JP2007108146A - ウエルの配列方向を検出する方法および光分析装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 マイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法を提供する。
【解決手段】 倒立型蛍光顕微鏡の液浸対物レンズがマイクロプレート20の底面に対して予め定められた形状と大きさの軌跡25を水平方向に描くように、ステージ8を水平方向に移動させる。液浸対物レンズが軌跡25を描く間にマイクロプレート20の底面からの反射光を測定する。反射光の強度に基づいて軌跡25が横切ったウエル壁23の位置を検出する。さらに、検出されたウエル壁23の位置から軌跡25がつくる正方形の中に交差したウエル壁23の十字24を検出する。さらに、十字24の中心で交差するプレートX軸27およびプレートY軸28、すなわちウエル22の配列方向を検出する。
【選択図】 図1
【解決手段】 倒立型蛍光顕微鏡の液浸対物レンズがマイクロプレート20の底面に対して予め定められた形状と大きさの軌跡25を水平方向に描くように、ステージ8を水平方向に移動させる。液浸対物レンズが軌跡25を描く間にマイクロプレート20の底面からの反射光を測定する。反射光の強度に基づいて軌跡25が横切ったウエル壁23の位置を検出する。さらに、検出されたウエル壁23の位置から軌跡25がつくる正方形の中に交差したウエル壁23の十字24を検出する。さらに、十字24の中心で交差するプレートX軸27およびプレートY軸28、すなわちウエル22の配列方向を検出する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、マイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法および光分析装置に関する。
光分析装置に用いられるマイクロプレートは、業界規格(SBS規格:Society for Biomolecular Screening)に準拠されて形成されている。業界規格では、プレート本体の外形サイズが同じで、ウエル数が例えば96ウエル、384ウエル、1536ウエルのように規定されている。これらのウエル数が増加したすなわちウエルが細分化されたマイクロプレートでは、ウエルを分離する隔壁の厚さが1mm以下に形成されている。
特開2002−14035号公報は、マイクロプレートのウエルが細分化すると、1つのマイクロプレートから得た各測定データを管理することが困難となる問題点を挙げ、この問題点を解決するために、マイクロプレート自体に配置状態を示す所定の標識を設け、標識の投影像を撮像素子により検出し、検出した投影像の状態に基づいて、各ウエルからの各光が成す各投影像の形成位置を認識することを開示している。
特開2003−57180号公報は、2次元状に広がるサンプルの位置決めを容易に行うために、サンプルを透過またはサンプル表面で反射した励起光を受光する2次元状の受光素子と、この受光素子による観察像に基づいてサンプルの位置を決定し移動させることを開示している。
特開2002−14035号公報
特開2003−57180号公報
しかしながら、特開2002−14035号公報に記載の配置状態を示す標識を設けたマイクロプレートを専用容器とすると、業界規格に従っていても標識のないマイクロプレートは利用できないので、ユーザーにとって不便である。また、特開2003−57180号公報に記載されるように受光素子による観察像を得るためには、観察用のカメラを設けることが必要になるので、装置全体が大きくなってしまう。
本発明の目的は、マイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法および光分析装置を提供することにある。
本発明によるマイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法は、複数のウエルを有するマイクロプレートと対物レンズとを相対的に移動させながら、前記マイクロプレートの底面に光を照射し、前記対物レンズを介して底面からの反射光の強度を測定するステップと、測定された前記反射光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するステップと、検出された前記ウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出するステップとを有している。
本発明によるマイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法は、複数のウエルを有するマイクロプレートと対物レンズとを相対的に移動させながら、前記マイクロプレートに光を照射し、前記対物レンズを介して前記マイクロプレートからの蛍光を測定するステップと、測定された前記蛍光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するステップと、検出された前記ウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出するステップとを有している。
本発明による光分析装置は、複数のウエルを有するマイクロプレートを移動させるステージと、前記マイクロプレートからの光を受光する対物レンズと、前記ステージが前記マイクロプレートを移動させるとともに、前記対物レンズが前記マイクロプレートからの光を受光して得られた光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するウエル壁検出手段と、検出された前記ウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出する配列方向検出手段とを備え、前記対物レンズは、前記マイクロプレートの底面からの反射光、または、前記ウエルと前記ウエル壁が発する蛍光を受光する。
本発明によれば、マイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法および光分析装置が提供される。
<第一実施形態>
本発明の第一実施形態である蛍光分析装置10を以下に説明する。図2に本実施形態の蛍光分析装置10を示す。蛍光分析装置10は、光源5と、共焦点光学系を用いた倒立型蛍光顕微鏡1と、蛍光標識された試料が発する蛍光を取得して電気信号に変換する光電気信号変換部2と、光電気信号変換部2で求めた測定データに基づいて試料の特性を求めるデータ処理装置3と、求めた測定データに基づいて試料の各種特性を表示する表示装置4とを有する。また、蛍光分析装置10には、上記各部を制御する制御装置6(図5を参照)が設けられる。光源5は例えばレーザー光発生装置で構成される。光電気信号変換部2はフォトマルチプライヤやアバランシェフォトダイオードで構成される。
本発明の第一実施形態である蛍光分析装置10を以下に説明する。図2に本実施形態の蛍光分析装置10を示す。蛍光分析装置10は、光源5と、共焦点光学系を用いた倒立型蛍光顕微鏡1と、蛍光標識された試料が発する蛍光を取得して電気信号に変換する光電気信号変換部2と、光電気信号変換部2で求めた測定データに基づいて試料の特性を求めるデータ処理装置3と、求めた測定データに基づいて試料の各種特性を表示する表示装置4とを有する。また、蛍光分析装置10には、上記各部を制御する制御装置6(図5を参照)が設けられる。光源5は例えばレーザー光発生装置で構成される。光電気信号変換部2はフォトマルチプライヤやアバランシェフォトダイオードで構成される。
倒立型蛍光顕微鏡1は、マイクロプレート20を移動させるステージ8と、マイクロプレート20からの光を受光する液浸対物レンズ7と、液浸対物レンズ7とマイクロプレート20との間に液体15を供給する液体供給装置19と、ステージ8をxy方向に駆動するステージ駆動装置9と、光源5で発生した光を液浸対物レンズ7に導く光経路16と、液浸対物レンズ7で得られた光を光電気信号変換部2に導く光経路17とを有する。
液浸対物レンズ7の上方には、マイクロプレート20が配置される。図3にマイクロプレート20を上から見た図(液浸対物レンズ7はマイクロプレート20の下に配置されていて見えない)を示す。マイクロプレート20のIV−IV断面で、マイクロプレート20と液浸対物レンズ7を側面から見た図を図4に示す。マイクロプレート20は、図4に示すように容器支持部材であるステージ8に支持されて、液浸対物レンズ7の上方に配置される。マイクロプレート20の底面21と液浸対物レンズ7との間には、液体供給装置19によって、液体供給ノズルから液体15が供給される。ステージ8がxy方向に駆動されることによって、マイクロプレート20はxy方向に移動する。マイクロプレート20としては、試料を収容する凹形の容器であるウエル22を複数持ち、光源5からの光を透過する底面21を有するものが好ましい。
図5に制御装置6を示す。制御装置6は、光源5および光経路16,17に配置された光学装置を制御する光源・光学系制御部61、ステージ駆動装置9を制御するステージ制御部62、液体供給装置19を制御する液体供給制御部63、液浸対物レンズ7の移動や焦点合わせを制御する対物レンズ制御部64、各制御部61〜64に命令を与える中央制御部60を有する。
これまでに述べた装置構成において、光源5と光経路16上に配置された光学装置は、マイクロプレート20に光を照射する光学系を構成している。また、光経路17上に配置された光学装置は、マイクロプレート20からの光を受光して得られた光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するウエル壁検出手段を構成している。さらに、データ処理装置3は、前述した試料の特性を求める機能のほかに、検出されたウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出する配列方向検出手段としても機能する。
図6に蛍光分析装置10の運転手順を示す。蛍光分析装置の運転手順を、(1)準備、(2)ウエル22の配列方向の検出、(3)蛍光測定、(4)終了の4つの過程に沿って説明する。
(1)準備
オペレーターは試料が収容されたマイクロプレート20をステージ8に乗せ、蛍光分析装置の運転を開始する。(ステップS31)
運転が開始されると、中央制御部60はステージ制御部62にステージの駆動を命令する。ステージ制御部62は、測定を始めるウエル22aの下に液浸対物レンズ7が配置されるように、ステージ8を駆動させる。(ステップS32)
中央制御部60は液浸対物レンズ7とマイクロプレート20との間に液体15を供給することを液体供給制御部63に命令する。液体供給制御部63は液体供給装置19を駆動し、液体供給装置19が液浸対物レンズ7上に予め定められた量の液体15を供給ノズルから吐出させる。(ステップS33)
中央制御部60は、液浸対物レンズ7の移動を行うことを対物レンズ制御部64に命令する。対物レンズ制御部64は液浸対物レンズ7を光軸方向(z軸方向)でマイクロプレート20へ近づける。(ステップS34)
(2)ウエル22の配列方向の検出
次いで中央制御部60は、液浸対物レンズ7の焦点合わせを行うことを対物レンズ制御部64に命令し、光源・光学系制御部61にレーザー光の供給を命令する。光源・光学系制御部61が光源5からレーザー光を出射するのと同時に、対物レンズ制御部64はマイクロプレート20の底面21上に液浸対物レンズ7の焦点を合わせる。(ステップS35)
中央制御部60は、マイクロプレート20を水平方向(xy平面内)に移動させることをステージ制御部62に命令するとともに、底面21からの反射光を測定することをデータ処理装置3に命令する。ステージ制御部62は、液浸対物レンズ7が底面21に対して、予め定められた形状と大きさの軌跡25を水平方向に描くように、ステージ8を水平方向に移動させる。本実施形態では、軌跡25は一辺がウエル22の一辺よりも長い正方形で、ウエル壁23を横切るように描かれ、液浸対物レンズ7が正方形の頂点aを出発し、頂点b,cおよびdを通過して、再び頂点aに戻るようにして描かれる。つまり、軌跡25は閉じており、その内部にウエル壁23の交差する部分を含む。正方形の辺abおよび辺cdはステージ8のx軸であるステージx軸11に平行で、辺bcおよび辺daはステージ8のy軸であるステージy軸12に平行である(図1を参照)。
オペレーターは試料が収容されたマイクロプレート20をステージ8に乗せ、蛍光分析装置の運転を開始する。(ステップS31)
運転が開始されると、中央制御部60はステージ制御部62にステージの駆動を命令する。ステージ制御部62は、測定を始めるウエル22aの下に液浸対物レンズ7が配置されるように、ステージ8を駆動させる。(ステップS32)
中央制御部60は液浸対物レンズ7とマイクロプレート20との間に液体15を供給することを液体供給制御部63に命令する。液体供給制御部63は液体供給装置19を駆動し、液体供給装置19が液浸対物レンズ7上に予め定められた量の液体15を供給ノズルから吐出させる。(ステップS33)
中央制御部60は、液浸対物レンズ7の移動を行うことを対物レンズ制御部64に命令する。対物レンズ制御部64は液浸対物レンズ7を光軸方向(z軸方向)でマイクロプレート20へ近づける。(ステップS34)
(2)ウエル22の配列方向の検出
次いで中央制御部60は、液浸対物レンズ7の焦点合わせを行うことを対物レンズ制御部64に命令し、光源・光学系制御部61にレーザー光の供給を命令する。光源・光学系制御部61が光源5からレーザー光を出射するのと同時に、対物レンズ制御部64はマイクロプレート20の底面21上に液浸対物レンズ7の焦点を合わせる。(ステップS35)
中央制御部60は、マイクロプレート20を水平方向(xy平面内)に移動させることをステージ制御部62に命令するとともに、底面21からの反射光を測定することをデータ処理装置3に命令する。ステージ制御部62は、液浸対物レンズ7が底面21に対して、予め定められた形状と大きさの軌跡25を水平方向に描くように、ステージ8を水平方向に移動させる。本実施形態では、軌跡25は一辺がウエル22の一辺よりも長い正方形で、ウエル壁23を横切るように描かれ、液浸対物レンズ7が正方形の頂点aを出発し、頂点b,cおよびdを通過して、再び頂点aに戻るようにして描かれる。つまり、軌跡25は閉じており、その内部にウエル壁23の交差する部分を含む。正方形の辺abおよび辺cdはステージ8のx軸であるステージx軸11に平行で、辺bcおよび辺daはステージ8のy軸であるステージy軸12に平行である(図1を参照)。
液浸対物レンズ7が軌跡25を描く間に、データ処理装置3は底面21からの反射光を測定する。ステージ8の移動が終わると光源・光学系制御部61はレーザー光の供給を止める。(ステップS36)。
マイクロプレート20の下から光を照射して底面21からの反射光を測定すると、ウエル22の領域とウエル壁23の領域とでは反射率が異なる。ウエル壁23の真下の底面21での反射率はウエル22の真下の底面21での反射率より大きい(図7を参照)。したがって、反射光の強度は、ウエル壁23の真下で大きく、ウエル22の真下で小さくなるから、軌跡25に沿って反射光の強度を測定すれば、強度の大小から、軌跡25上にウエル22が存在するのか、ウエル壁23が存在するのかが検出できる。
データ処理装置3は、反射光の強度の大小から軌跡25が横切ったウエル壁23の位置を検出し、検出されたウエル壁23の位置からさらに、軌跡25がつくる正方形の中に交差したウエル壁23の十字24を検出する(図8を参照)。さらにデータ処理装置3は、十字24の中心で交差するプレートX軸27およびプレートY軸28、すなわちウエル22の配列方向を検出する(図9を参照)。
そしてデータ処理装置3は、ステージ8のステージx軸11とプレートX軸27とのずれ量29、およびステージ8のステージy軸12とマイクロプレート20のプレートY軸28とのずれ量30を求め(図10を参照)、その値をステージ制御部62に送る。(ステップS37)
データ処理装置3が十字24を検出できない場合、または十字24の検出に適した測定データが得られなかった場合には、データ処理装置3は中央制御部60に検出不可の信号を送る(ステップS38)。
データ処理装置3が十字24を検出できない場合、または十字24の検出に適した測定データが得られなかった場合には、データ処理装置3は中央制御部60に検出不可の信号を送る(ステップS38)。
データ処理装置3から検出不可の信号を受け取った中央制御部60は、反射光の測定を再度行うことをステージ制御部62およびデータ処理装置3に命令する。中央制御部60は、前回とは異なる位置で軌跡25を描くことを、または前回とは異なる大きさの軌跡25を描くことを、ステージ制御部62に命令する。(ステップS39)
再度、ステージ制御部62はマイクロプレート20を水平方向に移動させ、データ処理装置3は底面21からの反射光を測定する。(ステップS36)
(3)蛍光測定
中央制御部60は、液浸対物レンズ7の焦点合わせを行うことを対物レンズ制御部64に命令し、光源・光学系制御部61にレーザー光の供給を命令する。光源・光学系制御部61が光源5からレーザー光を供給するのと同時に、対物レンズ制御部64はマイクロプレート20のウエル22中に焦点を合わせる。(ステップS40)
中央制御部60は、試料が発する蛍光を測定することをデータ処理装置3に命令する。データ処理装置3は蛍光測定を行い、試料の各種特性を求めて表示装置4に表示する。蛍光測定が終わると、光源・光学系制御部61はレーザー光の供給を止める。(ステップS42)
最初の蛍光測定が終わると、次のウエル22での蛍光測定のため、中央制御部60はステージ制御部62にステージ8の移動を命令する。ステージ制御部62は、データ処理装置3で求められたずれ量29,30に基づいて、ステージ8の移動方向を補正しながら、隣接するウエル22の下に液浸対物レンズ7が配置されるようにステージ8を駆動させる(ステップS43)。
再度、ステージ制御部62はマイクロプレート20を水平方向に移動させ、データ処理装置3は底面21からの反射光を測定する。(ステップS36)
(3)蛍光測定
中央制御部60は、液浸対物レンズ7の焦点合わせを行うことを対物レンズ制御部64に命令し、光源・光学系制御部61にレーザー光の供給を命令する。光源・光学系制御部61が光源5からレーザー光を供給するのと同時に、対物レンズ制御部64はマイクロプレート20のウエル22中に焦点を合わせる。(ステップS40)
中央制御部60は、試料が発する蛍光を測定することをデータ処理装置3に命令する。データ処理装置3は蛍光測定を行い、試料の各種特性を求めて表示装置4に表示する。蛍光測定が終わると、光源・光学系制御部61はレーザー光の供給を止める。(ステップS42)
最初の蛍光測定が終わると、次のウエル22での蛍光測定のため、中央制御部60はステージ制御部62にステージ8の移動を命令する。ステージ制御部62は、データ処理装置3で求められたずれ量29,30に基づいて、ステージ8の移動方向を補正しながら、隣接するウエル22の下に液浸対物レンズ7が配置されるようにステージ8を駆動させる(ステップS43)。
予定されたウエル22での蛍光測定がすべて終了するまで、マイクロプレート20の移動・焦点合わせおよび測定を繰り返す(ステップS41〜ステップS43)。このとき、液浸対物レンズ7とマイクロプレート20との間の液体15の量を保つために、途中で液体15を供給するステップを設けてもよい。
(4)終了
予定されたウエル22での測定が終了すると、中央制御部60は、液浸対物レンズ7をマイクロプレート20から遠ざけることを対物レンズ制御部64に命令する。対物レンズ制御部64は命令に従って液浸対物レンズ7をマイクロプレート20から遠ざける(ステップS44)。この後、オペレーターはマイクロプレート20を交換する(ステップS45)。
予定されたウエル22での測定が終了すると、中央制御部60は、液浸対物レンズ7をマイクロプレート20から遠ざけることを対物レンズ制御部64に命令する。対物レンズ制御部64は命令に従って液浸対物レンズ7をマイクロプレート20から遠ざける(ステップS44)。この後、オペレーターはマイクロプレート20を交換する(ステップS45)。
本実施形態では、マイクロプレート20の底面21からの反射光の強度に基づいてウエル壁23の形状を検出し、ウエル壁23の形状に基づいてウエル22の配列方向を検出している。このため、マイクロプレート20に特定の標識を設けたり、観察用のカメラを新たに追加したりすることなく、ウエル22の配列方向を検出できる。
本実施形態によれば、ウエル壁23の十字24を検出し、検出された十字24からウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量を検出して、ずれ量を基にステージ8の移動方向と移動量を補正することによって、マイクロプレート20を精度良く移動することができるので、細分化されたウエル22中の試料について各種特性を精度良く求めることができる。
<第二実施形態>
第一実施形態では、1ヵ所で液浸対物レンズ7が軌跡25を描き、そこでウエル壁23の十字24を検出して、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量を求めたが、本実施形態では、2ヶ所で液浸対物レンズ7が軌跡25,56を描き、ウエル壁の十字の中心座標を検出し、2つの座標からステージ8の移動方向とのずれ量を求める(図3を参照)。本実施形態では、蛍光分析装置の運転方法のうち、(1)準備、(3)本測定および(4)終了は図6に示した手順と同じである。
第一実施形態では、1ヵ所で液浸対物レンズ7が軌跡25を描き、そこでウエル壁23の十字24を検出して、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量を求めたが、本実施形態では、2ヶ所で液浸対物レンズ7が軌跡25,56を描き、ウエル壁の十字の中心座標を検出し、2つの座標からステージ8の移動方向とのずれ量を求める(図3を参照)。本実施形態では、蛍光分析装置の運転方法のうち、(1)準備、(3)本測定および(4)終了は図6に示した手順と同じである。
本実施形態でのウエル22の配列方向の検出の手順を、図11を用いて説明する。図11は、蛍光分析装置の運転方法のうち、(2)ウエル22の配列方向の検出の手順部分を示している。
本実施形態では、データ処理装置3は測定データに基づいて、1つ目のウエル壁23がつくる十字24およびその中心26(図3を参照)を検出する。(ステップS35〜ステップS39)
その後、中央制御部60がステージ制御部62にステージ8の駆動を命令する。ステージ制御部62は、ウエル22bの下に液浸対物レンズ7が配置されるように、ステージ駆動装置9を制御してステージ8を移動させる。(ステップS50)
軌跡25で行ったのと同様に、データ処理装置3は軌跡56でのウエル壁23の位置を検出し、2つ目のウエル壁の十字とその中心57(図3を参照)を検出する。(ステップS51〜ステップS54)
そして、データ処理装置3は検出した2つの中心26および中心57から、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量を求め、ステージ制御部62に送る。(ステップS55)
本実施形態によれば、マイクロプレート20上で、離れた2点のウエル壁23の中心26および中心57を利用するので、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量をより精度良く検出できる。したがって、マイクロプレート20をより精度良く移動することができるので、細分化されたウエル22中の試料について各種特性をより精度良く求めることができる。
その後、中央制御部60がステージ制御部62にステージ8の駆動を命令する。ステージ制御部62は、ウエル22bの下に液浸対物レンズ7が配置されるように、ステージ駆動装置9を制御してステージ8を移動させる。(ステップS50)
軌跡25で行ったのと同様に、データ処理装置3は軌跡56でのウエル壁23の位置を検出し、2つ目のウエル壁の十字とその中心57(図3を参照)を検出する。(ステップS51〜ステップS54)
そして、データ処理装置3は検出した2つの中心26および中心57から、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量を求め、ステージ制御部62に送る。(ステップS55)
本実施形態によれば、マイクロプレート20上で、離れた2点のウエル壁23の中心26および中心57を利用するので、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量をより精度良く検出できる。したがって、マイクロプレート20をより精度良く移動することができるので、細分化されたウエル22中の試料について各種特性をより精度良く求めることができる。
上記2つの実施形態では、ウエル22の配列方向とステージ8の移動方向とのずれ量を検出するために、底面21に焦点合わせをして、液浸対物レンズ7が描いた軌跡25に沿って底面21からの反射光の強度を測定し、反射光の強度からウエル壁23を検出したが、ウエル22中に焦点合わせをして、液浸対物レンズ7が描いた軌跡25に沿ってウエル22内の試料やウエル壁23自体が発する蛍光を測定し、蛍光強度からウエル壁23を検出するようにしてもよい。
また、測定された反射光の強度や蛍光の強度からウエル壁23を検出するときに、強度の大小でウエル22とウエル壁23との境界を検出しても、予め決めたしきい値と比較してウエル壁23を検出してもよい。
また、上記2つの実施形態では、軌跡25を正方形としたが、ウエル壁23がつくる十字24が特定できれば、軌跡はどのような形状でもよく、閉じていなくてもよい。
また、上記2つの実施形態では、ウエル22が正方形であるマイクロプレート20について、ウエル壁23を検出したが、ウエルがハニカム(六角形)や円形の場合でも、予め、ウエルの形状、大きさ、配置、ウエル壁の形状などのマイクロプレートの情報を制御装置で利用でき、かつ、ウエルの配列方向が特定できる軌跡を描くようにステージ8を移動することによって、ウエルの配列方向を検出することができる。
また、上記2つの実施形態で説明した蛍光分析装置は、試料を計測または観察するための対物レンズや光学部品を用いてマイクロプレートの位置を検出できるので、位置検出用の観察装置が不要となるから、装置全体を小型化することができる。また、位置検出用の標識が付けられていない標準のマイクロプレート20を使用することができ、ユーザーの利便性が高い。
1…倒立型蛍光顕微鏡、2…光電気信号変換部、3…データ処理装置、4…表示装置、5…光源、6…制御装置、7…液浸対物レンズ、8…ステージ、9…ステージ駆動装置、10…蛍光分析装置、11…ステージx軸、12…ステージy軸、15…液体、16…光経路、17…光経路、19…液体供給装置、20…マイクロプレート、21…底面、22…ウエル、22a…ウエル、22b…ウエル、23…ウエル壁、24…十字、25…軌跡、26…中心、27…プレートX軸、28…プレートY軸、29…ずれ量、30…ずれ量、56…軌跡、57…中心、60…中央制御部、61…光源・光学系制御部、62…ステージ制御部、63…液体供給制御部、64…対物レンズ制御部。
Claims (5)
- 複数のウエルを有するマイクロプレートと対物レンズとを相対的に移動させながら、前記マイクロプレートの底面に光を照射し、前記対物レンズを介して底面からの反射光の強度を測定するステップと、
測定された前記反射光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するステップと、
検出された前記ウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出するステップと
を備えることを特徴とするマイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法。 - 前記反射光の強度を測定するステップは、前記マイクロプレートに対する前記対物レンズの軌跡がウエル壁を横切るように、前記マイクロプレートと前記対物レンズとを相対的に移動させるステップを含むことを特徴とする請求項1のマイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法。
- 前記軌跡の形状は閉じており、かつ内部にウエル壁の交差する部分を含むことを特徴とする請求項2のマイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法。
- 複数のウエルを有するマイクロプレートを移動させるステージと、
前記マイクロプレートからの光を受光する対物レンズと、
前記ステージが前記マイクロプレートを移動させるとともに、前記対物レンズが前記マイクロプレートからの光を受光して得られた光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するウエル壁検出手段と、
検出された前記ウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出する配列方向検出手段とを備え、
前記対物レンズは、前記マイクロプレートの底面からの反射光、または、前記ウエルと前記ウエル壁が発する蛍光を受光することを特徴とする光分析装置。 - 複数のウエルを有するマイクロプレートと対物レンズとを相対的に移動させながら、前記マイクロプレートに光を照射し、前記対物レンズを介して前記マイクロプレートからの蛍光を測定するステップと、
測定された前記蛍光の強度に基づいてウエル壁の形状を検出するステップと、
検出された前記ウエル壁の形状に基づいてウエル配列方向を検出するステップと
を備えることを特徴とするマイクロプレートのウエルの配列方向を検出する方法。
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| JP2005302078A JP2007108146A (ja) | 2005-10-17 | 2005-10-17 | ウエルの配列方向を検出する方法および光分析装置 |
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| JP2005302078A Withdrawn JP2007108146A (ja) | 2005-10-17 | 2005-10-17 | ウエルの配列方向を検出する方法および光分析装置 |
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010109939A1 (ja) | 2009-03-26 | 2010-09-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光照射装置及び光測定装置 |
| JP2011047695A (ja) * | 2009-08-25 | 2011-03-10 | Nikon Corp | 制御装置、およびその制御装置を用いた顕微鏡システム |
| JPWO2014097991A1 (ja) * | 2012-12-18 | 2017-01-12 | コニカミノルタ株式会社 | 希少細胞検出装置、希少細胞検出方法、希少細胞観察システム、および細胞展開用デバイス |
| KR102950004B1 (ko) | 2025-02-03 | 2026-04-09 | 주식회사 큐리오시스 | 자동 피킹 장치 및 그것의 동작 방법 |
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2005
- 2005-10-17 JP JP2005302078A patent/JP2007108146A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010109939A1 (ja) | 2009-03-26 | 2010-09-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光照射装置及び光測定装置 |
| KR20120000070A (ko) | 2009-03-26 | 2012-01-03 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 광조사장치 및 광측정장치 |
| US8941079B2 (en) | 2009-03-26 | 2015-01-27 | Hamamatsu Photonics K.K. | Light irradiation device and light measurement device |
| JP2011047695A (ja) * | 2009-08-25 | 2011-03-10 | Nikon Corp | 制御装置、およびその制御装置を用いた顕微鏡システム |
| JPWO2014097991A1 (ja) * | 2012-12-18 | 2017-01-12 | コニカミノルタ株式会社 | 希少細胞検出装置、希少細胞検出方法、希少細胞観察システム、および細胞展開用デバイス |
| KR102950004B1 (ko) | 2025-02-03 | 2026-04-09 | 주식회사 큐리오시스 | 자동 피킹 장치 및 그것의 동작 방법 |
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