JP2005140657A - 静電容量型センサの容量変化検出回路 - Google Patents

静電容量型センサの容量変化検出回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2005140657A
JP2005140657A JP2003377989A JP2003377989A JP2005140657A JP 2005140657 A JP2005140657 A JP 2005140657A JP 2003377989 A JP2003377989 A JP 2003377989A JP 2003377989 A JP2003377989 A JP 2003377989A JP 2005140657 A JP2005140657 A JP 2005140657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitance
initial
difference
detection circuit
physical quantity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003377989A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshikazu Itakura
敏和 板倉
Hisanori Yokura
久則 与倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2003377989A priority Critical patent/JP2005140657A/ja
Priority to US10/940,014 priority patent/US7071709B2/en
Priority to DE102004052034A priority patent/DE102004052034B4/de
Priority to FR0411467A priority patent/FR2862135B1/fr
Publication of JP2005140657A publication Critical patent/JP2005140657A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605Measuring capacitance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

【課題】静電容量素子に初期容量差がある場合でも正確な静電容量の変化を検出可能で且つ低コストな静電容量型センサの容量変化検出回路を提供する。
【解決手段】各静電容量素子C1,C2に初期容量差ΔCがある場合でも、スイッチ17が閉じられている時間(リセット時間)tと初期容量差ΔCとの関係を最適化することにより、物理量の検出に十分正確な電圧信号Vsyを得ることが可能になり、特別な回路を設けてコストを増大させることなく、各静電容量素子C1,C2の静電容量の変化を正確に検出ることができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、静電容量型センサの容量変化検出回路に係り、詳しくは、物理量を静電容量の変化によって検出する静電容量型センサの容量変化を検出することで検出対象の物理量を検出する容量変化検出回路に関するものである。
従来より、物理現象に伴って生じる物理量(例えば、加速度や圧力など)を静電容量の変化によって検出する静電容量型センサと、その静電容量型センサの容量変化を電気信号(電圧信号)に変換する容量変化検出回路とを組み合わせることにより、物理量に対応した電気信号を出力する検出装置が広く利用されている。
例えば、特許文献1には、所定のセンサが検出対象の物理現象を静電容量の容量値の変動としてとらえ、その容量値の差をスイッチトキャパシタ部により電気信号に変換する容量型センサの容量変化検出回路において、前記スイッチトキャパシタ部が、第1のセンサ駆動信号で駆動され前記検出対象の変化容量を蓄積するセンサ容量素子と、第2のセンサ駆動信号で駆動され前記センサ容量素子の容量値との差をとるための基準容量となる参照容量素子と、一方の入力端子に前記センサ容量素子および前記参照容量素子の各一方端が共通接続されかつ出力端子から帰還容量素子と帰還制御スイッチとがそれぞれ並列接続状態で接続されるとともに他方の入力端子があらかじめ定めた基準電位に接続された帰還増幅器とを有するものが開示されている。
しかし、特許文献1の技術では、検出対象の物理量が零の初期状態(定常状態)におけるセンサ容量素子と参照容量素子の初期容量が同一になるように各容量素子を作成するのが難しく、各容量素子の初期容量に差(静電容量のアンバランス)が生じやすい。その各容量素子の初期容量差が帰還容量素子の容量を越えると、帰還容量素子が飽和して帰還増幅器の出力が一定になってしまい(出力感度が出なくなり)、物理量を検出できなくなる。
そこで、本出願人は、特許文献2に開示されるように、物理量に応じて容量値が変化する可変容量(特許文献1の「センサ容量素子、参照容量素子」に相当)と、その可変容量の容量変化を電圧信号に変換するC−V変換回路(特許文献1の「スイッチトキャパシタ部」に相当)と、そのC−V変換回路の出力信号を電荷量としてそれぞれ異なるタイミングで保持する第1,第2の電荷保持部と、前記C−V変換回路の出力信号のオフセットを調整するための信号を電荷量として保持するオフセット調整用電荷保持部と、前記第1,第2の電荷保持部および前記オフセット調整用電荷保持部に保持された電荷量を統合した電荷量を保持する統合電荷保持部と、前記統合電荷保持部に保持された電荷を受け取り、その電荷量に基づいて前記物理量に応じた電圧を出力する出力部とを備えた信号処理装置を提案している。
特許文献2の技術によれば、電圧で信号処理するのではなく、電荷量を用いて信号処理する新規な構成の信号処理装置とし、可変容量に大きなオフセット(初期容量差、静電容量のアンバランス)が発生したとしても、それを効果的に除去することができる。
特開平8−145717号公報(第2〜3頁、図1) 特開2001−249028号公報(第2〜5頁、図1、図2)
特許文献2の技術では、可変容量のオフセット(初期容量差、静電容量のアンバランス)を除去するための回路(第1,第2の電荷保持部、オフセット調整用電荷保持部、統合電荷保持部、出力部)が必要であり、その回路を設ける分だけコストが増大するという問題があった。
本発明は上記問題を解決するためになされたものであって、その目的は、可変容量素子に初期容量がある場合でも正確な静電容量の変化を検出可能で且つ低コストな静電容量型センサの容量変化検出回路を提供することにある。
(請求項1)
請求項1に記載の発明は、物理現象に伴って生じる物理量に応じて静電容量が変化する可変容量素子と、前記可変容量素子の容量変化を電圧信号に変換するC−V変換回路とを備えた静電容量型センサの容量変化検出回路であって、前記C−V変換回路は、反転入力端子に前記可変容量素子が接続されたオペアンプと、そのオペアンプの反転入力端子と出力端子の間に並列接続されたスイッチおよびコンデンサとを有するスイッチトキャパシタ回路からなり、前記スイッチが閉じられているリセット時間をtとし、前記物理量が零の初期状態における前記可変容量素子の初期容量をΔCとし、0.235〜1150000の数値範囲をとる第1係数をmとし、0.360〜1410000の数値範囲をとる第2係数をnとしたときに、t≧(ΔC−m)/n の関係を満たす静電容量型センサの容量変化検出回路を技術的特徴とする。
(請求項2)
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の静電容量型センサの容量変化検出回路において、前記可変容量素子は差動型可変容量素子であり、前記初期容量ΔCは、前記物理量が零の初期状態における差動型可変容量素子の初期容量の差であることを技術的特徴とする。
(請求項3)
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の静電容量型センサの容量変化検出回路において、前記可変容量素子は、前記物理量に応じて静電容量が変化するセンサ容量素子と、そのセンサ容量素子との容量差を求めるための基準容量となる固定容量素子とからなり、前記初期容量ΔCは、前記物理量が零の初期状態における前記センサ容量素子と前記固定容量素子との初期容量の差であることを技術的特徴とする。
(請求項4)
請求項4に記載の発明は、請求項1〜3のいずれか1項に記載の静電容量型センサの容量変化検出回路において、前記可変容量素子と前記C−V変換回路とをワンチップに集積化したことを技術的特徴とする。
(請求項1)
請求項1に記載の発明によれば、可変容量素子に初期容量がある場合でも、リセット時間と初期容量との関係を最適化することにより、物理量の検出に十分正確な電圧信号を得ることが可能になり、可変容量の静電容量の変化を正確に検出することができる。そして、請求項1に記載の発明によれば、特許文献2のように初期容量差を除去するための回路を設ける必要がないため、コストの増大を防止できる。
(請求項2)
請求項2に記載の発明によれば、可変容量素子として差動型可変容量素子を用いることができる。
(請求項3)
請求項3に記載の発明によれば、可変容量素子として、前記物理量に応じて静電容量が変化するセンサ容量素子と、そのセンサ容量素子との容量差を求めるための基準容量となる固定容量素子とを用いることができる。
(請求項4)
請求項4に記載の発明によれば、可変容量素子とC−V変換回路とをワンチップに集積化することで両者を接続する接続ワイヤを省くことが可能になる。そのため、前記接続ワイヤの線路インピーダンスがワンチップ内部の配線の線路インピーダンスに置き換えられて非常に小さくなり、その分だけ線路インピーダンスと初期容量との乗算値である時定数を小さくすることが可能になることから、請求項1〜3に記載の発明の効果を更に高めることができる。
図1は、本発明を具体化した一実施形態に係る静電容量型センサの容量変化検出回路11の回路図である。容量変化検出回路11は、センサ部チップ12、回路部チップ13、制御回路14から構成されている。そして、各チップ12,13は接続ワイヤ15によって接続されている。制御回路14は、各チップ12,13を駆動制御するための制御信号S1〜S3を生成して各チップ12,13に出力する。
センサ部チップ12は、静電容量素子(コンデンサ)C1,C2から構成されたチップ部品である。各静電容量素子C1,C2は直列接続され、静電容量素子C1には制御信号S3が印加され、静電容量素子C2には制御信号S2が印加される。尚、各制御信号S2,S3は互いに逆相の搬送波である。
センサ部チップ12は、物理現象に伴って生じる物理量(例えば、加速度や圧力など)を各静電容量素子C1,C2の静電容量の変化によって検出する静電容量型センサである。
例えば、物理量として加速度を検出する場合、直列接続された各静電容量素子C1,C2を、対向する固定電極の間に可動電極(中間電極)が配置された構造のコンデンサとし、当該可動電極が各静電容量素子C1,C2の接続された側の電極として共用することにより、各静電容量素子C1,C2を差動型可変容量素子(差動容量)とする。
センサ部チップ12に加速度が印加されると、その加速度によって可動電極が変位し、その可動電極の変位に対応して各静電容量素子C1,C2の容量が共に変化する。そして、各静電容量素子C1,C2の容量差は加速度に比例して変化する。よって、各静電容量素子C1,C2の容量差の変化を検出すれば、加速度の変化を検出できる。
回路部チップ13は、オペアンプ16、スイッチ17、コンデンサ(帰還容量)Cfから構成されたチップ部品である。オペアンプ16の反転入力端子には、接続ワイヤ15を介してセンサ部チップ12の各静電容量素子C1,C2の接続点(前記可動電極)が接続されている。オペアンプ16の非反転入力端子には、基準電圧Vr(例えば、2.5V)が印加されている。
オペアンプ16の反転入力端子と出力端子の間には、スイッチ17とコンデンサCfが並列に接続されている。スイッチ17は、スイッチング素子(例えば、バイポーラトランジスタやFETなど)によって構成され、その開閉動作は制御信号S1によって切り替えられる。
つまり、回路部チップ13は、スイッチトキャパシタ回路からなるC−V(静電容量−電圧)変換回路を構成し、各制御信号S2,S3の反転に伴って生じる各静電容量素子C1,C2の容量差の変化を電圧信号Vsyに変換してオペアンプ16の出力端子から出力する。
図2は、静電容量型センサの容量変化検出回路11の動作を説明するためのタイミングチャートである。
以下、静電容量素子C1,C2およびコンデンサCfの静電容量をそれぞれ「C1」「C2」「Cf」と表記する。また、静電容量素子C1,C2およびコンデンサCfに蓄積される電荷量をそれぞれ「Q1」「Q2」「Qf」と表記する。そして、各制御信号S2,S3は、ハイレベルの電圧Vp(例えば、5V)とローレベルの電圧(=0V)の2つの電圧値をとり、その電圧振幅はVp(V)である。また、スイッチ17は、ハイ(H)レベルの制御信号S1によって閉じられ、ロー(L)レベルの制御信号S1によって開かれる。
時刻T0では、各静電容量素子C1,C2にそれぞれ電荷量Q1(=C1×(0−Vr)),Q2(=C2×(Vp−Vr))が蓄積され、各電荷量Q1,Q2を合わせた総電荷量Qt(=Q1+Q2)が蓄積される。
時刻T1では、制御信号S1に従ってスイッチ17が開かれ、オペアンプ16の反転入力端子と出力端子との間が直流的に開放状態となる。
時刻T2では、各静電容量素子C1,C2にそれぞれ電荷量Q1(=C1×(Vp−Vr)),Q2(=C2×(0−Vr))が蓄積され、各電荷量Q1,Q2を合わせた総電荷量Qt′(=Q1+Q2)が蓄積される。
このとき、スイッチ17が開かれており、オペアンプ16の反転入力端子と出力端子との間が直流的に開放状態であるため、コンデンサCfには電荷量Qf(=Qt−Qt′)が蓄積される。そのため、オペアンプ16の出力端子の電圧信号Vsyは、コンデンサCfの電荷量Qfを静電容量Cfで除算した電圧値(Qf/Cf)で安定する。
時刻T3では、制御信号S1に従ってスイッチ17が閉じられ、オペアンプ16の反転入力端子と出力端子との間が直流的に短絡状態(ボルテージフォロアの状態)となり、コンデンサCfに蓄積された電荷が放電されると共に、オペアンプ16の反転入力端子が基準電圧Vrと同電位となる。
そして、以降の時刻T4〜T6では同様の動作が繰り返される。そのため、オペアンプ16の出力端子の電圧信号Vsyは、数式1によって表される最大電圧Vs(V)を電圧振幅とする矩形波となる。
Vs=Vp×(C1−C2)/Cf ………(数式1)。
[実施形態の作用・効果]
静電容量型センサの容量変化検出回路11では、検出対象の物理量が零の初期状態(定常状態)における各静電容量素子C1,C2の初期容量が同一になるように各静電容量素子C1,C2を作成するのが難しく、各静電容量素子C1,C2の初期容量に差(オフセット容量、静電容量のアンバランス)が生じやすい。
その各静電容量素子C1,C2の初期容量差ΔCが大きいと、スイッチ17を閉じてもコンデンサCfに蓄積された電荷を十分に放電させて完全にリセットさせることができなくなり、コンデンサCfに徐々に電荷が溜まり、正確な電圧信号Vsyが得られなくなる。そして、初期容量差ΔCがコンデンサCfの容量Cfを越えると、コンデンサCfが飽和して電圧信号Vsyが一定になってしまい(出力感度が出なくなり)、物理量を検出できなくなる。
図3は、各静電容量素子C1,C2の初期容量差ΔCが大きくなった場合の電圧信号Vsyの変化を示すタイミングチャートである。
初期容量差ΔCが十分に小さい場合には、スイッチ17が閉じられると(図2に示す時刻T3)、電圧信号Vsyが速やかにローレベルになり、正常な電圧信号Vsyが得られる(α1)。
しかし、初期容量差ΔCが大きくなってゆくにつれて、スイッチ17が閉じられても電圧信号Vsyがなかなかローレベルにならず、電圧信号Vsyの「波形なまり」が増大してゆく(α2→α3→α4)。そして、初期容量差ΔCが非常に大きくなると、スイッチ17が閉じられても電圧信号Vsyがローレベルにならず一定になってしまう。
そこで、スイッチ17が閉じられている時間t(図2に示す時刻T0〜T1および時刻T3〜T5の時間。以下「リセット時間t」と表記する)と、初期容量差(オフセット容量)ΔCとをそれぞれ変化させ、電圧信号Vsyが正常か又は飽和するかを調べる実験を行い、図4〜図6に示すグラフのデータ(実測値)を得た。
図4〜図6に示すグラフのデータから、物理量の検出に十分正確な電圧信号Vsyが得られるリセット時間tと初期容量差ΔCとの関係は、各係数m,nを用いた数式2によって表されることが判明した。
t≧(ΔC−m)/n ………(数式2)。
ここで、係数mの範囲は約0.235〜1150000が適当であり、望ましくは約0.325〜0.725、特に望ましくは約0.433〜0.595である。
係数mがこの範囲より大きくなると(つまり、リセット時間tを表す直線の切片が大きくなると)、電圧信号Vsyが飽和する領域でリセット時間tおよび初期容量差ΔCを設定してもよいことになるため、係数mをこの範囲より大きくすることはできない。
また、係数mがこの範囲より小さくなると(つまり、リセット時間tを表す直線の切片が小さくなると)、電圧信号Vsyが実際には飽和しない領域までリセット時間tおよび初期容量差ΔCの設定を禁止してしまうような緩い規格になるため、係数mをこの範囲より小さくすることはできない。
係数nの範囲は約0.360〜1410000が適当であり、望ましくは約0.460〜0.960、特に望ましくは約0.610〜0.810である。
係数nがこの範囲より大きくなると(つまり、リセット時間tを表す直線の傾きが大きくなると)、電圧信号Vsyが飽和する領域でリセット時間tおよび初期容量差ΔCを設定してもよいことになるため、係数nをこの範囲より大きくすることはできない。
また、係数nがこの範囲より小さくなると(つまり、リセット時間tを表す直線の傾きが小さくなると)、電圧信号Vsyが実際には飽和しない領域までリセット時間tおよび初期容量差ΔCの設定を禁止してしまうような緩い規格になるため、係数nをこの範囲より小さくすることはできない。
図4に示す斜線の範囲は、リセット時間tおよび初期容量差ΔCの適当な範囲を示すものである。図5に示す斜線の範囲は、リセット時間tおよび初期容量差ΔCの望ましい範囲を示すものである。図6に示す斜線の範囲は、リセット時間tおよび初期容量差ΔCの特に望ましい範囲を示すものである。
以上詳述した本実施形態によれば、各静電容量素子C1,C2に初期容量差ΔCがある場合でも、リセット時間tと初期容量差ΔCとの関係を最適化することにより(数式2、図4〜図6の斜線範囲)、物理量の検出に十分正確な電圧信号Vsyを得ることが可能になり、各静電容量素子C1,C2の静電容量の変化を正確に検出することができる。そして、本実施形態によれば、特許文献2のように初期容量差ΔCを除去するための回路を設ける必要がないため、コストの増大を防止できる。
[別の実施形態]
ところで、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、以下のように具体化してもよく、その場合でも、上記実施形態と同等もしくはそれ以上の作用・効果を得ることができる。
(1)上記実施形態では、各静電容量素子C1,C2を差動型可変容量素子としている。しかし、静電容量素子C1を固定電極と可動電極が対向した構造の可変容量コンデンサ(センサ容量素子)とし、静電容量素子C2を固定電極が対向した構造の通常の固定容量コンデンサ(固定容量素子)としてもよい。
この場合、センサ部チップ12に加速度が印加されると、その加速度によって静電容量素子C1の可動電極が変位し、その可動電極の変位に対応して静電容量素子C1の容量が変化するのに対して、静電容量素子C2の容量は変化しない。そして、各静電容量素子C1,C2の容量差は加速度に比例して変化する。よって、各静電容量素子C1,C2の容量差の変化を検出すれば、加速度の変化を検出できる。つまり、容量一定の静電容量素子C2を、容量が変化する静電容量素子C1との容量差を求めるための基準容量として使用するわけである。
(2)上記(1)において、静電容量素子C2を省き、静電容量素子C1のみを設けるようにしてもよい。この場合、検出対象の物理量が零の初期状態における静電容量素子C1の初期容量が上記実施形態の初期容量差ΔCと同様に作用し、静電容量素子C1の初期容量分が電圧信号Vsyのオフセット電圧となって表れる。しかし、この場合でも、上記実施形態と同様にリセット時間tと初期容量差ΔCとの関係を最適化することにより(数式2、図4〜図6の斜線範囲)、上記実施形態と同様の効果が得られる。
(3)図3に示す電圧信号Vsyの「波形なまり」は、各静電容量素子C1,C2の初期容量差ΔCだけでなく、各チップ12,13を接続する接続ワイヤ15の線路インピーダンスZと初期容量差ΔCとの乗算値である時定数τ(=Z×ΔC)が大きいほど当該波形なまりも大きくなる。
そこで、図7に示すように、各チップ12,13をワンチップ21に集積化して接続ワイヤ15を省くようにすれば、接続ワイヤ15の線路インピーダンスZがワンチップ21内部の配線22の線路インピーダンスに置き換えられて非常に小さくなるため、その分だけ時定数τを小さくすることが可能になり、上記実施形態の効果を更に高めることができる。
図1は、本発明を具体化した一実施形態に係る静電容量型センサの容量変化検出回路11の回路図である。 図2は、静電容量型センサの容量変化検出回路11の動作を説明するためのタイミングチャートである。 図3は、各静電容量素子C1,C2の初期容量差ΔCが大きくなった場合の電圧信号Vsyの変化を示すタイミングチャートである。 図4は、リセット時間tおよび初期容量差(オフセット容量)ΔCを変化させた場合に電圧信号Vsyが正常か又は飽和するかを示すグラフである。図4に示す斜線の範囲は、リセット時間tおよび初期容量差ΔCの適当な範囲を示すものである。 図5は、リセット時間tおよび初期容量差(オフセット容量)ΔCを変化させた場合に電圧信号Vsyが正常か又は飽和するかを示すグラフである。図5に示す斜線の範囲は、リセット時間tおよび初期容量差ΔCの望ましい範囲を示すものである。 図6は、リセット時間tおよび初期容量差(オフセット容量)ΔCを変化させた場合に電圧信号Vsyが正常か又は飽和するかを示すグラフである。図6に示す斜線の範囲は、リセット時間tおよび初期容量差ΔCの特に望ましい範囲を示すものである。 図7は、本発明を具体化した別の実施形態に係る静電容量型センサの容量変化検出回路11の回路図である。
符号の説明
11…静電容量型センサの容量変化検出回路
12…センサ部チップ
13…回路部チップ
14…制御回路
15…接続ワイヤ
16…オペアンプ
17…スイッチ
21…ワンチップ
C1,C2…静電容量素子
Cf…コンデンサ
Vsy…電圧信号

Claims (4)

  1. 物理現象に伴って生じる物理量に応じて静電容量が変化する可変容量素子と、
    前記可変容量素子の容量変化を電圧信号に変換するC−V変換回路と
    を備えた静電容量型センサの容量変化検出回路であって、
    前記C−V変換回路は、
    反転入力端子に前記可変容量素子が接続されたオペアンプと、
    そのオペアンプの反転入力端子と出力端子の間に並列接続されたスイッチおよびコンデンサと
    を有するスイッチトキャパシタ回路からなり、
    前記スイッチが閉じられているリセット時間をtとし、前記物理量が零の初期状態における前記可変容量素子の初期容量をΔCとし、0.235〜1150000の数値範囲をとる第1係数をmとし、0.360〜1410000の数値範囲をとる第2係数をnとしたときに、
    t≧(ΔC−m)/n
    の関係を満たすことを特徴とする静電容量型センサの容量変化検出回路。
  2. 前記可変容量素子は差動型可変容量素子であり、
    前記初期容量ΔCは、前記物理量が零の初期状態における差動型可変容量素子の初期容量の差であることを特徴とする請求項1に記載の静電容量型センサの容量変化検出回路。
  3. 前記可変容量素子は、前記物理量に応じて静電容量が変化するセンサ容量素子と、そのセンサ容量素子との容量差を求めるための基準容量となる固定容量素子とからなり、
    前記初期容量ΔCは、前記物理量が零の初期状態における前記センサ容量素子と前記固定容量素子との初期容量の差であることを特徴とする請求項1に記載の静電容量型センサの容量変化検出回路。
  4. 前記可変容量素子と前記C−V変換回路とをワンチップに集積化したことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の静電容量型センサの容量変化検出回路。
JP2003377989A 2003-11-07 2003-11-07 静電容量型センサの容量変化検出回路 Pending JP2005140657A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003377989A JP2005140657A (ja) 2003-11-07 2003-11-07 静電容量型センサの容量変化検出回路
US10/940,014 US7071709B2 (en) 2003-11-07 2004-09-14 Circuit for detecting capacitance change in variable capacitance
DE102004052034A DE102004052034B4 (de) 2003-11-07 2004-10-26 Schaltung zum Erfassen einer Kapazitätsänderung in einem variablen Kondensator
FR0411467A FR2862135B1 (fr) 2003-11-07 2004-10-27 Circuit de detection de changement de capacite dans une capacite variable

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003377989A JP2005140657A (ja) 2003-11-07 2003-11-07 静電容量型センサの容量変化検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005140657A true JP2005140657A (ja) 2005-06-02

Family

ID=34510417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003377989A Pending JP2005140657A (ja) 2003-11-07 2003-11-07 静電容量型センサの容量変化検出回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7071709B2 (ja)
JP (1) JP2005140657A (ja)
DE (1) DE102004052034B4 (ja)
FR (1) FR2862135B1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007078648A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Matsushita Electric Works Ltd センサ装置
JP2010169534A (ja) * 2009-01-22 2010-08-05 Akebono Brake Ind Co Ltd 加速度センサ回路及び3軸加速度センサ回路
CN102590635A (zh) * 2011-01-13 2012-07-18 阿尔卑斯电气株式会社 电容检测装置
KR101472001B1 (ko) * 2012-12-06 2014-12-15 이성호 Ac 전원에 연동한 커패시턴스 검출 수단 및 방법
KR101817965B1 (ko) 2013-12-09 2018-01-11 주식회사 지2터치 Ac 전원에 연동한 커패시턴스 검출 수단 및 방법

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7498822B2 (en) * 2004-08-16 2009-03-03 Ying Lau Lee Linear capacitance measurement and touchless switch
US7323886B2 (en) * 2004-08-16 2008-01-29 Ying Lau Lee Linear capacitance measurement and touchless switch
DE102005028507B3 (de) * 2005-06-17 2006-11-30 Texas Instruments Deutschland Gmbh Verfahren zur Kapazitäts-Spannungs-Wandlung und Kapazitäts-Spannungs-Wandler
JP4315133B2 (ja) * 2005-07-01 2009-08-19 セイコーエプソン株式会社 固体撮像装置
DE102022213827A1 (de) 2022-12-19 2024-06-20 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Mikromechanischer Drehratensensor mit einem Sensorelement und Verfahren zum Betrieb eines mikromechanischen Drehratensensors mit einem Sensorelement
WO2026006207A1 (en) * 2024-06-25 2026-01-02 Ipg Photonics Corporation Device and process for measuring capacitance of capacitor

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5424650A (en) * 1993-09-24 1995-06-13 Rosemont Inc. Capacitive pressure sensor having circuitry for eliminating stray capacitance
JP2561040B2 (ja) * 1994-11-28 1996-12-04 日本電気株式会社 容量型センサの容量変化検出回路およびその検出方法
JP3216455B2 (ja) * 1994-12-22 2001-10-09 株式会社村田製作所 容量型静電サーボ加速度センサ
JP3125675B2 (ja) * 1996-03-29 2001-01-22 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
JP3264884B2 (ja) * 1998-05-11 2002-03-11 三菱電機株式会社 容量検出回路
JP4870889B2 (ja) * 1999-10-15 2012-02-08 アプロレーザ ディベロップメント カンパニー リミテッド ライアビリティー カンパニー 高度に構成可能な容量性トランスデューサインターフェイス回路
JP4352562B2 (ja) * 2000-03-02 2009-10-28 株式会社デンソー 信号処理装置
JP3942793B2 (ja) * 2000-03-30 2007-07-11 シャープ株式会社 電荷量検出回路
US6973829B2 (en) * 2000-08-29 2005-12-13 Denso Corporation Semiconductor dynamic quantity sensor with movable electrode and fixed electrode supported by support substrate
JP2002228680A (ja) * 2001-02-02 2002-08-14 Denso Corp 容量式力学量センサ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007078648A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Matsushita Electric Works Ltd センサ装置
JP2010169534A (ja) * 2009-01-22 2010-08-05 Akebono Brake Ind Co Ltd 加速度センサ回路及び3軸加速度センサ回路
CN102590635A (zh) * 2011-01-13 2012-07-18 阿尔卑斯电气株式会社 电容检测装置
KR101472001B1 (ko) * 2012-12-06 2014-12-15 이성호 Ac 전원에 연동한 커패시턴스 검출 수단 및 방법
US9952267B2 (en) 2012-12-06 2018-04-24 G2Touch Co., Ltd. Apparatus and method for detecting a variable capacitance
KR101817965B1 (ko) 2013-12-09 2018-01-11 주식회사 지2터치 Ac 전원에 연동한 커패시턴스 검출 수단 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004052034A1 (de) 2005-06-09
FR2862135A1 (fr) 2005-05-13
US20050099251A1 (en) 2005-05-12
US7071709B2 (en) 2006-07-04
FR2862135B1 (fr) 2008-02-08
DE102004052034B4 (de) 2013-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8310248B2 (en) Capacitive sensor device
US10338022B2 (en) Sensor circuit and method for measuring a physical or chemical quantity
JP5429207B2 (ja) 容量式物理量検出装置
US20060273804A1 (en) Capacitive measuring sensor and associated ,measurement method
JP4352562B2 (ja) 信号処理装置
TWI392877B (zh) 電容感測電路以及電容差異感測方法
JPH08178955A (ja) 容量型静電サーボ加速度センサ
CN108124474A (zh) 检测电容的装置、电子设备和检测压力的装置
JP2000065664A (ja) 静電容量式力学量センサ
US6952966B2 (en) Apparatus for detecting physical quantity
US7071709B2 (en) Circuit for detecting capacitance change in variable capacitance
JP2011107086A (ja) 静電容量検出回路、圧力検出装置、加速度検出装置、および、マイクロフォン用トランスデューサ
US10088495B2 (en) Capacitive physical quality detection device
US7456731B2 (en) Capacitive-type physical quantity sensor
JP2972552B2 (ja) 容量型センサ用検出回路および検出方法
JP4269388B2 (ja) 容量式物理量検出装置
JP4150292B2 (ja) 異常検出機能を持つ静電容量式センサ装置
JP4811987B2 (ja) Cv変換回路
JPH0968472A (ja) 圧力センサ
US7224193B2 (en) Current-voltage conversion circuit
JP3802431B2 (ja) 静電容量型センサ
JPH0449537Y2 (ja)
JP3356888B2 (ja) 静電容量式センサの信号処理回路
JP2004340673A (ja) 信号処理回路及び力学量センサ
JP4886077B2 (ja) Cv変換回路

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20051011

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060117

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080829

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080902

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081028

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090310

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090707