JP2005291843A - 検査用照明光源ユニットとこの光源ユニットを用いた表面欠陥検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】所定のレイアウトパターンで配置された複数の発光素子の照射光によって照明された被検査面から反射される発光素子の照射光の輝度を測定する輝度測定手段70と、輝度測定手段によって測定された発光素子の照射光の輝度が所定の値に追従するように前記発光素子の発光量を制御する発光素子制御手段80とからなる検査用照明光源ユニット。
【選択図】 図1
Description
上記実状に鑑み、本発明の課題は、被検査面に対して可能な限り一様な明暗パターンを作り出すことができる検査用照明光源ユニットとこの光源ユニットを用いた表面欠陥検査装置を提供することである。
本発明によるその他の特徴及び利点は、以下図面を用いた実施形態の説明により明らかになるだろう。
4:撮像カメラ
5:コントローラ
6:欠陥評価手段
30:発光素子(LED素子)
31:暗面
60A:前処理部
60B:欠陥決定部
70:輝度測定手段
71:輝度算出部
80:発光量制御手段
81:LUT生成部
82:LUT
83:比較部
84:発光素子制御部
Claims (6)
- 所定のレイアウトパターンで配置された複数の発光素子と、前記発光素子の照射光によって照明された被検査面から反射される前記発光素子の照射光の輝度を測定する輝度測定手段と、前記輝度測定手段によって測定された前記発光素子の照射光の輝度が所定の値に追従するように前記発光素子の発光量を制御する発光素子制御手段とからなる検査用照明光源ユニット。
- 前記レイアウトパターンが前記発光素子を内側に所定形状の暗面を残すように連続的に配置させたものであり、少なくとも1つの前記暗面に前記輝度測定手段を構成する撮像カメラが前記被検査面から反射される前記各発光素子の照射光を受光するように配置されていることを特徴とする請求項1に記載の検査用照明光源ユニット。
- 基準となる正常な被検査面から反射される前記発光素子の照射光の輝度を参照輝度としてテーブル化し、この参照輝度に前記輝度測定手段によって決定された前記各発光素子の照射光の輝度が追従するように前記発光素子の発光量が制御されることを特徴とする請求項1又は2に記載の検査用照明光源ユニット。
- 所定のレイアウトパターンで配置された複数の発光素子と、前記発光素子の照射光によって照明された被検査面を撮像する撮像カメラと、前記撮像カメラからの出力信号を評価して前記被検査面における欠陥を検知する欠陥評価手段と、前記撮像カメラからの出力信号を評価して前記発光素子の照射光によって照明された被検査面から反射される前記発光素子の照射光の輝度を検出する輝度算定部と、前記輝度算定部によって算定された前記各発光素子の照射光の輝度が所定の値に追従するように前記発光素子の発光量を制御する発光素子制御手段とからなる表面欠陥検査装置。
- 前記レイアウトパターンが前記発光素子を内側に所定形状の暗面を残すように連続的に配置させたものであり、少なくとも1つの前記暗面に前記撮像カメラが前記被検査面から反射される前記各発光素子の照射光を受光するように配置されていることを特徴とする請求項4に記載の表面欠陥検査装置。
- 基準となる正常な被検査面から反射される前記発光素子の照射光の輝度を参照輝度としてテーブル化し、この参照輝度に前記輝度算定部によって算定された前記発光素子の照射光の輝度が追従するように前記各発光素子の発光量が制御されることを特徴とする請求項4又は5に記載の表面欠陥検査装置。
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