JP2010029366A - X線撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】グリッド4にマーカーMが配設されている。マーカーMはX線透過率が低い部材で構成され、マーカーMを透過し二次元X線検出器6に入射したX線からも画像を得る。マーカーMによりグリッド4の影の位置変化を補正する。従って、グリッド4の影の位置変化を正確に補正でき、X線の照射領域は全て画像として構成できる。
【選択図】 図1
Description
すなわち、X線を照射するX線源と、当該X線を検出する二次元X線検出器と、前記X線源と前記二次元X線検出器との間に配置され、複数のX線吸収部材を有する散乱線除去用グリッドと、前記X線源と前記二次元X線検出器との間に配置された複数のマーカーと、該二次元X線検出器から画像を収集する画像収集手段と、当該収集された画像からマーカーの投影位置を抽出するマーカー投影位置検出手段と、あらかじめ被検体を介さずに収集された第1画像から抽出された第1マーカー投影位置及び、被検体を介して収集された第2画像から抽出された第2マーカー投影位置に基づいて、前記第2画像を補正することにより、前記X線吸収部材の投影像が除去された画像を得るグリッド影除去手段とを有することを特徴とする。
(ステップS1)
図1の構成から被検者Pを除外した状態で、SIDをΔSIDずつ変化させながら撮像し、画像Gpを得る。以降、i回目に撮像した画像Gpを画像Gpiとし、その際の、SID検出手段で検出したSIDをSIDiとする。
マーカー投影位置検出手段12によって、各画像GpiにおけるマーカーMnの投影位置Pni=(xpni,ypni)を算出する。当画像Gpi、SIDi及びPniをセットにして、記憶装置8へ保存する。ΔSIDは、50mmとする。
次に、図1に示すとおり被検者Pを撮像して画像Goを得る。画像Goは、本発明における第2画像に相当する。また、この時のSIDをSIDoとする。
当該画像Goから、マーカーMの投影像を走査してエッジを抽出し、その中心位置平均を算出して、投影位置Poni=(xPoni,yPoni)を算出する。このとき、4個のマーカーMのうち、画像が明確な3個を選択して、投影位置Poniを算出することとしてもよい。ただし、当該選択処理は必須ではなく、全てのマーカーMの投影像の位置を用いても良い。また、2個のマーカーMを用いることとしても良い。複数の投影位置Poniを算出する限りにおいて、その個数を種々変更可能である。
現在のSIDoにおける、標準のマーカーMnの位置Prn=(xPrn,yPrn)を算出する。当該位置Prnは、ステップS1で記憶装置8に記憶されているSIDiのうち、SIDoに最も近いものに対応するPniを用いる。更に、次の数1にて補間処理を施すこととすれば、より好ましい。
図3、4は、ステップS3で算出した投影位置Pon(Po1、Po2、Po3、Po4)と、ステップS4で算出した位置Prn(Pr1、Pr2、Pr3、Pr4)とを重ね合わせ軸x、yの二次元座標で表示した図である。参考のために、それぞれに対応する照射野を照射野Vo、Vrとして重ね合わせている。ここで、記憶装置8に記憶されている画像Gpiと画像Go上における各マーカーMnの投影位置を一致させるために、画像Gpiを変形させる量を算出する。本実施例では、当該変形させる量を伸縮率S=(Sx,Sy)及び平行移動量T=(Tx,Ty)として算出する。
すなわち、次の数2の条件を満たすT,Sを算出する。
ステップS5で算出した伸縮率S及び平行移動量Tに基づいて、記憶装置8に記憶された画像Gpiのうち、SIDoに最も近いものを変形させて、補正用の画像Gr(x、y)を作成する。変形の対象とする画像Gpiとして、SIDoに最も近いものを選択することとしたが、より精度を向上させるため、SIDoに対応させて、画像Gpi−1と画像Gpiの中間画像を求めて用いてもよい。当該中間画像は、既知のモーフィング技術により求めることができる。
ステップS2で得られた画像Goの各画素値を、ステップS6で得られた画像Grの各画素値で除算する補正処理を行う。当該補正処理により、グリッド4及びマーカーMの投影像部分の画素濃度が割り戻されて、マーカーMの影の部分の画像も復元される。
なお、本実施例では演算を除算としたが、引き算であってもよい。また、単なる割り算ではなく、非線形の演算であってもよく、テーブルによる対応付けをしてもよい。その他、伸縮された画像Grを画像Goに適用する限りにおいて、その演算方法を種々変更可能である。
マーカーMの投影部分についても、ステップS7の演算により本来の画像が復元されるはずであるが、マーカーMの投影形状が、X線源3の位置ずれなどにより若干変形することが想定される。その場合には、マーカーMの周辺部にアーチファクトが生ずる恐れがある。そこで、マーカーMの影のエッジの部分を周辺画素により補正する。当該補正処理は、本発明におけるマーカー投影画像補正手段に相当する。
なお、本処理は、本発明における必須の構成ではない。
例えば、標準のマーカーM1のy座標位置yPr1と、同マーカーM3の位置yPr3との差分をDyPr3とし、同様に、実際の撮影におけるマーカーM1のy座標位置yPo1と、同マーカーM3の位置yPo3との差分をDyPo3とした時、マーカーM1のx座標付近における軸y方向の伸縮率Syを、DyPr3/DyPo3とすることにしてもよい。この場合は、同様の処理を、軸x、y方向それぞれについて、複数の組み合わせについて行うことにより、伸縮率Sを算定することが可能である。
更には、伸縮率S、平行移動量Tを求める点にも限定されない。マーカーMnの投影位置Poni、Pni並びに画像Gp基づいて、画像Goの補正を行う限りにおいて、その補正方法を種々変更可能である。
2 高電圧発生器
3 X線源
4 グリッド
6 二次元X線検出器
7 画像処理器
8 記憶装置
9 表示器
10 移動部
11 移動制御器
12 マーカー投影位置検出手段
41 X線吸収部材
M マーカー
M1 マーカー
M2 マーカー
M3 マーカー
M4 マーカー
P 被検者
Po1 投影位置
Po2 投影位置
Po3 投影位置
Po4 投影位置
Pr1 位置
Pr2 位置
Pr3 位置
Pr4 位置
Vo 照射野
Vr 照射野
x 軸
y 軸
Claims (3)
- X線を照射するX線源と、当該X線を検出する二次元X線検出器と、前記X線源と前記二次元X線検出器との間に配置され、複数のX線吸収部材を有する散乱線除去用グリッドと、前記X線源と前記二次元X線検出器との間に配置された複数のマーカーと、該二次元X線検出器から画像を収集する画像収集手段と、当該収集された画像からマーカーの投影位置を抽出するマーカー投影位置検出手段と、あらかじめ被検体を介さずに収集された第1画像から抽出された第1マーカー投影位置及び、被検体を介して収集された第2画像から抽出された第2マーカー投影位置に基づいて、前記第2画像を補正することにより、前記X線吸収部材の投影像が除去された画像を得るグリッド影除去手段とを有することを特徴とするX線撮像装置。
- 前記X線源と、前記二次元X線検出器との距離たるSIDを検出するSID検出手段を有し、前記グリッド影除去手段は、あらかじめ互いに異なる複数のSIDにおける前記第1画像を記憶する第1画像記憶装置と、当該記憶された第1画像のうちから、前記第2画像を収集した際のSIDに最も近いSIDで収集された画像を選択して用いることを特徴とする請求項1記載のX線撮像装置。
- 前記X線吸収部材の投影像が除去された画像におけるマーカーの投影像を補正するマーカー投影画像補正手段を更に有することを特徴とする、請求項1乃至2いずれかに記載のX線撮像装置。
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|---|---|---|---|
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