JP2012255182A - 無電解めっき金属皮膜の製造方法及びめっき被覆基板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ポリエチレンイミン中のアミノ基にポリエチレングリコールが結合してなる化合物と、平均粒子径が2〜100nmの銀ナノ粒子とを主構成成分とする銀含有構造体を触媒とする無電解めっき金属皮膜を製造する方法であって、(1)被めっき物表面をカチオン性処理剤で処理する工程、(2)前記工程(1)に引き続き、アニオン性処理剤で処理する工程、(3)前記工程(2)後の処理被めっき物を前記銀含有構造体の水性分散体に浸漬し、その被めっき物に銀含有構造体を吸着させる工程、及び(4)前記工程(3)で得られた銀含有構造体吸着被めっき物を無電解めっき用の金属イオン液(c)に浸漬する工程を有することを特徴とする無電解めっき金属皮膜の製造方法。
【選択図】図1
Description
(1)被めっき物表面をカチオン性処理剤(a)で処理する工程、
(2)前記工程(1)に引き続き、アニオン性処理剤(b)で処理する工程、
(3)前記工程(2)後の処理被めっき物を前記銀含有構造体の水性分散体に浸漬し、その被めっき物に銀含有構造体を吸着させる工程、及び
(4)前記工程(3)で得られた銀含有構造体吸着被めっき物を無電解めっき用の金属イオン液(c)に浸漬する工程
を有することを特徴とする無電解めっき金属皮膜の製造方法と、これにより得られるめっき被覆基板とを提供するものである。
(1)被めっき物表面をカチオン性処理剤(a)で処理する工程、
(2)前記工程(1)に引き続き、アニオン性処理剤(b)で処理する工程、
(3)前記工程(2)後の処理被めっき物を前記銀含有構造体の水性分散体に浸漬し、その被めっき物に銀含有構造体を吸着させる工程、及び
(4)前記工程(3)で得られた銀含有構造体吸着被めっき物を無電解めっき用の金属イオン液(c)に浸漬する工程
を有する。
本明細書内において、「銀含有構造体の水性分散体」を「無電解めっき用触媒組成物」ということがある。また、本明細書内において、「カチオン性処理剤」と「アニオン性処理剤」とを総称して、「表面調整液」ということがある。
以下、本発明の特徴である無電解めっき用触媒組成物、並びに本発明の製造方法の各工程について説明する。
本発明において、無電解めっき用触媒組成物は、特定の保護剤が銀ナノ粒子の表面をキャッピングしてなる構造体の水性分散体を用いる。即ち、数平均分子量が500〜50,000のポリエチレンイミン(x1)中のアミノ基に数平均分子量が500〜5,000のポリエチレングリコール(x2)が結合してなる化合物(X)と、透過型電子顕微鏡写真から求められる平均粒子径が2〜100nmの銀ナノ粒子(Y)とを主構成成分とする銀含有構造体に含まれる当該銀ナノ粒子(Y)が後のめっき工程において触媒作用を有するものである。
この銀含有構造体中に含まれる銀ナノ粒子(Y)は、その大きさを透過型電子顕微鏡写真によって見積もることが可能であって、本発明では透過型電子顕微鏡写真におけるその100個の粒子の内径の最長の長さ(最大長)の平均値を「平均粒子径」という。該平均値が2〜100nmの範囲であるものは前述の公報記載の方法に従うことによって容易に得ることができる。それらのナノ粒子は1個ずつが独立して存在し、その周りは前記化合物(X)で保護され、室温下では融着せず安定に存在している。特に本発明においては、その平均粒子径が5〜50nmであるものを無電解めっき用触媒として用いることにより、より緻密で均一なめっき被覆基板が得られる観点から好ましいものである。銀ナノ粒子(Y)の粒子径は、銀化合物の種類、保護剤となる化合物(X)の分子量、構造、その使用割合、錯化剤や還元剤の種類やその使用量、還元反応時における温度等によって容易に制御可能であり、これらについては、前述の特許文献等における実施例を参照すれば良い。
本発明での被めっき物は、前述の銀含有構造体を吸着させる基材であり、特に限定されるものではない。例えば、素材としてはガラス繊維強化エポキシ、ポリイミド、PET等のプラスチック類、ガラス、セラミック、金属酸化物、金属、紙、合成又は天然繊維などの材質を1種で又は組み合わせてなるものであり、その形状としては、板、フィルム、布状、繊維状、チューブ等のいずれであっても良い。特に、吸着させる銀含有構造体は水性分散体として用いる点から、水にぬれる傾向を示す、即ち、被めっき物表面の水接触角が75°以下であることが望ましい。また、水にぬれにくい材質からなるものであっても、それを表面処理、例えば、プラズマ照射、紫外線照射、エッチングなどを施し、表面に親水性を付与することが可能なものであれば、好適に用いることができる。特に本発明においての被めっき物は、均一な金属皮膜を容易に得ることができる点より、回路基板用樹脂基材又はセラミック基材であることが好ましい。
本発明では、従来のパラジウム触媒を用いて行う無電解めっき金属皮膜作製工程における当該パラジウム触媒を、前述の特定構造の銀含有構造体からなる触媒に変えることで、その触媒効果に適した無電解めっき工程を確立した。
(1)被めっき物表面をカチオン性処理剤(a)で処理する工程。
(2)前記工程(1)に引き続き、アニオン性処理剤(b)で処理する工程。
本発明で用いる銀含有構造体は、前述のように数平均分子量が500〜50,000のポリエチレンイミン(x1)中のアミノ基に数平均分子量が500〜5,000のポリエチレングリコール(x2)が結合してなる化合物(X)を保護剤として含有するものである。この様な特定の保護剤を用いていることにより、処理被めっき物表面がアニオン性であると、当該化合物(X)中ポリエチレングリコールと結合していないエチレンイミンユニットとの相互作用等により、触媒組成物中の銀含有構造体を効率よく吸着させることが可能となる。又、被めっき物の形状によらず、当該銀含有構造体を均一に、即ちつきまわり性が良好な吸着を可能とするものである。
即ち、前記工程(3)の後、(4)前記工程(3)で得られた銀含有構造体吸着被めっき物を無電解めっき用の金属イオン液(c)に浸漬する工程を行うことにより、無電解めっき金属皮膜を製造することができる。
本発明にて用いた機器類は下記の通りである。
1H−NMR:日本電子株式会社製、AL300、300Hz
TEM観察:日本電子株式会社製、JEM−2200FS
SEM観察:キーエンス社製、VE−9800
TGA測定:SIIナノテクノロジー株式会社製、TG/DTA6300
プラズモン吸収スペクトル:株式会社日立製作所製、UV−3500
動的散乱粒径測定装置:大塚電子株式会社製、FPAR−1000
表面抵抗値測定:三菱化学株式会社製、低抵抗率計ロレスタEP(4端子法)
本発明で用いる銀含有構造体(水性分散体)はDIC株式会社製である。当該構造体の具体的合成は、特開2010−251703号公報、特開2010−118168号公報、特開2010−007124号公報、特開2008−045024号公報、特開2008−038180号公報、特開2008−037949号公報、特開2008−037884号公報などを参考に、下記のように行なった。
1.〔ポリエチレングリコールのトシル化反応〕
窒素雰囲気下、メトキシポリエチレングリコール[Mn=2,000]20.0g(10.0mmol)、ピリジン8.0g(100.0mmol)、クロロホルム20mlの混合溶液に、p−トルエンスルホン酸クロライド9.6g(50.0mmol)を含むクロロホルム(30ml)溶液を、氷冷撹拌しながら30分間滴下した。滴下終了後、浴槽温度40℃でさらに4時間攪拌した。反応終了後、クロロホルム50mlを加えて反応液を希釈した。引き続き、5%塩酸水溶液100ml、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液100ml、そして飽和食塩水溶液100mlで順次に洗浄した後、硫酸マグネシウムで乾燥し、濾過、減圧濃縮した。得られた固形物をヘキサンで数回洗浄した後、濾過、80℃で減圧乾燥して、トシル化された生成物22.0gを得た。
1H−NMR(CDCl3)測定結果:
δ(ppm):7.82(d),7.28(d),3.74〜3.54(bs),3.41(s),2.40(s)
上記で合成した末端にp−トルエンスルホニルオキシ基を有するメトキシポリエチレングリコール化合物5.39g(2.5mmol)、分岐状ポリエチレンイミン(アルドリッチ社製、分子量25,000)を20.0g(0.8mmol)、炭酸カリウム0.07g及びN,N−ジメチルアセトアミド100mlを、窒素雰囲気下、100℃で6時間攪拌した。得られた反応混合物に酢酸エチルとヘキサンの混合溶液(V/V=1/2)300mlを加え、室温で強力攪拌した後、生成物の固形物を濾過した。その固形物を酢酸エチルとヘキサンの混合溶液(V/V=1/2)100mlを用いて2回繰り返し洗浄した後、減圧乾燥して、分岐状ポリエチレンイミンにポリエチレングリコールが結合した目的の共重合体を得た(24.4g)。
1H−NMR(CDCl3)測定結果:
δ(ppm):3.50(s),3.05〜2.20(m)
上記で得られた共重合体0.592g含む水溶液138.8gに酸化銀10.0gを加えて25℃で30分間攪拌した。引き続き、ジメチルエタノールアミン46.0gを攪拌しながら徐々に加えたところ、反応溶液は黒赤色に変わり、若干発熱したが、そのまま放置して25℃で30分間攪拌した。その後、10%アスコルビン酸水溶液15.2gを攪拌しながら徐々に加えた。その温度を保ちしながらさらに20時間攪拌を続けて、黒赤色の分散体を得た。
合成例で得た銀含有構造体の水性分散体を、2.0g/Lの濃度に調整したものを触媒液−1とした。(媒体:水)
1.脱脂:脱脂剤(ICPクリーナーSC、奥野製薬工業株式会社製)を用いて、60℃の処理液中に5分間浸漬した。
2.表面調整:
(1)カチオン化処理:ポリアリルアミン塩酸塩[Mn=分子量5,000]の5g/L水溶液をカチオン性処理剤として用いた。25℃の処理液中に5分間浸漬した。
(2)アニオン化処理:ポリアクリル酸[Mn=分子量6,000]の5g/L水溶液をアニオン性処理剤として用いた。25℃の処理液中に5分間浸漬した。
3.触媒付与:触媒液−1を用い、25℃の処理液中に10分間浸漬して被めっき物に銀含有構造体を吸着させた。
4.無電解めっき:無電解銅めっき液(MOONカッパー700、奥野製薬工業株式会社製)を用いて、pH12.5のめっき液中に45℃で15分間浸漬した。
1.皮膜被覆率(%):被めっき物上にめっき皮膜が形成された面積の割合を示す。
2.めっき皮膜の表面抵抗値(Ω/□):4端子法で測定した。
3.めっき皮膜の表面状態:SEM像によりめっきの析出状態を確認した。
結果を表1及び図1に示す。実施例1における銅めっき被覆基板の写真。a)銅で覆われた表面を有するめっき被覆基板の写真。b)銅めっき被覆基板表面のSEM写真。c)写真bの拡大イメージ。d)写真bの拡大イメージ。
合成例で得た銀含有構造体の水性分散体を、0.5g/Lの濃度に調整したものを触媒液−2とした(媒体:水)。触媒液−1に代えて、触媒液−2を用いる以外は、実施例1と同様にして、無電解めっきを行い、得られた無電解めっき皮膜について、皮膜被覆率、めっき皮膜の表面抵抗値、めっき皮膜の表面状態を評価した。結果を表1及び図2に示す。
表面調整工程において、ポリエチレンイミン[Mn=分子量1,200]の10g/L水溶液をカチオン性処理剤として用い、これに25℃の処理液中に5分間浸漬した。アニオン化処理に、ポリアクリル酸ナトリウム[Mn=分子量2,000]の5g/L水溶液をアニオン性処理剤として用いた以外は、実施例1と同様にして、無電解めっきを行い、得られた無電解めっき皮膜について、皮膜被覆率、めっき皮膜の表面抵抗値、めっき皮膜の表面状態を評価した。結果を表1及び図3に示す。
触媒液−1に代えて、市販のパラジウム−錫コロイド液を使用し、一般的な下記の工程において、無電解めっきを行った。被めっき物としてガラス繊維強化エポキシ樹脂板(5×5cm)を使用し、各処理液の液量は500mlとした。プリディップと触媒付与の間を除いて、各処理の間には水洗を行った。得られた無電解めっき皮膜について、皮膜被覆率、めっき皮膜の表面抵抗値、めっき皮膜の表面状態を評価した。結果を表1及び図4に示す。
1.脱脂:市販の脱脂剤(エースクリーンA−220、奥野製薬工業株式会社製)を用いて、60℃の処理液中に3分間浸漬した。
2.表面調整:市販の表面調整剤(OPC−370コンディクリーンM、奥野製薬工業株式会社製)を用いて、65℃の処理液中に5分間浸漬した。
3.プリディップ:市販のプリディップ液(OPC−SAL M、奥野製薬工業株式会社製)を用い、25℃の処理液中に2分間浸漬した。
4.触媒付与:次いで、水洗することなく市販の触媒液(OPC−80キャタリストML、奥野製薬工業株式会社製)を用い、25℃の処理液中に5分間浸漬して被めっき物にパラジウムを吸着させた。
5.活性化:市販の活性化剤(OPC−500アクセレーターMX、奥野製薬工業株式会社製)を用いて、35℃の処理液中に7分間浸漬した。
6.無電解めっき:無電解銅めっき液(MOONカッパー700、奥野製薬工業株式会社製)を用いて、pH12.5のめっき液中に45℃で15分間浸漬した。
表面調整の処理のうち、カチオン性処理、アニオン性処理のいずれの処理も行わないことを除いて、実施例1と同様にして、無電解めっきを行ったが、無電解めっきによる皮膜が形成できなかった。
表面調整の処理のうち、カチオン化処理を行わないことを除いて、実施例1と同様にして、無電解めっきを行ったが、無電解めっきによる皮膜が形成できなかった。
Claims (8)
- 数平均分子量が500〜50,000のポリエチレンイミン(x1)中のアミノ基に数平均分子量が500〜5,000のポリエチレングリコール(x2)が結合してなる化合物(X)と、透過型電子顕微鏡写真から求められる平均粒子径が2〜100nmの銀ナノ粒子(Y)とを主構成成分とする銀含有構造体を触媒とする無電解めっき金属皮膜を製造する方法であって、
(1)被めっき物表面をカチオン性処理剤(a)で処理する工程、
(2)前記工程(1)に引き続き、アニオン性処理剤(b)で処理する工程、
(3)前記工程(2)後の処理被めっき物を前記銀含有構造体の水性分散体に浸漬し、その被めっき物に銀含有構造体を吸着させる工程、及び
(4)前記工程(3)で得られた銀含有構造体吸着被めっき物を無電解めっき用の金属イオン液(c)に浸漬する工程
を有することを特徴とする無電解めっき金属皮膜の製造方法。 - 前記銀ナノ粒子(Y)の平均粒子径が5〜50nmの範囲であり、且つ前記銀含有構造体中の化合物(X)の質量割合が2〜6質量%の範囲である請求項1記載の無電解めっき金属皮膜の製造方法。
- 前記工程(1)におけるカチオン性処理剤(a)が、アルキルモノアミン塩、アルキルジアミン塩、アルキル4級アンモニウム塩、ポリエチレンイミン、ポリアリルアミン、ポリアリルアミン塩、ポリアリルアミン塩ジアリルアミン塩コポリマー及びポリアニリンからなる群から選ばれる1種以上のカチオン性化合物を含有するものである請求項1又は2記載の無電解めっき金属皮膜の製造方法。
- 前記工程(2)におけるアニオン性処理剤(b)が、スルホン酸型界面活性剤、リン酸エステル型界面活性剤、アルキル硫酸塩型界面活性剤、アルキルエーテル硫酸塩型界面活性剤、スルホコハク酸型界面活性剤、ポリアクリル酸、ポリアクリル酸塩、ポリアクリル酸マレイン酸コポリマー及びポリアクリル酸アルキルコポリマーからなる群から選ばれる1種以上のアニオン性化合物を含有するものである請求項1〜3の何れか1項記載の無電解めっき金属皮膜の製造方法。
- 前記工程(4)における金属イオン液(c)が、銅イオン液である請求項1〜4の何れか1項記載の無電解めっき金属皮膜の製造方法。
- 前記被めっき物が回路基板用樹脂基材又はセラミック基材である請求項1〜5の何れか1項記載の無電解めっき金属皮膜の製造方法。
- 請求項1〜6の何れか1項記載の製造方法で得られることを特徴とするめっき被覆基板。
- ガラスエポキシ基板である請求項7記載のめっき被覆基板。
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