JP2007149193A - ディフェクト信号生成回路 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することが可能なディフェクト信号生成回路を提供する。
【解決手段】本発明に係るディフェクト信号生成回路１００は、入力信号（ＳＢＡＤ信号）よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を出力するローパスフィルタ回路１と、入力信号のレベルとローパスフィルタ信号のレベルとの差を演算し、第１の演算値を出力する演算回路２と、第１の演算値の符号により、暗欠陥であるか明欠陥であるかを判定する欠陥判定回路３と、第１の演算値の絶対値と第１の基準値の絶対値とを比較し、第１の演算値の絶対値方が大きいときはディフェクトが検出されたと判定するディフェクト検出判定回路５と、欠陥判定回路３およびディフェクト検出判定回路４の判定結果に基づいてディフェクト信号を出力する出力回路５とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスク再生装置に用いられるディフェクト信号生成回路に関する。

従来、例えば、CD-DA（Compact Disc Digital Audio）、CD-R（Compact Disk Recordable）、CD-RW（Compact Disk ReWritable）等を再生する光ディスク再生装置には、光ディスクの欠陥をディフェクトとして検出するディフェクト信号生成回路が用いられている。この欠陥には、ディスクの汚れや傷等による暗欠陥と製造不良によりミラー面の見える状態（色素膜のない状態）の明欠陥とがある。

ここで、上記従来のディフェクト信号生成回路には、例えば、光ディスクから読み出され欠陥に対応して信号レベルが変化するＲＦ（Radio Frequency）信号を受けて、このＲＦ信号とほぼ同時に変化する第１の検出信号を出力する第１のピークホールド回路と、ＲＦ信号を受けて時定数の長い第２の検出信号を出力する第２のピークホールド回路と、第２の検出信号を１/nに分圧するレベル調整回路と、第１の検出信号と分圧された第２の検出信号とを比較しディフェクト信号を出力するコンパレータ回路とを備えるものがある（例えば、特許文献１参照。）。すなわち、このディフェクト信号生成回路では、コンパレータ回路が分圧された第２の検出信号のレベルを基準値として、第１の検出信号との大小関係で欠陥のディフェクトを検出しディフェクト信号を出力する。

このディフェクト信号生成回路は、CD-DA、CD-Rディスクの傷や汚れによる暗欠陥のみに対応してＲＦ信号のレベルが低下した場合は、第１の検出信号のレベルが分圧された第２の検出信号のレベルよりも低下し、コンパレータ回路からディフェクト検出信号を出力でき、サーボ性能としては問題なかった。

一方、明欠陥に対応してＲＦ信号のレベルが上昇した場合は、第１の検出信号のレベルが上昇するが分圧された第２の検出信号のレベルとの大小関係は変わらない。したがって、コンパレータ回路からはディフェクト信号が出力されず、正常に明欠陥をディフェクトとして検出することができないという問題があった。

さらに、例えば、CD-RW再生時には再生装置のゲインが高く設定されているために、明欠陥の検知の終了により第１の検出信号のレベルが分圧された第２の検出信号のレベルよりも低下することがある。このとき、コンパレータ回路は暗欠陥のディフェクト信号を出力することとなり、結果として、光ディスク装置のサーボ性能が悪化し再生が困難になるという問題があった。
特開２００５−２０３００６号公報（第３−４頁、第７図）

本発明は、上記課題を解決するものであり、光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することが可能なディフェクト信号生成回路を提供することを目的とする。

本発明に係るディフェクト信号生成回路は、光ディスクの暗欠陥、明欠陥に対応して信号レベルが基準レベルから一方が上のレベルに変化し他方が下のレベルに変化する入力信号を受けて、この入力信号よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を出力するローパスフィルタ回路と、前記入力信号のレベルと前記ローパスフィルタ信号のレベルとの差を演算し、第１の演算値を出力する演算回路と、前記第１の演算値の符号により、暗欠陥であるか明欠陥であるかを判定する欠陥判定回路と、前記第１の演算値の絶対値と第１の基準値の絶対値とを比較し、前記第１の演算値の絶対値方が大きいときはディフェクトが検出されたと判定するディフェクト検出判定回路と、前記ディフェクト検出判定回路によりディフェクトが検出されたと判定されるとともに前記欠陥判定回路により欠陥が暗欠陥であると判定された場合には、暗欠陥のディフェクトを検出したことを示す第１のディフェクト信号を出力し、前記ディフェクト検出判定回路によりディフェクトが検出されたと判定されるとともに前記欠陥判定回路により欠陥が明欠陥であると判定された場合には、明欠陥のディフェクトを検出したことを示す第２のディフェクト信号を出力する出力回路とを備えることを特徴とする。

本発明の一態様に係るディフェクト信号生成回路によれば、光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することができる。

本発明に係るディフェクト信号生成回路は、光ディスクの暗欠陥、明欠陥に対応して信号レベルが基準レベルから一方が上のレベルに変化し他方が下のレベルに変化する入力信号を受けて、光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出し、光ディスク再生装置のサーボ系にディフェクト信号を出力するものである。

以下、本発明に係る実施例について図面を参照しながら説明する。

図１は、本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路の要部構成を示すブロック図である。

図１に示すように、ディフェクト信号生成回路１００には、例えば、CD-DA、CD-Ｒ、CD-RW等の光ディスクの暗欠陥、明欠陥に対応して信号レベルが基準レベルから一方が上のレベルに変化し他方が下のレベルに変化する入力信号（例えば、ＲＦＤＣ（Radio Frequency Direct Current）信号、または、サブビーム和信号（ＳＢＡＤ（Sub beam Addition）信号））が入力される。

なお、ＲＦＤＣ信号とは、ＲＦ信号の直流成分の信号であり、光ディスクのメインビームの出力から生成される。

また、サブビームとは、トラッキングサーボの制御信号でピックアップ出力のＥ信号とＦ信号のことである。そして、このＥ信号とＦ信号との和（Ｅ＋Ｆ）がサブビーム和信号である。例えば、このＳＢＡＤ信号は、光ディスクの暗欠陥に対応してレベルが基準レベルから低下し、暗欠陥がなくなるとレベルが基準レベルに戻り、一方、光ディスクの明欠陥に対応してレベルが基準レベルから上昇し、明欠陥がなくなるとレベルが基準レベルに戻るようになっている。

ここで、ディフェクト信号生成回路１００は、上記入力信号を受けて、この入力信号よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を出力するローパスフィルタ回路１と、入力信号のレベルとローパスフィルタ信号のレベルとの差を演算し、第１の演算値を出力する演算回路２と、この第１の演算値の符号により、暗欠陥であるか明欠陥であるかを判定する欠陥判定回路３と、第１の演算値の絶対値と基準値の絶対値とを比較し、ディフェクトが検出されたか否かと判定するディフェクト検出判定回路４と、このディフェクト検出判定回路４と欠陥判定回路３の判定結果に基づいてディフェクト信号をサーボ系（図示せず）に出力する出力回路５とを備える。

演算回路２は、例えば、第１の演算値である、入力信号（ここでは、ＳＢＡＤ信号）のレベルＡとローパスフィルタ信号のレベルＢとの差分（Ａ−Ｂ）を演算する。

例えば、光ディスクの暗欠陥に対応してＳＢＡＤ信号のレベルＡが低下した場合には、第１の演算値（Ａ−Ｂ）が負になる。一方、明欠陥に対応してＳＢＡＤ信号のレベルＡが上昇した場合には、第１の演算値（Ａ−Ｂ）が正になる。そして、演算回路２は、この第１の演算値（Ａ−Ｂ）を欠陥判定回路３に出力する。

ここで、欠陥判定回路３は、この第１の演算値の符号に基づいて、出力回路５に暗欠陥、明欠陥と判定した結果を出力するとともに、演算回路２にも出力する。

ディフェクト検出判定回路４は、例えば、第１の演算値の絶対値と第１の基準値の絶対値とを比較し、この第１の演算値の絶対値の方が大きい場合は、欠陥のディフェクトが検出されていると判定する。一方、第１の演算値の絶対値が第１の基準値の絶対値以下の場合は、ディフェクト検出判定回路４は、ディフェクトが検出されていないと判定する。そして、ディフェクト検出判定回路４は、これらの検出判定結果を出力回路５に出力する。

また、ディフェクト検出判定回路４は、ディフェクトが検出されている場合は、ディフェクト検出中であることを示すディフェクトフラグセットの信号を演算回路２に出力する。

出力回路５は、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されたと判定されるとともに欠陥判定回路３により欠陥が暗欠陥であると判定された場合には、暗欠陥のディフェクトを検出したことを示す第１のディフェクト信号を出力する。一方、出力回路５は、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されたと判定されるとともに欠陥判定回路３により欠陥が明欠陥であると判定された場合には、明欠陥のディフェクトを検出したことを示す第２のディフェクト信号を出力する。

さらに、ディフェクト信号生成回路１００は、第２の演算値と第２の基準値の絶対値とを比較し、第２の演算値の方が大きいときはディフェクトが検出されなくなったと判定するディフェクト解除判定回路６を備えている。

ここで、演算回路２は、既述のように第１の演算値の符号が負の場合には、ディフェクトフラグセットの信号を受けると、再度、入力信号のレベルＡとローパスフィルタ信号のレベルＢとを差分（Ａ−Ｂ）して第２の演算値を算出する。一方、第１の演算値の符号が正の場合には、演算回路２は、ディフェクトフラグセットの信号を受けると、この第１の演算値を算出した差の演算（Ａ−Ｂ）と符号を反対にして演算（Ｂ−Ａ）して第２の演算値を算出する。そして、演算回路２は、このディフェクト解除判定回路６に上記第２の演算値を出力する。

ディフェクト解除判定回路６は、当該第２の演算値と第２の基準値の絶対値とを比較し、第２の演算値の方が大きいときはディフェクトが検出されなくなったと判定する。一方、ディフェクト解除判定回路６は、第２の基準値よりも第２の演算値の方が小さいときはディフェクトが検出中であると判定する。ディフェクト解除判定回路６は、これらの解除判定結果を出力回路５に出力する。

そして、出力回路５は、このディフェクト解除判定回路６の出力に基づいて、第１および第２のディフェクト信号の出力を禁止する。すなわち、出力回路５は、ディフェクトが検出されなくなったと判定された場合は第１および第２のディフェクト信号の出力を禁止し、ディフェクトが検出中であると判定された場合は、第１および第２のディフェクト信号の出力を継続する。

また、ディフェクト解除判定回路６は、ディフェクトが検出されなくなったと判定すると、演算回路２にディフェクトフラグリセット信号を出力する。これにより、演算回路２は、次の欠陥に対応してＳＢＡＤ信号のレベルが変化した場合は、第１の演算値を欠陥判定回路３およびディフェクト検出判定回路４に出力することとなる。

さらに、ディフェクト信号生成回路１００は、出力回路５のディフェクト信号の出力が禁止されてから所定期間、暗欠陥または明欠陥のディフェクトの検出を禁止させるための禁止信号を出力するタイマ回路７を、備える。

ここでは、既述の出力回路５の第１および第２のディフェクト信号の出力が禁止された信号がタイマ回路７に入力される。この信号を受けたタイマ回路７は、禁止信号を演算回路２に出力する。この禁止信号の入力に基づいて、演算回路２は、入力信号とローパスフィルタ信号とが等しいものとして、すなわち、演算値＝０として、信号を出力する。これにより、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されていないとして判定される。すなわち、該所定期間（演算値＝０の状態が維持される期間）は、ディフェクトの検出が禁止される。結果として、該所定期間、出力回路５からディフェクト信号が出力されない。

なお、ここでは、上記禁止信号が演算回路２に入力されているが、この禁止信号により例えば、出力回路５を制御して、第１および第２のディフェクト信号の出力を所定期間、禁止するようにしてもよい。

さらに、ディフェクト信号生成回路１００は、明欠陥のディフェクトを検出したことを示す第２のディフェクト信号の出力を禁止する明欠陥検出禁止回路８を、備える。

既述のように、明欠陥は、製造不良によりミラー面の見える状態（色素膜のない状態）の欠陥であり、ディスクの汚れや傷等による暗欠陥よりも小さく、ディフェクト期間が短い場合がある。このようにディフェクト期間が短い場合にまで、検出動作を実施し第２のディフェクト信号を出力するようにすると、サーボ性能に影響を及ぼすことも考えられる。

そこで、特に、明欠陥のディフェクトを検出する必要がない場合には、明欠陥検出禁止回路８が出力回路５に明欠陥検出禁止信号を出力して強制的に第２のディフェクト信号の出力を禁止させる。これにより、例えば、サーボ系の仕様等により、選択的に、ディフェクト信号生成回路１００の機能を切り替えることができる。

次に、以上のような構成・機能を有するディフェクト信号生成回路１００の動作について、フローチャートに沿って以下説明する。

図２は、本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路のディフェクト信号を出力する動作を示すフローチャートである。先ず、図２に示すように、ディフェクト検出判定回路１００に入力信号（ＳＢＡＤ信号）が入力される（ステップＳ１）。

次に、ローパスフィルタ回路１が、このＳＢＡＤ信号を処理し、入力信号よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を演算回路２に出力する（ステップＳ２）。

次に、演算回路２が、ＳＢＡＤ信号とローパスフィルタ信号との差分（Ａ−Ｂ）を演算し、第１の演算値を欠陥判定回路３およびディフェクト検出判定回路４に出力する（ステップＳ３）。

次に、欠陥判定回路３が、この出力を受けて、第１の演算値の符号に基づいて、暗欠陥であるか明欠陥であるかを判定する（ステップＳ４）。このステップ４では、第１の演算値の符号が正の場合、ここでは、欠陥が明欠陥と判定され、第１の演算値の符号が負の場合、欠陥が暗欠陥と判定される。この暗/明判定結果は、欠陥判定回路３から演算回路２および出力回路５に出力される。

第１の演算値の符号が負、すなわち暗欠陥と判定された場合、ディフェクト検出判定回路４は、第１の演算値の絶対値と第１の基準値の絶対値とを比較し、ディフェクト検出の有無を判定する（ステップＳ５）。

第１の演算値の絶対値が第１の基準値の絶対値以下の場合は、ディフェクト検出判定回路４により、ディフェクトが検出されていないと判定され、再びステップＳ１に戻る。一方、第１の演算値の絶対値の方が第１の基準値の絶対値よりも大きい場合は、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されていると判定される。これらの検出判定結果は、ディフェクト検出判定回路４から出力回路５に出力される。

ステップＳ５で、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されたと判定された場合には、出力回路５は、暗欠陥のディフェクトを検出したことを示す第１のディフェクト信号をディフェクト信号生成回路１００の出力として出力する（ステップＳ６）。

一方、ステップＳ４で、第１の演算値の符号が正、すなわち明欠陥と判定された場合、ディフェクト検出判定回路４は、第１の演算値の絶対値と第１の基準値の絶対値とを比較し、ディフェクト検出の有無を判定する（ステップＳ７）。

第１の演算値の絶対値が第１の基準値の絶対値以下の場合は、ディフェクト検出判定回路４により、ディフェクトが検出されていないと判定され、ステップＳ１に戻る。一方、第１の演算値の絶対値の方が第１の基準値の絶対値よりも大きい場合は、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されていると判定される。これらの検出判定結果は、ディフェクト検出判定回路４から出力回路５に出力される。

ここで、ステップＳ７の後、明欠陥検出禁止回路８は、明欠陥のディフェクト信号を出力する必要がない場合は、出力回路５に第２のディフェクト信号の出力を禁止させるための信号を出力する（ステップＳ８）。一方、明欠陥のディフェクト信号を出力する必要がある場合は、ステップＳ６に移行し、第２のディフェクト信号が出力回路５からディフェクト信号生成回路１００の出力として出力される。

ステップＳ６の後、ディフェクト検出判定回路４は、演算回路２にディフェクトフラグセット信号を出力する（ステップＳ９）。

以上のフローにより、ディフェクト信号生成回路１００の欠陥のディフェクト信号を出力する動作が完了し、次に、ディフェクト検出を解除する動作に移行する。

図３は、本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路のディフェクト検出を解除する動作を示すフローチャートである。

先ず、図３に示すように、ディフェクト検出判定回路１００に入力信号（ＳＢＡＤ信号）が入力される（ステップＳ１０）。

次に、ローパスフィルタ回路１が、このＳＢＡＤ信号を処理し、入力信号よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を演算回路２に出力する（ステップＳ１１）。

次に、ディフェクトフラグセット信号を受けた演算回路２が、第１の演算値の符号に基づいて、ＳＢＡＤ信号とローパスフィルタ信号との差分を演算し、第２の演算値をディフェクト解除判定回路６に出力する（ステップＳ１２）。

ここで、演算回路２は、第１の演算値の符号が負の場合（ここでは暗欠陥と判定された場合）には、再度、入力信号のレベルＡとローパスフィルタ信号のレベルＢとを差分（Ａ−Ｂ）して第２の演算値を算出する。一方、第１の演算値の符号が正の場合（ここでは明欠陥と判定された場合）には、演算回路２は、この第１の演算値を算出した差の演算（Ａ−Ｂ）と符号を反対にして演算（Ｂ−Ａ）して第２の演算値を算出する。そして、演算回路２は、ディフェクトフラグセット信号を受けている場合、このディフェクト解除判定回路６に上記第２の演算値を出力する。

次に、ディフェクト解除判定回路６は、第２の演算値と第２の基準値の絶対値とを比較し、ディフェクトが検出されなくなったか否かを判定する（ステップＳ１３）。

ここで、ディフェクト解除判定回路６は、当該第２の演算値と第２の基準値の絶対値とを比較し、第２の演算値の方が大きいときはディフェクトが検出されなくなったと判定する。一方、ディフェクト解除判定回路６は、第２の基準値よりも第２の演算値の方が小さいときはディフェクトが検出中であると判定し、ステップＳ１０に戻る。これらの解除判定結果は、ディフェクト解除判定回路６から出力回路５に出力される。

ステップＳ１３で、ディフェクトが検出されていないと判定された場合には、出力回路５は、第１および第２のディフェクト信号の出力を禁止する（ステップＳ１４）。

次に、ディフェクト解除判定回路６は、演算回路２にディフェクトフラグリセット信号を出力する（ステップＳ１５）。

次に、出力回路５の第１および第２のディフェクト信号の出力が禁止された信号を受けたタイマ回路７は、出力回路５がディフェクト信号の出力を禁止する所定期間のタイマ計測を開始し（ステップＳ１６）、この所定期間、すなわち検出禁止タイマが終了するまで禁止信号を演算回路２に出力して、ディフェクトの検出を禁止する（ステップＳ１７）。

以上のフローにより、ディフェクト信号生成回路１００の欠陥のディフェクト検出を解除する動作が完了し、再び次のディフェクト信号を出力する動作に移行することとなる。

ここで、以上のフローにより、処理される各信号のタイミング波形について説明する。図４は、本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路の暗欠陥のディフェクト検出をするタイミング波形を示す図である。

図４に示すように、ＳＢＡＤ信号は暗欠陥に対応して信号レベルが基準レベルから下のレベルに低下する。そして、時間ｔ１以降、第１の演算値（Ａ―Ｂ）の絶対値が第１の基準値（ＢＤＲＥＦ）の絶対値よりも大きくなるので、ディフェクト検出判定回路４は、ディフェクトが検出されていると判定する。さらに、欠陥判定回路３は、第１の演算値（Ａ―Ｂ）が負であるので、欠陥が暗欠陥であると判定する。これらの判定結果に基づいて、出力回路５は、第１のディフェクト信号を出力する。

次に、暗欠陥がなくなるのに対応してＳＢＡＤ信号のレベルが上昇すると、時間ｔ２で、第２の演算値（Ａ―Ｂ）が第２の基準値（ＢＤＲＥＦ２）よりも大きくなるので、ディフェクト解除判定回路６はディフェクトが検出されなくなったと判定する。この判定に基づいて、出力回路５は、第１のディフェクト信号の出力を禁止する。

そして、時間ｔ２から時間ｔ３までの期間タイマ回路７により規定された所定期間、演算回路２によりＳＢＡＤ信号とローパスフィルタ信号とは等しいレベルとして演算される。

これにより、ディフェクト検出判定回路４によりディフェクトが検出されていないとして判定される。すなわち、該所定期間は、ディフェクトの検出が禁止され、結果として、出力回路５からの第１のディフェクト信号の出力が制限される。

図５は、本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路の明欠陥のディフェクト検出をするタイミング波形を示す図である。

図５に示すように、ＳＢＡＤ信号は明欠陥に対応して信号レベルが基準レベルから上のレベルに上昇する。そして、時間ｔ１以降、第１の演算値（Ａ―Ｂ）の絶対値が第１の基準値（ＢＤＲＥＦ）の絶対値よりも大きくなるので、ディフェクト検出判定回路４は、ディフェクトが検出されていると判定する。さらに、欠陥判定回路３は、第１の演算値（Ａ―Ｂ）が正であるので、欠陥が明欠陥であると判定する。これらの判定結果に基づいて、出力回路５は、第２のディフェクト信号を出力する。

次に、明欠陥がなくなるのに対応してＳＢＡＤ信号のレベルが低下すると、時間ｔ２で、第２の演算値（Ｂ―Ａ）が第２の基準値（ＢＤＲＥＦ２）よりも大きくなるので、ディフェクト解除判定回路６はディフェクトが検出されなくなったと判定する。この判定に基づいて、出力回路５は、第２のディフェクト信号の出力を禁止する。

そして、図４の場合と同様に、時間ｔ２から時間ｔ３までの期間タイマ回路７により規定された所定期間、演算回路２によりＳＢＡＤ信号とローパスフィルタ信号とは等しいレベルとして演算される。結果として、該所定期間、出力回路５からの第１のディフェクト信号の出力が制限される。

ここで、明欠陥のディフェクト信号を出力する必要がない場合は、明欠陥検出禁止回路８が出力回路５を制御するため、時間ｔ１から時間ｔ２の期間において、第２のディフェクト信号は出力されない。

以上のように、本実施例に係るディフェクト信号生成回路によれば、光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出し、光ディスク再生装置のサーボ系にディフェクト信号を出力することができる。

なお、以上実施例において、ディフェクトの検出を判定するための第１の基準値およびディフェクトの検出の終了を判定するための第２の基準値は、光ディスクの種類や規格、サーボ系の仕様等により適切に設定される。

本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路の要部構成を示すブロック図である。 本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路のディフェクト信号を出力する動作を示すフローチャートである。 本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路のディフェクト検出を解除する動作を示すフローチャートである。 本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路の暗欠陥のディフェクト検出をするタイミング波形を示す図である。 本発明の実施例１に係るディフェクト信号生成回路の明欠陥のディフェクト検出をするタイミング波形を示す図である。

符号の説明

１ ローパスフィルタ回路
２ 演算回路
３ 欠陥判定回路
４ ディフェクト検出判定回路
５ 出力回路
６ ディフェクト解除判定回路
７ タイマ回路
８ 明欠陥検出禁止回路
１００ ディフェクト信号生成回路

Claims (5)

1. 光ディスクの暗欠陥、明欠陥に対応して信号レベルが基準レベルから一方が上のレベルに変化し他方が下のレベルに変化する入力信号を受けて、この入力信号よりも時定数の長いローパスフィルタ信号を出力するローパスフィルタ回路と、
   前記入力信号のレベルと前記ローパスフィルタ信号のレベルとの差を演算し、第１の演算値を出力する演算回路と、
   前記第１の演算値の符号により、暗欠陥であるか明欠陥であるかを判定する欠陥判定回路と、
   前記第１の演算値の絶対値と第１の基準値の絶対値とを比較し、前記第１の演算値の絶対値方が大きいときはディフェクトが検出されたと判定するディフェクト検出判定回路と、
   前記ディフェクト検出判定回路によりディフェクトが検出されたと判定されるとともに前記欠陥判定回路により欠陥が暗欠陥であると判定された場合には、暗欠陥のディフェクトを検出したことを示す第１のディフェクト信号を出力し、前記ディフェクト検出判定回路によりディフェクトが検出されたと判定されるとともに前記欠陥判定回路により欠陥が明欠陥であると判定された場合には、明欠陥のディフェクトを検出したことを示す第２のディフェクト信号を出力する出力回路と、
   を備えることを特徴とするディフェクト信号生成回路。
2. 前記演算回路は、前記第１の演算値の符号が負の場合には、前記差の演算と同様に演算し、前記第１の演算値の符号が正の場合には、前記演算回路は前記差の演算と符号を反対にして演算して、第２の演算値を出力し、
   前記第２の演算値と第２の基準値の絶対値とを比較し、前記第２の演算値の方が大きいときはディフェクトが検出されなくなったと判定するディフェクト解除判定回路を、さらに備え、
   前記出力回路は、前記ディフェクト解除判定回路の出力信号に基づいて、前記第１および第２のディフェクト信号の出力を禁止することを特徴とする請求項１に記載のディフェクト信号生成回路。
3. 前記出力回路のディフェクト信号の出力が禁止されてから所定期間、暗欠陥または明欠陥のディフェクトの検出を禁止させるためのタイマ回路を、さらに備えることを特徴とする請求項２に記載のディフェクト信号生成回路。
4. 前記出力回路が前記第２のディフェクト信号を出力するのを禁止するための明欠陥検出禁止回路を、さらに備えることを特徴とする請求項１ないし３の何れかに記載のディフェクト信号生成回路。
5. 前記入力信号は、ＲＦＤＣ信号、または、ＳＢＡＤ信号であることを特徴とする請求項１ないし４の何れかに記載のディフェクト信号生成回路。

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