JP2010143795A - シリコン単結晶引上装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】シリコン単結晶引上装置1は、ドープされたシリコン単結晶をチョクラルスキー法により融液から引き上げるシリコン単結晶引上装置1であって、融液が収容される引上炉2と、引上炉2に外付けされ、引上炉2の内部と連通する中空の試料室100と、融液に供給する昇華性ドーパントが収容される試料管6と、試料管6を支持する支持体120と、支持体120を試料室100の内部で支持した状態で移動させることにより、支持体120に支持された試料管6を引上炉2の内部に移動させる移動手段110と、を備える。
【選択図】図2
Description
図1を参照して、本発明の第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置1について説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係るシリコン単結晶引上装置を模式的に示す断面図である。図1に示すように、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2と、坩堝3と、ヒータ9と、保温筒13と、整流筒15(15a、15b)と、引き上げ機構4と、試料室100と、遮蔽部24と、試料管としてのドープ管6と、供給部7と、熱遮蔽部材8と、を備えて構成されている。
図2は、第1実施形態に係る試料室の正面側からみた内部構成を示す断面図である。図3は、第1実施形態に係る試料室の側面側からみた内部構成を示す断面図である。図4(a)は、図3に示す試料室のA−A断面図であり、図4(b)は、図3に示す試料室のB−B断面図であり、図4(c)は、図3に示す試料室のC−C断面図である。図5は、第1実施形態に係る試料室の内部から外部にドープ管が移動した状態を示す断面図である。なお、試料室は、軸方向に立たせた状態で説明する。
上述の通り、試料室100は、引上炉2の上方に外付けされている。具体的には、試料室100は、遮蔽部24を介して引上炉2に外付けされている。また、試料室100は、中空に形成されている。試料室100は、引上炉2の内部と試料室100の内部とが連通するように引上炉2の上方に取り付けられている。試料室100の内部には、移動手段110が取り付けられている。
試料室本体101は、上方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における上方側)が封止され、下方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における下方側)が開口した円筒状に形成されている。フランジ部102は、試料室本体101の下方側に連結されている。フランジ部102は、遮蔽部24に設けられたフランジ部(図示せず)と連結可能に形成されている。
移動手段110は、主として、試料室100の内部に設けられている。移動手段110は、ドープ管6を支持した支持体120を供給部7に向かって移動させる。具体的には、移動手段110は、支持体120に支持されたドープ管6を引上炉2の内部に設けられた供給部7に接合させるために、支持体120を供給部7に向かって移動させる。
図2及び図3に示すように、ボールネジ部111は、ボールネジ111aと、第1軸受け部111bと、第2軸受け部111cと、を有している。ボールネジ111aは、周面に雄ネジが設けられた棒状に形成されている。ボールネジ111aは、試料室本体101の上方側の端面106を貫通している。ボールネジ111aは、端面106を貫通した部分において、上方側の端部が後述のヘッドギア114aに連結されている。
第1の面115aは、ボールネジ111aの軸方向と直交するように、ボールネジ111aに螺合されたナット部112aに連結されている。一方、第2の面115bは、第1の面115aをナット部112aに連結させることにより、ボールネジ111aの軸方向と略平行になる。
図1に示すように、ドープ管6は、供給部7側に向かって突出する凸部61と、管状のドープ管本体64と、を備える。凸部61は、ドープ管6を支持体120に連結させた場合に、供給部7側となるドープ管本体64の端部に設けられている。具体的には、凸部61は、ドープ管本体64の供給部7側の端部における略中央部から、供給部7側に突出している。また、凸部61は、略球状に形状されている。なお、「略球状の形状」とは、完全な球状ではないが、大部分が球状の曲面を備えていることを意味する。
まず、シリコン単結晶引上装置1においては、種結晶ホルダ4bによって種結晶(図示せず)が把持された状態で、坩堝3の中にシリコン原料を入れ、ヒータ9を用いて加熱すると、シリコン原料が溶融して融液5になる。融液5の溶融状態が安定化したところで、引上げ用ケーブル4aを降下して種結晶ホルダ4bに把持させた種結晶を融液5に浸漬させる。融液5に浸漬させ、種結晶を融液5になじませると、次に、引上げ用ケーブル4aを上昇させ、融液5からシリコン単結晶(シリコン単結晶インゴット)41を引上げる。融液5からシリコン単結晶41が引上げられると、シリコン単結晶41は、成長を開始する。シリコン単結晶41を成長させる際においては、坩堝3を回転軸16によって回転させるとともに、引上げ機構4の引上げ用ケーブル4aを、回転軸16の回転方向と同じ方向又は逆の方向に回転させる。なお、回転軸16は鉛直方向にも駆動することができ、坩堝3を任意の上方方向の位置に上下動させることもできるように構成されている。
また、シリコン単結晶引上装置1は、引上炉2の内部にまで至るガイドレールがなくなるため、例えば、引上炉2の内部を構成する部品点数を減少させることが可能になる。
第2実施形態に係るシリコン単結晶引上装置は、主として、試料室200の形状、移動手段210及び支持体220の形状が異なる点において、第1実施形態と相違する。以下、試料室200の形状、移動手段210及び支持体220を中心に説明する。
なお、第2実施形態においては、第1実施形態と同様又は対応する構成については、符号の百の位に付される数字を1から2に変更したものを用いて説明する。
図8は、第2実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。図9は、第2実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。
支持台部204は、フランジ部202に連結されている。支持台部204は、立設部204aと、支持部204bとを有する。立設部204aと支持部204bとは、直交した状態で連結されている。つまり、支持台部204は、断面が略L時状になるように形成されている。立設部204aは、第1試料室201a及び第2試料室201bと略平行にフランジ部202から立設している。支持部204bには、後述のボールネジ211aを支持する第1軸受け部211bが固定される。
移動手段210は、ボールネジ部211と、雌ネジ部212と、駆動源としてのモータ部214と、を有して構成されている。ボールネジ部211は、ボールネジ211aと、第1軸受け部211bと、第2軸受け部211cと、を有している。ボールネジ211aは、周面に雄ネジが設けられた棒状に形成されている。ボールネジ211aは、支持部204bを貫通している。つまり、第2実施形態におけるボールネジ211aは、支持部204bを貫通した部分において、上方側の端部が後述のヘッドギア214aに連結されている。
まず、作業者がドープ管6に昇華性ドーパントを投入し、ドープ管6を支持体220に装着すると、シリコン単結晶41に昇華性ドーパントをドープし始めるタイミング、すなわちシリコン単結晶41の肩部から直胴部の前半部まで成長したタイミングで、シリコン単結晶引上装置は、遮蔽部24を開放する。なお、遮蔽部24を開放する際には、昇華性ドーパントを試料室200の所定の位置に収納して試料室200側の真空ポンプ(図示せず)を作動させて引上炉2の内部と試料室200の内部とを調圧してから、遮蔽部24を開放するようにする。
第3実施形態に係るシリコン単結晶引上装置は、試料室300、移動手段310及び支持体320の形状が異なる点において、第1実施形態と相違する。以下、試料室300、移動手段310及び支持体320を中心に説明する。
なお、第3実施形態においては、第1実施形態と同様又は対応する構成については、符号の百番台に付される符号の百の位に付される数字を1から3に変更したものを用いて説明する。
図10は、第3実施形態に係る試料室の正面側から見た内部構成を模式的に示す断面図である。図11は、第3実施形態に係る試料室の内部からドープ管が移動した状態を模式的に示す断面図である。
試料室本体301は、上方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における上方側)が封止され、下方側(引上炉2に取り付けられた状態の軸方向における下方側)が開口した円筒状に形成されている。また、図10(b)に示すように、試料室本体301には、後述の第2磁石部312cが試料室本体301の内部において回転することを規制する溝部301aが形成されている。溝部301aは、試料室本体301の軸方向に延びるように形成されている。
フランジ部302は、試料室本体301の下方側に連結されている。フランジ部302は、遮蔽部24に設けられたフランジ部(図示せず)と連結可能に形成されている。突起部303は、試料室本体301の中心軸方向に突起した状態で設けられている。突起部303は、後述の第2磁石部312cが試料室300の内部から脱落することを防止する。
ボールネジ部311は、ボールネジ311aと、第1軸受け部311bと、第2軸受け部311cと、を有している。ボールネジ311aは、周面に雄ネジが設けられた棒状に形成されている。ボールネジ311aは、支持台部313の上面313aを貫通している。つまり、第3実施形態のボールネジ311aは、支持台部313の上面313aを貫通した部分において、上方側の端部が後述のヘッドギア314aに連結されている。
支持体320は、棒状に形成されている。支持体320は、上述の連結部312eに連結されている。
2 引上炉
5 融液
6 ドープ管
7 供給部
100 試料室
103 第1開閉部
104 第2開閉部
110 移動手段
111 ボールネジ部
112 雌ネジ部
113 ガイド部
114 モータ部
120 支持体
Claims (4)
- ドープされたシリコン単結晶をチョクラルスキー法により融液から引き上げるシリコン単結晶引上装置であって、
前記融液が収容される引上炉と、
前記引上炉に外付けされ、前記引上炉の内部と連通する中空の試料室と、
前記融液に供給する昇華性ドーパントが収容される試料管と、
前記試料管を支持する支持体と、
前記支持体を前記試料室の内部で支持した状態で移動させることにより、前記支持体に支持された前記試料管を前記引上炉の内部に移動させる移動手段と、
を備えることを特徴とするシリコン単結晶引上装置。 - 前記移動手段は、
雄ネジを有するボールネジ部と、
前記支持体に連結されると共に、前記雄ネジと螺合可能な雌ネジを有し、前記雄ネジに前記雌ネジを螺合させることにより、前記ボールネジ部の軸方向に移動可能な雌ネジ部と、
前記ボールネジ部を回転させる駆動源と、
前記雌ネジ部の回転を規制するガイド部と、
を有することを特徴とする請求項1に記載のシリコン単結晶引上装置。 - 前記ボールネジ部は、前記試料室の外部に配置されており、
前記試料室は、
前記支持体の少なくとも一部が収容される第1試料室と、
前記試料管を収容可能な第2試料室と、を有し、
前記第1試料室は、前記雌ネジ部に接合され、前記雌ネジ部の移動に連動して前記軸方向に伸縮可能に形成されることを特徴とする請求項2に記載のシリコン単結晶引上装置。 - 前記雌ネジ部は、
前記支持体に連結され、第1磁石を有する第1磁石部と、
前記第1磁石と引かれあう第2磁石及び前記雌ネジを有する第2磁石部と、を備え、
前記ガイド部は、前記第2磁石部の回転を規制することを特徴とする請求項2に記載のシリコン単結晶引上装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2008323760A JP5410086B2 (ja) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | シリコン単結晶引上装置 |
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| JP2010143795A true JP2010143795A (ja) | 2010-07-01 |
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Family Applications (1)
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| JP (1) | JP5410086B2 (ja) |
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2008
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