JP2012018121A - 抵抗測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】厚さの薄いチップ抵抗器においても、測定端子の接触圧を十分に付与しつつ、且つたわみによる測定誤差の影響を排除して、測定時の抵抗値変化を極力抑えることで、高精度の測定が行える抵抗測定装置を提供する。
【解決手段】チップ抵抗器Ｒの両端に形成された一対の電極端子に測定端子３ａ，３ｂを押し当てて、前記抵抗器の抵抗値を測定する装置であって、前記測定端子を押し当てたときに、前記抵抗器を反対側で受ける受け部材２を備え、該受け部材の前記抵抗器が押し当てられる部分に凹み２ａを備え、該凹みの径ｒが前記抵抗器Ｒよりも大きいことを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は、チップ抵抗器の抵抗値を連続的に高精度で測定する抵抗測定装置に関する。

チップ抵抗器の製造過程では抵抗値を測定し、測定結果が不適当な抵抗値を示す製品は、不良品として排除されている。そのための測定装置としては、図７（ａ）に示すように固定治具１と固定カバー２においてチップ抵抗器Ｒの固定を行い、図７（ｂ）に示すように測定端子３ａ，３ｂが上昇してチップ抵抗器Ｒの両端の電極に接触し、測定端子３ａ，３ｂによりチップ抵抗器Ｒが動かないように固定カバー２に押し当てながら抵抗値を測定する抵抗測定装置が用いられている。

測定端子３ａ，３ｂが上昇してチップ抵抗器Ｒの電極に接触して測定を行うとき、測定端子３ａ，３ｂの接触圧が強いと、測定端子３ａ，３ｂとチップ抵抗器Ｒとの接触部４（図８参照）に深い傷を付けてしまうという問題がある。また、チップ抵抗器Ｒが測定端子３ａ，３ｂと固定カバー２に挟まれたときに、チップ抵抗器Ｒの上面には通常丸みを帯びた保護膜Ｒａを備えていることから、図８に示すような曲げ応力ａが印加され、チップ抵抗器Ｒがたわむことによる抵抗値変化を起こして正確な抵抗値測定を行うことが出来ないという問題がある。また、最悪の場合チップ抵抗器Ｒを破損してしまう事がある。

そこで、従来からこの対策として、測定端子３ａ，３ｂにバネ５を用いたり、特許文献１に記載されたように弾性を有する導電性薄板を用いて、測定時の接触圧を軽減する対策が取られている。

特開昭６１−１７３１６７号公報

しかしながら、この接触圧を軽減しすぎると、接触不良を起こしてしまい正確な測定が出来なくなり、また逆に接触圧の軽減が不十分であると、前記のような問題が発生してしまい、その接触圧の加減は調整幅が狭く困難な調整となっている。特に最近はダウンサイジングが進んでおり、厚さの薄いチップ抵抗器については、従来の方法にて接触圧の加減がなされたとしても、チップ抵抗器のたわみによる抵抗値測定誤差の影響が大きくなってしまい、チップ抵抗器への接触圧の調整が非常に困難となっている。

本発明は、上述の事情に基づいてなされたもので、厚さの薄いチップ抵抗器においても、測定端子の接触圧を十分に付与しつつ、且つチップ抵抗器のたわみによる抵抗値測定誤差の影響を排除して、高精度の抵抗値測定が行える抵抗測定装置を提供することを目的とする。

本発明の抵抗測定装置は、チップ抵抗器の両端に形成された一対の電極端子に測定端子を押し当てて、前記抵抗器の抵抗値を測定する装置であって、前記測定端子を押し当てたときに、前記抵抗器を反対側で受ける受け部材を備え、該受け部材の前記抵抗器が押し当てられる部分に凹みを備え、該凹みの径が前記抵抗器よりも大きいことを特徴とする。

本発明によれば、チップ抵抗器が押し当てられる受け部材の部分が凹んでいる事により、チップ抵抗器のたわみがなくなる、或いは軽減されるため、測定時の抵抗値変化を極力抑えることが出来る。このため、特に厚さが薄くたわみが生じやすいチップ抵抗器においても、たわみの影響を排除して高精度の抵抗値測定が出来る抵抗測定装置を提供することができる。

本発明の一実施例の抵抗測定装置の要部を示す断面図である。 （ａ）（ｂ）は受け部材の凹みの形状を示すそれぞれ上段が断面図であり、下段がその平面図である。（ａ）は凹みが球面状に凹んでいる場合を示し、（ｂ）は凹みが円錐面状に凹んでいる場合を示している。 チップ抵抗器のたわみ試験の説明図である。 たわみ試験における基板たわみ量とチップ抵抗器の抵抗値変化率との関係を示すグラフである。実線は厚さが約０．３５ｍｍの厚い１００５サイズ（１．０ｍｍ×０．５ｍｍ）のチップ抵抗器の基板たわみ量と抵抗値変化率の関係を示し、破線は厚さが約０．２５ｍｍの薄い同一サイズのチップ抵抗器の基板たわみ量と抵抗値変化率の関係を示す。 図１に示す要部の構成を備えた抵抗測定装置の平面図である。 図５のＸＸ線に沿った断面図である。 （ａ）（ｂ）は従来の抵抗測定装置の要部を示す断面図である。 従来の抵抗測定装置におけるチップ抵抗器がたわんだ状態を示す断面図である。

以下、本発明の実施形態について、図１乃至図６を参照して説明する。なお、各図中、同一または相当する部材または要素には、同一の符号を付して説明する。

本発明の抵抗測定装置の測定対象とするチップ抵抗器Ｒの典型例は、表面と裏面とを有するアルミナ等の絶縁性基板の片面に、ＲｕＯ_２等の厚膜焼成体からなる抵抗体と、この抵抗体の両端部に重なり合う一対のＡｇ−Ｐｄ等の厚膜焼成体からなる内部電極と、抵抗体を覆うガラスコートからなる保護膜およびエポキシ樹脂等のオーバコートからなる保護膜と、絶縁性基板の両端に配置された一対の電極とを備える。保護膜は、絶縁性基板の上面中央部に配置され、高さが２０−３０μｍ程度の丸みを帯びた凸状部をなしている。

図１は、本発明の一実施例の抵抗測定装置の要部を示す。この装置は、チップ抵抗器Ｒの両端に形成された一対の電極端子に、測定端子３ａ，３ｂを押し当てて、チップ抵抗器Ｒの抵抗値を測定する抵抗測定装置である。測定端子３ａ，３ｂをチップ抵抗器Ｒの裏面側電極に押し当てたときに、チップ抵抗器Ｒを反対側（表面側）で受ける受け部材２を備え、その受け部材２のチップ抵抗器Ｒが押し当てられる部分に凹み２ａが形成されている。そして、凹み２ａの径ｒがチップ抵抗器Ｒのサイズよりも大きく形成されている。

この凹み２ａの形状は、図２（ａ）に示すように球面状、または図２（ｂ）に示すように円錐面状に凹んだ形状とすることが好ましい。また、チップ抵抗器が押し当てられる部分は、チップ抵抗器Ｒよりも大きい径ｒの凹み２ａの内側である。そして、凹み２ａの深さは、チップ抵抗器Ｒのエッジｅが径ｒの凹み２ａの内部に位置し、凹み２ａの深さをチップ抵抗器Ｒの保護膜Ｒａの高さよりも深く形成することが好ましい。

これにより、チップ抵抗器Ｒのエッジｅが径ｒの凹み２ａの内部に位置し、凹み２ａの深さをチップ抵抗器Ｒの保護膜Ｒａの高さよりも深く形成することで、測定端子３ａ，３ｂを押し当てて、チップ抵抗器Ｒの抵抗値を測定する際に、チップ抵抗器Ｒのエッジ部分に縦方向に応力ｂが加わるのみで、曲げ応力ａ（図８参照）は生じない。従って、たわみが生じ易い、厚さの薄いチップ抵抗器Ｒにおいても、背景技術で説明したたわみが生じない。

ちなみに、厚さの薄いチップ抵抗器について、図３に示すチップ抵抗器Ｒを搭載した基板２０に力Ｆを加えチップ抵抗器Ｒをたわませた状態で抵抗値変化率を測定するたわみ試験を行った。この結果、図４に示すように、厚さが約０．３５ｍｍの１００５サイズ（１．０ｍｍ×０．５ｍｍ）のチップ抵抗器に比べて、厚さが約０．２５ｍｍの同一サイズのチップ抵抗器の方が大きく抵抗値が変化しており、厚さの薄いチップ抵抗器程たわみによる測定誤差が大きいことがわかる。従って、特にチップ抵抗器の全体の厚さが０．２５ｍｍ以下の薄型チップ抵抗器の場合には、本発明によりたわみに伴う抵抗測定誤差の影響を抑えることが出来るので、高精度の抵抗値測定が可能となり、非常に有効な抵抗測定装置となる。

また、チップ抵抗器が受け部材２に押し当てられたときに、チップ抵抗器Ｒよりも大きい径の凹み２ａにすると、チップ抵抗器Ｒ上面の保護膜Ｒａが受け部材２への引っかかりがないため、チップ抵抗器Ｒ自体を傷つけることが無くなる。また、凹みによりチップ抵抗器が測定時にずれることが無くなり測定の安定性が増す。

また、従来技術のバネ５による接触圧の軽減を併用することにより、チップ抵抗器の電極部分に測定端子３ａ，３ｂにより加えられる力を軽減できる。これにより、測定端子３ａ，３ｂが上昇してチップ抵抗器Ｒの電極に接触して測定を行うとき、測定端子３ａ，３ｂの接触圧が強いと、測定端子３ａ，３ｂとチップ抵抗器Ｒとの接触部４（図８参照）に深い傷を付けてしまうという問題が解決される。

また、本発明の装置は、連続して多数のチップ抵抗器の抵抗値測定を行うため、チップ抵抗器が押し当てられる受け部材部分２ａは非常に摩耗しやすい。このためチップ抵抗器が押し当てられる受け部材２の材質としては、ガラスまたはガラス以上の硬度を有する絶縁材料、例えばサファイアガラス等を用いることが好ましい。

次に、上記構成を採用した抵抗測定装置について、図５および図６を参照してその概要を説明する。回転テーブル６にはあらかじめチップ抵抗器Ｒより大きく形成した切り欠きである収容部１２，１３，１４，１５が等間隔に４箇所あり、回転、停止を繰り返しながら、９０°毎のステップ回転を行う。そして、パーツフィーダ（供給部）８により一定方向に並べられたチップ抵抗器Ｒが順次送られて回転テーブル６の収容部１２に収容される。

チップ抵抗器Ｒが収容部１２に収容されてから、回転テーブル６と保持板（底板）１とトップカバー１０とで保持された状態にて９０°ステップ回転を行い、測定部１３にて停止をする。チップ抵抗器Ｒが測定部１３に来たときに瞬時に抵抗値の測定を行うため、図 ６に示すように、測定端子３ａ，３ｂが上昇し抵抗値の測定を行う。このとき、チップ抵抗器Ｒが測定端子３ａ，３ｂにより上へ押し上げられ、トップカバー１０に設けられた受け部材２の凹部２ａにチップ抵抗器Ｒが押し当てられる。このとき、測定端子３ａ，３ｂから印加される応力ｂはエッジｅで受け止められるため、たわみが生ぜず、高精度の抵抗値測定が可能となることは上述のとおりである。測定終了後、測定端子３ａ，３ｂは下降する。

測定が終了し、測定端子が下降してから、チップ抵抗器Ｒは回転テーブル６と保持板（底板）１とトップカバー１０とで保持された状態にて９０°ステップ回転を行い、排出部１４にて停止をする。測定部１３での測定結果に基づき、チップ抵抗器Ｒが不適当な抵抗値を示す場合には、排出部１４で収容部から不良品として排除される。

チップ抵抗器Ｒが適当な抵抗値を示す場合には、回転テーブル６と保持板（底板）１とトップカバー１０とで保持された状態にて９０°ステップ回転を行い、挿入部１５にて停止し、良品としてキャリアテープ１６の収容部１７に収納され、封止されて出荷される。以上の動作を連続して高速で行うことにより、薄型のチップ抵抗器においても、高精度で効率の良い抵抗値測定を行うことが出来る。

なお、上述の実施例では、チップ抵抗器Ｒのエッジｅが径ｒの凹み２ａの内部に位置し、凹み２ａの深さをチップ抵抗器Ｒの保護膜Ｒａの高さよりも深く形成する例について説明した。しかしながら、凹み２ａの深さはチップ抵抗器Ｒの保護膜Ｒａの高さと同等または少し浅くてもよい。これにより、チップ抵抗器Ｒの保護膜Ｒａの頂部は凹み２ａの底面に接触するが、チップ抵抗器Ｒのたわみ軽減と抵抗値変化率の減少という点で大きな効果が得られる。

これまで本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されず、その技術的思想の範囲内において種々異なる形態にて実施されてよいことは言うまでもない。

本発明はチップ抵抗器の抵抗値を測定する抵抗測定装置に利用可能であり、特に抵抗器の全体の厚さが０．２５ｍｍ以下の薄型のチップ抵抗器の高精度の抵抗値測定に好適に利用可能である。

Claims (5)

1. チップ抵抗器の両端に形成された一対の電極端子に測定端子を押し当てて、前記抵抗器の抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、
   前記測定端子を押し当てたときに、前記抵抗器を反対側で受ける受け部材を備え、
   該受け部材の前記抵抗器が押し当てられる部分に凹みを備え、
   該凹みの径が前記抵抗器よりも大きいことを特徴とする抵抗測定装置。
2. 前記抵抗器の全体の厚さが０．２５ｍｍ以下である、請求項１に記載の抵抗測定装置。
3. 前記測定端子はバネを有する、請求項１または請求項２に記載の抵抗測定装置。
4. 前記凹みが、球面状または円錐面状に凹んでいる、請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の抵抗測定装置。
5. 前記受け部材は、ガラスまたはガラス以上の硬度を有する絶縁材料である、請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の抵抗測定装置。

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