JP2009010018A - 縦型基板処理装置 - Google Patents

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伊藤  剛
Kazuyuki Toyoda
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Abstract

【課題】プラズマを生成するための電極間のギャップを安定した放電間隔としながら処理室に配置するウエハの枚数の減少を防止できるようにする。
【解決手段】基板を処理する反応室1と、前記反応室1内に多段に配置されたリング状の支持板218と、前記支持板218にそれぞれ支持された複数の電極板220と、プラズマを生成するための電力を隣接する電極板220に印加して各電極板220及び各基板200に支持された基板間にプラズマを発生させるプラズマ発生装置とを備えた縦型基板処理装置であって、前記各電極板220がそれぞれ前記基板200と同材質の材料で構成されると共に、前記支持板が石英で構成され、前記各電極板220が前記各支持板218にそれぞれ固定される。
【選択図】 図3

Description

本発明は被処理基板をボートにチャージし、ボートを炉内に挿入して一括処理する縦型基板処理装置に関し、特に、被処理基板の表面にエッチング、成膜、表面改質などの処理にプラズマを利用できるようにした縦型基板処理装置に関する。
基板処理装置において、プラズマは、ガスのイオン化やラジカル反応を促進し、低温でのウエハの処理を可能とし、温度によるダメージを低減するために利用されている。
図8及び図9は従来のバッチ式の縦型基板処理装置における印加側電極とアース側電極との配置を示している。
図8に示す縦型基板処理装置aにおいては、プラズマを生成するための印加側の電極bとアース側の電極cとが反応室dの外側に円周方向に沿って交互に設けられている。これらの印加側の電極bとアース側の電極cの一端部は、コモン電極となる帯状の電極eにそれぞれ接続されており、他端は、整合器を介して高周波電源(いずれも図示せず)に接続されている(特許文献1)。ウエハ(図示せず)はボート(図示せず)にチャージされ、ボートの挿入により、反応室d内に多段に配置される。
また、図9に示す縦型基板処理装置fにおいては、電極gと電極hとが、反応室d内に多段且つ交互に設けられ、奇数段の電極gと偶数段の電極hとがそれぞれ整合器iを介して高周波電源jに接続される(特許文献2)。ウエハkは、奇数段の電極gと偶数段の電極hとの間に、それぞれ所定のギャップを隔てて配置される。
これらの縦型基板処理装置a,fにおいて、印加側の電極b,gからアース側の電極c,hに高周波電力を流してプラズマを生成しながら反応室dに処理ガスを供給すると、プラズマにより処理ガスがイオン、電子、ラジカルに変化し、ウエハkの被処理面と反応する。
このため、反応室dの温度、圧力を所定温度、所定圧力に保持し、処理ガスとして成膜ガスを供給すると、ウエハの被処理面に成膜が形成される。
また、酸化ガスを供給すると、ウエハの被処理面に酸化膜が形成される。
特開2006−332498号公報(特許文献1) 特開2006−49367号公報(特許文献2)
前記したように、プラズマは、低温でのウエハの処理を可能とするので、ダメージの少ない処理がなされる。
しかし、印加側の電極及びアース側の電極を反応室の外側に配置すると、これら電極からのウエハまでの距離が遠くなってプラズマが印加側の電極及びアース側の電極に近いウエハ外周部に集中してしまい、ウエハ中心部側にはプラズマが生成されにくくなってしまうので、処理の均一性が低下する。
また、安定したプラズマ放電のため印加側の電極及びアース側の電極とウエハとの間にある程度広いギャップを確保する必要があるが、ギャップの占める割合の増加によって反応室に収容するウエハの枚数が減少し、スループットが低下する。
さらに、各電極を保護するため、印加側の電極、アース側の電極を石英製のカバーで覆うと、石英からの酸素の放出による悪影響が懸念され、電極周りの見直しも必要となる。
本発明は前記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、プラズマを生成するための電極間のギャップを安定した放電間隔としながら処理室に配置するウエハの枚数の減少を抑制できるようにすることにある。
本発明は、前記目的を達成するため、基板を処理する反応室と、前記反応室内に多段に配置されたリング状の支持板と、前記支持板にそれぞれ支持された複数の電極板と、プラズマを生成するための電力を隣接する電極板に印加して各電極板及び各基板に支持された基板間にプラズマを発生させるプラズマ発生装置とを備えた縦型基板処理装置であって、前記各電極板がそれぞれ前記基板と同材質の材料で構成されると共に、前記支持板が石英で構成され、前記各電極板が前記各支持板にそれぞれ固定された縦型基板処理装置を提供する。
本発明によれば、処理室内に支持板が多段に支持されており、電極板を介してウエハが各支持板に支持されている。また、電極板は、ウエハと同じ材質の材料で構成されている。このためプラズマ生成装置によって隣接する電極板間及びウエハ間にプラズマを発生させることができ、ウエハ間のプラズマ密度を面内均一にすることができる。また、電極板をウエハと同じ材質の材料で形成すると、電極板の材質に起因する汚染が防止される。さらに、本発明では、プラズマ放電のための安定したギャップを確保しながらより多くのウエハを処理室に配置するため電極板を介して支持板にウエハを支持し、ウエハと電極板、電極板と支持板間のギャップをなくしているため、1バッチ当たりのウエハのスループットが向上する。
まず、図1及び図2を参照して基板処理装置の構成について説明し、次に、図3乃至図6を参照してボートの構成と支持板及び電極板の組み込みについて説明する。
本発明を実施するための最良の形態において、基板処理装置は、一例として、半導体装置(IC)の製造方法における処理工程を実施する半導体製造装置として構成されており、以下の説明では、基板処理装置として基板に酸化、拡散処理やCVD処理などを行なう縦型の装置(以下、単に処理装置という)を適用した場合について述べる。なお、図1は、斜透視図として示されており、図2は図1に示す処理装置を側面から見た透視図として示されている。
図1及び図2に示すように、本実施の形態に係る基板処理装置100は、シリコン等からなるウエハ(被処理基板)200を収納したウエハキャリアとしてフープ(基板収容器。以下、ポッドという。)110が用いられる。
基板処理装置100の筐体111の正面壁111aの正面前方部にはメンテナンス可能な開口部として正面メンテナンス口103が開設され、この正面メンテナンス口103を開閉する正面メンテナンス扉104、104がそれぞれ建て付けられている。
筐体111の正面壁111aにはポッド搬入搬出口(基板収容器搬入搬出口)112が筐体111の内外を連通するように開設されており、ポッド搬入搬出口112はフロントシャッタ(基板収容器搬入搬出口開閉機構)113によって開閉されるようになっている。
ポッド搬入搬出口112の正面前方側にはロードポート(基板収容器受渡し台)114が設置されており、ロードポート114はポッド110を載置して位置合わせするように
構成されている。ポッド110はロードポート114上に工程内搬送装置(図示せず)によって搬入され、かつまた、ロードポート114上から搬出されるようになっている。
筐体111内の前後方向の略中央部における上部には、回転式ポッド棚(基板収容器載置棚)105が設置されており、回転式ポッド棚105は複数個のポッド110を保管するように構成されている。すなわち、回転式ポッド棚105は垂直に立設されて水平面内で間欠回転される支柱116と、支柱116に上中下段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板(基板収容器載置台)117とを備えており、複数枚の棚板117はポッド110を複数個宛それぞれ載置した状態で保持するように構成されている。
筐体111内において、ロードポート114と回転式ポッド棚105との間には、ポッド搬送装置(基板収容器搬送装置)118が設置されている。
ポッド搬送装置118は、ポッド110を保持したまま昇降可能なポッドエレベータ(基板収容器昇降機構)118aと搬送機構としてのポッド搬送機構(基板収容器搬送機構)118bとで構成されており、ポッド搬送装置118はポッドエレベータ118aとポッド搬送機構118bとの連続動作により、ロードポート114、回転式ポッド棚105、ポッドオープナ(基板収容器蓋体開閉機構)121との間でポッド110を搬送するように構成される。
筐体111内の前後方向の略中央部における下部には、サブ筐体119が後端にわたって構築されている。サブ筐体119の正面壁119aにはウエハ200をサブ筐体119内に対して搬入搬出するためのウエハ搬入搬出口(基板搬入搬出口)120が一対、垂直方向に上下二段に並べられて開設されており、上下段のウエハ搬入搬出口120、120には一対のポッドオープナ121、121がそれぞれ設置されている。
ポッドオープナ121はポッド110を載置する載置台122、122と、ポッド110のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構(蓋体着脱機構)123、123とを備えている。
ポッドオープナ121は載置台122に載置されたポッド110のキャップをキャップ着脱機構123によって着脱することにより、ポッド110のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。
サブ筐体119はポッド搬送装置118や回転式ポッド棚105の設置空間から流体的に隔絶された移載室124を構成している。
移載室124の前側領域にはウエハ移載機構(基板移載機構)125が設置されており、ウエハ移載機構125は、ウエハ200を水平方向に回転乃至直動可能なウエハ移載装置(基板移載装置)125a及びウエハ移載装置125aを昇降させるためのウエハ移載装置エレベータ(基板移載装置昇降機構)125bとで構成されている。
図1に模式的に示されているようにウエハ移載装置エレベータ125bは、耐圧性の筐体111の右側端部とサブ筐体119の移載室124の前方領域右端部との間に設置されている。これらのウエハ移載装置エレベータ125b及びウエハ移載装置125aの連続動作により、ウエハ移載装置125aのツイーザ(基板保持体)125cをウエハ200の載置部として、ツイーザ(基板保持体)125cによりボート(基板保持具)217へのウエハ200の装填(チャージ)及び脱装(ディスチャージ)が実施される。
移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させる待機部126が構成されている。
待機部126の上方には反応炉202が設けられ、反応炉202の下部は、炉口シャッタ(炉口開閉機構)147により開閉されるように構成される。反応炉202には反応室(処理室ともいう)1が設けられる。
反応室壁2は、石英(石英ガラス等)、セラミックなど電気的に絶縁可能な誘電材料で
構成されている。
反応室1は誘電体からなる反応室壁2と前記シールキャップ129とで気密に区画されており、ヒータ13が反応室壁2を取り囲むように設けられている。
なお、前記反応室1には排気管(図示せず)が連通しており、排気管の下流に減圧排気装置としての真空ポンプ(図示せず)が接続される。また、反応室1には、処理ガス(成膜原料ガス、酸化ガス、エッチングガス等)を導入するためのガス導入管が接続されている。
図1に模式的に示すように、前記筐体111の右側端部とサブ筐体119の待機部126の右端部との間にはボート217を昇降させるためのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)115が設置される。
ボートエレベータ115の昇降台に連結された連結具としてのエレベータアーム128には前記シールキャップ129が水平に据え付けられる。
シールキャップ129はボート217を垂直に支持し、反応炉202の下部を開閉する蓋体として構成されている。
前記ボート217には後述するように複数本の保持部材217c,217dが設けられる。
シールキャップ129は、前記ボートエレベータ115のエレベータアーム128に支持されている。
ボートエレベータ115により、エレベータアーム128が上昇し、シールキャップ129が反応炉202の反応室1を閉鎖すると、ボート217が反応室1に挿入、すなわち、搬入される。
ボートエレベータ115によりエレベータアーム128が下降すると、反応室1からボート217が反応室1から搬出される。
図1に模式的に示すように、移載室124のウエハ移載装置エレベータ125b側及びボートエレベータ115側と反対側である左側端部には、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエア133を供給するよう、供給フアン及び防塵フィルタで構成されたクリーンユニット134が設置されており、ウエハ移載装置125aとクリーンユニット134との間には、図示はしないが、ウエハ200(被処理基板)の円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてノッチ合わせ装置が設置される。
クリーンユニット134から吹き出されたクリーンエア133は、ノッチ合わせ装置及びウエハ移載装置125a、待機部126にあるボート217に流通された後に、図示しないダクトにより吸い込まれて、筐体111の外部に排気がなされるかもしくはクリーンユニット134の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット134によって移載室124内に吹き出される。
次に、本実施形態に係る処理装置の動作について説明する。
図1及び図2に示すように、ポッド110がロードポート114に供給されると、ポッド搬入搬出口112がフロントシャッタ113によって開放され、ロードポート114の上のポッド110はポッド搬送装置118によって筐体111の内部へポッド搬入搬出口112から搬入される。
搬入されたポッド110は回転式ポッド棚105の指定された棚板117へポッド搬送装置118によって自動的に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載されるか、もしくは直接、ポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載される。この際、ポッドオープナ121のウエハ搬入搬出口120はキャップ着脱機構123によって閉じられており、移載室124にはクリーンエア133が流通され、充満されている。例えば、移載室124にはクリーンエア133として窒素ガスが充満することにより、酸素濃度が20pp
m以下と、筐体111の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも遥かに低く設定されている。
載置台122に載置されたポッド110はその開口側端面がサブ筐体119の正面壁119aにおけるウエハ搬入搬出口120の開口縁辺部に押し付けられるとともに、そのキャップがキャップ着脱機構123によって取り外され、ウエハ出し入れ口を開放される。
ポッド110がポッドオープナ121によって開放されると、ウエハ200はポッド110からウエハ移載装置125aのツイーザ125cによってウエハ出し入れ口を通じてピックアップされ、ノッチ合わせ装置にてウエハ200を整合した後、移載室124の後方にある待機部126へ搬入され、ボート217に装填(チャージング)される。ウエハ移載装置125aはボート217にウエハ200を受け渡した後は、ポッド110に戻って次のウエハ200をボート217に装填する。
一方(上段または下段)のポッドオープナ121におけるウエハ移載機構125によるウエハ200のボート217への装填作業中に、他方(下段または上段)のポッドオープナ121には回転式ポッド棚105から別のポッド110がポッド搬送装置118によって搬送されて移載され、ポッドオープナ121によるポッド110の開放作業が同時進行される。
予め指定された枚数のウエハ200がボート217に装填されると、炉口シャッタ147によって閉じられていた反応炉202の下部が、炉口シャッタ147によって、開放される。続いて、ウエハ200群を保持したボート217はシールキャップ129がボートエレベータ115によって上昇されることにより、反応炉202内へ搬入(ローディング)されていく。
ローディング後は、反応炉202にてウエハ200に任意の処理が実施される。
処理後は、ノッチ合わせ装置135でのウエハ200の整合工程を除き、概上述の逆の手順で、ウエハ200及びポッド110は筐体111の外部へ払い出される。
次に、図3及び図4を参照して前記ボート217の構成とボート217に組み込まれた電極ユニットの構成を説明する。参照する図面において、図3は電極ユニットを組み込んだボート217の断面図、図4は図3のI−I線矢視図である。なお、図3では理解を容易にするため、ウエハとボートの底板を一点鎖線で示している。
図示されるように、ボート217は、円板状の天板217a及び底板217bと、これら天板217aと底板217bとを同心且つ並行に連結する複数のロッド状の保持部材217c,217dとを備えて構成される。
ボート217のツイーザ側を手前、その反対側を奥とすると、保持部材217cは、ボート217の手前側と奥側の略中間に設けられ、保持部材217dはそれよりもさらに奥側に設けられる。これらの保持部材217c,217dにはそれぞれ支持板218を支持させるためのスロット219a,219bが設けられる。
各スロット219a,219bは、それぞれ高さ方向に所定間隔を隔てて多段に設けられている。
保持部材217cのスロット219aは、支持板218を手前側から奥側に直線的に案内するためそれぞれ直線的に形成されており、保持部材217dのスロット219bは、ボート217の軸芯を中心とした同心円上に沿って形成されている。
保持部材217cのスロット219aはボート217の半径方向内側と支持板218の挿入方向に向かって開口しており、保持部材217dのスロット219bは、ボート217の半径方向内側及び円周方向に向かって開口している。
図4に示すように、複数の支持板218はC型リング状に形成されている。
各支持板218には、切欠218aの内幅と略同巾の凹部218bが切欠218a側と反対側の内周部に形成されている。
切欠218a及び凹部218bは、前記ウエハ移載装置125aのツイーザ125cによりウエハ200を移載する際に、ツイーザ125cの上下動を許容する逃げ部(逃がし)として用いられる。
また、支持板218の両側部には直線状の被ガイド面218cが形成され、前記保持部材217cのスロット219によって直線的に案内される。
支持板218が各保持部材217c,217dのスロット219a,219bに挿入されると、各支持板218の内周部により電極板220を支持させるため支持部が多段に形成される。
支持部は支持板218の切欠218a及び凹部218bを挟んで同一平面上に左右二箇所形成される。
片側一方にのみ電極板220を載置する場合は、図3及び図4に示すように、支持板218の載置側と反対側の支持板218の内周部に、予め、高さ調節用の突起225が設けられる。
各電極板220は、支持部、すなわち、支持板218の内周部に重合する半月状に形成されており、それぞれ通電及び位置決めのための端子部220aが設けられる。
端子部220aは、電極板220の外周部から半径方向外向きに突出している。
端子部220aにはコモン電極としてのロッド状のフィーダ222を挿入するため端子孔221が設けられる。
また、天板217aの外周部及び底板217bの外周部側には、それぞれ電極板220の端子孔221に前記フィーダ222を案内して挿入させるためのフィーダ挿入孔223が設けられる。
前記フィーダ222、前記電極板220及び前記ボート217は、それぞれ耐熱性が高く純度の高い導電材料、例えば、金属又はシリコンで形成され、前記支持板218は耐熱性及び純度の高い石英で形成される。
石英(石英ガラス)は、耐熱性が高く、基板処理の際の反応ガス(原料ガスなどの基板処理ガス)や反応後の反応副生成物と非反応な材料であり、また、反応副生成物が付着し難い材料である。このため、支持板218が石英で形成されると、反応副生成物の剥離、落下に起因した汚染を抑制することができる。
また、前記フィーダ222、前記電極板220及び前記ボート217がシリコンで形成されると、熱膨張係数が同じになり熱膨張率差に起因する応力が緩和されるので、熱応力による変形や損傷が防止される。
また、前記フィーダ222、前記電極板220及び前記ボート217がウエハ200と同じシリコンで形成されると、シリコンからなるウエハ200に対する汚染源が結果的に減少する。
次に、電極板220及びフィーダ222からなる電極ユニットの組み付けについて説明する。
ボート217に支持板218及び電極板220を組み付ける際は、保持部材217c,217dのスロット219a,219bにそれぞれ支持板218を挿入し、支持板218の内周部の一方に半円状の電極板220を載置する。
奇数段の支持板218と偶数段の支持板218には、電極板220が互い違いに載置する。
次に、各電極板220の端子部220aに、管状のコマ部材(カラー)224を載せ、底板217b側又は天板217a側のフィーダ挿入孔223から上方又は下方に挿入するフィーダ222をコマ部材224の孔と各支持板218の端子孔221とに通す。
なお、コマ部材224は、通電のため、導電性材料で構成されるが、好ましくは、シリコンで構成するとよい。
次に、フィーダ222の両端部のねじ部にそれぞれナット226を螺入し、締結する。
この場合、フィーダ222の一方に予めナット状の頭部を一体に設けておくと、工程数を減少させることができる。
このように、印加側の電極ユニットと、アース側の電極ユニットとを組み付けると、ボート217に支持板218が固定され、支持板218に各電極板220が固定される。
組み付け後は、上下のウエハ200,200間のギャップがコマ部材224の長さに調節される。コマ部材224の長さは、隣接する電極板220間及びウエハ200間において、プラズマを安定的に発生させる放電ギャップに対応した長さに決められる。
なお、各コマ部材224を、石英、セラミック等の誘電材料からなるカバーで覆って電極板220との放電を防止するようにしてもよいし、さらに、端子部220a,220bを石英、セラミック等の誘電材料からなるカバーで覆うことによって放電を防止するようにしてもよい。
次に、プラズマ生成装置を電気的に接続する。
プラズマ発生装置(プラズマ発生回路)は、絶縁トランス228、整合器229及び発信器230を備えて構成される。
この実施の形態では、奇数段の支持板218,218同士を連結するフィーダ222と、偶数段の支持板218,218同士を電気的に接続するフィーダ222とを、フィーダ線によって絶縁トランス228に接続し、整合器229を介して絶縁トランス228を発信器230に接続する。
この後は、ウエハ移載装置125aのツイーザ125cによって電極板220と支持板218の突起225とにウエハ200を載置する。
ウエハ200は略全周において電極板220の内周部に支持されるのでウエハ200のたわみが防止される。
このように、本実施の形態では、支持板218、電極板220及びフィーダ222が電気的に導通可能な材料で構成され、支持板218に電極板220が直に接触されるので、電極板220だけでなくウエハ200の全面がプラズマ放電の際に電極として利用される。
また、ウエハ200とその上方の電極板220との間のギャップは、直置きによって特許文献2のギャップよりも短くなるので、ボート217へのウエハ200のチャージ枚数が増加し、スループットが向上する。
次に、図5乃至図7を参照して前記支持板218の内周部に左右一対の電極板220を載置し、ウエハ200をプラズマ処理する場合の一例について説明する。
参照する図面において、図5は電極ユニットを組み込んだボートの断面図、図6は図5のA−A線矢視図、図7は図6のB−B線矢視図である。
この実施の形態では、端子部220aが異なる位置に設けられた奇数段の電極板220xと、偶数段の電極板220yが用いられる。
これらの電極板220x,220yは平面的に見てそれぞれ半円状に形成され、突起部225は除去されている。
奇数段の電極板220の端子部220aは、電極板220の外周部の略中央部に一箇所設けられ、偶数段の電極板220の端子部220aは、電極板220の外周部の片側端部寄りに一箇所設けられる。
そして、天板217a及び底板217bには、これらの端子部220aの孔にフィーダ222を挿通させるためのフィーダ挿入孔223が設けられる。
前記ボート217に前記支持板218と各電極板220x,220yを組み付ける際は、まず、支持板218が、前記ボート217の保持部材217c,217dの各スロット219a,219bに挿入され、次に、印加側の電極板220xとアース側の電極板220yが各支持板218に支持される。
印加側の電極板220xは、スロット219a,219bの奇数段に支持され、アース側の電極板220yは、スロット219a,219bの偶数段に支持される。
印加側の電極板220x及びアース側の電極板220yは、切欠218a及び凹部218bを挟んで支持板218の左右二箇所に載置される。
印加側の電極板220xとアース側の電極板220yを載置した後は、各支持板218の各端子部220aに管状のコマ部材224を載せる。
そして、コマ部材224を保持しながら天板217a又は底板217bのフィーダ挿入孔223から印加側のフィーダ222aとアース側のフィーダ222bが挿入され、それぞれコマ部材224の孔と各支持板218の端子孔221とに挿通される。
印加側の電極板220x及びアース側の電極板220yの端子孔221及びコマ部材224の孔にそれぞれ印加側のフィーダ222aとアース側のフィーダ222bとが挿通されると、次に、各フィーダ222a,222bの両端部に刻設されているねじ部にそれぞれナット226が螺入される。
この場合、印加側のフィーダ222a,アース側のフィーダ222bの一端部に予めナット状の頭部を一体に設けておくと、工程数を削減することができる。また、天板217aと底板217bとにナット226を収容する凹部を形成してもよい。
このように支持板218と電極板220x,220yとがボート217に組み込まれ、支持板218がボート217に固定され、電極板220x,220yが各支持板218に固定されると、ボート217と一体の部材として取り扱うことが可能になる。
また、図3及び図4で説明したボート217と比べて印加側の電極板220x及びアース側の電極板220yの放電面積が倍増する。
次に、前記基板処理装置を用いたエッチング、成膜、改質等の基板処理の一例について説明する。
まず、ウエハ200を電極板220(220x,220y)に支持し、ボート217のウエハ200のチャージを実施する。
ウエハ200のチャージを完了し、前記ボートエレベータ115の上昇によって前記シールキャップ129を上昇させると、シールキャップ129により反応室1が閉鎖され、ボート217が処理室1に装填される。
次に、真空ポンプにより反応室1内の雰囲気を排気する。
反応室1の圧力が基板処理に適した最適な圧力となった段階で、反応室1に連通するガス供給管(図示せず)から反応室1に基板処理ガスを供給する。
次に、発信器230から整合器229及び絶縁トランス228、フィーダ222(222a,222b)を介して奇数段の電極板220(220x)と偶数段の電極板220(220y)とに、位相が180゜異なる交流電力(例えば、13.56MHz)を供給する。
これにより、電極板220(220x)と偶数段の電極板220(220y)間、奇数
段のウエハ200の上面と偶数段のウエハ200の下面との間にプラズマが発生し、発生したプラズマにより処理ガスがプラズマ化される。
プラズマ化により、発生した処理ガスのイオンやラジカルは、各ウエハ200の被処理面を処理する。
基板処理ガスがエッジングガスのときはウエハ200の被処理面がエッジングされ、基板処理ガスが成膜ガスのときはウエハ200の被処理面に成膜が形成される。
処理ガスが改質ガスのときはウエハ200の被処理面が改質される。
いずれの場合でも処理ガスのプラズマ化によってガス中の反応成分の電子温度が高温になるのでダメージのない低い温度で処理される。
また、電極板220(220x,220y)がウエハ200よりも大径であり、ウエハ200それ自身が電極としてプラズマを発生させるので面内一様なプラズマ処理がなされる。
また、このように直置きとして高周波(13.56MHz)の交流電力を供給すると、バイアス効果により安定した放電が可能となるので、プラズマの面内密度の均一化が達成される。
この結果、ウエハ200直上の電極板(アノード側)220からウエハ200直下の電極板(カソード側)220に向かってガスのイオンが積極的に働き(吸引)、成膜の際は面内均一な成膜が行われる。なお、ウエハ200のチャージ数は、ウエハ200の厚みによっても異なるが100以上とされる。
一方、1バッチのウエハ200の処理数が多数の場合は、低周波(400kHz)の交流の電力が供給される。これは、ウエハ200の段数を多段として高周波数の電力を供給してもうまく各段に電力が投入されないことがあり、低周波を投入するとこのような問題が解消されるという試験の結果に基づく。つまり、高周波が交流、低周波を直流とすると、低周波数のほうが一定の電力を各段に供給しやすくなり、放電領域が広げられるイメージの現象が起きているものと考えられる。
なお、電極の保護のため、印加側の電極、アース側の電極を石英製のカバーで覆うと、石英からの酸素の放出による悪影響が懸念されるが、本発明の実施の形態で説明したように、石英製の支持板に電極板に支持する構成とすると、相互の接触面積が圧倒的に小さくなるので、放電スパッタによる石英からの脱酸素の影響も大幅に減少させることができる。
[実施形態の効果]
(1)支持板(支持リング)に電極板を支持し、ウエハを電極板に直置きすることよって、安定した放電ギャップが確保されるので、1バッチ当たりに処理できるウエハ(基板)の枚数を従来(特許文献1)よりも増加させることができ、スループットが向上する。また、バイアス効果によるプラズマ放電がなされるので、面内均一なプラズマ処理を行うことができる。
(2)ボート、電極板、フィーダを、シリコンで形成することによって、相互間の熱応力が緩和されるので、高温でのプラズマ処理が可能になる。
(3)また、ウエハの外周部側でのプラズマの集中を抑制でき、面内均一にプラズマを発生させることができるので、処理の均一性や信頼性が大幅に向上する。
(4)支持板及び電極板をボートと一体に取り扱うことができるので、取り扱いが容易なる。
(5)支持板(支持リング)に電極板を支持し、固定する構造とすると、電極板の形状を変えることもできるので、融通性が高い。
また、電極板の形状の単純化によりコストダウンを達成することができる。
以下、本発明に係る好ましい実施の態様を付記する。
<実施の態様1>
基板を処理する反応室と、前記反応室内に多段に配置されたリング状の支持板と、前記支持板にそれぞれ支持された複数の電極板と、プラズマを生成するための電力を隣接する電極板に印加して各電極板及び各ウエハに支持された基板間にプラズマを発生させるプラズマ発生装置とを備えた縦型基板処理装置であって、前記各電極板がそれぞれ前記基板と同材質の材料で構成されると共に、前記支持板が石英で構成され、前記各電極板が前記各支持板にそれぞれ固定された縦型基板処理装置。
<実施の態様2>
隣接する上下の電極板間及びウエハ間のギャップが、これら間に安定したプラズマを発生させるギャップに対応して決定された基板処理装置。
<実施の態様3>
前記支持板が前記反応室に収容されるボートに多段に支持され、ボートの反応室への挿入されることにより前記反応室内に多段に支持される基板処理装置。
本実施形態に係る基板処理装置の斜透視図である。 本実施の形態に係る基板処理装置を側面から見た透視図である。 本実施形態に係る基板処理装置の電極ユニットを組み込んだボートの断面図である。 図3のI−I線矢視図である。 本実施の形態に係る電極ユニットを組み込んだボートの断面図である。 図5のA−A線矢視図である。 図6のB−B線矢視図である。 従来の縦型基板処理装置を示す解説図である。 従来の縦型基板処理装置を示す解説図である。
符号の説明
1 反応室
200 ウエハ
217 ボート
217a 天板
217b 底板
217c 保持部材
217d 保持部材
218 支持板
218a 切欠
218b 凹部
218c 被ガイド面
219 スロット
219a スロット
219b スロット
220 電極板
220a 端子部
220x 電極板
220y 電極板
221 端子孔
222 フィーダ
222a フィーダ
222b フィーダ
223 フィーダ挿入孔
224 コマ部材
225 突起
228 絶縁トランス
229 整合器
230 発信器

Claims (1)

  1. 基板を処理する反応室と、
    前記反応室内に多段に配置されたリング状の支持板と、
    前記支持板にそれぞれ支持された複数の電極板と、
    プラズマを生成するための電力を隣接する電極板に印加して各電極板及び各基板に支持された基板間にプラズマを発生させるプラズマ発生装置とを備えた縦型基板処理装置であって、
    前記各電極板がそれぞれ前記基板と同材質の材料で構成されると共に、前記支持板が石英で構成され、
    前記各電極板が前記各支持板にそれぞれ固定された
    縦型基板処理装置。
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