JP2012112902A - Apd測定装置及び該装置における操作メニュー表示方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定信号の周波数成分を分析し、分析された各周波数成分の振幅をそれぞれ検出し、検出された各周波数成分の振幅について単位時間当たりの振幅確率を時間経過毎に求め、前記各周波数成分の振幅の振幅確率を時間経過に対応して記憶し、最新の記憶内容に基づいて、周波数、振幅、振幅確率及び時間のうち、2つ又は3つを次元とする座標に残りの1つをパラメータとするグラフを表示させるAPD測定装置1であって、
前記表示制御部は、APD測定にあたり必要最低限の設定項目がそれぞれ割り当てられた複数の設定項目キーを設定手順に沿って配列した簡易操作メニュー410を前記表示部に表示制御する簡易操作メニュー表示制御部390を備えた。
【選択図】図1
Description
前記表示制御部は、APD測定にあたり必要最低限の設定項目がそれぞれ割り当てられた複数の設定項目キーを設定手順に沿って配列した簡易操作メニュー410を前記表示部に表示制御する簡易操作メニュー表示制御部390を備えたことを特徴とする。
APD測定にあたり必要最低限な設定項目をそれぞれ割り当てた複数の設定項目キーを設定手順に沿って配列した簡易操作メニュー410を表示部400に表示制御することを特徴とする。
なお、測定対象の信号の周波数帯域が低く、A/D変換手段110bが直接に利用できる周波数帯であれば、帯域選択手段110aは必ずしも必要ではない。
上述したように、本例のAPD測定装置1では、APD測定に関する知識の乏しい操作者でも容易に操作可能とするため、簡易操作メニュー表示制御部390によりAPD測定に必要最小限の設定項目がそれぞれ割り当てられた複数の設定項目キーを操作手順に沿って配列した簡易操作メニュー410を表示部400の所定箇所(例えば表示画面上の空きスペース)に表示制御するとともに、操作部500からの所定操作(マウスやキーボード等の周辺機器の操作やタッチパネル操作)により選択された設定項目キーに対応する設定ダイアログ420や関連するメニュー階層項目430を表示制御している。
(1)「Center Freq.」:測定中心周波数の設定
(2)「RBW」:RBW(Resolution Band Width )の設定
(3)「Channel Num.」:測定チャネル数の設定
(4)「Ref,Level」:リファレンスレベルの設定
(5)「Meas. Time」:測定時間の設定
(6)「CW Signal Cal」:校正の実行
(7)「Measurement」:測定開始
(8)「Select Trace」:表示グラフ形式の設定
(9)「Save Date」:測定結果データの保存
の項目が表示されている。また、各設定項目キーが選択されると、各項目の設定内容に応じた設定ダイアログ420が表示される。
100…APD測定部
110…周波数分析部(110a…帯域選択手段、110b…A/D変換手段、110c…周波数選択手段)
120…レベル検出部
130…APD部(130a…クロック発生部、130b…範囲分類手段)
200…記憶部
300…表示制御部
310…グラフ生成部310(310a…拡大/縮小制御部、310b…フルスパン制御部、310c…数値制御部)
320…指定マーカ生成部
330…画面制御部
340…ピークサーチ部
350…ピークマーカ生成部
360…ゾーンマーカ生成部
370…座標情報記憶部
380…表示フォーマット記憶部
390…簡易操作メニュー表示制御部
400…表示部(410…簡易操作メニュー、420…設定ダイアログ、430…メニュー階層項目、440…テンキーパネル)
500…操作部
600…制御部
Claims (3)
- 被測定信号の周波数成分を分析し、分析された各周波数成分の振幅をそれぞれ検出し、検出された各周波数成分の振幅について単位時間当たりの振幅確率を時間経過毎に求めるAPD測定部(100)と、該APD測定部が出力する各周波数成分の振幅の振幅確率を時間経過に対応して記憶する記憶部(200)と、表示部(400)と、操作部(500)と、前記記憶部に所定タイミングでアクセスして得られた最新の前記記憶部の記憶内容に基づいて、周波数、振幅、振幅確率及び時間のうち、2つ又は3つを次元とする座標に残りの1つをパラメータとするグラフを前記表示部に表示させる表示制御部(300)とを備えたAPD測定装置(1)であって、
前記表示制御部は、APD測定にあたり必要最低限の設定項目がそれぞれ割り当てられた複数の設定項目キーを設定手順に沿って配列した簡易操作メニュー(410)を前記表示部に表示制御する簡易操作メニュー表示制御部(390)を備えたことを特徴とするAPD測定装置。 - 前記簡易操作メニュー表示制御部(390)は、さらに前記簡易操作メニュー(410)のうちの何れかの前記設定項目キーが選択されると、当該選択された設定項目キーの設定内容に応じた設定ダイアログ(420)や関連するメニュー階層項目(430)を前記表示部(400)に表示制御することを特徴とする請求項1記載のAPD測定装置。
- 被測定信号の周波数成分を分析し、分析された各周波数成分の振幅をそれぞれ検出し、検出された各周波数成分の振幅について単位時間当たりの振幅確率を時間経過毎に求め、前記各周波数成分の振幅の振幅確率を時間経過に対応して記憶し、最新の記憶内容に基づいて、周波数、振幅、振幅確率及び時間のうち、2つ又は3つを次元とする座標に残りの1つをパラメータとするグラフを表示させるAPD測定装置(1)の操作メニュー表示方法において、
APD測定にあたり必要最低限な設定項目をそれぞれ割り当てた複数の設定項目キーを設定手順に沿って配列した簡易操作メニュー(410)を表示部(400)に表示制御することを特徴とするAPD測定装置における操作メニュー表示方法。
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2010
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