JP2007201376A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007201376A
JP2007201376A JP2006021164A JP2006021164A JP2007201376A JP 2007201376 A JP2007201376 A JP 2007201376A JP 2006021164 A JP2006021164 A JP 2006021164A JP 2006021164 A JP2006021164 A JP 2006021164A JP 2007201376 A JP2007201376 A JP 2007201376A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lid
semiconductor device
terminal
substrate
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006021164A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Saito
博 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaha Corp filed Critical Yamaha Corp
Priority to JP2006021164A priority Critical patent/JP2007201376A/ja
Priority to EP06025135A priority patent/EP1795496A2/en
Priority to US11/634,384 priority patent/US7560811B2/en
Priority to CN200610164038.8A priority patent/CN1983582B/zh
Priority to TW095145406A priority patent/TW200739829A/zh
Priority to KR1020060123109A priority patent/KR100939402B1/ko
Publication of JP2007201376A publication Critical patent/JP2007201376A/ja
Priority to US12/333,092 priority patent/US20090096041A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/753Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between laterally-adjacent chips
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

Landscapes

  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

【課題】半導体センサチップを基板上面に固定すると共に導電性の蓋体により基板の上方を覆って半導体センサチップを含む中空空間を形成してなる半導体装置において、製造コストの増加を抑えながらも、電磁シールドを形成する蓋体を基板に簡便に固定することができるようにする。
【解決手段】外部接続用端子17を外側に突出させつつ樹脂層19で封止した基板3と、基板3の上面に固定される半導体センサチップと、基板3の上方を覆う蓋体9と、蓋体9に形成される電磁シールド用端子25を外部接続用端子17に接触させた状態で固着させる固着手段27とを備える半導体装置1を提供する。
【選択図】図1

Description

本発明は、音圧センサチップや圧力センサチップ等の半導体センサチップを備える半導体装置に関する。
従来、シリコン半導体を用いて製造される、例えば圧力センサやシリコンマイクなどの半導体装置には、略矩形板状に形成されその表面から裏面に向けて窪む凹状部を備えた半導体センサチップをプリント基板上に実装して構成したものがある。この半導体装置において、半導体センサチップは、凹状部により薄肉化された部分が例えばブリッジ抵抗回路を備えたダイヤフラム(可動電極)とされ、音圧などの圧力が加わるとダイヤフラムに変位やひずみ(以下、変位という)が生じ、ブリッジ抵抗回路がこの変位を電気抵抗の変化として捉え、変位の大きさに応じた電気抵抗の変化に基づいて圧力を検出することが可能とされている。
また、この種の半導体装置は、プリント基板の表面(上面)にカバー(蓋体)が設置され、このカバーで画成された空間内に半導体センサチップを収容するように構成されている。このカバーには、空間内と外部とを連通させる開口部が設けられ、開口部を通じて外部で生じた音圧等の変動する圧力を空間内に導き半導体センサチップに到達させることが可能とされている。さらに、カバーには、内面に導電性層が設けられ、開口部以外の部分を通じて空間内に侵入しようとする電磁気的なノイズをこの導電性層の電磁シールドで遮断することが可能とされている。これにより、ノイズが半導体センサチップに到達してダイヤフラムに誤振動が生じることを防止でき、正確に圧力を検出することが可能とされている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。
特表2004−537182号公報 米国特許第6781231号明細書
しかしながら、上記の半導体装置においては、半導体装置を例えば携帯電話機などの回路基板に実装する際に、カバーの導電性層と回路基板とを電気的に接続するための工夫が必要であった。ここで、上記電磁シールドを形成するためには、例えばプリント基板の上面に露出した接続端子にカバーの下端に延出された導電性層を一致させてカバーを設置する必要があるが、この設置の際には、導電性層とプリント基板の接続端子との電気的な不連続が生じないようにプリント基板に対するカバーの設置精度が要求されるため、上記設置に手間を要するという問題がある。
また、上記電磁シールドを保持するためには、カバーがプリント基板から外れないようにする固定手段を設ける工夫が必要となるが、別途固定手段を設けることで半導体装置の製造コストが増加する虞がある。
本発明は、上記事情を鑑み、製造コストの増加を抑えながらも、電磁シールドを形成する蓋体を基板に簡便に固定することが可能な半導体装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、この発明は以下の手段を提案している。
請求項1に係る発明は、外部接続用端子を外側に突出させつつ樹脂層で封止した基板と、該基板の上面に固定される半導体センサチップと、前記基板の上方を覆って前記半導体センサチップを含む中空空間を形成する導電性の蓋体と、前記蓋体に形成される電磁シールド用端子を前記外部接続用端子に接触させた状態で固着させる固着手段とを備えることを特徴とする半導体装置を提案している。
この発明に係る半導体装置を回路基板に実装する際には、樹脂層の外側に突出した外部接続用端子を回路基板の接続端子に半田付けするだけで、導電性を有する蓋体を回路基板と電気的に接続することができるため、確実に電磁シールドを形成することができる。そして、蓋体の電磁シールド用端子は固着手段によって基板の外部接続用端子に固着されているため、例えば、上記のように半導体装置を回路基板に実装する際や、半導体装置を運搬する際などにおいて、蓋体が基板から外れることを容易に防止することができる。
ここで、蓋体の電磁シールド用端子は、固着手段によって外部接続用端子に固着されると同時に電気的に接続されているため、蓋体を基板に固定するだけの手段を別途設ける必要が無くなる。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の半導体装置において、前記基板が、前記樹脂層に封止されると共に前記半導体センサチップの下方に配される略板状のステージ部を備え、前記外部接続用端子が、前記ステージ部と電気的に接続されることを特徴とする半導体装置を提案している。
請求項3に係る発明は、請求項1又は請求項2に記載の半導体装置において、前記固着手段が、前記外部接続用端子及び前記電磁シールド用端子の一方を他方により締め付けるカシメにより構成されることを特徴とする半導体装置を提案している。
請求項4に係る発明は、請求項1又は請求項2に記載の半導体装置において、前記固着手段が、前記外部接続用端子と前記電磁シールド用端子とのリベット止めにより構成されることを特徴とする半導体装置を提案している。
請求項5に係る発明は、請求項1又は請求項2に記載の半導体装置において、前記固着手段が、前記外部接続用端子と前記電磁シールド用端子との溶接により構成されることを特徴とする半導体装置を提案している。
請求項6に係る発明は、請求項1又は請求項2に記載の半導体装置において、前記固着手段が、前記外部接続用端子と前記電磁シールド用端子との半田付けにより構成されることを特徴とする半導体装置を提案している。
請求項1に係る発明によれば、蓋体の電磁シールド用端子を基板の外部接続用端子に固着させるだけで、半導体センサチップを保護する電磁シールドを形成できると共に蓋体を簡便に基板に固定することができるため、半導体装置の構成を簡素化して製造コストの増加を抑えることができる。
また、半導体装置を回路基板に実装する際や、半導体装置を運搬する際などにおいて、蓋体が基板から外れることを防止できるため、半導体装置を簡便に取り扱うことが可能となる。
また、請求項2に係る発明によれば、半導体センサチップを蓋体及びステージ部により包むような電磁シールドを形成することが可能となり、より確実に半導体センサチップを電磁波等のノイズから保護することができる。
また、請求項3〜6に係る発明によれば、カシメやリベット止め、溶接、半田付けによって、より確実に外部接続用端子を電磁シールド用端子に固着させることができるため、蓋体が基板から外れることを確実に防止することができる。
以下、図1から図9を参照し、本発明の第1実施形態に係る半導体装置について説明する。本実施形態は、外部に発生した音響などの音圧を検出する半導体装置に関し、特にリードフレームを用いて製造されるSON(Small Outline Non-leaded package)タイプの半導体装置に関するものである。
本実施形態の半導体装置1は、図1から図3に示すように、平面視略矩形の板状に形成された基板3と、基板3の上面3aに配された半導体センサチップ5及び増幅器7と、半導体センサチップ5及び増幅器7のさらに上方から基板3に重ねて配された蓋体9とを備えている。
基板3は、図1から図6に示すように、平面視略矩形の板状に形成されたステージ部11と、ステージ部11の周囲に配される複数のリード13,15,17と、これらステージ部11及びリード13,15,17を一体的に固定して封止する樹脂モールド部(樹脂層)19とを備えている。
ステージ部11は、樹脂モールド部19と共に平坦な基板3の下面3bを形成するように、樹脂モールド部19から外方に露出して配されている。また、ステージ部11は、基板3の上面3a側からの平面視で、基板3の上面3aに配された半導体センサチップ5及び増幅器7が、ステージ部11上に位置するような大きさをもって形成されている。
複数のリード13,15,17は、図2から図6に示すように、上述したステージ部11と同様に、少なくともその一部が樹脂モールド部19と共に平坦な基板3の下面3bを形成するように、樹脂モールド部19から外方に露出して配されている。すなわち、これらリード13,15,17は、半導体装置1を回路基板(不図示)に実装する際に、回路基板の接続端子に半田付けする外部接続端子としての役割を果たすものである。
これら複数のリード13,15,17は、それぞれ略平板状の帯状に形成され、ステージ部11から切り離されたチップ接続用リード13と、ステージ部11と一体的に形成されるグランド接続用リード15及び蓋体接続用リード(外部接続用端子)17とに分けられており、それぞれ複数形成されている。
チップ接続用リード13は、図2,5,6に示すように、半導体センサチップ5と電気的に接続するためのものであり、本実施形態においては、半導体センサチップ5及び増幅器7の配列方向に沿う樹脂モールド部19の一対の側面19cに3条ずつ等間隔に配列して設けられている。各チップ接続用リード13は、樹脂モールド部19の一対の側面19cからステージ部11に向けて延びるように形成されており、その一端部13aが樹脂モールド部19の外側に若干突出し、基板3の下面3bから外方に露出している。また、各チップ接続用リード13には、その一端部13aから他端部13bに向かう途中に折曲部13cが形成されており、この折曲部13cによって他端部13bが一端部13aよりも上方に配されることになる。なお、各チップ接続用リード13の他端部13bは、後述する樹脂モールド部19により形成される基板3の上面3aと略同一平面上に配置されて露出している。
グランド接続用リード15は、上述した複数のチップ接続用リード13に隣り合う位置に1条ずつ形成されており、それぞれ隣り合う複数のチップ接続用リード13と同様の等間隔をおいて配列されている。各グランド接続用リード15は、チップ接続用リード13と同様に、その一端部15aが樹脂モールド部19の外側に若干突出しており、その他端部15bがステージ部11の側端に繋げられている。これら一端部15a及び他端部15bは、基板3の下面3bから外方に露出している。
蓋体接続用リード17は、図3,5,6に示すように、基板3を平面視で前述した樹脂モールド部19の側面19cに直交する一対の側面19dに1条ずつ設けられており、その一端部17aが樹脂モールド部19の外側に突出している。また、蓋体接続用リード17の他端部17bは、ステージ部11の長手方向の両端部に繋げられている。これら一端部17a及び他端部17bは、基板3の下面3bから外方に露出している。
さらに、各蓋体接続用リード17の一端部17aには、後述する蓋体9の電磁シールド用端子25を締め付けるための締め付け部17dが一対形成されている。これら一対の締め付け部17dは、各蓋体接続用リード17の一端部17aから蓋体接続用リード17の長手方向に直交する方向に延出している。
以上のように構成されたステージ部11、チップ接続用リード13、グランド接続用リード15及び蓋体接続用リード17は、同一のリードフレームによって形成されるものである。
樹脂モールド部19は、図2から図6に示すように、基板3の上面3a及び下面3bをなすように、平面視略矩形の板状に形成されている。また、樹脂モールド部19には、チップ接続用リード13の折曲部13cを封止する側面19c,19d側に、上面4aから上方に突出する略環状の突部19eが形成されている。この突部19eは、その突出方向先端側に向かうに従いその幅が漸次小となるように形成されている。以上のように形成された突部19eによって樹脂モールド部19の上面3a側に、凹部19fが画成されることになる。
また、樹脂モールド部19の上面3aには、上面3aから窪む有底の開口穴19gが形成されており、この開口穴19gは、上面3a側に開口しつつ下方に位置するステージ部11に向けて延設されている。
なお、蓋体接続用リード17を突出させて配した樹脂モールド部19の各側面19dの両側には、側面19dから突出する一対の突起部19hが形成されており、この一対の突起部19hにより各蓋体接続用リード17を収容する凹部19iが形成されている。この凹部19iは各蓋体接続用リード17を保護する役割を果たしている。
半導体センサチップ5は、音響を電気信号に変換する所謂音圧センサチップである。すなわち、この半導体センサチップ5は、半導体装置1の外側に位置する外方空間からの音響等の圧力変動に応じて振動するダイヤフラム5aを備えている。ダイヤフラム5aは、半導体センサチップ5の厚さ方向に振動するように構成されている。また、ダイヤフラム5aの上面側には、ブリッジ抵抗回路(不図示)が形成されており、ダイヤフラム5aの変形を電気抵抗の変化として捉え、これを圧力に変換することで音圧を検出し、この音圧の大きさに応じた電気信号を出力することができる。
この半導体センサチップ5は、接着ペーストB1を介して開口穴19gを覆うように樹脂モールド部19の上面3aに接着固定されている。これにより、半導体センサチップ5のダイヤフラム5aと樹脂モールド部19の開口穴19gとの間に、ダイヤフラム5aを十分に振動させる程度の大きさの空洞部S1が形成される。なお、上記のように半導体センサチップ5を固定した状態において、空洞部S1は外方に対して密閉されている。
この半導体センサチップ5は、後述する増幅器7と複数(図示例では4つ)のワイヤー21により電気的に接続されている。
増幅器7は、半導体センサチップ5から出力された電気信号を増幅する等の役割を果たすものであり、半導体センサチップ5と同様に接着ペーストB2を介して樹脂モールド部19の上面3aに固定されている。また、この増幅器7は、チップ接続用リード13の一端部13aと複数(図示例では4つ)のワイヤー23により電気的に接続されている。すなわち、半導体センサチップ5が増幅器7を介してチップ接続用リード13と電気的に接続されることになる。
蓋体9は、図1から図4に示すように、例えば銅材などの導電性材料により形成されており、基板3の上面3aに対向して配置される略矩形平板状の天板部9aと、天板部9aの側端と繋がりつつ垂下した側壁部9bとを備えており、開口側を下方に向けた略皿状に形成されている。
天板部9aは、樹脂モールド部19に形成された略環状の突部19eの上端面に当接するように形成されており、樹脂モールド部19の凹部19fの開口を覆って半導体センサチップ5及び増幅器7を含む中空空間S2を形成するようになっている。この天板部9aには、その厚さ方向に貫通する開口部9cが形成されており、この開口部9cを介して上記中空空間S2が半導体装置1の外側に位置する外方空間に連通することになる。
側壁部9bは、天板部9aの周縁全体にわたって形成されており、樹脂モールド部19の側面19c,19d側から突部19eを覆うように構成されている。半導体センサチップ5及び増幅器7の配列方向の両端部に位置する側壁部9bには、その先端からさらに延設された電磁シールド用端子25が一体的に形成されている。この電磁シールド用端子25の先端部25aは、外側に向けて屈曲されており、蓋体9を基板3の上方に配した状態において、蓋体接続用リード17に重ねて配されるようになっている。
そして、この電磁シールド用端子25は、蓋体接続用リード17の一端部17aに接触させた状態で、蓋体接続用リード17の締め付け部17dを折り曲げることで蓋体接続用リード17により締め付けられるようになっている。すなわち、上記締め付け部17dが、電磁シールド用端子25を締め付けて蓋体接続用リード17に固着させるカシメ(固着手段)27を構成している。蓋体9は、このカシメ27によって基板3に固定されると共に、電磁シールド用端子25を介してステージ部11と電気的に接続されることになる。すなわち、蓋体9とステージ部11とが同電位の状態となる。
なお、側壁部9bのうち、上記電磁シールド用端子25を形成した部分は、側壁部9bの他の部分から切り分けて形成されており、樹脂モールド部19の凹部19i内に収容されるようになっている。
以上のように構成された半導体装置1の製造方法について、以下に説明する。
本実施形態の半導体装置1を製造する際には、はじめに、42アロイ若しくは銅材等からなる金属製薄板にプレス加工やエッチング加工を施して、ステージ部11と、その周囲に配されるチップ接続用リード13、グランド接続用リード15及び蓋体接続用リード17とを一体的に連結したリードフレーム(不図示)を形成する。
そして、このリードフレームの形成と同時若しくは終了後に、チップ接続用リード13に折り曲げ加工を施すことで、チップ接続用リード13の他端部13bがステージ部11に対してリードフレームの厚さ方向にずらして配置されることになる。
その後、樹脂モールド部形成用の金型(不図示)を用いてリードフレームを樹脂モールド部19により封止し、チップ接続用リード13、グランド接続用リード15及び蓋体接続用リード17を個々に切り分けることで基板3が形成されることになる。
この基板3の形成完了後には、基板3の上面3aに接着ペーストB1,B2を介して半導体センサチップ5及び増幅器7を固定し、ワイヤーボンディングにより半導体センサチップ5と増幅器7をワイヤー21で電気接続すると共に増幅器7とチップ接続用リード13の他端部13bとをワイヤー23で電気接続する。
最後に、図1,2に示すように、蓋体9により樹脂モールド部19の凹部19fの開口を覆うと共に蓋体9の電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させることで、半導体装置1の製造が完了する。
なお、蓋体9を基板3に被せる際には、側壁部9bのうち、上記電磁シールド用端子25を形成した部分が、樹脂モールド部19の突起部19hにより案内されて、樹脂モールド部19の凹部19i内に収容されることになる。すなわち、基板3に対する蓋体9の位置決めを容易に行うことができる。
また、電磁シールド用端子25と蓋体接続用リード17との固着は、以下の手順にしたがって行われる。
はじめに、上述のように蓋体9を基板3に被せる前に、図7,8に示すように、予め蓋体接続用リード17の一対の締め付け部17dに折り曲げ加工を施す。すなわち、この折り曲げ加工を施す前の蓋体接続用リード17は略T字状の平坦な板状に形成されており、この状態から一対の締め付け部17dが樹脂モールド部19の厚さ方向に延びるように、これら締め付け部17dを折り曲げる。
この際には、図8に示すように、蓋体接続用リード17の一端部17aの下方側に凹部C1を有する下側の金型Cを配置すると共に、締め付け部17dの間に位置する一端部17aの上方側に断面視略矩形の突出部D1を有する上側の金型Dを配置する。そして、これら2つの金型C,Dにより蓋体接続用リード17を挟み込んだ際には、締め付け部17dが凹部C1の両端に位置する一対の突起部C2により押し上げられて、一端部17aに対して折り曲げられることになる。また、折り曲げられた締め付け部17dは、上側の金型Dに形成された突出部D1の側面D2に当接するため、締め付け部17dの先端の間隔が余分に狭まることを防止できる。これにより、図7に示すように、締め付け部17dが一端部17aに対して略垂直に折り曲げられることになる。
次いで、上述したように蓋体9を樹脂モールド部19に被せて電磁シールド用端子25の先端部25aを蓋体接続用リード17の一端部17aに重ねて配する。この際には、電磁シールド用端子25の先端部25aが、相互に対向する一対の締め付け部17dの間に案内されるため、蓋体接続用リード17に対する電磁シールド用端子25の先端部25aの位置決めを容易に行うことができる。この状態においては、締め付け部17dの先端が電磁シールド用端子25の先端部25aの上面よりも上方に位置する。
その後、締め付け部17dにさらに折り曲げ加工を施して、電磁シールド用端子25の先端部25aを蓋体接続用リード17の一端部17aと締め付け部17dの先端とにより挟み込んで締め付ける。
この際には、図9に示すように、蓋体接続用リード17の一端部17aの下方側に一対の突起E1を有する下側の金型Eを配置すると共に、締め付け部17dの上方側に凹部F1を有する上側の金型Fを配置する。
そして、これら2つの金型E,Fにより蓋体接続用リード17及びを挟み込んだ際には、蓋体接続用リード17の一端部17aが一対の突起E1の間に配される、すなわち、一対の突起E1によって下側の金型Eに対する蓋体接続用リード17の位置決めがなされる。さらに、一対の締め付け部17dは、その先端が上側の金型Fの凹部F1に当接すると共に凹部F1を構成する凹状の曲面に沿って相互に近づく方向に移動するように、折り曲げられることになり、一対の締め付け部17dの先端が電磁シールド用端子25の先端部25aの上面に当接する。これにより、図7に示すように、電磁シールド用端子25の先端部25aが、蓋体接続用リード17の一端部17a及び締め付け部17dの先端によって締め付けられることになり、蓋体9が基板3に固定されると同時にステージ部11と電気的に接続されることになる。
以上のように製造された半導体装置1を回路基板(不図示)に実装する際には、チップ接続用リード13及びグランド接続用リード15及び蓋体接続用リード17の一端部13a,15a,17aを回路基板の接続端子に半田付けすればよい。この状態においては、導電性を有する蓋体9を回路基板と電気的に接続されるため、蓋体9及びステージ部11によって半導体センサチップ5及び増幅器7を包み込むような電磁シールドを確実に形成することができる。すなわち、これら蓋体9及びステージ部11により外方から中空空間S2内に侵入しようとする電磁気的なノイズを確実に遮断することができる。
上記半導体装置1によれば、蓋体9の電磁シールド用端子25を基板3の蓋体接続用リード17に固着させるだけで、半導体センサチップ5を保護する電磁シールドを形成できると共に蓋体9を簡便に基板3に固定することができるため、すなわち、蓋体9を基板3に固定するだけの手段を別途設ける必要が無くなるため、半導体装置1の構成を簡素化して製造コストの増加を抑えることができる。
また、半導体装置1を回路基板に実装する際や、半導体装置1を運搬する際などにおいて、蓋体9が基板3から外れることを容易に防止できるため、半導体装置1を簡便に取り扱うことができる。特に、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる手段がカシメ27により構成されているため、蓋体9が基板3から外れることを確実に防止できる。
なお、上述した第1実施形態において、チップ接続用リード13、グランド接続用リード15及び蓋体接続用リード17を個々に切り分ける工程は、樹脂モールド部19を形成した後に行われるとしたが、これに限ることはなく、例えば、上記ワイヤーボンディングの終了後に行われるとしてもよい。また、例えば、上記ワイヤーボンディング後に蓋体接続用リード17のみを切り分け、蓋体9の電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させた後にチップ接続用リード13、グランド接続用リード15を個々に切り分けるとしても構わない。
これらの場合には、金属製薄板に上記リードフレームを一体的に多数形成しておくことで、多数の基板3が相互に連結された状態で、半導体センサチップ5や増幅器7の固定やワイヤーボンディング等の半導体装置1の各製造工程を行うことができる。このため、半導体装置1の各製造工程におけるハンドリングがよくなり、半導体装置1の製造コスト削減を図ることが可能となる。
また、上記のように、金属製薄板に多数のリードフレームを一体的に形成する場合には、半導体装置1の角部に相当する位置にステージ部に連結される吊りリードを別途形成しておいてもよい。この場合には、上記実施形態と同様に、樹脂モールド部19の形成後にチップ接続用リード13、グランド接続用リード15及び蓋体接続用リード17を個々に切り分けておいても、吊りリードを介して多数の基板3を相互に連結した状態に保持できるため、上述したように、半導体装置1の各製造工程におけるハンドリングを向上させることができる。
さらに、蓋体接続用リード17は、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる前に切り分けられるとしたが、これに限ることはなく、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させた後に切り分けられるとしても構わない。
ただし、この場合には、例えば、下記のようにリードフレームを形成しておくことが好ましい。すなわち、リードフレームを形成する際に、例えば、図10に示すように、一対の締め付け部17dにそれぞれ連結される2つの第1の支持リード16と、一対の締め付け部17dの間に位置する蓋体接続用リード17の先端部17aに連結される第2の支持リード18とを形成しておく。なお、これら第1の支持リード16及び第2の支持リード18は、上記リードフレームを構成するものであり、チップ接続用リード13やグランド接続用リード15にも連結される枠体20に、蓋体接続用リード17を連結する役割を果たすものである。
そして、樹脂モールド部19を形成した後から電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる前までに、第1の支持リード16を切断して締め付け部17dを枠体20から切り分けておき、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させた後に第2の支持リード18の切断部分18aを切断して蓋体接続用リード17を枠体20から切り分ければよい。なお、第2の支持リード18を容易に切断できるように、第2の支持リード18の切断部分18aには予めハーフエッチングやプレス加工を施しておくことが好ましい。
この構成の場合には、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる工程も含む半導体装置1の各製造工程におけるハンドリングを向上させることができる。また、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる際に、蓋体接続用リード17が第2の支持リード18により支持されるため、蓋体接続用リード17が変形することを確実に防止することもできる。
さらに、蓋体9を基板3に被せる前に、予めチップ接続用リード13やグランド接続用リード15を個々に切り分けておくことで、この切り分け工程において蓋体9の側壁部9bが邪魔になることがない。すなわち、蓋体9の側壁部9bの形状が上記切り分け工程によって制限されることを防止できる。
また、蓋体接続用リード17には、その側部から突出する締め付け部17dが一対形成されるとしたが、これに限ることはなく、例えば、図11に示すように、1つだけ形成されるとしてもよい。この構成の場合でも、蓋体接続用リード17の一端部17a及び締め付け部17dの先端によって電磁シールド用端子25の先端を締め付けることができる。また、この構成の場合には、蓋体接続用リード17を収容する樹脂モールド部19の凹部19iの大きさを小さくすることができるため、半導体装置の小型化を図ることができる。
また、上述したように、蓋体接続用リード17の締め付け部17dを折り曲げることで電磁シールド用端子25を締め付ける場合には、例えば、図12に示すように、締め付け部17dの折り曲げ部分に溝17eを形成しておいてもよい。なお、この溝17eは、図示のように、電磁シールド用端子25に対向する上記折り曲げ部分の内面側に形成されるとしてもよいし、上記内面側の反対側に位置する外面側に形成されるとしても構わない。
この構成の場合には、溝17eを形成した部分が、締め付け部17dの他の部分よりも薄く形成されることになるため、図13に示すように、溝17eの形成部分において容易かつ確実に折り曲げることができる。なお、上記溝17eは、例えば、プレス加工やエッチング加工により形成することができる。
なお、上述したようにカシメ27により電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる場合には、例えば、電磁シールド用端子25の上面に、該上面から窪む凹部を形成してもよい。この場合には、締め付け部17dの先端を上記凹部に嵌め込むことができるため、電磁シールド用端子25をより確実に蓋体接続用リード17に固着させることができる。この凹部は、プレス加工により形成されてもよいし、エッチング加工により形成されるとしてもよい。また、上記凹部をプレス加工により形成する場合には、電磁シールド用端子25の下面に、該下面から突出する凸部が形成されるとしても構わない。
また、電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させるカシメ27は、蓋体接続用リード17により電磁シールド用端子25を締め付けるように構成されるとしたが、これに限ることはなく、例えば、電磁シールド用端子25により蓋体接続用リード17を締め付けるように構成されるとしても構わない。
さらに、カシメ27は、例えば、図14に示すように、相互に重ね合わせた略板状の蓋体接続用リード17及び電磁シールド用端子25を、それぞれ波状の鋸歯部G1,H1を形成した一対の金型G,Hにより挟み込むことで、図15に示すように、波形状で相互に噛み合わせるように構成されるとしても構わない。
次に、本発明による第2実施形態について図16を参照して説明する。なお、この第2の実施形態に係る半導体装置は、第1実施形態の半導体装置1と電磁シールド用端子25を蓋体接続用リード17に固着させる手段についてのみ異なっている。ここでは、上記固着手段のみについて説明し、第1実施形態の半導体装置1の構成要素と同一の部分については同一符号を付し、その説明を省略する。
図16に示すように、この実施形態に係る半導体装置を構成する蓋体接続用リード(外部接続用端子)31は、樹脂モールド部19の外側に突出する一端部31aにその上面31eから上方に突出するリベット部31fを形成して構成されている。このリベット部31fは、その周囲にハーフエッチング加工やプレス加工を施すことで形成することができる。ハーフエッチング加工やプレス加工によるリベット部31fの形成は、第1の実施形態と同様のリードフレームを形成する前後において行えばよい。
また、蓋体接続用リード31の上面31eに重ねて配される蓋体9の電磁シールド用端子33の先端部33aには、その厚さ方向に貫通する貫通孔33bが形成されている。なお、この貫通孔33bには上記リベット部31fを挿通させる必要があるため、電磁シールド用端子33の先端部33aは、ハーフエッチング加工やプレス加工を施す等して蓋体9の側壁部9bよりも薄く形成されている。
以上のように構成された蓋体接続用リード31と電磁シールド用端子33とを相互に固着させる際には、はじめに、蓋体9を樹脂モールド部19に被せると共に貫通孔33bにリベット部31fを挿通させて、電磁シールド用端子33の先端部33aを蓋体接続用リード31の一端部31aに重ねて配する。その後、貫通孔33bから突出したリベット部31fの突出部分を潰すことで、電磁シールド用端子33が蓋体接続用リード31に固着されることになる。
この半導体装置は、第1実施形態の半導体装置1と同様の効果を奏する。そして、電磁シールド用端子33を蓋体接続用リード31に固着させる固着手段が、上述したリベット締めにより構成されるため、蓋体9が基板3から外れることを確実に防止することができる。
なお、上述した第2の実施形態においては、基板3の蓋体接続用リード31にリベット部31fが形成されると共に蓋体9の電磁シールド用端子33に貫通孔33bが形成されるとしたが、これに限ることはなく、少なくとも電磁シールド用端子33を蓋体接続用リード31に固着させる固着手段がリベット締めにより構成されていればよい。
すなわち、例えば、電磁シールド用端子33に蓋体接続用リード31に向けて突出するリベット部を形成すると共に蓋体接続用リード31にこのリベット部を挿通させる貫通孔を形成するとしてもよい。また、例えば、蓋体接続用リード31及び電磁シールド用端子33の両方に貫通孔を形成しておき、これら2つの貫通孔に別途リベットを挿通させてリベット締めを行うとしても構わない。
また、上述した2つの実施形態においては、電磁シールド用端子25,33を蓋体接続用リード17,31に固着させる固着手段が、蓋体接続用リード17,31と電磁シールド用端子25,33との締結により構成されるとしたが、これに限ることはない。すなわち、上記固着手段は、例えば、蓋体接続用リードと電磁シールド用端子との溶接や半田付けにより構成されるとしても構わない。
この構成の場合でも、上述した2つの実施形態と同様の効果を奏すると共に、蓋体接続用リードと電磁シールド用端子とが接合してより確実に固着させることができるため、蓋体9が基板3から外れることを確実に防止できる。
なお、電磁シールド用端子を蓋体接続用リードに接合させる溶接としては、例えば、レーザー溶接やスポット溶接や超音波金属溶接がある。ここで、レーザー溶接の場合には、例えば、YAGレーザーを使用すればよい。また、超音波金属溶接の場合には、例えば、60kHz以下の周波数の振動を蓋体接続用リードや電磁シールド用端子に与えればよい。
また、電磁シールド用端子を蓋体接続用リードに半田付けする場合には、例えば、相互に対向する蓋体接続用リード及び電磁シールド用端子に予め半田メッキ(例えば、Sn−2Bi)を施しておき、蓋体接続用リードと電磁シールド用端子との間に半田ペースト(例えば、Su−3Ag−0.5Cu)を挟み込んで260℃以下でリフローすればよい。
上述した溶接や半田付けにより電磁シールド用端子を蓋体接続用リードに接合する場合には、例えば、図17(a)に示すように、電磁シールド用端子43に貫通孔43bを形成しておけばよい。
この場合には、電磁シールド用端子43を蓋体接続用リード(外部接続用端子)41に重ねて配した状態において、溶接や半田付けの接合面となる蓋体接続用リード41の上面41eが上記貫通孔43bを介して外方に露出するため、特に、レーザー溶接などにより接合面を簡便に溶融することができる。また、半田付けにより上記接合を行う場合でも、リフローの際に余分な半田ペーストを貫通孔43b内に流入させることができるため、半田ペーストが蓋体接続用リード41や電磁シールド用端子43の外側にあふれ出すことを容易に防止できる。
また、上記溶接や半田付けを行う場合には、例えば、図17(b)(c)に示すように、電磁シールド用端子47,53にその側端や先端から内側に窪む切欠部47c,53cを形成しておき、これら切欠部47c,53cを介して蓋体接続用リード(外部接続用端子)45,51の上面45e,51eを外方に露出させるとしてもよい。
この構成の場合には、蓋体接続用リード45,51の上面45e,51eが電磁シールド用端子47,53の上方だけでなく、電磁シールド用端子47,53の側方や先端から外方に露出するため、特にレーザーを斜めに入射することができる。したがって、レーザー溶接などにより上記接合面をさらに簡便に溶融することが可能となる。
さらに、上記溶接や半田付けを行う場合には、例えば、図18に示すように、相互に重なり合う蓋体接続用リード55(外部接続用端子)の一端部55a及び電磁シールド用端子57の先端部57aの厚さ寸法を、それぞれ蓋体接続用リード55や電磁シールド用端子57の他の部分の厚さ寸法の略半分としてもよい。なお、上記厚さ寸法の変更は、蓋体接続用リード55の一端部55a及び電磁シールド用端子57の先端部57aにハーフエッチング加工やプレス加工を施すことで行うことができる。
この構成の場合には、特に、蓋体接続用リード55と電磁シールド用端子57との接合面に振動が伝達しやすくなるため、超音波金属溶接を簡便に行うことができる。また、この構成の場合には、特に、蓋体接続用リード55と電磁シールド用端子57との間で通電しやすくなるため、容易にスポット溶接を行うことができる。
また、上述した全ての実施形態において、蓋体接続用リード17,31,41,45,55は、ステージ部11に繋げられるように形成されるとしたが、これに限ることはなく、少なくとも半導体装置1を実装する回路基板に接合されるように、また、蓋体9の電磁シールド用端子25,33,43,47,53,55を固着させることができるように形成されていればよい。
さらに、ステージ部11は、樹脂モールド部19と共に平坦な基板3の下面3bを形成するように樹脂モールド部19から外方に露出して配されるとしたが、これに限ることはなく、少なくとも半導体センサチップ5及び増幅器7の下方側に配されていればよい。すなわち、ステージ部11は、樹脂モールド部19の内部に埋められるとしても構わない。
また、上記実施形態においては、基板3の上面3aに半導体センサチップ5及び増幅器7を配置した構成について述べたが、これに限ることはなく、例えば、半導体センサチップ5のみを配置した構成に適用することもできる。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
本発明の第1実施形態に係る半導体装置を示す斜視図である。 図1のA−A矢視断面図である。 図1のB−B矢視断面図である。 図1の半導体装置において、蓋体を基板に取り付ける前の状態を示す分解斜視図である。 図4の基板を示す上面図である。 図4の基板を示す下面図である。 図1の半導体装置において、電磁シールド用端子を蓋体接続用リードにより締め付ける手順を示す拡大斜視図である。 図7に示す手順において、蓋体接続用リードの締め付け部を折り曲げる方法を示す概略断面図である。 図7に示す手順において、蓋体接続用リードの締め付け部を折り曲げる方法を示す概略断面図である。 他の実施形態に係る半導体装置の製造に際して、蓋体接続用リードが第1の支持リード及び第2の支持リードを介してリードフレームの枠体に連結されている状態を示す概略平面図である。 本発明の他の実施形態に係る半導体装置において、蓋体接続用リードを示す概略斜視図である。 本発明の他の実施形態に係る半導体装置において、蓋体接続用リードを示す概略斜視図である。 図12に示す蓋体接続用リードにより電磁シールド用端子を締め付けた状態の概略を示す拡大断面図である。 本発明の他の実施形態に係る半導体装置において、蓋体接続用リード及び電磁シールド用端子を相互にかしめる方法を示す概略断面図である。 図14に示す方法により蓋体接続用リード及び電磁シールド用端子を相互にかしめた状態を示す概略断面図である。 本発明の第2実施形態に係る半導体装置において、蓋体接続用リードと電磁シールド用端子とをリベット締めする手順を示す概略斜視図である。 本発明の他の実施形態に係る半導体装置において、蓋体接続用リードに重ねて配される電磁シールド用端子の形状を示す拡大斜視図である。 本発明の他の実施形態に係る半導体装置において、蓋体接続用リード及び電磁シールド用端子の形状を示す拡大斜視図である。
符号の説明
1・・・半導体装置、3・・・基板、3a・・・上面、5・・・半導体センサチップ、9・・・蓋体、11・・・ステージ部、17,31,41,45,55・・・蓋体接続用リード(外部接続用端子)、19・・・樹脂モールド部(樹脂層)、25,33,43,47,53,55・・・電磁シールド用端子、27・・・カシメ(固着手段)、S2・・・中空空間

Claims (6)

  1. 外部接続用端子を外側に突出させつつ樹脂層で封止した基板と、
    該基板の上面に固定される半導体センサチップと、
    前記基板の上方を覆って前記半導体センサチップを含む中空空間を形成する導電性の蓋体と、
    前記蓋体に形成される電磁シールド用端子を前記外部接続用端子に接触させた状態で固着させる固着手段とを備えることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記基板が、前記樹脂層に封止されると共に前記半導体センサチップの下方に配される略板状のステージ部を備え、
    前記外部接続用端子が、前記ステージ部と電気的に接続されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記固着手段が、前記外部接続用端子及び前記電磁シールド用端子の一方を他方により締め付けるカシメにより構成されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記固着手段が、前記外部接続用端子と前記電磁シールド用端子とのリベット止めにより構成されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体装置。
  5. 前記固着手段が、前記外部接続用端子と前記電磁シールド用端子との溶接により構成されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体装置。
  6. 前記固着手段が、前記外部接続用端子と前記電磁シールド用端子との半田付けにより構成されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体装置。

JP2006021164A 2005-12-08 2006-01-30 半導体装置 Pending JP2007201376A (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006021164A JP2007201376A (ja) 2006-01-30 2006-01-30 半導体装置
EP06025135A EP1795496A2 (en) 2005-12-08 2006-12-05 Semiconductor device for detecting pressure variations
US11/634,384 US7560811B2 (en) 2005-12-08 2006-12-06 Semiconductor device
CN200610164038.8A CN1983582B (zh) 2005-12-08 2006-12-06 半导体器件
TW095145406A TW200739829A (en) 2005-12-08 2006-12-06 Semiconductor device
KR1020060123109A KR100939402B1 (ko) 2005-12-08 2006-12-06 반도체 장치
US12/333,092 US20090096041A1 (en) 2005-12-08 2008-12-11 Semiconductor device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006021164A JP2007201376A (ja) 2006-01-30 2006-01-30 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007201376A true JP2007201376A (ja) 2007-08-09

Family

ID=38455616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006021164A Pending JP2007201376A (ja) 2005-12-08 2006-01-30 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007201376A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010027925A (ja) * 2008-07-22 2010-02-04 Alps Electric Co Ltd 物理量センサ及びその製造方法、ならびに、物理量センサ実装構造
JP2014039067A (ja) * 2009-06-05 2014-02-27 Dainippon Printing Co Ltd 半導体装置
JP5535078B2 (ja) * 2008-10-14 2014-07-02 日本電産サンキョー株式会社 振れ補正機能付き光学ユニット
CN104180797A (zh) * 2013-05-24 2014-12-03 精工爱普生株式会社 传感器单元及其制造方法、以及电子设备和运动体
JP2018527762A (ja) * 2015-09-01 2018-09-20 マコム テクノロジー ソリューションズ ホールディングス, インコーポレイテッドMacom Technology Solutions Holdings, Inc. エアキャビティパッケージ
JP2021158224A (ja) * 2020-03-27 2021-10-07 ラピスセミコンダクタ株式会社 シールドケース

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63254799A (ja) * 1987-04-10 1988-10-21 イビデン株式会社 表面実装部品用シ−ルドパツケ−ジ
JPH0969584A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Sanyo Electric Co Ltd 集積回路のパッケージ
JPH09213826A (ja) * 1996-02-01 1997-08-15 Nec Corp パッケージ
JP2001196488A (ja) * 1999-10-26 2001-07-19 Nec Corp 電子部品装置及びその製造方法
JP2004260011A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Kyocera Corp 電子部品
JP2004266013A (ja) * 2003-02-28 2004-09-24 Alps Electric Co Ltd 電子部品搭載用ケースおよびその形成方法
JP2004335854A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Mitsui Chemicals Inc 樹脂製中空パッケージ及びそれを用いた半導体装置
JP2006269840A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置およびそのための樹脂パッケージ
JP2006278607A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Yoshikawa Kogyo Co Ltd 面実装タイプ樹脂製中空パッケージ及びこれを用いた半導体装置
JP2006319014A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Sharp Corp 高周波信号受信用電子部品

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63254799A (ja) * 1987-04-10 1988-10-21 イビデン株式会社 表面実装部品用シ−ルドパツケ−ジ
JPH0969584A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Sanyo Electric Co Ltd 集積回路のパッケージ
JPH09213826A (ja) * 1996-02-01 1997-08-15 Nec Corp パッケージ
JP2001196488A (ja) * 1999-10-26 2001-07-19 Nec Corp 電子部品装置及びその製造方法
JP2004260011A (ja) * 2003-02-26 2004-09-16 Kyocera Corp 電子部品
JP2004266013A (ja) * 2003-02-28 2004-09-24 Alps Electric Co Ltd 電子部品搭載用ケースおよびその形成方法
JP2004335854A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Mitsui Chemicals Inc 樹脂製中空パッケージ及びそれを用いた半導体装置
JP2006269840A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置およびそのための樹脂パッケージ
JP2006278607A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Yoshikawa Kogyo Co Ltd 面実装タイプ樹脂製中空パッケージ及びこれを用いた半導体装置
JP2006319014A (ja) * 2005-05-11 2006-11-24 Sharp Corp 高周波信号受信用電子部品

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010027925A (ja) * 2008-07-22 2010-02-04 Alps Electric Co Ltd 物理量センサ及びその製造方法、ならびに、物理量センサ実装構造
JP5535078B2 (ja) * 2008-10-14 2014-07-02 日本電産サンキョー株式会社 振れ補正機能付き光学ユニット
JP2014039067A (ja) * 2009-06-05 2014-02-27 Dainippon Printing Co Ltd 半導体装置
CN104180797A (zh) * 2013-05-24 2014-12-03 精工爱普生株式会社 传感器单元及其制造方法、以及电子设备和运动体
JP2014228489A (ja) * 2013-05-24 2014-12-08 セイコーエプソン株式会社 センサーユニットおよびその製造方法並びに電子機器および運動体
JP2018527762A (ja) * 2015-09-01 2018-09-20 マコム テクノロジー ソリューションズ ホールディングス, インコーポレイテッドMacom Technology Solutions Holdings, Inc. エアキャビティパッケージ
JP7049611B2 (ja) 2015-09-01 2022-04-07 マコム テクノロジー ソリューションズ ホールディングス, インコーポレイテッド エアキャビティパッケージ
JP2021158224A (ja) * 2020-03-27 2021-10-07 ラピスセミコンダクタ株式会社 シールドケース
JP7523928B2 (ja) 2020-03-27 2024-07-29 ラピスセミコンダクタ株式会社 シールドケース

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7560811B2 (en) Semiconductor device
US5801474A (en) Surface acoustic wave (SAW) device
JP4380748B2 (ja) 半導体装置、及び、マイクロフォンパッケージ
JP2003337073A (ja) センサ装置
JP2001196488A (ja) 電子部品装置及びその製造方法
CN101129087A (zh) 电容麦克风及其封装方法
JP4779614B2 (ja) 半導体装置
JP2005064292A (ja) 固体撮像装置の製造方法
JPH07503102A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2007201376A (ja) 半導体装置
JP2009005077A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US20190229044A1 (en) Lead frame with plated lead tips
JP3673047B2 (ja) 固体イメージセンサ装置
JP2007258670A (ja) 半導体装置
CN217591030U (zh) 骨传导麦克风
JP2002084159A (ja) 表面実装型圧電振動子
JP4859016B2 (ja) 半導体パッケージ
KR950024419A (ko) 전자부품과 그제조방법
JP4011076B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP4609477B2 (ja) 半導体装置
JP4543605B2 (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
US8217551B2 (en) Surface acoustic wave package with air hole that prevents thermal expansion
JP2007199049A (ja) 半導体装置
JP4049176B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP3445696B2 (ja) 電子部品

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081120

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090529

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110419

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111018