JP2005225713A - 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 359
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 205
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 154
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 78
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 128
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 61
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 claims description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 36
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 27
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 18
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 16
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 15
- 238000003426 chemical strengthening reaction Methods 0.000 description 14
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 12
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 10
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 10
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 7
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 7
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 5
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 5
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 description 4
- 239000000047 product Substances 0.000 description 4
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 3
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid Substances OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000929 Ru alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GUBSQCSIIDQXLB-UHFFFAOYSA-N cobalt platinum Chemical compound [Co].[Pt].[Pt].[Pt] GUBSQCSIIDQXLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Substances [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N potassium nitrate Chemical compound [K+].[O-][N+]([O-])=O FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910001415 sodium ion Inorganic materials 0.000 description 2
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 229910000521 B alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006124 Pilkington process Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGGYKLULVSLVBW-UHFFFAOYSA-N [Pt].[B].[Cr].[Co] Chemical compound [Pt].[B].[Cr].[Co] UGGYKLULVSLVBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DRVLHCMOXCBPHN-UHFFFAOYSA-N aluminum ruthenium Chemical compound [Al].[Ru] DRVLHCMOXCBPHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 1
- VNTLIPZTSJSULJ-UHFFFAOYSA-N chromium molybdenum Chemical compound [Cr].[Mo] VNTLIPZTSJSULJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008119 colloidal silica Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 239000002241 glass-ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000002440 industrial waste Substances 0.000 description 1
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007500 overflow downdraw method Methods 0.000 description 1
- 239000010702 perfluoropolyether Substances 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001414 potassium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000010333 potassium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004323 potassium nitrate Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010802 sludge Substances 0.000 description 1
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 description 1
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 description 1
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
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- Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract
【解決手段】 ガラス母材2の主表面に磁気ディスク用ガラス基板となる領域3の外縁をなす第1の切り込みC1を入れ、この第1の切り込みC1の近傍よりガラス母材2の外縁部近傍に亘る第2の切り込みC2を入れ、この第2の切り込みC2の両側部分に対しガラス母材2の主表面に沿って第2の切り込みC2より離間する方向の力を加えて、第2の切り込みC1及び第1の切り込みC1において分離させる。
【選択図】 図2A
Description
そして、磁気ディスク用の基板としては、ガラス製の基板を好適に用いることができる。ガラス基板においては、平滑な表面が得られるので、磁気ディスク上を飛行走行しながら記録再生を行う磁気ヘッドの浮上量を狭隘化することが可能だからである。すなわち、ガラス基板を用いることにより、高い情報記録密度の磁気ディスクを得ることができる。
板状のガラス母材から磁気ディスク用ガラス基板を切り出す磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、ガラス母材の主表面に対しこのガラス母材における磁気ディスク用ガラス基板となる領域の外縁をなす閉曲線を描く第1の切り込みを入れ、このガラス母材における第1の切り込みが描く閉曲線の外側の部分の主表面に対し該第1の切り込みの近傍より該ガラス母材の外縁部近傍に亘る第2の切り込みを入れ、第2の切り込みの一側側及び他側側の各部分に対しガラス母材の主表面に沿ってそれぞれ該第2の切り込みより離間する方向の力を加えることによりこれら各部分を該第2の切り込みにおいて分離させるとともに、該各部分を第1の切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域より分離させることを特徴とするものである。
構成1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、各切り込みのうち少なくとも第1の切り込みは、ガラス母材の主表面に対して略々垂直に形成されることを特徴とするものである。
構成2記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、各切り込みは、カッター刃によって形成され、各切り込みのうち少なくとも第1の切り込みを形成するときには、カッター刃は、カッター刃の稜線の両側におけるガラス母材の主表面に対する刃角が略々同一となされて使用されることを特徴とするものである。
構成1乃至構成3のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、ガラス母材の厚さは、2.0mm以下であり、磁気ディスク用ガラス基板となる領域は、直径30mm以下の円形であることを特徴とするものである。
構成1乃至構成4のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、第2の切り込みの第1の切り込みの近傍の端部と第1の切り込みとの間の距離は、1mm以下であることを特徴とするものである。
構成1乃至構成5のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、第2の切り込みは複数本形成され、各第2の切り込みは、互いに交差することなく形成されていることを特徴とするものである。
構成1乃至構成6のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、ガラス母材は、アルミノシリケートガラスからなることを特徴とするものである。
構成1乃至構成7のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、1インチ型ハードディスクドライブ、または、1インチ型ハードディスクドライブよりも小径の磁気ディスクを用いるハードディスクドライブに搭載する磁気ディスク用のガラス基板を製造することを特徴とするものである。
磁気ディスクの製造方法であって、構成1乃至構成8のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られた磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくとも磁性層を形成することを特徴とするものである。
この実施例においては、以下の工程を経て、磁気ディスク用ガラス基板を製造した。
まず、溶融させたアルミノシリケートガラスをプレス加工によりディスク形状に成型し、アモルファスの板状ガラスを得た。なお、アルミノシリケートガラスとしては、化学強化用のガラスを使用した。
次に、ダイヤモンドカッタを用いてガラス母材を切断し、このガラス母材から、直径29mmのガラスディスクを切り出した。ガラス母材の直径は96mmであり、1枚のガラス母材から、6枚のガラスディスクを採取することができた。
次に、ガラスディスクの端面について、従来より用いられているブラシ研磨方法により、鏡面研磨を行った。このとき、研磨砥粒としては、酸化セリウム砥粒を含むスラリー(遊離砥粒)を用いた。次に、内周側端面については、磁気研磨法により鏡面研磨を行った。
次に、得られたガラスディスクの両主表面について、第1ラッピング工程と同様に、第2ラッピング加工を行った。この第2ラッピング工程を行うことにより、前工程である切り出し工程や端面ポリッシング工程において主表面に形成された微細な凹凸形状を予め除去しておくことができ、後続の主表面に対するポリッシング工程を短時間で完了させることができるようになる。
(5−1)第1ポリッシング工程
次に、主表面ポリッシング工程として、第1ポリッシング工程を施した。この第1ポリッシング工程は、前述のラッピング工程において主表面に残留したキズや歪みの除去を主たる目的とするものである。この第1ポリッシング工程においては、遊星歯車機構を有する両面研磨装置により、硬質樹脂ポリッシャを用いて、主表面の研磨を行った。研磨剤としては、酸化セリウム砥粒を用いた。
次に、主表面の鏡面研磨工程として、第2ポリッシング工程を施した。この第2ポリッシング工程は、主表面を鏡面状に仕上げることを目的とする。この第2ポリッシング工程においては、遊星歯車機構を有する両面研磨装置により、軟質発泡樹脂ポリッシャを用いて、主表面の鏡面研磨を行った。研磨剤としては、第1ポリッシング工程で用いた酸化セリウム砥粒よりも微細な酸化セリウム砥粒を用いた。
次に、前述のラッピング工程及びポリッシング工程を終えた磁気ディスク用ガラス基板に、化学強化を施した。化学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム(40%)を混合した化学強化溶液を用意し、この化学強化溶液を400°Cに加熱しておくとともに、洗浄済みの磁気ディスク用ガラス基板を300°Cに予熱し、化学強化溶液中に約3時間浸漬することによって行った。この浸漬の際には、磁気ディスク用ガラス基板の表面全体が化学強化されるようにするため、複数の磁気ディスク用ガラス基板が端面で保持されるように、ホルダーに収納した状態で行った。
以下のように、前述した磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の比較例を実施し、ガラスディスクの切り出し工程における欠陥部の発生状況を調べた。
次に、以下の工程を経て、磁気ディスクを製造した。
2 ガラス母材
3 ガラスディスク
4 磁気ディスク用ガラス基板
5 シード層
6 下地層
7 磁性層
8 保護層
9 潤滑層
10 磁気ディスク
C1 第1の切り込み
C2 第2の切り込み
Claims (9)
- 板状のガラス母材から磁気ディスク用ガラス基板を切り出す磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
前記ガラス母材の主表面に対し、このガラス母材における磁気ディスク用ガラス基板となる領域の外縁をなす閉曲線を描く第1の切り込みを入れ、
前記ガラス母材における前記第1の切り込みが描く閉曲線の外側の部分の主表面に対し、該第1の切り込みの近傍より該ガラス母材の外縁部近傍に亘る第2の切り込みを入れ、
前記第2の切り込みの一側側及び他側側の各部分に対し、前記ガラス母材の主表面に沿ってそれぞれ該第2の切り込みより離間する方向の力を加えることにより、これら各部分を該第2の切り込みにおいて分離させるとともに、該各部分を第1の切り込みにおいて磁気ディスク用ガラス基板となる領域より分離させる
ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記各切り込みのうち、少なくとも第1の切り込みは、ガラス母材の主表面に対して略々垂直に形成される
ことを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記各切り込みは、カッター刃によって形成され、
前記各切り込みのうち、少なくとも第1の切り込みを形成するときには、前記カッター刃は、カッター刃の稜線の両側における前記ガラス母材の主表面に対する刃角が略々同一となされて使用される
ことを特徴とする請求項2記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記ガラス母材の厚さは、2.0mm以下であり、磁気ディスク用ガラス基板となる領域は、直径30mm以下の円形である
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記第2の切り込みの前記第1の切り込みの近傍の端部と前記第1の切り込みとの間の距離は、1mm以下である
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記第2の切り込みは複数本形成され、各第2の切り込みは、互いに交差することなく形成されている
ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記ガラス母材は、アルミノシリケートガラスからなる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 請求項1乃至請求項7のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、
1インチ型ハードディスクドライブ、または、1インチ型ハードディスクドライブよりも小径の磁気ディスクを用いるハードディスクドライブに搭載する磁気ディスク用のガラス基板を製造する
ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 請求項1乃至請求項8のいずれか一に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法により得られた磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくとも磁性層を形成する
ことを特徴とする磁気ディスクの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004035712A JP2005225713A (ja) | 2004-02-12 | 2004-02-12 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP2004035712A JP2005225713A (ja) | 2004-02-12 | 2004-02-12 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005225713A true JP2005225713A (ja) | 2005-08-25 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004035712A Pending JP2005225713A (ja) | 2004-02-12 | 2004-02-12 | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP2005225713A (ja) |
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