JP2012113476A - データ記憶装置、メモリ制御装置及びメモリ制御方法 - Google Patents

データ記憶装置、メモリ制御装置及びメモリ制御方法 Download PDF

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Abstract

【課題】有効なデータが準備できないチャネルがある場合でも、ライト処理効率の低下を招くことなく、確実に誤り訂正符号データを生成できるデータ記憶装置を提供することにある。
【解決手段】実施形態によれば、データ記憶装置は、ライトコントローラと、誤り訂正コントローラと、データコントローラとを具備する。ライトコントローラは、複数チャネルの各不揮発性メモリにデータを並列に書き込む。誤り訂正コントローラは、前記ライトコントローラによる書き込み動作の前に、前記各チャネル毎に準備されるデータを使用して誤り訂正符号データを生成する。データコントローラは、不揮発性メモリの書き込み対象のデータが準備されないチャネルに対して、当該不揮発性メモリの初期値データを前記誤り訂正コントローラの生成処理に使用するデータとして準備する。
【選択図】図1

Description

本発明の実施形態は、不揮発性メモリを記憶媒体とするデータ記憶装置に関する。
近年、データ記憶装置として、書き換え可能な不揮発性メモリであるNAND型フラッシュメモリ(以下、単にフラッシュメモリと表記する場合がある)を記憶媒体とするSSD(solid state drive)の開発が推進されている。
一般的に、SSDでは、複数のチャネル単位に設けられる各フラッシュメモリに対して、データを並列に書き込むマルチチャネル方式のライト動作が行なわれる。このライト動作時に、各チャネルに書き込むデータ(ユーザデータ)を使用して、チャネル間で誤り訂正処理(ECC:error checking and correcting)が可能な誤り訂正符号データ(またはパリティデータ)が生成される。この誤り訂正符号データは、複数チャネルの中から設定されたECC用チャネルのフラッシュメモリに格納される。
特開2002−163243号公報
従来のSSDにおいて、マルチチャネル方式のライト動作時に、全チャネルの中で書き込み対象として有効なデータが準備できないチャネルがある場合に、誤り訂正符号データを生成するために、一種の補間データを準備する必要がある。この場合、マルチチャネル方式のライト動作により、補間データは、当該チャネルのフラッシュメモリに書き込まれることになる。この補間データを書き込むライト動作は、ライトアクセス速度に関係するライト処理時間の増大や、フラッシュメモリの寿命に関係するライト回数の増大を招き、ライト処理効率の低下の要因となる。
そこで、本発明の目的は、有効なデータが準備できないチャネルがある場合でも、ライト処理効率の低下を招くことなく、確実に誤り訂正符号データを生成できるデータ記憶装置を提供することにある。
実施形態によれば、データ記憶装置は、ライト制御手段と、誤り訂正制御手段と、データ制御手段とを具備する。ライト制御手段は、複数チャネルの各不揮発性メモリにデータを並列に書き込む。誤り訂正制御手段は、前記ライト制御手段による書き込み動作の前に、前記各チャネル毎に準備されるデータを使用して誤り訂正符号データを生成する。データ制御手段は、不揮発性メモリの書き込み対象のデータが準備されないチャネルに対して、当該不揮発性メモリの初期値データを前記誤り訂正制御手段の生成処理に使用するデータとして準備する。
実施形態に関するデータ記憶装置の構成を説明するためのブロック図。 実施形態に関するフラッシュメモリコントローラの構成を説明するためのブロック図。 実施形態に関するライト動作を説明するための概念図。 実施形態に関するライト動作を説明するためのフローチャート。
以下図面を参照して、実施形態を説明する。
[データ記憶装置の構成]
図1は、実施形態のデータ記憶装置の構成を示すブロック図である。
図1に示すように、実施形態のデータ記憶装置はSSD(solid state drive)であり、SSDコントローラ10と、NAND型フラッシュメモリ(フラッシュメモリ)20と、DRAM(dynamic random access memory)からなるバッファメモリ21とを有する。
フラッシュメモリ20は、SSDのデータ記憶媒体であり、複数のフラッシュメモリチップから構成されている。本実施形態のSSDは、便宜的に4チャネルCH0〜CH3のマルチチャネル方式であり、各チャネルCH0〜CH3のそれぞれに対応するフラッシュメモリ201〜204を有する。
SSDコントローラ10は、フラッシュメモリコントローラ11と、バッファマネージャモジュール12と、ホストインターフェースコントローラ13と、サブシステムモジュール14とを有する。
フラッシュメモリコントローラ11は、チャネルCH0〜CH3毎にフラッシュメモリ201〜204のリード/ライト動作の制御及びデータ転送制御を実行する(図2を参照)。バッファマネージャモジュール12は、バッファメモリ21を制御し、バッファメモリとのデータ転送を制御する。ホストインターフェースコントローラ13は、ホストインターフェース15を介して、ホストシステム30とSSDとのデータやコマンドの転送を制御する。ホストシステム30は、例えばパーソナルコンピュータや各種のデジタル機器のCPU等である。
サブシステムモジュール14は、マイクロプロセッサ(MPU)から構成されており、SSDコントローラ10の全体的制御を実行する。サブシステムモジュール14は、例えばホストシステム30からのコマンドに応じて、データのライト動作及びリード動作に必要なコマンドをフラッシュメモリコントローラ11に出力する。
(フラッシュメモリコントローラの構成)
図2に示すように、フラッシュメモリコントローラ11は、データ転送コントローラ(IOPSアクセラレーション・エンジン・モジュールとも呼ばれる)100と、チャネルCH0〜CH3毎のメモリコントローラ(以下、便宜的にNANDコントローラと表記する)101〜104と、チャネル間パリティコントローラ(以下、ECCコントローラと表記する)110とを含む。
データ転送コントローラ100は、NANDコントローラ101〜104及びECCコントローラ110に対するデータ転送制御及び動作制御を実行する。NANDコントローラ101〜104はそれぞれ、チャネルCH0〜CH3毎のフラッシュメモリ201〜204に対するリード/ライトアクセス制御及びデータ転送制御を実行する。
ECCコントローラ110は、後述するように、チャネル間で誤り訂正処理(ECC:error checking and correcting)が可能な誤り訂正符号(error correcting code)データを生成する。誤り訂正符号データ(以下、ECCデータ)は、例えばパリティデータであり、ECCコントローラ110によるチャネル間の誤り訂正処理に使用される。
[フラッシュメモリコントローラの動作]
まず、マルチチャネル方式のSSDにおける通常のライト動作を説明する。
マルチチャネル方式のSSDでは、SSDコントローラ10は、ホストシステム30から発行されるライトコマンドに応じて、バッファメモリ21に格納される書き込み対象のデータをフラッシュメモリコントローラ11に転送する。
フラッシュメモリコントローラ11では、図2に示すように、データ転送コントローラ100は、チャネルCH0〜CH3毎に書き込み対象として有効なデータが準備されると、NANDコントローラ101〜104に対してデータ転送制御信号120を出力し、ライト動作のためのデータ転送を指示する。NANDコントローラ101〜104は、準備されたデータをフラッシュメモリ201〜204に転送する。これにより、チャネルCH0〜CH3毎のフラッシュメモリ201〜204に対して、準備されたデータが並列に書き込まれる。
ここで、本実施形態では、チャネルCH0〜CH2のNANDコントローラ101〜103には、バッファマネージャモジュール12から転送されるデータが有効なデータとして準備される。このデータは、ホストシステム30から転送されて、バッファメモリ21に格納されるユーザデータである。
一方、チャネルCH3のNANDコントローラ104には、有効なデータとして、ECCコントローラ110により生成されたECCデータ(パリティデータ)が準備される。従って、他のフラッシュメモリ201〜203にデータが並列に書き込まれるときに、チャネルCH3のフラッシュメモリ204にはECCデータが書き込まれる。
ECCコントローラ110は、チャネルCH0〜CH2のNANDコントローラ101〜103に準備された各ユーザデータを使用して、チャネル間の誤り訂正処理に使用されるECCデータを生成し、チャネルCH3のNANDコントローラ104に転送する。
次に、図3及び図4のフローチャートを参照して、本実施形態のライト動作及びECCデータ生成処理を説明する。
本実施形態では、フラッシュコマンドの発行時におけるライト動作の場合について説明する。なお、図4に示すように、通常のライトコマンドの発行時には、前述の通常のライト動作が実行される(ブロック405)。
フラッシュコマンドは、例えば電源オフ時に、フラッシュメモリ201〜204に書き込まれていないデータを保護するために、サブシステムモジュール14のMPUから発行される(ブロック400のYES)。フラッシュメモリコントローラ11は、フラッシュコマンドが発行されると、書き込み対象として有効なデータが準備されていないチャネルが存在する場合でも、強制的に各チャネルに対してライト動作を実行させる。
フラッシュメモリコントローラ11では、データ転送コントローラ100は、チャネルCH0〜CH2の中で、書き込み対象として有効なデータが準備されていないチャネル(ここではCH2とする)を検出する(ブロック401)。なお、前述したように、チャネルCH3は、有効なデータとしてECCデータが割り当てられるチャネルである。
ここで、図3は、フラッシュコマンドの発行時におけるライト動作をステップ(STEP1,STEP2,STEP3)毎に示す概念図である。即ち、ステップSTEP1において、チャネルCH0,CH1のNANDコントローラ101,102には、有効なデータとしてユーザデータ301,302がそれぞれ準備されている。一方、チャネルCH2のNANDコントローラ103には、ユーザデータが準備されておらず、書き込み対象として有効なデータがない状態である。
ECCコントローラ110は、フラッシュコマンドの発行に応じて、ECCデータを生成し、チャネルCH3のNANDコントローラ104に転送する処理を実行する(ステップSTEP2)。このとき、ECCコントローラ110は、データ転送コントローラ100からチャネルCH0〜CH2のデータの準備が完了されたことを通知される。これにより、ECCコントローラ110は、フラッシュメモリ201〜204に対するライト動作が行なわれる前に、ECCデータを生成してチャネルCH3のNANDコントローラ104に転送できる。
データ転送コントローラ100は、ユーザデータが準備されないチャネルCH2のNANDコントローラ103に対して、初期値データを準備する(ブロック402)。この初期値データとは、消去処理直後のフラッシュメモリの記憶状態であり、通常ではオール1の記憶値である。SSDでは、フラッシュメモリにデータを書き込む前に、消去処理が実行される。従って、ライト動作の直前では、フラッシュメモリは初期値(オール1)が記憶されている状態となる。
ECCコントローラ110は、チャネルCH0〜CH2において、書き込み対象のユーザデータ及び初期値データの準備が完了すると、これらのデータを使用してECCデータを生成する(ブロック403)。即ち、図3に示すように、ECCコントローラ110は、チャネルCH0,CH1の有効なデータであるユーザデータ301,302及び初期値データ303を使用して、ECCデータを生成してチャネルCH3のNANDコントローラ104に転送する(ステップSTEP2)。
データ転送コントローラ100は、チャネルCH0,CH1,CH3のNANDコントローラ101,102,104に対してデータ転送制御信号120を出力し、ライト動作のためのデータ転送を指示する(ブロック404)。
即ち、図3に示すように、NANDコントローラ101,102,104は、準備されたデータ301,302及びECCデータをフラッシュメモリ201,202,204に転送する(ステップSTEP3)。これにより、チャネルCH0,CH1,CH3のフラッシュメモリ201,202,204に対して、準備されたデータ301,302及びECCデータが並列に書き込まれる。
ここで、図3に示すように、チャネルCH2には書き込み対象として有効なデータは準備されていないため、当該チャネルCH2のフラッシュメモリ203には、ライト動作は実行されない。即ち、チャネルCH2のフラッシュメモリ203は、消去処理直後の記憶状態、即ち初期値データが記憶されている状態である。
ECCコントローラ110は、リード動作によりチャネルCH0〜CH3のフラッシュメモリ201〜204からデータが読み出されたときに、チャネルCH3のフラッシュメモリ204に格納されているECCデータを使用してチャネル間の誤り訂正処理を実行することができる。
以上のように本実施形態によれば、マルチチャネル方式のSSDにおいて、例えばフラッシュコマンドの発行時に、書き込み対象の有効なデータ(ユーザデータ)が準備されていないチャネルが存在する場合でも、当該チャネルに対していわば補間データとして初期値データを準備する。これにより、ECCコントローラ110は、各チャネルで準備された有効なデータと初期値データを使用して、チャネル間の誤り訂正処理に有効なECCデータを生成することができる。
更に、本実施形態では、各チャネルのフラッシュメモリにデータを並列に書き込む場合に、書き込み対象の有効なデータが準備されていないチャネル(CH2)に対してはライト動作を実行する必要がない。即ち、当該チャネル(CH2)に準備されているデータは初期値データであるため、フラッシュメモリ(203)に対するライトアクセスは不要となる。従って、マルチチャネル方式のライト動作において、当該チャネル(CH2)のライト動作を省略できるため、結果としてライト動作の速度を高速化を実現することができる。また、フラッシュメモリに対するライト回数を削減できるため、フラッシュメモリの寿命も延命できる効果もある。
即ち、補間データとして初期値データ以外の任意のデータを準備した場合、チャネル間の誤り訂正処理に有効なECCデータを生成するには、当該任意のデータをチャネル(CH2)のフラッシュメモリ(203)に書き込むことが必要となる。本実施形態では、補間データとして、フラッシュメモリ(203)に書き込む必要がない初期値データを使用するため、ライト動作を省略できる。換言すれば、初期値データは、ライト動作を実行せずに、そのフラッシュメモリから読み出すことができるデータである。
要するに、補間データとして初期値データを使用することにより、ライトアクセス速度に関係するライト処理時間を削減し、かつフラッシュメモリの寿命に関係するライト回数の削減を実現できるため、SSDのライト処理効率の向上を図ることができる。
なお、本実施形態において、初期値データは、データ転送コントローラ100により準備されるが、ECCコントローラ110により予め固定データとして用意されている構成でも良い。この場合には、ECCコントローラ110は、データ転送コントローラ100からデータが準備されていないチャネル(CH2)の通知に応じて、当該チャネル(CH2)の補間データとして予め用意された初期値データを使用してECCデータを生成する。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10…SSDコントローラ、11…フラッシュメモリコントローラ、
12…バッファマネージャモジュール、13…ホストインターフェースコントローラ、
14…サブシステムモジュール、15…ホストインターフェース、
20,201〜204…NAND型フラッシュメモリ、21…バッファメモリ(DRAM)、
30…ホストシステム、100…データ転送コントローラ、
101〜104…メモリコントローラ(NANDコントローラ)、
110…チャネル間パリティコントローラ(ECCコントローラ)。

Claims (10)

  1. 複数チャネルの各不揮発性メモリにデータを並列に書き込むライト制御手段と、
    前記ライト制御手段による書き込み動作の前に、前記各チャネル毎に準備されるデータを使用して誤り訂正符号データを生成する誤り訂正制御手段と、
    不揮発性メモリの書き込み対象のデータが準備されないチャネルに対して、当該不揮発性メモリの初期値データを前記誤り訂正制御手段の生成処理に使用するデータとして準備するデータ制御手段と
    を具備するデータ記憶装置。
  2. 前記データ制御手段は、
    前記初期値データとして、前記不揮発性メモリに対する消去処理後の記憶値データを使用する請求項1に記載のデータ記憶装置。
  3. 前記複数チャネルの中で前記誤り訂正符号データが書き込まれる不揮発性メモリのチャネルが設定されており、
    前記ライト制御手段は、
    前記書き込み対象のデータが準備されないチャネルを除く各チャネルの不揮発性メモリに対して、前記書き込み対象のデータ及び前記誤り訂正符号データを並列に書き込むように構成されている請求項1または請求項2のいずれか1項に記載のデータ記憶装置。
  4. 前記データ制御手段は、
    前記ライト制御手段がフラッシュコマンドに応じたライト制御を実行するときに、前記初期値データを準備する処理を実行する請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のデータ記憶装置。
  5. 前記データ制御手段は、
    前記誤り訂正制御手段に対して、前記誤り訂正符号データの生成に必要なデータとして前記書き込み対象のデータ及び前記初期値データの準備が完了したことを通知する手段を含む請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のデータ記憶装置。
  6. 複数チャネルの不揮発性メモリを有するデータ記憶装置に適用するメモリ制御装置であって、
    前記複数チャネルの各不揮発性メモリにデータを並列に書き込むライト制御手段と、
    前記ライト制御手段による書き込み動作の前に、前記各チャネル毎に準備されるデータを使用して誤り訂正符号データを生成する誤り訂正制御手段と、
    前記ライト制御手段に対して不揮発性メモリの書き込み対象のデータをチャネル毎に準備し、当該書き込み対象のデータを準備できないチャネルに対して不揮発性メモリの初期値データを準備するデータ制御手段と
    を具備するメモリ制御装置。
  7. 前記データ制御手段は、
    前記初期値データとして、前記不揮発性メモリに対する消去処理後の記憶値データを使用する請求項6に記載のメモリ制御装置。
  8. 前記複数チャネルの中で前記誤り訂正符号データが書き込まれる不揮発性メモリのチャネルが設定されており、
    前記ライト制御手段は、
    前記書き込み対象のデータが準備されないチャネルを除く各チャネルの不揮発性メモリに対して、前記書き込み対象のデータ及び前記誤り訂正符号データを並列に書き込むように構成されている請求項6または請求項7のいずれか1項に記載のメモリ制御装置。
  9. 前記データ制御手段は、
    前記ライト制御手段がフラッシュコマンドに応じたライト制御を実行するときに、前記初期値データを準備する処理を実行する請求項6から請求項8のいずれか1項に記載のメモリ制御装置。
  10. 複数チャネルの不揮発性メモリを有するデータ記憶装置に適用するメモリ制御方法であって、
    複数チャネルの各不揮発性メモリにデータを並列に書き込むために、前記各チャネル毎に書き込み対象のデータを準備し、
    前記書き込み対象のデータが準備されないチャネルに対して、当該不揮発性メモリの初期値データを準備し、
    前記各チャネル毎に準備される書き込み対象のデータ及び前記初期値データを使用して誤り訂正符号データを生成するメモリ制御方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012118784A (ja) * 2010-12-01 2012-06-21 Toshiba Corp データ記憶装置、メモリ制御装置及びメモリ制御方法
WO2014039297A3 (en) * 2012-09-06 2014-06-19 Advanced Micro Devices, Inc. Channel rotating error correction code
CN110457160A (zh) * 2019-07-02 2019-11-15 深圳市金泰克半导体有限公司 一种纠错方法及装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012118784A (ja) * 2010-12-01 2012-06-21 Toshiba Corp データ記憶装置、メモリ制御装置及びメモリ制御方法
US8914592B2 (en) 2010-12-01 2014-12-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Data storage apparatus with nonvolatile memories and method for controlling nonvolatile memories
WO2014039297A3 (en) * 2012-09-06 2014-06-19 Advanced Micro Devices, Inc. Channel rotating error correction code
KR20150042221A (ko) * 2012-09-06 2015-04-20 어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드 채널 순환 오류 정정 코드
US9069698B2 (en) 2012-09-06 2015-06-30 Advanced Micro Devices, Inc. Channel rotating error correction code
KR101668400B1 (ko) 2012-09-06 2016-10-21 어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드 채널 순환 오류 정정 코드
CN110457160A (zh) * 2019-07-02 2019-11-15 深圳市金泰克半导体有限公司 一种纠错方法及装置
CN110457160B (zh) * 2019-07-02 2023-11-17 深圳市金泰克半导体有限公司 一种纠错方法及装置

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