JP2012184995A - 磁気検出装置 - Google Patents

磁気検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012184995A
JP2012184995A JP2011047446A JP2011047446A JP2012184995A JP 2012184995 A JP2012184995 A JP 2012184995A JP 2011047446 A JP2011047446 A JP 2011047446A JP 2011047446 A JP2011047446 A JP 2011047446A JP 2012184995 A JP2012184995 A JP 2012184995A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection device
magnetic detection
magnetic
magnetoresistive elements
magnetic resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011047446A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoaki Inoue
知晃 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokai Rika Co Ltd
Original Assignee
Tokai Rika Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokai Rika Co Ltd filed Critical Tokai Rika Co Ltd
Priority to JP2011047446A priority Critical patent/JP2012184995A/ja
Publication of JP2012184995A publication Critical patent/JP2012184995A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

【課題】従来の磁気検出装置に比べて、配置による製造精度のばらつきを抑制した磁気検出装置を提供する。
【解決手段】磁気検出装置1は、基板10上に放射状に区分けされた領域のうち少なくとも対向する領域に配置され、第1の方向に長手方向を有する第1の磁気抵抗素子群と、放射状に区分けされた領域のうち、少なくとも対向する領域であって、第1の磁気抵抗素子と隣り合う領域に、第1の方向と直交する第2の方向に長手方向を有する第2の磁気抵抗素子群と、第1の磁気抵抗素子群の磁気抵抗素子及び前記第2の磁気抵抗素子群の磁気抵抗素子を複数組み合わせて、当該組み合わせた複数の磁気抵抗素子を直列に接続したもので抵抗部分を構成し、複数の当該抵抗部分でブリッジ回路を構成する配線部とを有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、製造精度のばらつきを抑制した磁気検出装置に関する。
従来、磁気検出装置を構成する複数の磁気抵抗素子に加わる応力等を原因として、各磁気抵抗素子の抵抗がばらつくことを抑制するため、各磁気抵抗素子を分割配置する磁気検出装置がある(例えば、特許文献1参照)。この磁気検出装置は、基板上に、例えば、ブロック状に分割された領域に、それぞれ複数の磁気抵抗素子群を配置し、分割された領域の周囲に磁気抵抗素子に加わる応力を緩和するための応力緩和用開口を設けて構成される。なお、1つの分割された領域に配置される複数の磁気抵抗素子はそれぞれ同一の感磁方向を有する。この磁気抵抗素子群は、コモンセントロイド配置によりブリッジ回路を構成する。
この磁気検出装置によれば、応力緩和用開口によって外部から加わる応力を分散することができ、磁気抵抗素子に加わる応力のばらつきを抑制することができるとともに、各磁気抵抗素子群を感磁方向に関してコモンセントロイド配置することで、ブリッジ回路を構成する各抵抗ばらつきを抑制することができ、ブリッジ回路から出力される出力電圧のオフセットを減少することができる。
特開2009−25074号公報
しかし、図6に示すように、磁気検出装置の基板は、一般的に半導体ウエハ100から基板分割パターン110に沿って切り出されるが、半導体ウエハ100はその中心から放射状に分布する特性のばらつき(オフセット電圧ばらつき、後述)を有しており、特許文献1に示す磁気検出装置は、各磁気抵抗素子群が分割された領域にコモンセントロイド配置されているものの、図6に示す半導体ウエハ100の中心から放射状に生じる特性のばらつきを抑制するには十分でなく、製造精度のばらつきを必ずしも改善しているとは言えなかった。
従って、本発明の目的は、従来の磁気検出装置に比べて、配置による製造精度のばらつきを抑制した磁気検出装置を提供することにある。
本発明の一態様は、基板上に放射状に区分けされた領域のうち少なくとも対向する領域に配置され、第1の方向に長手方向を有する第1の磁気抵抗素子群と、
前記基板上の放射状に区分けされた領域のうち、少なくとも対向する領域であって、前記第1の磁気抵抗素子と隣り合う領域に、前記第1の方向と異なる第2の方向に長手方向を有する第2の磁気抵抗素子群と、
前記第1の磁気抵抗素子群の磁気抵抗素子及び前記第2の磁気抵抗素子群の磁気抵抗素子を複数組み合わせて、当該組み合わせた複数の磁気抵抗素子を直列に接続したもので抵抗部分を構成し、複数の当該抵抗部分でブリッジ回路を構成する配線部とを有する磁気検出装置。
また、上記磁気検出装置において、前記第2の方向は、前記第1の方向と直交してもよい。
本発明によれば、従来の磁気検出装置に比べて、配置による製造精度のばらつきを抑制することができる。
図1は、本発明の実施の形態に係る磁気検出装置の一例を示す平面図である。 図2は、図1に示す磁気検出装置の等価回路図である。 図3は、本発明と従来の磁気検出装置の出力オフセット電圧ばらつきを示したものである。 図4は、従来の磁気検出装置の一例を示す平面図である。 図5は、従来の磁気検出装置の他の例を示す平面図である。 図6は、半導体基板の領域と、出力オフセット電圧ばらつきとの関係を示した概略図である。 図7(a)及び(b)は、本発明の実施の形態に係る磁気検出装置の他の例を示す平面図である。
(磁気検出装置の構成)
図1は、本発明の実施の形態に係る磁気検出装置の一例を示す平面図である。また、図2は、図1に示す磁気検出装置の等価回路図である。
磁気検出装置1は、半導体ウエハ100(図6)から基板分割パターン110に沿って切り出された、例えば、シリコン等の半導体の基板10上にニッケルコバルト等の強磁性金属又は合金の磁気抵抗素子群を8つ有する。また、基板10と磁気抵抗素子との間には、絶縁膜が形成され、磁気抵抗素子の表面には窒化ケイ素や二酸化ケイ素等の保護膜が設けられる。
各磁気抵抗素子は、磁界の強度が一定の条件下においては、それぞれの長手方向と磁界のなす角度により抵抗値が変化する。つまり、磁気抵抗素子R1−1、R1−2、R4−1及びR4−2は図面横方向、R2−1、R2−2、R3−1及びR3−2は図面縦方向を長手方向とし、磁界の強度が一定の条件下においては、長手方向に印加される電流と磁界のなす角度に応じて抵抗値が変化する。また、磁気抵抗素子R1−1とR1−2、R2−1とR2−2、R3−1とR3−2及びR4−1とR4−2は金属配線によりそれぞれ直列に接続される。なお、磁気抵抗素子R1−1〜R4−2は、図1に示すパターンのように同種の強磁性金属をつづら折状にしてもよいし、折り返しの部分を、例えば、アルミニウム等の金属配線を用いて平行に配置された強磁性金属を直列に接続して形成してもよい。
また、磁気抵抗素子R1−1及びR1−2のペアとR2−1及びR2−2のペアとは、直列に接続され電極Pcc及びPGNDにより図示しない電源により電圧Vccで駆動される。また、同様に磁気抵抗素子R3−1及びR3−2のペアとR4−1及びR4−2のペアとは、直列に接続され電極Pcc及びPGNDに接続された図示しない電源により電圧Vccにより駆動され、上述した磁気抵抗素子R1−1及びR1−2のペアとR2−1及びR2−2のペアとからなる回路と並列に接続されてホイートストンブリッジからなるブリッジ回路を構成し、電極P及びPからそれぞれ電圧Vout+及びVout−を出力する。なお、電極Pcc及びPGND並びに電極P及びPは接続関係を説明するために便宜上示したものであり、実際の配置は図に示される配置に限定されるものではない。
また、各磁気抵抗素子は基板10上に放射状に区分けされた領域上に配置され、ブリッジ回路の電極Pcc−P間、Pcc−P間、PGND−P間、PGND−P間にそれぞれその長手方向が一致する磁気抵抗素子のペアを用い、かつ当該ペアの磁気抵抗素子は、図に示す例では、対向しない領域に配置される。なお、例えば、電極Pcc−P間、Pcc−P間、PGND−P間、PGND−P間に用いられる磁気抵抗素子の数はペアに限らず複数あってもよい。また、ペアの磁気抵抗素子は対向する領域に配置されてもよい。
また、電極P及びPは、金属配線等により図示しないパッド(電極)により接続され、パッドからワイヤボンディング等で図示しない差動アンプ等に接続され、差動アンプの後段の回路は、電圧Vout−及びVout+との差により、例えば、磁界方向及び磁界の強さを計算する。
図4は、従来の磁気検出装置の一例を示す平面図である。
磁気検出装置2は、磁気検出装置1と同様に、基板20上に8つの磁気抵抗素子を有し、磁気抵抗素子R1−1、R1−2、R4−1及びR4−2は図面右上左下方向、R2−1、R2−2、R3−1及びR3−2は図面左上右下方向を長手とする。また、磁気抵抗素子R1−1とR1−2、R2−1とR2−2、R3−1とR3−2及びR4−1とR4−2はそれぞれ直列に接続される。
また、磁気検出装置2の磁気抵抗素子R1−1及びR1−2のペアとR2−1及びR2−2のペアとは、直列に接続され電極Pcc及びPGNDにより電圧Vccにより駆動される。また、同様に磁気抵抗素子R3−1及びR3−2のペアとR4−1及びR4−2のペアとは、直列に接続され電極Pcc及びPGNDにより電圧Vccにより駆動され、上述した磁気抵抗素子R1−1及びR1−2のペアとR2−1及びR2−2のペアとからなる回路と並列に接続されてブリッジ回路を構成し、電極P及びPからそれぞれ電圧Vout+及びVout−を出力する。
以上の点において磁気検出装置2は、磁気検出装置1と同様であり、等価回路も図2と同様である。しかし、磁気抵抗素子は、その配置される領域が基板20上に放射状に区分けされていない。
図5は、従来の磁気検出装置の他の例を示す平面図である。
磁気検出装置3は、基板30上に4つの磁気抵抗素子を有し、磁気抵抗素子R1及びR4は図面右上左下方向、R2及びR3は図面左上右下方向を長手方向とする。
また、磁気検出装置3の磁気抵抗素子R1とR2とは、直列に接続され電極Pcc及びPGNDにより電圧Vccにより駆動される。また、同様に磁気抵抗素子R3とR4とは、直列に接続され電極Pcc及びPGNDにより電圧Vccにより駆動され、上述した磁気抵抗素子R1とR2とからなる回路と並列に接続されてブリッジ回路を構成し、電極P及びPからそれぞれ電圧Vout+及びVout−を出力する。
磁気検出装置3は、上述したようにブリッジ回路の電極Pcc−P間、Pcc−P間、PGND−P間、PGND−P間に、それぞれ2つの磁気抵抗素子のペアを用いることなく、それぞれ1つの磁気抵抗素子R1〜R4を配置したものである。
図3は、上記磁気検出装置1〜3の出力電圧Vout+とVout−との出力オフセット電圧ばらつきを磁気検出装置3を基準として示したものである。
ブリッジ回路において、電極Pcc−P間、Pcc−P間、PGND−P間、PGND−P間の抵抗値がそれぞれ等しい場合、さらに、無磁界又は長手方向の異なる各磁気抵抗素子に対して磁界のなす角度θが等価となる方向の場合(図1に示す例では、各磁気抵抗素子について、θ=45°、135°、225°、315°のいずれかとなる場合)、電極PとPの出力電圧Vout+とVout−は、等しい値となり、Vccの値に関わらずVout+とVout−との出力電圧差分は0となるが、対称性が悪い場合は抵抗値がばらついた結果、Vout+とVout−との出力電圧差分が0とならずオフセット電圧が生じる。
磁気検出装置2のようにブリッジ回路に磁気抵抗素子のペアを用いた場合、それを用いない場合の磁気検出装置3に比べて出力オフセット電圧ばらつきは約7〜8割に抑えられる。また、磁気検出装置1のようにブリッジ回路に磁気抵抗素子のペアを用い、かつ、ペアの配置に対称性をもたせた場合、磁気検出装置3に比べて出力オフセット電圧ばらつきは約6割に抑えられる。なお、それぞれの磁気抵抗素子の抵抗値及び測定条件は同一の条件で行ったものとする。
図6は、半導体ウエハの領域と、出力オフセット電圧ばらつきとの関係を示した概略図である。
図6に示すように、磁気検出装置1の基板10は、半導体ウエハ100から基板分割パターン110に沿って切り出されるが、半導体ウエハ100の特性は、その特性をオフセット電圧ばらつき(図3)で測ると、半導体ウエハ100の中心から放射状に分布する。なお、オフセット電圧ばらつきは、値が0のものを良とし(濃度低)、プラス側及びマイナス側に値が大きいものを悪として(濃度高)、一定の値の範囲毎に濃度を区分けして表示している。
(実施の形態の効果)
上記した実施の形態によると、磁気抵抗素子のペアを基板10上に放射状に区分けされた領域上に配置し、これらの磁気抵抗素子を直列接続してブリッジ回路の抵抗部分を構成したため、従来の磁気検出装置に比べて、放射状に区分けされた領域のうち対向する領域に配置された同一の長手方向を有する磁気抵抗素子のペアとの特性のばらつきを抑制することができる。つまり、磁気検出装置1の放射状に区分けされた領域を磁気抵抗素子とする構成が半導体ウエハ100が有する特性のばらつきの対称性、つまり図6に示す放射状の特性ばらつきと一致するため、磁気抵抗素子の配置による製造精度のばらつきを抑制することができる。
また、本実施の形態において説明した磁気検出装置は、本発明を適用する一例であり、上記実施の形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々な変形が可能である。例えば、本実施の形態では、磁気抵抗素子を三角形状のものを示したがこれに限られるものではなく、配置の条件を満たせば他の形状、例えば、扇形等でも同一の効果を得られる。
例えば、図7(a)に示すように、放射状に区分けされた領域をさらに区分けして磁気抵抗素子を配置しても同等の効果が得られる。また、図7(b)に示すように、放射状に区分けされた領域を、対称性を大きく崩さない程度にオフセットして、磁気抵抗素子を配置しても従来の配置に比べて効果が得られる。また、金属配線の引き回しは平面に限るものではなく、多層の配線により交差させることもできる。
1 磁気検出装置
2 磁気検出装置
3 磁気検出装置
10 基板
20 基板
30 基板
cc、PGND、P、P 電極
R1−1、R1−2、R2−1、R2−2、R3−1、R3−2、R4−1、R4−2 磁気抵抗素子
R1-R4 磁気抵抗素子

Claims (2)

  1. 基板上に放射状に区分けされた領域のうち少なくとも対向する領域に配置され、第1の方向に長手方向を有する第1の磁気抵抗素子群と、
    前記基板上の放射状に区分けされた領域のうち、少なくとも対向する領域であって、前記第1の磁気抵抗素子と隣り合う領域に、前記第1の方向と異なる第2の方向に長手方向を有する第2の磁気抵抗素子群と、
    前記第1の磁気抵抗素子群の磁気抵抗素子及び前記第2の磁気抵抗素子群の磁気抵抗素子を複数組み合わせて、当該組み合わせた複数の磁気抵抗素子を直列に接続したもので抵抗部分を構成し、複数の当該抵抗部分でブリッジ回路を構成する配線部とを有する磁気検出装置。
  2. 前記第2の方向は、前記第1の方向と直交する請求項1に記載の磁気検出装置。
JP2011047446A 2011-03-04 2011-03-04 磁気検出装置 Pending JP2012184995A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011047446A JP2012184995A (ja) 2011-03-04 2011-03-04 磁気検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011047446A JP2012184995A (ja) 2011-03-04 2011-03-04 磁気検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012184995A true JP2012184995A (ja) 2012-09-27

Family

ID=47015218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011047446A Pending JP2012184995A (ja) 2011-03-04 2011-03-04 磁気検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012184995A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630855A (zh) * 2013-12-24 2014-03-12 江苏多维科技有限公司 一种高灵敏度推挽桥式磁传感器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001153683A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Denso Corp 回転検出装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001153683A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Denso Corp 回転検出装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630855A (zh) * 2013-12-24 2014-03-12 江苏多维科技有限公司 一种高灵敏度推挽桥式磁传感器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3467529B1 (en) Magnetic sensor
TWI683119B (zh) 霍爾感測器及藉由霍爾感測器之溫度分布所為之偏置的補償方法
US9435831B2 (en) Current sensor
JP6699951B2 (ja) 磁気抵抗z軸勾配検出チップ
JP6570634B2 (ja) 少なくとも2つのブリッジを有する磁気抵抗ホイートストンブリッジ及び角度センサ
CN107110920B (zh) 磁传感器及其制造方法以及使用该磁传感器的电流量检测器
US10312286B2 (en) Magnetic sensor including resistor array including a plurality of resistive element sections each having magnetoresistance element
US20220244324A1 (en) Current sensor for compensation of on-die temperature gradient
US11131727B2 (en) Magnetic sensor device
JP2016065829A (ja) 磁気センサおよびその磁気センサを備えた電流センサ
JP2012184995A (ja) 磁気検出装置
JP2014011343A (ja) ホール素子およびホール素子を用いた半導体装置
WO2016052028A1 (ja) ホールセンサ
WO2015107949A1 (ja) 磁気センサ
JP5187598B2 (ja) 電流検出回路
JP2014202704A (ja) 磁界検出装置
US11686787B2 (en) Magnetic sensor
JPWO2015107948A1 (ja) 磁気センサ
JP2013242258A (ja) 磁気センサ、および磁気センサの製造方法
WO2013042336A1 (ja) 磁気センサ
JP2017133842A (ja) 電流センサ及び電流検出装置
JP7097671B2 (ja) Ic化磁気センサおよびそれに使用するリードフレーム
US9903883B2 (en) Angular acceleration sensor and acceleration sensor
JP2015007551A (ja) 磁気センサ
US11165014B2 (en) Semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130826

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140313

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140318

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140708