JP2004363607A - コンポーネント用の複式配送デバイスを備えた半導体装置 - Google Patents

コンポーネント用の複式配送デバイスを備えた半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004363607A
JP2004363607A JP2004164998A JP2004164998A JP2004363607A JP 2004363607 A JP2004363607 A JP 2004363607A JP 2004164998 A JP2004164998 A JP 2004164998A JP 2004164998 A JP2004164998 A JP 2004164998A JP 2004363607 A JP2004363607 A JP 2004363607A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
die
delivery device
pick
delivery
delivery devices
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004164998A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4150697B2 (ja
Inventor
Kui Kam Lam
クイ・カム・ラム
Man Chung Raymond Ng
マン・チュン・レイモンド・ング
Yen Hsi Terry Tang
イェン・シ・テリー・タン
Gang Ou
ガン・オウ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ASM Assembly Automation Ltd
Original Assignee
ASM Assembly Automation Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ASM Assembly Automation Ltd filed Critical ASM Assembly Automation Ltd
Publication of JP2004363607A publication Critical patent/JP2004363607A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4150697B2 publication Critical patent/JP4150697B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/04Apparatus for manufacture or treatment
    • H10P72/0446Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/10Methods of surface bonding and/or assembly therefor
    • Y10T156/1089Methods of surface bonding and/or assembly therefor of discrete laminae to single face of additional lamina
    • Y10T156/1092All laminae planar and face to face
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/10Methods of surface bonding and/or assembly therefor
    • Y10T156/1089Methods of surface bonding and/or assembly therefor of discrete laminae to single face of additional lamina
    • Y10T156/1092All laminae planar and face to face
    • Y10T156/1097Lamina is running length web
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/12Surface bonding means and/or assembly means with cutting, punching, piercing, severing or tearing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/17Surface bonding means and/or assemblymeans with work feeding or handling means
    • Y10T156/1702For plural parts or plural areas of single part
    • Y10T156/1705Lamina transferred to base from adhered flexible web or sheet type carrier
    • Y10T156/1707Discrete spaced laminae on adhered carrier
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/17Surface bonding means and/or assemblymeans with work feeding or handling means
    • Y10T156/1702For plural parts or plural areas of single part
    • Y10T156/1744Means bringing discrete articles into assembled relationship
    • Y10T156/1751At least three articles
    • Y10T156/1754At least two applied side by side to common base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/17Surface bonding means and/or assemblymeans with work feeding or handling means
    • Y10T156/1702For plural parts or plural areas of single part
    • Y10T156/1744Means bringing discrete articles into assembled relationship
    • Y10T156/1776Means separating articles from bulk source

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】 欠点を伴わずに、基板上に材料を配送する複式配送デバイスを利用することで処理量の増大が図れる改良装置を提供することである。
【解決手段】 半導体加工処理中、コンポーネントの供給源の中のピックアップポジションから、たとえばダイパッドのようなレセプター上の載置ポジションへとコンポーネントを移送するための装置を提供する。この装置は、コンポーネントをピックアップポジションから載置ポジションへと交互に移送するよう機能する第1の配送デバイスおよび第2の配送デバイスを具備する。第2の配送デバイスは、ピックアップポジションおよび載置ポジションを通るラインに関して、第1の配送デバイスとは反対の側に配置されている。
【選択図】 図3

Description

本発明は、たとえば半導体ダイあるいはエポキシ樹脂などのコンポーネントあるいは材料を、半導体加工処理中、基板上に配送するための装置に関する。特に本発明は、そうした作業を実施するための複数の配送デバイスを備えた装置に関する。
ピックアンドプレイス(pick-and-place)マシンは、たとえばリードフレームのような半導体基板上に、コンポーネントあるいは材料を正確に配送するため、自動化された半導体設備において一般に使用されている。ダイボンディングマシンがその例であり、このものは、「ピックアンドプレイス」作業中、ウェーハテーブルから、切断されたウェーハダイあるいはチップを基板上へと移送する。動作を簡単にするべく、ピックアンドプレイス作業を実施するためには、通常、単式ボンドヘッド(single bond head)システムが使用されている。しかしながら、この単式ヘッドシステムでは、到達可能な処理量(通常、ユニット毎時あるいは「UPH」によって定量化される)に限界がある。単式ボンドヘッドを備える現在のシステムでは、高処理量に関し増大する要求を十分に満たすことができない。それゆえ、ダイボンディングを同時に実施することができる複式ボンドヘッド(multiple bond head)を備えたシステムの開発が待望されていた。
「マルチヘッドダイボンディングシステム(Multi-head Die Bonding System)」に関する米国特許(特許文献1参照)では、複式ボンドヘッドは離間しており、かつ単一のコンベヤー機構上に設けられている。このボンドヘッドは半導体ダイをウェーハテーブルからピックアップし、そしてダイを別個のステーションにて基板に接着する。そうした複式ヘッドシステムの処理量は単式ヘッドシステムのそれよりも大きいが、この設計におけるヘッドの配置は基板の形状によって制約を受ける。このシステムは十分にフレキシブルなものではない。複式ボンドヘッドおよびコンベヤーシステムを収容するのに利用可能なスペースは、もう一つの問題である。
他のタイプの従来型複式ボンドヘッドシステムは主として二つ存在する。それらは、図1に示すようなカスケードラインシステムおよび図2に示すような複式ボンドアームシステムである。そうしたシステム用のボンディング方法および装置について以下で説明する。
図1に示すように、カスケードラインシステムは、一対のボンディング位置104,105において基板103にダイを接着するための二つの別個のボンディングマシン101,102をリンクさせることによって構築されている。このシステムの最小限の構成は、少なくとも二つのダイ配送デバイス106,107、二つのダイ供給デバイス108,109、二つのピック光学システムおよび二つのボンド光学システム(図示せず)を具備しなければならない。ダイ配送デバイス106,107はダイをその対応するウェーハテーブル108,109からピックアップし、そしてダイが接着される基板103のボンディング位置104,105へとそれらを移送する。基板搬送デバイス110は、二つのボンディングマシン101,102の間に接続部として機能するよう設けられる。これは、一方のマシン101のオフ・ロードセクションから他方のマシン102のオン・ロードセクションへと基板を搬送するためのものである。
図1に示されるカスケードラインシステムに関して、別個のマシン101,102の不調はマシン全体の性能に影響を与える。その上、マシンはより多くのデバイスを備え一層複雑であるため、故障の可能性はより高い。
図2aおよび図2bに示されるように、複式ボンドアームシステムは、基板搬送デバイス201、二つのダイ供給デバイス202、二つのピック光学システム(図示せず)、一つのボンド光学システム(図示せず)、ダイ配送デバイス203および二つのボンドアーム204を具備する。このボンドアーム204は、図2aに示すように直線往復台上に対として設けることも、あるいは図2bに示すように回転プラットフォーム上にV形レイアウトで設けることも可能である。いずれのシステム構造に関しても、二つのダイ供給デバイス202は、基板搬送デバイス201の両側に設けられている。ボンドアーム204のそれぞれのポジションは、共有のダイ配送デバイス203を用いて、ピックアンドプレイス動作を同時に実施できるようなものとなっている。
複式ボンドアームを備えるシステム(各ボンドアームは、図2aおよび図2bに示すリニアアーム上の、あるいは回転V形アーム上の単式ダイ配送デバイスに設けられたボンドヘッドを支持する)に関して、ボンドヘッドは、それらのポジションが相互依存するよう一つに連結される。同時のピックアンドプレイス動作は、両ボンドヘッドの位置が正確にピックおよびボンドポイントと整列したときのみ可能である。マシンの稼動中、別個のボンドヘッドそれぞれのレベル調整と同様、ポジションの整列に誤差があると、ダイ配送デバイス203は、ダイと基板との間の寸法偏差と同様、別個のボンドヘッドの位置的誤差を補償することができなくなる。
さらに、カスケードラインおよび複式アームシステムの両方に大きなフットプリント(footprint)が要求される。なぜなら、余分なウェーハテーブルおよび光学テーブルの形態の重複するデバイスを収容するために、さらなるスペースが必要となるからである。こうして、カスケードラインおよび複式ヘッドシステムの両方に関して高い装置コストが生じる。
米国特許第5,397,423号明細書
したがって本発明は、上記欠点を伴わずに、基板上に材料を配送する複式配送デバイスを利用することで処理量の増大が図れる改良装置の提供を目的とする。
すなわち本発明は、半導体加工処理中、コンポーネントの供給源の中のピックアップポジションからレセプター上の載置ポジションへとコンポーネントを移送するための装置であって、第1の配送デバイスと、ピックアップポジションおよび載置ポジションを通るラインに関して第1の配送デバイスと反対の側に配置された第2の配送デバイスとを具備し、第1および第2の配送デバイスが、ピックアップポジションから載置ポジションへとコンポーネントを交互に移送するよう機能する装置を提供する。
以下、本発明の一実施形態を図示する添付図面を参照して、本発明をさらに詳細に説明することは好都合であろう。図面の特徴および関連する説明は、請求範囲によって規定される発明の広範な認識の一般性を無にするものと解するべきではない。
本発明による装置の実例を、添付図面を参照して説明する。
ここで、本発明の実施形態を図3ないし図7を参照して説明する。
図3は、本発明の好ましい実施形態による装置の、複式ボンドヘッドボンディングシステムの形態での斜視図である。この装置は、その主要なコンポーネントとして、基板2を載置ポジションあるいはボンディング領域3(ここに基板2を接着するためのレセプター面18が設けられる)へと一方向にのみ搬送するための基板搬送デバイス1を具備する。本装置はまた、ウェーハテーブルの形態のダイ供給デバイス4としてコンポーネントの供給源、第1および第2のダイ配送デバイス5,6を具備する。ここでダイ配送デバイス5,6のそれぞれはダイ保持ツール7,8を支持する。
本装置はダイコンポーネントを、コンポーネントの供給源4の中のピックアップポジションあるいはピックポイント11から、載置ポジションあるいはボンディング領域3へと移送する。第2のダイ配送デバイス6は、ピックポイント11およびボンディング領域3を通るラインに関して、第1のダイ配送デバイス5と反対の側に配置されている。それら個々のダイ操作ツール7,8が概して上記ラインに沿って位置させられる場合、使用時、二つの配送デバイス5,6は、ピックアップおよび載置中を除いて、概して上記ラインの両側を移動し続けることになる。
ダイ配送デバイス5,6を別個に作動させることができる駆動手段が存在する。この駆動手段は、X軸に関してダイ保持ツール7,8の位置を定めるX往復台16,17、Y軸に関してツール7,8の位置を定めるY往復台14,15、そしてZ軸に関してツール7,8の位置を定めるZ往復台12,13を具備してもよい。ゆえにダイ配送デバイス5,6は、直交するx軸、y軸およびz軸に沿って駆動可能である。ピックポイント11は、好ましくは固定ポジションであり、ダイ保持ツール7,8はダイ供給デバイス4からこのピックポイント11においてダイを持ち上げるようプログラムされる。配送デバイス5,6は、以下で詳述するように、ピックポイント11からボンディング領域3へとダイコンポーネントを交互に移送するようプログラムされる。さらに、ピックアップポジション11の上にはピックアップ光学デバイス9が、そして載置ポジション3の上には載置光学デバイス10が存在する。
基板2は基板供給ユニット(図示せず)から基板搬送デバイス1へと配送される。ダイボンディングに先立って、この基板2には、たいてい前処理が施される。エポキシダイ接着機では、これが、基板2のレセプターあるいはボンドパッド18上への接着材料の分与を含んでいてもよい。共晶(eutectic)ダイ接着機の場合には、この代わりに、加熱カプセルがボンドパッド18に熱エネルギーを加えてもよい。前処理がなされた基板2は、搬送デバイス1によって、半導体ダイをそれに接着させる準備ができたボンディング領域3へと段階的に前進させられる。
図4aおよび図4bはそれぞれ図3のボンディングシステムの平面図および正面図であり、ここではダイ配送デバイス5,6は両方ともそれらのホームポジションに存在する。これは稼働前の第1の静止ポジションである。図4bは図4aのA方向から見た図である。ダイ配送デバイス5,6のX往復台16,17は相互に最も遠く離れたポジションにある。Y往復台14,15はダイ供給デバイス4に近い、その最も前よりのポジションにある。Z往復台12,13はその最も高いポジションにある。
ダイ配送デバイス5,6をホームポジションに到達させるための動作シーケンスの一例は、まず二つのX往復台16,17を順次あるいは同時に互いに離れるように駆動することである(この後にY往復台14,15およびZ往復台12,13の駆動が続く)。ダイ配送デバイス5,6の構造は、このダイ配送デバイス5,6を設けるための対応するZ往復台12,13が互いに向き合うよう配置されていることを除いて同じである。
ダイ配送デバイス5,6は複合テーブルを備え、ここでX往復台16,17、Y往復台14,15およびZ往復台12,13は、ダイ配送デバイス5,6のダイ保持ツール7,8をX軸、Y軸およびZ軸に関して移動させるため関係するアクチュエータによって駆動される。好ましくは、Y軸およびZ軸に関する駆動機構は分離される。ダイ配送デバイス5,6は両方とも位置センサーを備え、これによってダイ配送デバイス5,6のポジションを、それらが互いに衝突しないように連続的に監視できる。
図5aおよび図5bはそれぞれ図3のボンディングシステムの平面図および正面図であり、ここではダイ配送デバイス5,6は両方ともそれらのスタンバイポジションに存在する。これは稼働前の第2の静止ポジションである。図5bは図5aのA方向から見た図である。このポジションでは、ダイ保持ツール7はダイをピックアップする準備ができている。ダイはピックポイント11まで、ダイ供給デバイス4によって移動させられる。同時に、基板搬送デバイス1によって、この基板搬送デバイス1上の基板2がボンディングステーションに供給され、そしてボンディング領域3において停止させられる。図4および図5に示す少なくとも二つの静止ポジションにおいて、ダイ配送デバイス5,6は、ピックポイント11およびボンディング領域3を通るラインに関して対称的に配置されていることが認められる。これら静止ポジションにおいて、Z往復台12,13もまた互いに向き合うよう設けられている。
図6aおよび図6bはそれぞれ図3のボンディングシステムの平面図および正面図であり、ダイ配送デバイス5,6のダイ保持ツール7,8の供給経路20,21からなる移動経路を示す。図6bは図6aのA方向から見た図である。このシステムのボンディングサイクルは、ダイ保持ツール7を図6に示すピックポイント11上のポジションまで移動させることから開始される。ダイ保持ツール7がピックポイント11においてダイの上まで降下させられたとき、ダイ保持ツール7には真空が作用させられ、続いてそれは持ち上げられる。ダイ供給デバイス4上のダイはたいてい、その配列を維持するため粘着テープ上に設けられるので、ダイ保持ツール7の上昇は、ダイ供給デバイス4のエジェクターピン(図示せず)の、ダイに当接する上昇動作と同期させられ、この同時になされる作用が、ダイが完全にそのテープ裏材から剥離させられるまでダイを持ち上げる。エジェクターピンはその後格納され、そしてダイはダイ保持ツール7によって保持される。
いったんダイ保持ツール7がダイを保持すると、それは経路20に沿ってピックポイント11からボンディング領域3上のポイントまで移動する。ダイ保持ツール7はボンディング領域3においてボンドパッド18上へ降下させられ、そこでダイ保持ツール7の真空状態は解除され、そしてダイは基板2のレセプターあるいはボンドパッド18上に接着される。同時に、もう一方のダイ保持ツール8は経路21に沿ってピックポイント11まで移動するが、ここでダイ供給デバイス4によって提供される他のダイは、図7に示す移動経路23に沿って持ち上げられ移動させられる。ダイ保持ツール7,8の供給経路20,21は両方とも、対応するダイ配送デバイス5,6によって、X平面、Y平面およびZ平面における動作軌跡の組み合わせの中で動かすことができる。
図7aおよび図7bはそれぞれ図3のボンディングシステムの平面図および正面図であり、ダイ配送デバイス5,6のダイ保持ツール7,8の帰還経路22,23からなる移動経路を示す。図7bは図7aのA方向から見た図である。ダイ保持ツール7がダイを基板2のボンドパッド18に接着した後、それは経路22に沿ってボンディング領域3からピックポイント11まで移動し、そこでダイ供給デバイス4によって提供される別のダイを持ち上げる。同時に、ダイ保持ツール8がダイをダイ供給デバイス4からピックアップした後、それは経路23に沿ってピックポイント11からボンディング領域3へと移動し、そこでボンディング領域3の空きレセプターあるいはボンドパッド18にダイを接着する。ダイ保持ツール7,8の両経路22,23は、ダイ配送デバイス5,6によって、X平面、Y平面およびZ平面における動作軌跡の組み合わせの中で動かすことができる。さらに、移動経路20,21,22および23は同一である必要はない。このボンディングサイクルは、基板2上の全てのボンドパッド18が接着されるまで繰り返される。基板搬送デバイスは、基板2をこの基板搬送デバイス1のアンローディングセクション(図示せず)まで移動させる。新しい基板がボンディング領域3に供給され、そしてボンディングサイクルが繰り返される。
上の記載から、ダイ配送デバイス5,6は、ピックアップポジション11と載置ポジション3との間で実質的に反対方向に同時に移動するよう駆動可能であることがわかる。さらに、第1のダイ配送デバイス5あるいは第2のダイ配送デバイス6は、他方の配送デバイスがダイを載置ポジション3に載置するのと実質的に同時に、ダイをピックアップポジション11からピックアップするように機能する。そうすることでUPHが増大する。なぜなら、ピックアップと載置とが同時に実施できるからである。説明した実施形態において、第1のダイ配送デバイス5の移動経路20,22は、ピックアップポジション11および載置ポジション3を通るラインに関して、第2のダイ配送デバイス6の移動経路21,23の鏡像をなしていることもまた認められる。
ダイそれぞれが接着される前に、ダイが接着されることになる基板2のボンドパッドポジション18は、載置光学デバイス10によってチェックされる。この載置光学デバイス10は載置ポジションあるいはボンディング領域3の上に設けられる。このボンディング領域3は、ダイ保持ツール7,8がダイを接着するよう機能するボンディング面上の領域である。ボンドパッド18のポジションとボンディング領域3との間の位置オフセットは、ボンディングサイクル中にボンディングを実施する準備ができたダイ配送デバイス5,6を調整することによって補償可能である。位置オフセットのフィードバック値により、ダイ配送デバイス5,6は、ダイ保持ツール7,8を実際のボンドパッドポジションへと駆動することになる。同様に、ダイそれぞれが持ち上げられる前、そのポジションは、ピックポイント11の上に設けられたピックアップ光学デバイス9によってチェックされる。ダイポジションとピックポイント11との間の位置オフセットは、ボンディングサイクル中にダイを持ち上げる準備ができたダイ配送デバイス5,6によって補償可能である。一方、回転オフセットはダイ供給デバイス4を回転させることにより補償可能である。
本実施形態では、本装置をダイボンディング用途について説明した。しかしながら、それはまた、ダイ供給デバイス4およびダイ保持ツール7,8を、それぞれ移送されるコンポーネントおよび配送デバイスとしてエポキシ樹脂供給デバイスおよびスタンピングピンにて置き換えることで、たとえばエポキシ樹脂スタンピングシステムとしても応用可能である。請求範囲に属する他の応用についても同様に可能である。さらに上記実施形態では、ダイ配送デバイス5,6はダイを連続するボンドパッド18に交互に接着する。しかしながら、連続するダイを、サブユニットがボンディング領域3にある間に、同じボンドパッド18上のサブユニットに接着することもできる。
上記実施形態においては、ダイ配送デバイス5,6のそれぞれは、X往復台16,17、Y往復台14,15およびZ往復台12,13によって構成される複合テーブルを含む。これら往復台は結合あるいは分離して配置できる。
さらに上記実施形態においては、ダイ配送デバイス5,6のそれぞれは、X往復台16,17用のガイドが設けられる、それ自身のベースサポートを有する。しかしながら、二つのダイ配送デバイス5,6は共有ベースサポート上に設けることができる。
二つの別個のダイ配送デバイス5,6が、共有のダイ供給ステーション1あるいはウェーハテーブルの同じポイント11からダイを交互にピックアップし、そしてダイが基板の既定の位置に接着される領域にダイを配送するので、余分なダイ供給ステーション、ダイエジェクターステーションおよびピック光学ステーションを抱え込む必要のないことが認められる。それゆえ設備の重複を回避できる。
また、本発明の両ボンドヘッドがダイ供給デバイス4上の共有ウェーハからダイをピックアップするので、そして付加的なウェーハテーブルおよびピック光学システムを必要としないので、この新システムのフットプリントは削減される。本発明の上記実施形態は、従来型の複式ボンドヘッドシステムと同様、カスケードラインシステムと比較した場合、サイズがコンパクトであり、かつ低コストである。これはとりわけ、従来システムにおいては、多くのハードウェアコンポーネント(機械的および電気的なものの両方)が重複しているかあるいは余分だからである。
ピックヘッドおよびボンドヘッドが結合された従来型の複式ヘッドシステムとは異なり、本発明のシステムの処理量は、ダイ配送デバイス5,6およびダイ保持ツール7,8を具備する別個のボンドヘッドの並行機能により実質的に増大可能である。また、ボンドヘッドの機能不全を回避でき、それゆえ新しいシステムは依然として一つのボンドヘッドのみで生産を続けることができる。ゆえにマシンの休止時間を削減可能である。
ここで説明した本発明は、詳しく説明したもの以外にも、変更、修正および/または付加が可能である。本発明は、上記説明の精神および範囲に属する、そうした変更、修正および/または付加の全てを包含することを理解すべきである。
双対ボンドヘッドダイボンディングシステム用の従来型カスケードラインの平面図である。 リニアアーム構造を備えた複式ボンドアームシステムの平面図である。 回転Vアーム構造を備えた複式ボンドアームシステムの平面図である。 本発明の好ましい実施形態による装置の、複式ボンドヘッドボンディングシステムの形態での斜視図である。 図3のボンディングシステムの平面図であり、ここでダイ配送デバイスは両方ともそのホームポジションにある。 図3のボンディングシステムの正面図であり、ここでダイ配送デバイスは両方ともそのホームポジションにある。 図3のボンディングシステムの平面図であり、ここでダイ配送デバイスは両方ともそのスタンバイポジションにある。 図3のボンディングシステムの正面図であり、ここでダイ配送デバイスは両方ともそのスタンバイポジションにある。 ダイ配送デバイスのダイ保持ツールの供給経路を示す、図3のボンディングシステムの平面図である。 ダイ配送デバイスのダイ保持ツールの供給経路を示す、図3のボンディングシステムの正面図である。 ダイ配送デバイスのダイ保持ツールの帰還経路を示す、図3のボンディングシステムの平面図である。 ダイ配送デバイスのダイ保持ツールの帰還経路を示す、図3のボンディングシステムの正面図である。
符号の説明
1 基板搬送デバイス
2 基板
3 ボンディング領域
4 ダイ供給デバイス
5 第1のダイ配送デバイス
6 第2のダイ配送デバイス
7,8 ダイ保持ツール
9 ピックアップ光学デバイス
10 載置光学デバイス
11 ピックポイント
12,13 Z往復台
14,15 Y往復台
16,17 X往復台
18 ボンドパッド
20,21 供給経路
22,23 帰還経路

Claims (17)

  1. 半導体加工処理中、コンポーネントの供給源の中のピックアップポジションからレセプター上の載置ポジションへと前記コンポーネントを移送するための装置であって、第1の配送デバイスと、前記ピックアップポジションおよび前記載置ポジションを通るラインに関して前記第1の配送デバイスと反対の側に配置された第2の配送デバイスとを具備し、前記第1および第2の配送デバイスは、前記ピックアップポジションから前記載置ポジションへと前記コンポーネントを交互に移送するよう機能することを特徴とする装置。
  2. 前記第1および第2の配送デバイスを別個に稼働させることができる駆動手段を具備してなることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  3. 前記配送デバイスは、稼動中、前記ピックアップポジションと前記載置ポジションとの間で実質的に反対方向に同時に移動するよう駆動可能であることを特徴とする請求項2に記載の装置。
  4. 前記駆動手段は、前記配送デバイスを、直交するx軸、y軸およびz軸に沿って駆動するのに適合したものであることを特徴とする請求項2に記載の装置。
  5. 少なくともx軸およびy軸に沿って前記配送デバイスを駆動するのに適合した前記駆動手段は分離させられていることを特徴とする請求項4に記載の装置。
  6. 前記配送デバイスは、少なくとも前記配送デバイスが静止ポジションにあるときには、前記ピックアップポジションおよび配置ポジションを通る前記ラインに関して対称的に配置されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  7. 各自の前記配送デバイスをz軸に関して駆動するZ往復台のそれぞれは、前記静止ポジションにおいて互いに向き合うよう設けられていることを特徴とする請求項6に記載の装置。
  8. 前記第1の配送デバイスあるいは前記第2の配送デバイスは、コンポーネントを前記載置ポジションに載置する他方の前記配送デバイスと実質的に同時に、コンポーネントを前記ピックアップポジションからピックアップするよう機能することを特徴とする請求項1に記載の装置。
  9. 前記装置の前記ピックアップポジションは固定されていることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  10. 前記配送デバイスそれぞれは、前記ピックアップポジションおよび前記載置ポジションを通る前記ラインに関して互いに鏡像をなす既定の移動経路に沿って移動可能であることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  11. 前記ピックアップポジション上にピックアップ光学デバイスを備え、かつ前記載置ポジション上に載置光学デバイスを備えることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  12. 前記配送デバイスそれぞれのポジションを連続的にモニタリングするためのポジションセンサーを備えることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  13. 前記レセプターと前記載置ポジションとの間の位置オフセットあるいは回転オフセットを補償するよう、前記レセプターと前記載置ポジションとの間の位置オフセットをチェックするための載置光学デバイスを備えることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  14. 位置オフセットを補償するため前記配送デバイスを調整することが可能であることを特徴とする請求項13に記載の装置。
  15. 回転オフセットを補償するため前記コンポーネントの供給源を回転させることが可能であることを特徴とする請求項13に記載の装置。
  16. 前記半導体コンポーネントは半導体ダイからなり、かつ前記配送デバイスはダイボンドヘッドを具備してなることを特徴とする請求項1に記載の装置。
  17. 前記半導体コンポーネントはエポキシ樹脂の供給源を具備し、かつ前記配送デバイスはスタンピングピンを具備してなることを特徴とする請求項1に記載の装置。

JP2004164998A 2003-06-03 2004-06-02 コンポーネント用の複式配送デバイスを備えた半導体装置 Expired - Lifetime JP4150697B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/454,259 US7179346B2 (en) 2003-06-03 2003-06-03 Semiconductor apparatus with multiple delivery devices for components

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004363607A true JP2004363607A (ja) 2004-12-24
JP4150697B2 JP4150697B2 (ja) 2008-09-17

Family

ID=33489698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004164998A Expired - Lifetime JP4150697B2 (ja) 2003-06-03 2004-06-02 コンポーネント用の複式配送デバイスを備えた半導体装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7179346B2 (ja)
JP (1) JP4150697B2 (ja)
KR (1) KR100636610B1 (ja)
CN (1) CN100477075C (ja)
MY (1) MY137405A (ja)
SG (1) SG139737A1 (ja)
TW (1) TWI258450B (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100929197B1 (ko) * 2007-12-14 2009-12-01 세크론 주식회사 반도체칩 본딩 장치 및 이를 이용한 반도체칩 본딩 방법
JP2014017313A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Panasonic Corp 部品実装装置
KR20160003447U (ko) * 2016-09-26 2016-10-06 (주)제이티 다이본더 및 그에 사용되는 이송툴
JP2017162890A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 Tdk株式会社 実装装置
KR20220078361A (ko) * 2020-12-03 2022-06-10 세메스 주식회사 반도체 칩 반송 장치 및 이를 구비하는 소잉 소터 시스템

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7276396B2 (en) * 2004-10-06 2007-10-02 Intel Corporation Die handling system
US7332361B2 (en) 2004-12-14 2008-02-19 Palo Alto Research Center Incorporated Xerographic micro-assembler
NL1029206C2 (nl) * 2005-06-07 2006-12-08 Assembleon Nv Componenttoevoerinrichting alsmede werkwijze.
US7727800B2 (en) * 2005-12-12 2010-06-01 Asm Assembly Automation Ltd. High precision die bonding apparatus
TWI322476B (en) * 2006-10-05 2010-03-21 Advanced Semiconductor Eng Die bonder and die bonding method thereof
US7677431B2 (en) * 2006-10-19 2010-03-16 Asm Technology Singapore Pte Ltd. Electronic device handler for a bonding apparatus
US7457686B2 (en) * 2007-03-14 2008-11-25 Ortho—Clinical Diagnostics, Inc. Robotic arm alignment
SG147353A1 (en) * 2007-05-07 2008-11-28 Mfg Integration Technology Ltd Apparatus for object processing
KR20110037646A (ko) * 2009-10-07 2011-04-13 삼성전자주식회사 반도체 다이 본딩 장치
US20110248738A1 (en) * 2010-04-12 2011-10-13 Sze Chak Tong Testing apparatus for electronic devices
WO2011128980A1 (ja) * 2010-04-13 2011-10-20 パイオニア株式会社 部品移送装置及び方法
US7977231B1 (en) 2010-11-08 2011-07-12 Asm Assembly Automation Ltd Die bonder incorporating dual-head dispenser
US8336757B2 (en) * 2011-01-04 2012-12-25 Asm Assembly Automation Ltd Apparatus for transporting substrates for bonding
US8590143B2 (en) * 2011-05-25 2013-11-26 Asm Technology Singapore Pte. Ltd. Apparatus for delivering semiconductor components to a substrate
JP5815345B2 (ja) * 2011-09-16 2015-11-17 ファスフォードテクノロジ株式会社 ダイボンダ及びボンディング方法
US8905109B2 (en) * 2011-12-12 2014-12-09 Asm Technology Singapore Pte. Ltd. Apparatus for bonding substrates to each other
WO2013171893A1 (ja) * 2012-05-18 2013-11-21 富士機械製造株式会社 対基板作業システム
US20140341691A1 (en) * 2013-05-14 2014-11-20 Kui Kam Lam Bonding apparatus having a plurality of rotary transfer arms for transferring electronic devices for bonding
DE102013105660B3 (de) * 2013-06-03 2014-07-24 Amicra Microtechnologies Gmbh Bestückungsvorrichtung und Verfahren zum Aufbringen von elektrischen und/oder optoelektrischen Bauteilen auf Substrate
KR20160145604A (ko) * 2014-04-22 2016-12-20 씨러스 로직 인코포레이티드 개별화된 디바이스 패키지들을 전달하는 방법들 및 시스템들
WO2015172383A1 (zh) * 2014-05-16 2015-11-19 吉瑞高新科技股份有限公司 一种绝缘环拾取手臂、绝缘环装配装置以及装配方法
KR101582984B1 (ko) 2014-09-22 2016-01-12 에스티에스반도체통신 주식회사 반도체 다이 본딩 장치 및 그 방법
US10199254B2 (en) * 2015-05-12 2019-02-05 Nexperia B.V. Method and system for transferring semiconductor devices from a wafer to a carrier structure
CN105188273A (zh) * 2015-07-29 2015-12-23 王硕 一种散装led高速贴片机
CN107887293B (zh) * 2016-09-30 2020-06-16 上海微电子装备(集团)股份有限公司 一种批处理键合装置及键合方法
WO2018154760A1 (ja) * 2017-02-27 2018-08-30 ヤマハ発動機株式会社 部品実装装置
US11600516B2 (en) * 2020-05-13 2023-03-07 Asmpt Singapore Pte. Ltd. Die ejector height adjustment

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3616948A (en) * 1970-04-30 1971-11-02 Usm Corp Article separating machines
US3921821A (en) * 1974-03-27 1975-11-25 Engineering Dev Associates Inc Count interval sampling mechanism
JPH0664177B2 (ja) * 1986-09-26 1994-08-22 株式会社日立製作所 原子炉燃料交換機の制御方式
US4890241A (en) * 1987-10-26 1989-12-26 Megamation Incorporated Robotic system
US5397423A (en) * 1993-05-28 1995-03-14 Kulicke & Soffa Industries Multi-head die bonding system
KR100317648B1 (ko) * 1998-08-26 2002-02-19 윤종용 절연접착테이프에의하여다이접착되는반도체소자및다이접착방법그리고그장치
US6248201B1 (en) * 1999-05-14 2001-06-19 Lucent Technologies, Inc. Apparatus and method for chip processing
US6658324B2 (en) * 2000-09-29 2003-12-02 Gpc Biotech Ag Pick and place robot system
JP2003007731A (ja) 2001-06-27 2003-01-10 Rohm Co Ltd 半導体チップのマウント方法及びその装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100929197B1 (ko) * 2007-12-14 2009-12-01 세크론 주식회사 반도체칩 본딩 장치 및 이를 이용한 반도체칩 본딩 방법
JP2014017313A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Panasonic Corp 部品実装装置
JP2017162890A (ja) * 2016-03-08 2017-09-14 Tdk株式会社 実装装置
KR20160003447U (ko) * 2016-09-26 2016-10-06 (주)제이티 다이본더 및 그에 사용되는 이송툴
KR200484965Y1 (ko) * 2016-09-26 2017-12-12 (주)제이티 다이본더 및 그에 사용되는 이송툴
KR20220078361A (ko) * 2020-12-03 2022-06-10 세메스 주식회사 반도체 칩 반송 장치 및 이를 구비하는 소잉 소터 시스템
KR102483224B1 (ko) 2020-12-03 2022-12-29 세메스 주식회사 반도체 칩 반송 장치 및 이를 구비하는 소잉 소터 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
TWI258450B (en) 2006-07-21
US7179346B2 (en) 2007-02-20
CN100477075C (zh) 2009-04-08
CN1574204A (zh) 2005-02-02
MY137405A (en) 2009-01-30
JP4150697B2 (ja) 2008-09-17
SG139737A1 (en) 2008-02-29
TW200505777A (en) 2005-02-16
KR20040104419A (ko) 2004-12-10
KR100636610B1 (ko) 2006-10-20
US20040244915A1 (en) 2004-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4150697B2 (ja) コンポーネント用の複式配送デバイスを備えた半導体装置
KR102495699B1 (ko) 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
US10910248B2 (en) Electronic component mounting apparatus
US10497590B2 (en) Electronic component handling unit
KR100481527B1 (ko) 다이 본딩 장치
JP2019047089A (ja) 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
KR102708943B1 (ko) 본딩 장치
JP2023169199A (ja) ダイ取り付けシステム、およびダイを基板に取り付ける方法
JP7039675B2 (ja) 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
JP3497078B2 (ja) ダイボンダ
JP4234300B2 (ja) チップ移送装置
KR100639149B1 (ko) 반도체 칩 플립 어셈블리 및 이를 이용한 반도체 칩 본딩장치
KR100914986B1 (ko) 칩 본딩 장비
JP6942829B2 (ja) 電子部品の実装装置
TW202415609A (zh) 料盒移送模組以及利用其的晶粒接合裝置
KR102904308B1 (ko) 전자 부품의 실장 장치 및 실장 방법
WO2025134786A1 (ja) 接合システム、及び接合方法
WO2025134780A1 (ja) 接合装置、接合システム、及び接合方法
JP3982367B2 (ja) ボンディング装置
KR20110057466A (ko) 부품실장기의 다이 공급장치
JPH06326140A (ja) ダイスボンダ
JPH01316941A (ja) ダイボンド装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070724

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070921

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080124

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20080407

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080514

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080603

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080630

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110704

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4150697

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120704

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120704

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130704

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term