JP2012252014A - 分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】短期間内に頻繁に光学フィルタを切り替えることを可能にしつつ、光学フィルタ切り替えの制御が複雑化するのを抑制することが可能な分析装置を提供する。
【解決手段】
光源と、光透過特性のそれぞれ異なる複数の光学フィルタを有する回転可能なフィルタ部とを含み、フィルタ部を回転させることにより、光源からの光の通路に配置する光学フィルタを順次切り替えながら、フィルタ部が回転している間に光学フィルタを透過した光を分析物に照射する光照射装置と、フィルタ部が回転している間に光照射装置によって光が照射された分析物から得られる光学的情報に基づいて、分析物の特性を解析する解析手段とを備えている。
【選択図】図４

Description

本発明は、分析装置に関し、特に、光源からの光の通路に配置する光学フィルタを切り替えて、光学フィルタを透過した光を分析物に照射する光照射装置を備えた分析装置に関する。

従来、生化学検査、血液凝固検査等に用いられる光学式分析装置は、分析に用いられる試薬の特性、分析方法に合わせて、光源からの光の通路に配置する光学フィルタを切り替えて、所定の波長特性を有する光を分析物に照射する光照射装置を備えた分析装置が知られている（たとえば、特許文献１参照）。特許文献１に開示された従来の分析装置は、光透過特性がそれぞれ異なる複数の光学フィルタが設置された回転板を回転させて、光源からの光の通路に配置する光学フィルタを切り替えることにより、光源から光学フィルタを介して分析物に照射される光の波長特性を切り替えるように構成されている。そして、上記特許文献１に開示された分析装置では、分析物に光を照射して分析物の分析を行う際には、所望の光透過特性を有する光学フィルタを光源からの光の通路に停止させて、その光学フィルタを透過する所定の波長特性を有する光を分析物に照射することにより分析物の分析を行っている。

特開２００３−８３８８４号公報

しかしながら、特許文献１に開示された従来の分析装置では、分析物に光を照射して分析物の分析を行う際に、光源からの光の通路に光学フィルタを停止させた後、その光学フィルタを透過する光を分析物に照射している。すなわち分析物の分析は、所定時刻（時間的ポイント）に、特定の波長特性を有する光で分析を行っているだけである。分析によっては所定時刻だけではなく、連続して、または短い間隔で頻繁に光学分析を要するものがある。例えば、血液凝固時間の分析では、連続して光を照射して、または１秒以下の短い間隔で断続的に光を照射して、分析することが求められている。また、分析によっては特定の波長特性を有する複数種類の光を照射して分析することが求められている。この場合、反応中の試料を分析するのであれば、第１の特定の波長特性を有する光と、第２の特定の波長特性を有する光とを実質的に同時に照射することが望まれている。

しかし、従来の分析装置では、回転板の回転および停止を繰り返す必要があるため、短期間内に頻繁に光学フィルタを切り替えることが難しいという問題点があった。また、光学フィルタを切り替える場合には、回転板の回転および停止を繰り返す必要があり、回転板の制御が複雑になってしまうという問題点がある。また、光学フィルタを光源からの光の通路に正確に停止させる必要が生じるため、位置決め精度の高い高価なモーターを使用する必要があるとともに、光源からの光の通路に対する光学フィルタの位置調整が必要となってしまう。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、短期間内に頻繁に光学フィルタを切り替えることが可能であり、光学フィルタを切り替える場合の光学フィルタ切り替えの制御が複雑化するのを抑制し、光学フィルタの位置調整を不要とすることが可能な、従来のものより安価な分析装置を提供することである。

上記目的を達成するために、この発明の第１の局面における分析装置は、血液検体に試薬を混合して測定用試料を調製する試薬混合部と、前記測定用試料を収容した容器が設置される複数の容器設置部と、光源と、軸を中心として回転可能に構成され、前記軸を中心とした円周に沿って透過波長のそれぞれ異なる複数の光学フィルタが設けられたフィルタ部とを含み、前記フィルタ部を前記軸を中心に回転させることにより、前記光源からの光の光路に前記各光学フィルタを順次通過させる光照射装置と、前記光学フィルタを透過した光を前記複数の容器設置部に誘導し、誘導した光を前記複数の容器設置部に設置された複数の容器に照射する光分配手段と、前記複数の容器設置部の各々に対応して設けられており、対応する容器設置部に設置された容器を透過した光を検出するとともに、検出した光に対応する信号を出力するように構成された複数の受光素子と、前記フィルタ部の等速回転によって各光学フィルタが前記光路を通過する毎に、前記複数の受光素子からの信号を取得し、前記容器設置部に設置された複数の容器内の各測定用試料について、少なくとも一の光学フィルタに対応する信号から時系列データを作成し、作成した前記時系列データに基づいて、各血液検体の特性を解析する。

本発明の第１実施形態による分析装置および拡張用分析装置を含む分析システムの全体構成を示した平面図である。 図１に示した第１実施形態による分析装置および拡張用分析装置を含む分析システムを部分的に示した斜視図である。 図１に示した第１実施形態による分析装置に含まれるランプユニットの構成を説明するための斜視図である。 図３に示した第１実施形態による分析装置に含まれるランプユニットの構成を示した概略図である。 図３に示した第１実施形態による分析装置に含まれるランプユニットのフィルタ部を示した平面図である。 図１に示した第１実施形態による分析装置の第１光学的情報取得部の構成を説明するためのブロック図である。 図１に示した第１実施形態による分析装置の第２光学的情報取得部の構成を説明するためのブロック図である。 図７に示した第１実施形態による第２光学的情報取得部の検出部の構成を示した概略図である。 本発明の第１実施形態による分析装置の第２光学的情報取得部および制御基板の構成要素を説明するためのブロック図である。 本発明の第１実施形態による分析装置の検出部および信号処理部の構成を説明するためのブロック図である。 本発明の第１実施形態による分析装置の制御基板のロガー用メモリの構成を説明するための図である。 本発明の第１実施形態による分析装置の制御基板の増幅回路および微分回路の回路構成を示した回路図である。 本発明の第１実施形態のＰＣ本体による制御方法の概略を示したフローチャートである。 図１３のステップＳ１に示した初期設定において、ＰＣ本体により取得されるｎクロックの制御部による算出処理の方法を示したフローチャートである。 図１４に示したｎクロックの算出処理方法において用いる参照光の光量および参照信号の微分信号の変化を示した波形図である。 図１３のステップＳ３におけるＰＣ本体による分析処理の詳細（サブルーチン）を示したフローチャートである。 本発明の第１実施形態による分析装置の信号処理部における信号処理の方法を示した図である。 本発明の第１実施形態による分析システムによって作成される凝固曲線を示したグラフである。 本発明の第１実施形態の制御部によるデータ取得処理の方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の第１実施形態のＰＣ本体によるデータ取得処理の方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の第１実施形態の制御部によるフィルタ部の回転の監視処理において、原点スリットが検出される時間間隔を監視する場合の処理を示したフローチャートである。 回転するフィルタ部のスリットを検出するセンサから出力される信号およびセンサから出力される信号に基づいて生成される積分信号の波形を示した波形図である。 本発明の第１実施形態の制御部によるフィルタ部の回転の監視処理において、隣接する２つのスリット（原点スリットまたは通常スリット）が検出される時間間隔を監視する場合の処理を示したフローチャートである。 本発明の第１実施形態の制御部によるフィルタ部の回転の監視処理において、２つの原点スリットが検出される間に検出される通常スリットの数を監視する場合の処理を示したフローチャートである。 本発明の第１実施形態による拡張用分析装置を含まない分析システムの全体構成を示した平面図である。 本発明の第２実施形態の制御部によるｐクロックの算出処理を示すフローチャートである。 図２６に示したｐクロックの算出処理方法において用いるスリット検出信号並びに参照光の光量および参照信号の微分信号の変化を示した波形図である。 本発明の第２実施形態の制御部によるデータ取得処理の方法を説明するためのフローチャートである。 参照信号を用いてフィルタ部の回転監視を行う場合について説明する回転フィルタの模式図である。 参照信号を用いてフィルタ部の回転監視を行う場合について説明する参照信号の模式図である。

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
（第１実施形態）
まず、図１〜図１２を参照して、本発明の第１実施形態による分析システム１の構成について説明する。

本発明の第１実施形態による分析システム１は、血液の凝固・線溶機能に関連する特定の物質の量や活性の度合いを光学的に測定して分析するためのシステムであり、検体としては血漿を用いる。第１実施形態による分析システム１では、凝固時間法を用いて検体の光学的な測定を行っている。第１実施形態で用いる凝固時間法は、検体が凝固する過程を透過光の変化として検出する測定方法である。

分析システム１は、設置される施設の規模に応じて、構成を変更することができる。例えば、検体数が多くない施設に設置される場合、分析システム１は、図２５に示すように、分析装置３と、分析装置３に検体を供給するための搬送装置２００とから構成される。一方、検体数が多い施設に設置される場合、分析システム１は、図１に示すように、拡張用分析装置４が増設され、搬送装置２００が搬送装置２に取り替えられることにより、搬送機構部２と、分析装置３と、拡張用分析装置４とから構成される。このように、拡張用分析装置４は、分析システム１に増設されることによって、分析システム１の検体処理能力を拡張する。

図１に示す搬送機構部２は、分析装置３および拡張用分析装置４に検体を供給するために、検体を収容した複数（第１実施形態では、１０本）の試験管１５０が載置されたラック１５１を分析装置３および拡張用分析装置４の各々の吸引位置２ａおよび２ｂ（図１参照）に搬送する機能を有している。また、搬送機構部２は、未処理の検体を収容した試験管１５０が収納されたラック１５１をセットするためのラックセット領域２ｃと、処理済みの検体を収容した試験管１５０が収納されたラック１５１を収容するためのラック収容領域２ｄとを有している。

分析装置３および拡張用分析装置４は、搬送機構部２から供給された別々の検体に対して光学的な測定を行うことにより、供給された検体に関する光学的情報をそれぞれ取得することが可能なように構成されている。第１実施形態では、搬送機構部２に位置する試験管１５０から分析装置３および拡張用分析装置４のキュベット１５２（図１参照）内に分注された検体に対してそれぞれ光学的な測定が行われる。また、分析装置３は、情報処理端末３ａと、ランプユニット５と、制御基板６とを備えている。分析装置３は、さらに、キュベット供給部２０と、回転搬送部３０と、検体分注アーム４０と、２つの試薬分注アーム５０と、キュベット移送部６０および６０ａと、第１光学的情報取得部７０と、第２光学的情報取得部８０と、を備えている。また、拡張用分析装置４は、分析装置３に搭載されているものと同じ制御基板６と、キュベット供給部２０と、回転搬送部３０と、検体分注アーム４０と、２つの試薬分注アーム５０と、キュベット移送部６０と、第１光学的情報取得部７０と、第２光学的情報取得部８０と、を備えている。これらのコンポーネントの配置は、分析装置３と、拡張用分析装置４とで同じである。

ここで、第１実施形態では、情報処理端末３ａおよびランプユニット５は、分析装置３にのみ備えられており、拡張用分析装置４には備えられていない。

情報処理端末３ａは、分析装置３の装置本体のみならず拡張用分析装置４にも通信ケーブルを介して電気的に接続されている。すなわち、分析装置３の情報処理端末３ａが、分析装置３および拡張用分析装置４に対して共通に用いられるように構成されている。なお、分析装置３および拡張用分析装置４は、検体から取得した光学的情報を情報処理端末３ａに送信する機能を有する。また、情報処理端末３ａは、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）からなり、図２に示すように、ＰＣ本体３ｂと、表示部３ｃと、キーボード３ｄとを含んでいる。ＰＣ本体３ｂは、ランプユニット５から検体（測定用試料）に所定の波長特性を有する光が照射されたときに、制御基板６の後述する信号処理部１１１および制御部１１２により取得される信号（光学的情報）に基づいて、検体の特性を解析する機能を有している。なお、第１実施形態では、情報処理端末３ａのＰＣ本体３ｂは、検体に試薬が混合された後の所定のタイミングから検体が所定の凝固状態に達するまでの時間（凝固時間）を解析するように構成されている。また、ＰＣ本体３ｂは、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなる制御部（図示せず）を備えている。また、表示部３ｃは、ＰＣ本体３ｂで得られた分析結果などの情報を表示するために設けられている。なお、上記のように、分析装置３と拡張用分析装置４とは、情報処理端末３ａおよびランプユニット５を拡張用分析装置４が含んでいないことを除いて構成が同じであるので、以下の説明では、分析装置３の構成について説明する。

また、ランプユニット５は、図３および図４に示すように、光源としての１つのハロゲンランプ１１と、２つのミラー１２ａおよび１２ｂと、２組の集光レンズ１３ａ〜１３ｃおよび１３ｄ〜１３ｆと、円盤形状の１つのフィルタ部１４と、モータ１５と、光透過型のセンサ１６と、２セットの光ファイバ１７ａおよび１７ｂとを有している。なお、ランプユニット５では、ハロゲンランプ１１、ミラー１２ｂ、集光レンズ１３ｄ〜１３ｆおよび光ファイバ１７ｂによって分析装置３用の光学系が構成されているとともに、ハロゲンランプ１１、ミラー１２ａ、集光レンズ１３ａ〜１３ｃおよび光ファイバ１７ａによって拡張用分析装置４用の光学系が構成されている。

光ファイバ１７ｂの先端は、分析装置３の第２光学的情報取得部８０に接続されている。光ファイバ１７ａの先端は、拡張用分析装置４が設置されている場合にのみ、拡張用分析装置４の第２光学的情報取得部８０に接続される。

なお、ミラー１２ａ、集光レンズ１３ａ〜１３ｃおよび光ファイバ１７ａは、拡張用分析装置４が設置されていない場合にはランプユニット５に設置されておらず、拡張用分析装置４を増設するときに、ミラー１２ａをミラー取付部１２ｃに、集光レンズ１３ａ〜１３ｃをレンズ取付部１３ｇ〜１３ｉに取り付けるようにしてもよい。これによって、拡張用分析装置４が設置されていない場合のランプユニット５のコストを軽減することができる。

また、光ファイバ１７ａおよび１７ｂは、それぞれ、２１本の光ファイバ１７ｃおよび１７ｄから構成されている。２１本の光ファイバ１７ｃおよび１７ｄは、結束部材１７ｅおよび１７ｆによってそれぞれ束ねられている。ハロゲンランプ１１は、図４に示すように、両面から光を照射可能な板状のフィラメント１１ａを含んでいる。これにより、板状のフィラメント１１ａの両面からそれぞれ同じ特性の光が照射されるように構成されている。なお、板状のフィラメントは、フィラメントからの光の照射領域内における光量のバラツキが小さいため、板状のフィラメントを使用することにより、測定用試料に光を照射して得られる光（透過光や散乱光）の量が安定し、測定誤差を抑制することができる。また、２つのミラー１２ａおよび１２ｂは、それぞれ、ハロゲンランプ１１から照射される光を反射して所定の光路に光を導くために設けられている。すなわち、ミラー１２ａ、１２ｂは、フィラメント１１ａを挟んだ両側に配置されており、ミラー１２ａはフィラメント１１ａの一方の面に正対する位置に、ミラー１２ｂは、フィラメント１１ｂの他方の面に正対する位置に配置されている。また、ミラー１２ａ、１２ｂは、フィラメント１１ａから照射された光の進行方向を９０度変更するように、フィラメント１１ａに対して傾斜して配置されている。

ミラー１２ａは、ハロゲンランプ１１の板状のフィラメント１１ａの一方の面から照射された光を反射するとともに、ミラー１２ｂは、板状のフィラメント１１ａの他方の面から照射された光を反射する。これにより、ミラー１２ａにより反射された光と、ミラー１２ｂにより反射された光とによって２つの光路が形成される。また、ミラー１２ａおよび１２ｂは、図３に示すように、それぞれ、ミラー取付部１２ｃおよび１２ｄに着脱可能に取り付けられている。集光レンズ１３ａ〜１３ｃは、図４に示すように、ミラー１２ａによって進行方向を変更された光の通路に配置されており、ミラー１２ａ側からレンズ１３ａ、１３ｂおよび１３ｄの順で配置されている。集光レンズ１３ｄ〜１３ｆは、集光レンズ１３ａ〜１３ｃと同様に、ミラー１２ｂによって進行方向を変更された光の通路に配置されており、ミラー１２ｂ側からレンズ１３ｄ、１３ｅおよび１３ｆの順で配置されている。また、２組の集光レンズは、集光レンズ１３ａ〜１３ｃの配列方向と、集光レンズ１３ｄ〜１３ｆの配列方向とが平行になるように配置されている。

また、２組の集光レンズ１３ａ〜１３ｃおよび１３ｄ〜１３ｆは、図４に示すように、それぞれ、ミラー１２ａおよび１２ｂにより反射された２つの光を光ファイバ１７ａおよび１７ｂに導くために集光する。ミラー１２ａおよび１２ｂによって反射された２つの光は、それぞれ、集光レンズ１３ａ〜１３ｃおよび１３ｄ〜１３ｆにより集光され、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆのいずれか１つを透過して光ファイバ１７ａおよび１７ｂに導かれる。また、集光レンズ１３ａ〜１３ｃは、図３に示すように、それぞれ、レンズ取付部１３ｇ〜１３ｉに着脱可能に取り付けられている。また、集光レンズ１３ｄ〜１３ｆもそれぞれ対応するレンズ取付部（図示せず）に着脱可能に取り付けられている。

また、第１実施形態では、ランプユニット５のフィルタ部１４は、図５に示すように、軸１４ａを中心に回転可能に設けられている。このフィルタ部１４は、５つの光透過特性（透過波長）のそれぞれ異なる光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを有するフィルタ板１４ｇと、フィルタ板１４ｇを光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆの両面が露出するように保持するフィルタ板保持部材１４ｈとによって構成されている。フィルタ板１４ｇは、フィルタ板保持部材１４ｈに固定されている。フィルタ板１４ｇには、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを設置するための５つの孔１４ｉが設けられている。そして、５つの孔１４ｉには、それぞれ、光透過特性（透過波長）の異なる５つの光学フィルタ１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４ｅおよび１４ｆが設置されている。フィルタ板１４ｇには、さらに孔１４ｊが設けられている。孔１４ｊは、光が透過しないように閉塞されている。孔１４ｉおよび１４ｊは、フィルタ部１４の回転方向に沿って所定の角度間隔（第１実施形態では、６０°の等間隔）で設けられている。なお、孔１４ｊは、予備の孔であり、フィルタの追加が必要となった場合には、フィルタが装着される。

光学フィルタ１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４ｅおよび１４ｆは、それぞれ、３４０ｎｍ、４０５ｎｍ、５７５ｎｍ、６６０ｎｍおよび８００ｎｍの波長の光を透過し、その他の波長の光は透過しない。従って、光学フィルタ１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４ｅおよび１４ｆを透過した光は、それぞれ、３４０ｎｍ、４０５ｎｍ、５７５ｎｍ、６６０ｎｍおよび８００ｎｍの波長特性を有する。

また、フィルタ板保持部材１４ｈは、円環形状であり、その中心の孔部分にフィルタ板１４ｇが配置されている。フィルタ板保持部材１４ｈには、円周方向に沿って等間隔（６０°）に６つのスリットが設けられている。それら６つのスリットのうち１つは、他の５つのスリット１４ｌよりもフィルタ板保持部材１４ｈの回転方向のスリット幅が大きい原点スリット１４ｋである。

原点スリット１４ｋおよび通常スリット１４ｌは、隣接する孔１４ｉおよび１４ｊ間の中間角度位置（孔１４ｉおよび１４ｊから３０°ずれた位置）に６０°の等間隔で形成されている。モータ１５（図３参照）は、フィルタ部１４の軸１４ａに接続されている。これにより、モータ１５の駆動によって、フィルタ部１４が軸１４ａを中心として回転するように構成されている。

ここで、第１実施形態では、ランプユニット５が、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆのいずれか１つを透過した光を照射する際には、フィルタ部１４が実質的に等速回転するように、モータ１５の駆動が制御基板６（図１参照）により制御されるように構成されている。フィルタ部１４の回転に伴って、集光レンズ１３ａ〜１３ｃ（図４参照）により集光された光の通路と、集光レンズ１３ｄ〜１３ｆ（図４参照）により集光された光の通路とにそれぞれ、光透過特性の異なる５つの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆと、１つの遮光された孔１４ｊ（図５参照）とが断続的に順次配置される。このため、波長特性の異なる５種類の光が断続的に順次照射される。

また、光透過型のセンサ１６は、図３に示すように、フィルタ部１４の回転に伴う原点スリット１４ｋおよび通常スリット１４ｌの通過を検出するために設けられている。すなわち、センサ１６は、フィルタ部１４を光源と受光部とで挟むように設置されている。このセンサ１６は、原点スリット１４ｋおよび通常スリット１４ｌが通過する位置に対応して設置されている。

したがって、センサ１６は、原点スリット１４ｋおよび通常スリット１４ｌが通過すると、スリットを介して光源からの光を受光部が検出し、検出信号を出力する。なお、原点スリット１４ｋは、通常スリット１４ｌよりもスリット幅が大きいので、原点スリット１４ｋが通過したときにセンサ１６から出力される検出信号は、通常スリット１４ｌが通過したときにセンサ１６から出力される検出信号よりも、出力期間が長い。そして、センサ１６から出力される検出信号は、制御基板６（図１参照）に送られるとともに、制御基板６の後述するフィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６からの検出信号に基づいてフィルタ部１４が正常に回転しているか否かが監視されるように構成されている。

また、２セットの光ファイバ１７ａおよび１７ｂは、それぞれ、ランプユニット５からの光を分析装置３および拡張用分析装置４の第２光学的情報取得部８０にセットされるキュベット１５２内の測定用試料に導くために設けられている。光ファイバ１７ａは、図１に示すように、ランプユニット５から拡張用分析装置４に設けられた拡張用接続端子７を介して拡張用分析装置４の第２光学的情報取得部８０へ延びるように設置されている。光ファイバ１７ｂは、ランプユニット５から分析装置３の第２光学的情報取得部８０へ延びるように設置されている。これにより、１つのランプユニット５によって、分析装置３および拡張用分析装置４の各々の第２光学的情報取得部８０に光を供給することが可能となる。

また、光ファイバ１７ａおよび１７ｂは、図４に示すように、それぞれ、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆのいずれか１つを透過して出射された光が、結束部材１７ｅ（１７ｆ）によって束ねられている端部から入射されるように構成されている。２１本の光ファイバ１７ｃは、それぞれ、拡張用分析装置４（図１参照）の第２光学的情報取得部８０の後述する２０個の挿入孔８１ａおよび１つの参照光用測定孔８１ｂに光を供給するように配置されている。また、２１本の光ファイバ１７ｄは、それぞれ、分析装置３（図１参照）の第２光学的情報取得部８０の後述する２０個の挿入孔８１ａおよび１つの参照光用測定孔８１ｂに光を供給するように構成されている。

キュベット供給部２０は、ユーザによって無造作に投入された複数のキュベット１５２を整列させ、位置１５２ａに１つずつ配置する。位置１５２ａに配置されたキュベット１５２は、キュベット移送部６０ａによって１つずつ回転搬送部３０に移送される。回転搬送部３０は、円盤形状のテーブル３０ａを備えており、テーブル３０ａには、キュベット１５２を収容するための複数の穴１５２ｂと、キュベット１５２内の検体に添加される試薬を収容した試薬容器（図示せず）を収容するための複数の穴１５２ｃとが設けられている。回転搬送部３０は、テーブル３０ａを回転させることにより、キュベット１５２と、試薬容器とを搬送する。

検体分注アーム４０は、搬送機構部２により吸引分注位置２ａ（２ｂ）に搬送された試験管１５０から検体を吸引するとともに、吸引した検体を回転搬送部３０に移送されたキュベット１５２内に分注する機能を有している。試薬分注アーム５０は、回転搬送部３０に載置された試薬容器（図示せず）内の試薬を回転搬送部３０に保持されたキュベット１５２に分注することにより、キュベット１５２内の検体に試薬を混合するために設けられている。キュベット移送部６０は、キュベット１５２を回転搬送部３０と、第２光学的情報取得部８０の後述するキュベット載置部８１との間で移送するために設けられている。

第１光学的情報取得部７０は、試薬を添加する前の検体中の干渉物質（ヘモグロビン、乳び（脂質）およびビリルビン）の有無、種類および含有の度合いなどを検出するために、検体から光学的な情報を取得するように構成されている。この第１光学的情報取得部７０による光学的情報の取得は、第２光学的情報取得部８０による検体の光学的な測定の前に行われる。第１光学的情報取得部７０は、図６に示すように、光源としての発光ダイオード（ＬＥＤ）７１と、光電変換素子７２と、プリアンプ７３と、基板７４とを含んでいる。第１光学的情報取得部７０は、以下に説明するように、回転搬送部３０に保持されたキュベット１５２に光を照射することによって検体から光学的な情報を取得する。

発光ダイオード７１は、回転搬送部３０に保持されたキュベット１５２に対して光を照射可能なように設けられている。この発光ダイオード７１は、基板７４（図６参照）のコントローラ７４ｃにより３種類の波長特性を有する光を周期的に順次出射するように制御される。具体的には、この発光ダイオード７１は、４３０ｎｍの波長特性を有する青色の光と、５６５ｎｍの波長特性を有する緑色の光と、６２７ｎｍの波長特性を有する赤色の光とを周期的に順次出射する。光電変換素子７２は、キュベット１５２を透過した発光ダイオード７１からの光を検出して、電気信号に変換するための機能を有している。プリアンプ７３は、光電変換素子７２からの電気信号を増幅するために設けられている。

基板７４は、光電変換素子７２からの電気信号を増幅し、デジタル変換して、情報処理端末３ａのＰＣ本体３ｂに送信する機能を有している。また、基板７４には、図６に示すように、増幅部７４ａと、Ａ／Ｄ変換器７４ｂと、コントローラ７４ｃとが設けられている。また、増幅部７４ａは、アンプ７４ｄと、電子ボリューム７４ｅとを有している。アンプ７４ｄは、プリアンプ７３からの電気信号を増幅するために設けられている。また、アンプ７４ｄは、コントローラ７４ｃからの制御信号を電子ボリューム７４ｅに入力することによりアンプ７４ｄのゲイン（増幅率）を調整することが可能なように構成されている。Ａ／Ｄ変換器７４ｂは、アンプ７４ｄにより増幅された電気信号（アナログ信号）をデジタル信号に変換するために設けられている。

コントローラ７４ｃは、発光ダイオード７１から出射される光の波長特性（４３０ｎｍ、５６５ｎｍおよび６２７ｎｍ）の周期的な変化に合わせて、アンプ７４ｄのゲイン（増幅率）を変化させるように構成されている。また、コントローラ７４ｃは、ＰＣ本体３ｂに電気的に接続されており、Ａ／Ｄ変換器７４ｂにおいてデジタル変換されたデジタル信号をＰＣ本体３ｂに送信する。これにより、ＰＣ本体３ｂにおいて、第１光学的情報取得部７０からのデジタル信号の分析（解析）が行われることにより、発光ダイオード７１から出射される３つの光に対するキュベット１５２内の検体の吸光度（透過光強度）が求められるとともに、検体中の干渉物質の有無や種類、含有の度合いなどが分析される。そして、その分析結果に基づいて、第２光学的情報取得部８０による検体の測定を行うか否かが判断されるとともに、第２光学的情報取得部８０からの検出信号の解析方法と分析結果の表示方法とが制御される。

第２光学的情報取得部８０は、検体に試薬を添加して調製された測定用試料の加温を行うとともに、測定用試料から光学的情報を検出するための機能を有している。この第２光学的情報取得部８０は、キュベット載置部８１と、キュベット載置部８１の下方に配置された検出部８２（図７参照）とにより構成されている。キュベット載置部８１には、図１に示すように、キュベット１５２を挿入するための２０個の挿入孔８１ａと、キュベット１５２を挿入せずに参照光を測定するための１つの参照光用測定孔８１ｂとが設けられている。また、キュベット載置部８１には、挿入孔８１ａに挿入されたキュベット１５２を所定の温度に加温するための加温機構（図示せず）が内蔵されている。

検出部８２は、挿入孔８１ａに挿入されたキュベット１５２内の測定用試料に対して光学的な測定を行うことが可能なように構成されている。この検出部８２には、図７および図８に示すように、キュベット１５２が挿入される各挿入孔８１ａに対応して、コリメータレンズ８３ａ、光電変換素子８４ａおよびプリアンプ８５ａが設けられるとともに、参照光用測定孔８１ｂ（図１参照）に対応して、参照光用コリメータレンズ８３ｂ、参照光用光電変換素子８４ｂおよび参照光用プリアンプ８５ｂが設けられている。参照光用コリメータレンズ８３ｂ、参照光用光電変換素子８４ｂおよび参照光用プリアンプ８５ｂの構成は、それぞれ、コリメータレンズ８３ａ、光電変換素子８４ａおよびプリアンプ８５ａの構成と同じである。

コリメータレンズ８３ａは、図８に示すように、ランプユニット５（図１参照）からの光を誘導する光ファイバ１７ｄ（１７ｃ）の端部と、対応する挿入孔８１ａとの間に設置されている。このコリメータレンズ８３ａは、光ファイバ１７ｄ（１７ｃ）から出射された光を平行光にするために設けられている。また、光電変換素子８４ａは、挿入孔８１ａを挟んで光ファイバ１７ｄ（１７ｃ）の端部に対向するように設置された基板８６ａの挿入孔８１ａ側の面に取り付けられている。プリアンプ８５ａは、基板８６ａの挿入孔８１ａと反対側の面に取り付けられている。また、光電変換素子８４ａは、挿入孔８１ａに挿入されたキュベット１５２内の測定用試料に光を照射したときに測定用試料を透過する光（以下、透過光という）を検出するとともに、検出した透過光に対応する電気信号（アナログ信号）を出力する機能を有している。検出部８２のプリアンプ８５ａは、光電変換素子８４ａからの電気信号（アナログ信号）を増幅するために設けられている。

また、参照光用測定孔８１ｂに対応して検出部８２に設けられた参照光用コリメータレンズ８３ｂ、参照光用光電変換素子８４ｂ、参照光用プリアンプ８５ｂおよび参照光用基板８６ｂは、それぞれ、挿入孔８１ａに対応して検出部８２に設けられたコリメータレンズ８３ａ、光電変換素子８４ａ、プリアンプ８５ａおよび基板８６ａと同様に構成されている。なお、参照光用光電変換素子８４ｂには、参照光として、光ファイバ１７ｄ（１７ｃ）から出射された光が参照光用コリメータレンズ８３ｂを透過した後、直接入射されるように構成されている。すなわち、参照光用光電変換素子８４ｂは、測定用試料を収容するキュベット１５２を介さずに照射される参照光を検出するとともに、検出した参照光に対応する電気信号（アナログ信号）を出力するように構成されている。

制御基板６は、第２光学的情報取得部８０の下方に配置されている。この制御基板６は、分析装置３やランプユニット５などの動作の制御や、第２光学的情報取得部８０から出力された光学的情報（電気信号）の処理および記憶などを行う機能を有している。また、制御基板６には、図７および図９に示すように、信号処理部１１１、制御部１１２、増幅回路１１３、微分回路１１４および温度コントローラ１１５が設けられている。信号処理部１１１は、ランプユニット５から測定用試料に光が照射されたときに、光電変換素子８４ａが透過光を検出して出力する信号の処理を行うために設けられている。この信号処理部１１１は、図９に示すように、３つのマルチプレクサ（ＭＵＸ）１１１ａと、３つのオフセット回路１１１ｂと、３つのアンプ１１１ｃと、３つのＡ／Ｄ変換部１１１ｄとを有している。そして、それぞれ１つのマルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂ、アンプ１１１ｃおよびＡ／Ｄ変換部１１１ｄによって、１つの信号処理ラインＬ０が構成されている。信号処理部１１１には、この信号処理ラインＬ０に加えて、信号処理ラインＬ０と同様の構成を有する信号処理ラインＬ１およびＬ２が設けられている。すなわち、信号処理部１１１には、検出部８２から出力された複数のアナログ信号の処理を行うための３つの信号処理ラインＬ０〜Ｌ２が設けられている。

図１０に示すように、マルチプレクサ１１１ａは、複数のプリアンプ８５ａ（参照光用プリアンプ８５ｂ）に接続されている。このマルチプレクサ１１１ａは、複数の光電変換素子８４ａ（参照光用光電変換素子８４ｂ）からプリアンプ８５ａ（参照光用プリアンプ８５ｂ）を介して入力される複数のアナログ信号から１つずつ選択して順次オフセット回路１１１ｂへ出力するように構成されている。オフセット回路１１１ｂは、マルチプレクサ１１１ａから出力された信号の補正を行う機能を有している。具体的には、オフセット回路１１１ｂは、測定に用いられた挿入孔８１ａまたは参照光用測定孔８１ｂに対応したオフセット値が制御部１１２（図９参照）から供給される。そして、オフセット回路１１１ｂは、マルチプレクサ１１１ａから出力される透過光に対応する信号から上記のオフセット値を減算処理することにより、マルチプレクサ１１１ａから出力される透過光に対応する信号を補正するように構成されている。

アンプ１１１ｃは、オフセット回路１１１ｂから出力されたアナログ信号を増幅する機能を有している。このアンプ１１１ｃのゲイン（増幅率）は、Ｌゲイン、および、Ｌゲインよりも高い値のＨゲインの２種類に切り替えられるように制御部１１２により制御される。そして、アンプ１１１ｃにより増幅されたＬゲイン（増幅率）の信号とＨゲイン（増幅率）の信号とは、それぞれ、互いに異なるタイミングでＡ／Ｄ変換部１１１ｄに入力されるように構成されている。Ａ／Ｄ変換部１１１ｄは、それぞれ、アンプ１１１ｃに接続されており、そのアンプ１１１ｃによりＬゲインおよびＨゲインの信号（アナログ信号）に増幅された処理済アナログ信号をデジタル信号（データ）に変換するために設けられている。

なお、第１実施形態では、Ａ／Ｄ変換部１１１ｄからは、図１０に示すように、チャンネルＣＨ０〜ＣＨ４７に対応する４８個（１つのＡ／Ｄ変換部につき１６個）のデータが出力されるように構成されている。なお、このチャンネルＣＨ０〜ＣＨ４７の内、チャンネルＣＨ０〜ＣＨ４１の４２個のチャンネルのデータは、それぞれ、各光電変換素子８４ａまたは参照光用光電変換素子８４ｂから得られた電気信号に基づいたデータに対応している。すなわち、２０個の光電変換素子８４ａから得られた２０個のデータは、それぞれ、信号処理部１１１のアンプ１１１ｃによりＬゲイン（増幅率）およびＨゲイン（増幅率）で増幅されることによって４０個のデータになる。また、１つの参照光用光電変換素子８４ｂから得られた１つのデータは、信号処理部１１１（図９参照）のアンプ１１１ｃにおいてＬゲイン（増幅率）およびＨゲイン（増幅率）で増幅されることにより２つのデータになる。この４０個のデータと、参照光に対応する２つのデータとを合計した４２個のデータがチャンネルＣＨ０〜ＣＨ４１のデータに対応している。なお、チャンネルＣＨ０〜ＣＨ４７の内、残りの６つのチャンネルＣＨ４２〜ＣＨ４７は、第１実施形態では使用されない予備のチャンネルであり、このチャンネルＣＨ４２〜ＣＨ４７のデータは、光電変換素子８４ａまたは参照光用光電変換素子８４ｂからの電気信号には対応していない。

また、制御部１１２は、分析装置３の動作を制御する機能と、Ａ／Ｄ変換部１１１ｄから出力されるデジタル信号（データ）を取得して記憶する機能とを有している。この制御部１１２は、図９に示すように、コントローラ１１２ａ、フィルタ部回転監視部１１２ｂ、モータコントローラ１１２ｃ、マルチプレクサ制御部１１２ｄ、オフセットインターフェイス１１２ｅ、アンプインターフェイス１１２ｆ、Ａ／Ｄ変換部インターフェイス１１２ｇ、ロガー用メモリ１１２ｈ、設定用メモリ１１２ｉ、コントローラステータスレジスタ１１２ｊおよびローカルバスインターフェイス１１２ｋを含んでいる。

コントローラ１１２ａは、制御部１１２による各種の制御を統括する機能を有している。また、フィルタ部回転監視部１１２ｂは、ランプユニット５のフィルタ部１４が正常に回転しているか否かを監視するために設けられている。このフィルタ部回転監視部１１２ｂには、フィルタ部１４の回転に伴う原点スリット１４ｋ（図５参照）または通常スリット１４ｌの通過を検出するセンサ１６からの検出信号が入力されるように構成されている。そして、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６から原点スリット１４ｋ（図５参照）の検出信号が出力される時間間隔と、センサ１６から通常スリット１４ｌ（図５参照）の検出信号が出力される時間間隔と、センサ１６から原点スリット１４ｋの検出信号が出力されてから次に再度原点スリット１４ｋの検出信号が出力されるまでの間に通常スリット１４ｌの検出信号が出力される回数とが監視されることによって、フィルタ部１４が正常に回転しているか否かが監視される。また、モータコントローラ１１２ｃは、フィルタ部１４を回転させるモータ１５の回転数を制御する機能を有している。また、マルチプレクサ制御部１１２ｄは、マルチプレクサ１１１ａの動作を制御する機能を有している。具体的には、マルチプレクサ制御部１１２ｄは、複数のマルチプレクサ１１１ａがアナログ信号を選択する時刻をそれぞれ異ならせるようにマルチプレクサ１１１ａの動作を制御している。

また、コントローラ１１２ａは、図９に示すように、オフセットインターフェイス１１２ｅ、アンプインターフェイス１１２ｆおよびＡ／Ｄ変換部インターフェイス１１２ｇを介してそれぞれ信号処理部１１１のオフセット回路１１１ｂ、アンプ１１１ｃおよびＡ／Ｄ変換部１１１ｄの動作の制御を行うように構成されている。具体的には、コントローラ１１２ａは、オフセットインターフェイス１１２ｅを介してオフセット回路１１１ｂに所定のオフセット値を供給するとともに、オフセット回路１１１ｂがマルチプレクサ１１１ａからの信号からそのオフセット値を減算することにより補正処理を行うのを制御する。また、コントローラ１１２ａは、アンプインターフェイス１１２ｆを介してアンプ１１１ｃがＬゲインおよびＨゲインになるように制御するとともに、アンプ１１１ｃによるオフセット回路１１１ｂからの信号の増幅処理を制御する。また、コントローラ１１２ａは、Ａ／Ｄ変換部インターフェイス１１２ｇを介してＡ／Ｄ変換部１１１ｄによるアンプ１１１ｃからの信号（アナログ信号）のデジタル信号への変換処理を制御する。また、Ａ／Ｄ変換部１１１ｄにより取得されたデジタル信号（データ）は、Ａ／Ｄ変換部インターフェイス１１２ｇおよびコントローラ１１２ａを介してロガー用メモリ１１２ｈに入力されるとともに記憶されるように構成されている。この際、コントローラ１１２ａは、複数のＡ／Ｄ変換部１１１ｄが複数のデジタル信号を出力する期間が互いに重複しないように、Ａ／Ｄ変換部インターフェイス１１２ｇを介してＡ／Ｄ変換部１１１ｄの動作を制御している。

また、コントローラ１１２ａは、所定の信号処理ライン（Ｌ０からＬ２のいずれか）のマルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂおよびアンプ１１１ｃによるアナログ信号処理が行われる期間に、その所定の信号処理ラインとは別の信号処理ラインのＡ／Ｄ変換部１１１ｄによる変換処理および制御部１１２のロガー用メモリ１１２ｈへのデータ記憶処理が行われるように、各信号ラインＬ０〜Ｌ２におけるマルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂ、アンプ１１１ｃ、Ａ／Ｄ変換部１１１ｄおよびロガー用メモリ１１２ｈのうち処理を実行するものを切り替える機能を有する。なお、この点については、後の分析動作の説明において詳細に説明する。

ロガー用メモリ１１２ｈは、所定の光電変換素子８４ａから出力されたアナログ信号に対応するデジタル信号（データ）を、ロガー用メモリ１１２ｈのアドレスによって識別可能に記憶するために設けられている。このロガー用メモリ１１２ｈは、図１１に示すように、１２８バイト単位の３２個のエリア０〜３１によって構成されている。このエリア０〜３１には、それぞれ、５つの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆ（図５参照）の透過光に対応するデータおよび閉塞された孔１４ｊに対応するデータが記憶される。すなわち、フィルタ部１４が１回転する毎に、５つの異なる光透過特性を有する光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆの透過光に対応するデータが発生する。そして、これらの５つのデータがそれぞれロガー用メモリ１１２ｈ（図１１参照）のエリア０から順番にエリア毎に記憶される。また６番目のエリアには、孔１４ｊに対応するデータとして“０”が記憶される。これにより、フィルタ部１４の１回転（約１００ｍｓｅｃ）毎にロガー用メモリ１１２ｈの６つのエリアが使用されるとともに、エリア３１まで使用された後は、エリア０に戻ってデータが上書きされるように構成されている。

また、ロガー用メモリ１１２ｈの各エリア０〜３１は、それぞれ、１２８個のアドレスを有している。たとえば、エリア０は、０００ｈ〜００Ｆｈ、０１０ｈ〜０１Ｆｈ、０２０ｈ〜０２Ｆｈ、０３０ｈ〜０３Ｆｈ、０４０ｈ〜０４Ｆｈ、０５０ｈ〜０５Ｆｈ、０６０ｈ〜０６Ｆｈおよび０７０ｈ〜０７Ｆｈの１２８個のアドレスを有している。そして、０００ｈ〜０５Ｆｈの９６個のアドレスに上記したチャンネルＣＨ０〜ＣＨ４７（図１０参照）のデータが記憶されるように構成されている。チャンネルＣＨ０〜ＣＨ４７の各データは、それぞれ、２つのアドレスに記憶されるように構成されている。なお、前述のように第１実施形態では、チャンネルＣＨ４２〜４７からはデータが出力されないので、これらのチャンネルに対応するアドレスには、データは記憶されない。

また、図１１に示したロガー用メモリ１１２ｈのエリア０におけるアドレス０６０ｈ〜０６Ｆｈおよび０７０ｈ〜０７Ｅｈは、第１実施形態ではデータの記憶されない予備のアドレスである。また、エリア０の最後のアドレス０７Ｆｈには、フィルタ番号（０〜４）が記憶される。このフィルタ番号（０〜４）は、５つの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆ（図５参照）を識別するための番号である。光学フィルタは、原点スリット１４ｋが通過するタイミングを検出することによって識別できる。この５つの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆに対応するフィルタ番号（０〜４）がアドレス０７Ｆｈに記憶されることにより、エリア０に記憶されたデータがどの光学フィルタ（１４ｂ〜１４ｆ）の透過光に対応するデータかが識別されるように構成されている。

また、図９に示した設定用メモリ１１２ｉは、オフセット回路１１１ｂに供給するオフセット値と、アンプ１１１ｃに供給するゲイン（増幅率）などの設定値を記憶させるために設けられている。また、コントローラステータスレジスタ１１２ｊは、フィルタ部１４が正常に回転しているか否か、Ａ／Ｄ変換部１１１ｄによるアナログ信号からデジタル信号への変換エラーの有無、ＰＣ本体３ｂによるロガー用メモリ１１２ｈからのデータの取得状況、および、ＰＣ本体３ｂからの測定開始の指示の有無といった情報を一時的に記憶するために設けられている。また、制御部１１２は、ローカルバスインターフェイス１１２ｋおよびインターフェイス１１６を介して、ロガー用メモリ１１２ｈに記憶された測定用試料のデータ（光学的情報）をＰＣ本体３ｂに送信する機能を有するように構成されている。

また、図９に示した制御基板６の増幅回路１１３は、参照光用光電変換素子８４ｂ（図１０参照）から参照光用プリアンプ８５ｂを介して出力された信号が入力されるとともに、その入力された信号を増幅する機能を有している。この増幅回路１１３は、図１２に示すように、２つの抵抗１１３ａおよび１１３ｂと、１つのオペアンプ１１３ｃとによって構成されている。抵抗１１３ａの一方端には、参照光用プリアンプ８５ｂからの参照光に対応する信号が入力されるとともに、他方端は、オペアンプ１１３ｃの反転入力端子に接続されている。また、抵抗１１３ｂは、オペアンプ１１３ｃの出力端子と反転入力端子との間に接続されている。また、オペアンプ１１３ｃの非反転入力端子は、接地されている。また、オペアンプ１１３ｃの出力は、信号処理部１１１（図９参照）のマルチプレクサ１１１ａと、微分回路１１４とにそれぞれ入力されるように構成されている。

制御基板６の微分回路１１４は、増幅回路１１３からの参照光に対応する信号（以下、参照信号という）の微分信号を生成する機能を有している。この微分回路１１４は、図１２に示すように、２つの抵抗１１４ａおよび１１４ｂと、２つのコンデンサ１１４ｃおよび１１４ｄと、１つのオペアンプ１１４ｅとによって構成されている。抵抗１１４ａの一方端には、増幅回路１１３からの参照信号が入力されるとともに、他方端は、コンデンサ１１４ｃの一方電極に接続されている。また、コンデンサ１１４ｃの他方電極はオペアンプ１１４ｅの反転入力端子に接続されている。また、抵抗１１４ｂおよびコンデンサ１１４ｄは、共に、オペアンプ１１４ｅの出力端子と反転入力端子との間に接続されている。また、オペアンプ１１４ｅの非反転入力端子は、接地されている。また、オペアンプ１１４ｅの出力は、図示しないコンパレータを介して制御部１１２（図９参照）のコントローラ１１２ａへ入力されるように構成されている。

また、図９に示した制御基板６の温度コントローラ１１５は、第２光学的情報取得部８０に内蔵された加温機構（図示せず）を制御することによりキュベット１５２が載置されるキュベット載置部８１（図１参照）の温度を制御する機能を有している。この温度コントローラ１１５は、図９に示すように、インターフェイス１１６を介してＰＣ本体３ｂから入力される設定温度（約３７°）に応じて、第２光学的情報取得部８０の加温機構（図示せず）による加温を制御するように構成されている。

次に、図２、図３および図１３を参照して、ＰＣ本体３ｂによる分析装置３の制御の概略について説明する。なお、以下の説明において、分析装置３の制御と、拡張用分析装置４の制御とは同じであるので、分析装置３の制御について説明する。

分析システム１は、情報処理端末３ａ、分析装置３の装置本体、および拡張用分析装置４の電源を投入することによって起動する。

これらの電源が投入されると、まず、図１３に示したステップＳ１において、ＰＣ本体３ｂにより、初期設定が行われる。この初期設定では、ＰＣ本体３ｂに記憶されているソフトウェアの初期化や、後述するｎクロックを分析装置３の制御部１１２から取得する処理などが行われる。なお、分析装置３の装置本体の電源投入により、ステップＳ１の初期設定時には、ランプユニット５（図３参照）のハロゲンランプ１１から光が照射されるとともに、フィルタ部１４が１０回転／秒の回転速度での等速回転を開始する。このハロゲンランプ１１からの光の照射、および、フィルタ部１４の回転は、分析装置３の装置本体の電源がオフ状態にされるまで継続される。そして、ステップＳ２において、使用者による検体分析情報の入力を受け付ける処理が行われる。すなわち、使用者は、情報処理端末３ａ（図２参照）のキーボード３ｄを用いて、情報処理端末３ａの表示部３ｃに出力される検体分析一覧表中の検体番号および測定項目の欄などに情報の入力を行う。これらの検体分析情報は、ＰＣ本体３ｂに保存される。

そして、ステップＳ３において、ＰＣ本体３ｂにより分析処理の指示が行われる。これにより、分析装置３による分析処理が行われる。その後、ステップＳ４において、ＰＣ本体３ｂにより、分析システム１のシャットダウンの指示が入力されたか否かが判断される。そして、ステップＳ４において、ＰＣ本体３ｂにより、分析システム１のシャットダウンの指示が入力されていないと判断された場合には、ステップＳ２に戻り、使用者による他の検体分析情報の入力を受け付ける処理が行われる。一方、ステップＳ４において、ＰＣ本体３ｂにより、分析システム１のシャットダウンの指示が入力されたと判断された場合には、ステップＳ５において、シャットダウン処理が行われる。このシャットダウン処理により、分析システム１の電源が自動的にオフ状態になり、分析システム１の動作が終了される。

次に、図３、図７〜図９、図１４および図１５を参照して、制御部１１２によるｎクロックの算出処理の方法について詳細に説明する。

図１５に示すように、フィルタ部１４（図３参照）の等速回転中に、ランプユニット５から参照光用光電変換素子８４ｂ（図８参照）に入射される参照光の光量は、「参照光の光量」として示した波形のように変化する。なお、図１５中の期間Ａは、ランプユニット５（図３参照）において、回転しているフィルタ部１４のいずれかの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの光の通路に配置される期間である。この期間Ａにおいて、ハロゲンランプ１１からの光の通路に光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆが差し掛かると、参照光の光量は徐々に増加し始める。その後、ハロゲンランプ１１からの光の通路が完全に光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆ内に収まることにより、参照光の光量は一定となる。その後、ハロゲンランプ１１からの光の通路から光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆが外れ始めると、参照光の光量は徐々に減少し始めるとともに、ハロゲンランプ１１からの光の通路から光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆが完全に外れると参照光の光量は０になる。

そして、参照光は、図７に示すように、参照光用光電変換素子８４ｂにより電気信号に変換されるとともに、その変換された電気信号は、参照光用プリアンプ８５ｂおよび増幅回路１１３により増幅される。そして、増幅回路１１３から参照光に対応する信号（以下、参照信号という）が出力されるとともに、この参照信号は、微分回路１１４に入力される。そして、微分回路１１４により、図１５に「参照信号の微分信号」として示した波形を有する参照信号の微分信号が生成される。この参照信号の微分信号は、コンパレータ（図示せず）を介して微分回路１１４（図９参照）から制御部１１２に入力される。

そして、図１４のステップＳ１１において、制御部１１２により、この参照信号の微分信号が所定の負のしきい値（＋）に到達した時点のクロック数Ｎ１が検出される。具体的には、図１５に示すように、参照光の光量の増加に伴って参照信号の微分信号が立ち上がる。そして、微分信号が所定の正のしきい値（＋）に到達するのに応答して、微分回路１１４（図９参照）から微分信号が入力される図示しないコンパレータにおいてＨレベルに立ち上がるパルス信号が出力される。このパルス信号は、制御部１１２のコントローラ１１２ａに入力されるとともに、コントローラ１１２ａでは、パルス信号がＨレベルに立ち上った時点のクロック数Ｎ１が検出される。このようにして、制御部１１２のコントローラ１１２ａにより、参照信号の微分信号が所定の正のしきい値（＋）に到達した時点のクロック数Ｎ１が検出される。

この後、図１５に示すように、参照光の光量はさらに増加するとともに、所定の値で一定となる。そして、その後、参照光の光量は徐々に減少する。これに伴って、参照信号の微分信号は、徐々に立ち下がる。そして、図１４のステップＳ１２において、制御部１１２により、参照信号の微分信号が所定の負のしきい値（−）に到達した時点のクロック数（Ｎ２）が検出される。具体的には、参照信号の微分信号が徐々に立ち下がるとともに、所定の負のしきい値（−）に到達するのに応答して、微分回路１１４（図９参照）から微分信号が入力される図示しないコンパレータにおいてＨレベルに立ち上がるパルス信号が出力される。このパルス信号は、制御部１１２のコントローラ１１２ａに入力されるとともに、コントローラ１１２ａでは、パルス信号がＨレベルに立ち上った時点のクロック数Ｎ２が検出される。このようにして、制御部１１２のコントローラ１１２ａにより、参照信号の微分信号が所定の負のしきい値（−）に到達した時点のクロック数Ｎ２が検出される。

そして、図１４のステップＳ１３において、制御部１１２により、クロック数Ｎ１からクロック数Ｎ２までの間にカウントされるクロック数（Ｎクロック）がＮ＝Ｎ２−Ｎ１の式により算出される。そして、ステップＳ１４において、制御部１１２により、測定用試料の透過光に対応する信号の取得を開始するタイミングを決定するためのクロック数（ｎクロック）がｎ＝（Ｎ−ｍ）／２の式を用いて算出される。なお、この式において、ｍクロックは、制御部１１２が測定用試料の透過光に対応する信号を取得する際に要する適切な期間として予め設定されたクロック数である。なお、第１実施形態では、測定用試料などによる影響を受けない参照光を用いて、制御部１１２が透過光に対応する信号の取得を開始するタイミングを算出している。そして、図１５からわかるように、Ｎ１クロックから上記のように算出したｎクロック後に、マルチプレクサ１１１ａによりｍクロックの期間だけ測定用試料の透過光に対応する検出部８２からの信号の取得を行えば、ランプユニット５からの照射光の光量が安定している期間の信号を取得することができる。

次に、図１、図２、図５〜図１１、図１３および図１６〜図１８を参照して、上記した図１３のステップＳ３の処理について詳細に説明する。まず、図１６のステップＳ２１において、ＰＣ本体３ｂにより一次測定の指示が行われる。これにより、上記した第１光学的情報取得部７０による検体中の干渉物質の測定が行われる。そして、第１光学的情報取得部７０によって取得された光学的情報は、コントローラ７４ｃを介してＰＣ本体３ｂに送信される。

次に、ステップＳ２２において、ＰＣ本体３ｂにより、送信された光学的情報を解析し、その解析結果に基づいて、一次測定を行った検体が第２光学的情報取得部８０による二次測定の対象であるか否かが判断される。そして、その検体が二次測定の対象ではないと判断された場合には、検体に含有される干渉物質の影響が大きいため信頼性の高い解析を行うことが困難である、という内容のメッセージを表示部３ｃに表示させる（ステップＳ２８）。一方、ステップＳ２２において、検体が二次測定の対象であると判断された場合には、ステップＳ２３において、ＰＣ本体３ｂにより検体の吸引が指示される。これにより、回転搬送部３０に保持されたキュベット１５２から検体分注アーム４０により検体が吸引される。

そして、ステップＳ２４において、ＰＣ本体３ｂにより測定用試料の調製が指示される。これにより、分析装置３において、検体分注アーム４０により吸引された検体が複数のキュベット１５２に分注されるとともに、試薬分注アーム５０により、試薬容器（図示せず）内の血液の凝固を開始させるための試薬がそれらの複数のキュベット１５２内の検体に添加される。このようにして、測定用試料の調製が行われる。そして、キュベット移送部６０により、測定用試料が収容されたキュベット１５２が第２光学的情報取得部８０のキュベット載置部８１の挿入孔８１ａに移動される。

そして、ステップＳ２５において、ＰＣ本体３ｂにより二次測定の指示が行われる。これにより、分析装置３において、測定用試料の二次測定が開始される。以下、この二次測定について詳細に説明する。

挿入孔８１ａに移動されたキュベット１５２には、上記のようにランプユニット５から５種類の異なる波長特性（３４０ｎｍ、４０５ｎｍ、５７５ｎｍ、６６０ｎｍおよび８００ｎｍ）の光が断続的に順次照射される。そして、キュベット１５２を透過した光は、光電変換素子８４ａ、プリアンプ８５ａ、マルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂ、アンプ１１１ｃ、Ａ／Ｄ変換部１１ｄを介して、デジタルデータに変換され、ロガー用メモリ１１２ｈに記憶される。

ここで、図１０を参照して、信号処理部１１１の動作について説明する。

マルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂ、アンプ１１１ｃおよびＡ／Ｄ変換部１１１ｄによる電気信号の処理は、マルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂ、アンプ１１１ｃおよびＡ／Ｄ変換部１１１ｄからなる３つの信号処理ラインＬ０〜Ｌ２において、部分的に並行して行われる。すなわち、図１０に示すように、信号処理ラインＬ０におけるマルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂおよびアンプ１１１ｃによる電気信号の処理と、信号処理ラインＬ１におけるＡ／Ｄ変換部１１１ｄによる変換処理および制御部１１２のロガー用メモリ１１２ｈ（図９参照）へのデータ記憶処理とが並行して行われる。また、同様に、信号処理ラインＬ１におけるマルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂおよびアンプ１１１ｃによる電気信号の処理と、信号処理ラインＬ２におけるＡ／Ｄ変換部１１１ｄによる変換処理および制御部１１２のロガー用メモリ１１２ｈ（図９参照）へのデータ記憶処理とが並行して行われる。また、信号処理ラインＬ２におけるマルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂおよびアンプ１１１ｃによる電気信号の処理と、信号処理ラインＬ０におけるＡ／Ｄ変換部１１１ｄによる変換処理および制御部１１２のロガー用メモリ１１２ｈ（図９参照）へのデータ記憶処理とが並行して行われる。

そして、これらの電気信号の部分的な並行処理は、図１７に示すように、３つの信号処理ラインＬ０〜Ｌ２を順次使用して４８μｓｅｃ単位で行われる。具体的には、まず、図１７に示したステップ０では、信号処理ラインＬ０においてマルチプレクサ１１１ａによるチャンネルＣＨ０への切替処理、オフセット回路１１１ｂによる補正処理およびアンプ１１１ｃによる増幅処理が行われる。このステップＳ０では、信号処理ラインＬ１およびＬ２は、電気信号の安定待ちの状態（信号待ち処理）であり、電気信号の処理は行われない。そして、図１７のステップＳ１では、信号処理ラインＬ１において、マルチプレクサ１１１ａによるチャンネルＣＨ１６への切替処理、オフセット回路１１１ｂによる補正処理およびアンプ１１１ｃによる増幅処理が行われる。このステップＳ１では、信号処理ラインＬ０およびＬ２は、電気信号の安定待ちの状態であり、電気信号の処理は行われない。

そして、図１７のステップＳ２において、信号処理ラインＬ０のＡ／Ｄ変換部１１１ｄによるチャンネルＣＨ０の電気信号のＡ／Ｄ変換処理およびロガー用メモリ１１２ｈへのデータ記憶処理と、信号処理ラインＬ２におけるマルチプレクサ１１１ａによるチャンネルＣＨ３２への切替処理、オフセット回路１１１ｂによる補正処理およびアンプ１１１ｃによる増幅処理とが並行して行われる。このステップＳ２では、信号処理ラインＬ１は、電気信号の安定待ちの状態であり、電気信号の処理は行われない。

そして、図１７のステップＳ３において、信号処理ラインＬ０におけるマルチプレクサ１１１ａによるチャンネルＣＨ１への切替処理、オフセット回路１１１ｂによる補正処理およびアンプ１１１ｃによる増幅処理と、信号処理ラインＬ１のＡ／Ｄ変換部１１１ｄによるチャンネルＣＨ１６の電気信号のＡ／Ｄ変換処理およびロガー用メモリ１１２ｈへのデータ記憶処理とが並行して行われる。このステップＳ３では、信号処理ラインＬ２は、電気信号の安定待ちの状態であり、電気信号の処理は行われない。

そして、図１７のステップＳ４において、信号処理ラインＬ１におけるマルチプレクサ１１１ａによるチャンネルＣＨ１７への切替処理、オフセット回路１１１ｂによる補正処理およびアンプ１１１ｃによる増幅処理と、信号処理ラインＬ２のＡ／Ｄ変換部１１１ｄによるチャンネルＣＨ３２の電気信号のＡ／Ｄ変換処理およびロガー用メモリ１１２ｈへのデータ記憶処理とが並行して行われる。このステップＳ４では、信号処理ラインＬ０は、電気信号の安定待ちの状態であり、電気信号の処理は行われない。

そして、上記のステップＳ２〜４による処理と同様の並行処理が、信号処理ラインＬ０〜Ｌ２において、ステップＳ４９まで信号処理を行うチャンネルを切り替えながら繰り返し行われる。そして、ステップＳ５０では、信号処理ラインＬ２においてマルチプレクサ１１１ａによるチャンネルＣＨ３２への切替処理、オフセット回路１１１ｂによる補正処理およびアンプ１１１ｃによる増幅処理が行われる。このステップＳ５０では、信号処理ラインＬ０およびＬ１は、電気信号の安定待ちの状態であり、電気信号の処理は行われない。

なお、マルチプレクサ１１１ａ、オフセット回路１１１ｂ、およびアンプ１１１ｃは、いずれも、信号処理の直後は、出力信号が安定しない。第１実施形態では、このような不安定な信号が分析物の解析に使用されることを防止するため、上記の電気信号の安定待ちの期間が設けられている。

上記のようにして、ステップＳ０〜５０の５１個のステップにより全てのチャンネルＣＨ０〜ＣＨ４７の電気信号の処理が行われる。なお、この５１個のステップによる電気信号の処理は、２．４５ｍｓｅｃ（＝４８μｓｅｃ×５１ステップ）の期間に行われる。また、この５１個のステップによる電気信号の処理は、後述するｍクロックのデータ取得処理の期間内に１回行われる。

ロガー用メモリ１１２ｈへのデータ記憶処理においては、前述のように、ハロゲンランプ１１からの光が透過した光学フィルタおよびチャンネルが特定できるように、所定のアドレスにデータが記憶される。このようにしてロガー用メモリ１１２ｈに記憶されたデータは、所定のタイミングにＰＣ本体３ｂに送信される。

そして、図１６のステップＳ２６において、ＰＣ本体３ｂは、ステップＳ２２において取得した第１光学的情報取得部７０からの光学的情報（データ）の分析結果に基づいて、第２光学的情報取得部８０からの波長特性および増幅率の異なる１０種類の光学的情報（データ）、すなわち、５種類の光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆにそれぞれ対応するＬゲインおよびＨゲインのデータのうち、分析に適している光学的情報（データ）を選択し、その光学的情報を解析する。そして、ステップＳ２７において、測定用試料の解析結果（第１実施形態では、図１８に示すような凝固曲線および凝固時間など）を表示部３ｃに出力する。

次に、図９、図１３、図１５、図１７および図１９を参照して、第１実施形態の制御部１１２によるデータ取得処理について説明する。このデータ取得処理は、ＰＣ本体３ｂが分析処理の指示（ステップＳ３）をすることによって開始される。

まず、図１９に示したステップＳ３１において、制御部１１２（図９参照）により、図１５のＮ１に対応する参照信号の微分信号の立ち上がりの検出を待つ処理が実行される。参照信号の微分信号の立ち上がりが検出されると、ステップＳ３２において、制御部１１２により、参照信号の微分信号の立ち上がりの時点から初期設定において算出したｎクロックが経過するのを待つ処理が実行される。

そして、ステップＳ３３において、制御部１１２により、３つのＡ／Ｄ変換部１１ｄからそれぞれ出力されるデジタルデータの取得を開始する処理が実行される。そして、ステップＳ３４において、制御部１１２により、デジタルデータの取得の開始からｍクロックが経過するのを待つ処理が実行される。そして、ｍクロックが経過すると、ステップＳ３５において、制御部１１２は、デジタルデータの取得を終了する。そして、ステップＳ３６において、制御部１１２により、ＰＣ本体３から分析指示を受信してから所定時間が経過したか否かを判断する処理が実行される。所定時間が経過していれば、データ取得処理を終了し、経過していなければ、ステップＳ３１の処理に戻る。

次に、図１、図９、図１１、図１８および図２０を参照して、第１実施形態のＰＣ本体３ｂによるデータ取得処理について説明する。この処理は、情報処理端末３ａの電源が投入されるとともに開始される。

ステップＳ４０において、ＰＣ本体３ｂは、ロガー１１２ｈに新たにデータが記憶されたか否かを監視し、データが１００ｍｓｅｃ分（フィルタ部１４の１回転分）記憶されるまで待つ。具体的には、ロガー１１２ｈに、１００ｍｓｅｃ分のデータが蓄積されると、制御部１１２から、それを知らせる通知が送信されるので、ＰＣ本体３ｂは、その通知が送信されるのを待つ。そして、ステップＳ４１において、ＰＣ本体３ｂにより、ロガー用メモリ１１２ｈからその１００ｍｓｅｃ分のデータ（部分時系列データ）がインターフェイス１１６およびローカルバスインターフェイス１１２ｋを介して取得される。すなわち、図１１に示すように、ロガー用メモリ１１２ｈのエリア０〜５にフィルタ部１４の１回転分に対応する１００ｍｓｅｃ分のデータが蓄積されると、このエリア０〜５に蓄積されたデータがＰＣ本体３ｂにより取得される。

そして、ステップＳ４２において、ＰＣ本体３ｂにより、情報処理端末３ａがシャットダウン指示を受け付けたか否かの判断が行われる。そして、シャットダウン指示を受け付けていない場合には、ステップＳ４０の処理に戻る。シャットダウン指示を受け付けた場合には、データ取得処理を終了する。なお、ステップＳ４１において、２回目にデータが取得される場合には、１回目にデータが取得されたロガー用メモリ１１２ｈのエリア０〜５の次の６つのエリア６〜１１のデータが取得される。このように、ＰＣ本体３ｂによりロガー用メモリ１１２ｈからデータ取得される際には、６つのエリア毎のデータが順次取得される。

なお、ＰＣ本体３ｂでは、ステップＳ４１でロガー用メモリ１１２ｈから取得した複数の部分時系列データの内、測定用試料が収容されたキュベット１５２（図１参照）が第２光学的情報取得部８０の挿入孔８１ａに挿入された時点以降の部分時系列データが時系列順に組み合わされて、所定の時系列データが作成される。そして、ＰＣ本体３ｂでは、その作成された時系列データに基づいて図１８に示すような凝固曲線が作成される。そして、ＰＣ本体３ｂでは、その作成された凝固曲線から測定用試料の凝固時間を求める。具体的には、図１８に示した凝固曲線のグラフにおいて、透過光の強度が１００％と０％との中間の５０％になる時点ｔを求めるとともに、その時点ｔのスタート時点からの経過時間を凝固時間として算出する。この凝固時間は、前述のように、ステップＳ２７（図１６）において、表示部３ｃに表示される。

以下、フィルタ部１４の回転の監視について説明する。

制御部１１２は、以下に説明する３つの監視処理を、フィルタ部の回転中に並行かつ継続して実行している。そして、この３つの監視処理のうち１つでもエラーが発生した場合には、フィルタ部１４の回転を停止させる。以下、上記のフィルタ部１４の回転の３つの監視処理の方法について詳細に説明する。

まず、図２、図３、図９、図２１および図２２を参照して、原点スリット１４ｋが検出される時間間隔を監視する場合の処理方法について説明する。第１実施形態では、分析装置３（図２参照）の電源がオン状態の間は、ランプユニット５（図３参照）のフィルタ部１４が停止することなく等速回転している。この際、回転するフィルタ部１４のスリットを検出するセンサ１６からの信号が制御部１１２（図９参照）のフィルタ部回転監視部１１２ｂに入力されている。なお、センサ１６は、スリットを検出した場合には、図２２の波形図に示すようなＯＮ状態に立ち上がる信号を出力する。そして、図２１のステップＳ５１において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６からの信号に基づいてセンサ１６がスリットを検出したか否かが判断される。そして、ステップＳ５１において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりセンサ１６がスリットを検出していないと判断された場合は、再度ステップＳ５１において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６がスリットの通過を検出したか否かの判断が繰り返し行われる。

一方、図２１のステップＳ５１において、制御部１１２のフィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６がスリットを検出したと判断された場合には、ステップＳ５２において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、そのスリットが原点スリット１４ｋであるか否かが判断される。この原点スリット１４ｋであるか否かの判断は、フィルタ部回転監視部１１２ｂ内のスリット幅カウンタ（図示せず）により生成される信号に基づいて行われる。スリット幅カウンタ（図示せず）は、図２２に示すようなセンサ１６からの信号の積分信号を生成する。なお、原点スリット１４ｋを検出した際のセンサ１６からの信号のＯＮ状態の期間は、原点スリット１４ｋの幅が他の通常スリット１４ｌの幅よりも大きいことに起因して、通常スリット１４ｌを検出した際のセンサ１６からの信号のＯＮ状態の期間に比べて長い。このため、フィルタ部回転監視部１１２ｂのスリット幅カウンタ（図示せず）により生成される積分信号は、センサ１６が原点スリット１４ｋを検出した場合には、他の通常スリット１４ｌを検出した場合よりも高いレベルまで立ち上がる。これにより、フィルタ部回転監視部１１２ｂにおいて、通常スリット１４ｌが検出された場合の積分信号の立ち上がるレベルと、原点スリット１４ｋが検出された場合の積分信号の立ち上がるレベルとの間に所定のしきい値を設定することにより、その所定のしきい値に積分信号が到達した場合には、センサ１６により検出されたスリットが原点スリット１４ｋであると判断される一方、所定のしきい値に積分信号が到達しない場合には、センサ１６により検出されたスリットが原点スリット１４ｋではない（通常スリット１４ｌである）と判断される。

そして、図２１のステップＳ５２において、センサ１６により検出されたスリットが原点スリット１４ｋではないと判断された場合には、ステップＳ５１の処理に戻る。一方、センサ１６により検出されたスリットが原点スリット１４ｋであると判断された場合には、ステップＳ５３において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、その原点スリット１４ｋがセンサ１６によって検出された時間Ｔ１が記憶される。次に、ステップＳ５４において、上記のステップＳ５１と同様にして、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりセンサ１６がスリットを検出したか否かの判断が行われる。そして、ステップＳ５４において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりセンサ１６がスリットを検出していないと判断された場合には、ステップＳ５４の判断が繰り返し行われる。一方、ステップＳ５４において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりセンサ１６がスリットを検出したと判断された場合には、ステップＳ５５において、上記のステップＳ５２と同様のセンサ１６が検出したスリットが原点スリット１４ｋであるか否かの判断が行われる。

そして、センサ１６が検出したスリットが原点スリット１４ｋではないと判断された場合には、ステップＳ５４の処理に戻る。一方、ステップＳ５５において、センサ１６が検出したスリットが原点スリット１４ｋであると判断された場合には、ステップＳ５６において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、その原点スリット１４ｋがセンサ１６によって検出された時間Ｔ（ｎ）が記憶される。ここで、ｎは、原点スリット１４ｋが検出された回数を表している。したがって、ここでは、原点スリット１４ｋの検出回数は２回であるので、ｎ＝２である。

次に、ステップＳ５７において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、Ｔ（ｎ）−Ｔ（ｎ−１）の算出が行われる。ここで、ｎ＝２であるので、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりＴ２−Ｔ１の算出が行われる。すなわち、ステップＳ５７では、１回目の原点スリット１４ｋの検出時間Ｔ１と２回目の原点スリット１４ｋの検出時間Ｔ２との間の時間間隔が算出される。そして、ステップＳ５８において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、ステップＳ５７において算出された時間間隔Ｔ２−Ｔ１が予め設定されたフィルタ部１４が１回転するのに要する所定の時間間隔の範囲内であるか否かが判断される。そして、ステップＳ５８において、時間間隔Ｔ２−Ｔ１が所定の時間間隔の範囲内ではないと判断された場合には、ステップＳ５９において、フィルタ部回転監視部１１２ｂからコントローラ１１２ａを介してコントローラステータスレジスタ１１２ｊにフィルタ部１４の回転が異常であるというエラー情報が出力される。この際、フィルタ部１４の回転は停止される。そして、エラー情報は、コントローラステータスレジスタ１１２ｊに一時的に記憶される。そして、コントローラステータスレジスタ１１２ｊに記憶されたエラー情報は、ローカルバスインターフェイス１１２ｋおよびインターフェイス１１６を介してＰＣ本体３ｂに送信される。そして、ＰＣ本体３ｂにより、情報処理端末３ａの表示部３ｃにフィルタ部１４の回転が異常であるというエラーメッセージが表示される。

一方、ステップＳ５８において、時間間隔Ｔ２−Ｔ１が所定の時間間隔の範囲内であると判断された場合には、ステップＳ６０において、制御部１１２により、フィルタ板の回転の停止が指示されたか否かが判断される。ステップＳ６０において、フィルタ部１４の回転の停止が指示されていないと判断された場合には、ステップＳ５４の処理に戻る。一方、ステップＳ６０において、フィルタ部１４の回転の停止が指示されたと判断された場合には、フィルタ部回転監視部１１２ｂによるフィルタ部１４の回転の監視処理は終了する。なお、ステップＳ５４〜Ｓ６０の一連の処理は、ステップＳ６０において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりフィルタ部１４の回転の停止が指示されたと判断されるまで繰り返し行われる。

次に、図２、図５、図９、図２１および図２３を参照して、制御部１１２によるフィルタ部１４の回転の監視処理において、隣接する２つのスリット（原点スリットまたは通常スリット）がそれぞれ検出される間の時間間隔を監視する場合の処理について説明する。

まず、図２３のステップＳ６１において、図２１に示したステップＳ５１と同様にして、制御部１１２（図９参照）のフィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６からの信号に基づいてセンサ１６がスリット（原点スリット１４ｋ（図５参照）または通常スリット１４ｌ）の通過を検出したか否かが判断される。そして、ステップＳ６１において、センサ１６（図９参照）がスリットを検出していないと判断された場合は、再度ステップＳ６１の処理が行われる。一方、センサ１６がスリットの通過を検出したと判断された場合には、ステップＳ６２において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、そのスリットがセンサ１６によって検出された時間ｔ１が記憶される。

次に、ステップＳ６３において、上記のステップＳ６１と同様にして、センサ１６がスリットの通過を検出したか否かの判断が再度行われる。そして、ステップＳ６３において、センサ１６がスリットの通過を検出していないと判断された場合には、ステップＳ６３の処理が繰り返し行われる。一方、ステップＳ６３において、センサ１６がスリットの通過を検出したと判断された場合には、ステップＳ６４において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、そのスリットがセンサ１６によって検出された時間ｔ（ｎ）が記憶される。ここで、ｎは、センサ１６によりスリットが検出された回数を表している。したがって、ここでは、スリットの検出回数は２回であるので、ｎ＝２である。

次に、ステップＳ６５において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、ｔ（ｎ）−ｔ（ｎ−１）の算出が行われる。ここで、ｎ＝２であるので、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりｔ２−ｔ１の算出が行われる。すなわち、ステップＳ６５では、１つ目のスリットの検出時間ｔ１と２つ目のスリットの検出時間ｔ２との間の時間間隔が算出される。そして、ステップＳ６６において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、ステップＳ６５において算出された時間間隔ｔ２−ｔ１が、予め設定された隣接する２つのスリットがそれぞれ検出される間の所定の時間間隔の範囲内であるか否かが判断される。なお、この時間間隔には、光学フィルタ１４ｆが通過してから光学フィルタ１４ｅが正常に通過するのに要する第１時間間隔と、光学フィルタ１４ｂが通過してから光学フィルタ１４ｆが正常に通過するのに要する第２時間間隔と、の２種類がある。

そして、ステップＳ６６において、時間間隔ｔ２−ｔ１が、上記第１時間間隔の範囲内でもなく、上記第２時間間隔の範囲内でもないと判断された場合には、ステップＳ６７において、フィルタ部回転監視部１１２ｂからコントローラ１１２ａを介してコントローラステータスレジスタ１１２ｊにフィルタ部１４の回転が異常であるというエラー情報が出力される。この際、フィルタ部１４の回転は停止される。そして、エラー情報は、コントローラステータスレジスタ１１２ｊに一時的に記憶される。そして、コントローラステータスレジスタ１１２ｊに記憶されたエラー情報は、ローカルバスインターフェイス１１２ｋおよびインターフェイス１１６を介してＰＣ本体３ｂに送信される。そして、ＰＣ本体３ｂにより、情報処理端末３ａ（図２参照）の表示部３ｃにフィルタ部１４の回転が異常であるというエラーメッセージが表示される。

一方、ステップＳ６６において、時間間隔ｔ２−ｔ１が所定の時間間隔の範囲内であると判断された場合には、ステップＳ６８において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりフィルタ部１４の回転の停止が指示されたか否かが判断される。そして、ステップＳ６８において、フィルタ部１４の回転の停止が指示されていないと判断された場合には、ステップＳ６３の処理に戻る。一方、ステップＳ６８において、フィルタ部１４の回転の停止が指示されたと判断された場合には、フィルタ部回転監視部１１２ｂによるフィルタ部１４の回転の監視処理は終了する。なお、ステップＳ６１〜Ｓ６８の一連の処理は、ステップＳ６８において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりフィルタ部１４の回転の停止が指示されたと判断されるまで繰り返し行われる。

次に、図２、図５、図９、図２１および図２４を参照して、第１実施形態の制御部１１２によるフィルタ部１４の回転の監視処理において、２つの原点スリット１４ｋが検出される間に検出される通常スリット１４ｌの数を監視する場合の処理について説明する。

まず、図２４のステップＳ７１において、図２１に示したステップＳ５１と同様にして、制御部１１２（図９参照）のフィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６からの信号に基づいてセンサ１６が回転するフィルタ部１４（図５参照）のスリットを検出したか否かが判断される。そして、ステップＳ７１において、センサ１６（図９参照）がスリットを検出していないと判断された場合は、再度ステップＳ７１の処理が行われる。

一方、ステップＳ７１において、センサ１６がスリットを検出したと判断された場合には、ステップＳ７２において、図２１に示したステップＳ５２と同様にして、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６によって検出されたスリットが原点スリット１４ｋであるか否かが判断される。そして、ステップＳ７２において、検出されたスリットが原点スリット１４ｋではないと判断された場合には、ステップＳ７１の処理に戻る。一方、ステップＳ７２において、検出されたスリットが原点スリット１４ｋであると判断された場合には、ステップＳ７３において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６によって原点スリット１４ｋが検出されたという情報が記憶される。

次に、ステップＳ７４において、上記のステップＳ７１と同様にして、センサ１６がスリットを検出したか否かの判断が再度行われる。そして、ステップＳ７４において、スリットを検出していないと判断された場合には、ステップＳ７４の処理が再度実行される。一方、ステップＳ７４において、スリットを検出したと判断された場合には、ステップＳ７５において、上記のステップＳ７２と同様にして、検出したスリットが原点スリット１４ｋであるか否かの判断が行われる。そして、ステップＳ７５において、検出したスリットが原点スリット１４ｋではない（通常スリット１４ｌである）と判断された場合には、ステップＳ７６において、ステップＳ７５において検出されたスリット（通常スリット１４ｌ）の数がカウントされる。その後、ステップＳ７４の処理に戻る。

一方、ステップＳ７５において、検出されたスリットが原点スリット１４ｋであると判断された場合には、ステップＳ７７において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６によって原点スリット１４ｋが検出されたという情報が記憶される。そして、ステップＳ７８において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、ステップＳ７６においてカウントされた通常スリット１４ｌの数が２つの原点スリット１４ｋが検出される間に検出された通常スリット１４ｌの数として取得される。そして、ステップＳ７９において、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、ステップＳ７８において取得された通常スリット１４ｌの数が所定数（５）であるか否かが判断される。そして、ステップＳ７９において、取得された通常スリット１４ｌの数が所定数（５）ではないと判断された場合には、ステップＳ８０において、フィルタ部回転監視部１１２ｂからコントローラ１１２ａを介してコントローラステータスレジスタ１１２ｊにフィルタ部１４の回転が異常であるというエラー情報が出力される。この際、フィルタ部１４の回転は停止される。そして、エラー情報は、コントローラステータスレジスタ１１２ｊに一時的に記憶される。そして、コントローラステータスレジスタ１１２ｊに記憶されたエラー情報は、ローカルバスインターフェイス１１２ｋおよびインターフェイス１１６を介してＰＣ本体３ｂに送信される。そして、ＰＣ本体３ｂにより、情報処理端末３ａ（図２参照）の表示部３ｃにフィルタ部１４の回転が異常であるというエラーメッセージが表示される。

一方、ステップＳ７９において、取得された通常スリット１４ｌの数が所定数（５）であると判断された場合には、ステップＳ８１において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりフィルタ部１４の回転の停止が指示されたか否かが判断される。そして、ステップＳ８１において、フィルタ部１４の回転の停止が指示されていないと判断された場合には、ステップＳ７４の処理に戻る。一方、ステップＳ８１において、フィルタ部１４の回転の停止が指示されたと判断された場合には、フィルタ部回転監視部１１２ｂによるフィルタ部１４の回転の監視処理は終了する。なお、ステップＳ７４〜Ｓ８１の一連の処理は、ステップＳ８１において、フィルタ部回転監視部１１２ｂによりフィルタ部１４の回転の停止が指示されたと判断されるまで繰り返し行われる。

第１実施形態では、上記のように、光透過特性のそれぞれ異なる５つの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを有するフィルタ部１４を実質的に等速回転させることにより、ハロゲンランプ１１からの光の通路に配置する光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを順次切り替えて、波長特性の異なる光を順次測定用試料に照射するランプユニット５を設けることによって、照射する光の波長を切り替える毎に一旦フィルタ部１４の回転を停止してから光を照射する場合と異なり、１００ｍｓｅｃという短期間内に頻繁に光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを切り替えることが可能となる。また、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを切り替える場合のフィルタ部１４の回転の制御が複雑化するのを抑制することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、５つの光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを有するフィルタ部１４を実質的に等速回転させることにより、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆをハロゲンランプ１１からの光の通路に停止させなくてもよいので、ハロゲンランプ１１からの光の通路に対する光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆの位置調整を不要とすることが可能である。また、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆをハロゲンランプ１１からの光の通路に停止させなくてもよいので、位置決め精度の高い高価なモータを使用する必要がない。これにより、安価な分析装置を提供することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、光電変換素子８４ａにより、ランプユニット５から分析物に光を照射することによって得られる光を検出するとともに、検出した光に対応する信号を出力し、ＰＣ本体３ｂにより、光電変換素子８４ａから出力された信号に基づいて、分析物の特性を解析することによって、光電変換素子８４ａとＰＣ本体３ｂとにより、容易に、ランプユニット５から分析物に光を照射することによって得られる光に基づいて、分析物の特性を解析することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部１１２により、ランプユニット５が光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを透過した光を分析物に照射したときに光電変換素子８４ａにより検出される光に対応する特定信号を、光電変換素子８４ａから選択的に取得し、ＰＣ本体３ｂにより、制御部１１２により取得された特定信号に基づいて、分析物の特性を解析することによって、容易に、ランプユニット５が光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを透過した光を分析物に照射したときに光電変換素子８４ａにより検出される光に対応する特定信号に基づいて、分析物の特性を容易に解析することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部１１２により、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの光の通路に配置されるタイミングを検出するとともに、そのタイミングに基づいて特定信号の取得を開始することによって、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの通路に配置されているときに分析物を介して検出される光に対応する光を確実に取得することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部１１２は、センサ１６によってスリットが検出された時点から所定の時間経過後に特定信号の取得を開始することによって、スリットが検出されてからの時間を計測することにより、正確に、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの光の通路に配置されるタイミングを検出することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、制御部１１２により、参照光用光電変換素子８４ｂから出力される参照信号に基づいて、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの光の通路に配置されるタイミングを検出することによって、分析物を介して照射される光に対応する信号を用いる場合に比べて、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの光の通路に配置されることに起因する光量の変化がより明確に現れるので、より正確に、光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆがハロゲンランプ１１からの光の通路に配置されるタイミングを検出することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ＰＣ本体３ｂは、検体の特性に応じて、波長特性および増幅率の異なる１０種類の光学的情報のうち、分析に適している光学的情報を選択して分析物の特性を解析することによって、ＰＣ本体３ｂによる検体の特性の解析精度を向上させることができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ＰＣ本体３ｂにより、制御部１１２により取得された特定信号に基づいて時系列データを作成するとともに、作成した時系列データに基づいて、分析物の特性を解析することによって、分析システム１により、容易に、時系列データに基づく分析物の特性の解析を行うことができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ＰＣ本体３ｂは、ロガー用メモリ１１２ｈに記憶された特定信号から所定の時間間隔毎に所定量の部分時系列データを取得するとともに、取得した部分時系列データを組み合わせて時系列データを作成することによって、容易に、ＰＣ本体３ｂにより時系列データを作成することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、フィルタ部回転監視部１１２ｂによるフィルタ部１４の回転の監視結果に基づいてフィルタ部１４の回転の制御を行うことにより、フィルタ部１４の正常な回転を維持することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、フィルタ部回転監視部１１２ｂにより、センサ１６の検出結果に基づいてフィルタ部１４が正常に回転しているか否かを監視することによって、容易に、フィルタ部１４が正常に回転しているか否かを監視することができる。

また、第１実施形態では、上記のように、ＰＣ本体３ｂは、試薬分注アーム５０によって分析物に試薬が混合された後、測定用試料が収容されたキュベット１５２（図１参照）が第２光学的情報取得部８０の挿入孔８１ａに挿入された時点から、分析物が所定の凝固状態に変化するまでの時間を解析することによって、実質的に等速回転する光学フィルタ１４ｂ〜１４ｆを透過した光を用いて連続的に分析物の光学的情報を所定時間内に多く取得することができるので、その多くの光学的情報に基づいて、分析物の凝固時間を正確に解析することができる。
（第２実施形態）
次に、本発明の第２実施形態による分析システムの動作について説明する。なお、第２実施形態による分析システムの構成は、上記第１実施形態による分析システム１の構成と同様であるので、その説明を省略する。第２実施形態に係る分析システムは、上記第１実施形態に係る分析システム１と異なり、制御部１１２が参照信号の微分信号を用いてデータの取得を行う構成ではなく、フィルタ部１４のスリットの検出信号を用いてデータを取得するようになっている。

第２実施形態による分析システムの初期設定について説明する。第２実施形態による分析システムは、以下のようにしてスリット検出からデータ取得開始までの経過クロック数ｐを算出する。図２６は、第２実施形態による制御部のｐクロックの算出処理を示すフローチャートである。まず、フィルタ部１４が回転している状態で、制御部１１２（図９参照）により、センサ１６からの信号に基づいてセンサ１６がスリットを検出した時点のクロック数Ｎ２１が検出される（ステップＳ２０１）。次に、上記第１実施形態のステップＳ１１〜Ｓ１４と同様にして、制御部１１２により、参照信号の微分信号が所定の負のしきい値（＋）に到達した時点のクロック数Ｎ１が検出され（ステップＳ２０２）、参照信号の微分信号が所定の負のしきい値（−）に到達した時点のクロック数（Ｎ２）が検出され（ステップＳ２０３）、クロック数Ｎ１からクロック数Ｎ２までの間にカウントされるクロック数（Ｎクロック）がＮ＝Ｎ２−Ｎ１の式により算出され（ステップＳ２０４）、参照信号の立ち上がりから測定用試料の透過光に対応する信号の取得を開始するタイミングまでのｎクロックがｎ＝（Ｎ−ｍ）／２の式を用いて算出される（ステップＳ２０５）。そして、ステップＳ２０６において、制御部１１２により、スリットの検出から参照信号の立ち上がりまでのクロック数（Ｐクロック）がＰ＝Ｎ１−Ｎ２１の式を用いて算出され、ステップＳ２０７において、制御部１１２により、測定用試料の透過光に対応する信号の取得を開始するタイミングを決定するためのクロック数（ｐクロック）がｐ＝Ｐ＋ｎの式を用いて算出される。このように、第２実施形態では、フィルタ部１４に設けられたスリットを用いて、制御部１１２が透過光に対応する信号の取得を開始するタイミングを算出している。そして、図２７からわかるように、Ｎ２１クロックから上記のように算出したｐクロック後に、マルチプレクサ１１１ａによりｍクロックの期間だけ測定用試料の透過光に対応する検出部８２からの信号の取得を行えば、ランプユニット５からの照射光の光量が安定している期間の信号を取得することができる。

次に、第２実施形態の制御部１１２によるデータ取得処理について説明する。このデータ取得処理は、ＰＣ本体３ｂが分析処理の指示をすることによって開始される。

図２８は、第２実施形態による制御部のデータ取得の動作を示すフローチャートである。まず、図２８に示したステップＳ２３１において、制御部１１２により、センサ１６からの信号に基づいてセンサ１６がスリットを検出したか否かが判断される。スリットが検出されると、ステップＳ２３２において、制御部１１２により、スリット検出の時点から初期設定において算出したｐクロックが経過するのを待つ処理が実行される。その後のＳ２３３〜Ｓ２３６の処理は、上記第１実施形態におけるステップＳ３３〜Ｓ３６の処理と同様であるので、その説明を省略する。

また、この第２実施形態の分析システムのその他の動作については、上記第１実施形態による分析システム１の動作と同様であるので、その説明を省略する。

なお、第２実施形態の場合の効果は上記第１実施形態の場合と同様である。

なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。

たとえば、上記第１及び第２実施形態では、検出部および信号処理部から出力されるデータを制御部のロガー用メモリに一旦蓄積させた後、ロガー用メモリに蓄積されたデータから、ＰＣ本体が所定期間の部分時系列データを順次取得するように構成したが、本発明はこれに限らず、ロガー用メモリに一旦データを蓄積することなく、検出部または信号処理部からデータをＰＣ本体に直接出力するように構成してもよい。

また、上記第１実施形態では、参照信号の微分信号に基づいて、信号の取得を開始するタイミング（ｎクロック）を算出するとともに、参照信号の微分信号が所定のしきい値に到達した時点から、算出したｎクロック後に制御部によるデータの取得を開始するように構成したが、本発明はこれに限らず、予め設定したタイミングで制御部によるデータの取得を開始するようにしてもよい。

また、上記第１実施形態では、参照光に対応する参照信号の微分信号の立ち上がり時点からｎクロック後に、制御部によるデータの取得を開始したが、本発明はこれに限らず、センサによりスリットが検出されたタイミングから所定の期間後に制御部によるデータの取得を開始してもよい。

また、上記第２実施形態においては、参照信号を用いた初期設定によりｐクロックを算出する構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、予め固定値のｐクロックを与えておいてもよいし、ユーザがｐクロックを自由に設定できるようにしてもよい。

また、上記第１実施形態では、フィルタ部１４に設けられたスリットを用いてフィルタ部１４の回転の監視を行う構成としたが、これに限定されるものではなく、参照信号を用いてフィルタ部１４の回転監視を行ってもよい。例えば、図２９に示すように、１つのフィルタ（以下、原点フィルタという）を透過したときの参照光の光量が原点フィルタ以外の他のフィルタ（以下、他のフィルタという）を透過したときの参照光の光量と異なる場合において、参照信号のレベルを監視して原点フィルタの通過を特定し（例えば、図３０に示すように、原点フィルタ通過時のみ参照信号のレベルより小さく、他のフィルタ通過時の参照信号のレベルより大きい閾値を用いる）、原点フィルタが通過してから次に原点フィルタが通過するまでの経過時間を計測することにより、フィルタ部１４の回転監視を行う構成としてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、凝固測定を行う分析装置に本発明を適用した例について説明したが、本発明はこれに限らず、凝固測定以外の複数の波長特性を有する光を用いる必要のある種々の測定に使用する分析装置（分析システム）に本発明を適用してもよい。たとえば、生化学分析装置（分析システム）などに本発明を適用してもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、情報処理端末を分析装置の装置本体とは別に設けているが、本発明はこれに限らず、情報処理端末と分析装置の装置本体とを一体化してもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、検体が増加した場合に対応可能なように、分析装置が拡張用分析装置による拡張が可能なように構成されているが、本発明はこれに限らず、分析装置が拡張用分析装置による拡張ができないように構成されていてもよい。

また、上記第１および第２実施形態では、複数の光電変換素子から出力された複数のアナログ信号から１つずつ選択して順次オフセット回路に出力するマルチプレクサを用いる例を示したが、本発明はこれに限らず、複数の光電変換素子から出力される複数のアナログ信号から２つ以上のアナログ信号を同時に選択するアナログ信号選択器を用いてもよい。

上記目的を達成するために、この発明の第１の局面における分析装置は、血液検体に試薬を混合して測定用試料を調製する試薬混合部と、前記測定用試料を収容した容器が設置される複数の容器設置部と、光源と、軸を中心として回転可能に構成され、前記軸を中心とした円周に沿って透過波長のそれぞれ異なる複数の光学フィルタが設けられたフィルタ部とを含み、前記フィルタ部を前記軸を中心に回転させることにより、前記光源からの光の光路に前記各光学フィルタを順次通過させる光照射装置と、前記光学フィルタを透過した光を前記複数の容器設置部に誘導し、誘導した光を前記複数の容器設置部に設置された複数の容器に照射する光分配手段と、前記複数の容器設置部の各々に対応して設けられており、対応する容器設置部に設置された容器を透過した光を検出するとともに、検出した光に対応する信号を出力するように構成された複数の受光素子と、前記フィルタ部の回転によって各光学フィルタが前記光路を通過する毎に、前記複数の受光素子からの信号を取得し、前記容器設置部に設置された複数の容器内の各測定用試料について、少なくとも一の光学フィルタに対応する信号から時系列データを作成し、作成した前記時系列データに基づいて、各血液検体の特性を解析する解析手段と、を備える。

Claims (13)

1. 血液検体に試薬を混合して測定用試料を調製する試薬混合部と、
   前記測定用試料を収容した容器が設置される複数の容器設置部と、
   光源と、軸を中心として回転可能に構成され、前記軸を中心とした円周に沿って透過波長のそれぞれ異なる複数の光学フィルタが設けられたフィルタ部とを含み、前記フィルタ部を前記軸を中心に回転させることにより、前記光源からの光の光路に前記各光学フィルタを順次通過させる光照射装置と、
   前記光学フィルタを透過した光を前記複数の容器設置部に誘導し、誘導した光を前記複数の容器設置部に設置された複数の容器に照射する光分配手段と、
   前記複数の容器設置部の各々に対応して設けられており、対応する容器設置部に設置された容器を透過した光を検出するとともに、検出した光に対応する信号を出力するように構成された複数の受光素子と、
   前記フィルタ部の等速回転によって各光学フィルタが前記光路を通過する毎に、前記複数の受光素子からの信号を取得し、前記容器設置部に設置された複数の容器内の各測定用試料について、少なくとも一の光学フィルタに対応する信号から時系列データを作成し、作成した前記時系列データに基づいて、各血液検体の特性を解析する、分析装置。
2. 前記時系列データが、凝固曲線であり、
   前記血液検体の特性が、凝固時間である、請求項１に記載の分析装置。
3. 前記光分配手段は、一端が前記光照射装置に接続され、他端が前記容器設置部に接続された複数の光ファイバを含む、請求項１又は２に記載の分析装置。
4. 前記試薬混合部によって調製された測定用試料を収容した容器を、前記容器設置部に移送し、分析が終了した容器を前記容器設置部から取り出す容器移送部をさらに備える、請求項１〜３のいずれか１項に記載の分析装置。
5. 前記光照射装置は、前記フィルタ部を、前記軸を中心に等速回転させる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の分析装置。
6. 前記複数の受光素子から出力された信号を取得して解析手段に供給する信号取得手段をさらに備える、請求項１〜５のいずれか１項に記載の分析装置。
7. 前記信号取得手段は、前記光学フィルタが前記光源からの光の通路に配置されるタイミングを検出するとともに、前記タイミングにおいて得られた信号を解析手段に供給する、請求項６に記載の分析装置。
8. 前記信号取得手段は、複数の受光素子から出力された複数の信号を、前記解析手段に順次供給するマルチプレクサを含む、請求項６に記載の分析装置。
9. 前記フィルタ部は、前記複数の光学フィルタに対してそれぞれ所定の位置に設けられた複数の識別子を有しており、
   前記複数の識別子を検出する識別子検出部をさらに備え、
   前記信号取得手段は、前記識別子検出部によって識別子が検出された時点から所定の時間経過後に信号を取得する、請求項６に記載の分析装置。
10. 前記光分配手段から前記測定用試料を介さずに照射される参照光を検出するとともに、検出した前記参照光に対応する参照信号を出力する参照光用光検出部をさらに備え、
    前記信号取得手段は、前記参照光用光検出部から出力される前記参照信号に基づいて、前記光学フィルタが前記光源からの光の通路に配置される前記タイミングを検出する、請求項１〜９のいずれか１項に記載の分析装置。
11. 各光学フィルタが前記光の通路に配置される毎に前記受光素子から出力された信号を記憶する記憶部をさらに備え、
    前記解析手段は、前記記憶部に記憶された信号のうち所定の時間間隔毎に得られた信号を組み合わせて前記時系列データを作成する、請求項１〜１０のいずれか１項に記載の分析装置。
12. 前記フィルタ部が等速回転しているか否かを監視する監視手段をさらに備える、請求項１〜１１のいずれか１項に記載の分析装置。
13. 前記フィルタ部は、前記フィルタ部の回転方向に沿って所定の間隔を隔てて配置された複数の開口部を有し、
    前記フィルタ部の回転に伴う前記開口部の通過を検出するセンサをさらに備え、
    前記監視手段は、前記センサの検出結果に基づいて前記フィルタ部が等速回転しているか否かを監視する、請求項１２に記載の分析装置。

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