でなければ
光透過型センサが使用される。なお、位置検出部１５に
よるインレット１２Ｘの検査位置の検出を、上記インキ
層７３Ａで検出してもよく、この場合にはインレット１
２Ａに形成されるタイミングマーク２２を省略すること
ができる。この場合の位置検出部１５としては、インキ
層７３Ａが金属材料を含む場合には近接センサ、光透過
型センサ、光反射型センサの何れをも使用することがで
き、当該インキ層７３Ａが金属材料を含まない場合には
光透過型センサまたは光反射型センサが使用される。

【００３１】ところで、上記シールド部材８３および駆
動機構８４を検査対象のインレット１２Ｘの下方に配置
させた場合を示したが、ベルト搬送部８２の上方に位置
させ、当該インレット１２Ｘに対して上方より通信を行
うようにしてもよい。この場合、位置検出部１５および
マーカ１６は、当該シールド部材８３および駆動機構８
４を避ける位置に適宜配置される。

【００３２】そこで、図４に、図３の検査処理手段によ
る検査処理のフローチャートを示す。図４において、ま
ず、ベルト搬送部８２上に順次供給されるＲＦ−ＩＤフ
ォーム７１のうちの検査対象のＲＦ−ＩＤフォーム（イ
ンレット１２Ｘ）を検査位置に搬送する駆動量を、制御
部４１の指令に基づいて搬送駆動制御部５０がＩＦ部５
２を介して搬送駆動部６２に出力する（ステップ（Ｓ）
１）。

【００３３】位置検出部１５が検査対象のインレット１
２Ｘのタイミングマーク２２を検出したときに、制御部
４１が搬送駆動制御部５０、搬送駆動部６２を介してベ
ルト搬送部８２を停止させ、アンテナ駆動制御部５１に
おいて、制御部４１の指令により検査位置のインレット
１２Ｘに対してシールド部材８３およびシステム側アン
テナ６１を下方の中心に位置させる駆動量（Ｙ）をアン
テナ駆動部６３のＹ方向駆動量とし、また当該システム
側アンテナ６１をインレット１２Ｘ（アンテナ１３）に
対して上記基本距離とする駆動量（Ｚ）をＺ方向駆動量
として出力する（Ｓ２）。なお、上述のように、インレ
ット１２Ｘを搬送移動状態で検査を行う場合には、当該
搬送と同期をとってＸ移動をさせる駆動量（Ｘ）をＸ方
向駆動量として出力する。

【００３４】そこで、検査対象用の送信データ（識別情
報等）をＤＢ４２より取得して検査対象のインレット１
２Ｘに送信する（Ｓ３）。当該インレット１２Ｘからの
応答（返信データの発信）があった場合には（Ｓ４）、
当該返信データを受信して、検査処理部４３において送
信データと受信データとのマッチングを行う（Ｓ５）。
マッチングの結果において（Ｓ５）、一致したときには
良品と判定し（Ｓ６）、上記ＤＢ４２より取得した当該
送信データに関する所定の情報を印字情報としてレーザ
加工手段１７に送出する（Ｓ７）。

【００３５】一方、マッチング結果において（Ｓ５）、
不一致のときには不良品と判定する（Ｓ８）。また、上
記Ｓ４において、応答がなければ、ＩＣモジュール１４
の不良として当該インレット１２Ｘを不良品と判定する
（Ｓ８）。ここで、インレット１２Ｘが不良品の場合に
当該インレット１２Ｘにマーキングするものとすると、
Ｓ８で不良品と判定したインレット１２Ｘに対しマーキ
ングすべきことを制御部４１がマーカ１６に指令する
（Ｓ９）。そして、これらの判定結果をデータメモリ４
４に記憶させる（Ｓ１０）。

【００３６】続いて、次の検査対象のインレット１２Ｘ
を検出した場合には（Ｓ１１）、当該インレット１２Ｘ
に対してＳ１〜Ｓ９を繰り返して判定結果をデータメモ
リ４４に記憶させる（Ｓ１０）。そして、次の検査対象
のインレット１２Ｘを検出せず、総ての検査対象のイン
レット１２Ｘを検査し、その良否がデータメモリ４４に
記憶されたときに、検査結果を適宜表示部５３に表示さ
せるものである（Ｓ１２）。なお、検査結果の表示を、
インレット１２Ｘ毎、または所定数のインレット１２Ｘ
の検査結果毎に行ってもよい。

【００３７】次に、図５に図１の検査システムにおける
レーザ加工手段部分の概略斜視図を示すと共に、図６に
検査後にレーザ加工されたＲＦ−ＩＤフォームの説明図
を示す。図５に示すレーザ加工手段１７は、その主要部
を示したもので、ステージ９１、ベルト搬送部８２Ａ，
８２Ｂ、レーザ照射部９２および吸引機構９３を有して
構成される。上記ベルト搬送部８２Ａ，８２Ｂは、上記
ベルト搬送部８２の延長上のもので、当該ベルト搬送部
８２Ａ，８２Ｂ間にステージ９１が位置される。すなわ
ち、ベルト搬送部８２Ａはステージ９１に対してＲＦ−
ＩＤフォーム７１を搬送するためのもので、ベルト搬送
部８２Ｂはステージ９１上でレーザ加工されたＲＦ−Ｉ
Ｄフォームを排出するためのものである。なお、図３に
示す上記ベルト搬送部８２を含めて、ベルト搬送部８２
Ａ，８２ＢをＲＦ−ＩＤフォーム７１を挟持して搬送さ
せるように各２段で構成してもよい。

【００３８】上記ステージ９１は、レーザ加工を行うた
めの台座であり、その表面には例えば所定数の孔（図示
せず）が形成されている。また、上記レーザ照射部９２
は、ステージ９１上に位置された検査対象のＲＦ−ＩＤ
フォーム上に形成されたインキ層７３Ａに対し、上記検
査処理手段１３より送信されてくる印字情報に基づいて
レーザ光を直接に照射して当該ＩＤ等の情報を印字する
ためのものである。なお、このレーザ照射部９２による
レーザ照射は、図示しない駆動制御手段によりレーザ照
射範囲でＲＦ−ＩＤフォーム上をスキャニングされるも
のである。

【００３９】上記ステージ９１には吸引機構９３が設け
られる。この吸引機構９３は、レーザ加工時におけるス
テージ９１に対象のＲＦ−ＩＤフォームが位置されたと
きに、当該ステージ９１の表面上に形成された孔より吸
引を行って当該ＲＦ−ＩＤフォームを吸引固定させ、レ
ーザ加工時の位置ずれを防止させるものである。この場
合、吸引されるＲＦ−ＩＤフォームが波打たないように
吸引力が適宜調整される。また、吸引機構９３は、レー
ザ加工時に発生する煙を排出する役割をも果たすもので
ある。

【００４０】上記のようなレーザ加工手段１７におい
て、ベルト搬送部８２Ａで対象のＲＦ−ＩＤフォームが
搬送されて、ステージ９１上に搬入され、吸引機構９３
が吸引駆動を行って加工対象のＲＦ−ＩＤフォームを吸
引固定する。そして、取得した印字情報に基づいてレー
ザ照射部９２によりレーザ光１５Ａがフォーム基材７２
上のインキ層７３Ａ層に対して順次照射されてレーザ加
工が行われ、図６（Ａ）、（Ｂ）に示すように、当該イ
ンキ層７３ＡにＩＣモジュール関連付情報（ここではＩ
Ｃモジュールに記憶させたＩＤ）７３が形成されるもの
である。そして、レーザ加工後は、吸引機構９３による
吸引が解除され、情報印字済のＲＦ−ＩＤフォームは、
ベルト搬送部８２Ｂに排出されてスタッカ等に搬送され
るものである。

【００４１】以上のように、インレット１２Ｘの検査時
に記憶させるべきＩＤ等の所定情報を最終的に記憶させ
る情報とし、検査後に当該記憶させたＩＤ等の情報に基
づいて必要な印字情報をレーザ光により直接形成させる
もので、ＲＦ−ＩＤフォームに必要な情報を形成し、不
必要な情報の印字、印刷を施さずに、検査から検査後の
必要情報の形成における工程を削減して効率向上が図ら
れるものである。

【００４２】なお、上記実施形態では、必要情報の形成
を、ＲＦ−ＩＤフォームに形成したインキ層７３Ａ上に
施した場合を示したが、少なくとも、必要情報を形成さ
せる領域を色の異なる部材の２層で形成し、レーザ加工
手段１７によるレーザ光照射により照射面の層部分が削
り取られることでも行うことができる。具体的には、Ｒ
Ｆ−ＩＤフォーム７１のフォーム基材７２を色の異なる
用紙の２層で形成する場合、またはＲＦ−ＩＤフォーム
上の必要情報を形成させる領域に色の異なる用紙を貼付
する場合、またはインレット１２Ａのシート基材が透明
であるときに色の異なる２層の用紙を貼付後に覆うよう
に貼り付ける場合、または当該シート基材が不透明であ
るときに当該基材と色の異なる用紙を貼付後に覆うよう
に貼り付ける場合等がある。

【００４３】

【発明の効果】上述のように、本発明によれば、検査対
象のインレットに所定の情報を送信して当該インレット
のＩＣモジュールに記憶させ、当該インレットから送信
されてくる記憶させた所定情報を受信して、上記記憶さ
せるために送信した所定情報とを比較することで当該イ
ンレットの良否判定を行い、当該インレットが良品の場
合に、当該送信した所定情報に基づいて当該インレット
と関連付けられた印字情報を光加工手段に送信し、光加
工手段が送信されてきた印字情報に基づいて、該当のイ
ンレットが貼着されているＲＦ−ＩＤフォームの所定部
分に、直接に光照射して必要な印字を行わせることによ
り、ＲＦ−ＩＤフォームに不必要な情報の印字、印刷を
施さずに、検査から検査後の必要情報の形成における工
程を削減して効率向上を図ることができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＲＦ−ＩＤの検査システムのブロ
ック構成図である。

【図２】図１の検査対象のＲＦ−ＩＤフォームの構成説
明図である。

【図３】図１の検査システムにおける検査処理手段部分
の概略斜視図である。

【図４】図３の検査処理手段による検査処理のフローチ
ャートである。

【図５】図１の検査システムにおけるレーザ加工手段部
分の概略斜視図である。

【図６】検査後にレーザ加工されたＲＦ−ＩＤフォーム
の説明図である。

【符号の説明】

１１ ＲＦ−ＩＤの検査システム １２ インレット（ＲＦ−ＩＤ） １３ 検査処理手段 １４ 駆動構造手段 １５ 位置検出部 １６ マーカ １７ レーザ加工手段 ２１ アンテナ ２２ タイミングマーク ２３ ＩＣモジュール ６１ システム側アンテナ ７１ ＲＦ−ＩＤフォーム ７２ フォームシート基材 ７３ ＩＣモジュール関連付情報 ８１ 検査処理システム

フロントページの続き Ｆターム(参考） 2C005 MA19 NA09 NA10 RA30 5B035 AA04 BB09 BC08 CA23 5B058 CA24 KA02 KA04 KA05 KA28 YA20

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ＲＦ−ＩＤが製造される際に、ＲＦ−ＩＤ
   フォームにＩＣモジュール、アンテナを備えるインレッ
   トが貼着されるものであり、検査対象の当該ＲＦ−ＩＤ
   フォームに貼着されたインレットに対して通信を行い、
   良否を判定するＲＦ−ＩＤの検査方法であって、 検査対象の前記インレットに所定の情報を送信して当該
   インレットのＩＣモジュールに記憶させるステップと、 前記インレットから前記記憶させた所定情報が送信さ
   れ、当該所定情報を受信して前記送信した所定情報とを
   比較することで当該インレットの良否判定を行うステッ
   プと、 前記インレットが良品の場合に、前記送信した所定情報
   に基づいて当該インレットと関連付けられた印字情報を
   光加工手段に送信するステップと、 前記光加工手段が送信されてきた印字情報に基づいて、
   該当のインレットが貼着されているＲＦ−ＩＤフォーム
   の所定部分に、直接に光照射して印字を行うステップ
   と、 を含むことを特徴とするＲＦ−ＩＤの検査方法。
2. 【請求項２】ＲＦ−ＩＤが製造される際に、ＲＦ−ＩＤ
   フォームにＩＣモジュール、アンテナを備えるインレッ
   トが貼着されるものであり、検査対象の当該ＲＦ−ＩＤ
   フォームに貼着されたインレットに対して通信を行い、
   良否を判定するＲＦ−ＩＤの検査システムであって、 前記インレットに対して通信を行うためのシステム側ア
   ンテナと、 検査対象の前記インレットに前記システム側アンテナを
   介して所定の情報を送信して当該インレットのＩＣモジ
   ュールに記憶させ、当該インレットから送信されてくる
   記憶させた所定情報を受信して、上記記憶させるために
   送信した所定情報とを比較することで当該インレットの
   良否判定を行い、当該インレットが良品の場合に、当該
   送信した所定情報に基づいて当該インレットと関連付け
   られた印字情報を送信する処理手段と、 前記処理手段より送信されてきた印字情報に基づいて、
   該当の前記インレットが貼着されているＲＦ−ＩＤフォ
   ームの所定部分に、直接に光照射して印字を行う光加工
   手段と、 を有することを特徴とするＲＦ−ＩＤの検査システム。
3. 【請求項３】請求項１記載のＲＦ−ＩＤの検査方法およ
   び請求項２記載のＲＦ−ＩＤの検査システムにおける検
   査対象のＲＦ−ＩＤフォームであって、前記インレット
   が貼着され、所定部分に必要な印字情報が形成されるこ
   とを特徴とするＲＦ−ＩＤフォーム。
4. 【請求項４】請求項３記載のＲＦ−ＩＤフォームであっ
   て、前記印字情報が形成される所定部分は、前記インレ
   ットが貼着された領域、または当該インレットが貼着さ
   れた領域以外の部分であることを特徴とするＲＦ−ＩＤ
   フォーム。
5. 【請求項５】請求項３または４記載のＲＦ−ＩＤフォー
   ムであって、前記印字情報が形成される所定部分には、
   少なくともその表面と色を異にするインキが形成され、
   前記光加工手段による光照射により当該インキが削り取
   られることで情報形成されることを特徴とするＲＦ−Ｉ
   Ｄフォーム。
6. 【請求項６】請求項３または４記載のＲＦ−ＩＤフォー
   ムであって、前記印字情報が形成される所定部分は、少
   なくとも色を異にする部材が２層で形成され、前記光加
   工手段による光照射により照射面の層部分が削り取られ
   ることで情報形成されることを特徴とするＲＦ−ＩＤフ
   ォーム。