JP2003270417A - 屈折率周期構造体およびその製造方法 - Google Patents

屈折率周期構造体およびその製造方法

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JP2003270417A
JP2003270417A JP2002069275A JP2002069275A JP2003270417A JP 2003270417 A JP2003270417 A JP 2003270417A JP 2002069275 A JP2002069275 A JP 2002069275A JP 2002069275 A JP2002069275 A JP 2002069275A JP 2003270417 A JP2003270417 A JP 2003270417A
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thin film
refractive index
organic material
periodic structure
manufacturing
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Yasuhiro Yamaguchi
康浩 山口
Takayuki Yamada
高幸 山田
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Fuji Xerox Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 所望の波長の電磁波を制御することができる
有用且つ新規な屈折率周期構造体およびその製造方法を
提供する。 【解決手段】 ドナー基板400上の離型層401に所
定のパターンを有する複数の薄膜パーツ4a〜4dを形
成し、各薄膜パーツ4a〜4d上に接着性有機材料60
0を供給する。次に、アクセプター基板500を用いて
接着性有機材料600が供給された各薄膜パーツ4a〜
4dを順次ドナー基板400上の離型層401から剥離
してアクセプター基板500上に積層転写して、屈折率
周期構造体を作製する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォトニクス分
野、電磁波分野、マイクロマシン分野、マイクロリアク
ター分野、等に有用な屈折率周期構造体およびその製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】屈折率の周期的な分布を有する屈折率周
期構造体は、電磁波に対する回折/干渉作用を示し、特
定周波数領域の電磁波の伝播を禁止する。この現象は、
半導体結晶中の電子に対するバンド構造に相応するもの
であり、一般的に、このような屈折率周期構造体をフォ
トニック結晶、伝播を禁止される周波数帯域をフォトニ
ックバンドギャップと称する。20世紀末に開花したI
T産業は、電子を制御する半導体材料に基づくエレクト
ロニクス技術によって支えられてきたが、本質的な技術
的限界に近づきつつあり、21世紀のさらなる発展のた
めには、エレクトロニクス技術の限界を打破し得るフォ
トニクス技術への移行が不可欠であるものと考えられて
いる。フォトニック結晶は、電磁波を制御することがで
きることから、エレクトロニクス技術における半導体材
料と同様に、フォトニクス技術のKey材料と位置付け
られ、超高効率レーザー、超小型光集積回路等の次世代
光デバイスを具現化するための重要な要素として期待さ
れている。
【0003】フォトニック結晶が有効に機能するために
は、制御したい電磁波の波長と同程度の空間スケールの
周期構造を有し、且つ高屈折率相と低屈折率相との屈折
率の比が所定の値以上である必要がある。要求される最
低の屈折率比は、周期構造の形態に応じ異なるが、一般
的に大きい程、好ましい。フォトニクス分野において
は、対象とする波長域は一般的に可視光域から近赤外域
であることから、サブミクロンからミクロンオーダーの
周期を有するフォトニック結晶を作製しなければならな
い。これを具現化し得る方法としては、例えばLinら
によって、半導体微細加工技術を駆使し、Si製の角材
を数ミクロン周期で積み重ねたWoodpile(積み
木)状のフォトニック結晶を作製した例が開示されてい
る{Nature,Vol.394,pp.251−2
53(1998)}。また、Nodaらによって、Ga
AsやInP製の角材を数ミクロン周期で積み重ねたW
oodpile状のフォトニック結晶を作製する方法と
して、ウエハ融着法が開示されている{App.Phy
s.Lett.,Vol.75,pp.905−907
(1999)}。また、Kawakamiらは、独自の
バイアススパッタ堆積/エッチング法にて、SiとSi
からなるサブミクロンオーダーの特殊な3次元周期
構造を有するフォトニック結晶の作製に成功しており
{Electron.Lett.,Vol.33,p
p.1260−1261(1997)}、この方法を自
己クローニング法と称している。また、Vosらは、ポ
リスチレン製単分散微粒子の自己組織化によるオパール
構造の空隙にチタニアをゾル−ゲル法にて堆積させ、チ
タニアの焼成と同時に、鋳型のポリスチレン微粒子を焼
失除去させることによって、サブミクロンオーダーのイ
ンバースオパール型フォトニック結晶を作製した{Sc
ience,Vol.281,pp.802−804
(1998)}。また、Misawaらは、2光子重合
法にて、光硬化製樹脂からなるサブミクロンオーダーの
Woodpile状フォトニック結晶を作製した{Ap
pl.Phys.Lett.,Vol.74,pp.7
86−788(1999)}。
【0004】しかしながら、Linらの方法は、複雑な
半導体微細加工技術を組み合わせた多くの工程から成る
ことから、大掛かりな装置が必要、生産性が低い、コス
トが高い、等の問題があり、また、適用できる材料種も
少なく、汎用的な方法とは言えない。Nodaらの方法
は、適用材料種が豊富であり、構造の自由度も高く非常
に優れた方法であるが、ウエハ融着を行うに、水素雰囲
気下にて700℃の加熱と云う非常に過酷な条件を用い
ており、操作上の安全性等に問題がある。Kawaka
miらの方法は、適用材料種が豊富であり、生産性も高
く、非常に優れた方法であるが、特殊な構造しか作り得
ず、汎用性に欠けると云う重大な問題がある。オパール
型およびインバースオパール型のフォトニック結晶は、
作製が非常に簡単であるため、実験室レベルの研究活動
においては広く使用されているが、構造の自由度が小さ
く、デバイス化するに当たっては作製方法上の何らかの
ブレークスルーが不可欠である。また、理論計算から、
オパール型およびインバースオパール型のフォトニック
結晶では、完全なフォトニックバンドギャップを形成す
るに必要とされる屈折率条件が、Woodpile状フ
ォトニック結晶において必要とされるものよりも格段に
厳しいと予想されており、材料選択性の点でも不利であ
る。また、インバースオパール型フォトニック結晶にお
いては、オパール鋳型の空隙に高屈折率材料を充填する
必要があるが、微細な3次元空隙に均一に充填すること
は困難、充填に伴い鋳型が変形する、等の問題がある。
光硬化性樹脂を用いフォトニック結晶を作製する方法と
しては、上記の2光子重合法を用いる方法に加え、通常
の光造形法による方法も提案されている。光硬化性樹脂
を用いる方法では、樹脂の屈折率が高々1.7程度まで
と低いため、大きな屈折率比が取れないと云う問題があ
る。また、2光子重合法を用いる方法では、非常に高価
なフェムト秒レーザーを使用しなければならず、量産化
に不適と云う問題もある。一方、光造形法は、ラピッド
プロトタイピング法として家電製品等の製造工程におい
て実用化されている方法であるが、現状の装置では解像
度が低く、光波域のフォトニック結晶の作製は不可能で
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、所望の
屈折率および周期構造を有するフォトニック結晶の汎用
的、且つ簡便な製造方法は未だ確立されておらず、よっ
てフォトニック結晶を活用したフォトニックデバイスも
未だ実用化には至っていない。本発明は、上述の実情に
鑑みなされたものであって、所望の波長の電磁波を制御
することができる有用且つ新規な屈折率周期構造体を提
供することを目的とする。さらに、本発明の他の目的
は、このような屈折率周期構造体の容易且つ安価な製造
方法を提供することにある。
【0006】尚、本発明の屈折率周期構造体は、フォト
ニック結晶として以外にも、多層薄膜フィルタ、グレー
ティング素子等の光部品や、マイクロマシン、マイクロ
リアクター、等にも好適に活用され得るものであり、本
発明の製造方法によって、それらを容易且つ安価に製造
することができる。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、先に、所
定の2次元パターンを施された複数の無機薄膜パーツの
面同士が直接接触して接合した状態で積層されてなる微
小構造体、ならびにその製造方法を提案し(特許第31
61362号)、この製造方法をFORMULA法と命
名した{山田ら,精密工学会誌,Vol.66,pp.
1265−1269(2000)}。ここにおける接合
方法は、原理的には任意の方法を用い得るが、具体的に
開示されているものは常温接合のみであった。常温接合
は、一般に、無機材料に見られる現象で、接合させる両
表面を原子レベルで清浄化し、化学的に活性化すること
によって、常温で接触させるのみで化学的に接合される
と云う現象である。理想的に清浄な単結晶面の場合、殆
ど荷重を掛けず接触させるだけで接合されるが、清浄度
合いが不十分、表面に凹凸がある、あるいは表面に格子
不整合がある、等の場合においては、接合に当たって、
接合界面の変形が必要となり、それに要する荷重および
/または温度を印加する必要がある。この方法によっ
て、高品質の3次元微小構造体を、精度良く、且つ高い
生産性にて製造することが可能となるが、上記の通り、
常温接合に過酷な圧力および/または温度条件を要する
ことから製造設備ならびに製造コストが非常に高くなっ
てしまうと云う問題があった。また、常温接合に当たっ
ては、接合する表面の清浄化操作が不可欠で、そのため
の高額な装置が必要、さらに再汚染を防止するため真空
下での作業が必要、等の制約もあった。さらにまた、常
温接合可能な材料は限られており、材料選択の自由度が
低いと云う制約もあった。本発明者等は、FORMUL
A法の諸問題を解決すべく、鋭意検討を行った結果、接
合を有機材料に担わせることにより、FORMULA法
の諸問題が解決され、フォトニック結晶等の屈折率周期
構造体の作製に好適に利用でき、且つ従来のフォトニッ
ク結晶作製方法の諸問題を克服し得ることを見出し、本
発明を完成するに至ったものである。
【0008】すなわち、本発明に係る屈折率周期構造体
は、所定のパターンを有する複数の薄膜パーツの積層体
と、各薄膜パーツのパターン空隙部に充填された接着性
有機材料とを備えるものである。この場合、接着性有機
材料が充填されるので、パターン空隙部の屈折率が一様
となり乱れのない周期構造が得られるとともに、空隙部
が有機材料で埋められるため構造的に堅固となる。
【0009】また、本発明に係る屈折率周期構造体は、
枠部の内側に所定のパターンを有する複数の薄膜パーツ
の積層体と、各薄膜パーツの枠部間を接着する接着性有
機材料とを備えるものである。この場合、パターン空隙
部は屈折率1の空気で満たされるので、薄膜パーツの材
料とパターン空隙部との屈折率差を大きくすることがで
き、良好な特性の周期構造体を得ることが出来る。ここ
で、接着性有機材料は、各薄膜パーツの枠部外側の切り
欠き部に配置されることが好ましい。このように構成す
ることにより、各薄膜パーツの枠部間を接着する接着性
有機材料が枠部外側に逃がされパターン空隙部側には影
響を与えないので、特性の安定した周期構造が得られ
る。
【0010】また、薄膜パーツの材料は、金属、セラミ
ックス、または無機半導体とすることができ、接着性有
機材料は、有機高分子化合物とすることができる。な
お、薄膜パーツの材料と接着性有機材料との屈折率の比
は、好ましくは1.5以上、さらに好ましくは1.8以
上、さらに好ましくは2.1以上である。
【0011】本発明に係る屈折率周期構造体の製造方法
は、ドナー基板上に所定のパターンを有する複数の薄膜
パーツを形成する第1の工程と、各薄膜パーツ上に接着
性有機材料を供給する第2の工程と、アクセプター基板
を用いて接着性有機材料が供給された各薄膜パーツを順
次ドナー基板上から剥離してアクセプター基板上に積層
転写する第3の工程とを含むものである。さらに、外部
エネルギーにより、接着性有機材料を除去し、且つ薄膜
パーツ同士をボンディングさせる第4の工程を含むこと
ができる。
【0012】また、第2の工程において、接着性有機材
料を供給する方法を塗布法とすることができ、さらに第
3の工程において、複数の薄膜パーツを積層転写する際
に、光照射、加熱および加圧の少なくとも1つを行うこ
とができる。ドナー基板の表面には、例えば、予め、フ
ッ素原子を含有する材料よりなる離型層が形成されてい
ることが好ましい。このような製造方法により、上述の
ような屈折率周期構造体を好適に作製することができ
る。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の屈折率周期構造
体の製造方法を具現化するための製造システムの一例を
示すブロック図である。この製造システムは、ドナー基
板上に薄膜を成膜する成膜装置1と、成膜された薄膜を
所望のパターンにパターニングするパターニング装置2
と、パターニングされた複数の薄膜パーツ上に有機材料
を供給する有機材料供給装置5と、有機材料を供給され
た複数の薄膜パーツをアクセプター基板上に積層接合す
る転写装置3とを有して構成されている。
【0014】成膜装置1は、Siウエハ、ガラス基板、
セラミックス基板等からなるドナー基板の上に薄膜を形
成するサブシステムであって、膜厚制御性が良好で、且
つ基板全体に亘って膜厚均一性に優れた成膜方法を用い
ることが好ましく、薄膜作製応用ハンドブック{権田俊
一監修,エヌ・ティー・エス,1995}等に記載の公
知の方法が適用できる。例えば、加熱蒸着法、電子ビー
ム蒸着法、イオン化蒸着法、スパッタリング法、超微粒
子ジェットプリンティング法、MBE(Molecul
ar Beam Epitaxy)法、レーザーアブレ
ーション法、CVD(Chemical Vapor
Deposition)法、ラミネート法、エンボス成
形法、等の乾式成膜法、またはスピンコート法、インク
ジェットプリンティング法、メッキ法、無電解メッキ
法、電解析出法、電気泳動堆積法、CBD(Chemi
cal Bath Deposition)法、ゾル−
ゲル法、LB法、液相エピタキシー法、射出成形法、等
の湿式成膜法が挙げられる。
【0015】薄膜を構成する材料は、任意のものが利用
できるが、接着を担う有機材料よりも機械的強度ならび
に耐熱性が高いものが好ましい。例えば、W、Pt、A
u、Al、Ti、Ni、Zr、Cu、Fe、等の金属あ
るいはそれらの合金;アルミナ、シリカ、チタニア、ジ
ルコニア、マグネシア、チタン酸バリウム、ニオブ酸リ
チウム、フェライト、酸化亜鉛、ITO(Indium
Tin Oxide)、FTO(Florine−d
oped Tin Oxide)、ゼオライト等のセラ
ミックス;Si、GaAs、InP、CdS、CdT
e、GaN、CuInS、CuInSe、ZnS、
FeS、FeSi等の無機半導体;エンジニアリング
プラスチック、導電性高分子等の有機材料;無機材料ま
たは有機材料を樹脂中に分散させた複合材料;あるい
は、カーボン;ダイアモンド;SiC等が挙げられる。
これらの中でも、金属、セラミックス、無機半導体は、
高品質の薄膜を形成するための作製方法が確立されてお
り、且つ機械的強度、耐熱性に優れるため特に好まし
い。
【0016】薄膜の膜厚は、応用目的に応じ異なるため
一概に規定することはできないが、各成膜方法によっ
て、高品質の膜を成膜できる膜厚領域が異なるため、所
望の膜厚を得るに最も適した方法を選択することが望ま
しい。また、薄膜の面内膜厚ムラの許容範囲は、これも
応用目的に応じ異なるため一概に規定することはできな
いが、フォトニック結晶においては、所定膜厚の20%
以下であることが好ましく、10%以下であることがよ
り好ましい。尚、面内膜厚ムラを所望の値に抑える方法
としては、成膜時に、成膜方法、成膜条件を制御し、所
望の面内膜厚ムラ内にて成膜させる方法に加え、成膜後
に所望の面内膜厚ムラ内まで、表面を、CMP(Che
mical Mechanical Polishin
g)法等の任意の方法によって平滑化する方法でもよ
い。また、成膜装置1にて薄膜を作製する前に予めドナ
ー基板の表面に離型性の高い離型層を形成することが望
ましい。離型層は、ドナー基板表面にフッ素系樹脂等を
蒸着あるいは塗布して形成してもよく、また、基板を加
熱処理して表面に熱酸化膜を形成させる、あるいは、基
板表面をフッ素原子含有ガスに晒し化学的にフッ素化す
る、等の方法によって形成してもよい。フッ素原子を含
む薄膜の形成や表面のフッ素化により、非常に高い離型
性が得られ、特に好ましい結果が得られる。
【0017】パターニング装置2は、例えば、フォトリ
ソグラフ法、リフトオフ法、集束イオンビーム(FI
B)法、電子ビーム直接描画法、機械的切削法、等によ
って、薄膜を複数の薄膜パーツのセットに分割すると共
に、複数の薄膜パーツに所望のパターンを施すものであ
る。フォトリソグラフ法によれば、サブミクロンオーダ
ーの形状精度が得られ、且つ高い量産性が実現される。
但し、フォトマスクの作製が不可欠であり、多品種少量
生産には不向きである。一方、FIB法および電子ビー
ム直接描画法は、装置が非常に高額と云う問題があるも
のの、ビーム走査により任意の形状が高精度で直接描画
でき、フォトマスクを用いる必要もない。尚、図1にお
いては、成膜工程とパターニング工程を別々に行う例を
示したが、成膜とパターニングを同時に行う方法、例え
ば、蒸着法やCVD法等においてメタルマスクを用いパ
ターン状に薄膜を堆積させる方法を用いてもよい。ま
た、成膜後および/またはパターニング後の薄膜に、加
熱処理、紫外線照射処理、オゾン処理、研磨処理、等の
各種処理を施してもよい。
【0018】パターニングを施した後、その表面に接着
を担う接着性有機材料を供給する方法としては、任意の
方法を用いることができ、例えば、スピンコート法、イ
ンクジェット法、浸漬塗布法、キャスト法等の湿式塗布
法、あるいはラミネート法、ソリッドインクジェット
法、射出成形法、蒸着法、等が挙げられる。この有機材
料の供給は、複数の薄膜パーツの全体に一度に行っても
よいが、転写工程毎に、転写部分のみに選択的に行って
もよい。また、転写工程毎にこの有機材料の供給を行う
場合には、薄膜パーツ側ではなく、アクセプター基板側
に供給してもよい。この有機材料の供給量は、各薄膜パ
ーツおよび各レーヤー間を接着するに十分な量以上であ
れば構わないが、薄膜のパターニングに応じ形成される
空隙部を満たすに足る量を供給することが好ましい。有
機材料としては、接着性を有するものであれば、如何な
るものでも構わないが、金属、セラミックス、半導体等
の薄膜が変形あるいは破壊されない温度ならびに圧力条
件にて、成形可能な有機高分子化合物を用いることが、
特に好ましい。該有機高分子化合物の具体例としては、
JSR製Arton樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル
樹脂、ブチラール樹脂、ポリアミド樹脂、ポリカーボネ
ート樹脂等の熱可塑性樹脂;ベンゾシクロブテン樹脂、
フェノール樹脂、メラミン樹脂等の熱硬化性樹脂;エポ
キシ樹脂等の紫外線硬化樹脂;等が挙げられる。また、
接着性有機材料を供給した後、この有機材料に対して、
加熱処理、加圧処理、紫外線照射処理、研磨処理等の任
意の処理を施してもよい。
【0019】図2は、転写装置3の一例を示す模式構成
図である。転写装置3は、ドナー基板400が載置され
る基板ホルダ301と、ドナー基板400上に形成され
た薄膜が転写されるアクセプター基板500が載置され
るステージ302と、ステージ302に取り付けられ、
基板400上のアライメントマーク403(図4)を検
出する顕微鏡の如きマーク検出部306と、ステージ3
02をx軸モータ(図示省略)によってx軸方向(図2
において左右方向)に移動させると共に、x軸位置検出
部(図示省略)によってステージ302のx軸上の位置
を検出するx軸テーブル310と、ステージ302をy
軸モータ(図示省略)によってy軸方向(図2において
紙面に垂直な方向)に移動させると共に、y軸位置検出
部(図示省略)によってステージ302のy軸上の位置
を検出するy軸テーブル320とが配設されている。ア
クセプター基板500は、例えば、Siウエハ、ガラス
基板、セラミックス基板、プラスチック基板、等からな
る。また、転写装置3は、基板ホルダ301をz軸モー
タ(図示省略)によってz軸方向(図2において上下方
向)に移動させると共に、z軸位置検出部(図示省略)
によって基板ホルダ301のz軸上の位置を検出するz
軸テーブル330と、アライメント調整の際にθモータ
(図示省略)によって基板ホルダ301をz軸回りに回
転させると共に、θ位置検出部(図示省略)によって基
板ホルダ301のθ方向の角度位置を検出するθテーブ
ル340、とを具備している。x軸位置検出部、y軸位
置検出部、z軸位置検出部およびθ位置検出部は、例え
ば、レーザー干渉計やガラススケール等を用いることに
よって実現することができる。
【0020】次に、本製造システムの動作を図3および
図4を参照して説明する。図3は、下記実施例にて作製
した屈折率周期構造体の部分的斜視図である。この屈折
率周期構造体4は、ストライプ状に2次元配列した角材
群からなる薄膜パーツ4a、4b、4c、4dをWoo
dpile状に積み重ねたものである。図3において、
各角材群の間の空隙部には接着性有機材料(図示省略)
が充填され、または各薄膜パーツの枠部(図6)間が接
着性有機材料により接着され、または外部エネルギーに
より接着性有機材料が除去されている(後述の実施例
3)場合がある。
【0021】図4は、成膜工程およびパターニング工程
の一例を示す模式図で、(a)および(b)は断面図、
(c)は平面図である。以下、実施例にて詳細を説明す
る。 (実施例1) Siと有機高分子化合物から構成されるWoodpil
e状屈折率周期構造体の作製 [1]ドナー基板表面への離型層の形成:図4(a)に
示すように、ドナー基板400としてSiウエハを準備
し、ドナー基板400をドライエッチング装置に導入
し、CFガスを用いたプラズマ処理(ガス流量100
sccm、放電パワー500W、圧力10Pa、時間1
0分)を行うことにより、ドナー基板の表面をフッ素化
し、離型層401とした。
【0022】[2]ドナー基板上への薄膜の形成とその
パターニング: 表面に離型層401を形成したドナー
基板の上に、成膜装置1を用いて、LPCVD(Low
−Pressure Chemical Vapor
Deposition)法により多結晶Si薄膜402
を形成した。堆積中は水晶振動子式膜厚計にて常時膜厚
をモニターし、膜厚が1.6μmに達したところで成膜
を終了した。尚、原子間力顕微鏡による表面観察の結
果、得られたSi薄膜の面内膜厚ムラは±0.02μm
以内であった。次に、パターニング装置2を用いて、通
常のフォトリソグラフ法により、図4(b)および
(c)に示すように、屈折率周期構造体4の各レーヤー
形状に対応した4セットの薄膜パーツ4a、4b、4
c、4dを形成した。すなわち、ドナー基板400上に
離型層401を介して形成したSi薄膜402の表面に
ポジ型のフォトレジストをスピンコート法にて塗布し、
フォトマスクを介してフォトレジストを露光し、露光し
た部分のフォトレジストを溶剤によって取り去った後、
薄膜402が露出した部分を反応性イオンエッチング法
にてエッチングし、さらにその後、未露光のフォトレジ
ストを剥離液にて除去して、それぞれパターンが施され
た4セットの薄膜パーツを得た。尚、図4(c)に示す
ように、このパターニング工程で、次工程においてドナ
ー基板400の位置決めのために使用する複数のアライ
メントマーク403も形成しておいた。
【0023】[3]薄膜上への有機高分子化合物の供
給:パターニングを施した薄膜上に、有機高分子化合物
であるJSR製Arton樹脂のキシレン溶液をスピン
コート法により塗布し、減圧下165℃にて1時間、乾
燥した。
【0024】[4]積層転写工程:図5(a)〜(f)
は、積層転写工程を模式的に示したものである。図5
(a)に示すように、パターニングされ且つArton
樹脂600で被覆された薄膜を有するドナー基板400
を転写装置3の基板ホルダ301上に、アクセプター基
板500としてのSiウエハを転写装置3のステージ3
02上に、それぞれ載置した。
【0025】アクセプター基板500とドナー基板40
0とのアライメント調整をアライメントマーク403
(図4)に従って行った。すなわち、x軸モータおよび
y軸モータを制御してステージ302をx方向およびy
方向に移動してマーク検出部306からマーク検出信号
を取り込み、このマーク検出信号に基づいてアライメン
トマーク403とアクセプター基板500との相対的位
置関係を測定し、この相対的位置関係の測定結果に基づ
いてアライメントマーク403およびアクセプター基板
500が原点位置に達するようにx軸モータ、y軸モー
タおよびθモータを制御した。これにより、薄膜が形成
されたドナー基板400を載置する位置にずれがあって
も、アクセプター基板500とアライメントマーク40
3の相対的な位置出しが正確に行われる。
【0026】そして、図5(b)に示すように、z軸位
置検出部の検出信号に基づいてz軸モータを制御して基
板ホルダ301を上昇させ、アクセプター基板500の
表面に、薄膜パーツ4aの表面を接触させ、ステージ3
02に取り付けた抵抗加熱器(図示省略)によってアク
セプター基板を加熱しながら、所定の荷重(本実施例で
は1kgf/cm)にて所定の時間(本実施例では5
分間)、押し付けた後、加熱を止め、常温まで冷却する
のを待った。この過程によりArton樹脂600が可
塑変形してSi製ストライプで規定されるWoodpi
le構造のパターン空隙部に充填されると共に、樹脂の
接着力によって、Siストライプが一体的に接合された
状態にて、アクセプター基板表面に接着される。
【0027】次に、図5(b)及び(c)に示すよう
に、ステージ302の4辺に取り付けたカッター501
を押し下げながら、z軸位置検出部の検出信号に基づい
てz軸モータを駆動して、基板ホルダ301を図5
(a)に示す元の位置まで下降させた。基板ホルダ30
1を下降させると、薄膜パーツ4aとアクセプター基板
との接着力の方が、薄膜パーツ4aと離型層との接着力
よりも遥かに大きく、且つカッターにより薄膜パーツ4
aの輪郭部の樹脂が切断されているため、薄膜パーツ4
aはドナー基板400側から剥離し、アクセプター基板
500側に転写される。
【0028】続いて、図5(d)に示すように、上記と
同様にx軸モータおよびy軸モータを制御してステージ
302をx方向およびy方向に移動してステージ302
を薄膜パーツ4b上に位置決めする。そして、図5
(e)に示すように、z軸位置検出部の検出信号に基づ
いてz軸モータを制御して基板ホルダ301を上昇さ
せ、アクセプター基板500の表面に、薄膜パーツ4a
の表面を接触させ、前述と同様な処理を行う。次に、上
記と同様にステージ302の4辺に取り付けたカッター
501を押し下げながら、z軸位置検出部の検出信号に
基づいてz軸モータを駆動して、図5(f)に示すよう
に、基板ホルダ301を図5(a)に示す元の位置まで
下降させた。
【0029】以降、同様にして各薄膜パーツを順次、積
層転写することにより、目的とするSiと有機高分子化
合物から構成されるWoodpile状屈折率周期構造
体4を得た。尚、各ストライプの幅は1.2μm、スト
ライプの周期は4.2μmとした。また、微小構造を構
成するSiと有機高分子化合物の屈折率は、それぞれ約
3.6と1.5であり、その比は約2.4である。
【0030】このように本実施例では、接着性有機材料
が充填されるので、パターン空隙部の屈折率が一様とな
り乱れのない周期構造が得られるとともに、空隙部が有
機材料で埋められるため構造的に堅固となる。尚、本実
施例では、基板ホルダ301がz方向に移動し、ステー
ジ302がx方向およびy方向に移動する場合を示した
が、基板ホルダ301とステージ302の両方が共にz
方向に移動する機構でもよく、基板ホルダ301がx方
向およびy方向に移動し、ステージ302がz方向に移
動する機構でもよく、さらにまた、基板ホルダ301と
ステージ302の両方がx方向、y方向およびz方向に
移動する機構でもよい。また、本実施例では、一括して
薄膜の成膜、パターニングを行ったが、薄膜パーツ毎に
成膜、パターニングを順次、行ってもよい。また、本実
施例では、抵抗加熱法によって加熱を行ったが、高周波
誘導加熱法、赤外線照射加熱法、サーマルヘッド加熱法
等の方法によって加熱を行ってもよい。尚、接着を担う
有機材料として紫外線硬化樹脂を用いる場合には、加熱
装置に代わって、紫外線照射装置を付備する必要があ
る。
【0031】(実施例2)実施例1の工程[1]におい
て離型層をフッ素化ポリイミドに変更し、さらに、実施
例1の工程[2]において、薄膜としてスパッタリング
法にて成膜したアルミナを用い、且つパターニング法を
リフトオフ法に変更した以外は、実施例1と同様にし
て、目的とするアルミナと有機高分子化合物から構成さ
れるWoodpile状屈折率周期構造体を作製した。
【0032】前記フッ素化ポリイミド製離型層は、ドナ
ー基板とフッ素化ポリイミド層との結着性を高めるた
め、まずドナー基板表面にシラン系カップリング剤をス
ピンコート法にて形成した後、フッ素化ポリイミド(日
立化成社製OPI−N1005)をスピンコート法にて
約1μm塗布し、350℃で1時間、加熱処理すること
により作製した。ポリイミドは非常に高いガラス転移温
度を有しており、該ガラス転移温度は、本実施例におい
て屈折率周期構造体を構成するArton樹脂を熱圧着
させるに要する温度よりも遥かに高く、積層転写工程に
てフッ素化ポリイミド製離型層が変形あるいは剥離する
ような問題は発生しなかった。
【0033】また、アルミナ薄膜の成膜およびパターニ
ングは、以下の通り行った。フッ素化ポリイミド製離型
層を備えたドナー基板の上にフォトレジストを全面塗布
し、屈折率周期構造体4の各レーヤー形状に対応する露
光と現像を行い、各レーヤー形状に対応するフォトレジ
ストのパターンを形成した。次に、成膜装置1を用いて
全面にアルミナ薄膜をスパッタリング法にて2.5mm
成膜した。次に、残存するフォトレジストをその上に着
膜しているアルミナ薄膜と共に剥離すること(リフトオ
フ法)により、屈折率周期構造体4の各レーヤー形状に
対応したパターンを有するアルミナ薄膜を得た。尚、各
アルミナ製ストライプの幅は2.5mm、ストライプの
周期は7.0mmとした。
【0034】(実施例3)実施例1にて作製した、表面
にWoodpile状屈折率周期構造体を形成したSi
ウエハに、Woodpile状屈折率周期構造体側から
別のSiウエハを押し当て、Siウエハ同士を加圧保持
した状態にて、1000℃で10分間処理することによ
り、有機高分子化合物を完全に消失させると同時にSi
製ストライプ同士ならびにそれとSiウエハをボンディ
ングさせ、2枚のSiウエハの間にSi製ストライプと
空隙から構成されるWoodpile状屈折率周期構造
体を有する構造物を得た。
【0035】実施例3で得られた2枚のSiウエハの間
にSi製ストライプと空隙から構成されるWoodpi
le状屈折率周期構造体を有する構造物に対して、Fo
urier−Transfer赤外分光装置を用い、赤
外光の透過特性を評価した。比較のために、Si基板上
に、実施例1と同様の成膜方法にて、パターン化せずに
6.4μmのSi薄膜を形成したものを用い、実施例3
と同様にして作製した2枚のSi基板の間にSi製薄膜
を有する構造物に対しても、同様に赤外光の透過特性を
評価した。
【0036】2枚のSiウエハの間にSi製薄膜を有す
る構造物は、測定した9〜12μmの波長域においては
ほぼ透明であったのに対して、2枚のSiウエハの間に
Si製ストライプと空隙から構成されるWoodpil
e状屈折率周期構造体を有する構造物は、該波長域にお
いて約15dBに及ぶ大きな光減衰を示した。この大き
な光減衰はフォトニックバンドギャップの形成を支持す
るものであり、本Woodpile状屈折率周期構造体
がフォトニック結晶として有効に機能することが確認さ
れた。
【0037】(実施例4)図6は、本発明のパターニン
グ工程の他の例を示す模式図で、(a)は断面図、
(b)は平面図である。図示のように、各薄膜パーツ6
a〜6dには接合用の枠部610が設けられている。本
実施例では、各薄膜パーツ6a〜6dのパターン空隙部
には接着性有機材料は充填されず、各薄膜パーツの枠部
610間を接着性有機材料で接着する。接着性有機材料
は、好ましくは図示のように、各薄膜パーツの枠部外側
に設けられた切り欠き部620に配置される。切り欠き
部620には、例えば、インクジェット方式で接着性有
機材料を配置することができる。このように構成するこ
とにより、パターン空隙部は屈折率1の空気で満たされ
るので、薄膜パーツの材料とパターン空隙部との屈折率
差を大きくすることができ、良好な特性の周期構造体を
得ることができる。また、接着性有機材料は切り欠き部
620に設けられるので、各薄膜パーツの積層時にその
枠部間を接着する接着性有機材料が枠部外側に逃がされ
て、パターン空隙部側には影響を与えないので、特性の
安定した周期構造が得られる。
【0038】上記の通り、本発明は、フォトニック結晶
等に活用される新規な屈折率周期構造体、ならびにその
簡便且つ高生産性を誇る新規な製造方法を提供するもの
であり、前述の従来技術の諸問題を解決し得るものであ
る。本発明の製造方法によって齎される効果を以下に列
挙する。 [イ]成膜とパターニングにより、屈折率周期構造体を
構成する全てのレーヤーを含んだ薄膜パーツを一括して
形成するため、その後は積層転写の工程を繰り返すだけ
で屈折率周期構造体を作製できることから、全行程に要
する時間が非常に短くて済む。 [ロ]薄膜に、複数の同一または異なる屈折率周期構造
体に対応するレーヤーセットを形成しておけば、一回の
工程で、複数の同一または異なる屈折率周期構造体を一
気に作製することができ、非常に高い生産性が実現され
る。 [ハ]薄膜材料として無機材料を用いても、有機材料に
よって接着接合することから、一般的に無機材料同士を
接合するに要する過酷な温度、圧力条件に比して、非常
に温和な条件にて屈折率周期構造体を作製することがで
き、製造設備が簡便なもので済み、ひいては製造コスト
が低減できる。 [ニ]一連の工程で得られる、Si等の無機材料と、有
機高分子化合物等の有機材料とから構成される屈折率周
期構造体を、高温にて処理することによって、有機材料
を消失させると共に無機材料同士をボンディングさせ、
無機材料と空隙のみからなる屈折率周期構造体を得るこ
とができる。さらに、これを鋳型として、プラスチック
等を、射出成形法、エンボス成形法等によって、成形す
ることにより、マイクロレンズアレイ、グレーティング
等の微小光学部品等を大量に生産することもできる。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば、所望の波長の電磁波を
制御することができる有用且つ新規な屈折率周期構造体
を得ることができる。さらに、このような屈折率周期構
造体を容易且つ安価に製造可能な屈折率周期構造体の製
造方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の製造方法に係る製造システムの一例を
示すブロック図である。
【図2】本発明の製造方法に係る転写装置の一例を示す
模式図である。
【図3】本発明の屈折率周期構造体の一例を示す部分的
斜視図である。
【図4】本発明における成膜工程およびパターニング工
程の一例を示す模式図で、(a)および(b)は断面
図、(c)は平面図である。
【図5】(a)〜(f)は本発明の製造方法に係る転写
工程の一例を示す模式図である。
【図6】本発明のパターニング工程の他の例を示す模式
図で、(a)は断面図、(b)は平面図である。
【符号の説明】
1 成膜装置 2 パターニング装置 3 転写装置 4a〜4d 薄膜パーツ 5 有機材料供給装置 301 基板ホルダ 302 ステージ 400 ドナー基板 401 離型層 403 アライメントマーク 500 アクセプター基板 501 カッター 600 接着性有機材料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H047 KA00 PA02 PA03 PA04 PA05 PA06 PA21 PA22 PA24 QA01 QA02 QA05 TA41 2H049 AA03 AA33 AA44 AA59 AA65

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定のパターンを有する複数の薄膜パー
    ツの積層体と、各薄膜パーツのパターン空隙部に充填さ
    れた接着性有機材料とを備えたことを特徴とする屈折率
    周期構造体。
  2. 【請求項2】 枠部の内側に所定のパターンを有する複
    数の薄膜パーツの積層体と、各薄膜パーツの枠部間を接
    着する接着性有機材料とを備えたことを特徴とする屈折
    率周期構造体。
  3. 【請求項3】 接着性有機材料が、各薄膜パーツの枠部
    外側の切り欠き部に配置されることを特徴とする請求項
    2記載の屈折率周期構造体。
  4. 【請求項4】 薄膜パーツの材料が金属、セラミック
    ス、または無機半導体であることを特徴とする請求項1
    〜3のいずれかに記載の屈折率周期構造体。
  5. 【請求項5】 接着性有機材料が有機高分子化合物であ
    ることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の屈
    折率周期構造体。
  6. 【請求項6】 ドナー基板上に所定のパターンを有する
    複数の薄膜パーツを形成する第1の工程と、各薄膜パー
    ツ上に接着性有機材料を供給する第2の工程と、アクセ
    プター基板を用いて接着性有機材料が供給された各薄膜
    パーツを順次ドナー基板上から剥離してアクセプター基
    板上に積層転写する第3の工程とを含むことを特徴とす
    る屈折率周期構造体の製造方法。
  7. 【請求項7】 外部エネルギーにより、接着性有機材料
    を除去し、且つ薄膜パーツ同士をボンディングさせる第
    4の工程を含むことを特徴とする請求項6記載の製造方
    法。
  8. 【請求項8】 第2の工程において、接着性有機材料を
    供給する方法が、塗布法であることを特徴とする請求項
    6または7記載の製造方法。
  9. 【請求項9】 第3の工程において、複数の薄膜パーツ
    を積層転写する際に、光照射、加熱および加圧の少なく
    とも1つを行うことを特徴とする請求項6〜8のいずれ
    かに記載の製造方法。
  10. 【請求項10】 ドナー基板の表面に離型層が形成され
    ていることを特徴とする請求項6〜9のいずれかに記載
    の製造方法。
  11. 【請求項11】 請求項6〜10のいずれかに記載の製
    造方法により製造されたことを特徴とする屈折率周期構
    造体。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006084885A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Shimadzu Corp レプリカ回折格子の製造方法
JP2008000826A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Fuji Xerox Co Ltd 3次元構造体およびその製造方法
JP2010508554A (ja) * 2006-10-31 2010-03-18 オーワイ モディネス エルティディ. 複雑な三次元形状をもつ光学製品の製造方法および製造機構
US20130011626A1 (en) * 2010-03-15 2013-01-10 Agency For Science, Technology And Research Process for forming a laminated structure
JP2016539500A (ja) * 2014-01-21 2016-12-15 カティーバ, インコーポレイテッド 電子デバイスのカプセル化のための装置および技術
US9579905B2 (en) 2014-01-21 2017-02-28 Kateeva, Inc. Apparatus and techniques for electronic device encapsulation
US9586226B2 (en) 2014-04-30 2017-03-07 Kateeva, Inc. Gas cushion apparatus and techniques for substrate coating
US20200158911A1 (en) * 2018-11-16 2020-05-21 Trustees Of Tufts College Hierarchical photonic crystals and methods of making the same
US11107712B2 (en) 2013-12-26 2021-08-31 Kateeva, Inc. Techniques for thermal treatment of electronic devices
US11633968B2 (en) 2008-06-13 2023-04-25 Kateeva, Inc. Low-particle gas enclosure systems and methods
US11975546B2 (en) 2008-06-13 2024-05-07 Kateeva, Inc. Gas enclosure assembly and system
US12018857B2 (en) 2008-06-13 2024-06-25 Kateeva, Inc. Gas enclosure assembly and system
US12064979B2 (en) 2008-06-13 2024-08-20 Kateeva, Inc. Low-particle gas enclosure systems and methods

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006084885A (ja) * 2004-09-17 2006-03-30 Shimadzu Corp レプリカ回折格子の製造方法
JP2008000826A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Fuji Xerox Co Ltd 3次元構造体およびその製造方法
JP2010508554A (ja) * 2006-10-31 2010-03-18 オーワイ モディネス エルティディ. 複雑な三次元形状をもつ光学製品の製造方法および製造機構
US12344014B2 (en) 2008-06-13 2025-07-01 Kateeva, Inc. Gas enclosure assembly and system
US12064979B2 (en) 2008-06-13 2024-08-20 Kateeva, Inc. Low-particle gas enclosure systems and methods
US12018857B2 (en) 2008-06-13 2024-06-25 Kateeva, Inc. Gas enclosure assembly and system
US11975546B2 (en) 2008-06-13 2024-05-07 Kateeva, Inc. Gas enclosure assembly and system
US11633968B2 (en) 2008-06-13 2023-04-25 Kateeva, Inc. Low-particle gas enclosure systems and methods
US20130011626A1 (en) * 2010-03-15 2013-01-10 Agency For Science, Technology And Research Process for forming a laminated structure
US9138977B2 (en) * 2010-03-15 2015-09-22 Agency For Science, Technology And Research Process for forming a laminated structure
US12575362B2 (en) 2013-12-26 2026-03-10 Kateeva, Inc. Techniques for thermal treatment of electronic devices
US11107712B2 (en) 2013-12-26 2021-08-31 Kateeva, Inc. Techniques for thermal treatment of electronic devices
US12040203B2 (en) 2013-12-26 2024-07-16 Kateeva, Inc. Techniques for thermal treatment of electronic devices
US11489119B2 (en) 2014-01-21 2022-11-01 Kateeva, Inc. Apparatus and techniques for electronic device encapsulation
US12525467B2 (en) 2014-01-21 2026-01-13 Kateeva, Inc. Apparatus and techniques for electronic device encapsulation
US10512931B2 (en) 2014-01-21 2019-12-24 Kateeva, Inc. Apparatus and techniques for electronic device encapsulation
US9579905B2 (en) 2014-01-21 2017-02-28 Kateeva, Inc. Apparatus and techniques for electronic device encapsulation
JP2016539500A (ja) * 2014-01-21 2016-12-15 カティーバ, インコーポレイテッド 電子デバイスのカプセル化のための装置および技術
US11338319B2 (en) 2014-04-30 2022-05-24 Kateeva, Inc. Gas cushion apparatus and techniques for substrate coating
US10537911B2 (en) 2014-04-30 2020-01-21 Kateeva, Inc. Gas cushion apparatus and techniques for substrate coating
US9586226B2 (en) 2014-04-30 2017-03-07 Kateeva, Inc. Gas cushion apparatus and techniques for substrate coating
US20200158911A1 (en) * 2018-11-16 2020-05-21 Trustees Of Tufts College Hierarchical photonic crystals and methods of making the same
US11885929B2 (en) * 2018-11-16 2024-01-30 Trustees Of Tufts College Hierarchical photonic crystals and methods of making the same

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