JP2007109607A - 電子デバイス用ソケット - Google Patents

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Abstract

【課題】電子デバイスの端子と接触子との間に安定した接触が得られるソケットを提供する。
【解決手段】電子デバイス用ソケット10は、複数の保持部材500を有する。保持部材500は、それぞれ、第1の部材501と、第1の部材の先端部がガイドフレーム400に支持された電子デバイス上に進出して電子デバイスの上面に接触する作用位置とガイドフレームに支持された電子デバイス上から退避する非作用位置との間を移動するように第1の部材の基端部を下部フレームに回転可能に連結する第1の回転軸507と、第2の部材512と、第2の部材の先端部を第1の部材の中間部に回転自在に連結する第2の回転軸510と、第2の部材の基端部を上部ガイドフレームに回転自在に連結する第3の回転軸517を有する。好ましくは、第2の回転軸と第3の回転軸は、第1の部材の先端部が作用位置にあるとき、同一又はほぼ同一の水平面800上に配置されるようにする。
【選択図】図7

Description

本発明は、電子デバイス用ソケットに関し、例えば、複数のはんだボールを有するボールグリッドアレイ(BGA)チップや複数のランドを有するランドグリッドアレイ(LGA)チップなどの電子デバイスの性能を試験するソケットに関する。
集積回路装置又は集積回路パッケージなどの電子デバイス(例えば、BGAパッケージ、LGAパッケージ)をバーンインテストするためのソケットの一例が、特許文献1に開示されている。
特開2003−187937号公報
このソケットは、概略、多数の接触子を保持した基板と、基板に対して昇降可能に支持された四角形のカバーを有し、基板とカバーの間に介在された複数のばねによって、カバーは上昇位置に保持されている。基板とカバーには、カバーが上昇位置にある状態で、接点上に配置された試験用電子デバイスを下方に押圧し、電子デバイスの端子と接点との間に安定的な接触を確保するために、複数の保持機構が設けてある。各保持機構は、基板に回転自在に保持されたラッチ部材と、一端がカバーに回転自在に支持され、他端がラッチ部材に回転自在に係合されたリンクを有する。
従来の電子デバイス用ソケットの一例を、図15を参照して保持機構の構成を更に詳細に具体的に説明すると、ラッチ部材1001は、先端部1002と基端部1003を有し、それらの中間部1004が基板1005に揺動可能に支持されており、先端部1002が電子デバイス1の上面に接離するようにしてある。リンク1005は、先端部1006と基端部1007を有し、先端部1006がラッチ部材1001の基端部1003に回転自在に連結されており、基端部1007がカバー1008に回転自在に連結されている。したがって、図示するように、ラッチ部材1001の先端部1002が電子デバイス1の上面に接触している状態では、この先端部1002は弾性変位可能な接触子からの大きな反力F2を受ける。反力F2は、リンク1005を介して、カバー1008を下方に押し下げる力F2’として作用する。そのため、ラッチ部材1001で電子デバイス1を押し下げて端子と接触子との安定した接触を確保するためには、基板1015とカバーの間に配置されるばねの付勢力F1を相当大きくしなければならない。しかし、ばねの付勢力を大きくすると、カバーを押し下げるために大きな初期押圧力F0を必要とし、そのために複数のソケットを支持している回路基板が変形(反り)し、その変形が更にカバーの押し下げ不足、すなわち端子と接触子の接触不良を招来するという問題がある。
本発明に係る電子デバイス用ソケットは、このような問題を解消するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、少なくとも一方の主面に複数の端子を備えた電子デバイス用ソケットであって、上記ソケットが、上記電子デバイスの端子との電気的接続を図る手段を備えた下部フレームと、上記下部フレーム上に配置され、上記下部フレームに対して上昇位置と下降位置との間を移動可能に上記下部フレームに連結された上部フレームと、上記下部フレートと上部フレームに支持され、上記下部フレームに支持された電子デバイスを下方に押圧し、上記電子デバイスの端子を上記電気的接続を図る手段に接触させた状態で保持する複数の保持手段を備えており、上記保持手段は、それぞれ、先端部、基端部、及び上記先端部と基端部との間に位置する中間部を有する第1の部材と、上記第1の部材の先端部が下部フレームに支持された電子デバイス上に進出して上記電子デバイスの上面に接触する作用位置と下部フレーム内に配された電子デバイス上から退避する非作用位置との間を移動するように、上記第1の部材の基端部を上記下部フレームに回転可能に連結する第1の回転軸と、先端部と基端部を有する第2の部材と、上記第2の部材の先端部を上記第1の部材の中間部に回転自在に連結する第2の回転軸と、上記第2の部材の基端部を上記上部フレームに回転自在に連結する第3の回転軸を有することを特徴とする。
本発明の請求項2に記載の発明は、少なくとも一方の主面に複数の端子を備えた電子デバイス用のソケットであって、上記電子デバイスの端子配列に対応して配置された複数の弾性変位可能な接触子と上記複数の接触子を保持する基板を備えた接触子ホルダと、上記接触子ホルダ上の周囲に配置された下部フレームと、上記下部フレーム上に配置され、上記下部フレームに対して上昇位置と下降位置との間を移動可能に上記下部フレームに連結された上部フレームと、上記上部フレームを上記上昇位置に付勢する付勢手段と、下部フレームに支持された電子デバイスを下方に押圧し、上記電子デバイスの端子を上記複数の接触子に接触させた状態で保持する複数の保持手段を有し、上記保持手段はそれぞれ、先端部、基端部、及び上記先端部と基端部との間に位置する中間部を有する第1の部材と、上記第1の部材の先端部が下部フレーム内に配された電子デバイス上に進出して上記電子デバイスの上面に接触する作用位置と下部フレーム内に配された電子デバイス上から退避する非作用位置との間を移動するように、上記第1の部材の基端部を上記下部フレームに回転可能に連結する第1の回転軸と、先端部と基端部を有する第2の部材と、上記第2の部材の先端部を上記第1の部材の中間部に回転自在に連結する第2の回転軸と、上記第2の部材の基端部を上記上部フレームに回転自在に連結する第3の回転軸を有することを特徴とする。
本発明の請求項3に記載の発明は、上記第2の回転軸と第3の回転軸が、上記第1の部材の先端部が作用位置にあるとき、同一又はほぼ同一の水平面上に配置されることを特徴とする。
本発明の請求項4に記載の発明は、上記第1の部材の先端部が平坦部を有しており、上記第1の部材の先端部が作用位置にあるとき、上記平坦部が上記電子デバイスに面接触するようにしたことを特徴とする。
本発明の請求項5に記載の発明は、上記下部フレームの内側に形成された開口部内にガイドフレームを配置し、上記ガイドフレームを介して上記下部フレームに上記電子デバイスを支持させたことを特徴とする。
本発明の請求項6に記載の発明は、上記接触子ホルダに対して上記ガイドフレームを上方に付勢する別の付勢手段を有することを特徴とする。
本発明の請求項7に記載の発明は、電子デバイス用ソケットであって、電子デバイスの端子とほぼ同様に配置された複数の弾性変形可能な接触子と、複数の端子を上記複数の弾性変形可能な接触子に対して露出させた状態で電子デバイスを支持する下部フレームと、上記下部フレームに対して上昇位置と下降位置との間を移動するように、上記下部フレーム上に配置されて連結された上部フレームと、上記下部フレームと上部フレームとの間に配置され、上記上部フレームを上昇位置に付勢する複数のばねと、上記下部フレームに支持された電子デバイスの対向部に配置され、上記下部フレームが下降位置にあるときに上記下部フレームに支持された電子デバイスから退避し、上記上部フレームが上昇位置にあるときに上記電子デバイスを付勢して上記電子デバイスの端子とそれに対応する弾性変形可能な接触子を接触させる複数の保持部材であって、上記複数の保持部材はそれぞれ、上記上部フレームが上昇位置にあるときに上記電子デバイスから上記保持部材の受ける反力の全て又は殆どが水平力となって上記上部フレームに伝わるように変換されるようにしてあることを特徴とする。
このように構成された本発明の電子デバイス用ソケットは種々の利点を有する。具体的に、請求項1及び2に係る発明によれば、保持手段から電子デバイスに加える押圧力を分散し、電子デバイスの装着時に上部フレームを押圧する押圧装置が受ける力と上記押圧装置による押圧時に配線基板が受ける力を軽減できる。
請求項3に係る発明によれば、第1の部材が作用位置にあるとき、第2の部材を支持する第2の回転軸と第3の回転軸は同一水平面上又はほぼ同一の水平面上にあり、その状態では、電子デバイスの端子が接触子から受ける力は水平方向の力に変換され、上部フレームに上下方向の力として作用することが殆ど又は全くない。したがって、下部フレームと上部フレームとの間に介在される付勢手段の付勢力はより小さくすることができる。その結果、上部フレームを押圧する力を付勢手段の付勢力だけにすることができるので、複数のソケットを支持する回路基板の変形を最小限に抑えることができるとともに、電子デバイスの端子と接点との間に安定した接触が得られる。
請求項4に係る発明によれば、電子デバイスを押圧する第1の部材の先端部が平坦部となっているので、当該押圧が、電子デバイスに対し、より広めの押圧面を有してなされるので、電子デバイスの端子と接触子との間に、より安定した接触が確保し易くなる。
請求項5に係る発明によれば、ガイドフレームを介して電子デバイスを下部フレームで確実に位置決めできる。
請求項6に係る発明によれば、電子デバイスと、電気的接続を図る手段、例えば、弾性接触子との間の位置決めを、両者が物理的に接触する前に達成できる。
請求項7に係る発明によれば、下部フレームと上部フレームとの間に介在される付勢手段の付勢力はより小さくすることができる。その結果、上部フレームを押圧する力を付勢手段の付勢力だけにすることができるので、複数のソケットを支持する回路基板の変形を最小限に抑えることができるとともに、電子デバイスの端子と接点との間に安定した接触が得られる。
以下、本発明の好適な実施形態を説明する。なお、以下の説明では、「上」、「下」、「左」、「右」、「垂直」、「水平」の用語やそれらの用語を含む別の用語を使用するが、それらの用語の使用は発明を容易に理解できるようにするためであって、請求項で明確に述べられている場合を除き、本発明の技術的範囲を限定解釈するために利用されるべきではない。
図1は、一方の主面、例えば底面に複数のはんだボール又はランドを所定のパターン(例えば、格子状、千鳥状)に配置した集積回路パッケージ(例えば、ボールグリッドアレイ(BGA)チップ、ランドグリッドアレイ(LGA)チップ)などの電子デバイスの性能を試験するための、本発明の第1実施形態であるソケット10を示す。図2に示すように、ソケット10は、概略、接触手段、この実施形態では、接触子ホルダ100、下部フレーム200、上部フレーム300、ガイドフレーム400、複数の保持手段である保持部材500、複数の付勢手段であるばね600からなる。
接触子ホルダ100は、長方形基板101を有する。基板101は、電気絶縁材料で形成された、下部プレート102と上部プレート103を有する。下部プレート102と上部プレート103は、ボルトナット機構、ラッチ機構などの適当な連結部材(図示せず)によって着脱自在に連結されている。上部プレート103の中央にある例えば四角形の領域105は複数の孔106を有する。図示しないが、下部プレート102の対向する領域にも、同様に複数の孔が形成されている。孔106は、直交する2つの水平方向(X方向とY方向)に所定の間隔をあけて格子状又は千鳥状のパターンに配置されており、各孔に電気的接続手段である接触子107が収容されている。本実施形態では、領域105は長方形の帯状をしているが、単純な正方形又は長方形若しくはその他の形状でもよく、その形状は試験する電子デバイスに設けられている端子の配置に応じて決めることができる。
図示しないが、各接触子107は、細長い棒状の導電性部材からなり、上部(上部接点部)、下部(下部接点部)、及びそれらを連結する中間のばね部(弾性変形部)を有し、長手方向に弾性変形可能である。接触子107の上部接点部は上部プレート103の孔106を貫通して突出し、接触子107の下部接点部は下部プレート102の孔(図示せず)を貫通して突出している(図8〜図10を参照)。中間ばね部は、好ましくは接触子107の中間部を曲げて形成されており、下部プレートと上部プレートの間に形成された空間内に、上記空間の上壁と底壁の間で圧縮された状態で収容されている。したがって、非使用状態では、圧縮された中間ばね部の弾性力によって、上部接点部と下部接点部が対応する孔に対して上昇位置と下降位置にそれぞれ弾性的に保持されている。接触子の構造及び配置の一例が、米国特許第5,055,777号に記載されており、その開示内容はここに引用導入されている。上下の接点部とこれら接点部の間に配置されたばねの3つの部材からなる接触子の例が、日本特許公報第2004−47376号に記載されており、その開示内容もここに引用導入されている。なお、接触子の構造及び材料は上述の形態に限るものでなく、例えば、絶縁性のシート又は基板に接点部を一体的に設けた導電性シート又は基板で構成することもできる。
図3と図4を参照すると、下部フレーム200は、電気絶縁材料からなるほぼ長方形のフレーム部201からなり、上面と下面を貫通する中央開口部202を形成している。開口部202は、接触子ホルダ100を保持するために必要な大きさと形を有する下部開口部203と、ガイドフレーム400を保持するために必要な大きさと形を有する上部開口部204を有する。接触子ホルダ100はガイドフレーム400よりも大きいことから、下部開口部203の内法寸法は上部開口部204の内法寸法よりも大きくしてあり、下部開口部203と上部開口部204の間に、上部開口部204を囲うように、下方に向けられた四角形の環状水平段部からなる支持部205(図4参照)が形成されている。
下部フレーム200は、一対の保持部材500をこれが作用位置(図8参照)と非作用位置(図9参照)との間を移動できるように支持するために必要な構成を備えている。図2〜図4を参照して具体的に説明すると、下部フレーム200は、中央開口部202を挟んで対向する一対の切欠部からなる第1の窪み210を有する。第1の窪み210は、上部開口部204を形成している対向壁部を部分的に除去して形成されている。各第1の窪み210の背後には、第2の窪み211が第1の窪み210と繋がった状態で設けられている。各第1の窪み210の左右両側には、上部開口部204に隣接して、後述する上部フレーム300の第2の軸受機構と協働して保持部材500を支持する、下方に向けて開放された一対の軸受凹部212からなる第1の軸受機構が設けられている。
図5と図6を参照すると、上部フレーム300は電気絶縁材料からなるほぼ長方形のフレーム部301からなり、上面と下面を貫通する中央開口部302を形成している。開口部302は、試験する電子デバイスが上部フレーム300と干渉することなく上方から挿入できる大きさと形状を有する。上部フレーム300の対向フレーム部分303の下面には、下部フレーム200の第1の軸受機構212と協働して保持部材500を支持する第2の軸受機構304が設けてある。各軸受機構304は、開口部302の縁に沿って互いに離間して配置された一対の下方突出支持部305を有し、それらの間には保持部材対向方向(矢印X方向)に伸びる隙間又は溝306が形成されている。また、支持部305には、溝306を通り、2つの軸受機構304の対向方向(X方向)と直交する方向(Y方向)に一列に伸びる軸受孔307(図6参照)がそれぞれ形成されている。
図7を参照すると、ガイドフレーム400は、電気絶縁材料からなる長方形フレーム部401を有する。フレーム部401は、下部フレーム200の上部開口部204に収容できる大きさと形の外形を有し、内側に長方形の中央開口部402を形成している。開口部402は、電子デバイスの外形と相似しているがそれよりも僅かに小さな内法寸法を有する下部開口部403と、電子デバイスの外形とほぼ同じ内法寸法を有する上部開口部404を有し、これら下部開口部403と上部開口部404の間に電子デバイスを支持する、上方に向けて開放された環状の長方形段部からなる支持部405を有する。フレーム部401の上面四隅には、電子デバイスが上部開口部404にスムーズに装着できるように、下方に向けて内側に傾斜した内側コーナーガイド面407を有するコーナーガイド406がそれぞれ設けられ、上部開口部404上にデバイス挿入通路408(図8〜図10参照)が形成されている。
ガイドフレーム400はまた、フレーム部401の外周縁部に対称に設けられた4つの弾性突起部409を有する。突起部409に対応して、下部フレーム200は、上部開口部204を形成する内面部分に、上端規制部214を備えた4つの垂直溝部213を有する(図3参照)。これら突起部409と溝部213は、図2に示すように、ガイドフレーム400を上部開口部204に装着した状態で、ガイドフレーム400が上部開口部204に沿って上下方向に移動できるように、突起部409が対応する垂直溝部213に収容される。また、突起部409が規制部214に当接する上昇位置にガイドフレーム400を付勢するために、ガイドフレーム400と接触子ホルダ100の間に、ヘリカルスプリング111などの4つの付勢部材が配置される。
図2及び図8〜図10を参照すると、保持部材500は、電気的に絶縁性の材料からなる第1の部材である加圧ブロック501を有する。加圧ブロック501は、本体部502と、本体部502の一端から突出する加圧部503を有する。本体部502の基端部505は第1の貫通孔506を有し、この貫通孔506に第1の軸受シャフト507が両端を突出させた状態で挿入される。加圧ブロック501の屈曲した中間部508は、第1の貫通孔506と平行に伸びる第2の貫通孔509(図2参照)を有し、この第2の貫通孔509に第2の軸受シャフト510が挿入されている。加圧ブロック501は貫通孔509を横切る溝511(図2参照)を有し、この溝511の内側に第2のシャフト510の一部が露出している。第2の部材であるリンクバー512は、両端部、すなわち、第1の部分である先端軸部513と第2の部分である基端軸部514を有し、それぞれに平行な第3の貫通孔515と第4の貫通孔516が形成されている。先端軸部513の貫通孔515には第2のシャフト510が挿入され、これによりリンクバー512が第2のシャフト510に回転自在に連結されている。他方、基端軸部514の貫通孔516には第3のシャフト517が挿入される。なお、リングバー512については、電子デバイスへの加圧条件を調整するため、貫通孔515,516の位置が違うもの(貫通孔515,516の中心間距離が違うもの)を複数枚用意しておき、必要に応じて、交換できるようにすることが好ましい。
このように構成された複数の構成要素は、次のようにして組み立てられる。図2に示すように、例えば、接触子ホルダ100は、下部フレーム200の下部開口部203にその下方から装着される。このとき、下部フレーム200に対して接触子ホルダ100は移動不可能に位置決めされて固定される。例えば、接触子ホルダ100は基板101の上面四隅に位置決め突起108を有し、下部フレーム200の段部205はその四隅近傍に対応する複数の位置決め凹部206(図4参照)を有し、接触子ホルダ100を下部フレーム200に装着したとき、これら位置決め突起108が対応する位置決め凹部206に係合するようにしてある。また、下部フレーム200から接触子ホルダ100が脱落するのを防止するために、接触子ホルダ100の外周部には複数の係合凹部109が形成され、下部フレーム200の対応する内面部分には係合突起207(図4参照)が形成されており、接触子ホルダ100を下部フレーム200に装着したとき、係合突起207が対応する係合凹部109に係合し、接触子ホルダ100を垂直方向に移動不可能に保持する。
ガイドフレーム400は、下部フレーム200の上部開口部204に装着され、ガイドフレーム400の外周弾性突起部409を対応する下部フレーム200の垂直溝部213に係合する。ガイドフレーム400と接触子ホルダ100との間には複数のばね111が配置される。そのため、ガイドフレーム400は、上方に付勢されて突起部409の上端部を溝部213の上端規制部214に当接し、上昇位置に保持される。
下部フレーム200に組み付けられたガイドフレーム400を接触子ホルダ100に対して適正に位置決めするために、接触子ホルダ100は上面に複数の位置決め凹部112を有し、ガイドフレーム400は下面に複数の位置決め突起410を有し、下部フレーム200に組み付けられた接触子ホルダ100とガイドフレーム400はそれぞれの位置決め凹部112と位置決め突起410を係合し、相互に位置決めされる。
図2及び図8〜図10に示すように、保持部材500は、下部フレーム200と上部フレーム300に組み付けられる。組み付け時、各加圧ブロック501は、加圧部503を中央開口部202の近傍に配置した状態で、下部フレーム200の窪み210に収容される。保持部材500の第1のシャフト507は、下部フレーム200の軸受凹部212に配置される。このように配置された加圧ブロック501は、第1のシャフト507を中心として、デバイス挿入通路408の外側に完全に退避した非作用位置(図10参照)とデバイス挿入通路408に突出してデバイスの上部外周部に接触する作用位置(図8参照)との間を回転する。リンクバー512の基端部は、第3のシャフト517を外した状態で、上部フレーム300の対応する溝306に収容される。この状態で、第3のシャフト517は、一列に配置された上部フレーム300の軸受孔307とリンクバー512の基端貫通孔516に挿入される。
下部フレーム200と上部フレーム300との間には、それらの四隅にそれぞれスプリング600が配置される。下部フレーム200と上部フレーム300との間にスプリング600を保持するために、下部フレーム200の上面の四隅には位置決め凹部215が形成され、上部フレーム300の下面の四隅には対応する位置決め凹部315(図6参照)が形成され、各スプリング600の下部と上部がそれぞれ位置決め凹部215,315に保持される。
スプリング600の付勢力に対抗して、下部フレーム200に対して上部フレーム300を予め決められた上昇位置(図1参照)に保持するために、下部フレーム200と上部フレーム300にはそれぞれ規制手段が設けてある。例えば、実施形態では、下部フレーム200の外周面には複数の縦溝220が対称に形成される。また、各縦溝220の上部には、係合突起221が設けてある。他方、上部フレーム300には、下部フレーム200に対して上部フレーム300を組み付けた状態で複数の縦溝220に上方から進入する、下方に伸びる複数の係合脚部320が設けてある。また、各係合脚部320の内面には、係合脚部320を対応する縦溝220に係合した状態で係合突起221を収容する係合縦溝321(図6参照)が形成されている。したがって、下部フレーム200に上部フレーム300を組み付けた状態で、上部フレーム300の係合脚部320が下部フレーム200の対応する縦溝220に係合するとともに、上部フレーム300の係合縦溝321に下部フレーム200の係合突起221が収容され、スプリング600の上方付勢力に基づき、縦溝321の下端部が係合突起221に係合した状態で、上部フレーム300が上昇位置に保持される。
このようにして組み立てられてソケット10は、図示しない配線基板上に所定のパターンで配置され、接触子ホルダ100の各接触子107の下端接点部が配線基板上の対応する端子に接触して電気的に接続される。接触子107を対応する端子に確実に接触させるために、図2に示すように、接触子ホルダ100の下面にはその四隅近傍にそれぞれ位置決め突起113が形成され、他方、配線基板には対応する位置決め凹部が形成されており、ソケット10を配線基板に搭載した状態で、接触子ホルダ100の位置決め突起113が配線基板の位置決め凹部に係合するようにしてある。
電子デバイスの試験時、上述のようにして配線基板に固定されたソケット10の上部フレーム300が図示しない押圧装置によって下方に押圧される。これにより、上部フレーム300が下方に移動する(図11参照)。このとき、図8〜図10に示すように、上部フレーム300の下降に従って、上部フレーム300に支持されたリンクバー512の基端軸部514が第3のシャフト517と共に、第2の窪み211の中を下降する。その結果、リンクバー512の先端軸部513に回転自在に連結された加圧ブロック501が、第1のシャフト507を中心として後方に回転し、上部フレーム300が下部フレーム200に対して完全に下降した状態(下降位置)で、加圧ブロック501はデバイス挿入通路408の外側に完全に待避し、デバイス挿入通路408を開放する。
試験用の電子デバイス1(図8〜図10参照)は、例えば図示しない吸引装置に保持され、開放されたデバイス挿入通路408の上方からフレームガイド400の上部開口部404に装着される。図10に示すように、この状態では、ガイドフレーム400はスプリング111の付勢力によって上昇位置に保持されており、ガイドフレーム400の下面と接触子ホルダ基板101との間には所定の大きさの隙間700が形成されている。また、電子デバイスの下面に設けた複数の端子は、接触子ホルダ100の接触子107と弾性的に接触する。
次に、上部フレーム300に加えられている押圧力を解放する。これにより、図8〜図10に示すように、上部フレーム300はスプリング600の付勢力によって上昇位置に上昇する。また、上昇フレーム300の上昇動作に基づき、リンクバー512の基端軸部514が上昇する。その結果、リンクバー512の先端軸部513とこれに回転自在に連結された加圧ブロック501が前方に回転して該加圧ブロック501がデバイス挿入通路408に進出する。また、加圧ブロック501の先端部(加圧点)504が、ガイドフレーム400に支持されている電子デバイス1の上面に当接し、スプリング111の付勢力に対抗して、電子デバイス1とガイドブロック400を下降位置に押し込む。これにより、電子デバイス1の端子2が接触子ホルダ100の対応する接触子107に対して強く押し当てられ、両者の電気的接触が安定する。同時に、接触子ホルダ100の接触子107は、回路基板に設けた端子に強く押し当てられ、両者の電気的接触が安定する。
図8に示すように、加圧ブロック501が電子デバイス1を押圧している作用位置にあるとき、リンクバー512の両端を支持する支点(第2のシャフト510と第3のシャフト517)は、完全に又はほぼ完全に一つの水平面800上にある。この際、図12に示すように、各加圧ブロック501の先端部(加圧点)504は、弾性変形している接触子107から上方に向かう反力F2を受けることになる。この反力F2は、加圧ブロック501に回転自在に連結されたリンクバー512に作用する軸方向の力F2’に変換される。そして、この軸力F2’は上部フレーム300に伝達される。しかし、上述のように、リンクバー512の両端支点は一つの水平面上にあるため、軸力F2’が上部フレーム300に対して上下方向に作用することはない。したがって、図8に示す状態から、再び押圧装置で上部フレーム300を下方に押圧する際、押圧装置の受ける初期反力F0は、スプリング600の付勢力F1だけである。その結果、配線基板上に多数のソケット10を配置した状態で同時にN個(N:ソケットの数)のソケット10を操作しても、押圧装置及び配線基板が受ける力はスプリング600の反力(=N・F1)だけである。そのため、配線基板の変形(例えば、反り)が最小限に収まる。また、各ソケット10に対してほぼ等しい押圧力を押圧装置から加えることができる。
なお、加圧部503の先端部(加圧点)504は、この先端部504によって両端側が同時に押圧される電子デバイスの中央部の浮き上がり及びこれによって電子デバイスの各端子が対応する接触子107との間に接触不良を生じることを防止するために、図14に示すように、平坦部504aを有していることが好ましい。また、このようにすれば、平坦部504aが電子デバイスに面接触するので、電子デバイスの端子と接触子との間により安定した接触が得られる。
また、上述の実施形態に係るソケットでは、下部フレーム200と上部フレーム300との間に、電子デバイス1を介して対向する2つの保持部材500を設けているが、図13に示すように、試験する電子デバイスの大きさによっては、4つの保持部材500を電子デバイスの4辺に対向して配置してもよい。
さらに、上述の実施形態に係るソケットでは、電子デバイスと電気的に接続する手段、例えば接触子を有する接触子ホルダを下部フレームとは別部材として構成したが、接触子ホルダを下部フレームに一体化し、この一体化された下部フレームに接触子を設けてもよい。
さらにまた、上述の実施形態に係るソケットでは、下部フレームとガイドフレームを別部材として構成しているが、これら下部フレームとガイドフレームは一つの部材として構成してもよい。
以上のように本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲において、種種の変形、変更が可能である。
本発明に係る電子デバイス試験装置であるソケットの斜視図。 図1に示すソケットの分解斜視図。 ソケットを構成する下部フレームの斜視図。 図3に示す下部フレームを上下反転した状態の斜視図。 ソケットを構成する上部フレームの斜視図。 図5に示す上部フレームを上下反転した状態の斜視図。 ソケットを構成するガイドフレームの斜視図。 作用状態にあるソケットの断面図。 図7に示す作用状態と図9に示す非作用状態の中間の状態を示す断面図。 非作用状態にあるソケットの断面図。 上部フレームが下降位置にあるソケットの斜視図。 本発明に係る装置のおける力の作用状態を説明する図。 本発明に係る装置の他の形態を示す平面図。 本発明に係る装置の他の形態を示す断面図。 従来の装置における力の作用状態を説明する図。
符号の説明
1:電子デバイス、10:ソケット、100:接触子ホルダ、101:長方形基板、102:下部プレート、103:上部プレート、104:連結部材(ボルトナット機構)、105:帯状領域、106:孔、107:接点、108:位置決め突起、109:係合凹部、111:スプリング、12:位置決め凹部、200:下部フレーム、201:フレーム部、202:中央開口部、203:下部開口部、204:上部開口部、205:支持部、206:位置決め凹部210:第1の窪み、211:第2の窪み、212:軸受凹部(第1の軸受機構)、213:垂直溝部、214:上端規制部、220:縦溝、300:上部フレーム、301:フレーム部、302:中央開口部、303:フレーム部分、304:第2の軸受機構、305:支持部、306:溝、307:軸受孔、315:位置決め凹部、400:ガイドフレーム、401:フレーム部、402:開口部、403:下部開口部、404:上部開口部、405:支持部、406:コーナーガイド部、407:コーナーガイド面、408:デバイス挿入通路、409:突起部、410:位置決め突起、500:保持部材、501:加圧ブロック(第1の部材)、502:本体部、503:加圧部、504:先端部(加圧点)、505:基端部、506:第1の貫通孔、507:第1の軸受シャフト、508:中間部、509:第2の貫通孔、510:第2の軸受シャフト、511:溝、512:リンクバー(第2の部材)、513:先端軸部、514:基端軸部、516:貫通孔、517:第3のシャフト、600:ばね、800:水平面。

Claims (7)

  1. 少なくとも一方の主面に複数の端子を備えた電子デバイス用ソケットであって、
    上記ソケットが、
    上記電子デバイスの端子との電気的接続を図る手段を備えた下部フレームと、上記下部フレーム上に配置され、上記下部フレームに対して上昇位置と下降位置との間を移動可能に上記下部フレームに連結された上部フレームと、上記下部フレートと上部フレームに支持され、上記下部フレームに支持された電子デバイスを下方に押圧し、上記電子デバイスの端子を上記電気的接続を図る手段に接触させた状態で保持する複数の保持手段を備えており、
    上記保持手段は、それぞれ、
    先端部、基端部、及び上記先端部と基端部との間に位置する中間部を有する第1の部材と、
    上記第1の部材の先端部が下部フレームに支持された電子デバイス上に進出して上記電子デバイスの上面に接触する作用位置と下部フレーム内に配された電子デバイス上から退避する非作用位置との間を移動するように、上記第1の部材の基端部を上記下部フレームに回転可能に連結する第1の回転軸と、
    先端部と基端部を有する第2の部材と、
    上記第2の部材の先端部を上記第1の部材の中間部に回転自在に連結する第2の回転軸と、
    上記第2の部材の基端部を上記上部フレームに回転自在に連結する第3の回転軸を有することを特徴とする電子デバイス用ソケット。
  2. 少なくとも一方の主面に複数の端子を備えた電子デバイス用のソケットであって、
    上記電子デバイスの端子配列に対応して配置された複数の弾性変位可能な接触子と上記複数の接触子を保持する基板を備えた接触子ホルダと、
    上記接触子ホルダ上の周囲に配置された下部フレームと、
    上記下部フレーム上に配置され、上記下部フレームに対して上昇位置と下降位置との間を移動可能に上記下部フレームに連結された上部フレームと、
    上記上部フレームを上記上昇位置に付勢する付勢手段と、
    下部フレームに支持された電子デバイスを下方に押圧し、上記電子デバイスの端子を上記複数の接触子に接触させた状態で保持する複数の保持手段を有し、
    上記保持手段はそれぞれ、
    先端部、基端部、及び上記先端部と基端部との間に位置する中間部を有する第1の部材と、
    上記第1の部材の先端部が下部フレーム内に配された電子デバイス上に進出して上記電子デバイスの上面に接触する作用位置と下部フレーム内に配された電子デバイス上から退避する非作用位置との間を移動するように、上記第1の部材の基端部を上記下部フレームに回転可能に連結する第1の回転軸と、
    先端部と基端部を有する第2の部材と、
    上記第2の部材の先端部を上記第1の部材の中間部に回転自在に連結する第2の回転軸と、
    上記第2の部材の基端部を上記上部フレームに回転自在に連結する第3の回転軸を有することを特徴とする電子デバイス用のソケット。
  3. 上記第2の回転軸と第3の回転軸は、上記第1の部材の先端部が作用位置にあるとき、同一又はほぼ同一の水平面上に配置されることを特徴とする、請求項1又は2に記載の電子デバイス用ソケット。
  4. 上記第1の部材の先端部が平坦部を有しており、上記第1の部材の先端部が作用位置にあるとき、上記平坦部が上記電子デバイスに面接触するようにしたことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子デバイス用ソケット。
  5. 上記下部フレームの内側に形成された開口部内にガイドフレームを配置し、上記ガイドフレームを介して上記下部フレームに上記電子デバイスを支持させたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電子デバイス用ソケット。
  6. 上記接触子ホルダに対して上記ガイドフレームを上方に付勢する別の付勢手段を有することを特徴とする請求項5に記載の電子デバイス用ソケット。
  7. 電子デバイス用ソケットであって、
    電子デバイスの端子とほぼ同様に配置された複数の弾性変形可能な接触子と、
    複数の端子を上記複数の弾性変形可能な接触子に対して露出させた状態で電子デバイスを支持する下部フレームと、
    上記下部フレームに対して上昇位置と下降位置との間を移動するように、上記下部フレーム上に配置されて連結された上部フレームと、
    上記下部フレームと上部フレームとの間に配置され、上記上部フレームを上昇位置に付勢する複数のばねと、
    上記下部フレームに支持された電子デバイスの対向部に配置され、上記下部フレームが下降位置にあるときに上記下部フレームに支持された電子デバイスから退避し、上記上部フレームが上昇位置にあるときに上記電子デバイスを付勢して上記電子デバイスの端子とそれに対応する弾性変形可能な接触子を接触させる複数の保持部材であって、上記複数の保持部材はそれぞれ、上記上部フレームが上昇位置にあるときに上記電子デバイスから上記保持部材の受ける反力の全て又は殆どが水平力となって上記上部フレームに伝わるように変換されるようにしてあることを特徴とする電子デバイス用ソケット。
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