JP2003289621A - 超電導限流モジュールおよび超電導限流ユニット - Google Patents
超電導限流モジュールおよび超電導限流ユニットInfo
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Abstract
均一に電流を流すことができ、限流動作開始時の素子損
傷を抑制できる超電導限流モジュール、および複数の超
電導限流モジュールを直列接続しても均一に電流を流せ
る超電導限流ユニットを提供する。 【解決手段】 絶縁基板とその上に形成された超電導薄
膜とを有する超電導限流素子(1)の1つまたは直列接
続した複数を一部品として用い、複数の前記部品を並列
接続した超電導限流モジュールであって、前記部品に含
まれる超電導限流素子(1)はある中心軸(3)の周り
に放射状に配置され、かつ各超電導限流素子(1)に設
けられた通電用の2つの電流パッドが前記中心軸(3)
から異なる距離に位置する。
Description
素子を用いて電路に流れる短絡電流などの過大な電流を
瞬時に抑制する超電導限流モジュールおよび複数の超電
導限流モジュールを電気的に接続した超電導限流ユニッ
トに関する。
どの電線が電気的に大地に接触したり、また電線どうし
が接触したりするといった事故が発生すると非常に大き
な事故電流が流れ、この電力系統に接続してある変圧
器、ケーブルなどの電力機器に対し温度上昇などの悪影
響を及ぼすことになる。そこで、このような事故電流か
ら電力システムを保護するため、高速で事故電流を抑制
することのできる機器(限流器)の研究がすすめられて
いる。事故電流を抑制する手段としては、GTOなどの
パワー半導体を利用するもの、アーク放電現象を利用す
るもの、またはダイオードブリッジを使用したものなど
いろいろな種類が検討されている。そのなかでも、超電
導体に臨界電流(以下、Icと記す)を大きく超える電
流が流れるとその超電導体が瞬時に超電導状態から常電
導状態へ変化し抵抗を発生する現象を利用した素子(以
下、超電導限流素子と略記)は、限流動作開始のための
制御装置が不要で、かつ電力系統に直列に接続するとい
う単純な構成のために信頼性が高く実現が期待されてい
る機器である。
状態になる温度が10K程度と非常に低いため、これを
用いた場合には超電導限流素子を動作させるための冷却
コストが高く、経済的に見合った価格での限流器作製が
困難であった。そこで、最近では、金属系超電導体より
も超電導転移温度が高く、安価な値段で使用できる液体
窒素による冷却でも超電導状態となる、いわゆる酸化物
超電導体を用いた超電導限流素子の研究が進められてい
る。また、超電導限流素子を小型に作製するためには臨
界電流密度が大きいことが重要であるが、一般にバルク
超電導体よりも単結晶基板などのように絶縁基板の上に
成膜した超電導薄膜の方が高い臨界電流密度を持つこと
から超電導限流素子開発は主に超電導薄膜を用いて行わ
れている。
基板や製造方法などにより大きさの制限を受け、超電導
限流素子の作製に適した超電導薄膜の幅は現状では1c
m程度である。このような超電導薄膜を液体窒素で冷却
した場合、臨界電流の値は約50−100A程度とな
る。また、1つの超電導限流素子に印加できる電圧は1
00−1kV程度である。一方、限流器を必要とする送
電線や配電線を流れる典型的な電流は1kA以上であ
り、また電圧は最も低い配電系統でも6.6kVであ
る。したがって、限流器を構成するためには電流容量を
増やす必要があり、複数の超電導限流素子を使用して電
気的に並列に接続しなければならない。また、印加可能
電圧も大きくする必要があり、そのためには超電導限流
素子を直列に接続した超電導限流モジュールの作製、ま
たは超電導限流モジュールをさらに複数枚接続した超電
導限流ユニットを構成することが考えられている。
接続した場合には通常通電時および限流動作開始時に以
下のような問題が発生することが知られている。
に電流は各超電導体を均一には流れず、超電導限流素子
によって流れる電流の値が異なる。これにより発生電圧
はすべての超電導限流素子に均一に電流が流れた場合よ
りも大きな値となってしまう。そのために並列接続超電
導体の通常通電損失は、一枚の超電導限流素子に交流通
電を行った場合の損失を枚数分足し上げたものよりも増
大してしまうという問題が発生する。また、仮に各超電
導限流素子に均一に電流が流れたとしても超電導限流素
子を複数枚接続することにより通電時の電流が大きくな
り、その結果、各超電導限流素子に印加される自己磁界
は、素子の並列数を増やすと大きくなる。この印加磁界
増大の影響によって超電導体の臨界電流値は低下し、並
列化素子の臨界電流値は1素子の場合よりも小さくなっ
てしまう。一方、超電導体の交流損失の一種であるヒス
テリシス損失は(通電電流/臨界電流)の値が大きいほ
ど大きくなる。すなわち、1素子に通電した場合と並列
化素子に通電した場合とでヒステリシス損失を比較する
と、並列化素子を流れる電流がすべて1素子の通電と等
しい場合でも臨界電流値の低下の影響でヒステリシス損
失は増大し、その結果限流器の効率は低下してしまう。
術においては完全に均質な膜を得ることはできず、ある
程度の特性ばらつきが生じてしまう。これに起因して超
電導限流素子が過電流により常伝導状態へと転移する際
には全素子のうち最もIcの小さい領域から転移が始ま
ることになる。これにより電流は他の超電導限流素子へ
と転流する。次に、転流によって急に電流が増えた超電
導限流素子が局所的に常伝導転移を始め、さらに元の超
電導限流素子または他の超電導限流素子へと電流を転流
するという現象が発生する。並列化した超電導限流素子
はこのようなことを繰り替えしながら常伝導領域を拡大
していき、最終的に大きな抵抗を発生するわけである。
このような現象は以前より実験的に知られている(例え
ば平成10年電気学会全国大会講演論文集1211中の
図2.2参照)。一方、このような現象が発生すると、
電流は振動することになり、1素子の場合には流れなか
った大きな電流が1素子に集中し、これにもとづく過大
な発熱により限流開始時に超電導限流素子が損傷してし
まうといった現象がしばしば発生する。
には電気絶縁の問題や、あらたに直列化による超電導限
流素子間の電流分布の不均一が生じる。一般に電力系統
に事故が発生し限流器が動作した場合、限流器の両端間
には系統電圧に匹敵する電圧またはサージ電圧などによ
りそれ以上の電圧が印加される。この電圧に対する電気
絶縁設計をするためには限流器動作時に内部で発生する
電圧はなるべく一方向に変化していくことが望ましい。
金属系超電導体を用いた場合には超電導線材をコイル形
状に巻くことでこの実現が可能であった。すなわち、超
電導線がコイルの1ターンで発生する電圧は系統電圧と
比較して小さいので発生する電圧はコイルの軸方向に沿
って変化するわけである。一方、絶縁基板を用いた超電
導限流素子は曲げることができないため、金属系超電導
体で可能であったようにコイル状に巻くことによりコン
パクトな空間に収めることが困難である。また、複数の
超電導限流モジュールを接続部分で折り曲げてコンパク
トな空間に収納することも考えられる。しかし、仮に1
つの超電導限流モジュールだけを考えていた場合には均
一に電流を流せるとしても、直列接続により折り曲げら
れて配置された次の超電導限流モジュールの発生する磁
界はその前の超電導限流モジュールに対して均一には印
加されない。その結果、直列化により電流分布が不均一
になってしまう。
電導限流素子に対し均一に電流を流すことができ、限流
動作開始時の素子損傷を抑制できる超電導限流モジュー
ルを提供するとともに、複数の超電導限流モジュールを
直列接続しても均一に電流を流せる超電導限流ユニット
を提供することにある。
電導限流モジュールは、絶縁基板とその上に形成された
超電導薄膜とを有する超電導限流素子の1つまたは直列
接続した複数を一部品として用い、複数の前記部品を並
列接続した超電導限流モジュールであって、前記部品に
含まれる超電導限流素子はある中心軸の周りに放射状に
配置され、かつ各超電導限流素子に設けられた通電用の
2つの電流パッドが前記中心軸から異なる距離に位置す
ることを特徴とする。
トは、上記の超電導限流モジュールの複数を、各超電導
限流モジュールの中心軸を一致させて配置して、直列に
接続したことを特徴とする。
電導限流モジュールおよび超電導限流ユニットについて
説明する。
ールは、並列接続された複数の超電導限流素子(または
複数の超電導限流素子を直列接続した部品を用いてもよ
い)を含む。
流電流を流す場合、電流は各々の電気伝導体の抵抗と各
々の電気伝導体の自己インダクタンスおよび並列接続さ
れた電気伝導体相互の位置関係により決まる相互インダ
クタンスの大きさにより決定される。
線)はその抵抗値が比較的大きいため、商用周波数程度
の交流通電の場合には並列に接続した各電線を流れる電
流はほとんど抵抗成分により決定される。したがって、
並列接続された通常の電線に電流を流す場合には、抵抗
値の等しい電線を用いることにより比較的簡単に電流値
を均一にすることができる。
超電導体の並列回路を流れる交流電流は主にインダクタ
ンス成分により決まる。このような場合、以下のような
考察から並列接続された超電導体には電流が均一に流れ
ない理由がわかる。
子の並列回路に交流電圧Vを印加した場合を考える。そ
れぞれの超電導素子に1からNの番号をつけ、それぞれ
の超電導素子を流れる電流をI1、I2、・・・、INと
する。また、電源を含み超電導素子iを通る閉回路をC
iとおく。このときの回路方程式は、各超電導素子の抵
抗成分Ri、回路Ciの自己インダクタンスLi、回路Ci
と回路Cjとの相互インダクタンスMi,jを用いて、式
(1)で表すことができる(ここでは、超電導素子以外
の抵抗成分はないものと仮定している)。
閉回路Ciを貫く磁束Φiの時間微分となっている。した
がって式(1)は式(2)に書き直すことができる。
である。この式(2)からIjについての回路方程式を
引くと式(3)が得られる。
電流を流したときのようにRi=0と近似できる場合に
は式(4)が得られる。
い定数であることが導かれるが、この定数は零と考えて
も一般性を失わないために以下の議論では式(5)のよ
うにこの定数は零とおいた。
Iiの流れる線路と電流Ijの流れる線路とが作る閉ルー
プを貫く磁束である。式(5)から、複数の超電導素子
を並列に接続した場合には、2つの超電導素子が作る閉
ループに磁束が貫かないように電流が流れることがわか
る。これが超電導素子を並列に接続した場合の大きな特
徴である。
ないことを、図3を参照して検討する。図3には、並列
に接続された3つの超電導素子を示している。まず、
(a)仮に各超電導素子に均一に電流が流れたとする。
この場合、(b)領域Xについて考えると、超電導素子
1aと超電導素子1bとが作る磁束が完全打ち消しあ
う。したがって領域Xでは超電導素子1cが作る磁束が
貫く。(c)このような状態は式(5)を満たさない。
したがって(d)超電導素子1aと超電導素子1bの作
る磁束の差で超電導素子1cの作る磁束を打ち消しあう
必要がある。そこで最終的に(e)超電導素子1aの方
が超電導素子1bよりも電流が多く流れる。すなわち、
複数の超電導素子を並列に接続した場合に一般に電流が
均一に流れない理由は、均一に電流が流れるとすると複
数の超電導素子が作る閉ループを貫く磁束が生じるため
であると考えてもよい。
流を均一にするためには、仮に均一に電流が流れるとし
たときに各超電導素子間に形成される閉ループを貫く磁
束がなるべく少なくなるように各超電導素子の空間的配
置を決めればよいことがわかる。
が均一に流れない理由は、閉ループの左右にある超電導
素子の数が異なることが原因であることがわかる。した
がって、超電導素子に流れる電流を均一にしたい場合に
は、2つの超電導素子が作る閉ループの左右にある素子
数がどの閉ループについてもあまり異ならないようにす
ればよい。このためには超電導素子を並列接続する場合
に、図3のように端がある配置は避けなければならず、
超電導素子をある中心軸の周りに放射状に配置すること
が有効である。
施形態に係る超電導限流モジュールの平面図および斜視
図を示す。図4(a)および(b)においては、絶縁基
板とその上に形成された超電導薄膜とを有する超電導限
流素子1を一部品として用いている。そして、部品とし
ての超電導限流素子1の複数を中心軸3の周りに放射状
に配置し、複数の超電導限流素子1の中心部および周辺
部にそれぞれ並列接続用のブリッジ2、2を設けること
により、これらの超電導限流素子1を並列接続してい
る。ブリッジ2、2の超電導限流素子1との接続点が各
超電導限流素子1への通電用の2つの電流パッドとな
り、これらは中心軸3から異なる距離に位置する。
に対して、中心から外側に向かって電流を流した場合に
発生する磁界10を示す。すなわち、複数の超電導限流
素子1を放射状に配列することにより、複数の超電導限
流素子1の作る閉ループを貫く磁束を低減することがで
き、その結果、超電導限流素子1に流れる電流を均一に
することができる。
に流れる電流の均一性を高めるためには、複数の超電導
限流素子をある中心軸の周りに配置し、かつ任意の2つ
の超電導限流素子が中心軸の周りでの回転によって、超
電導限流モジュール全体の空間的配置を変えずに移り変
われる対称性を有することが好ましい。図5に、本発明
の他の実施形態に係る対称性の高い配置を持つ超電導限
流モジュールの平面図を示す。この場合に各超電導限流
素子に電流が均一に流れる理由を以下に示す。
1からNの番号をつけた場合、i番目の超電導素子に流
れる電流Iiは、式(1)より式(6)と表すことがで
きる(ここでは、既に抵抗成分は十分に小さいと考えて
0とおいた)。
は中心軸の周りでの回転により、部品である超電導限流
素子の位置が移り変わることができ、かつ全体の幾何学
的配置が変化しない。そこで、このような回転の1つに
より、それぞれの部品の位置が、 部品1→部品1’、部品2→部品2’、・・・、部品N→部品N’ と変わるものとする。
をあらためて1、2’の位置にある超電導限流素子をあ
らためて2、N’の位置にある部品をあらためてNとす
る別の番号付けを考える。すると、この番号付けによる
i番目の超電導限流素子は前の番号付けでi番目だった
超電導限流素子とは異なるため、一般にはその自己イン
ダクタンス値が変化し、L’iとなる。同様に相互イン
ダクタンスもMi,jからM’i,jへと変わる。したがっ
て、あらたな番号付けによる回路方程式は式(7)で与
えられる。
ダクタンスの大部分は、並列接続のために電線が分岐す
る前の回路部分により決まるため、超電導限流素子間で
あまり異ならず、LiとL’iはほぼ等しいと考えてよ
い。また、M’i,jはあらたな番号付けによるi番目の
電流経路Ciとj番目の電流経路Cjとが作る相互インダ
クタンスであるが、回転によって全体の配置が変化しな
いので、あらたな番号付けによる超電導限流素子iと超
電導限流素子jとの相互の位置関係は、元の番号付けに
よるi番目の超電導限流素子とj番目の超電導限流素子
との相互の位置関係と等しくなっている。したがって、
相互の位置関係によって決まる相互インダクタンスは等
しくなる。これを式で表すとM’i,j=Mi,jとなる。以
上のことより式(7)は式(8)と表すことができる。
る。すなわち、式(8)のIiと式(6)のIiとは同じ
値となる。一方、式(8)のi番目の超電導限流素子は
元の番号付けではi’の超電導限流素子である。以上の
ことより、Ii=I’iとなることがわかる。また、図5
の超電導限流モジュールでは、任意の部品間を移し変え
る回転が存在することから、結局すべての電流値が等し
いことが導かれる。
形成される閉ループを貫く磁束が少なくなるような空間
的配置は、たとえば図6(a)のように、複数の超電導
限流素子1を正多角形柱の側面に配置することによって
も実現することができる。しかし、このような構造で
は、多角形柱の内部に使用することのできない空間が生
じてしまい、コンパクトな超電導限流モジュールを作製
するには障害となる。さらに、図6(b)に示すよう
に、印加可能電圧の向上を目指して、複数の超電導限流
モジュールを直列接続用のブリッジ4を介して直列化し
た場合、その全長は直列数に比例して長くなり、コンパ
クトな限流器を作製することが困難となる。また、コン
パクトな空間に収納するためには、図6(c)に示すよ
うに、直列接続用のブリッジ4の一部を折り曲げて接続
することが考えられる。しかし、この構造では、1つの
超電導限流モジュール内では複数の超電導限流素子が幾
何学的に等しい位置にあっても、たとえば図6(c)の
超電導限流素子1aと超電導限流素子1bとでは、他の
線路からの影響に差がでるため、均等に電流を流すこと
ができなくなる。
限流素子どうしが作る閉ループ間には磁束が貫かないと
いう性質は、磁界がどのような電流によって発生してい
るのかに依存しない。したがって、直列接続された他の
超電導限流モジュールが発生する磁界が、ある超電導限
流モジュールを構成する並列素子の作る閉ループを貫こ
うとするとき、これを遮蔽するように電流分布が変化す
る。すなわち、他の超電導限流モジュールの発生する磁
界がある超電導限流モジュールに不均一に印加される場
合には、1つの超電導限流モジュールでは均一に電流が
流せたとしても、複数の超電導限流モジュールを直列化
した超電導限流ユニットでは電流が不均一となる。
ては、たとえば図7(a)の斜視図に示すように、上記
の超電導限流モジュールを複数用い、その中心軸を一致
させて配置し、互いに直列接続した超電導限流ユニット
を提供することにより上記の問題を解消する。図7
(b)は、図7(a)の超電導限流ユニットを、中心軸
を含む平面で切断した断面図である。この図に示される
ように、複数の超電導限流モジュールは、ブリッジ4に
よって直列に接続されている。このような超電導限流ユ
ニットでは、1つの超電導限流モジュールに含まれる超
電導限流素子に対して、他の超電導限流モジュールの作
る磁界の影響を均一化でき、どの超電導限流素子に対し
ても均一電流を流すことができるようになる。
流モジュールを、中心軸を含む平面で切断した断面図を
示す。この図に示されるように、ある中心軸の周りに超
電導限流素子を配置し、1つの超電導限流素子1に設け
られる通電用の2つの電流パッド6が中心軸から異なっ
た距離に位置するようにすれば、素子長7よりも超電導
限流モジュールの厚さ8を小さくすることができ、均一
に電流が流せる直並列接続とコンパクト性の両方を実現
することができる。
限流素子に電流が流れることにより発生する自己磁界の
大部分は膜面に平行になる。しかし、厳密にいえば、並
列接続された超電導限流素子間に隙間があるために、小
さいとはいえ超電導薄膜の膜面に対し垂直な磁界が印加
される。図9にこの様子を示す。この図は、本発明の実
施形態に係る超電導限流モジュールの部品である超電導
限流素子1の端部を拡大した斜視図である。各超電導限
流素子1に電流Iが流れることにより超電導限流モジュ
ールで発生する主要な磁界成分はHで表している。この
図に示されるように、超電導限流素子1間に隙間がある
ために、個々の超電導限流素子1に電流が流れることに
よって個々の超電導限流素子1が磁界成分H1を発生
し、超電導限流素子1の膜面垂直に小さな磁界成分Hp
が印加される。一般に超電導体は磁界を印加するとIc
などの値が低下し通電損失が増大するため、このような
垂直磁界がなるべく印加されないようにすることが望ま
しい。
の両面にそれぞれ保持された複数の超電導限流素子を有
し、板状支持体の表面および裏面の超電導限流素子を、
互いに逆方向の電流が流れるように直列接続した部品を
用いて、超電導限流モジュールを作製することが好まし
い。図10に、このような超電導限流モジュールに用い
られる部品の端部の斜視図を示す。板状支持体の両面に
それぞれ保持された複数の超電導限流素子1を直列接続
するには、たとえば図11(a)および図11(b)に
示したように、板状支持体5の周辺部または中心部に直
列接続用のブリッジ2を設け、板状支持体5の表裏の超
電導限流素子どうしを接続すればよい。
電流が流れる超電導限流素子1が板状支持体(図10に
は図示せず)を介して上下に近接して配置されている
と、表面の超電導限流素子による磁界成分H1と裏面の
超電導限流素子による磁界成分H1'とが互いに打ち消し
あうため、超電導限流素子1の膜面垂直に磁界成分が印
加されるのを抑制することができる。この効果は上下の
超電導限流素子間の距離が近いほど大きいので、一面の
みに超電導限流素子が形成されている2つの超電導限流
モジュールを直列接続する場合と比較すると、板状支持
体の両面に超電導限流素子を配置して直列接続する場合
の方が望ましいといえる。
を配置すれば、上記のように外部への発生磁界を小さく
することができるので、複数の超電導限流モジュールを
直列接続して作製された超電導限流ユニット全体の電流
均一化にも効果がある。すなわち、図10に示した超電
導限流モジュールの複数を、図7(a)のように配置し
て直列接続することにより超電導限流ユニットを作製す
ると、各超電導限流素子に印加される膜面垂直磁界を低
減できることに加えて、個々の超電導限流モジュールが
外部へ発生する磁界を小さくできるので、互いの影響を
さらに小さくすることができ、超電導限流ユニット全体
で電流を均一化できる。したがって、図10に示した超
電導限流モジュールは特性の向上にも寄与できる。
電導限流素子は絶縁基板17の片面(表面)に超電導薄
膜16を有する。このような超電導限流素子を板状支持
体の両面に設けるために板状支持体に対して絶縁基板側
を接着した場合、複数の超電導限流モジュールを直列接
続する際に、互いに近接する超電導限流モジュール間で
超電導限流素素子が向かいあうことになり、電気的な絶
縁が課題となる。
面図で示す超電導限流ユニットのように、超電導限流モ
ジュール1間に固体の絶縁体11を挟んで電気絶縁を確
保することが好ましい。
流により限流動作する際に、超電導限流素子間で電流が
振動する理由について説明する。
子1a、1bが並列に接続されている場合を考える。こ
のとき超電導限流素子1aの常伝導転移する電流値が小
さく、ある電流値で局所的に常伝導転移を始め、抵抗を
発生したとする。このとき超電導限流素子1bはまだ抵
抗成分を持たないために、電流は超電導限流素子1aか
ら超電導限流素子1bに転流しようとする。しかし、回
路のインダクタンスLがあるため、電流は超電導限流素
子1bに急激に転流することはできず、少しの時間遅れ
を生じて超電導限流素子1bへと転流(転流電流It)
する。このあいだ超電導限流素子1aでは常伝導領域の
拡大や温度上昇の影響で発生電圧が大きくなり、発生電
圧から決まる転流しなければならない電流量が増大す
る。その後、超電導限流素子1bの電流が増大し、局所
的に常伝導転移して超電導限流素子1aと同じ電圧を発
生しても、電流が急激に零になることはなく、超電導限
流素子1bの電流は増大し続ける。これは、転流にとも
なうインダクタンスLの影響により、転流電流Itが急
激に零になることはないためである。したがって、転流
電流Itが流れる閉ループのインダクタンスLが大きい
ほど、並列接続された超電導限流モジュールが限流動作
を開始する際に振動する電流の振幅は大きいと考えられ
る。したがって、複数の超電導体間での転流に関係する
ループは小さいほどよい。
くするためには、図15(a)に示す超電導限流モジュ
ールのように超電導限流素子1を両端だけで並列に接続
した構造よりも、図15(b)に示す超電導限流モジュ
ールのように超電導限流素子1どうしを3個所以上(両
端で接続されている部分を除くと一箇所以上)で接続し
た構造とすることが好ましい。これらの図において局所
クエンチ部12が生じたときに転流に関係するループの
面積を比較すると、図15(a)のループ13aよりも
図15(b)のループ13bの方が小さく、その結果ル
ープインダクタンス成分が小さくなる。したがって、図
15(b)のように、同一の超電導限流モジュールに含
まれる複数の超電導限流素子が少なくとも3個所以上で
並列接続されていると、限流開始時の電流振動現象を抑
制でき、素子破壊をすることなしに大電流を抑制するこ
とができる。
流モジュールを作製した。
ァイア基板上に、YBCO系の超電導薄膜を形成して超
電導限流素子を作製した。この超電導限流素子は、液体
窒素温度でほぼ80Aの臨界電流値(臨界電流は発生電
圧1μV/cmで定義している)を持つ。このような超
電導限流素子を8個用意した。図16(a)に示すよう
に、これらの超電導限流素子1を、厚さ5mm、長径2
4cm、短径20cmの楕円状FRP板からなる支持体
5上に放射状に配置し、FRPの板とビスを用いて固定
した。超電導限流素子1の両端部(中心部および周辺部
の1cmの部分)に並列接続用のブリッジ2、2を接続
して超電導限流モジュールを作製した。ブリッジ2、2
の超電導限流素子1との接続点が各超電導限流素子1へ
の通電用の2つの電流パッドとなり、これらは支持体5
の中心軸から異なる距離に位置する。この超電導限流モ
ジュールは、支持体5の中心軸の周りで180°回転し
ても全体の空間的配置が変わらないという対称性を有す
る。
を用いて超電導限流モジュールを作製している。しか
し、超電導限流素子1が放射状に配置され、各超電導限
流素子1に設けられた通電用の2つの電流パッドが中心
軸から異なる距離に位置し、任意の2つの超電導限流素
子1が対称性をもって配置されているという条件を満た
していれば、超電導限流素子1の枚数は特に限定されな
い。
(b)に示すように、中心部のブリッジ2および周辺部
2のブリッジ2に配線15を接続した。このとき、超電
導限流モジュール内の電流分布が乱されないように、配
線15が発生する磁界の影響をなるべく均等になるよう
にしている。
の連続通電を行い、各超電導限流素子を流れる電流値を
測定した。この際、回路に抵抗成分が入らないように各
超電導限流素子の周りにロゴスキーコイルを配置して電
流を測定した。図17(a)に測定結果を示す。また、
図17(b)に、図17(a)のピーク付近の拡大図を
示す。これらの図から、各超電導限流素子にはほぼ均等
に電流が流れていることがわかる。各超電導限流素子で
の電流のばらつきを計算したところ、約3%以内に収ま
っていた。
流モジュールを分解して、8個の超電導限流素子を取り
出し、図18に示すように支持体平面上に1cm間隔で
横並びに配置した超電導限流モジュールを作製した。こ
の超電導限流モジュールに対し上記と同様にして560
Aの連続通電を行った。図19(a)に測定結果を示
す。また、図19(b)に、図19(a)のピーク付近
の拡大図を示す。各超電導限流素子での電流のばらつき
を計算したところ、10%以上であった。このことか
ら、図18のように超電導限流素子を配置した場合に
は、各超電導限流素子に流れる電流の均一性が大きく劣
化することがわかる。
様に、直径22cmの円形FRP板からなる支持体上に
放射状に配置し、超電導限流素子の両端部に並列接続用
のブリッジを接続して超電導限流モジュールを作製し
た。この超電導限流モジュールは、支持体の中心軸の周
りで45°の整数倍の回転をすることにより、全体の空
間的配置を変えずに任意の2つの超電導限流素子が移り
変われる対称性を有する。
の連続通電を行い、各超電導限流素子を流れる電流値を
測定した。その結果は、各超電導限流素子を流れる電流
のばらつきは約2%以内に収まり、実施例1と比べてさ
らに均一性が向上した。
した。まず、図20(a)に示すように、4枚の超電導
限流素子1を厚さ5mm、幅10cm、長さ10cmの
板状FRPからなる支持体5上に配置し、直列接続して
部品を作製した。次に、図20(b)に示すように、こ
の部品を4枚用いて、中心軸の周りで90°の整数倍の
回転をすることにより、全体の空間的配置を変えずに任
意の2つの部品が移り変われる対称性を有するように組
み合わせた。さらに、各部品を互いに並列接続して超電
導限流モジュールを作製した。
却し、ピーク電流280Aの連続通電を行い、各部品を
流れる電流を測定した。その結果、各部品を流れる電流
のばらつきは2%以内であった。
枚の部品を平行に配置し、各部品を互いに並列接続して
超電導限流モジュールを作製した。この超電導限流モジ
ュールに対して上記と同じ条件で通電試験を行った。そ
の結果、外側の2枚の部品どうしまたは内側の2枚の部
品どうしでは流れる電流値は等しかったが、それぞれの
電流ピーク値は79Aおよび61Aとなり、10%以上
のばらつきがあった。
を16個(臨界電流値はすべて約80A)用い、直径2
2cmの円形FRP板からなる支持体の表面および裏面
に8個ずつ放射状に配置した。支持体の表面および裏面
での超電導限流素子1の配置のし方は実施例2、図5と
同じである(図21には支持体の裏面は示されていな
い)。また、支持体の表面および裏面において、超電導
限流素子1の両端部に並列接続用のブリッジ2、2を接
続した。さらに、支持体の表面および裏面で重なる1対
の超電導限流素子1どうしをそれぞれ支持体の周辺部で
直列接続用のブリッジ4により直列接続した。このよう
にして、超電導限流モジュールを作製した。
心部の並列接続用ブリッジ2および裏面中心部の並列接
続用ブリッジ(図21には示されていない)を用いて通
電し、表面の超電導限流素子1についてだけ電流を測定
し、表面中心部の並列接続用ブリッジ2と表裏を接続す
る直列接続用ブリッジ4との間で発生電圧を測定するよ
うにした。この状態で、ピーク電流80A×8個=64
0Aの連続通電を行った。
電導限流素子を支持体の表面にのみ配置した超電導限流
モジュールを作製し、図16(b)と同様に配線を接続
して通電試験を行った。
て、1番上のグラフが通電電流を示し、2番目のグラフ
が実施例4の超電導限流モジュールでの発生電圧を示
し、3番目のグラフが実施例2の超電導限流モジュール
での発生電圧を示している。なお、発生電圧としては、
超電導薄膜の長さ1cmあたりで規格化した電圧を示し
ている。
導限流素子は約80Aの電流を通電したときに1μV/
cmの電圧を発生する。図22の2番目のグラフから、
実施例4の場合には通電電流ピークでの発生電圧が上記
の定義に相当する1μV/cm程度であり、各超電導限
流素子に均一に電流が流れていると判断することができ
る。一方、図22の3番目のグラフから、実施例2の場
合には発生電圧が約4倍の値となっている。これは実施
例2の超電導限流モジュールでは、膜面垂直磁界が相殺
されず、若干のIc低下が生じることによると判断でき
る。また、発生ジュール熱を計算によって求めたとこ
ろ、実施例4は実施例2の約1/4であった。このこと
から、実施例4では実施例2と比較してジュール損失を
大きく低減できることが確認された。
実施例1と同様に、幅1cm、長さ8cmの単結晶サフ
ァイア基板上にYBCO系の超電導薄膜を形成して超電
導限流素子を作製した。このような超電導限流素子1を
8個用いて、実施例2(図5)と同様に直径22cmの
円形FRP板からなる支持体上に放射状に配置し、超電
導限流素子1の両端部(各1cmの部分)に並列接続用
のブリッジ2、2を接続するとともに、電流パッド部分
を除いた有効長6cmのYBCO薄膜どうしを互いに3
個所において並列接続するようにブリッジ2を設け、超
電導限流モジュールを作製した。なお、ブリッジとして
は直径1mmのインジウム線を用い、このインジウム線
をYBCO薄膜に機械的に押し付けて電気的な接続を取
っている。この超電導限流モジュールでは、各超電導限
流素子1のYBCO薄膜は両端の接続を含めて合計5個
所で他のYBCO薄膜と接続されている。
流5kA、電源電圧2kVの回路を用いて限流試験を行
った。この試験では、回路インピーダンスを調整するこ
とにより印加電圧を徐々に上げ限流動作を測定した。図
24(a)に試験結果を示す。図24(a)からわかる
ように、印加ピーク電圧が700Vを超えても素子の破
壊を招くことなく限流に成功している。また、印加電圧
を徐々に増加して試験を行ったところ、印加電圧ピーク
が1200Vまでは限流に成功したが、さらに高い印加
電圧では限流試験中に超電導限流素子が破損した。
限流モジュールを構成する超電導限流素子どうしが両端
のみで並列接続されている超電導限流モジュールを作製
し、上記と同じ試験条件で限流試験を行った。図24
(b)に試験結果を示す。図24(b)からわかるよう
に、印加電圧ピークが700Vの場合には図24(a)
と同様に限流に成功しているが、印加電圧を徐々に増加
して試験を行ったところ図24(a)よりも700Vよ
りすこし上の電圧で限流試験中に超電導限流素子が破損
した。同様の超電導限流モジュールを複数作製して同様
の試験を複数回行ったが、試験結果はほとんど同じであ
った。
限流素子に流れる電流をロゴスキーコイルで測定したと
ころ、実施例5では実施例2と比べて電流振動の振幅が
約半分に抑制できていることが判明した。
比べて印加可能電圧を少なくとも(1200/700)
=1.7倍に向上でき、その原因は限流開始時の電流振
動現象を抑制できるためであると考えられる。
作製した。図25(a)に示すように、実施例5の超電
導限流モジュールを4枚用い、各超電導限流モジュール
の中心軸が重なるように1cm間隔で直列に接続した。
図25(a)では図示を省略しているが、各超電導限流
モジュールの中心部には穴をあけている。図25(b)
に示すように、各超電導限流モジュールどうしは直列接
続されている。すなわち、電流リード14を最上面の超
電導限流モジュールの中心部に接続し、最上面の超電導
限流モジュールと2枚目の超電導限流モジュールを周辺
部のブリッジ4で接続し、2枚目の超電導限流モジュー
ルと3枚目の超電導限流モジュールを中心部で接続し
(図25(b)では示されていない)、3枚目の超電導
限流モジュールと4枚目の超電導限流モジュールを周辺
部のブリッジ4で接続し、4枚目の超電導限流モジュー
ルの中心部にもうひとつの電流リード14を接続してい
る。
流560Aで連続通電を行い、各超電導限流モジュール
内の各超電導限流素子に流れる電流値を測定した。その
結果、各超電導限流素子に流れる電流値はほとんど均一
でばらつきは3%以内であり、1枚の超電導限流モジュ
ールに対する試験結果とほぼ同じであった。
分解して、各超電導限流素子を取り出し、以下のように
して図26に示す超電導限流ユニットを作製した。厚さ
5mm、幅が約1cmのFRPを組み合わせて8角柱を
作製し、その側面にそれぞれ超電導限流素子をエポキシ
系接着剤で固定し、超電導限流モジュールを作製した。
このような超電導限流モジュールを4本用意し、1cm
間隔で横並びに配置して、図26のように電流リード1
4およびブリッジ4により直列接続して超電導限流ユニ
ットを作製した。
流560Aで連続通電を行い、図26の一番左側の超電
導限流モジュールを構成する超電導限流素子を流れる電
流を測定した。その結果、各超電導限流素子を流れる電
流はばらついていた。特に、隣の超電導限流モジュール
から一番近い面の超電導限流素子と一番遠い面の超電導
限流素子において、電流が均等に流れた場合の値70A
からのズレが大きく、そのばらつきは約7%であった以
上の結果から、本実施例における超電導限流モジュール
を直列化した超電導限流ユニットにおいても、各超電導
限流素子を流れる電流を均一化できることがわかる。
超電導限流素子を配置した実施例3の超電導限流モジュ
ール(図21)を4枚用意した。図21に示すように、
各超電導限流モジュールの表面および裏面の超電導限流
素子は、周辺部に設けられた直列接続用のブリッジ4で
接続されている。図13に示したように、各超電導限流
モジュールの間に、厚さ2mm、半径10cmの円盤状
FRP板からなる絶縁体11を挟み、各超電導限流モジ
ュール間を1cm離して積層した。なお、絶縁体11の
中心部には上下の超電導限流モジュールを接続するリー
ドが挿通される直径2cmの穴をあけている。さらに、
各超電導限流モジュール間を直列に接続して超電導限流
ユニットを作製した。
行った。その結果、印加電圧6kVで試験を行っても、
超電導限流モジュール内または超電導限流モジュール間
での放電を招くことなく限流動作が可能であった。
絶縁体を取り外して限流試験を行った。その結果、印加
電圧ピークが3kVまでは限流試験に成功したが、さら
に印加電圧を上げると、1番目と2番目の超電導限流モ
ジュール間でアーク放電が発生して超電導限流素子が損
傷した。
された複数の超電導限素子を流れる電流を均一化して、
通電損失の抑制するとともに限流動作開始時の素子損傷
を抑制できる超電導限流モジュールを提供できる。ま
た、本発明によれば、上記の超電導限流モジュールを直
列接続して各超電導限流素子を流れる電流を均一化でき
る超電導限流ユニットを提供できる。
が作る閉ループを貫く磁束を示す図。
れない理由を説明する図。
ルの平面図および斜視図。
を持つ超電導限流モジュールの平面図。
導限流モジュールを示す斜視図。
トを示す斜視図および断面図。
を、中心軸を含む平面で切断した断面図。
加される磁界成分を説明する斜視図。
表面および裏面に超電導限流素子を設け互いに逆方向に
電流が流れるように接続した超電導限流モジュールの斜
視図。
の超電導限流素子を直列接続するためのブリッジを示す
断面図。
面図。
ットの断面図。
関係するループを示す断面図。
す図。
図。
ールを示す平面図。
示す図。
す図。
す斜視図。
を示す図。
す平面図。
ールの限流特性を示す図。
斜視図。
トを示す斜視図。
Claims (6)
- 【請求項1】 絶縁基板とその上に形成された超電導薄
膜とを有する超電導限流素子の1つまたは直列接続した
複数を一部品として用い、複数の前記部品を並列接続し
た超電導限流モジュールであって、前記部品に含まれる
超電導限流素子はある中心軸の周りに放射状に配置さ
れ、かつ各超電導限流素子に設けられた通電用の2つの
電流パッドが前記中心軸から異なる距離に位置すること
を特徴とする超電導限流モジュール。 - 【請求項2】 任意の2つの前記部品が、前記中心軸の
周りでの回転によって、超電導限流モジュール全体の空
間的配置を変えずに移り変われる対称性を有することを
特徴とする請求項1に記載の超電導限流モジュール。 - 【請求項3】 前記部品は板状支持体の両面にそれぞれ
保持された複数の超電導限流素子を有し、前記板状支持
体の表面および裏面の超電導限流素子が互いに逆方向の
電流が流れるように直列接続されていることを特徴とす
る請求項1または2に記載の超電導限流モジュール。 - 【請求項4】 同一の超電導限流モジュールに含まれる
複数の超電導限流素子が互いに3個所以上で並列接続さ
れていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか
に記載の超電導限流モジュール。 - 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の超
電導限流モジュールの複数を、各超電導限流モジュール
の中心軸を一致させて配置して、直列に接続したことを
特徴とする超電導限流ユニット。 - 【請求項6】 前記超電導限流モジュールは板状支持体
の両面にそれぞれ絶縁基板側を接着して保持された複数
の超電導限流素子を有し、中心軸を一致させて配置され
た各超電導限流モジュールの間に固体の絶縁体を挟んだ
ことを特徴とする請求項5に記載の超電導限流ユニッ
ト。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2002089972A JP3559550B2 (ja) | 2002-03-27 | 2002-03-27 | 超電導限流モジュールおよび超電導限流ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2002089972A JP3559550B2 (ja) | 2002-03-27 | 2002-03-27 | 超電導限流モジュールおよび超電導限流ユニット |
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|---|---|
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|---|---|---|---|---|
| JP2012129400A (ja) * | 2010-12-16 | 2012-07-05 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | S/n転移型限流器 |
| JP2014508490A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-04-03 | バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド | 超電導限流器 |
| CN117394291A (zh) * | 2023-09-04 | 2024-01-12 | 西南交通大学 | 双面超导薄膜限流组件、混合型超导限流器及限流方法 |
-
2002
- 2002-03-27 JP JP2002089972A patent/JP3559550B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| KR101615667B1 (ko) | 2010-12-29 | 2016-04-26 | 베리안 세미콘덕터 이큅먼트 어소시에이츠, 인크. | 초전도 한류기 |
| CN117394291A (zh) * | 2023-09-04 | 2024-01-12 | 西南交通大学 | 双面超导薄膜限流组件、混合型超导限流器及限流方法 |
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