JP2009120809A - シンチレータ用単結晶 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一般式Gd2−(x+y)LuxPrySiO5表されるプラセオジウム付活オルト珪酸塩化合物の単結晶を含有するシンチレータ用単結晶(xは1以上2未満の数を示し、yは0を超え0.1以下の数を示し、x及びyは2−(x+y)>0で表される条件を満たす。)
【選択図】なし
Description
O) の2倍よりも高い程度であることが示されている。
Gd2−(x+y)LuxPrySiO5 (1)
(一般式(1)中、xは1以上2未満の数を示し、yは0を超え0.1以下の数を示し、x及びyは2−(x+y)>0で表される条件を満たす。)
Gd2−(x+y)LuxPrySiO5 (1)
(一般式(1)中、xは1以上2未満の数を示し、yは0を超え0.1以下の数を示し、x及びyは2−(x+y)>0で表される条件を満たす。)
単結晶はチョクラルスキー法に基づいて作製した。まず、Gd2−(x+y)LuxPrySiO5(x=1.8、y=0.003)の出発原料として、酸化ガドリニウム(Gd2O3、純度99.99質量%)、酸化ルテチウム(Lu2O3、純度99.99質量%)、二酸化珪素(SiO2、純度99.9999質量%)、酸化プラセオジウム(Pr6O11、純度99.99質量%)を準備し、これらの原料を所定の量論組成になるように混合した。
Cs/Co=k(1−g)k−1 (2)
(Co:融液中の初期濃度、Cs:結晶中の初期濃度、k:偏析係数、g:固化率)
と上記の式(2)で表される。
実施例1における一般式(1)中のyが0.02であること、育成炉内に4L/minのN2ガス及び0mL/minのO2ガスとし、このときの育成炉内の酸素濃度は、0.02%未満である以外は実施例1と同様にして、単結晶を作製した。
一般式Lu2−yPrySiO5(ただし、yは0を超え0.1以下の数を示す)において、yが0.02であること、育成炉内に4L/minのN2ガス及び0mL/minのO2ガスとし、このときの育成炉内の酸素濃度は、0.02%未満である以外は実施例1と同様にして、単結晶を作製した。
一般式Lu2−yPrySiO5(ただし、yは0を超え0.1以下の数を示す)において、yが0.003であること、育成炉内に4L/minのN2ガス及び0mL/minのO2ガスとし、このときの育成炉内の酸素濃度は、0.02%未満である以外は実施例1と同様にして、単結晶を作製した。
一般式(1)のyが0.003であること、出発原料として、酸化ガドリニウム(Gd2O3、純度99.99質量%)の代わりに酸化イットリウム(Y2O3、純度99.99質量%)であること、育成炉内に4L/minのN2ガス及び0mL/minのO2ガスとし、このときの育成炉内の酸素濃度は、0.02%未満である以外は実施例1と同様にして、単結晶を作製した。
Claims (2)
- 下記一般式(1)で表されるプラセオジウム付活オルト珪酸塩化合物の単結晶を含有することを特徴とするシンチレータ用単結晶。
Gd2−(x+y)LuxPrySiO5 (1)
(一般式(1)中、xは1以上2未満の数を示し、yは0を超え0.1以下の数を示し、x及びyは2−(x+y)>0で表される条件を満たす。) - 10〜40℃の温度下で測定される励起蛍光スペクトルにおいて、蛍光出力の最大値を与える励起波長に対する蛍光波長が300nm以上であることを特徴とする、請求項1に記載のシンチレータ用単結晶。
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