JP2010142856A - バルジング検知装置の校正方法およびダミーバー - Google Patents

Abstract

【課題】鋳片の生産効率を維持したままバルジング検知装置の校正を行なうことができるバルジング検知装置の校正方法およびこれに用いるダミーバーを提供する。
【解決手段】連続鋳造において引き抜かれる鋳片Ｓの短辺に発生するバルジングを検知するためのバルジング検知装置１０の校正方法であって、前記鋳片を引き抜くためのダミーバー１の該鋳片の短辺側の面に形成した凹凸パターンを、ミリ波信号を用いて、距離計ヘッド１１，１２，２１，２２と各距離計ヘッドが面する鋳片の短辺との距離を測定し、該測定結果をもとに前記バルジング検知装置の校正を行なう。
【選択図】図４

Description

本発明は、連続鋳造において引き抜かれている鋳片におけるバルジングの発生およびその量を検知するためのバルジング検知装置の校正方法およびこれに用いるダミーバーに関するものである。

連続鋳造中に鋳片の凝固層が破れて未凝固の溶鋼が漏れ出すブレークアウトは、発生すると大きな損害となる。特にこのブレークアウトが、鋳型から出た後の工程で発生すると、ロール等の周辺機器に重大な損害をもたらす。

この様な鋳型外で発生するブレークアウトは、鋳片の凝固層の厚みの不足から発生するが、ブレークアウト直前には、バルジング量が大きくなることが知られている。バルジングとは、鋳片内部の未凝固溶鋼の圧力により、外部からの支えのないロール間の位置において、凝固層が外側に膨らむ現象である。この現象は、溶鋼流動により凝固層に熱供給が行われて凝固層が再溶解し、これによって凝固層が薄くなるために起こると考えられている。そして、凝固層が薄くなる確率は、鋳片の長辺側よりも短辺側において高く、それゆえバルジングも鋳片の短辺側において特に顕著に発生する。そこで、従来より、鋳片短辺のバルジングの発生およびその量を検知して、ブレークアウトを未然に防ぐ技術が開示されている。

従来のバルジング検知技術としては、光学式、超音波式、接触式等がある。たとえば光学式としては、特許文献１のようにバルジング部分を挟むように投光器、受光器を設けてその投影からバルジング量を計測する方法や、特許文献２のようにレーザ距離計を使用して計測する方法がある。また、超音波式としては、特許文献３のように水柱方式の超音波距離計を使用して計測する方法がある。また、接触式としては、特許文献４のように接触子によって計測する方法がある。

特開昭５８−１７６５１０号公報 特開２００７−３１９９２９号公報 特開昭６０−６２６０号公報 特開２００６−１３０５４９号公報

ところで、バルジングが発生する位置は鋳型直下の冷却帯付近であるため、一般的に水蒸気や水流、スケールや粉塵が多く、また１０００℃以上の高温であるという厳しい環境である。したがって、バルジングの検知精度を維持するために、適時にバルジング検知装置の校正を行いたいという要求がある。

しかしながら、バルジング検知装置の校正のために連続鋳造機の操業を停止すると、鋳片の生産効率が低下するので好ましくない。そこで、連続鋳造機の操業を停止せずに、鋳片の生産効率を維持したままバルジング検知装置の校正を行なう方法が求められていた。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、鋳片の生産効率を維持したままバルジング検知装置の校正を行なうことができるバルジング検知装置の校正方法およびこれに用いるダミーバーを提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係るバルジング検知装置の校正方法は、連続鋳造において引き抜かれる鋳片の短辺に発生するバルジングを検知するためのバルジング検知装置の校正方法であって、前記鋳片を引き抜くためのダミーバーの該鋳片の短辺側の面に形成した凹凸パターンを、前記バルジング検知装置を用いて測定し、該測定結果をもとに前記バルジング検知装置の校正を行なうことを特徴とする。

また、本発明に係るバルジング検知装置の校正方法は、上記の発明において、前記凹凸パターンは、前記ダミーバーの面の厚さ方向略中央部に凸部を有するように形成されていることを特徴とする。

また、本発明に係るバルジング検知装置の校正方法は、上記の発明において、前記凹凸パターンは、前記ダミーバーの面を厚さ方向に横断する段差を有するように形成されていることを特徴とする。

また、本発明に係るダミーバーは、上記の発明の校正方法で用いるダミーバーであって、厚さ方向略中央部に凸部が形成されていることを特徴とする。

本発明によれば、ダミーバーに形成した凹凸パターンを用いてバルジング検知装置の校正を行なうので、連続鋳造機の操業を停止せずに、鋳片の生産効率を維持したまま校正を行なうことができるという効果を奏する。

以下に、図面を参照して本発明に係るバルジング検知装置の校正方法およびこれに用いるダミーバーの実施の形態を詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。

（実施の形態１）
図１は、本実施の形態１において用いるダミーバーの模式図である。図１に示すように、このダミーバー１は、鋳型から引き抜かれるべき鋳片Ｓに接合する本体部に、複数の棒状部材が連結されて屈曲可能とされた多関節部１ａが接続された構成を有している。

図２は、図１に示すダミーバー１の紙面右側の側面を拡大して示した図である。また、図３は、図１に示すダミーバー１を紙面右側の側面側から見た図である。図２、３に示すように、このダミーバー１の側面、すなわち鋳片Ｓの短辺側の面は、鋳片Ｓの短辺と略同一平面上に位置する基準面１ｂと、基準面１ｂに対して高さｈ１の段差を有するように形成された段差部１ｃと、段差部１ｃから高さｈ２だけ突出するように形成された凸部１ｄとを有している。すなわち、このダミーバー１の鋳片Ｓの短辺側の面には凹凸パターンが形成されている。なお、ダミーバー１の紙面左側の側面にも、同様の基準面、段差部、凸部が形成されている。

また、図３に示すように、基準面１ｂは、長さｌ１と、鋳片Ｓの厚さと同じ厚さｄ１を有する。また、段差部１ｃは、長さｌ２、厚さｄ１を有する。すなわち、段差部１ｃは、ダミーバー１の側面を厚さ方向に横断するように形成されている。また、凸部１ｄは、長さｌ３、厚さｄ２を有している。また、凸部１ｄは、段差部１ｃの厚さ方向および長さ方向の略中央に位置している。また、上記各長さｌ１〜ｌ３、高さｈ１、ｈ２、厚さｄ１、ｄ２の値は、たとえば以下の通りである。すなわち、長さｌ１、ｌ３の値はいずれも１００ｍｍであり、長さｌ２の値は３００ｍｍである。また、長さ方向において凸部１ｄの端から段差部１ｃの端までの長さは１００ｍｍである。また、高さｈ１、ｈ２の値はいずれも５ｍｍであり、厚さｄ１、ｄ２の値はそれぞれ２５０ｍｍ、１００ｍｍである。この値は、バルジングを検知するために必要となる測定分解能や精度を考慮して、適宜設定されればよい。

つぎに、図１〜３に示すダミーバー１を用いたバルジング検知装置の校正方法について説明する。はじめに、校正をすべきバルジング検知装置、このバルジング検知装置を適用すべき鋳片、および連続鋳造機について説明し、その後このバルジング検知装置の校正方法について説明する。

図４は、校正をすべきバルジング検知装置１０の概略構成、およびこのバルジング検知装置１０を適用すべき鋳片Ｓと連続鋳造機１００とを模式的に示した図である。なお、符号Ｗは、連続鋳造機１００の外壁である。連続鋳造工程の開始時には、連続鋳造機１００の鋳型１０１にダミーバー１を挿入し、つぎにダミーバー１の上方から鋳型１０１内に溶鋼を流し込む。ダミーバー１上で溶鋼が凝固したら、鋳型１０１から鋳片Ｓを引き抜く。鋳片Ｓは、ガイドロール１０２に支持されながら、ダミーバー１によって矢印Ａｒの方向へ引き抜かれていく。鋳型１０１の直下には冷却帯Ａがあり、この冷却帯Ａにおいて鋳片Ｓの凝固層の成長が制御される。その後、ダミーバー１は鋳片Ｓから切り離される。そして、鋳造すべき鋼種の変更をする等のために鋳込みを行なう際には再び鋳型１０１にダミーバー１を挿入し、同様に鋳片の引抜きを行なう。すなわち、ダミーバー１は、連続鋳造工程において鋳込みの度に使用される。

つぎに、バルジング検知装置１０について説明する。このバルジング検知装置１０は、周波数が３０ＧＨｚ〜３００Ｇｚのミリ波を用いたものであり、図４に示すように、距離計ヘッド１１、１２、２１、２２と、バルジング検知手段としてのミリ波距離計１３と、ミリ波用の導波管１４ａ、１４ｂ、１５ａ、１５ｂとを備えている。

距離計ヘッド１１、１２、２１、２２は、冷却帯Ａの下方に配置されている。また、距離計ヘッド１１、２１は、鋳片Ｓの一方の短辺に面して配置され、距離計ヘッド１２、２２は、鋳片Ｓの他方の短辺に面して配置されている。また、ミリ波距離計１３は、連続鋳造機１００の外部に設置されている。また、導波管１４ａ、１４ｂは、距離計ヘッド１１、２１とミリ波距離計１３とを接続するためのものであり、導波管１５ａ、１５ｂは、距離計ヘッド１２、２２とミリ波距離計１３とを接続するためのものである。

このバルジング検知装置１０は、ミリ波信号を用いて、距離計ヘッド１１、１２、２１、２２と、各距離計ヘッドが面する鋳片Ｓの短辺との距離を測定し、その測定値の変動をもとに、バルジングの発生およびその量を検知するものである。

つぎに、このバルジング検知装置１０の校正方法について説明する。上述したように、連続鋳造工程において、鋳片Ｓはダミーバー１によって引き抜かれるが、この際に、ダミーバー１は距離計ヘッド１１、１２、２１、２２の前を通過する。このとき、バルジング検知装置１０は、ダミーバー１の側面に形成された基準面１ｂ、段差部１ｃ、凸部１ｄからなる凹凸パターンまでの距離を測定する。このダミーバー１の基準面１ｂ、段差部１ｃ、凸部１ｄの長さおよび高さは既知であるから、基準面１ｂ、段差部１ｃ、凸部１ｄの既知の長さおよび高さを基準として、バルジング検知装置１０の校正を行うことができる。ダミーバー１は連続鋳造工程において鋳込みの度に使用されるものであるから、このダミーバー１を用いて校正を行なうことによって、連続鋳造機１００の操業を停止せずに、その生産効率を維持したまま校正を行なうことができる。

以下、このバルジング検知装置１０の校正方法について、バルジング検知装置１０の詳細構成とともにさらに具体的に説明する。図５は、距離計ヘッド１１、２２の詳細構成、配置、およびその動作を説明する説明図である。なお、図５において、符号Ｄは鋳片Ｓの引き抜き方向を示しており、鋳片Ｓは、紙面の表側から裏側に向かって引き抜かれている。また、図５においては、ダミーバー１の段差部１ｃが、ちょうど距離計ヘッド１１、２１の前を通過している状態を示している。図５に示すように、この距離計ヘッド１１は、断面が矩形のホーンアンテナを用いた送信アンテナ１１ａと、送信アンテナ１１ａの近傍に配置された受信アンテナ１１ｂを有しており、鋳片Ｓの短辺に面して、短辺から所定の距離だけ離隔した状態で配置されている。また、導波管１４ａは送信アンテナ１１ａに接続し、導波管１４ｂは受信アンテナ１１ｂに接続している。

一方、距離計ヘッド２１も、断面が矩形のホーンアンテナを用いた送信アンテナ２１ａ、受信アンテナ２１ｂを有しており、鋳片Ｓの短辺に面して、距離計ヘッド１１と同じ距離だけ短辺から離隔した状態で配置されている。また、導波管１４ａ、導波管１４ｂの途中にはそれぞれ切替スイッチ２７ａ、２７ｂが設けられており、導波管２４ａは送信アンテナ２１ａと切替スイッチ２７ａとに接続し、導波管２４ｂは受信アンテナ２１ｂと切替スイッチ２７ｂとに接続している。なお、切替スイッチ２７ａ、２７ｂは、このように連続鋳造機１００の内部に設けてもよいし、連続鋳造機１００の外部やミリ波距離計１３の内部に設けてもよい。

一方、距離計ヘッド１２、２２も、それぞれ距離計ヘッド１１、２１と同様に、断面が矩形のホーンアンテナを用いた送信アンテナ、受信アンテナを有しており、鋳片Ｓの反対側の短辺に面して、この短辺から所定の距離だけ離隔した状態で配置されている。また、導波管１５ａ、１５ｂは、距離計ヘッド１２の送信アンテナ、受信アンテナにそれぞれ接続している。また、導波管１５ａ、導波管１５ｂの途中にはそれぞれ切替スイッチが設けられている。距離計ヘッド２１の送信アンテナは、所定の導波管を介して、導波管１５ａに設けた切替スイッチに接続しており、距離計ヘッド２１の受信アンテナは、別の所定の導波管を介して、導波管１５ｂに設けた切替スイッチに接続している。

なお、距離計ヘッド１１、２１、１２、２２とそれぞれが面している鋳片Ｓの短辺との間の離隔距離は、たとえば約２００ｍｍであるが、連続鋳造機１００内の他の機器と干渉しないようにすれば特に限定されない。

つぎに、図５を用いてバルジング検知装置１０の動作を説明する。まず、ミリ波距離計１３は、導波管１４ａを通して送信アンテナ１１ａに所定の信号パターンを有するミリ波信号Ｗ１を供給する。一方、ミリ波距離計１３は、導波管１４ａを通して、ミリ波信号Ｗ１と同一または異なる所定の信号パターンを有するミリ波信号Ｗ２も供給する。ここで、切替スイッチ２７ａは所定の切替タイミングにより適宜に切り替わり、ミリ波信号Ｗ２は送信アンテナ２１ａに供給される。このミリ波信号Ｗ１、Ｗ２としては、たとえば単一パルス状のものを用いる。つぎに、送信アンテナ１１ａは、前方を通過しているダミーバー１の段差部１ｃの厚さ方向の略中央部Ｃに向かってミリ波信号Ｗ１を送信する。その一方で、送信アンテナ２１ａは、ダミーバー１の段差部１ｃの厚さ方向の略端部Ｅに向かってミリ波信号Ｗ２を送信する。なお、ミリ波信号Ｗ１、Ｗ２の段差部１ｃ上でのスポットサイズはたとえば２０ｍｍ〜３０ｍｍとする。

すると、ミリ波信号Ｗ１が中央部Ｃによって反射して反射ミリ波信号ＲＷ１が発生する。受信アンテナ１１ｂは、この反射ミリ波信号ＲＷ１を受信する。その一方で、受信アンテナ２１ｂが、ミリ波信号Ｗ２が端部Ｅによって反射して発生した反射ミリ波信号ＲＷ２を受信する。導波管１４ｂは、受信アンテナ１１ｂが受信した反射ミリ波信号ＲＷ１をミリ波距離計１３へと導波する。その一方で、導波管２４ｂは、切替スイッチ２７ａ、導波管１４ｂを介して、受信アンテナ２１ｂが受信した反射ミリ波信号ＲＷ２をミリ波距離計１３へと導波する。ミリ波距離計１３は、反射ミリ波信号ＲＷ１、ＲＷ２を受け付ける。

そして、ミリ波距離計１３は、送信アンテナ１１ａの送信時刻と、受信アンテナ１１ｂの受信時刻との時間差にもとづき、距離計ヘッド１１とダミーバー１の段差部１ｃの中央部Ｃとの距離を測定する。また、一方で、ミリ波距離計１３は、送信アンテナ２１ａの送信時刻と、受信アンテナ２１ｂの受信時刻との時間差にもとづき、距離計ヘッド２１とダミーバー１の段差部１ｃの端部Ｅとの距離を測定する。たとえば、上記時間差とミリ波信号Ｗ１の速度との積を２で除算して上記距離とする。

図６は、単一パルス状のミリ波信号を用い、距離計ヘッド１１とダミーバー１の段差部１ｃとの距離が約２０３ｍｍである場合の測定距離の一例を模式的に示した図である。図６において、横軸は測定した距離、縦軸は反射ミリ波信号の強度を示している。なお、ここで、横軸の距離は、ミリ波信号Ｗ１の送信時刻と反射ミリ波信号ＲＷ１の受信時刻との時間差にミリ波信号Ｗ１の速度を積算し、これを２で除算して算出している。図６に示すように、反射ミリ波信号ＲＷ２の強度の最大値は、距離計ヘッド１１とダミーバー１の段差部１ｃとの距離に対応し、線Ｌ１が示す約２０３ｍｍの位置に現われている。したがって、ミリ波距離計１３は、この強度の最大値の位置をもとに、距離の変動を測定することができる。

つぎに、ダミーバー１がさらに鋳片Ｓを引き抜き、図７に示すように、ダミーバー１の凸部１ｄが、ちょうど距離計ヘッド１１、２１の前を通過する状態について説明する。この場合、距離計ヘッド１１は凸部１ｄまでの距離を測定するので、その測定距離は短くなるように変動する。しかし、距離計ヘッド２１は段差部１ｃまでの距離を測定するので、その測定距離は変動しない。

ここで、バルジングは、鋳片Ｓの短辺の中央部を中心として現われ、短辺の端部の表面形状は変化しない。したがって、この凸部１ｄは、鋳片Ｓにおいてバルジングが発生した状態を擬似的に再現したものとなる。このように、ダミーバー１の側面の凸凹パターンが、ダミーバー１の側面の略中央部に凸部を有するように形成されていれば、実際にバルジングが発生した状態と近い状態で校正を行なうこととなるので、より正確な校正が実現される。

なお、このバルジング検知装置１０においては、距離計ヘッド２１の測定距離を基準距離として、距離計ヘッド１１の測定距離と、基準距離との差分をバルジング量として検知する。したがって、この場合は、凸部１ｄの段差部１ｃからの高さｈ２をバルジング量として検知する。ゆえに、バルジング検知装置１０が検知したバルジング量と、実際の凸部１ｄの高さｈ２とを比較することによって、バルジング検知装置１０の校正を実施できる。

また、ダミーバー１がさらに鋳片Ｓを引き抜くと、ダミーバー１の基準面１ｂが、ちょうど距離計ヘッド１１、２１の前を通過する状態になる。この場合は、距離計ヘッド１１、２１の測定距離はいずれも長くなるように変動する。したがって、この段差部１ｃと基準面１ｂとは、鋳片Ｓが蛇行してその短辺の位置全体が変動する状態を擬似的に再現したものとなる。このように、ダミーバー１の側面の凸凹パターンが、ダミーバー１の側面を厚さ方向に横断する段差を有するように形成されていれば、鋳片Ｓが蛇行した状態と近い状態で校正を行なうこととなるので、より正確な校正が実現される。

同様に、ミリ波距離計１３は、導波管１５ａ、１５ｂを介して距離計ヘッド１２、２２との間で所定のミリ波信号の供給と反射ミリ波信号の受け付けとを行い、距離計ヘッド１２、２２と、ダミーバー１の反対側の短辺の中央部および端部との距離をそれぞれ測定するので、この測定した距離の差分と、実際の凸部の高さとを比較することによって、バルジング検知装置１０の校正を実施できる。

その後、ダミーバー１がさらに鋳片Ｓを引き抜くと、鋳片Ｓの短辺が、距離計ヘッド１１、２１、１２、２２の前を通過していく。バルジング検知装置１０は、校正された状態で鋳片Ｓまでの短辺を測定し、正確にバルジングの検知を行うことができる。

つぎに、図８は、バルジング検知装置１０による測定距離の校正前後での違いを例示した図である。なお、図８においては、距離計ヘッド１１、２１から鋳片Ｓの短辺またはダミーバー１の基準面１ｂまでの距離を約１９３ｍｍとしている。また、図８において、横軸は、距離計ヘッド１１、２１が距離の測定を行なっている位置を、ダミーバー１の先頭を基準として示している。また、左縦軸に対して、線Ｌ２は、ダミーバー１の側面中央部までの実際の距離を示し、線Ｌ３は、距離計ヘッド１１が測定した距離を示している。一方、右縦軸に対して、線Ｌ４は、ダミーバー１の側面端部までの実際の距離を示し、線Ｌ５は、距離計ヘッド２１が測定した距離を示している。図８に示すように、ダミーバー１の先頭からの位置が２００ｍｍまでは、測定した距離は、中央部において２ｍｍ程度だけ、端部において３ｍｍ程度だけ、実際の距離からドリフトしている。ここで、ダミーバー１の先頭から２００ｍｍの位置Ｐが距離計ヘッド１１、２１の前を通過した時に零点校正を行なったので、その後実際の距離と測定した距離とがよく一致している。

つぎに、図９は、バルジング検知装置１０により検知したバルジング量の校正前後での違いを示した図である。図９において、線Ｌ６は、図８に示すダミーバー１により擬似的に再現されたバルジング量を示し、線Ｌ７は、図８に示した距離計ヘッド１１、２１の測定にもとづき検知したバルジング量を示している。図８と同様に、零点校正を行なった位置Ｐ以降は、擬似的なバルジング量と検知したバルジング量とがよく一致している。

なお、ダミーバーの長さ、厚さや、ダミーバーに形成する凹凸パターンについては上記実施の形態１のものに限られない。たとえば、鋳片の厚さはたとえば２００〜３００ｍｍであるから、ダミーバーの厚さは、鋳片の厚さに応じて適宜設定される。また、ダミーバーの長さをさらに長くして、高さ５ｍｍ、１０ｍｍ、１５ｍｍの段差部、あるいは凸部をさらに設けたり、凹部を設けたりしてもよい。また、実施の形態１に係るダミーバー１では、段差部１ｃや凸部１ｄの側面が基準面１ｂに対して垂直になっているが、傾斜させてもよい。

また、上記実施の形態１では、ミリ波を用いたバルジング検知装置１０を校正する例について説明したが、バルジング検知装置１０と同様の構成を有し、周波数が３００ＧＨｚ〜３ＴＨｚのテラヘルツ波や、３ＧＨｚ〜３０ＧＨｚのマイクロ波を用いたバルジング検知装置を校正することもできる。また、このような、周波数がおおよそ３ＧＨｚ〜３ＴＨｚの範囲の高周波の電波を用いたバルジング検知装置に限らず、特許文献１〜４に示したバルジング検知技術や他の技術を用いた装置に対しても、本発明の校正方法は適用できる。

実施の形態１において用いるダミーバーの模式図である。 図１に示すダミーバーの紙面右側の側面を拡大して示した図である。 図１に示すダミーバー１を紙面右側の側面側から見た図である。 校正をすべきバルジング検知装置の概略構成、およびこのバルジング検知装置を適用すべき鋳片と連続鋳造機とを模式的に示した図である。 距離計ヘッドの詳細構成、配置、およびその動作を説明する説明図である。 単一パルス状のミリ波信号を用い、距離計ヘッドとダミーバーの段差部との距離が約２０３ｍｍである場合の測定距離の一例を模式的に示した図である。 ダミーバーの凸部が、ちょうど距離計ヘッドの前を通過する状態を示した図である。 バルジング検知装置による測定距離の校正前後での違いを例示した図である。 バルジング検知装置により検知したバルジング量の校正前後での違いを示した図である。

符号の説明

１ ダミーバー
１ａ 多関節部
１ｂ 基準面
１ｃ 段差部
１ｄ 凸部
１０ バルジング検知装置
１１、１２、２１、２２ 距離計ヘッド
１１ａ、２１ａ 送信アンテナ
１１ｂ、２１ｂ 受信アンテナ
１３ ミリ波距離計
１４ａ、１４ｂ、１５ａ、１５ｂ、２４ａ、２４ｂ 導波管
２７ａ、２７ｂ 切替スイッチ
１００ 連続鋳造機
１０１ 鋳型
１０２ ガイドロール
Ａ 冷却帯
Ａｒ 矢印
Ｃ 中央部
ｄ１、ｄ２ 厚さ
Ｄ 引き抜き方向
Ｅ 端部
ｈ１、ｈ２ 高さ
ｌ１〜ｌ３ 長さ
Ｌ１〜Ｌ７ 線
Ｐ 位置
ＲＷ１、ＲＷ２ 反射ミリ波信号
Ｓ 鋳片
Ｗ 外壁
Ｗ１、Ｗ２ ミリ波信号

Claims (4)

1. 連続鋳造において引き抜かれる鋳片の短辺に発生するバルジングを検知するためのバルジング検知装置の校正方法であって、
   前記鋳片を引き抜くためのダミーバーの該鋳片の短辺側の面に形成した凹凸パターンを、前記バルジング検知装置を用いて測定し、該測定結果をもとに前記バルジング検知装置の校正を行なうことを特徴とするバルジング検知装置の校正方法。
2. 前記凹凸パターンは、前記ダミーバーの面の厚さ方向略中央部に凸部を有するように形成されていることを特徴とする請求項１に記載のバルジング検知装置の校正方法。
3. 前記凹凸パターンは、前記ダミーバーの面を厚さ方向に横断する段差を有するように形成されていることを特徴とする請求項１または２に記載のバルジング検知装置の校正方法。
4. 請求項１の校正方法で用いるダミーバーであって、厚さ方向略中央部に凸部が形成されていることを特徴とするダミーバー。

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