JP2012124392A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】結晶性の井戸層を有し、さらに井戸層の膜厚が制御可能な量子井戸を備えた太陽電池セルの作製を可能にする。
【解決手段】バリア層11と、非晶質の井戸層とからなる、非晶質の井戸層を有する量子井戸を形成し、その後、上記非晶質の井戸層を有する量子井戸をアニールすることで、非晶質の井戸層を結晶化し、結晶性の井戸層を有する量子井戸15を形成する。その際、アニールにより非晶質の井戸層に与えるエネルギー密度を1.26J/mm以上28.8J/mm以下とすることで、結晶性の井戸層14の形成と量子井戸の積層構造の保持とを、ともに実現する。
【選択図】図2(c)

Description

本発明は、太陽電池の製造方法に関する。
近年、量子井戸や量子ドットといった量子閉じ込め構造を太陽電池セル材料として用いる試みが活発になされている。その動機は、一つには、量子閉じ込め構造のバンドギャップが、閉じ込めのサイズによって制御できるという点にある。太陽電池セルは、その光吸収層のバンドギャップ付近のエネルギーをもつ光を最も有効に利用することができる。そのため、バンドギャップを太陽光スペクトルの強度のピーク付近のエネルギーに設定することができれば、高効率な太陽電池セルを実現することが可能となる。
また、量子閉じ込め効果を用いれば、同一物質においても、閉じ込めのサイズによって異なるバンドギャップを実現することができる。そのため、例えば、異なるバンドギャップを有する複数のサブセルからなるタンデム太陽電池を、量子閉じ込め構造を用いて簡便に作製することができると期待されている。
特表平9-511102号
本発明では、量子閉じ込め構造の中でも、量子井戸を用いた太陽電池セルに注目する。太陽電池セル材料として用いる量子井戸に求められる条件としては、井戸層の結晶性が高いことと、井戸層膜厚が制御可能であることの二点が、特に重要である。以下、量子井戸を構成する層のうち、キャリア存在確率が高いほうの層を井戸層、もう一方の、キャリアにとってエネルギー障壁としてはたらく層をバリア層とそれぞれ呼ぶ。
井戸層の結晶性が重要である理由は以下の通りである。一般的に、非晶質物質は、同組成の結晶性物質よりも大きなバンドギャップを有する。そのため、もし、太陽電池セルの井戸層の結晶化が不十分で、井戸層内に非晶質の成分が存在すれば、それら非晶質成分は、結晶性成分に比べて、吸収できる光の波長範囲が狭く、太陽電池セルの光吸収効率を低減させる原因となる。また、井戸層の結晶性が重要であるもう一つの理由としては、一般的に、非晶質物質のキャリア移動度は低いため、太陽電池セルの直列抵抗低減および出力電流増大のためには、キャリアの移動経路である井戸層は結晶性物質であることが望ましいということが挙げられる。
また、井戸層膜厚が制御可能であることが重要である理由は以下の通りである。上述の通り、量子構造のバンドギャップは、閉じ込めのサイズによって決定される。量子井戸の場合には、閉じ込めのサイズは井戸層の膜厚に相当する。従って、井戸層の膜厚の異なる量子井戸は、異なるバンドギャップを有する。もし、太陽電池セル中の複数の井戸層が、互いに異なるバンドギャップを有しているとすると、井戸層間のキャリア移動のエネルギー障壁が発生することになり、太陽電池セルの出力電流低減をもたらす。また、一般的に、バリア層の膜厚が薄く、隣り合う井戸層の波動関数の重なりが大きい場合には、バンドギャップ内部にミニバンドが形成されることが知られている。この性質を太陽電池セルに応用して、ミニバンドをキャリア移動経路として用いることにより、出力電流を増大させることが可能であると期待されている。その際、井戸層およびバリア層の膜厚が、量子井戸領域全体にわたって均一であることが、ミニバンド形成には必要である。従って、井戸層の膜厚制御性は、ミニバンド形成のためにも重要である。
以上のように、量子井戸を有する太陽電池セルにおいては、量子井戸の井戸層の結晶性と、井戸層膜厚の制御性とが重要である。量子井戸を有する太陽電池セルの製造方法としては、例えば、CVD法により井戸層とバリア層とを交互に成膜するという方法が、特許文献1に開示されている。一方で、結晶性の井戸層を形成するには、成膜法の中でも、エピタキシー法を用いる手法が考えられるが、複雑なプロセス手法であり現実的ではない。
そこで、本願に先立って本発明者らは、CVD法などの簡便な成膜法により、非晶質性の井戸層を有する量子井戸を形成し、その後、熱アニールを加えることにより、井戸層を結晶化するという方法を検討した。しかし、この方法には、以下に示すように、熱アニールの間に、量子井戸の構成元素が熱拡散し、その結果、熱アニール前の積層構造が保持されず、井戸層の膜厚制御が不可能であるという課題がある。
図1(a)および(b)は、Siを井戸層、SiOをバリア層とする量子井戸の、熱アニール前後の断面透過電子顕微鏡写真である。図1(a)は、CVD法にて成膜された直後の、アニール前の量子井戸の写真である。SiO層1と非晶質Si層2とが交互に積層された構造であることが確認できる。図1(b)は、図1(a)に示した量子井戸に対して、窒素雰囲気のもと、1100℃にて8分間の熱アニールを加えた結果である。図1(b)に示した試料は、Siの結晶化はされているものの、上述のように、構成元素の熱拡散の結果、積層構造が崩れ、結晶性Si3の量子ドットがSiO層1の内部に存在した状態となっている。
以上より、量子井戸を有する太陽電池セルの製造方法として、量子井戸の井戸層の結晶化と、量子井戸の積層構造の保持とを、ともに実現する方法は、これまではなかった。本発明は、かかる事情を鑑みてなされたものであり、結晶性の井戸層を有し、さらに井戸層の膜厚が制御可能な量子井戸を備えた太陽電池セルを実現することを目的とする。本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものを簡単に説明すれば、次のとおりである。すなわち、第1のバリア層を形成する第1の工程と、第2のバリア層を形成する第2の工程と、第1のバリア層と第2のバリア層の間に設けられ、Siを含む第1の井戸層を形成する第3の工程と、第1の井戸層に1.26J/mm以上28.8J/mm以下のエネルギー密度を与える第4の工程と、を有することを特徴とする太陽電池の製造方法である。
また、第1のバリア層と、第2のバリア層と、第1の井戸層とからなる量子井戸を有する太陽電池の製造方法において、第1のバリア層を形成する第1の工程と、第2のバリア層を形成する第2の工程と、第1のバリア層と第2のバリア層の間に設けられ、Siを含む第1の井戸層を形成する第3の工程と、量子井戸に1.26J/mm以上28.8J/mm以下のエネルギー密度を与える第4の工程と、を有することを特徴とする太陽電池の製造方法である。
本発明によれば、結晶性の井戸層を有し、さらに井戸層の膜厚が制御可能な量子井戸を備えた太陽電池セルを作製することができる。
成膜法により形成された、アニール前の量子井戸の断面透過電子顕微鏡写真の一例である。 成膜法により形成された量子井戸に対して、熱アニールを行った結果の試料の断面透過電子顕微鏡写真の一例である。 本発明の実施例1に係る太陽電池の製造方法を示す第1の断面図の一例である。 本発明の実施例1に係る太陽電池の製造方法を示す第2の断面図の一例である。 本発明の実施例1に係る太陽電池の製造方法を示す第3の断面図の一例である。 成膜法により形成された量子井戸に対して、レーザーアニールを行った結果の試料の断面透過電子顕微鏡写真の一例である。 成膜法により形成された量子井戸の、アニール前、熱アニール後、およびレーザーアニール後の試料のX線反射率スペクトルの一例である。 成膜法により形成された量子井戸に対して、レーザーアニールを行った結果の試料の、X線回折スペクトルにおけるSi(111)結晶の回折ピークの積分強度の、レーザー照射時間依存性の一例である。 本発明の実施例1の別の実施形態に係る太陽電池の製造方法を示す第1の断面図の一例である。 本発明の実施例1の別の実施形態に係る太陽電池の製造方法を示す第2の断面図の一例である。 本発明の実施例1の別の実施形態に係る太陽電池の製造方法を示す第3の断面図の一例である。 本発明の実施例1の別の実施形態に係る太陽電池の製造方法を示す第4の断面図の一例である。 本発明の実施例1の別の実施形態に係る太陽電池の製造方法を示す第5の断面図の一例である。 本発明の実施例1の別の実施形態に係る太陽電池の製造方法を示す第6の断面図の一例である。 本発明の実施例2に係る太陽電池の製造方法を示す第1の断面図の一例である。 本発明の実施例2に係る太陽電池の製造方法を示す第2の断面図の一例である。 本発明の実施例2に係る太陽電池の製造方法を示す第3の断面図の一例である。 本発明の実施例3に係る太陽電池の製造方法を示す第1の断面図の一例である。 本発明の実施例3に係る太陽電池の製造方法を示す第2の断面図の一例である。 本発明の実施例4に係る太陽電池の製造方法を示す第1の断面図の一例である。 本発明の実施例4に係る太陽電池の製造方法を示す第2の断面図の一例である。 本発明の実施例4に係る太陽電池の製造方法を示す第3の断面図の一例である。
図2(a)〜図2(c)は、本発明の実施例1に係る太陽電池セルの製造工程の概略である。一般的に、太陽電池セルは、同種または異種半導体のpn接合、pin接合、あるいは金属と半導体とのショットキー接合から構成される。本実施例1では、量子井戸のi層を含むpin接合から構成される太陽電池セルを例にとるが、本実施例1の方法は、上記のいかなる種類の太陽電池セルにも適用でき、また、太陽電池セルの接合を構成するいかなる半導体層にも適用できる。
本実施例1においては、まず、pin接合のp層21を形成する。p層21は、基板そのものでもよいし、基板に対するイオン注入、気相拡散法、固相拡散層などの不純物拡散法により形成してもよい。また、基板上に、CVD法、スパッタ法、蒸着法などの成膜法により形成してもよい。その後、バリア層11と、非晶質性の井戸層12とからなる、非晶質性の井戸層を有する量子井戸13を形成する(図2(a))。非晶質性の井戸層12の形成は、CVD法、スパッタ法、蒸着法などの成膜法により行う。必要に応じて、非晶質性の井戸層12を、不純物添加された半導体により形成してもよい。井戸層12の材料はSiとする。バリア層11の形成は、非晶質性の井戸層12と同様の成膜法でもよいし、さらに、上記バリア層11の構成物質が、非晶質性の井戸層12の構成物質の酸化物あるいは窒化物などの化合物である場合には、非晶質性の井戸層12の酸化、窒化などにより行うこともできる。バリア層11の材料は、SiO、SiN(窒化シリコン)、SiC(炭化シリコン)など、上記井戸層12の材料であるSiに対してバリア層となる材料の中から選択されるものとする。
非晶質性の井戸層を有する量子井戸13を形成した後に、アニールにより、非晶質性の井戸層12を結晶化して、結晶性の井戸層14を有する量子井戸15を形成する(図2(b))。上記アニールは、非晶質性の井戸層12へ与えるエネルギー密度が、後述する根拠に基づき、1.26J/mm以上28.8J/mm以下であることを特徴とし、例えばレーザーアニールに代表される、高温短時間処理の可能なアニール方法により行う。上記アニールの際、バリア層11にもエネルギーが与えられてもよい。バリア層11にエネルギーが与えられる効果としては、バリア層11の膜質が改善される結果、量子井戸のバンドギャップの値が、バリア層中のリーク電流により低減するのを抑制することができるということが挙げられる。
非晶質性の井戸層12の結晶化の後、n層22を形成することで、pin接合が構成される(図2(c))。n層22の形成は、CVD法、スパッタ法、蒸着法などの成膜法により行う。なお、p層21とn層22との形成の順序は、本実施例1の場合の逆でもよい。
本実施例1において、本発明の効果を得るためには、例えば、非晶質性の井戸層12が、膜厚2nmの非晶質Si、バリア層11が、膜厚2nmのSiOである、非晶質性の井戸層を有する量子井戸13に対して、波長10.64μmの炭酸ガスCWレーザーを、パワー密度0.42kW/mm、照射時間3ms以上5ms以下の条件のもとで照射することでレーザーアニールを行えばよい。上記条件のレーザーアニールを加えた結果の試料の断面透過電子顕微鏡写真を図3に示す。
これを、図1(a)に示したアニール前の写真、および図1(b)に示した熱アニール後の写真と比較すると、レーザーアニール後の試料は、SiO層1と結晶性Si層3とが交互に積層された構造であることが確認でき、アニール前の、SiO層1と非晶質Si層2との積層構造が保持されていることがわかる。
量子井戸の積層構造の保持という点について、上述の断面透過電子顕微鏡写真に加えて、X線反射率スペクトルによる評価を行った。その結果を図4に示す。図4(a)はアニール前、図4(b)は熱アニール後、図4(c)はレーザーアニール後のX線反射率スペクトルである。
図4(a)からわかるように、量子井戸のX線反射率スペクトルは、2種類の周期の干渉ピークからなる。間隔の短いほうの周期の干渉ピークは、量子井戸全体の膜厚を反映しており、一方、間隔の長いほうの周期の干渉ピークは、井戸層又はバリア層の一層の膜厚を反映している。
図4(b)によれば、熱アニール後の量子井戸のX線反射率スペクトルには、間隔の長い周期の干渉ピークはみられないものの、間隔の短い周期の干渉ピークはみられる。これらの結果は、それぞれ、熱アニールにより量子井戸の積層構造が崩れたこと、および、積層構造が崩れた後においても、全膜厚がほぼ一定に保たれていることを、それぞれ反映している。
最後に、図4(c)によれば、レーザーアニール後の量子井戸のX線反射率スペクトルには、間隔の長い周期、および間隔の短い周期の干渉ピークがいずれもみられる。このことは、レーザーアニール後においても、量子井戸の積層構造が保持されているという、上述の結論を裏付けるものである。以上述べたように、図1、図3、および図4から、レーザーアニール後の量子井戸において、積層構造が保持されていることが示された。
次に、レーザーアニールによる井戸層の結晶化について述べる。図5は、上述の、井戸層がSi、バリア層がSiOである量子井戸試料の、レーザーアニール後のX線回折スペクトルを測定し、Si(111)結晶の回折ピークの積分強度を、レーザー照射時間の関数としてプロットしたものである。図5より、照射時間が3ms以下の場合と、3ms以上の場合との間で、ピーク積分強度が大きく異なるということがわかる。この結果は、照射時間3ms以下のレーザーアニールでは、Si層の結晶化は起こらず、照射時間3ms以上が、上記条件のレーザーアニールによるSi層の結晶化に必要であるということを示している。なお、レーザーアニール後の量子井戸の積層構造が保持されていることは、図5に示したすべての照射時間について確認されている。なお、上記レーザー照射時間を5ms以下としているのは、Siの溶融を回避するためである。
ここで、上述のアニールのエネルギー密度の範囲が1.26J/mm以上28.8J/mm以下であることの根拠について説明する。下限の1.26J/mmという数値は、上述のX線回折スペクトルの実験結果、すなわち、パワー密度0.42kW/mmのレーザーによるアニールを行ったところ、照射時間3ms以上が、Si層の結晶化に必要であるという実験結果に基づいて設定されたものである。
一方、上限の28.8J/mmという数値は、上述の、量子井戸に1100℃にて8分間の熱アニールを加えたところ、図1(b)に示したように、量子井戸の積層構造が崩れたという実験結果に基づいて設定されたものである。熱アニールにより試料に加えられるエネルギー密度は、以下のように黒体輻射の理論により見積もった。すなわち、温度Tにおける黒体輻射のパワー密度は、プランク分布I(λ,T)=(2hc/λ)/(exp(hc/λkT)−1)で表される。ここでλは波長、hはプランク定数、cは真空中の光速度、kはボルツマン定数である。上記の1100℃の熱アニールのパワー密度は、I(λ,1100℃)をすべてのλの値について積分したものであり、0.06W/mmに等しい。これより、1100℃での8分間の熱アニールにより加えられるエネルギー密度は28.8J/mmとなる。以上が、アニールのエネルギー密度の範囲が1.26J/mm以上28.8J/mm以下であることの算出根拠である。
本実施例1によれば、量子井戸を光吸収層として有する太陽電池セルにおいて、量子井戸の井戸層の結晶化と、積層構造の保持、従って井戸層の膜厚制御とを、ともに実現することが可能である。この結果として得られる効果としては、上述のように、光吸収層中の非晶質成分を結晶化することによる光吸収効率の増大とキャリア移動度の増大、および、光吸収層中のバンドギャップばらつき低減によるエネルギー障壁発生防止とミニバンド形成確率増大が挙げられる。
図6は、本実施例1の別の実施形態を示す図である。前記の実施形態においては、図2に示される通り、結晶性の井戸層を有する量子井戸15に対して、図2の縦方向に、p層21およびn層22が形成される。これに対して、本実施形態においては、図6に示される通り、結晶性の井戸層を有する量子井戸15に対して、図6の横方向にp層側貫通電極31およびn層側貫通電極32が形成されることを特徴とする。本実施形態の構造の利点は、結晶性の井戸層14での光吸収の結果として発生したキャリアが、バリア層11を通過することなく、p層側貫通電極31あるいはn層側貫通電極32に到達することができるという点にある。
本実施形態おいては、まず、図6(a)に示すように、前記の実施形態と同様の方法により、非晶質の井戸層を有する量子井戸13を形成する。その後、図6(b)に示すように、やはり前記の実施形態と同様の方法により、非晶質の井戸層12を結晶化して、結晶性の井戸層14を有する量子井戸15を形成する。
次に、図6(c)に示すように、貫通孔30を形成する。貫通孔30の形成は、レーザー、フォトリソグラフィー、エッチングなどの方法により行う。貫通孔30の深さは任意であるが、上述の、結晶性の井戸層14での光吸収の結果として発生したキャリアが、バリア層11を通過することなく、p層側貫通電極31あるいはn層側貫通電極32に到達することができるという、本実施形態の利点を最大限に活かすためには、貫通孔30は、少なくとも、結晶性の井戸層を有する量子井戸15全体を貫通することが望ましい。なお、貫通孔30の深さを制御するために、所望の箇所に、貫通防止膜を設けてもよい。また、貫通孔形成時に、ばりが発生しないように、貫通孔形成は、真空引きされた空間で行うのが望ましい。
その後、図6(d)に示すように、p層側貫通電極31を形成する。p層側貫通電極31の形成は、スパッタ法、蒸着法、CVD法などの成膜法、あるいは印刷法により行う。p層側貫通電極31の材料としては、金属、あるいは、電気抵抗を低くするために高濃度に不純物添加された半導体を用いる。
次に、図6(e)に示すように、結晶性の井戸層を有する量子井戸15のうち、p層側貫通電極31が形成されていない領域に、貫通孔30を、上記と同様の方法により形成する。その後、図6(f)に示すように、n層側貫通電極32を、上記p層側貫通電極31と同様の方法により形成する。p層側貫通電極31と、n層側貫通電極32とは、その構成物質のフェルミ準位が互いに異なり、電子はp層側貫通電極31へ、正孔はn層側貫通電極32へと、それぞれ自発的に移動するものとする。
本実施形態によれば、前記の実施形態の場合に加えて、以下のさらなる効果が得られる。すなわち、本実施形態には、結晶性の井戸層14で発生したキャリアが、上記結晶性の井戸層14内部を、図6の横方向に移動することで、p層側貫通電極31あるいはn層側貫通電極32に到達するという特徴がある。そのために、本発明の効果である、アニール後においても量子井戸の積層構造が保持されるということが、キャリア移動の高効率化のために非常に重要となる。なぜなら、熱アニール後の試料のように、量子井戸の積層構造が崩れてしまうと、本実施形態の構造の太陽電池セルにおいては、キャリアの横方向移動の際に、キャリアがバリア層11を通過する必要があり、出力電流が著しく低減するからである。このように、本実施形態においては、量子井戸の積層構造が保持されることにより、結晶性の井戸層14内部の、キャリアの横方向移動の高効率化という、前記の実施形態においてはなかった効果をももたらす。
図7は、本発明の実施例2に係る太陽電池セルの製造工程の概略である。実施例1との違いを述べると、実施例1においては、量子井戸を光吸収層として用いているのに対して、本実施例2においては、量子井戸を、タンデム太陽電池のトンネルダイオードの構成材料として用いている。
本実施例2においては、まず、図7(a)に示すように、タンデム太陽電池を構成する第1のサブセル41、非晶質のp型の井戸層16とバリア層11とからなる量子井戸、および、非晶質のn型の井戸層17とバリア層11とからなる量子井戸を、順次形成する。第1のサブセルのうち、非晶質のp型の井戸層16とバリア層11とからなる量子井戸に近いほうに、第1のサブセルのp層が存在し、第2のサブセル42のうち、非晶質のn型の井戸層17とバリア層11とからなる量子井戸に近いほうに、第2のサブセルのn層が存在する。
第1のサブセルの形成は、各種太陽電池の代表的な製造方法により行う。非晶質のp型の井戸層16とバリア層11とからなる量子井戸、および非晶質のn型の井戸層17とバリア層11とからなる量子井戸の形成は、実施例1の、非晶質の井戸層を有する量子井戸13の形成方法において、非晶質の井戸層12の形成を、非晶質のp型の井戸層16、あるいは、非晶質のn型の井戸層17の形成に置き換えることによって行うことができる。あるいは、不純物添加されていない井戸層を有する量子井戸の形成後に、イオン注入、気相拡散法、固相拡散法などの方法により、井戸層に不純物添加をすることで行ってもよい。
次に、図7(b)に示すように、実施例1と同様の方法により、非晶質のp型の井戸層16とバリア層11とからなる量子井戸、および、非晶質のn型の井戸層17とバリア層11とからなる量子井戸に対してアニールを行い、非晶質のp型の井戸層16と非晶質のn型の井戸層17とを結晶化して、結晶性のp型の井戸層18および結晶性のn型の井戸層19とを形成する。結晶性のp型の井戸層18とバリア層11とからなる量子井戸と、結晶性のn型の井戸層19とバリア層11とからなる量子井戸とが、トンネルダイオード20を構成する。このアニールにより、結晶性のp型の井戸層18および結晶性のn型の井戸層19に添加されている不純物の活性化を同時に行ってもよい。最後に、図7(c)に示すように、第2のサブセル42を形成することで、タンデム太陽電池が構成される。
また、本実施例では、第1のサブセル41と第2のサブセル42の形成において、熱伝導度の高い方のサブセルを先に形成し、アニール後、もう一方のサブセルを形成することも特徴とする。これにより、アニールの際に、量子井戸に対して効率的にエネルギーが注入されるようになる。
本実施例2によれば、トンネルダイオード20を構成する量子井戸において、井戸層の結晶化と、井戸層の膜厚制御とを、ともに実現することができる。この結果、実施例1と同様の理由により、トンネルダイオード20中の非晶質成分を結晶化することによるキャリア移動度の増大、および、トンネルダイオード20中のバンドギャップばらつき低減によるエネルギー障壁発生防止とミニバンド形成確率増大を実現することができる。
図8は、本発明の実施例3に係る太陽電池セルの製造工程の概略である。実施例1との違いを述べると、実施例1においては、量子井戸を光吸収層として用いているのに対して、本実施例3においては、量子井戸を波長変換層として用いている。
本実施例3においては、まず、図8(a)に示すように、p層21およびn層22から構成される太陽電池セルと、非晶質の井戸層を有する量子井戸13とを順次形成する。太陽電池セルの形成は、各種太陽電池の代表的な製造方法により行う。非晶質の井戸層を有する量子井戸13の形成は、実施例1と同様の方法により行う。その後、図8(b)に示すように、実施例1と同様の方法により、非晶質の井戸層を有する量子井戸13に対してアニールを行い、非晶質の井戸層12を結晶化することにより、結晶性の井戸層14を有する量子井戸15を形成する。
本実施例3の太陽電池セルにおいて、光は、結晶性の井戸層を有する量子井戸15の側から入射しても、太陽電池セルの側から入射してもよい。光が、結晶性の井戸層を有する量子井戸15の側から入射する場合には、上記結晶性の井戸層を有する量子井戸15は、短波長光を長波長光へと変換する波長変換層、いわゆるダウン・コンバータであることが望ましい。一方、光が太陽電池セルの側から入射する場合には、結晶性の井戸層を有する量子井戸15は、長波長光を短波長光へと変換する波長変換層、いわゆるアップ・コンバータであることが望ましい。なお、ダウン・コンバータとアップ・コンバータとをともに備えた太陽電池セルの製造方法にも、本実施例3の方法は適用できる。
本実施例3によれば、波長変換層を構成する量子井戸において、井戸層の結晶化と、井戸層の膜厚制御とを、ともに実現することができる。この結果として得られる効果は以下の通りである。まず、井戸層の結晶化により、井戸層内の非発光性欠陥の数を低減することができるため、波長変換層の発光効率が増大する。また、井戸層の膜厚制御による、波長変換層中のバンドギャップばらつき低減の結果として、波長変換層の吸収波長および発光波長のばらつきがいずれも低減される。さらに、波長変換層が、キャリア移動経路内に存在する場合には、実施例1と同様の理由により、波長変換層中の非晶質成分を結晶化することによるキャリア移動度の増大を実現することができる。
図9は、本発明の実施例4に係る太陽電池セルの製造工程の概略である。実施例1との違いを述べると、実施例1においては、量子井戸を光吸収層として用いているのに対して、本実施例4においては、量子井戸を、ホットキャリア太陽電池のエネルギー選択層として用いている。
ホットキャリア太陽電池とは、光吸収層のバンドギャップに比べて大きなエネルギーをもつ光の吸収により発生するホットキャリアを、エネルギー緩和が起こる前に電極へと収集することにより、通常の太陽電池よりも高い出力電圧を実現するという太陽電池セルである。ホットキャリア太陽電池においては、光吸収層と電極との間に、ある一定のエネルギーをもつキャリアのみを選択的に通過させる作用をもつ、エネルギー選択層と呼ばれる層が設けられる。現実には、単一のエネルギーのキャリアのみを通過させるエネルギー選択層は存在せず、エネルギー選択層を通過するキャリアはエネルギー分布をもつ。ホットキャリア太陽電池においては、エネルギー選択層を通過するキャリアのエネルギー分布が狭いことが、太陽電池の高効率化のためには望ましいということが知られている。エネルギー選択層を実現するために、量子井戸などの量子閉じ込め構造の示す共鳴トンネル現象を利用しようという試みが、近年活発になされている。本実施例4は、そのような、量子井戸のエネルギー選択層への適用に関するものである。
本実施例4においては、まず、図9(a)に示すように、p層21、n層22、および非晶質の井戸層を有する量子井戸13を順次形成する。p層21およびn層22の形成は、実施例1と同様の方法により行うが、本実施例4においては、p層21およびn層22の材料として、ホットキャリア寿命の長い材料を用いることが望ましい。非晶質の井戸層を有する量子井戸13の形成は、実施例1と同様の方法により行う。
その後、図9(b)に示すように、実施例1と同様の方法により、非晶質の井戸層を有する量子井戸13に対してアニールを行い、非晶質の井戸層12を結晶化することにより、結晶性の井戸層14を有する量子井戸15を形成する。上記結晶性の井戸層を有する量子井戸15が、エネルギー選択層として作用する。最後に、図9(c)に示すように、電極33を形成する。電極33の形成は、太陽電池の場合には、印刷法で行うのが一般的であるが、スパッタ法、蒸着法、CVD法などの成膜法により行ってもよい。本実施例4においては、n層22と電極33との間にエネルギー選択層が形成されるが、同様の方法により、p層21と電極33との間にもエネルギー選択層が形成されることが望ましい。
本実施例4によれば、エネルギー選択層を構成する量子井戸において、井戸層の結晶化と、井戸層の膜厚制御とを、ともに実現することができる。この結果として得られる効果は以下の通りである。まず、実施例1の同様の理由により、エネルギー選択層中の非晶質成分を結晶化することによるキャリア移動度の増大、および、エネルギー選択層中のバンドギャップばらつき低減によるエネルギー障壁発生防止とミニバンド形成確率増大を実現することができる。また、エネルギー選択層中のバンドギャップばらつき低減の結果として、エネルギー選択層を通過するキャリアのエネルギー分布を狭めることができる。これにより、ホットキャリア太陽電池の高効率化を実現することができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
1…SiO、2…非晶質Si、3…結晶Si、11…バリア層、12…非晶質の井戸層、13…非晶質の井戸層を有する量子井戸、14…結晶性の井戸層、15…結晶性の井戸層を有する量子井戸、16…非晶質のp型の井戸層、17…非晶質のn型の井戸層、18…結晶性のp型の井戸層、19…結晶性のn型の井戸層、20…トンネルダイオード、21…p層、22…n層、30…貫通孔、31…p層側貫通電極、32…n層側貫通電極、33…電極、41…第1のサブセル、42…第2のサブセル。

Claims (15)

  1. 第1のバリア層を形成する第1の工程と、
    第2のバリア層を形成する第2の工程と、
    前記第1のバリア層と前記第2のバリア層の間に設けられ、Siを含む第1の井戸層を形成する第3の工程と、
    前記第1の井戸層に1.26J/mm以上28.8J/mm以下のエネルギー密度を与える第4の工程と、を有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  2. 請求項1記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層と接続されるp層を形成する第5の工程と、
    前記第2のバリア層と接続されるn層を形成する第6の工程と、をさらに有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  3. 請求項2記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1の井戸層と前記p層とが互いに接続され、
    前記第1の井戸層と前記n層とが互いに接続されることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  4. 請求項3記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層と、前記第2のバリア層と、前記第1の井戸層とを貫通する貫通孔を形成する第7の工程をさらに有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  5. 請求項1記載の太陽電池の製造方法において、
    第3のバリア層を形成する第8の工程と、
    前記第2のバリア層と前記第3のバリア層の間に設けられる第2の井戸層を形成する第9の工程と、
    前記第1のバリア層と接続される第1のサブセルを形成する第10の工程と、
    前記第3のバリア層と接続される第2のサブセルを形成する第11の工程と、をさらに有し、
    前記第1の井戸層がp型半導体であり、前記第2の井戸層がn型半導体であることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  6. 請求項5記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のサブセルの熱伝導度が前記第2のサブセルの熱伝導度よりも高い場合、
    前記第1のサブセルを形成後、前記第1の井戸層に前記エネルギー密度を与え、その後前記第2のサブセルを形成することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  7. 請求項1記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層と接続されるn層を形成する第12の工程と、
    前記n層と接続されるp層を形成する第13の工程と、
    前記第2のバリア層と接続される電極を形成する第14の工程と、をさらに有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  8. 請求項1記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層又は前記第2のバリア層は、SiO、SiN、SiCの何れか一つからなることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  9. 請求項1記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第4の工程をレーザー照射により行うことを特徴とする太陽電池の製造方法。
  10. 請求項9記載の太陽電池の製造方法において、
    前記レーザー照射のパワー密度が0.42kW/mm以上であることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  11. 請求項9記載の太陽電池の製造方法において、
    前記レーザー照射の時間が3ms以上5ms以下であることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  12. 第1のバリア層と、第2のバリア層と、第1の井戸層とからなる量子井戸を有する太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層を形成する第1の工程と、
    前記第2のバリア層を形成する第2の工程と、
    前記第1のバリア層と前記第2のバリア層の間に設けられ、Siを含む前記第1の井戸層を形成する第3の工程と、
    前記量子井戸に1.26J/mm以上28.8J/mm以下のエネルギー密度を与える第4の工程と、を有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  13. 請求項12記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層と接続されるp層を形成する第5の工程と、
    前記第2のバリア層と接続されるn層を形成する第6の工程と、をさらに有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
  14. 請求項13記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1の井戸層と前記p層とが互いに接続され、
    前記第1の井戸層と前記n層とが互いに接続されることを特徴とする太陽電池の製造方法。
  15. 請求項14記載の太陽電池の製造方法において、
    前記第1のバリア層と、前記第2のバリア層と、前記第1の井戸層とを貫通する貫通孔を形成する第7の工程をさらに有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
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