JP2004199063A - 共焦点顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】照明光源と、光源から放射された光ビームの断面形状アスペクトレシオを変更するためのレンズ部材と、異なる断面形状アスペクトレシオの光ビームを収束して直線光を作るための少なくとも1つのレンズと、収束された直線光に明暗を与えるための第1の光変調部材と、明暗が与えられた光を平行光として形成するための少なくとも1つのレンズと、照明の角度を変更するための少なくとも1つの走査部材と、明暗が与えられた光を集束するための少なくとも1つのレンズと、明暗が与えられた光を試料体に投影するための対物レンズと、試料体からの反射光または試料体によって発生された光を光検出素子上に結像するための少なくとも1つのレンズと、を備えている。
【選択図】図1
Description
Claims (25)
- 照明光源と、
光源から放射された光ビームの断面形状アスペクトレシオを変更するためのレンズ部材と、
異なる断面形状アスペクトレシオの光ビームを収束して直線光を作るための少なくとも1つのレンズと、
収束された直線光に明暗を与えるための第1の光変調部材と、
明暗が与えられた光を平行光として形成するための少なくとも1つのレンズと、
照明の角度を変更するための少なくとも1つの走査部材と、
明暗が与えられた光を集束するための少なくとも1つのレンズと、
明暗が与えられた光を試料体に投影するための対物レンズと、
試料体からの反射光または試料体によって発生された光を光検出素子に結像するための少なくとも1つのレンズと、
を具備する走査光学顕微鏡。 - 前記光検出素子は、ラインセンサ、撮像装置および光検出器のうちの1つである、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記照明光源は、レーザビームおよび白色光源を含む、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記白色光源は、高圧水銀ランプ、キセノンランプ、ハロゲンランプ、メタルハライドランプからなる群から選択される、請求項3に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記試料体からの光に共焦点効果を与えることできる第2の光変調部材をさらに備え、光変調素子を透過した光ビーム径およびビーム数の一方を変化させることによって、共焦点効果に最適化および低減化の一方を行うことができる、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記少なくとも1つの走査部材の開始および停止動作、ならびに走査速度の調整と、光変調部材の照明パターンと、試料体上の照明光のオン/オフ照射とを制御するためのコンピュータをさらに具備する、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 光源からの光の複数のビームへの分割と、この複数のビームの干渉と、干渉縞の形成に必要なレンズおよび光学部材の一方により、干渉縞が形成される回折格子と、
複数の反射ミラーを有し、各ミラーをオンおよびオフに切換えることができるデジタルミラーデバイスであって、各ミラーは、オフ状態のときに入射光を反射せず、オン状態のときに入射光を反射するデジタルミラーデバイスと、
をさらに具備する、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。 - 2つ以上のMEMS(微小電子機械システム)ミラーからなる一次元ミラーアレイをさらに具備する、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 可変透過率を有する液晶プレート、および
SLM(空間光変調器)
の一方をさらに具備する、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。 - 前記少なくとも1つの走査部材は、ガルバノメータミラーであり、明暗パターンが変更可能な光変調部材を制御することによって一点照明光の位置が時間的に移動可能である、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記光変調部材は、明暗パターンが変更可能な種々の可変明暗パターンを与えるための手段を有し、複数の点によって共焦点像が生成され、試料体を同時に照明することができる、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記光変調部材は、明暗を変更可能であり、視野の1区分が同時に照明され、試料体は、直線光で走査される、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 光源から放射された光ビームの断面形状アスペクトレシオを変更するのに必要な前記レンズ部材は、1つ以上の円柱レンズおよび1つ以上のfレンズの一方を含むことを特徴とする、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記走査部材は、ガルバノメータミラー、ポリゴンミラーおよび音響光学変調器の1つを含む、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 異なる明暗パターンの直線照明光によって前記試料体は、数回走査され、複数の走査データから1つの画像が生成される、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記照明光源は、レーザを備え、レーザからのレーザビームがファイバを介してレンズ部材に導入される、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記照明光源は、超短パルスレーザであり、二光子励起および三光子励起の一方のような多光子励起によって試料体からの蛍光が観察される、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記超短パルスレーザは、チタンサファイアレーザを含む、請求項17に記載の走査光学顕微鏡。
- 回折格子、音響光学変調器およびプリズムを用いる分光素子の1つを、試料体からの光を受ける光検出器と光強度変調部材の間に挿入することによって構成される分光回折デバイスをさらに含み、光検出器は、二次元光検出器である、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 二次高調波発生、三次高調波発生、ラマン光およびコヒーレント反ストークスラマン散乱の1つによって、前記試料体から発生された非直線光を受けることができる、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記光検出素子は、二次元撮像デバイスである、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 二次元撮像デバイスは、高感度冷却CCDカメラ、背面照明CCDカメラ、カスケードカメラ、およびイメージ増倍管付きCCDカメラからなる群から選択される、請求項21に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記光検出素子は、ラインセンサである、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
- 前記ラインセンサは、フォトダイオードアレイ、PMTアレイ、ラインCCDアレイからなる群から選択される、請求項23に記載の走査光学顕微鏡。
- 複数の異なる波長を光検出素子上に集束させるための手段をさらに具備する、請求項1に記載の走査光学顕微鏡。
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Cited By (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006133499A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Shimadzu Corp | 共焦点スキャナ及び共焦点顕微鏡 |
| JP2006163023A (ja) * | 2004-12-08 | 2006-06-22 | Ohkura Industry Co | レーザ顕微鏡及びカラーレーザ顕微鏡 |
| JP2006516730A (ja) * | 2003-01-29 | 2006-07-06 | イエダ リサーチ アンド ディベロプメント カンパニー リミテッド | シングルパルスアンチストークスラマン散乱顕微鏡法および分光法 |
| JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
| JP2006242816A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 光音響顕微鏡装置 |
| JP2006317544A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Nikon Corp | 共焦点顕微鏡 |
| JP2007113941A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Ohkura Industry Co | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
| JP2007132794A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Olympus Corp | 多光子励起型観察装置および多光子励起型観察用光源装置 |
| JP2007148409A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | ステレオ顕微鏡 |
| JP2007316281A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡 |
| JP2008164841A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Olympus Corp | 共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
| JP2008181070A (ja) * | 2007-07-26 | 2008-08-07 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡 |
| JP2008180851A (ja) * | 2007-01-24 | 2008-08-07 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡 |
| JP2008203813A (ja) * | 2007-01-24 | 2008-09-04 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡 |
| JP2009015218A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡 |
| JP2009086669A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | 照明された試料の光学的捕捉のための方法および装置 |
| JP2010061141A (ja) * | 2008-09-04 | 2010-03-18 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | 顕微鏡カメラ用ビデオアダプタ |
| EP2249194A1 (en) | 2009-05-08 | 2010-11-10 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope |
| US7872798B2 (en) | 2005-10-11 | 2011-01-18 | Nikon Corporation | Microscopic apparatus and observing method |
| EP2330454A1 (en) | 2009-11-25 | 2011-06-08 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope |
| JP2012503798A (ja) * | 2008-09-25 | 2012-02-09 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニヴァーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク | 構造物の光刺激およびイメージングを提供するためのデバイス、装置、および方法 |
| JP2012189891A (ja) * | 2011-03-11 | 2012-10-04 | Nano Photon Kk | 光学顕微鏡、及び分光測定方法 |
| JP2014513810A (ja) * | 2011-02-08 | 2014-06-05 | バテル メモリアル インスティチュート | ラマンまたは他の分光法システムのためのライン光源 |
| US11860349B2 (en) | 2018-07-02 | 2024-01-02 | Universitat De Barcelona | Programmable multiple-point illuminator, confocal filter, confocal microscope and method to operate said confocal microscope |
| WO2024241902A1 (ja) * | 2023-05-19 | 2024-11-28 | キヤノン株式会社 | 非線形光学顕微鏡 |
Families Citing this family (84)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7508608B2 (en) * | 2004-11-17 | 2009-03-24 | Illumina, Inc. | Lithographically fabricated holographic optical identification element |
| US7900836B2 (en) * | 2002-08-20 | 2011-03-08 | Illumina, Inc. | Optical reader system for substrates having an optically readable code |
| US7872804B2 (en) * | 2002-08-20 | 2011-01-18 | Illumina, Inc. | Encoded particle having a grating with variations in the refractive index |
| US7923260B2 (en) * | 2002-08-20 | 2011-04-12 | Illumina, Inc. | Method of reading encoded particles |
| US20050227252A1 (en) * | 2002-08-20 | 2005-10-13 | Moon John A | Diffraction grating-based encoded articles for multiplexed experiments |
| US7164533B2 (en) * | 2003-01-22 | 2007-01-16 | Cyvera Corporation | Hybrid random bead/chip based microarray |
| US20100255603A9 (en) | 2002-09-12 | 2010-10-07 | Putnam Martin A | Method and apparatus for aligning microbeads in order to interrogate the same |
| US7092160B2 (en) * | 2002-09-12 | 2006-08-15 | Illumina, Inc. | Method of manufacturing of diffraction grating-based optical identification element |
| JP4125648B2 (ja) * | 2003-08-11 | 2008-07-30 | 大倉インダストリー株式会社 | ライン状光ビーム発生装置及びレーザ顕微鏡 |
| US20060057729A1 (en) * | 2003-09-12 | 2006-03-16 | Illumina, Inc. | Diffraction grating-based encoded element having a substance disposed thereon |
| US7521651B2 (en) * | 2003-09-12 | 2009-04-21 | Orbotech Ltd | Multiple beam micro-machining system and method |
| US7433123B2 (en) * | 2004-02-19 | 2008-10-07 | Illumina, Inc. | Optical identification element having non-waveguide photosensitive substrate with diffraction grating therein |
| EP1754033B1 (en) * | 2004-05-27 | 2011-06-22 | Yeda Research And Development Co., Ltd. | Coherently controlled nonlinear raman spectroscopy |
| WO2006020363A2 (en) | 2004-07-21 | 2006-02-23 | Illumina, Inc. | Method and apparatus for drug product tracking using encoded optical identification elements |
| US7698000B2 (en) * | 2004-09-14 | 2010-04-13 | Yeda Research & Development Co., Ltd | Microscope system and method |
| US8929688B2 (en) * | 2004-10-01 | 2015-01-06 | University Of Washington | Remapping methods to reduce distortions in images |
| US7298938B2 (en) * | 2004-10-01 | 2007-11-20 | University Of Washington | Configuration memory for a scanning beam device |
| DE102004058565B4 (de) | 2004-10-18 | 2022-04-21 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Scanmikroskop |
| US7602952B2 (en) * | 2004-11-16 | 2009-10-13 | Illumina, Inc. | Scanner having spatial light modulator |
| ATE459933T1 (de) | 2004-11-16 | 2010-03-15 | Illumina Inc | Verfahren und vorrichtung zum lesen von kodierten mikrokugeln |
| US7604173B2 (en) * | 2004-11-16 | 2009-10-20 | Illumina, Inc. | Holographically encoded elements for microarray and other tagging labeling applications, and method and apparatus for making and reading the same |
| US20060134324A1 (en) * | 2004-11-17 | 2006-06-22 | Illumina, Inc. | Filament with easily removed protective coating and methods for stripping the same |
| CN100585449C (zh) * | 2005-01-27 | 2010-01-27 | 伦斯勒理工学院 | 可适应性扫描光学显微镜 |
| US7189961B2 (en) | 2005-02-23 | 2007-03-13 | University Of Washington | Scanning beam device with detector assembly |
| EP1867168A4 (en) * | 2005-03-29 | 2010-07-28 | Univ Washington | METHOD AND SYSTEMS FOR GENERATING SEQUENTIAL COLOR PICTURES |
| JP4538633B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2010-09-08 | 国立大学法人浜松医科大学 | Dlp式スリット光走査顕微鏡 |
| US20060226231A1 (en) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | University Of Washington | Methods and systems for creating sequential color images |
| US7395967B2 (en) * | 2005-07-21 | 2008-07-08 | University Of Washington | Methods and systems for counterbalancing a scanning beam device |
| US20070031056A1 (en) * | 2005-08-02 | 2007-02-08 | Perz Cynthia B | System for and method of focusing in automated microscope systems |
| US7312879B2 (en) | 2005-08-23 | 2007-12-25 | University Of Washington | Distance determination in a scanned beam image capture device |
| US7623624B2 (en) * | 2005-11-22 | 2009-11-24 | Illumina, Inc. | Method and apparatus for labeling using optical identification elements characterized by X-ray diffraction |
| US7990524B2 (en) * | 2006-06-30 | 2011-08-02 | The University Of Chicago | Stochastic scanning apparatus using multiphoton multifocal source |
| US9079762B2 (en) * | 2006-09-22 | 2015-07-14 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Micro-electromechanical device |
| US7713265B2 (en) | 2006-12-22 | 2010-05-11 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Apparatus and method for medically treating a tattoo |
| US8801606B2 (en) * | 2007-01-09 | 2014-08-12 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Method of in vivo monitoring using an imaging system including scanned beam imaging unit |
| US8273015B2 (en) | 2007-01-09 | 2012-09-25 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Methods for imaging the anatomy with an anatomically secured scanner assembly |
| US7589316B2 (en) | 2007-01-18 | 2009-09-15 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Scanning beam imaging with adjustable detector sensitivity or gain |
| US8216214B2 (en) * | 2007-03-12 | 2012-07-10 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Power modulation of a scanning beam for imaging, therapy, and/or diagnosis |
| US20080242967A1 (en) * | 2007-03-27 | 2008-10-02 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Medical imaging and therapy utilizing a scanned beam system operating at multiple wavelengths |
| US8626271B2 (en) * | 2007-04-13 | 2014-01-07 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | System and method using fluorescence to examine within a patient's anatomy |
| US7995045B2 (en) * | 2007-04-13 | 2011-08-09 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Combined SBI and conventional image processor |
| US20080275305A1 (en) * | 2007-05-01 | 2008-11-06 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Medical scanned beam imager and components associated therewith |
| US8160678B2 (en) | 2007-06-18 | 2012-04-17 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Methods and devices for repairing damaged or diseased tissue using a scanning beam assembly |
| US7558455B2 (en) | 2007-06-29 | 2009-07-07 | Ethicon Endo-Surgery, Inc | Receiver aperture broadening for scanned beam imaging |
| US7982776B2 (en) | 2007-07-13 | 2011-07-19 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | SBI motion artifact removal apparatus and method |
| US9125552B2 (en) | 2007-07-31 | 2015-09-08 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Optical scanning module and means for attaching the module to medical instruments for introducing the module into the anatomy |
| US7983739B2 (en) * | 2007-08-27 | 2011-07-19 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Position tracking and control for a scanning assembly |
| US7925333B2 (en) * | 2007-08-28 | 2011-04-12 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Medical device including scanned beam unit with operational control features |
| US20090060381A1 (en) * | 2007-08-31 | 2009-03-05 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Dynamic range and amplitude control for imaging |
| JP4970211B2 (ja) * | 2007-10-18 | 2012-07-04 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 3次元形状測定器 |
| JP5259154B2 (ja) * | 2007-10-24 | 2013-08-07 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
| US8280131B2 (en) * | 2007-11-26 | 2012-10-02 | Carl Zeiss Micro Imaging Gmbh | Method and configuration for optically detecting an illuminated specimen |
| US8050520B2 (en) | 2008-03-27 | 2011-11-01 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Method for creating a pixel image from sampled data of a scanned beam imager |
| US8332014B2 (en) | 2008-04-25 | 2012-12-11 | Ethicon Endo-Surgery, Inc. | Scanned beam device and method using same which measures the reflectance of patient tissue |
| WO2010077205A1 (en) * | 2009-01-05 | 2010-07-08 | Ge Healthcare Bio-Sciences Corp | A system and method for simultaneously obtaining a plurality of images in an imaging system |
| US8773760B2 (en) * | 2009-04-27 | 2014-07-08 | The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Multi-point scan architecture |
| DE102009038028B4 (de) * | 2009-08-18 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Detektoranordnung mit erhöhter Empfindlichkeit durch Lichtablenkelemente mit einer ebenen Lichteintrittsfläche |
| JP5393406B2 (ja) * | 2009-11-06 | 2014-01-22 | オリンパス株式会社 | パターン投影装置、走査型共焦点顕微鏡、及びパターン照射方法 |
| EP3151052B1 (en) | 2010-02-01 | 2025-03-26 | Illumina, Inc. | Focusing methods and optical systems and assemblies using the same |
| WO2012109348A1 (en) | 2011-02-10 | 2012-08-16 | Kla-Tencor Corporation | Structured illumination for contrast enhancement in overlay metrology |
| US8941087B2 (en) * | 2011-06-28 | 2015-01-27 | National Taiwan University | Plural third harmonic generation microscopic system and method |
| US9052331B2 (en) | 2012-08-31 | 2015-06-09 | Dantec Dynamics A/S | Optical velocimetry systems and methods for determining the velocity of a body using fringes generated by a spatial light modulator |
| WO2015163261A1 (ja) * | 2014-04-24 | 2015-10-29 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡および顕微鏡観察方法 |
| WO2016027453A1 (ja) * | 2014-08-18 | 2016-02-25 | 国立大学法人大阪大学 | ラマン分光顕微鏡及びラマン散乱光観察方法 |
| WO2016106368A1 (en) * | 2014-12-23 | 2016-06-30 | Bribbla Dynamics Llc | Confocal inspection system having averaged illumination and averaged collection paths |
| EP3588061B1 (en) | 2014-12-23 | 2023-04-19 | Apple Inc. | Optical inspection system and method including accounting for variations of optical path length within a sample |
| WO2016106350A1 (en) | 2014-12-23 | 2016-06-30 | Bribbla Dynamics Llc | Confocal inspection system having non-overlapping annular illumination and collection regions |
| JP6594437B2 (ja) | 2015-09-15 | 2019-10-23 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡および顕微鏡観察方法 |
| US10720747B2 (en) | 2015-11-24 | 2020-07-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Micro-refractive element stabilized resonators, lasers and multiple beam lasing |
| US10620449B2 (en) | 2015-11-24 | 2020-04-14 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Low-speckle light source and imaging devices with micro-refractive element stabilized laser array |
| CN108700460B (zh) | 2015-12-21 | 2020-11-03 | 威里利生命科学有限责任公司 | 成像系统和成像方法 |
| US10718613B2 (en) * | 2016-04-19 | 2020-07-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Ground-based system for geolocation of perpetrators of aircraft laser strikes |
| AU2017253712B8 (en) | 2016-04-21 | 2019-11-21 | Apple Inc. | Optical system for reference switching |
| WO2017205858A1 (en) | 2016-05-27 | 2017-11-30 | Verily Life Sciences Llc | Spatial light modulator based hyperspectral confocal microscopes and methods of use |
| EP3513235B1 (de) * | 2016-09-16 | 2023-06-07 | Leica Microsystems CMS GmbH | Lichtmikroskop |
| US11506877B2 (en) | 2016-11-10 | 2022-11-22 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Imaging instrument having objective axis and light sheet or light beam projector axis intersecting at less than 90 degrees |
| CN108152200A (zh) * | 2016-12-06 | 2018-06-12 | 北京世纪桑尼科技有限公司 | 一种用于光谱分析的共聚焦成像装置和方法 |
| EP4050403B1 (en) * | 2017-01-30 | 2025-10-22 | Alcon Inc. | Systems and method for augmented reality ophthalmic surgical microscope projection |
| DE102017125688A1 (de) * | 2017-11-03 | 2019-05-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Abrastern einer Probe |
| CN109115723A (zh) * | 2018-09-30 | 2019-01-01 | 深圳市太赫兹科技创新研究院 | 基于数字微镜设备的光学相干层析成像装置及成像方法 |
| US12366531B2 (en) * | 2020-12-24 | 2025-07-22 | Sony Group Corporation | Data generation method, fluorescence observation system, and information processing apparatus |
| CN114460020B (zh) * | 2022-01-30 | 2023-11-17 | 清华大学深圳国际研究生院 | 一种基于数字微反射镜的高光谱扫描系统及方法 |
| US12591122B2 (en) * | 2022-02-18 | 2026-03-31 | Purdue Research Foundaton | Apparatuses and methods for high-speed laser scanning |
| CN115248078B (zh) * | 2022-07-14 | 2025-08-12 | 东莞市神州视觉科技有限公司 | 一种基于线光谱的可调节光源装置及其使用方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07209187A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-08-11 | Omron Corp | レーザ走査式細胞分析装置 |
| JPH10311950A (ja) * | 1997-05-14 | 1998-11-24 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型顕微鏡 |
| JPH11194275A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-07-21 | Max Planck Ges Foerderung Wissenschaft Ev | プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 |
| JPH11249023A (ja) * | 1997-11-17 | 1999-09-17 | Max Planck Ges Foerderung Wissenschaft Ev | 共焦点分光システムおよび分光方法 |
| JP2000056244A (ja) * | 1998-08-04 | 2000-02-25 | Carl Zeiss Jena Gmbh | レ―ザ走査顕微鏡および照明およびまたは検出装置 |
| JP2000275027A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-10-06 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2561160B2 (ja) * | 1989-11-06 | 1996-12-04 | 富士写真フイルム株式会社 | 走査型顕微鏡 |
| EP1207414B1 (en) * | 1997-10-29 | 2016-05-04 | Motic China Group Co., Ltd. | Apparatus and methods relating to spatially light modulated microscopy |
| US6663560B2 (en) * | 1999-12-17 | 2003-12-16 | Digital Optical Imaging Corporation | Methods and apparatus for imaging using a light guide bundle and a spatial light modulator |
| DE10012017A1 (de) * | 2000-03-11 | 2001-09-13 | Basysprint Gmbh Sys Druckind | Belichtungsvorrichtung und Verfahren zur Kompensation von optischen Fehlern |
| DE10042840A1 (de) * | 2000-08-30 | 2002-03-14 | Leica Microsystems | Vorrichtung und Verfahren zur Anregung von Fluoreszenzmikroskopmarkern bei der Mehrphotonen-Rastermikroskopie |
| US6922279B2 (en) * | 2003-09-20 | 2005-07-26 | National Taiwan University | Harmonic generation microscopy |
-
2003
- 2003-10-09 US US10/682,236 patent/US7339148B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-12 EP EP03028716A patent/EP1431795A1/en not_active Withdrawn
- 2003-12-15 JP JP2003416244A patent/JP4723806B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07209187A (ja) * | 1993-11-30 | 1995-08-11 | Omron Corp | レーザ走査式細胞分析装置 |
| JPH10311950A (ja) * | 1997-05-14 | 1998-11-24 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型顕微鏡 |
| JPH11194275A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-07-21 | Max Planck Ges Foerderung Wissenschaft Ev | プログラム可能であり空間的に光変調された顕微鏡および顕微鏡による方法 |
| JPH11249023A (ja) * | 1997-11-17 | 1999-09-17 | Max Planck Ges Foerderung Wissenschaft Ev | 共焦点分光システムおよび分光方法 |
| JP2000056244A (ja) * | 1998-08-04 | 2000-02-25 | Carl Zeiss Jena Gmbh | レ―ザ走査顕微鏡および照明およびまたは検出装置 |
| JP2000275027A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-10-06 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置 |
Cited By (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006516730A (ja) * | 2003-01-29 | 2006-07-06 | イエダ リサーチ アンド ディベロプメント カンパニー リミテッド | シングルパルスアンチストークスラマン散乱顕微鏡法および分光法 |
| JP2006133499A (ja) * | 2004-11-05 | 2006-05-25 | Shimadzu Corp | 共焦点スキャナ及び共焦点顕微鏡 |
| JP2006163023A (ja) * | 2004-12-08 | 2006-06-22 | Ohkura Industry Co | レーザ顕微鏡及びカラーレーザ顕微鏡 |
| JP2006235420A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
| JP2006242816A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 光音響顕微鏡装置 |
| JP2006317544A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Nikon Corp | 共焦点顕微鏡 |
| US7872798B2 (en) | 2005-10-11 | 2011-01-18 | Nikon Corporation | Microscopic apparatus and observing method |
| JP4978470B2 (ja) * | 2005-10-11 | 2012-07-18 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置及び観察方法 |
| JP2007113941A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Ohkura Industry Co | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
| JP2007132794A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Olympus Corp | 多光子励起型観察装置および多光子励起型観察用光源装置 |
| JP2007148409A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | ステレオ顕微鏡 |
| JP2007316281A (ja) * | 2006-05-25 | 2007-12-06 | Olympus Corp | 共焦点顕微鏡および多光子励起型顕微鏡 |
| JP2008164841A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Olympus Corp | 共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
| JP2008180851A (ja) * | 2007-01-24 | 2008-08-07 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡 |
| JP2008203813A (ja) * | 2007-01-24 | 2008-09-04 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡 |
| JP2009015218A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Olympus Corp | 走査型共焦点顕微鏡 |
| JP2008181070A (ja) * | 2007-07-26 | 2008-08-07 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡 |
| JP2009086669A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | 照明された試料の光学的捕捉のための方法および装置 |
| JP2010061141A (ja) * | 2008-09-04 | 2010-03-18 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | 顕微鏡カメラ用ビデオアダプタ |
| JP2017207767A (ja) * | 2008-09-25 | 2017-11-24 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニヴァーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク | 構造物の光刺激およびイメージングを提供するためのデバイス、装置、および方法 |
| US9846313B2 (en) | 2008-09-25 | 2017-12-19 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Devices, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures |
| US11531207B2 (en) | 2008-09-25 | 2022-12-20 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Devices, apparatus and method for providing photostimulation and imaging of structures |
| JP2012503798A (ja) * | 2008-09-25 | 2012-02-09 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニヴァーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク | 構造物の光刺激およびイメージングを提供するためのデバイス、装置、および方法 |
| JP2014240977A (ja) * | 2008-09-25 | 2014-12-25 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニヴァーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク | 構造物の光刺激およびイメージングを提供するためのデバイス、装置、および方法 |
| JP2020058356A (ja) * | 2008-09-25 | 2020-04-16 | ザ トラスティーズ オブ コロンビア ユニヴァーシティ イン ザ シティ オブ ニューヨーク | 構造物の光刺激およびイメージングを提供するためのデバイス、装置、および方法 |
| EP2249194A1 (en) | 2009-05-08 | 2010-11-10 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope |
| US7964853B2 (en) | 2009-05-08 | 2011-06-21 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope |
| JP2011112779A (ja) * | 2009-11-25 | 2011-06-09 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
| US8542438B2 (en) | 2009-11-25 | 2013-09-24 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope having a microelement array |
| EP2330454A1 (en) | 2009-11-25 | 2011-06-08 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope |
| JP2014513810A (ja) * | 2011-02-08 | 2014-06-05 | バテル メモリアル インスティチュート | ラマンまたは他の分光法システムのためのライン光源 |
| JP2012189891A (ja) * | 2011-03-11 | 2012-10-04 | Nano Photon Kk | 光学顕微鏡、及び分光測定方法 |
| US11860349B2 (en) | 2018-07-02 | 2024-01-02 | Universitat De Barcelona | Programmable multiple-point illuminator, confocal filter, confocal microscope and method to operate said confocal microscope |
| WO2024241902A1 (ja) * | 2023-05-19 | 2024-11-28 | キヤノン株式会社 | 非線形光学顕微鏡 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4723806B2 (ja) | 2011-07-13 |
| EP1431795A1 (en) | 2004-06-23 |
| US7339148B2 (en) | 2008-03-04 |
| US20040113059A1 (en) | 2004-06-17 |
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